特許6972331パワー半導体デバイスにおいて電気的接続の劣化状態を確立する診断装置及び方法

発明の名称　パワー半導体デバイスにおいて電気的接続の劣化状態を確立する診断装置及び方法

出願人　ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィ　（識別番号 503163527）

　　　　特許公開件数ランキング 1192 位（6件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 609 位（12件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6972331

公報発行日　2021年11月24

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6972331

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