特許6972680IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

この発明は、炭化珪素半導体装置および炭化珪素半導体装置の製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、上述した従来構造では、セルピッチを4.0μmより小さくしようとすると、第1p+型領域3および下側第2p+型領域4a、上側第2p+型領域4bの寸法を1.0μmより狭くしなければならない。このため、より精度の高いフォトリソグラフィが必要となり、製造難易度が向上する。一方、第1p+型領域3および下側第2p+型領域4a、上側第2p+型領域4bを設けないと、トレンチの底部の電界集中を緩和できず、目標とする耐圧を実現することができない。 この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、セルピッチを4.0μmより小さくした場合でも、目標とする耐圧の実現を、従来と同程度の製造難易度で製造可能な炭化珪素半導体装置および炭化珪素半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

上述した課題を解決し、本発明の目的を達成するため、この発明にかかる炭化珪素半導体装置は、次の特徴を有する。第1導電型の炭化珪素基板のおもて面に設けられた第1導電型の第1半導体層と、前記第1半導体層の表面に設けられた前記第1半導体層よりも不純物濃度が高い第1導電型の第2半導体層と、前記第2半導体層の表面に設けられた第2導電型の第3半導体層と、前記第3半導体層の表面に選択的に設けられた第1導電型・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明にかかる炭化珪素半導体装置および炭化珪素半導体装置の製造方法によれば、セルピッチを4.0μmより小さくした場合でも、目標とする耐圧を実現する炭化珪素半導体装置が、従来と同程度の製造難易度で製造できるという効果を奏する。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のA−A’部分の断面図である。

【図2】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のB−B’部分の断面図である。

【図3】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のC−C’部分の断面図である。

【図4】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のD−D’部分の断面図である。

【図5】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のE−E’部分の断面図である。

【図6】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図1〜4のa−a’部分の上面図である。

【図7】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図1〜4のb−b’部分の上面図である。

【図8】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の上側第2p+型領域の配置の他の例を示す上面図である。

【図9】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である(その1)。

【図10】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である(その2)。

【図11】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である(その3)。

【図12】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である(その4)。

【図13】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である(その5)。

【図14】実施の形態1にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である(その6)。

【図15】実施の形態2にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のA−A’部分の断面図である。

【図16】実施の形態2にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のB−B’部分の断面図である。

【図17】実施の形態2にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のC−C’部分の断面図である。

【図18】実施の形態2にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のD−D’部分の断面図である。

【図19】実施の形態2にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である。

【図20】実施の形態3にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のA−A’部分の断面図である。

【図21】実施の形態3にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のB−B’部分の断面図である。

【図22】実施の形態3にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のC−C’部分の断面図である。

【図23】実施の形態3にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のD−D’部分の断面図である。

【図24】実施の形態3にかかる炭化珪素半導体装置の製造途中の状態を示す断面図である。

【図25】実施の形態4にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のA−A’部分の断面図である。

【図26】実施の形態4にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のB−B’部分の断面図である。

【図27】実施の形態4にかかる炭化珪素半導体装置の構造を示す図6、7のE−E’部分の断面図である。

【図28】実施の形態1〜4にかかる炭化珪素半導体装置のセルピッチとオン抵抗の関係を示すグラフである。

【図29】従来の炭化珪素半導体装置の構造を示す断面図である(その1)。

【図30】従来の炭化珪素半導体装置の構造を示す断面図である(その2)。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 n+型炭化珪素基板   2 n-型ドリフト層   3 第1p+型領域   4 第2p+型領域   4a 下側第2p+型領域   4b 上側第2p+型領域   5 n型領域   5a 下側n型領域   5b 上側n型領域   6 p型ベース層   7 n+型ソース領域   8 p+型コンタクト領域   9 ゲート絶縁膜   10 ゲート電極   11 層間絶縁膜   12 ソース電極   13 ドレイン電極   18 トレンチ

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