特許第6971879号(P6971879)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特許6971879曲率半径計測装置および曲率半径計測方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6971879
(24)【登録日】2021年11月5日
(45)【発行日】2021年11月24日
(54)【発明の名称】曲率半径計測装置および曲率半径計測方法
(51)【国際特許分類】
   G01B 11/255 20060101AFI20211111BHJP
【FI】
   G01B11/255 Z
【請求項の数】6
【全頁数】13
(21)【出願番号】特願2018-29772(P2018-29772)
(22)【出願日】2018年2月22日
(65)【公開番号】特開2019-144163(P2019-144163A)
(43)【公開日】2019年8月29日
【審査請求日】2020年11月2日
(73)【特許権者】
【識別番号】000006013
【氏名又は名称】三菱電機株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001195
【氏名又は名称】特許業務法人深見特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】高木 誠司
(72)【発明者】
【氏名】石賀 展昭
(72)【発明者】
【氏名】佐々木 浩
【審査官】 國田 正久
(56)【参考文献】
【文献】 特開昭51−017466(JP,A)
【文献】 特開昭57−080509(JP,A)
【文献】 特開平11−051624(JP,A)
【文献】 特開2003−311464(JP,A)
【文献】 特開2005−292081(JP,A)
【文献】 特開2009−192432(JP,A)
【文献】 特開平08−279547(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01B 11/255
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
被計測物上のN個の測定点における座標値を非接触で測定する測定機と、
前記被計測物の曲率半径を算出する計算機とを備え、
Nは3以上の整数であり、
前記計算機は、
前記座標値に基づいて、LMedS手法により前記被計測物の仮の曲率中心位置を算出し、
前記仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させたときに、前記N個の測定点の各々との距離の標準偏差が極小となる前記中心位置候補を特定し、特定した前記中心位置候補と前記N個の測定点の各々との距離の代表値を前記曲率半径として算出する、曲率半径計測装置。
【請求項2】
前記測定機は、
前記被計測物との距離を非接触で測定するセンサと、
前記センサを支持し、回転軸を中心に回転する回転体とを備え、
前記N個の測定点は、前記回転体がN個の互いに異なる回転位置にあるときの前記センサの測定方向と前記被計測物の表面との交点であり、
前記測定機は、前記N個の測定点の各々について、前記センサによって測定された当該測定点との距離と、前記回転体の回転角度と、前記回転軸と前記センサとの距離とに基づいて前記座標値を算出する座標出力部をさらに備える、請求項1に記載の曲率半径計測装置。
【請求項3】
前記測定機は、
前記被計測物との距離を非接触で測定するセンサと、
前記センサを円弧補間動作させるとともに、測定方向が円弧補間の径方向となるように前記センサを回転させる機構とを備え、
前記N個の測定点は、前記機構によって前記センサをN個の互いに異なる位置まで移動させたときの前記センサの測定方向と前記被計測物の表面との交点であり、
前記測定機は、前記N個の測定点の各々について、前記センサによって測定された当該測定点との距離と、前記センサの位置および回転角度とに基づいて前記座標値を算出する座標出力部をさらに備える、請求項1に記載の曲率半径計測装置。
【請求項4】
被計測物上のN個の測定点の座標値を非接触で測定する第1ステップを備え、
Nは3以上の整数であり、さらに、
測定された前記座標値に基づいて、LMedS手法により前記被計測物の仮の曲率中心位置を算出する第2ステップと、
前記仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させたときに、前記N個の測定点の各々との距離の標準偏差が極小となる前記中心位置候補を特定し、特定した前記中心位置候補と前記N個の測定点の各々との距離の代表値を前記被計測物の曲率半径として算出する第3ステップとを備える、曲率半径計測方法。
【請求項5】
前記第1ステップは、
前記被計測物との距離を非接触で測定するセンサを支持する回転体を回転させながら、前記センサによって前記N個の測定点との距離を順次測定させるステップと、
前記N個の測定点の各々について、前記センサによって測定された当該測定点との距離と、前記回転体の回転角度と、前記回転体の回転軸と前記センサとの距離とに基づいて前記座標値を算出するステップとを備える、請求項4に記載の曲率半径計測方法。
【請求項6】
前記第1ステップは、
前記被計測物との距離を非接触で測定するセンサを円弧補間動作させるとともに、測定方向が円弧補間の径方向となるように前記センサを回転させながら、前記センサによって前記N個の測定点との距離を順次測定させるステップと、
前記N個の測定点の各々について、前記センサによって測定された当該測定点との距離と、前記センサの位置および回転角度とに基づいて前記座標値を算出するステップとを備える、請求項4に記載の曲率半径計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、被計測物の曲率半径を計測する曲率半径計測装置および曲率半径計測方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
従来、被計測物に接触して、被計測物上の少なくとも3点における座標値を測定し、測定された座標値に基づいて、R形状の中心位置および半径を最小二乗法により算出するR形状計測装置が知られている(特開2012−145551号公報(特許文献1))。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開2012−145551号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特開2012−145551号公報に記載のR形状計測装置では、座標値の測定時に被計測物に接触する必要がある。そのため、湾曲した液晶パネルを保護する保護ガラスのような薄型の被計測物の場合、座標値の測定のときに被計測物が変形し、適切な曲率半径を計測できない。
【0005】
さらに、曲率半径が大きい場合、被計測物上の少なくとも3点における座標値の測定精度が曲率半径の算出に大きく影響する。たとえば、曲率半径が750mm程度であり、被計測物上の少なくとも3点における座標値の測定精度が±0.01〜0.02mmである場合、曲率半径の計測精度は±1mm以上となる。
【0006】
本開示は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、被計測物を変形させることなく、高精度に曲率半径を計測することのできる曲率半径計測装置および曲率半径計測方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本開示のある局面に係る曲率半径計測装置は、被計測物上のN個の測定点における座標値を非接触で測定する測定機と、被計測物の曲率半径を算出する計算機とを備える。Nは3以上の整数である。計算機は、座標値に基づいて、LMedS手法により被計測物の仮の曲率中心位置を算出する。さらに、計算機は、仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させたときに、N個の測定点の各々との距離の標準偏差が極小となる中心位置候補を特定し、特定した中心位置候補とN個の測定点の各々との距離の代表値を曲率半径として算出する。
【0008】
本開示の別の局面に係る曲率半径計測方法は、被計測物上のN個の測定点の座標値を非接触で測定する第1ステップを備える。Nは3以上の整数である。さらに、曲率半径計測方法は、測定された座標値に基づいて、LMedS手法により被計測物の仮の曲率中心位置を算出する第2ステップと、仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させたときに、N個の測定点の各々との距離の標準偏差が極小となる中心位置候補を特定し、特定した中心位置候補とN個の測定点の各々との距離の代表値を被計測物の曲率半径として算出する第3ステップとを備える。
【発明の効果】
【0009】
本開示の曲率半径計測装置および曲率半径計測方法によれば、被計測物を変形させることなく、高精度に曲率半径を計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
図1】実施の形態1に係る曲率半径計測装置を示す断面図である。
図2】実施の形態1に係る曲率半径計測方法の前半の流れを示すフローチャートである。
図3】実施の形態1,2に係る曲率半径計測方法の後半の流れを示すフローチャートである。
図4】実施の形態2に係る曲率半径計測装置を示す断面図である。
図5】実施の形態2に係る曲率半径計測方法の前半の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0011】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。以下で説明する各実施の形態または変形例は、適宜選択的に組み合わされてもよい。
【0012】
実施の形態1.
図1は、実施の形態1に係る曲率半径計測装置を示す断面図である。図1に示されるように、曲率半径計測装置100Aは、被計測物1上のN個(Nは3以上の整数)の測定点pi(i=1〜Nの整数)における座標値を非接触で測定する測定機10Aと、被計測物1の曲率半径を算出する計算機20とを備える。被計測物1は、たとえば湾曲した液晶パネルを保護する保護ガラスであり、ステージ2上に載置される。
【0013】
測定機10Aは、アーム12と、レーザ変位センサ13と、回転角度検出センサ14と、座標出力部15Aとを備える。
【0014】
アーム12は、回転軸11を中心に回転する回転体であり、図示しない駆動源によって回転駆動される。回転軸11は、アーム12の一方端に位置する。アーム12の回転軸11の位置は、ステージ2上に被計測物1を載置したときに、当該被計測物1の曲率中心位置の近傍になるように予め設定されている。
【0015】
レーザ変位センサ13は、測定方向が被計測物1に向くようにアーム12の他方端に支持され、被計測物1との距離を非接触で測定する。被計測物1上のN個の測定点p1〜Nは、アーム12がN個の互いに異なる回転位置にあるときのレーザ変位センサ13の測定方向と被計測物1の表面との交点である。
【0016】
アーム12は、図中の右端の位置から回転し始め、予め設定された測定角度間隔だけ回転した後に一旦停止する動作をN回繰り返して、左端まで回転移動する。レーザ変位センサ13は、アーム12が停止するたびに被計測物1上の測定点piとの距離diを測定する。
【0017】
回転角度検出センサ14は、基準方向からのアーム12の回転角度を検出する。図1に示す例では、基準方向は鉛直方向上向きに設定されている。以下では、レーザ変位センサ13の測定方向が測定点piに向いたときのアーム12の回転角度をθiとする。
【0018】
座標出力部15Aは、測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)を算出する。座標出力部15Aは、算出した測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)を計算機20に出力する。
【0019】
座標出力部15Aは、レーザ変位センサ13によって測定された測定点piとの距離diと、アーム12の回転角度θiと、回転軸11とレーザ変位センサ13の測定原点との距離Loとに基づいて測定点piの座標値(xi,zi)を算出する。具体的には、座標出力部15Aは、以下の式(1)(2)に従って座標値(xi,zi)を算出する。
xi=Li×sinθi 式(1)
zi=zo−Li×cosθi 式(2)
ここで、zoは、アーム12の回転軸11のz座標値である。Liは、回転軸11からレーザ変位センサ13の測定原点までの距離Loとレーザ変位センサ13によって測定された距離diとの和(=Lo+di)である。Loは、形状が既知の校正治具により、予め測定される。
【0020】
計算機20は、測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)に基づいて、LMedS手法により被計測物1の仮の曲率中心位置の座標値(a,b)を算出する。
【0021】
LMedS手法(最小メジアン手法)は、ロバスト推定の1つであり、ランダムに抽出したサンプルの全測定値における二乗誤差の中央値が最も小さいときの推定を正しい推定とみなす手法である。
【0022】
計算機20は、測定点p1〜pNのそれぞれの座標値(x1,z1)〜(xN,zN)の群からランダムに3つの測定点の座標値を抽出し、当該3つの測定点を通る円の中心位置の座標値および半径を算出する。計算機20は、この工程を予め設定された回数(M回)だけ繰り返す。j回目(j=1〜M)の工程で算出された円の中心位置の座標値を(aj,bj)とし、当該円の半径をRjとする。計算機20は、半径R1〜RMの中央値を求め、当該中央値の半径に対応する中心位置の座標値を仮の曲率中心位置の座標値(a,b)とする。
【0023】
計算機20は、仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させたときに、測定点p1〜pNの各々との距離Di(i=1〜N)の標準偏差が極小となる中心位置候補を代表中心位置として特定する。計算機20は、仮の曲率中心位置からX方向または−X方向にΔx、Z方向または−Z方向にΔzずつ位置を変化させることにより、中心位置候補を移動させる。そのため、中心位置候補は、仮の曲率中心位置の近傍において格子状に位置する。
【0024】
計算機20は、特定した代表中心位置と測定点p1〜pNの各々との距離Di’(i=1〜N)の代表値を被計測物1の曲率半径として算出する。代表値は、たとえば中央値、平均値などである。
【0025】
図2および図3を参照して、実施の形態1に係る曲率半径計測方法の流れを説明する。図2は、実施の形態1に係る曲率半径計測方法の前半の流れを示すフローチャートである。図3は、実施の形態1に係る曲率半径計測方法の後半の流れを示すフローチャートである。まずステップS1において、レーザ変位センサ13を初期位置(被計測物1の右端側)へ移動させる。次にステップS2において、測定条件が設定される。測定条件には、測定開始角度と、測定終了角度と、測定角度間隔とが含まれる。なお、測定開始X座標と、測定終了X座標と、測定X座標間隔または測定点数とが測定条件として設定されてもよい。
【0026】
次にステップS3において、レーザ変位センサ13の最初の測定位置が設定される。つまり、ステップS2で設定された測定開始角度が測定位置に対応する目標角度として設定される。
【0027】
次にステップS4において、測定位置に向けたアーム12の回転移動を開始させる。次にステップS5において、レーザ変位センサ13が測定位置に移動したか否かが判断される。具体的には、回転角度検出センサ14によって検出された角度が目標角度と一致する場合に、レーザ変位センサ13が測定位置に移動したと判断される。レーザ変位センサ13が測定位置に移動していないと判断された場合(S5でNO)、再度ステップS5の処理が繰り返される。
【0028】
レーザ変位センサ13が測定位置に移動したと判断された場合(S5でYES)、ステップS6において、アーム12の回転移動が停止され、レーザ変位センサ13は、被計測物1の最初の測定点p1との距離d1を測定する。
【0029】
次にステップS7において、次の測定位置があるか否かが判断される。具体的には、回転角度検出センサ14によって検出された角度が測定終了角度と一致していない場合に、次の測定位置があると判断される。次の測定位置がある場合(S7でYES)、ステップS8において、次の測定位置が設定される。具体的には、現在の測定位置からステップS2で設定された測定角度間隔だけ回転したときのレーザ変位センサ13の位置が次の測定位置として設定される。このとき、回転角度検出センサ14によって検出された角度から測定角度間隔を加算した角度が測定位置に対応する目標角度として設定される。その後、ステップS4〜S7の処理が繰り返される。すなわち、レーザ変位センサ13が次の測定位置に移動するようにアーム12が回転し、レーザ変位センサ13は、被計測物1の次の測定点piとの距離diを測定する。
【0030】
次の測定位置がない場合(S7でNO)、座標出力部15Aは、ステップS9において、上記の式(1)(2)に従って各測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)を算出し、計算機20に出力する。
【0031】
図3に示されるように、計算機20は、次のステップS10において、各測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)に基づいて、LMedS手法により被計測物1の仮の曲率中心位置の座標値(a,b)を算出する。
【0032】
次にステップS11において、計算機20は、仮の曲率中心位置を中心位置候補に設定する。次にステップS12において、計算機20は、中心位置候補と中心位置候補の周囲の8点との9点の各々について、各測定点pi(i=1〜N)との距離Diの標準偏差を算出する。中心位置候補の周囲の8点とは、中心位置候補の座標値を(a’,b’)とするとき、座標値がそれぞれ(a’−Δx,b’−Δz)、(a’,b’−Δz)、(a’+Δx,b’−Δz)、(a’−Δx,b’)、(a’+Δx,b’)、(a’−Δx,b’+Δz)、(a’,b’+Δz)、(a’+Δx,b’+Δz)である8点である。ΔxおよびΔzは予め設定される。
【0033】
次にステップS13において、計算機20は、中心位置候補について算出した距離Di(i=1〜N)の標準偏差が極小であるか否かを判断する。計算機20は、中心位置候補について算出した距離Diの標準偏差が中心位置候補の周囲の8点の各々について算出した距離Diの標準偏差より小さい場合に、中心位置候補について算出した距離Diの標準偏差が極小であると判断する。
【0034】
中心位置候補について算出した距離Diの標準偏差が極小でない場合(S13でNO)、ステップS14において、計算機20は中心位置候補を移動させる。ここでは、直前のステップS12において標準偏差が算出された9点のうちの最小の標準偏差が算出された1点が新たな中心位置候補として設定される。すなわち、X方向または−X方向にΔx、およびZ方向または−Z方向にΔzの少なくとも一方だけ移動した位置に中心位置候補が移動される。ステップS14の後、処理はステップS12に戻される。
【0035】
中心位置候補について算出した距離Diの標準偏差が極小である場合(S13でYES)、計算機20は、ステップS15において、当該中心位置候補を代表中心位置として特定する。ステップS11〜S15の処理により、計算機20は、仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させたときに、距離Riの標準偏差が極小となる中心位置候補を代表中心位置として特定する。
【0036】
最後にステップS16において、計算機20は、代表中心位置と測定点pi(i=1〜N)との距離Di’(i=1〜N)の代表値(中央値または平均値)を被計測物1の曲率半径として算出する。
【0037】
以上のように、曲率半径計測装置100Aは、被計測物1上のN個(Nは3以上の整数)の測定点p1〜pNにおける座標値を非接触で測定する測定機10Aと、被計測物1の曲率半径を算出する計算機20とを備える。計算機20は、測定点p1〜pNの座標値に基づいて、LMedS手法により被計測物1の仮の曲率中心位置を算出する。計算機20は、仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させたときに、測定点pi(i=1〜N)との距離Diの標準偏差が極小となる中心位置候補を代表中心位置として特定する。計算機20は、特定した代表中心位置と測定点pi(i=1〜N)との距離Di’(i=1〜N)の代表値を曲率半径として算出する。
【0038】
このような構成によれば、非接触で座標値が測定されるため、被計測物1の変形による測定誤差を抑制することができる。また、曲率半径の算出にLMedS手法が用いられることにより、被計測物1との距離測定誤差の影響を抑制できる。たとえば被計測物1が保護フィルムを含む保護ガラスである場合、保護フィルムと保護ガラスとの間の気泡による距離測定誤差の影響を抑制することができる。さらに、LMedS手法で求めた仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させ、測定点pi(i=1〜N)との距離Diの標準偏差が極小となる中心位置候補がサーチされる。これにより、安価なレーザ変位センサ13を用いて、大きな曲率の被計測物1の曲率半径を高精度に計測することができる。たとえばR750mmの被計測物1に対し、測定精度±0.01〜0.02mmのレーザ変位センサ13を用いたとしても、曲率半径の計測精度を±0.3mm以下にすることができる。
【0039】
測定機10Aは、レーザ変位センサ13と、レーザ変位センサ13を支持し、回転軸11を中心に回転するアーム12とを備える。N個の測定点p1〜pNは、アーム12がN個の互いに異なる回転位置にあるときのレーザ変位センサ13の測定方向と被計測物1の表面との交点である。測定機10Aは、測定点piについて、レーザ変位センサ13によって測定された測定点piとの距離diと、アーム12の回転角度θiと、回転軸11とレーザ変位センサ13の測定原点との距離Loとに基づいて座標値を算出する座標出力部15Aをさらに備える。これにより、アーム12を備えた簡易な構成の測定機10Aにより、N個の測定点p1〜pNの座標値を測定できる。
【0040】
なお、図1に示す例では、アーム12の回転軸11は、被計測物1の上方に位置している。しかしながら、アーム12の回転軸11を被計測物1の下方に配置してもよい。この場合は、被計測物1は、上下反転させた状態でセットされる。
【0041】
さらに、アーム12と被計測物1との相対位置は、被計測物1の曲率に応じて変更されてもよい。この場合、被計測物1の曲率半径の設計値に応じて、回転軸11を上下に移動させる。もしくは、ステージ2の高さを上下させてもよい。具体的には、回転軸11と被計測物1との距離が被計測物1の曲率半径の設計値と略同一となるように、回転軸11またはステージ2を移動させる。これにより、被計測物1の曲率中心位置の近傍に回転軸11を位置させることができる。このような構成によれば、様々な曲率をもった被計測物1の曲率半径の計測が容易にできる。
【0042】
上記の説明では、レーザ変位センサ13が被計測物1との距離を測定する際にアーム12を停止させる。しかしながら、回転角度検出センサ14によって検出された角度が目標角度と一致した時に、レーザ変位センサ13へ外部トリガを出力すると同時に目標角度を次の測定位置に対応する角度に更新してもよい。これにより、アーム12を停止させることなく、右端から左端まで連続して回転させることができる。このような構成によれば、測定時間を大幅に短縮することができる。
【0043】
実施の形態2.
図4は、実施の形態2に係る曲率半径計測装置を示す断面図である。図4に示されるように、曲率半径計測装置100Bは、図1に示す曲率半径計測装置100Aと比較して、測定機10Aの代わりに測定機10Bを備える点でのみ相違する。計算機20については実施の形態1と同様であるため説明を省略する。
【0044】
測定機10Bは、レーザ変位センサ13と、X軸ステージ16と、Z軸ステージ17と、回転ステージ18と、座標出力部15Bとを備える。
【0045】
X軸ステージ16は、図示しない駆動源によってX軸方向に移動する。Z軸ステージ17は、X軸ステージ16に搭載され、図示しない駆動源によってZ軸方向に移動する。回転ステージ18は、Z軸ステージ17に搭載され、図示しない駆動源によって回転軸18aを中心に回転する。レーザ変位センサ13は、回転ステージ18に搭載される。
【0046】
X軸ステージ16およびZ軸ステージ17は、図示しない駆動源によって、回転ステージ18に搭載されたレーザ変位センサ13を円弧補間動作させる。回転ステージ18は、図示しない駆動源によって、測定方向が円弧補間の径方向外向きとなるようにレーザ変位センサ13を回転させる。このように、X軸ステージ16、Z軸ステージ17および回転ステージ18は、レーザ変位センサ13を円弧補間動作させるとともに、測定方向が円弧補間の径方向外向きとなるようにレーザ変位センサ13を回転させる機構を構成する。
【0047】
被計測物1上のN個の測定点pi(i=1〜N)は、レーザ変位センサ13がN個の互いに異なる位置まで移動したときのレーザ変位センサ13の測定方向と被計測物1の表面との交点である。X軸ステージ16およびZ軸ステージ17は、図中の右端の位置からレーザ変位センサ13の円弧補間動作を開始し、予め設定された角度だけレーザ変位センサ13を移動させた後に一旦停止させる動作をN回繰り返して、左端まで移動させる。このとき、回転ステージ18は、測定方向が円弧補間の径方向外向きとなるようにレーザ変位センサ13を回転させる。レーザ変位センサ13は、停止するたびに被計測物1上の測定点piとの距離diを測定する。
【0048】
座標出力部15Bは、測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)を算出する。座標出力部15Bは、算出した測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)を計算機20に出力する。
【0049】
座標出力部15Bは、レーザ変位センサ13によって測定された測定点piとの距離diと、回転ステージ18の回転軸18aの座標値(xio,zio)と、回転ステージ18の回転角度θi(図3参照)と、回転軸18aとレーザ変位センサ13の測定原点との距離doとに基づいて座標値(xi,zi)を算出する。具体的には、座標出力部15Bは、以下の式(3)(4)に従って座標値(xi,zi)を算出する。
xi=xio+(di+do)×cosθi 式(3)
zi=zio+(di+do)×sinθi 式(4)
ここで、xioは、X軸ステージ16の位置から求められる。zioは、Z軸ステージ17の位置から求められる。θiは、回転ステージ18の回転角度から求められる。doは、回転ステージ18とレーザ変位センサ13との相対位置から予め測定される。なお、回転ステージ18の回転軸18aとレーザ変位センサ13の測定原点とを一致させた場合には、do=0となる。
【0050】
図5および図3を参照して、実施の形態2に係る曲率半径計測方法の流れについて説明する。図5は、実施の形態2に係る曲率半径計測方法の前半の流れを示すフローチャートである。なお、図3には、実施の形態1だけでなく実施の形態2に係る曲率半径計測方法の後半の流れのフローチャートが示される。
【0051】
まずステップS21において、X軸ステージ16およびZ軸ステージ17は、レーザ変位センサ13を円弧補間動作の初期位置(被計測物1の右端側)へ移動させる。次にステップS22において、測定条件が設定される。測定条件には、円弧補間動作されるレーザ変位センサ13の測定開始位置と測定終了位置と測定角度間隔と円弧の中心点と円弧の半径とが含まれる。円弧の中心点は、ステージ2上に被計測物1を載置したときに、当該被計測物1の曲率中心位置の近傍になるように設定される。さらに、円弧の半径は、被計測物1の曲率半径の設計値よりも規定値だけ小さい値に設定される。当該規定値は、レーザ変位センサ13が測定可能な距離範囲内の値(たとえば中央値)である。
【0052】
次にステップS23において、レーザ変位センサ13の最初の測定位置が設定される。つまり、ステップS22で設定された測定開始位置が測定位置として設定される。このとき、レーザ変位センサ13を測定開始位置に移動させるための、X軸ステージ16およびZ軸ステージ17の各々の目標位置が決定される。さらに、回転ステージ18の目標角度が決定される。
【0053】
次にステップS24において、X軸ステージ16およびZ軸ステージ17は、測定位置に向けたレーザ変位センサ13の円弧補間動作を開始させる。さらに、回転ステージ18は、レーザ変位センサ13の測定方向が円弧補間の径方向外向きとなるように、レーザ変位センサ13を回転させる。
【0054】
次にステップS25において、レーザ変位センサ13が測定位置に移動したか否かが判断される。X軸ステージ16およびZ軸ステージ17の位置と目標位置との比較結果、および回転ステージ18の回転角度と目標角度との比較結果に基づいて、レーザ変位センサ13が測定位置に移動したか否かが判断される。レーザ変位センサ13が測定位置に移動していないと判断された場合(S25でNO)、再度ステップS25の処理が繰り返される。
【0055】
レーザ変位センサ13が測定位置に移動したと判断された場合(S25でYES)、ステップS26において、X軸ステージ16、Z軸ステージ17および回転ステージ18による円弧補間動作が停止され、レーザ変位センサ13は、被計測物1の最初の測定点p1との距離d1を測定する。
【0056】
次にステップS27において、次の測定位置があるか否かが判断される。次の測定位置がある場合(S27でYES)、ステップS28において、現在の測定位置からステップS2で設定された測定角度間隔だけ回転移動した位置が次の測定位置として決定される。このとき、ステップS22で設定された測定条件(円弧の中心点、円弧の半径、測定角度間隔)と現在の測定位置とに基づいて、レーザ変位センサ13を次の測定位置に移動させるための、X軸ステージ16およびZ軸ステージ17の各々の目標位置が決定される。さらに、回転ステージ18の目標角度が決定される。そして、ステップS24〜S27の処理が繰り返される。すなわち、レーザ変位センサ13が次の測定位置に移動するようにX軸ステージ16、Z軸ステージ17および回転ステージ18が動作し、レーザ変位センサ13によって、被計測物1の次の測定点piとの距離diを測定する。
【0057】
次の測定位置がない場合(S27でNO)、座標出力部15Bは、ステップS29において、上記の式(3)および式(4)に従って各測定点pi(i=1〜N)の座標値(xi,zi)を算出し、計算機20に出力する。
【0058】
その後、実施の形態1と同様に、図3に示すステップS10〜S16が実行され、被計測物1の曲率半径が算出される。
【0059】
実施の形態2に係る曲率半径計測装置100Bによっても、非接触で測定点piの座標値が測定されるため、被計測物1の変形による測定誤差を抑制することができる。また、曲率算出にLMedS手法が用いられることにより、被計測物1との距離測定誤差の影響を抑制できる。さらに、LMedS手法で求めた仮の曲率中心位置を起点として中心位置候補を移動させ、測定点pi(i=1〜N)との距離Riの標準偏差が極小となる中心位置候補がサーチされる。これにより、安価なレーザ変位センサ13を用いて、大きな曲率の被計測物1の曲率半径を高精度に計測することができる。
【0060】
測定機10Bは、レーザ変位センサ13を円弧補間動作させるとともに、測定方向が円弧補間の径方向外向きとなるようにレーザ変位センサ13を回転させる機構を備える。当該機構は、X軸ステージ16、Z軸ステージ17および回転ステージ18によって構成される。N個の測定点p1〜pNは、レーザ変位センサ13がN個の互いに異なる位置まで移動したときのレーザ変位センサ13の測定方向と被計測物1の表面との交点である。測定機10Bは、測定点piについて、レーザ変位センサ13によって測定された当該測定点piとの距離diと、レーザ変位センサ13の位置および回転角度とに基づいて、測定点piの座標値を算出する座標出力部15Bをさらに備える。
【0061】
これにより、実施の形態1のようなアーム12が不要となり、測定機10Bのサイズを小さくすることができる。被計測物1のセット向きを上下反転させることで、凸型のR形状の被計測物にも容易に対応ができる。この場合、レーザ変位センサ13を円弧補間動作させるとともに、測定方向が円弧補間の径方向内向きとなるようにレーザ変位センサ13を回転させる。
【0062】
さらに、レーザ変位センサ13をある測定位置から次の測定位置まで移動させるとき、X軸ステージ16が目標位置まで移動する時間と、Z軸ステージ17が目標位置まで移動する時間と、回転ステージ18が目標角度まで回転する時間とが同一になるように制御されることが好ましい。この場合、円弧補間動作中に、回転ステージ18の回転角度が目標角度と一致した時に、レーザ変位センサ13へ外部トリガを出力すると同時にレーザ変位センサ13を次の測定位置へ移動開始させてもよい。このとき、X軸ステージ16およびZ軸ステージ17の目標位置と回転ステージ18の目標角度とが次の測定位置に対応する値に更新される。これにより、X軸ステージ16、Z軸ステージ17および回転ステージ18を停止させることなく、レーザ変位センサ13を右端から左端まで連続して移動させることができる。このような構成によれば、測定時間を大幅に短縮することができる。なお、X軸ステージ16の位置が目標位置と一致した時に、レーザ変位センサ13へ外部トリガを出力すると同時にレーザ変位センサ13を次の測定位置へ移動開始させてもよい。
【0063】
実施の形態3.
実施の形態1または実施の形態2では、被計測物1を水平面であるXY平面に平行になるようセットされる。しかしながら、実施の形態3では、被計測物1をXZ平面に平行になるようにセットする。このとき、レーザ変位センサ13をXY平面に平行な面に沿って回転または円弧補間動作させる。
【0064】
実施の形態3によれば、実施の形態1または実施の形態2の効果に加えて、被計測物1の厚みが非常に薄い場合であっても、被計測物1の自重による変形を抑制でき、精度良く被計測物1の曲率半径を計測できる。
【0065】
今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【0066】
1 被計測物、2 ステージ、10A,10B 測定機、11,18a 回転軸、12 アーム、13 レーザ変位センサ、14 回転角度検出センサ、15A,15B 座標出力部、16 X軸ステージ、17 Z軸ステージ、18 回転ステージ、20 計算機、100A,100B 曲率半径計測装置。
図1
図2
図3
図4
図5