特許 6971765 制御装置、制御方法、およびプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6971765

(24)【登録日】2021年11月5日

(45)【発行日】2021年11月24日

(54)【発明の名称】制御装置、制御方法、およびプログラム

(51)【国際特許分類】

   B41J 2/01 20060101AFI20211111BHJP

【ＦＩ】

   B41J2/01 213

   B41J2/01 451

   B41J2/01 401

【請求項の数】11

【全頁数】22

(21)【出願番号】特願2017-199626(P2017-199626)

(22)【出願日】2017年10月13日

(65)【公開番号】特開2019-72890(P2019-72890A)

(43)【公開日】2019年5月16日

【審査請求日】2020年10月1日

(73)【特許権者】

【識別番号】000001007

【氏名又は名称】キヤノン株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100126240

【弁理士】

【氏名又は名称】阿部 琢磨

(74)【代理人】

【識別番号】100124442

【弁理士】

【氏名又は名称】黒岩 創吾

(72)【発明者】

【氏名】落合 孝

(72)【発明者】

【氏名】石川 尚

【審査官】 亀田 宏之

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００８−１４９５６６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０００−１５８６８１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１６−２２１９６１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００３−５３９４３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平７−２０５５４１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｂ４１Ｊ ２／０１−２／２１５

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

画像データに基づいてｎ回（ｎ≧２）の記録走査により記録媒体上に画像を形成するマルチパス印刷を制御する制御装置であって、
前記画像データが表す画像に対してエッジ検出を行い、検出したエッジに接する高濃度領域の画素と、前記検出したエッジに接する前記高濃度領域よりも濃度が低い低濃度領域の画素と、前記検出したエッジに接しない非エッジ領域の画素とのうちいずれの画素であるかを示す情報を画素毎に取得する取得手段と、
前記情報に基づいて、前記高濃度領域の画素のドットと前記低濃度領域の画素のドットとが異なる記録走査に割り当てられるように、前記画像データを前記ｎ回の記録走査に分解する分解手段と
を有することを特徴とする制御装置。

【請求項2】

前記分解手段は、前記高濃度領域の画素と、前記低濃度領域の画素とのそれぞれに対して、前記ｎ回の記録走査それぞれへのドットの間引き率が異なるパスマスクを用いることを特徴とする請求項１に記載の制御装置。

【請求項3】

さらに、複数のパスマスクを保持する保持手段と、
前記情報に基づいて前記画像データが表す画像における画素毎に、前記複数のパスマスクのうちいずれかのパスマスクを選択する選択手段とを有し、
前記分解手段は、前記選択手段が選択したパスマスクを用いて、前記画像データを分解することを特徴とする請求項１または２に記載の制御装置。

【請求項4】

前記選択手段は、前記高濃度領域の画素に対しては、前記ｎ回の記録走査のうち先行する記録走査に対応する間引き率を他の記録走査に対応する間引き率よりも大きくしたパスマスクを選択し、前記低濃度領域の画素に対して、前記ｎ回の記録走査のうち後続の記録走査に対応する間引き率を他の記録走査に対応する間引き率よりも大きくしたパスマスクを選択することを特徴とする請求項３に記載の制御装置。

【請求項5】

前記情報は、前記画像データが表す画像に対してエッジ検出することにより生成された情報であることを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項に記載の制御装置。

【請求項6】

前記情報は、前記画像データが表す画像において回復すべき鮮鋭性の程度を示す情報であることを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項に記載の制御装置。

【請求項7】

前記分解手段は、前記高濃度領域の画素に対して、前記低濃度領域の画素および前記非エッジ領域の画素よりも少ない記録走査で記録されるように、前記画像データを分解することを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の制御装置。

【請求項8】

前記画像データは、ハーフトーン処理されたデータであることを特徴とする請求項１乃至７の何れか一項に記載の制御装置。

【請求項9】

ｎ回（ｎ≧２）の記録走査ごとの記録データに基づいて、ｎ回の記録走査により記録媒体に画像を形成する画像形成装置であって、
前記記録走査ごとの記録データを取得する取得手段と、
前記記録データに基づいて、インクを吐出することによりドットを記録する記録手段とを有し、
前記記録手段は、エッジを挟むように隣接する２つの濃度の異なる領域それぞれのドットを異なる記録走査で記録することを特徴とする画像形成装置。

【請求項10】

コンピュータを請求項１乃至８の何れか一項に記載の制御装置の各手段として機能させるためのプログラム。

【請求項11】

画像データに基づいてｎ回（ｎ≧２）の記録走査により記録媒体上に画像を形成するマルチパス印刷を制御する制御方法であって、
前記画像データが表す画像に対してエッジ検出を行い、検出したエッジに接する高濃度領域の画素と、前記検出したエッジに接する前記高濃度領域よりも濃度が低い低濃度領域の画素と、前記検出したエッジに接しない非エッジ領域の画素とのうちいずれの画素であるかを示す情報を画素毎に取得し、
前記情報に基づいて、前記高濃度領域の画素のドットと前記低濃度領域の画素のドットとが異なる記録走査に割り当てられるように、前記画像データを前記ｎ回の記録走査に分解することを特徴とする制御方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、画像データに基づいて記録媒体上に画像を形成するためのマルチパス印刷を制御する技術に関する。

【背景技術】

【0002】

記録媒体上に画像を形成する画像形成方法として、インクジェット方式が用いられる。インクジェット方式の画像形成装置は、記録媒体上の同一領域に対して、複数回記録することで画像を形成するマルチパス印刷が知られている。特許文献１には、画像のエッジ部を検出し、エッジ部の記録走査回数を非エッジ部の記録走査回数よりも少なくして形成する方法が記載されている。これにより、エッジ部の鮮鋭性を向上させ、非エッジ部の濃度ムラを抑制している。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２００８−１４９５６６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、濃度の異なる２つの領域のエッジを挟むように隣接する画素の両方にドットが配置されると、２つのドットが記録媒体上で接触し、ドットの大きさや形状が変化してしまう。その結果従来のマルチパス印刷では、エッジの鮮鋭性を低下させてしまう場合があった。

【0005】

そこで本発明は、マルチパス印刷において、鮮鋭性の高い画像を出力させることを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記課題を解決するために、本発明に係る制御装置は、画像データに基づいてｎ回（ｎ≧２）の記録走査により記録媒体上に画像を形成するマルチパス印刷を制御する制御装置であって、前記画像データが表す画像に対してエッジ検出を行い、検出したエッジに接する高濃度領域の画素と、前記検出したエッジに接する前記高濃度領域よりも濃度が低い低濃度領域の画素と、前記検出したエッジに接しない非エッジ領域の画素とのうちいずれの画素であるかを示す情報を画素毎に取得する取得手段と、前記情報に基づいて、前記高濃度領域の画素のドットと前記低濃度領域の画素のドットとが異なる記録走査に割り当てられるように、前記画像データを前記ｎ回の記録走査に分解する分解手段とを有することを特徴とする。

【発明の効果】

【0007】

本発明により、マルチパス印刷において、濃度の異なる２つの領域のエッジを挟むように隣接するドットを異なるタイミングで吐出されるように制御することで、鮮鋭性の高い画像を出力させることができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】画像形成システムの構成を示すブロック図

【図2】画像形成システムの動作の流れを示すフローチャート

【図3】マルチパス印刷を説明する図

【図4】エッジ検出フィルタの一例

【図5】エッジ検出処理で得られるエッジ情報の一例

【図6】パスマスク選択処理の詳細を示すフローチャート

【図7】選択候補となるパスマスクの一例

【図8】パスマスクのドット間引き率と選択する画素との対応を示す表

【図9】高濃度側エッジ部用のパスマスクの変形例

【図10】効果を示す説明図

【図11】比較例を示す説明図

【図12】ドット間干渉を説明する図

【図13】比較例におけるパスマスクのドット間引き率を示す表

【図14】画像形成システムの構成を示すブロック図

【図15】画像形成システムの処理を示すフローチャート

【図16】計測チャートの一例

【図17】空間周波数特性及び全周波回復フィルタの周波数特性の一例

【図18】パスマスク選択処理の詳細を示すフローチャート

【図19】パスマスクのドット間引き率に関する変形例を示す表

【図20】画像形成システムの構成を示すブロック図

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本発明の実施形態について、図面を参照し説明する。なお、以下の実施形態において示す構成は一例にすぎず、本発明は図示された構成に必ずしも限定されるものではない。

【0010】

＜実施形態１＞
実施形態１は、インクジェット方式の画像形成装置によるマルチパス印刷において、画像におけるエッジを検出し、エッジに応じて各パスに画像を分解する。特に、濃度が異なる２つの領域のエッジ（以降、中間調エッジとする）においては、隣接するドットを異なるタイミングで吐出されるように、パス分解をする。

【0011】

（画像形成システムの構成）
図１は、実施形態１における画像形成システムの構成を示すブロック図である。画像処理装置１及びプリンタ２で構成され、プリンタ２はマルチパス印刷を制御する制御部２１０を有する。本実施形態において画像処理装置１は、プリンタドライバがインストールされたパーソナルコンピュータに相当する。以下に説明する画像処理装置１内の各部は、不図示のＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより実現される。

【0012】

画像処理装置１は、入力端子１０１より印刷対象の入力画像データを取得する。入力画像データの形式は８ビットであり、入力画像データが表す画像における各画素には、０〜２５５の何れかの値が格納されている。本実施形態において入力画像データは、Ｒ（レッド）、Ｇ（グリーン）、Ｂ（ブルー）の３つの色成分により構成されている。

【0013】

エッジ検出部１０２は、入力画像データが表す画像におけるエッジを検出し、画素毎にエッジ情報を生成する。エッジ検出部１０２はまず、入力画像データが表す画像の各画素のＲＧＢそれぞれの画素値を用いて輝度信号に変換することで、輝度画像データを生成する。そして輝度画像データに対してエッジ検出フィルタ格納部１０３に格納したエッジ検出フィルタを適用することで、エッジ情報を検出する。ここでのエッジ情報とは、エッジを挟む２つの領域のうち他方の領域よりも濃度が高い高濃度側エッジ部の画素であるか、他方の領域よりも濃度が低い低濃度側エッジ部の画素であるか、非エッジ部の画素であるかを示す情報である。エッジ情報やエッジ検出の詳細は後述する。

【0014】

色分解処理部１０４は、ＲＧＢ各色の入力画像データに対し、色分解処理を実行する。色分解処理部１０４は、色分解ＬＵＴ格納部１０５に格納されたプリンタ２が有するインク色毎の３次元の色分解ＬＵＴ（ルックアップテーブル）を参照し、各色のインク値画像データを生成する。ここではプリンタ２は、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、ブラック（Ｋ）の４色のインクを搭載しているものとする。従って色分解処理部１０４は、ＲＧＢごとの３つの入力画像データをＣＭＹＫごとの４つのインク値画像データに変換する。インク値画像データとは、画像における画素毎に各色のインク値を表すデータであり、インク値画像データは、８ビットとする。

【0015】

ＯＰＧ（アウトプットガンマ）処理部１０６は、色分解処理部１０４が生成したインク値画像データに対し、ガンマ補正処理を実行する。ＯＰＧ処理部１０６は、ＯＰＧＬＵＴ（ルックアップテーブル）格納部１０７に格納された１次元のＯＰＧＬＵＴを参照する。ＯＰＧＬＵＴは、ＣＭＹＫそれぞれのインクのみを用いて記録した場合に、インク値画像データにおける各画素の画素値に対して印刷物の明度が線形に変化するようにインク色毎に予め値を設定しておくことで作成される。

【0016】

ハーフトーン処理部１０８は、ＯＰＧ処理部１０６によって生成された各色のＯＰＧ処理後のインク値画像データを２値に変換する。ハーフトーン処理部１０８は、ディザマトリクス格納部１０９に格納されたディザマトリクスを参照し、ディザ法を用いてハーフトーン処理を実行する。ディザマトリクスには、様々な値の閾値が２次元的に配列されている。ハーフトーン処理部１０８は、インク値画像データが表す画像の各画素の画素値と、対応するディザマトリクスにおける閾値とを比較することで、インク値画像データを２値化する。画素値の方が閾値よりも大きい画素については、ドットをＯＮ（出力値１）とし、画素値の方が閾値よりも小さい画素についてはドットをＯＦＦ（出力値０）にする。ディザマトリクスについては、公知の方法により作成されたマトリクスを用いればよい。ハーフトーン処理部１０８は、２値化により生成したＣＭＹＫそれぞれの２値画像データを出力する。

【0017】

次にプリンタ２の構成を説明する。プリンタ２は、入力端子２１０より、画像処理装置１の出力端子１１０から出力された各色の２値画像データとエッジ情報を取得する。マルチパス制御部２１０は、ｎ回（ｎ≧２）の記録走査により画像を形成するマルチパス印刷をするためのデータ生成を制御する。本実施形態においてプリンタ２は、４回（ｎ＝４）の記録走査により画像を形成するマルチパス印刷を行うものとする。

【0018】

図３は、マルチパス印刷を説明する図である。記録ヘッド２０１を主走査方向に走査させてドットを吐出した後、記録ヘッドが有するノズル列の所定ノズル数分、記録媒体を副走査方向に搬送する。このように同一領域に対して複数回の記録を重ねることで、最終的な画像を記録媒体上に形成する。マルチパス印刷制御部２１０は、パスマスク選択部２０６、パス分解処理部２０７、パスマスク格納部２０８を有する。本実施形態においてマルチパス印刷制御部２１０は、画像処理回路として実現される。パスマスク選択部２０６は、エッジ情報に基づいて、２値画像データの各画素に適用されるパスマスクの種類を選択する。パスマスクとは、各画素におけるドットをｎ回のパス（記録走査）のうち何回目のパスで出力するかを決定するためのマスクである。ここでのパスマスクの種類は、高濃度側エッジ部用パスマスク、低濃度側エッジ部用パスマスク、非エッジ部用パスマスクの３種類である。なお、パスマスク選択部２０６は、各色の画素毎に、３種類のパスマスクのうちいずれのパスマスクを適用するかを示すパスマスク情報を出力する。３種類のパスマスクの詳細については、後述する。

【0019】

パス分解処理部２０７は、パスマスク選択部２０６が選択したパスマスクを用いて、ＣＭＹＫそれぞれの２値画像データを複数の記録走査ごとの記録データに分解する。パス分解処理部２０７は、２値画像データが表す画像の画素ごとに、パスマスク情報を参照し、パスマスク格納部２０８に格納された複数のパスマスクから対応するパスマスクを取得して使用する。パス分解処理部２０７は、各色の記録走査ごとの記録データを出力する。

【0020】

インク色選択部２０９は、パス分解処理部２０７が出力する記録データに基づいて、記録ヘッド２０１に搭載されるインク色の中から、対応するインク色を選択する。記録ヘッド２０１は、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、ブラック（Ｋ）の４色のインクを吐出可能な記録素子（ノズル）列を有したインクジェット方式のもので、マルチパス方式に従って印刷する。実施形態１では、４回の記録走査（４パス）を行い、記録媒体２０２に画像を形成する。ヘッド制御部２０３の制御の下、移動部２０４における記録ヘッド２０１の移動、及び搬送部２０５における記録媒体２０２の搬送が行われる。

【0021】

なお本実施形態では、画像処理装置１はプリンタ２とは異なる装置として説明したが、例えばプリンタ２が画像処理装置１を含むような構成としてもよい。また、画像処理装置１の各構成の全て、またはその一部を専用の画像処理回路として実現することもできる。また、マルチパス印刷制御部２１０を画像処理装置１に含めるような構成であってもよい。

【0022】

図２は、実施形態１における画像形成システムの動作の流れを示す図である。以下、図２における各ステップ（工程）を「Ｓ」と表記することとする。Ｓ２０１において、８ビットのＲＧＢごとの入力画像データを取得する。Ｓ２０２において色分解処理部１０４は、インク色毎に用意した３次元の色分解ＬＵＴを用いて、ＲＧＢごとの入力画像データを、ＣＭＹＫごとのインク値画像データに変換する。このとき本実施形態では、色分解ＬＵＴの格子点数は１７×１７×１７とし、格子点の間のインク値は線形補間で算出する。なお、色分解処理は色分解ＬＵＴを用いる方法に限定されない。例えばマトリクス法等の変換方法であってもよい。

【0023】

次にＳ２０３においてＯＰＧ処理部１０６は、各インク色に対応する１次元のＯＰＧＬＵＴを参照し、インク値画像データに対してＯＰＧ処理を行う。Ｓ２０４においてハーフトーン処理部１０８は、ディザマトリクスを参照し、ＯＰＧ処理後のインク値画像データにハーフトーン処理を実行する。このとき本実施形態では、２５６×２５６のディザマトリクスを用いるものとする。また、各インク色に対して異なるディザマトリクスを用いる。なお、ハーフトーン処理はディザマトリクスを用いたディザ法に限定されない。例えば誤差拡散法や平均濃度保存法等であってもよい。

【0024】

一方Ｓ２０５において、Ｓ２０１において取得したＲＧＢごとの画像データに対して、エッジ検出処理を実行する。エッジ検出処理の詳細は後述する。

【0025】

Ｓ２０４及びＳ２０５の処理がいずれも完了した後、Ｓ２０６においてパスマスク選択部２０６は、エッジ情報を参照して、各色の２値画像データが表す画像の各画素に対して適用するパスマスクを、複数のパスマスクの中から選択する。パスマスク選択処理の詳細、及びパスマスクの選択候補については後述する。

【0026】

次にＳ２０７においてパス分解処理部２０７は、Ｓ２０６において選択したパスマスクを用いて、パス分解処理を行う。パス分解処理は、２値画像データに対してパスマスクを用いたドット間引き処理を行うことで、各記録走査が記録するための記録データを生成する。同じ領域に対応する各記録走査の記録データは互いに補完の関係にある。

【0027】

最後にＳ２０８においてインク色選択部２０９が、記録データデータに適合するインク色を選択し、記録ヘッド２０１が画像を形成する。

【0028】

次にエッジ検出処理の詳細について、説明する。図４は、エッジ検出部１０２がエッジ検出フィルタとして用いるラプラシアンフィルタを示している。ラプラシアンフィルタは、注目画素４０１と周囲の８画素それぞれに各係数を保持している。このフィルタ処理は、各画素の画素値と係数との積和演算を行う。エッジ検出フィルタを用いてフィルタ処理した結果、輝度画像データが表す画像におけるエッジを強調した画像を得ることができる。エッジ検出部１０２は、図４に示すらラプラシアンフィルタを入力画像データが表す画像の各画素に適用することにより、各画素のエッジの度合い示すエッジ度を算出することができる。

【0029】

実施形態１では、入力画像データが表す画像における各画素について、Ｒ、Ｇ、Ｂそれぞれの画素値を輝度値Ｙに変換したデータに対してエッジ検出フィルタを適用する。エッジ検出フィルタを適用した結果に対して、各画素のフィルタ処理後の値を別途設定した閾値を用いて量子化することで、エッジ情報を生成する。ラプラシアンフィルタを用いたエッジ検出では、エッジに接する高濃度部側の画素は絶対値が大きい正の値のエッジ度が算出される。一方、エッジに接する低濃度部側の画素は絶対値が大きい負の値のエッジ度が算出される。また、非エッジ部では、絶対値の小さいエッジ度が算出される。そこで、フィルタ処理後の値が閾値Ｔ（Ｔは正の整数）よりも大きな場合に高濃度側エッジ部、フィルタ処理後の画像データが閾値−Ｔよりも小さな場合に低濃度側エッジ部、それ以外の場合に非エッジ部とする。

【0030】

なお、エッジ検出フィルタはラプラシアンフィルタに限定されず、ソーベルフィルタ等の一次微分フィルタやテンプレートマッチング法（ｐｒｅｗｉｔｔ法）等、その他のエッジ検出方法を用いてもよい。また、ＲＧＢごとの入力画像データそれぞれに対してエッジ検出フィルタを適用し、各出力結果を合成することでエッジ情報を決定してもよい。

【0031】

図５は、エッジ検出処理の結果得られるエッジ情報の一例を示す模式図である。図５の（ａ）は、エッジ検出処理を適用する前の輝度信号データである。濃いグレイで塗られた領域５０１は、輝度値が相対的に低く、薄いグレイ塗られた領域５０２、輝度値が相対的に高い。入力画像データにおいて、輝度値が高い領域ほど、プリンタ２による印刷の結果は、高濃度な領域となる。すなわち、領域５０１は、画像形成時にドットが領域５０２よりも多く打ち込まれる高濃度領域で、領域５０２は、画像形成時にドットが領域５０１よりも少なく打ち込まれる低濃度領域に相当する。

【0032】

また、図５の（ｂ）は、輝度信号データにエッジ検出処理を適用した後のエッジ情報を示す。このとき、濃いグレイで塗られた画素群５０３が高濃度側エッジ部、白で塗られた画素群５０４が低濃度側エッジ部、薄いグレイで塗られた画素群５０５が非エッジ部と判定される。このように、濃度の異なる２つの領域がある際に、低濃度領域に接する高濃度領域５０１の画素を高濃度側エッジ部、高濃度領域に接する低濃度領域５０２の画素を低濃度側エッジ部５０３として検出する。

【0033】

次にパスマスク選択部２０６が実行するパスマスク選択処理について説明する。図６は、パスマスク選択処理のフローチャートである。なお、以下の処理は、ＣＭＹＫ２値画像データのそれぞれに対して行うものとする。ここでは、シアン（Ｃ）の２値画像データに対する処理を例に説明するが、他の色の２値画像データに対しても同様の処理を行う。Ｓ６０１においてパスマスク選択部２０６は、シアン（Ｃ）の２値画像データを取得する。またＳ６０２においてパスマスク選択部２０６は、注目画素におけるエッジ情報を取得する。

【0034】

次にＳ６０３においてパスマスク選択部２０６は、注目画素におけるエッジ情報が高濃度側エッジ部であるか否かを判定する。注目画素が高濃度側エッジ部であると判定された場合には、パスマスク選択部２０６は高濃度側エッジ部用パスマスクを注目画素に適用するパスマスクとして決定し、Ｓ６０８に進む。一方、注目画素が高濃度側エッジ部である判定されなかった場合には、Ｓ６０５に進む。

【0035】

Ｓ６０５に進んだ場合、注目画素におけるエッジ情報が低濃度側エッジ部であるか否かを判定する。注目画素が低濃度側エッジ部であると判定された場合には、パスマスク選択部２０６は低濃度側エッジ部用パスマスクを注目画素に適用するパスマスクとして決定し、Ｓ６０８に進む。一方、低濃度側エッジ部と判定されなかった場合には、Ｓ６０７においてパスマスク選択部２０６は、非エッジ部用パスマスクを注目画素に適用するパスマスクとして決定し、Ｓ６０８に進む。

【0036】

Ｓ６０８においてパスマスク選択部２０６は、２値画像データが表す画像における全画素に対してパスマスクを決定したか否かを判定する。全画素のパスマスクを決定した場合は、処理を完了し、全画素のパスマスクを決定していない場合は、Ｓ６０２に戻り、次の画素を注目画素として処理を実行する。

【0037】

図１２を用いて連続するドットに生じるドット間干渉について説明する。図１２（ａ）は２つのインク液滴１２０１及び１２０２が、連続して吐出された場合を模式的に示している。２つのインク液滴１２０１及び１２０２は、記録媒体１２０３に、吐出、着弾、浸透、定着の過程で、インク同士が互いにくっついてしまう。その結果図１２のｂ）に示すように、本来２つのドットが、楕円状に広がった一つの塊として形成されてしまう。その結果、鮮鋭性が劣化したり、濃度が変動したりしてしまう。このような現象がドット間干渉である。特に連続する黒画素を同じ記録走査で形成する場合、２つのドット（インク）の着弾時間差が短いため、ドット間干渉が発生しやすい。また、記録媒体の種類やインク特性等の画像形成の条件、あるいは温室度環境等によって、楕円状以外の様々な形状に乱れる場合が起こり得る。本来であればエッジ部では、図１２（ｃ）に示すように、各ドットそれぞれが真円状に形成されることが望ましい。そこで本実施形態では、エッジの境界において隣接する２ドット間の着弾時間差を多めに確保するため、エッジの境界において隣接する２ドットを異なる記録走査で印字するようにパス分解する。

【0038】

ここで、本実施形態におけるパスマスクについて詳細を説明する。図７は、パスマスク選択処理Ｓ２０６が選択するパスマスクの候補を示した図である。図７（ａ）は高濃度側エッジ部、図７（ｂ）は低濃度側エッジ部、図７（ｃ）は非エッジ部の場合に選択される。パスマスクは、２値画像データを各パスに分解するために用いられる。本実施形態では４パス印字なので、２値画像データにおける各画素について、１〜４パスのうち何パス目において印字するかを割り当てる。また、図３を用いて説明したように、記録ヘッドのノズル列の所定のノズル数ずつ各パスに割り当てられている。図７に示すように、１つのパスマスクは、記録ヘッドのノズル列に対して、１パス目から４パス目のマスクパターンが順に対応している。図７に示すパスマスクにおいて黒画素は、対応する画素のドットをそのパスに割り当てることを意味する。パスマスクは、２値画像データの各画素がいずれかのパスに対応し、各パス間で黒画素が排他となるように作成される。

【0039】

図７（ａ）に示すパスマスクは、各パスのドット間引き率が、１パス目から順に、１００％、０％、０％、０％であり、１パス目で全てのドットを形成し、２パス目から４パス目ではドットを形成しないように記録データを生成するものである。なお、ここではドット間引き率１００％はドット間引きなしを示しており、ドット間引き率０％はドットが打たれないことを意味する。

【0040】

また、図７（ｂ）に示すパスマスクは、各パスのドット間引き率が、１パス目から４パス目にかけて、５％、１５％、３０％、５０％と変化し、後続のパスになるほどドット間引き率が大きくなる。図７（ｃ）に示すパスマスクは、各パスのドット間引き率が均等（２５％）である。

【0041】

図８は、図７（ａ）から（ｃ）に示すパスマスクのパス毎のドット間引き率、及びエッジ情報に対応するパスマスクを一覧表として整理した図である。このように、それぞれのパスマスクで各パスの間引き率が異なる。高濃度側エッジ部に対しては、１パス目で全てのドットを形成するようにパス分解を行う。これにより、高濃度側エッジ部は１パスで印字されるため、記録媒体の搬送ズレや記録走査間でのドットの着弾位置や大きさのばらつき等の影響を受けず、鮮鋭性が劣化するのを抑制することができる。低濃度側エッジ部に対しては、後続パスほどドット間引き量が大きくなるため、ドットの打ち込み量も１パス目よりも後続パスの方が多くなる。高濃度側エッジ部におけるドットを１パス目で全て形成し、低濃度側エッジ部におけるドットはできるだけ２パス目以降のパスで形成することで、高濃度側エッジ部のドットとの着弾時間差をより多く確保できる。その結果、高濃度側エッジ部の画素と低濃度側エッジ部の画素とが隣接する境界において、ドット間干渉の発生を低減する。これにより、高濃度側エッジ部と低濃度側エッジ部とが接する中間調エッジ部において、鮮鋭性を向上することができる。一方、非エッジ部に対しては、マルチパス方式によるスジムラ低減の効果を最大限に発揮させるため、各パスの記録データが均等となるようにパス分解を行う。

【0042】

ここで、本実施形態による効果について説明する。図１０は、実施形態１を適用した場合の結果を示す図である。図１０（ａ）は、実施形態１におけるエッジ検出処理を適用する前の入力画像データが表す入力画像の一例である。この入力画像は相対的に濃度の高い高濃度領域１００１及び相対的に濃度の低い低濃度領域１００２が隣接している。高濃度領域１００１と低濃度領域１００２の境界が中間調エッジ部に相当する。なお、高濃度領域１００１及び低濃度領域１００２の縦横サイズはいずれも３２画素×６４画素とする。

【0043】

また、図１０（ｂ）は、図１０（ａ）の入力画像データにエッジ検出処理を適用して得られたエッジ情報である。入力画像における中間調エッジを挟むように、高濃度側エッジ部１００３及び低濃度側エッジ部１００４が検出されている。このとき、高濃度側エッジ部１００３及び低濃度側エッジ部１００４の縦横サイズはいずれも１画素×６４画素である。また、入力画像おける高濃度領域１００１及び低濃度領域１００２のそれぞれに含まれる非エッジ部は、非エッジ部１００５及び１００６として検出されている。

【0044】

図１０の（ｃ）は、ＯＰＧ処理後画像データに対して、ハーフトーン処理を適用して生成された２値画像データが表す２値画像である。ここではＫインクの２値画像データを示している。領域１００７、領域１００８はそれぞれ、ＯＰＧ処理後画像データの記録率が１００％及び８０％である。

【0045】

また、図１０（ｄ）は、図１０（ｂ）に示したエッジ情報に基づいて、図１０（ｃ）の２値画像データの画素毎にパスマスクを切り替えてパス分解処理を実行することによって生成される記録データである。この記録データは、下から順に１回の記録走査で出力される１パス目から４パス目に対応している。このとき、記録データにおける黒画素はドットＯＮ（ドットを打つ）、白画素はドットＯＦＦ（ドットを打たない）を表している。エッジ情報のそれぞれに対して適用されるパスマスクは図７及び図８で説明したパスマスクを用いる。

【0046】

また、図１０（ｅ）は、図１０（ｄ）に示す記録データにおいて、図１０（ｂ）において説明した高濃度側エッジ部１００３及び低濃度側エッジ部１００４の位置に対応する記録データをパス毎に抽出した拡大図である。１パス目から４パス目の各記録データは、それぞれのサイズが２画素×６４画素である。各記録データの左半分の１列に相当するサイズ１画素×６４画素の画素列が高濃度側エッジ部１００３に対応し、右半分の１列に相当するサイズ１画素×６４画素の画素列が低濃度側エッジ部１００４に対応している。

【0047】

図１０（ｅ）の各パスの記録データにおいて、高濃度側エッジ部の黒画素と、低濃度側エッジ部の隣接する画素のうち、同じパスで高濃度側エッジ部と低濃度側エッジ部の両方で黒画素が連続するのは領域１００９及び領域１０１０の２箇所のみと分かる。高濃度側エッジ部については１パス目で全ての画素がＯＮドットであるのに対し、低濃度側エッジ部は後続パスほどより多くの画素がＯＮドットとなるように記録データが生成される。そのため、高濃度側エッジ部と低濃度側エッジ部が接する境界部における、連続ドットの発生がいずれのパスにおいても抑制されている。

【0048】

一方、図１１は、実施形態１との比較例を説明するための図である。実施形態１における図１０（ａ）および（ｃ）は、比較例においても同等である。図１１（ａ）は、各記録走査の記録データを示し、図１１（ｂ）はエッジ付近における記録走査毎の記録データを抽出した拡大図である。比較例では、画像におけるエッジを検出し、エッジ部は少ない記録走査回数により記録する場合を例にしている。高濃度側の境界に接する画素だけがエッジとして検出され、エッジ画素のドットは１パス目の記録走査のみに分配される。高濃度側の非エッジ部および低濃度側領域の画素のドットは、各パスのドット間引き率がいずれも２５％のパスマスクを適用している。このように、エッジを境界にした高濃度側のドットと低濃度側のドットの両方を考慮することはしていない場合、図１１に示す結果となる。

【0049】

比較例では、図１１（ａ）および（ｂ）に示すように、高濃度側のエッジだけが検出され、エッジの境界に隣接する画素のドットが１パスで記録される。このとき、図１１の（ｄ）の各記録走査の記録データにおいて、高濃度側エッジ部と低濃度側エッジ部の両方で黒画素が連続する箇所が１１０１をはじめ、計１０箇所あることが分かる。図１０の（ｄ）で示した実施形態１の場合に比べて、中間調エッジにおいて境界を挟むように隣接する黒画素が連続する箇所が多い。そのため、高濃度側エッジ部は１パス目で全ての画素がＯＮドットであるとともに、低濃度側エッジ部においても１パス目にドットが分配される。その結果、高濃度側エッジ部と低濃度側エッジ部が接する境界部において、連続ドットが多く発生してしまう。

【0050】

以上説明したように、実施形態１によれば、マルチパス印刷において、中間調エッジを挟むように隣接する異なる濃度領域の２つのドットが、異なるパスにおいて形成されるように、入力画像におけるエッジ情報に応じてパス分解する。これにより、中間調エッジにおけるドット間干渉を抑制し、画像の鮮鋭性を向上させることができる。

【0051】

（変形例）
なお実施形態１では、高濃度側エッジ部用のパスマスクは、図７（ａ）に示すように１パス目のみで全てのドットを形成する例を示したが、必ずしも１つのパスでドットを形成しなければならないわけではない。例えば図９に示すように、低濃度側エッジ部用のパスマスクとは逆に、先行するパスほどドット間引き率を高くしたパスマスクを高濃度側エッジ部用のパスマスクとしてもよい。このようなパスマスクを用いることで、高濃度側エッジ部と低濃度側エッジ部との境界において、パス間でのドット間引き率の増減が逆転する。その結果、エッジを挟むように隣接する２つのドットが同じパスで形成されにくくなる。さらにこのとき、パス間においてドット着弾位置ズレにより鮮鋭性が劣化しやすい場合には、高濃度側エッジ部では図７（ａ）に示すパスマスクを選択し、そうでない場合には図９のような複数のパスで形成するパスマスクを選択すればよい。

【0052】

また、非エッジ部に適用するパスマスクとして、各パスのデータが均等となるようにパスマスクを示したが、これに限らない。例えば、記録ヘッド端部でのドット着弾位置ズレ（いわゆる気流ヨレ）による画質劣化の影響を緩和するため、グラデーションマスクを非エッジ部に用いてもよい。グラデーションマスクとは、記録ヘッドの端部に相当するパスのドット間引き率を低くし、端部以外に相当するパスのドット間引き率を高くしたパスマスクのことである。記録ヘッド端部での打ち込み量を少なくすることで、インク液滴が飛翔する際の気流による着弾位置の変動を緩和される。なお、気流ヨレの影響は記録ヘッドの吐出量や、記録ヘッドと記録用紙の距離、パス数等によって変化するが、非エッジ部の画像がスジムラや粒状性の劣化なく高画質に形成されるようなパスマスクを用いればよい。

【0053】

なお、以上説明した実施形態では、記録ヘッド２０１の構成として、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、ブラック（Ｋ）の４色のインクを備える例を示したが、インクの種類は限定されない。濃度の薄い淡インクや、レッド、グリーン等の特色インク、白色インクを用いてもよい。また、無色透明のクリアインクや、金属調のメタリックインクを用いてもよい。また、記録ヘッド２０１の解像度、吐出量等の仕様は任意に設定できる。インクの吐出量を変調可能なピエゾヘッド等の方式を用いた記録ヘッドであってもよい。

【0054】

また、入力画像データはＲＧＢごとのカラー画像としたが、画像形式は限定されず、モノクロ画像やＣＭＹＫ画像であってもよい。また色以外の情報を含んでもよく、例えば光沢情報を含む画像であってもよい。

【0055】

また、各種ＬＵＴのビット数、グリッド数、グリッド間の補間方法は任意である。同様に、各種フィルタやディザマトリクスのビット数、サイズは任意である。また、マルチパス方式のパス数を４パスとして説明したが、２パス以上のパス数であれば、濃度の異なる２つの領域のエッジにおけるドットの着弾時間を多く確保することはできる。

【0056】

＜実施形態２＞
実施形態１では、エッジ検出フィルタを用いて入力画像データのエッジ情報を検出する方法を例について説明した。ところでプリンタ２が印刷するための画像処理として、プリンタ２が画像を形成する際にインクの滲みや光学ボケなどの影響により出力画像において鮮鋭性が劣化してしまうことが知られている。そこで出力画像の劣化成分を補償する技術として、鮮鋭性回復処理がある。鮮鋭性回復処理は、プリンタ２による出力画像の周波数特性をチャート等から測定し、鮮鋭性等の劣化を引き起こす周波数成分を補償するための処理である。そこで実施形態２では、鮮鋭性回復処理における処理の結果得られる鮮鋭性劣化を引き起こす周波数成分を表す鮮鋭性回復量を算出する。そして実施形態１におけるエッジ情報の代わりに、鮮鋭性回復量を参照して、パス分解する方法について説明する。なお、以降の説明において、実施形態１と共通の構成については同じ符号を付し、その説明を簡易化または省略する。

【0057】

図１４は、実施形態２の画像形成システムの構成を示すブロック図である。まず、画像処理装置１について、実施形態１における図１の構成と異なる構成を説明する。前述の通りプリンタ２が、画像データに基づいて記録媒体上に画像を形成すると、インクの滲みや光学ボケなどの影響により、記録媒体上の画像においては、全周波数成分が低下してしまう。そこで、このようなプリンタ２の周波数特性を考慮し、予めプリンタ２で低下する周波数成分に基づいて、画像処理装置１が入力画像データに対して回復処理を実行する。ただし本実施形態では、画像処理装置１における画像処理においても後段のハーフトーン処理などにより高周波な鮮鋭性が低下することを考慮して、まず、プリンタ２により失われてしまう周波数成分のうち低周波成分のみを回復する。その後、回復していない高周波成分を回復したい鮮鋭性の程度を示す情報（以降、鮮鋭性回復量）として算出し、マルチパス制御部２１０が鮮鋭性回復量に基づいて、マルチパス印刷を制御する。

【0058】

低周波回復処理部１１１は、入力画像データに対して低周波回復処理を行う。低周波回復処理は、低周波回復フィルタ格納部１１２に格納された低周波回復フィルタのフィルタ係数を用いる。低周波回復処理部１１１は、入力画像データが表す入力画像の各画素に対して低周波回復フィルタを用いて畳み込み演算を行うことで入力画像の低周波成分を回復させる。低周波回復処理部１１１は、生成した低周波回復後画像データを色分解処理部１０４と鮮鋭性回復量算出部１１５に送出する。

【0059】

また、全周波回復処理部１１３は、入力画像データに対して全周波回復処理を行う。全周波回復処理は、全周波回復フィルタ格納部１１４に格納された全周波回復フィルタを用いる。全周波回復処理部１１３は、入力画像データが表す入力画像の各画素に対して、全周波回復フィルタを用いて畳み込み演算を行うことで入力画像の全周波成分を回復させる。そして、全周波回復処理部１１３は、全周波回復処理により補正した画像を鮮鋭性算出部１１５に出力する。

【0060】

また、鮮鋭性回復量算出部１１５は、低周波回復処理部１１１から得られる低周波回復処理後の画像と、全周波回復処理部１１３から得られる全周波回復量処理画像との画素毎の画素値の差分を、鮮鋭性回復量として算出する。高周波回復量は、画素ごとに回復すべき鮮鋭性程度を表すデータに相当する。鮮鋭性回復量は、出力端子１１０を介してプリンタ２の入力端子２１０へ出力される。

【0061】

次に、プリンタ２について、実施形態１と異なる構成を説明する。実施形態１と異なる構成はパスマスク選択処理部２０６である。実施形態１では、エッジ情報に基づき、２値画像データの各画素に適用するパスマスクの種類を選択した。実施形態２では、鮮鋭性回復量に基づいて、実施形態１と同様の処理を行う。その処理の詳細については後述する。

【0062】

図１５は、実施形態２の画像形成システムの処理を示すフローチャートである。以下、実施形態１における図２のフローチャートと異なる処理についてのみ説明する。

【0063】

Ｓ２０１で取得した入力画像データ（ＲＧＢ形式）は、Ｓ１５０１及びＳ１５０２に出力される。Ｓ１５０１において低周波回復処理部１１１は、入力画像データに対して低周波回復処理を行う。低周波回復処理は、低周波回復フィルタの係数を取得し、入力画像データが表す画像の各画素の画素値に対して畳み込み演算を行うことで、入力画像の低周波成分を回復させる。本実施形態では低周波回復フィルタとして１１×１１のサイズのフィルタを用いる。低周波回復フィルタの作成方法については後述する。

【0064】

Ｓ１５０２において全周波回復処理部１１３は、入力画像データに対して全周波回復処理を行う。全周波回復処理は、全周波回復フィルタのフィルタ係数を取得し、入力画像データが表す画像の各画素の画素値に対して、全周波回復フィルタを用いたフィルタ処理を行うことで全周波成分を回復させる。本実施形態では全周波回復フィルタとして１１×１１のサイズのフィルタを用いる。全周波回復フィルタの作成方法についても、低周波回復フィルタと同様後述する。

【0065】

次に、Ｓ１５０３において鮮鋭性回復量算出部１１５は、鮮鋭性回復量を算出する。鮮鋭性回復量算出部１１５は、Ｓ１５０２において生成した全周波回復処理後の画像データとＳ１５０１において生成した低周波回復処理後の画像データの差分を、鮮鋭性回復量として算出する。

【0066】

Ｓ２０４及びＳ１５０３の処理が完了した後、Ｓ２０６において、Ｓ１５０３で生成した鮮鋭性回復量に基づいて、パスマスク選択処理が行われる。

【0067】

ここで、実施形態２における全周波回復フィルタ及び低周波回復フィルタついて説明する。まず、フィルタ設計対象のプリンタ２を用いて、鮮鋭性の計測チャートを出力する。なお、計測チャートの出力時は低周波回復処理などの鮮鋭性回復処理を行わない。図１６は、計測チャートの一例である。計測チャート１６０１は、周波数や方向が異なる複数の正弦波パターンと、均一パターン（例えば、白ベタと黒ベタ）を含む画像チャートの一例である。計測チャート１６０１において、パターン１６０２、１６０３、１６０４が横方向に周波数の異なる正弦波パターンで、パターン１６０５、１６０６、１６０７が縦方向に周波数の異なる正弦波パターンである。また、パターン１６０８が白ベタの均一パターン、パターン１６０９が黒ベタの均一パターンである。

【0068】

ここで、周波数特性Ｐ（ｕ）は、例えば下式を用いて算出される光学伝達関数（ＭＴＦ）を用いることができる。

【0069】

Ｐ（ｕ）＝Ｃ（ｕ）／Ｃ’・・・式（１）
図１７は、プリンタ２の周波数特性を示す。プリンタ２が出力した記録媒体上の画像では、全周波数領域において各周波数成分が劣化していることがわかる。ただし、ｕは正弦波パターンの周波数で、Ｃ（ｕ）、Ｃ’は次式で表される。

【0070】

Ｃ（ｕ）＝｛Ｍａｘ（ｕ）−Ｍｉｎ（ｕ）｝／｛Ｍａｘ（ｕ）＋Ｍｉｎ（ｕ）｝
Ｃ’＝（Ｗｈｉｔｅ−Ｂｌａｃｋ）／（Ｗｈｉｔｅ＋Ｂｌａｃｋ）
このとき、Ｍａｘ（ｕ）は周波数ｕで変化する正弦波パターンの最大明度、Ｍｉｎ（ｕ）は周波数ｕで変化する正弦波パターンの最小明度、Ｗｈｉｔｅ、Ｂｌａｃｋはそれぞれ白ベタの均一パターンの明度、及び黒ベタの均一パターンの明度を表す。

【0071】

なお、光学伝達関数の算出はこれに限定されず、例えば下式を用いてもよい。

【0072】

Ｐ（ｕ）＝｛Ｍａｘ（ｕ）−Ｍｉｎ（ｕ）｝／（Ｗｈｉｔｅ−Ｂｌａｃｋ）
また、上式では、Ｍａｘ（ｕ）とＭｉｎ（ｕ）、ＷｈｉｔｅとＢｌａｃｋを明度として周波数特性Ｐ（ｕ）を算出しているが、例えば輝度や濃度、測定装置のデバイスＲＧＢ値等を用いて算出してもよい。また計測チャートとして、正弦波パターンではなく、矩形波パターンを用いて周波数特性Ｐ（ｕ）を取得してもよい。その場合、矩形波パターンに対して式（１）を適用することにより算出されるコントラスト伝達関数（ＣＴＦ）の値を周波数特性Ｐ（ｕ）として用いる。もしくは、ＣＴＦ値を公知のコルトマン補正式を用いて変換したＭＴＦ値を周波数特性Ｐ（ｕ）に用いてもよい。

【0073】

次に、空間周波数特性Ｐ（ｕ）に基づいて、全周波回復フィルタの周波数特性Ｒａ（ｕ）＝１／Ｐ（ｕ）を算出する。図１７は、全周波回復フィルタの周波数特性Ｒａ（ｕ）を示している。全周波回復フィルタの周波数特性Ｒａ（ｕ）は、ｕの値が大きい高周波領域で強い応答となる。一方、低周波回復フィルタの周波数特性Ｒｌ（ｕ）は、全周波回復フィルタの周波数特性Ｒａ（ｕ）に対して所定の周波数ｕｂ以上の応答を略平坦に補正することで生成する。これにより、プリンタ２の周波数特性のうち、低周波領域の成分のみを回復する低周波回復フィルタを作成する。最後に、全周波回復フィルタの周波数特性Ｒａ（ｕ）及び全周波回復フィルタの周波数特性Ｒｌ（ｕ）を逆フーリエ変換することで、全周波回復フィルタ及び低周波回復フィルタの係数を算出する。

【0074】

次に、実施形態２におけるパスマスク選択処理について説明する。図１８は、実施形態２におけるパスマスク選択部２０６が実行するＳ２０６のパスマスク選択処理の詳細を示すフローチャートである。実施形態１における図６のフローチャートと異なる処理についてのみ説明する。

【0075】

Ｓ１８０１において、Ｓ１５０３において生成された鮮鋭性回復量を取得する。ここでの鮮鋭性回復量は６ビットの値で、−３２から３１の範囲の整数値である。その値が大きいほど、鮮鋭性を回復させるために濃度を高めるべき画素であることを表す。一方、その値が小さいほど、鮮鋭性を回復させるために濃度を低めるべき画素であることを表す。

【0076】

次に、Ｓ１８０２においてパスマスク選択部２０６は、注目画素における鮮鋭性回復量が閾値ｘよりも大きいか否かを判定する。判定結果がＹｅｓの場合には、注目画素を高濃度側エッジ部とみなして、Ｓ６０４に進む。一方、Ｎｏの場合には、Ｓ１８０３に進む。なお、閾値ｘは、例えば１６のように、０から３１の範囲の正の値に設定される。

【0077】

また、Ｓ１８０３に進んだ場合には、注目画素における鮮鋭性回復量が−ｘよりも小さいか否かを判定する。判定結果がＹｅｓの場合には、注目画素を低濃度側エッジ部とみなして、Ｓ６０６に進む。一方、Ｎｏの場合には、注目画素を非エッジ部とみなして、Ｓ２０７に進む。

【0078】

以上説明したように、実施形態２によれば、鮮鋭性回復量に基づき高濃度側エッジ部か低濃度側エッジ部か非エッジ部かを判定し、中間調エッジにおいて隣接する異なる濃度領域のドット形成タイミングが異なるようにパスマスクを選択する。これにより、中間調エッジにおけるドット間干渉を抑制して画像の鮮鋭性を向上させることができる。

【0079】

（変形例）
なお、実施形態２においても、実施形態１と同様に、パスマスクの選択候補を、高濃度側エッジ部、低濃度側エッジ部、非エッジ部の３種類とする例を示したが、パスマスクの選択候補の数は限定されない。特に、実施形態２における鮮鋭性回復量は、前述のように、比較的大きなフィルタサイズで、１画素あたり、例えば６ビット（６４段階）の連続値として得られる。そのため、パスマスクの選択を行う上でより詳細な判定を行ってもよい。例えば、図１９に示すように、鮮鋭性回復量の値に応じて、５段階に場合分けし、ドット間引き率が異なる５つのパスマスクを選択してもよい。

【0080】

この例においては、鮮鋭性回復量が正で、より大きな値ほど注目画素を高濃度側エッジ部であるとみなして、先行パスのドット間引き率が多く後続パスのドット間引き率が少ないパスマスクを選択、使用する。これは条件Ａと条件Ｂに対応し、条件Ａの方がパス間でのドット間引き率がより先行パス側に多く偏るように設定している。

【0081】

また、鮮鋭性回復量が負で、より小さな値ほど処理対象画素を低濃度側エッジ部であるとみなして、先行パスのドット間引き率が少なく後続パスのドット間引き率が多いパスマスクを選択、使用する。これは条件Ｄと条件Ｅに対応し、条件Ｅの方がパス間でのドット間引き率が後続パス側に多く偏るように設定している。

【0082】

一方、鮮鋭性回復量の絶対値が小さな値であるときは、各パスのドット間引き率が均等となるようなパスマスクを選択、使用する。これは条件Ｃに対応する。

【0083】

＜実施形態３＞
実施形態２においては、プリンタ２の周波数特性に基づいて算出される鮮鋭性回復量を用いて、パスマスクを選択、適用する例について説明した。実施形態３では、スキャナなどの原稿読み取り部を備えたプリンタによる原稿コピーを例とし、原稿読み取り部の周波数応答特性から得られた鮮鋭性回復量を用いる方法について説明する。なお、実施形態１から実施形態２のいずれかと共通の部分については説明を省略する。

【0084】

図２０は、実施形態３における画像形成システムの構成を示したブロック図である。図２０において、プリンタ２は、原稿読み取り部１１６を備える。また、本実施形態では、実施形態１における画像処理装置１の機能はプリンタ２に含まれる。プリンタ２は、原稿読み取り部１１６よりコピー対象の画像データを取得する。画像データは８ビットのＲＧＢカラー画像である。

【0085】

鮮鋭性回復処理部１１７は、入力されたＲＧＢごとの入力画像データに対する鮮鋭性回復処理を行う。この処理で用いる鮮鋭性フィルタは、原稿読み取り部１１６の空間周波数応答特性に基づいて設計されたもので、鮮鋭性回復フィルタ格納部１１８に格納され参照される。補正された画像は色分解処理部１０４及び回復量算出部１１９へ送出される。

【0086】

回復量画像生成処理部１１９は、鮮鋭性回復処理部１１７で補正された画像データと入力されたＲＧＢ画像データとの差分を計算することで、鮮鋭性回復量を生成する。生成された回復量画像はパスマスク選択処理部２０６へ送出される。

【0087】

なお、実施形態３において、鮮鋭性回復量を取得した後の処理については、実施形態１及び実施形態２と同様であり、説明を省略する。

【0088】

以上説明したように実施形態３によれば、原稿読み取り部１１６の空間周波数特性から得られた鮮鋭性回復量に基づいて、中間調エッジにおけるドット形成タイミングが異なるようにパスマスクを選択、適用する。これにより、中間調エッジにおけるドット間干渉を抑制して画像の鮮鋭性を向上させることができる。

【0089】

＜その他の実施形態＞
なお、以上説明した実施形態において、パス分解処理は、パスマスクを用いる例を示したが、パス分解処理の方法は限定されない。異なる濃度の２つの領域の境界において、境界を挟むように隣接する２つの画素のドットが、できるだけ異なるパスで形成されるように制御する。例えば、一方の領域が、複数回の記録走査のうち、先行する記録走査ほどより多くのドットが打ち込まれるように形成され、他方の領域が、複数回の記録走査のうち、後続する記録走査ほどより多くのドットが打ち込まれるように形成されればよい。あるいは、異なる濃度の領域の境界において、各走査において、どちらか一方の領域側の境界にドットが集中して打たれるようにマルチパス印刷を制御してもよい。たとえば、偶数番目の走査と奇数番目の走査とでヘッドの移動方向が異なる（往復印字モード）場合、高濃度領域側の境界を奇数番目の走査で形成し、低濃度領域側の境界を偶数番目の走査で形成するようにする。これにより、各々の境界は同じヘッドの移動方向において形成されるため、主ドットに付随して形成されるサテライトドット等のヘッドの移動方向による影響等が緩和される。

【0090】

色分解処理部１０４においてパス数分の多値画像データを生成した後に、ハーフトーン処理部１０８で各パスの多値画像を２値化するような構成でも、前述した実施形態と同様にマルチパス印刷を制御することもできる。その場合、エッジ情報あるいは鮮鋭性回復量に基づいて、各パスにおける多値画像データの記録の割合を決定した後に、各パスのドットパターンを決定すればよい。この場合、各パスの多値画像データを相互に参照しつつそれぞれのパスの走査データを決定できる。そのため、２値画像データにパスマスクを適用する場合よりも、各走査におけるドットパターンの分散性を高め易い。

【0091】

また、前述の実施形態においては、中間調エッジにおけるドット間干渉の抑制を、各インク色内で行う例を説明したが、異なるインク色間で行ってもよい。例えば、ブラックインクで形成する領域とイエローインクで形成する領域が接する場合にも、本実施形態は適用できる。ブラックインクで形成する領域を先行パス側でより多く形成するパスマスクとし、イエローインクで形成する領域を後続パス側でより多く形成するパスマスクとする。これにより、ブラックインクのドットとイエローインクのドットの形成タイミングをずらし、色間でのドット間干渉を抑制することができる。あるいは、ブラックインクとイエローインクのパスマスクを逆転させて、イエローインクを先行パス側で形成し、ブラックインクを後続パス側で形成してもよい。中間調エッジにおいてエッジを挟むように連続するドットの発生を抑えることが重要であり、インク色の濃度情報を基にして、中間調エッジにおける高濃度側エッジ、あるいは低濃度側エッジを決定すればよい。

【0092】

また、前述の実施形態は、フルライン方式に従うプリンタにおいても適用可能である。ここでのフルライン方式とは、記録媒体の幅分の長さを有する記録ヘッドを固定して配置し、記録媒体を略一定速で搬送させることで画像を形成するもので、主に商業印刷向けのプリンタにおいて使用される構成である。記録ヘッドを構成する複数の記録素子列を、マルチパス方式における記録走査（パス）と読み替えることで、マルチパス印刷の制御と同様の制御を適用できる。

【0093】

また、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介して装置またはシステムに供給し、装置またはシステムのコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読み出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

【符号の説明】

【0094】

１ 画像処理装置
１０２ エッジ検出部
２０６ パスマスク選択部
２０７ パス分解処理部
２０８ パスマスク格納部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】