ホーム > 特許ランキング > 株式会社ＪＶＣケンウッド
知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6972946
(24)【登録日】2021年11月8日
(45)【発行日】2021年11月24日
(54)【発明の名称】分析装置及び分析方法
(51)【国際特許分類】
G01N 21/17 20060101AFI20211111BHJP
G01N 35/02 20060101ALI20211111BHJP
G01N 21/03 20060101ALI20211111BHJP
【ＦＩ】
G01N21/17 A
G01N35/02 A
G01N21/03 Z
【請求項の数】6
【全頁数】27
(21)【出願番号】特願2017-217036(P2017-217036)
(22)【出願日】2017年11月10日
(65)【公開番号】特開2019-86484(P2019-86484A)
(43)【公開日】2019年6月6日
【審査請求日】2020年3月30日
(73)【特許権者】
【識別番号】308036402
【氏名又は名称】株式会社ＪＶＣケンウッド
(74)【代理人】
【識別番号】100083806
【弁理士】
【氏名又は名称】三好 秀和
(74)【代理人】
【識別番号】100101247
【弁理士】
【氏名又は名称】高橋 俊一
(72)【発明者】
【氏名】齋藤 敦
(72)【発明者】
【氏名】岩間 茂彦
(72)【発明者】
【氏名】山本 雅弘
【審査官】
平田 佳規
(56)【参考文献】
【文献】
特開２０１７−１３８１８６（ＪＰ，Ａ）
【文献】
特開２００２−０３９９７４（ＪＰ，Ａ）
【文献】
特開２０１７−０５９２４２（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）
Ｇ０１Ｎ ２１／００− Ｇ０１Ｎ ２１／０１
Ｇ０１Ｎ ２１／１７− Ｇ０１Ｎ ２１／７４
Ｇ０１Ｎ ３３／４８− Ｇ０１Ｎ ３３／９８
Ｇ０１Ｎ ３５／００− Ｇ０１Ｎ ３５／１０
Ｃ１２Ｍ １／３４
Ｃ１２Ｑ １／００− Ｃ１２Ｑ １／７０
Ｇ０６Ｔ １／００− Ｇ０６Ｔ １／４０
Ｇ０６Ｔ ３／００− Ｇ０６Ｔ ３／６０
Ｇ０６Ｔ ５／００− Ｇ０６Ｔ ５／５０
Ｇ０６Ｔ ７／００− Ｇ０６Ｔ ７／９０
Ｇ０６Ｔ ９／００− Ｇ０６Ｔ ９／４０
Ｇ１１Ｂ ７／００− Ｇ１１Ｂ ７／３０
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
円板形状の試料分析用ディスクに形成されて微粒子が捕捉されている反応領域に、レーザ光を照射し、反射光を受光して受光検出信号を生成する光ピックアップと、前記試料分析用ディスクに形成されている基準位置識別部を検出して基準位置検出信号を生成する基準位置検出センサとを有し、前記試料分析用ディスクを回転させ、前記光ピックアップを前記試料分析用ディスクの半径方向に移動させ、前記光ピックアップの前記試料分析用ディスクにおける測定半径位置を検出して測定半径位置情報を生成する光ディスクドライブと、
前記測定半径位置情報に基づいて、位相差及びゲート幅を含むゲート情報であって、前記位相差は、固定値である基準シフト量と、前記測定半径位置に応じた変動値であり、単位ゲートシフト量の整数倍であるゲートシフト量とを含むゲート情報を生成するゲート情報処理部と、
前記基準位置検出信号と前記ゲート情報とに基づいて、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトするゲート信号を生成し、前記受光検出信号から、前記レーザ光が前記微粒子上を走査される毎に生成される微粒子パルス信号を前記ゲート信号毎に抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントして前記ゲート信号に対応するカウント値を生成する検出回路と、
前記ゲート信号に対応する前記試料分析用ディスク上のゲート信号対応領域を前記単位ゲートシフト量毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に分割して複数の分割領域を設定し、前記測定半径位置情報に基づいて、前記分割領域の位置情報を生成し、かつ、前記ゲート信号に対応するカウント値に基づいて、前記分割領域におけるカウント値を設定するゲートシフト処理部と、
を備える分析装置。
前記測定半径位置情報に基づいて、位相差及びゲート幅を含むゲート情報であって、前記位相差は、固定値である基準シフト量と、前記測定半径位置に応じた変動値であり、単位ゲートシフト量の整数倍であるゲートシフト量とを含むゲート情報を生成するゲート情報処理部と、
前記基準位置検出信号と前記ゲート情報とに基づいて、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトするゲート信号を生成し、前記受光検出信号から、前記レーザ光が前記微粒子上を走査される毎に生成される微粒子パルス信号を前記ゲート信号毎に抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントして前記ゲート信号に対応するカウント値を生成する検出回路と、
前記ゲート信号に対応する前記試料分析用ディスク上のゲート信号対応領域を前記単位ゲートシフト量毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に分割して複数の分割領域を設定し、前記測定半径位置情報に基づいて、前記分割領域の位置情報を生成し、かつ、前記ゲート信号に対応するカウント値に基づいて、前記分割領域におけるカウント値を設定するゲートシフト処理部と、
を備える分析装置。
【請求項2】
前記ゲート情報処理部は、前記反応領域を含む測定領域を前記試料分析用ディスクの回転方向にｍ（ｍは２以上の整数）分割するように前記ゲート幅を設定し、前記ゲート幅をｍ分割するように前記ゲートシフト量を設定する請求項１に記載の分析装置。
【請求項3】
前記ゲートシフト処理部は、前記分割領域が含まれるゲート信号対応領域に対応するゲート信号におけるカウント値と、前記分割領域に隣接するゲート信号対応領域に対応するゲート信号におけるカウント値とに基づいて、前記分割領域におけるカウント値を設定する請求項１または２に記載の分析装置。
【請求項4】
前記分割領域の位置情報に基づいて、前記分割領域におけるカウント値をカウント値分布データテーブルに保存するカウント値分布データ処理部と、
前記測定半径位置情報に基づいて、前記反応領域に対する測定が終了したか否かを判定するカウント値生成処理部と、
前記カウント値分布データテーブルに保存されている前記分割領域におけるカウント値に基づいて、前記反応領域の位置を特定し、前記反応領域におけるカウント値を決定する反応領域特定処理部と、
をさらに備える請求項１〜３のいずれか１項に記載の分析装置。
前記測定半径位置情報に基づいて、前記反応領域に対する測定が終了したか否かを判定するカウント値生成処理部と、
前記カウント値分布データテーブルに保存されている前記分割領域におけるカウント値に基づいて、前記反応領域の位置を特定し、前記反応領域におけるカウント値を決定する反応領域特定処理部と、
をさらに備える請求項１〜３のいずれか１項に記載の分析装置。
【請求項5】
前記反応領域特定処理部は、前記測定半径位置における前記反応領域の位置を特定し、前記反応領域の位置情報を前記測定半径位置毎に生成し、
前記検出回路は、前記ゲート信号として、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトする分布ゲート信号と、前記分布ゲート信号が生成される測定半径位置に対して１つの前の測定半径位置における反応領域の位置情報に基づいて前記反応領域に対応するゲート幅を有する測定ゲート信号とを生成し、
前記反応領域特定処理部は、前記分布ゲート信号に基づいて前記反応領域の位置を特定し、
前記カウント値生成処理部は、全ての測定半径位置での前記測定ゲート信号におけるカウント値を合算し、前記反応領域におけるカウント値を決定する
請求項４に記載の分析装置。
前記検出回路は、前記ゲート信号として、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトする分布ゲート信号と、前記分布ゲート信号が生成される測定半径位置に対して１つの前の測定半径位置における反応領域の位置情報に基づいて前記反応領域に対応するゲート幅を有する測定ゲート信号とを生成し、
前記反応領域特定処理部は、前記分布ゲート信号に基づいて前記反応領域の位置を特定し、
前記カウント値生成処理部は、全ての測定半径位置での前記測定ゲート信号におけるカウント値を合算し、前記反応領域におけるカウント値を決定する
請求項４に記載の分析装置。
【請求項6】
微粒子が捕捉されている反応領域を有する円板形状の試料分析用ディスクを回転させ、
光ピックアップを前記試料分析用ディスクの半径方向に移動させ、前記光ピックアップの前記試料分析用ディスクにおける測定半径位置を検出して測定半径位置情報を生成し、
前記試料分析用ディスクに形成されている基準位置識別部を検出して基準位置検出信号を生成し、
前記光ピックアップからレーザ光を前記反応領域に照射し、反射光を受光して受光検出信号を生成し、
前記測定半径位置情報に基づいて、位相差及びゲート幅を含むゲート情報であって、前記位相差は、固定値である基準シフト量と、前記測定半径位置に応じた変動値であり、単位ゲートシフト量の整数倍であるゲートシフト量とを含むゲート情報を生成し、
前記基準位置検出信号と前記ゲート情報とに基づいて、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトするゲート信号を生成し、
前記受光検出信号から、前記レーザ光が前記微粒子上を走査される毎に生成される微粒子パルス信号を前記ゲート信号毎に抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントして前記ゲート信号に対応するカウント値を生成し、
前記ゲート信号に対応する前記試料分析用ディスク上のゲート信号対応領域を前記単位ゲートシフト量毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に分割して複数の分割領域を設定し、
前記測定半径位置情報に基づいて、前記分割領域の位置情報を生成し、かつ、前記ゲート信号に対応するカウント値に基づいて、前記分割領域におけるカウント値を設定する
分析方法。
光ピックアップを前記試料分析用ディスクの半径方向に移動させ、前記光ピックアップの前記試料分析用ディスクにおける測定半径位置を検出して測定半径位置情報を生成し、
前記試料分析用ディスクに形成されている基準位置識別部を検出して基準位置検出信号を生成し、
前記光ピックアップからレーザ光を前記反応領域に照射し、反射光を受光して受光検出信号を生成し、
前記測定半径位置情報に基づいて、位相差及びゲート幅を含むゲート情報であって、前記位相差は、固定値である基準シフト量と、前記測定半径位置に応じた変動値であり、単位ゲートシフト量の整数倍であるゲートシフト量とを含むゲート情報を生成し、
前記基準位置検出信号と前記ゲート情報とに基づいて、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトするゲート信号を生成し、
前記受光検出信号から、前記レーザ光が前記微粒子上を走査される毎に生成される微粒子パルス信号を前記ゲート信号毎に抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントして前記ゲート信号に対応するカウント値を生成し、
前記ゲート信号に対応する前記試料分析用ディスク上のゲート信号対応領域を前記単位ゲートシフト量毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に分割して複数の分割領域を設定し、
前記測定半径位置情報に基づいて、前記分割領域の位置情報を生成し、かつ、前記ゲート信号に対応するカウント値に基づいて、前記分割領域におけるカウント値を設定する
分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、抗原、抗体等の生体物質を分析するための分析装置及び分析方法に関する。
【背景技術】
【0002】
疾病に関連付けられた特定の抗原または抗体をバイオマーカーとして検出することで、疾病の発見及び治療の効果等を定量的に分析する免疫検定法（immunoassay）が知られている。
【0003】
特許文献１には、試料分析用ディスク上の反応領域に固定された抗体と、試料中の被測定微粒子が有する抗原とを結合させ、抗体を有する標識用微粒子（以下、微粒子という）によって抗原を標識し、光ピックアップから照射されるレーザ光を走査することにより、反応領域に捕捉された微粒子を検出する分析装置が記載されている。特許文献１に記載されている分析装置は、光ディスク装置を検体検出用に利用したものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２０１７−５８２４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
特許文献１に記載されているような従来の分析装置では、試料分析用ディスクを回転させながら光ピックアップを試料分析用ディスクの半径方向にトラック毎に移動させる。分析装置は、試料分析用ディスクの回転方向に対して反応領域を同一の時間幅で分割する複数のゲート信号を生成し、ゲート信号毎に反応領域に捕捉された微粒子を検出する。分析装置は、検出された微粒子をカウントすることにより、反応領域に捕捉されている微粒子の数を間接的に計測し、反応領域における微粒子の分布状態を間接的に検出することができる。
【0006】
従来の分析装置は、試料分析用ディスクの半径方向に対してはトラックピッチと同じ測定分解能を有し、試料分析用ディスクの回転方向に対してはゲート信号のゲート幅に応じて測定分解能が決定される。ゲート信号のゲート幅を狭くすることにより測定分解能を向上させることができる。しかしながら、ゲート幅が狭くなるほど、試料分析用ディスクの回転方向に対して生成されるゲート信号の数が増大するため、回路規模が大きくなってしまう。
【0007】
本発明は、回路規模の増大を抑制し、試料分析用ディスクの回転方向における測定分解能を向上させることができる分析装置及び分析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明は、円板形状の試料分析用ディスクに形成されて微粒子が捕捉されている反応領域に、レーザ光を照射し、反射光を受光して受光検出信号を生成する光ピックアップと、前記試料分析用ディスクに形成されている基準位置識別部を検出して基準位置検出信号を生成する基準位置検出センサとを有し、前記試料分析用ディスクを回転させ、前記光ピックアップを前記試料分析用ディスクの半径方向に移動させ、前記光ピックアップの前記試料分析用ディスクにおける測定半径位置を検出して測定半径位置情報を生成する光ディスクドライブと、前記測定半径位置情報に基づいて、位相差及びゲート幅を含むゲート情報であって、前記位相差は、固定値である基準シフト量と、前記測定半径位置に応じた変動値であり、単位ゲートシフト量の整数倍であるゲートシフト量とを含むゲート情報を生成するゲート情報処理部と、前記基準位置検出信号と前記ゲート情報とに基づいて、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトするゲート信号を生成し、前記受光検出信号から、前記レーザ光が前記微粒子上を走査される毎に生成される微粒子パルス信号を前記ゲート信号毎に抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントして前記ゲート信号に対応するカウント値を生成する検出回路と、前記ゲート信号に対応する前記試料分析用ディスク上のゲート信号対応領域を前記単位ゲートシフト量毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に分割して複数の分割領域を設定し、前記測定半径位置情報に基づいて、前記分割領域の位置情報を生成し、かつ、前記ゲート信号に対応するカウント値に基づいて、前記分割領域におけるカウント値を設定するゲートシフト処理部とを備える分析装置を提供する。
【0009】
本発明は、微粒子が捕捉されている反応領域を有する円板形状の試料分析用ディスクを回転させ、光ピックアップを前記試料分析用ディスクの半径方向に移動させ、前記光ピックアップの前記試料分析用ディスクにおける測定半径位置を検出して測定半径位置情報を生成し、前記試料分析用ディスクに形成されている基準位置識別部を検出して基準位置検出信号を生成し、前記光ピックアップからレーザ光を前記反応領域に照射し、反射光を受光して受光検出信号を生成し、前記測定半径位置情報に基づいて、位相差及びゲート幅を含むゲート情報であって、前記位相差は、固定値である基準シフト量と、前記測定半径位置に応じた変動値であり、単位ゲートシフト量の整数倍であるゲートシフト量とを含むゲート情報を生成し、前記基準位置検出信号と前記ゲート情報とに基づいて、前記測定半径位置毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に前記ゲートシフト量だけシフトするゲート信号を生成し、前記受光検出信号から、前記レーザ光が前記微粒子上を走査される毎に生成される微粒子パルス信号を前記ゲート信号毎に抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントして前記ゲート信号に対応するカウント値を生成し、前記ゲート信号に対応する前記試料分析用ディスク上のゲート信号対応領域を前記単位ゲートシフト量毎に前記試料分析用ディスクの回転方向に分割して複数の分割領域を設定し、前記測定半径位置情報に基づいて、前記分割領域の位置情報を生成し、かつ、前記ゲート信号に対応するカウント値に基づいて、前記分割領域におけるカウント値を設定する分析方法を提供する。
【発明の効果】
【0010】
本発明の分析装置及び分析方法によれば、回路規模の増大を抑制し、試料分析用ディスクの回転方向における測定分解能を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【0011】
【図1】第１実施形態の分析装置を示す構成図である。
【図2】試料分析用ディスクの一部を示す平面図である。
【図3】試料分析用ディスクに形成された反応領域に捕捉されている微粒子を光ピックアップで検出する状態を示す模式的な断面斜視図である。
【図4】基準位置検出信号とゲート信号と受光検出信号との関係を示す図である。
【図5A】基準位置検出信号とゲート信号との関係を示す図である。
【図5B】基準位置検出信号とゲート信号との関係を示す図である。
【図5C】基準位置検出信号とゲート信号との関係を示す図である。
【図6A】ゲート信号が測定半径位置毎に試料分析用ディスクの回転方向にシフトされた状態を示す図である。
【図6B】ゲート信号が測定半径位置毎に試料分析用ディスクの回転方向にシフトされていない状態を示す図である。
【図7A】反応領域がゲートシフト量毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割された分割領域と、ゲート信号に対応する測定ゲート信号対応領域との関係を示す図である。
【図7B】反応領域がゲートシフト量毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割された分割領域と、ゲート信号に対応する測定ゲート信号対応領域との関係を示す図である。
【図7C】反応領域がゲートシフト量毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割された分割領域と、ゲート信号に対応する測定ゲート信号対応領域との関係を示す図である。
【図8】反応領域と分割領域との関係を示す図である。
【図9A】測定領域内における反応領域とフィルタとの関係を示す図である。
【図9B】測定領域内における反応領域とフィルタとの関係を示す図である。
【図10A】第１実施形態の分析装置による反応領域における微粒子の分析方法を示すフローチャートである。
【図10B】第１実施形態の分析装置による反応領域における微粒子の分析方法を示すフローチャートである。
【図10C】第１実施形態の分析装置による反応領域における微粒子の分析方法を示すフローチャートである。
【図11A】ゲート信号が測定半径位置毎に試料分析用ディスクの回転方向にシフトされた場合の反応領域のカウント値分布を示す図である。
【図11B】測定ゲート信号が測定半径位置毎に試料分析用ディスクの回転方向にシフトされない比較例における反応領域のカウント値分布を示す図である。
【図12】第２実施形態の分析装置を示す構成図である。
【図13】基準位置検出信号と分布ゲート信号と測定ゲート信号との関係を示す図である。
【図14】分布ゲート信号と測定ゲート信号との関係を示す図である。
【図15A】第２実施形態の分析装置による反応領域における微粒子の分析方法を示すフローチャートである。
【図15B】第２実施形態の分析装置による反応領域における微粒子の分析方法を示すフローチャートである。
【図15C】第２実施形態の分析装置による反応領域における微粒子の分析方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0012】
［第１実施形態］図１〜図８を用いて、第１実施形態の分析装置を説明する。図１に示すように、分析装置１００は、制御ＧＵＩ（Graphical User Interface）１０１と、制御ＣＰＵ（Central Processing Unit）１２０と、検出回路１０３と、光ディスクドライブ１１０とを備える。制御ＧＵＩ１０１は、ユーザの指示により、起動命令信号ＭＳを制御ＣＰＵ１２０へ出力する。制御ＣＰＵ１２０は、起動命令信号ＭＳが入力されると検出回路１０３、及び、光ディスクドライブ１１０を起動させる。
【0013】
制御ＣＰＵ部１２０は、カウント情報処理部１３０と、ゲート情報処理部１４０と、回路制御部１５０と、ドライブ制御部１６０とを有する。カウント情報処理部１３０は、カウント値生成処理部１３１と、ゲートシフト処理部１３２と、カウント値分布データ処理部１３３と、反応領域特定処理部１３４と、欠陥補正処理部１３５とを有する。カウント情報処理部１３０、ゲート情報処理部１４０、回路制御部１５０、及び、ドライブ制御部１６０は、制御ＣＰＵ部１２０により実行されるソフトウェアによって構成してもよいし、回路等のハードウェアによって構成してもよい。
【0014】
カウント情報処理部１３０は、カウント値生成処理部１３１と、ゲートシフト処理部１３２と、カウント値分布データ処理部１３３と、反応領域特定処理部１３４と、欠陥補正処理部１３５とを有する。カウント値生成処理部１３１、ゲートシフト処理部１３２、カウント値分布データ処理部１３３、反応領域特定処理部１３４、及び、欠陥補正処理部１３５は、制御ＣＰＵ部１２０により実行されるソフトウェアによって構成してもよいし、回路等のハードウェアによって構成してもよい。光ディスクドライブ１１０は、光ピックアップ１１１と、基準位置検出センサ１１２とを有する。
【0015】
図２に示すように、試料分析用ディスク１０は円板形状を有し、外周部には切欠き状の基準位置識別部１１が形成されている。基準位置識別部１１は、試料分析用ディスク１０の回転方向における基準位置を識別するためのものである。試料分析用ディスク１０は、光ディスクドライブ１１０に着脱自在に装着される。
【0016】
図３に示すように、試料分析用ディスク１０の表面には、凹部１２と凸部１３とが半径方向に交互に形成されている。凹部１２及び凸部１３は、試料分析用ディスク１０の内周部から外周部に向かってスパイラル状に形成されている。
【0017】
凹部１２は光ディスクのグルーブに相当する。凸部１３は光ディスクのランドに相当する。光ディスクのトラックピッチに相当する試料分析用ディスク１０のトラックピッチは例えば３２０ｎｍである。図２または図３に示すように、試料分析用ディスク１０に形成された反応領域１４の凹部１２には、検出対象物質と抗原抗体反応により特異的に結合した微粒子１５が捕捉されている。
【0018】
図１に戻って、ドライブ制御部１６０は光ディスクドライブ１１０を制御する。例えば、ドライブ制御部１６０は光ディスクドライブ１１０を起動または停止させる。光ディスクドライブ１１０は、試料分析用ディスク１０の回転または停止等の回転制御を実行する。光ディスクドライブ１１０は、光ピックアップ１１１を試料分析用ディスク１０の半径方向に移動させ、目的の測定半径位置に到達させる。
【0019】
図３に示すように、光ピックアップ１１１は対物レンズ１１３を有する。光ディスクドライブ１１０は、光ピックアップ１１１を試料分析用ディスク１０の測定が開始される測定半径位置へ移動させ、光ピックアップ１１１からレーザ光１１１ａを試料分析用ディスク１０に向けて照射させる。
【0020】
光ディスクドライブ１１０は、レーザ光１１１ａが反応領域１４の凹部１２に集光されるように対物レンズ１１３の上下位置を調整することができる。試料分析用ディスク１０が回転している状態で、光ピックアップ１１１がレーザ光１１１ａを反応領域１４に照射させることにより、レーザ光１１１ａはトラックに相当する凹部１２に沿って走査される。
【0021】
光ピックアップ１１１は、レーザ光１１１ａが試料分析用ディスク１０により反射された反射光を受光して受光検出信号ＪＳを生成し、検出回路１０３へ出力する。光ディスクドライブ１１０は、光ピックアップ１１１の試料分析用ディスク１０における測定半径位置を検出して測定半径位置情報ＨＪを生成し、ドライブ制御部１６０へ出力する。ドライブ制御部１６０は測定半径位置情報ＨＪをゲート情報処理部１４０へ出力する。ゲート情報処理部１４０は測定半径位置情報ＨＪをカウント値生成処理部１３１へ出力する。
【0022】
基準位置検出センサ１１２は、試料分析用ディスク１０の外周部近傍に配置されている。基準位置検出センサ１１２は、例えばフォトディテクタ等の光センサである。基準位置検出センサ１１２は、試料分析用ディスク１０の基準位置識別部１１を検出して基準位置検出信号ＫＳを生成し、検出回路１０３へ出力する。
【0023】
ゲート情報処理部１４０は、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、基準シフト量φａ、位相差φａ＋Δφａ、及び、ゲート幅Ｗを含むゲート情報ＧＪ１を生成し、回路制御部１５０へ出力する。基準シフト量φａ、位相差φａ＋Δφａ、及び、ゲート幅Ｗについては後述する。回路制御部１５０はゲート情報ＧＪ１を検出回路１０３へ出力する。
【0024】
検出回路１０３は、ゲート情報ＧＪ１に基づいてゲート信号ＧＳを生成する。検出回路１０３は、図４に示すように、基準位置検出信号ＫＳに基づいてゲート信号ＧＳと受光検出信号ＪＳとのタイミングを合わせる。ゲート信号ＧＳの生成方法については後述する。
【0025】
検出回路１０３は、受光検出信号ＪＳから微粒子パルス信号ＢＳをゲート信号ＧＳ毎に抽出する。微粒子パルス信号ＢＳは、レーザ光１１１ａが微粒子１５上を走査される毎に生成される。検出回路１０３は、抽出された微粒子パルス信号ＢＳをカウントし、各ゲート信号ＧＳに対応するカウント値ＧＣＶ（第１のカウント値）を生成し、ゲート信号ＧＳ毎に回路制御部１５０へ順次出力する。回路制御部１５０は、各ゲート信号ＧＳに対応するカウント値ＧＣＶを、ゲート信号ＧＳ毎にカウント値生成処理部１３１へ順次出力する。
【0026】
図５Ａ、図５Ｂ、図５Ｃ、図６Ａ、及び、図６Ｂを用いて、ゲート信号ＧＳの生成方法について説明する。ゲート情報処理部１４０は、図２に示す反応領域１４を含む測定領域１６を試料分析用ディスク１０の回転方向にｍ（ｍは２以上の整数）分割するように、ゲート信号ＧＳのゲート幅Ｗを試料分析用ディスク１０の測定半径位置（トラック）毎に設定する。ゲート幅Ｗは、各測定半径位置における試料分析用ディスク１０の回転数に基づいて設定される。試料分析用ディスク１０を一定の線速度で回転させる場合には、各測定半径位置におけるゲート幅Ｗは同一となる。
【0027】
図５Ａ〜図５Ｃを用いて、測定領域１６を３分割（ｍ＝３）するようにゲート信号ＧＳのゲート幅Ｗを設定する場合について説明する。ゲート情報処理部１４０は、測定領域１６を試料分析用ディスク１０の回転方向に３分割するように、ゲート信号ＧＳのゲート幅Ｗを設定する。
【0028】
ゲート情報処理部１４０は、基準シフト量φａを測定半径位置毎に設定する。ゲート情報処理部１４０は、基準位置検出信号ＫＳに基づいて、トラックＴＲｎ（ｎはトラック番号）に対応する測定半径位置ｒｎにおいて、図５Ａに示すように、基準位置識別部１１が検出されてから測定領域１６が測定半径位置ｒｎに到達するまでの時間を基準シフト量φａとして設定する。ゲート情報処理部１４０は、例えば基準位置検出信号ＫＳの立ち下りから最初のゲート信号ＧＳｎの立ち上がりまでの時間を基準シフト量φａとして設定する。
【0029】
ゲート情報処理部１４０は、ゲート幅Ｗを３分割（ｍ＝３）するようにゲートシフト量Δφａを設定する。例えば、ゲート情報処理部１４０は、測定半径位置ｒｎにおけるゲートシフト量Δφａを０×Ｗ／３（ｍ＝３）と設定する。即ち、ゲート情報処理部１４０は、測定半径位置ｒｎにおいて、Δφａ＝０と設定し、位相差をφａと設定する。
【0030】
ゲート情報処理部１４０は、図５Ｂに示すように、トラックＴＲｎと隣り合うトラックＴＲｎ＋１に対応する測定半径位置ｒｎ＋１におけるゲートシフト量Δφａを１×Ｗ／３と設定する。即ち、ゲート情報処理部１４０は、測定半径位置ｒｎ＋１において、Δφａ＝Ｗ／３と設定し、位相差をφａ＋Ｗ／３と設定する。
【0031】
ゲート情報処理部１４０は、図５Ｃに示すように、トラックＴＲｎ＋１と隣り合うトラックＴＲｎ＋２に対応する測定半径位置ｒｎ＋２におけるゲートシフト量Δφａを２×Ｗ／３と設定する。即ち、ゲート情報処理部１４０は、測定半径位置ｒｎ＋２において、Δφａ＝２×Ｗ／３と設定し、位相差をφａ＋２×Ｗ／３と設定する。
【0032】
検出回路１０３は、基準位置検出信号ＫＳ、及び、ゲート情報ＧＪ１に基づいて、ゲート信号ＧＳを生成する。検出回路１０３は、測定半径位置ｒｎでは、例えば基準位置検出信号ＫＳの立ち下りから位相差φａを有して立ち上がるゲート信号ＧＳｎａを生成し、さらにゲート信号ＧＳｎｂとゲート信号ＧＳｎｃとを連続して生成する。
【0033】
検出回路１０３は、測定半径位置ｒｎ＋１では、例えば基準位置検出信号ＫＳの立ち下りから位相差φａ＋Ｗ／３を有して立ち上がるゲート信号ＧＳｎ＋１ａを生成し、さらにゲート信号ＧＳｎ＋１ｂとゲート信号ＧＳｎ＋１ｃとを連続して生成する。検出回路１０３は、測定半径位置ｒｎ＋２では、例えば基準位置検出信号ＫＳの立ち下りから位相差φａ＋２×Ｗ／３を有して立ち上がるゲート信号ＧＳｎ＋２ａを生成し、さらにゲート信号ＧＳｎ＋２ｂとゲート信号ＧＳｎ＋２ｃとを連続して生成する。
【0034】
即ち、ゲート信号ＧＳｎ＋１ａは、ゲート信号ＧＳｎａに対してゲートシフト量Δφａ＝Ｗ／３だけ遅れて生成される。ゲート信号ＧＳｎ＋２ａは、ゲート信号ＧＳｎａに対してゲートシフト量Δφａ＝２×Ｗ／３だけ遅れて生成される。同様に、ゲート信号ＧＳｎ＋１ｂ及びＧＳｎ＋２ｂは、ゲート信号ＧＳｎｂに対してゲートシフト量Δφａ＝Ｗ／３及びΔφａ＝２×Ｗ／３だけ遅れて生成される。ゲート信号ＧＳｎ＋１ｃ及びＧＳｎ＋２ｃは、ゲート信号ＧＳｎｃに対してゲートシフト量Δφａ＝Ｗ／３及びΔφａ＝２×Ｗ／３だけ遅れて生成される。
【0035】
検出回路１０３は、試料分析用ディスク１０の半径方向の各トラックＴＲに対応する測定半径位置に対して、測定半径位置ｒｎ、ｒｎ＋１、及び、ｒｎ＋２と同様の処理を繰り返し実行する。これにより、図６Ａに示すように、測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にシフトされたゲート信号ＧＳが生成される。図６Ｂは、比較例として、測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にシフトされない場合のゲート信号ＧＳを示している。
【0036】
検出回路１０３は、図６Ａに示す各ゲート信号ＧＳに対応するカウント値ＧＣＶを、ゲート信号ＧＳ毎に回路制御部１５０を介してカウント値生成処理部１３１へ順次出力する。カウント値生成処理部１３１は、測定半径位置情報ＨＪをゲートシフト処理部１３２へ出力し、各ゲート信号ＧＳに対応するカウント値ＧＣＶを、ゲート信号ＧＳ毎にゲートシフト処理部１３２へ順次出力する。
【0037】
図７Ａ、図７Ｂ、図７Ｃ、及び、図８を用いて、試料分析用ディスクの回転方向における測定分解能を向上させる方法を説明する。図７Ａ〜図７Ｃは、反応領域１４がゲートシフト量Δφａ（Δφａ＝Ｗ／３）毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割された分割領域と、ゲート信号ＧＳに対応するゲート信号対応領域との関係を示している。図７Ａ〜図７Ｃ、及び、図８に示すＧＲはゲート信号ＧＳに対応するゲート信号対応領域を示している。ゲート信号対応領域ＧＲとは、ゲート信号ＧＳにより測定される試料分析用ディスクの領域である。
【0038】
ゲートシフト処理部１３２は、各測定半径位置に対して、ゲート信号対応領域ＧＲをゲートシフト量Δφａ（Δφａ＝Ｗ／３）毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割し、複数の分割領域ＤＲを設定する。図７Ａ〜図７Ｃ、及び、図８に示す分割領域ＤＲａは図６Ａに示す分割領域ＤＲａに対応する。分割領域ＤＲａは、ゲート信号ＧＳｎａに対応するゲート信号対応領域ＧＲａに含まれ、試料分析用ディスク１０の回転方向における分割領域ＤＲａの幅は、ゲート信号対応領域ＧＲａの幅の１／３である。ゲートシフト処理部１３２は、測定半径位置情報ＨＪと各ゲート信号ＧＳに対応するカウント値ＧＣＶとに基づいて、分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶ（第２のカウント値）を設定する。
【0039】
図７Ａを用いて、分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶを設定するための第１の設定方法を説明する。ゲートシフト処理部１３２は、分割領域ＤＲａに対して、ゲート信号対応領域ＧＲａに対応するゲート信号ＧＳｎａにおけるカウント値ＧＣＶｎａと、分割領域ＤＲａに対して試料分析用ディスク１０の半径方向に隣接する一方のゲート信号対応領域ＧＲｂに対応するゲート信号ＧＳｎ＋１ａにおけるカウント値ＧＣＶｎ＋１ａと、他方のゲート信号対応領域ＧＲｃに対応するゲート信号ＧＳｎ−１ｂにおけるカウント値ＧＣＶｎ−１ｂとの平均値、または、平均値に１／３を乗算した値を算出し、分割領域ＤＲａにおけるカウント値ＤＣＶａとして設定する。ゲートシフト処理部１３２は、分割領域ＤＲａと同様に、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶを設定する。
【0040】
図７Ｂを用いて、分割領域ＤＲにおけるカウント値を設定するための第２の設定方法を説明する。ゲートシフト処理部１３２は、分割領域ＤＲａに対して、分割領域ＤＲａの中心点ＣＤａと、分割領域ＤＲａの周辺のゲート信号対応領域ＧＲの中心点ＣＧとの距離を比較する。ゲートシフト処理部１３２は、比較結果に基づいて、分割領域ＤＲａの中心点ＣＤａとの距離が最も短い中心点ＣＧｂを有するゲート信号対応領域ＧＲｂを特定する。
【0041】
ゲートシフト処理部１３２は、ゲート信号対応領域ＧＲｂに対応するゲート信号ＧＳｎ＋１ａにおけるカウント値、または、カウント値に１／３を乗算した値を、分割領域ＤＲａにおけるカウント値ＤＣＶａとして設定する。ゲートシフト処理部１３２は、分割領域ＤＲａと同様に、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶを設定する。
【0042】
図７Ｃを用いて、分割領域ＤＲにおけるカウント値を設定するための第３の設定方法を説明する。分割領域ＤＲａの中心点ＣＤａとゲート信号対応領域ＧＲａの中心点ＣＧａとの距離を第１の距離ＬＧａとする。分割領域ＤＲａの中心点ＣＤａとゲート信号対応領域ＧＲｂの中心点ＣＧｂとの距離を第２の距離ＬＧｂとする。分割領域ＤＲａの中心点ＣＤａとゲート信号対応領域ＧＲｃの中心点ＣＧｃとの距離を第３の距離ＬＧｃとする。ゲートシフト処理部１３２は、第１の距離ＬＧａと第２の距離ＬＧｂと第３の距離ＬＧｃとを比較する。
【0043】
第１の距離ＬＧａはＷ／３である。試料分析用ディスク１０の半径方向における分割領域ＤＲ間の距離をＬＰとすると、第２の距離ＬＧｂはＬＰである。第３の距離ＬＧｃは｛ＬＰ２＋（Ｗ／３）２｝１／２である。第１〜第３の距離ＬＧａ、ＬＧｂ、及び、ＬＧｃは、ＬＧｂ＜ＬＧａ＜ＬＧｃの関係を有する。ゲートシフト処理部１３２は、第１〜第３の距離ＬＧａ、ＬＧｂ、及び、ＬＧｃに応じて、ゲート信号対応領域ＧＲａ、ＧＲｂ、及び、ＧＲｃに対応するゲート信号ＧＳｎａ、ＧＳｎ＋１ａ、及び、ＧＳｎ−１ｂにおけるカウント値の重み付け処理を実行し、分割領域ＤＲａにおけるカウント値ＤＣＶａを設定する。
【0044】
例えば、ゲートシフト処理部１３２は、第２の距離ＬＧｂを有するゲート信号対応領域ＧＲｂに対応するゲート信号ＧＳｎ＋１ａにおけるカウント値には第２の重み付け係数αｂを乗算する。ゲートシフト処理部１３２は、第３の距離ＬＧｃを有するゲート信号対応領域ＧＲｃに対応するゲート信号ＧＳｎ−１ｂにおけるカウント値には第３の重み付け係数αｃ（αｂ＞αｃ）を乗算する。ゲートシフト処理部１３２は、第１の距離ＬＧａを有するゲート信号対応領域ＧＲａに対応するゲート信号ＧＳｎａにおけるカウント値には第１の重み付け係数αａ（αｂ＞αａ＞αｃ）を乗算する。
【0045】
ゲートシフト処理部１３２は、重み付け係数αａ、αｂ、及び、αｃがそれぞれ乗算されたカウント値を加算し、分割領域ＤＲａにおけるカウント値ＤＣＶａとして設定する。ゲートシフト処理部１３２は、分割領域ＤＲａと同様に、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶを設定する。
【0046】
ゲートシフト処理部１３２は、各分割領域ＤＲの位置情報（例えば中心位置座標情報）ＤＲＪを生成し、各分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪ、及び、各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶをカウント値生成処理部１３１へ出力する。カウント値生成処理部１３１は、各分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪ、及び、各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶをカウント値分布データ処理部１３３へ出力する。カウント値分布データ処理部１３３は、図８に示すように、各分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪに基づいて、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データテーブルＣＴに保存する。
【0047】
カウント値生成処理部１３１は、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、反応領域１４に対する測定が終了したか否かを判定する。測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部１３１は反応領域特定信号ＲＳを生成し、反応領域特定処理部１３４へ出力する。
【0048】
反応領域特定処理部１３４は、反応領域特定信号ＲＳに基づいて分布データ取得信号ＤＳを生成し、カウント値分布データ処理部１３３へ出力する。カウント値分布データ処理部１３３は、分布データ取得信号ＤＳに基づいて、カウント値分布データテーブルＣＴに保存されている各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データＤＤとして、反応領域特定処理部１３４へ出力する。
【0049】
反応領域特定処理部１３４は、カウント値分布データＤＤ（各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶ）に基づいて、反応領域１４の位置を特定し、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを決定する。例えば、反応領域特定処理部１３４は、図９Ａ及び図９Ｂに示すように、反応領域１４の設計形状と同様の形状を有するフィルタＣＦを測定領域１６の全域内で走査し、フィルタＣＦ内のカウント値が最大となる位置を検出する。
【0050】
反応領域特定処理部１３４は、検出結果に基づいて反応領域１４の位置（例えば中心位置座標）を特定して反応領域１４の位置情報ＲＲＪを生成し、カウント値分布データＤＤに基づいて反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを決定する。反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶは、反応領域１４に捕捉されている微粒子１５の数、及び、微粒子１５と特異的に結合している検出対象物質の数に対応する。
【0051】
反応領域１４が円形状を有する場合、フィルタＣＦは反応領域１４の設計形状と同様の円形状を有する。なお、反応領域１４の位置が特定できる方法であれば、上記の方法以外の方法も適用可能である。反応領域特定処理部１３４は、反応領域１４の位置情報ＲＲＪ、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶをカウント値生成処理部１３１へ出力する。
【0052】
測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部１３１は分布データテーブル取得信号ＴＳ１を生成し、カウント値分布データ処理部１３３へ出力する。カウント値分布データ処理部１３３は、分布データテーブル取得信号ＴＳ１が入力されると、カウント値分布データテーブルＣＴをカウント値生成処理部１３１へ出力する。
【0053】
制御ＧＵＩ１０１から測定結果の取得要求ＡＲがあった場合、カウント値生成処理部１３１は、反応領域１４の位置情報ＲＲＪ、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶ、及び、カウント値分布データテーブルＣＴを制御ＧＵＩ１０１へ出力する。制御ＧＵＩ１０１は、反応領域１４とカウント値分布データテーブルＣＴとを関連付けて反応領域１４におけるカウント値分布を表示したり、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを表示したりする。
【0054】
ユーザは反応領域１４におけるカウント値分布を観察し、反応領域１４に欠陥領域があるか否かを判定する。欠陥領域は、反応領域１４を形成する過程で溶液中の気泡等が反応領域に付着することにより微粒子１５が捕捉されなかった領域である。欠陥領域があると判定された場合、ユーザは欠陥領域の範囲を指定する。制御ＧＵＩ１０１は、指定された欠陥領域の範囲を含む欠陥領域情報ＤＪを欠陥補正処理部１３５へ出力する。
【0055】
欠陥補正処理部１３５は、欠陥領域情報ＤＪが入力されると、分布データテーブル取得信号ＴＳ２を生成し、カウント値分布データ処理部１３３へ出力する。カウント値分布データ処理部１３３は、分布データテーブル取得信号ＴＳ２が入力されると、カウント値分布データテーブルＣＴを欠陥補正処理部１３５へ出力する。
【0056】
欠陥補正処理部１３５は、欠陥領域情報ＤＪに基づいてカウント値分布データテーブルＣＴにおける欠陥領域を特定し、欠陥領域と特定されていない領域を正常測定領域と判定する。欠陥補正処理部１３５は、カウント値分布データテーブルＣＴにおける欠陥領域のカウント値を正常測定領域におけるカウント値に基づいて補正し、補正カウント値分布データテーブルＣＣＴを生成する。
【0057】
欠陥補正処理部１３５は補正カウント値分布データテーブルＣＣＴを制御ＧＵＩ１０１へ出力する。制御ＧＵＩ１０１は補正カウント値分布データテーブルＣＣＴを表示する。なお、欠陥補正処理部１３５は補正カウント値分布データテーブルＣＣＴをカウント値生成処理部１３１へ出力し、カウント値生成処理部１３１が補正カウント値分布データテーブルＣＣＴを制御ＧＵＩ１０１へ出力するようにしてもよい。
【0058】
図１０Ａ、図１０Ｂ、及び図１０Ｃに示すフローチャートを用いて、第１実施形態の分析装置１００における分析方法を説明する。ユーザの指示により、制御ＧＵＩ１０１は、図１０Ａに示すステップＳ１０１にて、起動命令信号ＭＳを制御ＣＰＵ１２０へ出力する。制御ＣＰＵ１２０は、起動命令信号ＭＳが入力されると、ステップＳ１０２にて、検出回路１０３、及び、光ディスクドライブ１１０を起動させる。
【0059】
制御ＣＰＵ１２０のドライブ制御部１６０は、ステップＳ１０３にて、光ディスクドライブ１１０を制御して、試料分析用ディスク１０の回転を制御する。さらに、制御ＣＰＵ１２０のドライブ制御部１６０は、光ディスクドライブ１１０を制御して、光ピックアップ１１１を試料分析用ディスク１０の目的の測定半径位置へ移動させ、光ピックアップ１１１からレーザ光１１１ａを試料分析用ディスク１０に向けて照射させる。
【0060】
光ディスクドライブ１１０は、ステップＳ１０４にて、光ピックアップ１１１の試料分析用ディスク１０における測定半径位置を検出して測定半径位置情報ＨＪを生成し、ドライブ制御部１６０、及び、ゲート情報処理部１４０を介してカウント値生成処理部１３１へ出力する。基準位置検出センサ１１２は、ステップＳ１０５にて、試料分析用ディスク１０の基準位置識別部１１を検出して基準位置検出信号ＫＳを生成する。光ピックアップ１１１は、ステップＳ１０６にて、試料分析用ディスク１０からの反射光を受光し、受光検出信号ＪＳを生成する。
【0061】
ゲート情報処理部１４０は、ステップＳ１０７にて、測定領域１６を試料分析用ディスク１０の回転方向にｍ分割するように、ゲート信号ＧＳのゲート幅Ｗを測定半径位置毎に設定する。光ディスクドライブ１１０、及び、ゲート情報処理部１４０は、ステップＳ１０４〜Ｓ１０６、及び、ステップＳ１０７を並行して実行することができる。
【0062】
ゲート情報処理部１４０は、ステップＳ１０８にて、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、基準位置識別部１１が検出されてから測定領域１６が測定半径位置に到達するまでの時間を基準シフト量φａとして設定する。さらに、ゲート情報処理部１４０は、測定半径位置（トラック）毎に、ゲートシフト量Δφａ、及び、位相差φａ＋Δφａを設定する。
【0063】
ゲート情報処理部１４０は、ステップＳ１０９にて、測定半径位置情報ＨＪに基づいてゲート情報ＧＪ１を生成し、回路制御部１５０を介して検出回路１０３へ出力する。検出回路１０３は、ステップＳ１１０にて、基準位置検出信号ＫＳ、及び、ゲート情報ＧＪ１に基づいて、測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にシフトされるゲート信号ＧＳを生成する。
【0064】
検出回路１０３は、ステップＳ１１１にて、受光検出信号ＪＳからゲート信号ＧＳ毎に微粒子パルス信号ＢＳを抽出する。検出回路１０３は、ステップＳ１１２にて、抽出された微粒子パルス信号ＢＳをカウントし、各ゲート信号ＧＳに対応するカウント値ＧＣＶを生成する。さらに、検出回路１０３は、カウント値ＧＣＶを、回路制御部１５０を介してカウント値生成処理部１３１へゲート信号ＧＳ毎に順次出力する。
【0065】
ゲートシフト処理部１３２は、ステップＳ１１３にて、各測定半径位置に対して、反応領域１４をゲートシフト量Δφａ毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割し、複数の分割領域ＤＲを設定する。ゲートシフト処理部１３２は、ステップＳ１１４にて、分割領域ＤＲが含まれるゲート信号対応領域ＧＲ、及び、分割領域ＤＲの周辺のゲート信号対応領域ＧＲに対応するゲート信号ＧＳにおけるカウント値に基づいて、分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶを設定する。さらに、ゲートシフト処理部１３２は、各分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪ、及び、各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶを、カウント値生成処理部１３１を介してカウント値分布データ処理部１３３へ出力する。
【0066】
カウント値分布データ処理部１３３は、図１０Ｂに示すステップＳ１１５にて、各分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪ、及び、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶに基づいて、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データテーブルＣＴに保存する。
【0067】
カウント値生成処理部１３１は、ステップＳ１１６にて、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、反応領域１４に対する測定が終了したか否かを判定する。測定が終了していない（ＮＯ）と判定された場合、制御ＣＰＵ１２０は、処理をステップＳ１０４へ戻す。測定が終了した（ＹＥＳ）と判定された場合、制御ＣＰＵ１２０は、ステップＳ１１７にて、検出回路１０３、及び、光ディスクドライブ１１０を停止させる。
【0068】
ステップＳ１１６にて測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部１３１は、ステップＳ１１８にて、反応領域特定信号ＲＳを生成し、反応領域特定処理部１３４へ出力する。反応領域特定処理部１３４は、反応領域特定信号ＲＳが入力されると、ステップＳ１１９にて、分布データ取得信号ＤＳを生成し、カウント値分布データ処理部１３３へ出力する。カウント値分布データ処理部１３３は、分布データ取得信号ＤＳが入力されると、ステップＳ１２０にて、カウント値分布データテーブルＣＴに保存されている各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データＤＤとして、反応領域特定処理部１３４へ出力する。
【0069】
反応領域特定処理部１３４は、ステップＳ１２１にて、反応領域１４の設計形状と同様の形状を有するフィルタＣＦを測定領域１６の全域内で走査し、フィルタＣＦ内のカウント値が最大となる位置を検出する。反応領域特定処理部１３４は、検出結果に基づいて反応領域１４の位置（例えば中心位置座標）を特定して反応領域１４の位置情報ＲＲＪを生成し、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを決定する。反応領域特定処理部１３４は、反応領域１４の位置情報ＲＲＪ、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶをカウント値生成処理部１３１へ出力する。
【0070】
ステップＳ１１６にて測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部１３１は、ステップＳ１２２にて、分布データテーブル取得信号ＴＳ１を生成し、カウント値分布データ処理部１３３へ出力する。カウント値分布データ処理部１３３は、分布データテーブル取得信号ＴＳ１が入力されると、ステップＳ１２３にて、カウント値分布データテーブルＣＴをカウント値生成処理部１３１へ出力する。
【0071】
制御ＧＵＩ１０１から測定結果の取得要求ＡＲがあった場合、カウント値生成処理部１３１は、ステップＳ１２４にて、反応領域１４の位置情報ＲＲＪ、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶ、及び、カウント値分布データテーブルＣＴを制御ＧＵＩ１０１へ出力する。制御ＧＵＩ１０１は、ステップＳ１２５にて、反応領域１４とカウント値分布データテーブルＣＴとを関連付けて反応領域１４におけるカウント値分布を表示したり、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを表示したりする。
【0072】
ユーザが欠陥領域の範囲を指定した場合、制御ＧＵＩ１０１は、図１０Ｃに示すステップＳ１２６にて、指定された欠陥領域の範囲を含む欠陥領域情報ＤＪを欠陥補正処理部１３５へ出力する。欠陥補正処理部１３５は、欠陥領域情報ＤＪが入力されると、ステップＳ１２７にて、分布データテーブル取得信号ＴＳ２を生成し、カウント値分布データ処理部１３３へ出力する。カウント値分布データ処理部１３３は、分布データテーブル取得信号ＴＳ２が入力されると、ステップＳ１２８にて、カウント値分布データテーブルＣＴを欠陥補正処理部１３５へ出力する。
【0073】
欠陥補正処理部１３５は、ステップＳ１２９にて、欠陥領域情報ＤＪに基づいてカウント値分布データテーブルＣＴにおける欠陥領域を特定する。さらに、欠陥補正処理部１３５は、カウント値分布データテーブルＣＴにおける欠陥領域のカウント値を正常測定領域におけるカウント値に基づいて補正し、補正カウント値分布データテーブルＣＣＴを生成する。さらに、欠陥補正処理部１３５は補正カウント値分布データテーブルＣＣＴを制御ＧＵＩ１０１へ出力する。制御ＧＵＩ１０１は、ステップＳ１３０にて、補正カウント値分布データテーブルＣＣＴを表示する。
【0074】
第１実施形態の分析装置１００及び分析方法では、測定半径位置（トラック）毎にゲートシフト量Δφａを設定し、ゲート信号ＧＳを測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にゲートシフト量Δφａだけシフトさせる。第１実施形態の分析装置１００及び分析方法では、反応領域１４をゲートシフト量Δφａ毎に試料分析用ディスク１０の回転方向に分割して複数の分割領域ＤＲを設定する。
【0075】
図１１Ａは、図６Ａに示すようにゲート信号ＧＳが測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にシフトされた場合の反応領域１４のカウント値分布の一部を示している。図１１Ｂは比較例であり、図６Ｂに示すようにゲート信号ＧＳが測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にシフトされない場合の反応領域１４のカウント値分布の一部を示している。
【0076】
第１実施形態の分析装置１００及び分析方法によれば、ゲート信号ＧＳにおけるカウント値に基づいて分割領域ＤＲのカウント値を設定する。これにより、回路規模の増大を抑制し、図１１Ａに示すように、試料分析用ディスクの回転方向における測定分解能を向上させることができる。
【0077】
［第２実施形態］図１２〜図１４を用いて、第２実施形態の分析装置を説明する。説明をわかりやすくするために、第１実施形態の分析装置１００と同じ構成部には同じ符号を付す。図１２に示すように、分析装置２００は、制御ＧＵＩ１０１と、制御ＣＰＵ２２０と、検出回路１０３と、光ディスクドライブ１１０とを備える。制御ＧＵＩ１０１は、ユーザの指示により、起動命令信号ＭＳを制御ＣＰＵ２２０へ出力する。制御ＣＰＵ２２０は、起動命令信号ＭＳが入力されると検出回路１０３、及び、光ディスクドライブ１１０を起動させる。
【0078】
制御ＣＰＵ部２２０は、カウント情報処理部２３０と、ゲート情報処理部２４０と、回路制御部２５０と、ドライブ制御部２６０とを有する。カウント情報処理部２３０、ゲート情報処理部２４０と、回路制御部２５０、及び、ドライブ制御部２６０は、制御ＣＰＵ部２２０により実行されるソフトウェアによって構成してもよいし、回路等のハードウェアによって構成してもよい。
【0079】
カウント情報処理部２３０は、カウント値生成処理部２３１と、ゲートシフト処理部２３２と、カウント値分布データ処理部２３３と、反応領域特定処理部２３４と、欠陥補正処理部２３５とを有する。カウント値生成処理部２３１、ゲートシフト処理部２３２、カウント値分布データ処理部２３３、反応領域特定処理部２３４、及び、欠陥補正処理部２３５は、制御ＣＰＵ部２２０により実行されるソフトウェアによって構成してもよいし、回路等のハードウェアによって構成してもよい。ドライブ制御部２６０はドライブ制御部１６０と同様の制御を実行する。
【0080】
光ディスクドライブ１１０は、光ピックアップ１１１の試料分析用ディスク１０における測定半径位置を検出して測定半径位置情報ＨＪを生成し、ドライブ制御部２６０、及び、ゲート情報処理部２４０を介してカウント値生成処理部２３１へ出力する。
【0081】
ゲート情報処理部２４０は、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、基準シフト量φｂ、分布ゲートシフト量Δφｂ、シフト調整量Δφｃ、及び、位相差φｂ＋Δφｂと、２種類のゲート幅Ｗ、具体的には分布ゲート幅ＤＷ、及び、測定ゲート幅ＭＷとを含むゲート情報ＧＪ２を生成し、回路制御部１５０へ出力する。基準シフト量φｂ、分布ゲートシフト量Δφｂ、シフト調整量Δφｃ、位相差φｂ＋Δφｂ、分布ゲート幅ＤＷ、及び、測定ゲート幅ＭＷについては後述する。回路制御部１５０はゲート情報ＧＪ２を検出回路１０３へ出力する。
【0082】
検出回路１０３は、ゲート情報ＧＪ２に基づいて、２種類のゲート信号ＧＳを、分布ゲート信号ＤＧＳ、及び、測定ゲート信号ＭＧＳとして生成する。検出回路１０３は、基準位置検出センサ１１２から出力された基準位置検出信号ＫＳに基づいて、分布ゲート信号ＤＧＳ、及び、測定ゲート信号ＭＧＳと受光検出信号ＪＳとのタイミングを合わせる。分布ゲート信号ＤＧＳ、及び、測定ゲート信号ＭＧＳの生成方法については後述する。
【0083】
検出回路１０３は、受光検出信号ＪＳから、分布ゲート信号ＤＧＳ及び測定ゲート信号ＭＧＳ毎に微粒子パルス信号ＢＳを抽出する。検出回路１０３は、抽出された微粒子パルス信号ＢＳをカウントし、分布ゲート信号ＤＧＳに対応するカウント値ＤＧＣＶ、及び、測定ゲート信号ＭＧＳ２に対応するカウント値ＭＧＣＶを、分布ゲート信号ＤＧＳ及び測定ゲート信号ＭＧＳ毎に回路制御部２５０へ順次出力する。回路制御部１５０は、カウント値ＤＧＣＶ及びＭＧＣＶを、分布ゲート信号ＤＧＳ及び測定ゲート信号ＭＧＳ毎にカウント値生成処理部２３１へ順次出力する。
【0084】
図１３、及び、図１４を用いて、分布ゲート信号ＤＧＳ、及び、測定ゲート信号ＭＧＳの生成方法について説明する。ゲート情報処理部２４０は、分布ゲート信号ＤＧＳの分布ゲート幅ＤＷを試料分析用ディスク１０の測定半径位置（トラック）毎に設定する。分布ゲート幅ＤＷは、各測定半径位置における試料分析用ディスク１０の回転数に基づいて設定される。試料分析用ディスク１０を一定の線速度で回転させる場合には、各測定半径位置における分布ゲート幅ＤＷは同一となる。
【0085】
ゲート情報処理部２４０は、基準位置検出信号ＫＳに基づいて、トラックＴＲｎ（ｎはトラック番号）に対応する測定半径位置ｒｎにおいて、基準位置識別部１１が検出されてから最初の分布ゲート信号ＤＧＳｎが立ち上がるまでの時間を基準シフト量φｂとして設定する。ゲート情報処理部２４０は、図１３に示すように、例えば基準位置検出信号ＫＳの立ち下りから最初の分布ゲート信号ＤＧＳｎａの立ち上がりまでの時間を基準シフト量φｂとして設定する。
【0086】
ゲート情報処理部２４０は、測定半径位置（トラック）毎に、分布ゲートシフト量Δφｂ、及び、位相差φｂ＋Δφｂを設定する。ゲート情報処理部２４０は、分布ゲート信号ＤＧＳが測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にＤＷ／４（ｍ＝４）だけシフトするように、各測定半径位置における分布ゲートシフト量Δφｂ、及び、位相差φｂ＋Δφｂを設定する。分布ゲートシフト量Δφｂは、ゲートシフト量Δφａと同様の設定方法により設定される。即ち、ゲート情報処理部２４０は、分布ゲート幅ＤＷを４分割（ｍ＝４）するように分布ゲートシフト量Δφｂを設定する。
【0087】
検出回路１０３は、基準位置検出信号ＫＳ、及び、ゲート情報ＧＪ２に基づいて、分布ゲート信号ＤＧＳを生成する。検出回路１０３は、測定半径位置ｒｎでは、例えば基準位置検出信号ＫＳの立ち下りから基準シフト量φｂを有して立ち上がる分布ゲート信号ＤＧＳｎａを生成し、さらに分布ゲート信号ＤＧＳｎｂ、ＤＧＳｎｃ、及び、ＤＧＳｎｄを連続して生成する。さらに、検出回路１０３は、測定半径位置ｒｎでは、例えば基準位置検出信号ＫＳの立ち下りから基準シフト量φｂ＋シフト調整量Δφｃを有して立ち上がる分布ゲート信号ＤＧＳｎｅを生成し、さらに分布ゲート信号ＤＧＳｎｆ、ＤＧＳｎｇ、及び、ＤＧＳｎｈを連続して生成する。
【0088】
分布ゲート信号ＤＧＳは、反応領域１４の位置を特定する信号である。基準シフト量φｂ、及び、シフト調整量Δφｃは、反応領域１４の設計位置に対して、分布ゲート信号ＤＧＳが反応領域１４の外周部に対応するように、測定半径位置毎に設定される。図１４に示すように、分布ゲート信号ＤＧＳｎａ〜ＤＧＳｎｄは測定半径位置ｒｎにおける反応領域１４の一方の外周部（図１４では左側の外周部）に対応するように設定される。分布ゲート信号ＤＧＳｎｅ〜ＤＧＳｎｈは測定半径位置ｒｎにおける反応領域１４の他方の外周部（図１４では右側の外周部）に対応するように設定される。分布ゲート信号ＤＧＳは、反応領域１４の位置を特定するためのゲート信号である。
【0089】
検出回路１０３は、測定半径位置毎に、試料分析用ディスク１０の回転方向に分布ゲートシフト量Δφｂだけシフトする分布ゲート信号ＤＧＳを生成する。分布ゲート信号ＤＧＳはゲート信号ＧＳと同様の生成方法により生成される。
【0090】
検出回路１０３は、各分布ゲート信号ＤＧＳに対応するカウント値ＤＧＣＶを、分布ゲート信号ＤＧＳ毎に回路制御部２５０を介してカウント値生成処理部２３１へ順次出力する。検出回路１０３は、各測定ゲート信号ＭＧＳに対応するカウント値ＭＧＣＶを、測定ゲート信号ＭＧＳ毎に回路制御部２５０を介してカウント値生成処理部２３１へ順次出力する。カウント値生成処理部２３１は、測定半径位置情報ＨＪをゲートシフト処理部２３２へ出力し、カウント値ＤＧＣＶを、分布ゲート信号ＤＧＳ毎にゲートシフト処理部２３２へ順次出力する。カウント値生成処理部２３１は、測定半径位置毎にカウント値ＭＧＣＶを保存する。
【0091】
ゲートシフト処理部２３２は、各測定半径位置に対して、分布ゲート信号ＤＧＳに対応するゲート信号対応領域ＧＲを分布ゲートシフト量Δφｂ（Δφｂ＝ＤＷ／４）毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割し、複数の分割領域ＤＲを設定する。ゲートシフト処理部２３２は、各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶを設定する。分割領域ＤＲ、及び、カウント値ＤＣＶは、第１実施形態の分割領域ＤＲ、及び、カウント値ＤＣＶと同様の設定方法により設定される。
【0092】
ゲートシフト処理部２３２は、各分割領域ＤＲの位置情報（例えば中心位置座標情報）ＤＲＪ、及び、各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶをカウント値生成処理部２３１へ出力する。カウント値生成処理部２３１は、各分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪ、及び、各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＣＶをカウント値分布データ処理部２３３へ出力する。カウント値分布データ処理部２３３は、各分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪ、及び、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶに基づいて、各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データテーブルＣＴに保存する。
【0093】
カウント値生成処理部２３１は、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、測定半径位置毎に測定が終了したか否かを判定する。測定半径位置における測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部２３１は、測定半径位置毎に反応領域特定信号ＲＳを生成し、反応領域特定処理部２３４へ順次出力する。
【0094】
反応領域特定処理部１３４は、反応領域特定信号ＲＳに基づいて分布データ取得信号ＤＳを生成し、カウント値分布データ処理部２３３へ出力する。カウント値分布データ処理部２３３は、分布データ取得信号ＤＳに基づいて、カウント値分布データテーブルＣＴに保存されている、測定半径位置に対応する各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データＤＤとして、反応領域特定処理部２３４へ出力する。
【0095】
反応領域特定処理部２３４は、カウント値分布データＤＤが入力されると、反応領域１４の設計上の直径よりも長く、試料分析用ディスク１０の半径方向における分割領域ＤＲの幅よりも広い形状を有するフィルタを測定領域１６の全域内で走査し、フィルタ内のカウント値が最大となる位置を検出する。反応領域特定処理部２３４は、検出結果に基づいて測定半径位置における反応領域１４の位置（例えば中心位置座標）を特定し、反応領域１４の位置情報ＲＲＪを測定半径位置毎に生成する。なお、反応領域１４の位置が特定できる方法であれば、上記の方法以外の方法も適用可能である。
【0096】
反応領域特定処理部２３４は、反応領域１４の位置情報ＲＲＪを、カウント値生成処理部２３１、及び、回路制御部２５０を介して、測定半径位置毎に検出回路１０３へ出力する。検出回路１０３は、基準位置検出信号ＫＳ、ゲート情報ＧＪ１、及び、位置情報ＲＲＪに基づいて、測定ゲート信号ＭＧＳを生成する。測定半径位置ｒｎにおける分布ゲート信号ＤＧＳｎに基づいて生成された位置情報ＲＲＪｎが検出回路１０３に入力された場合、検出回路１０３は、基準位置検出信号ＫＳ、ゲート情報ＧＪ２、及び、位置情報ＲＲＪｎに基づいて、次に測定される測定半径位置ｒｎ＋１における測定ゲート信号ＭＧＳｎ＋１を生成する。
【0097】
即ち、検出回路１０３は、測定半径位置ｒｎ＋１における分布ゲート信号ＤＧＳｎ＋１と測定ゲート信号ＭＧＳｎ＋１とを生成する場合、１つ前の測定半径位置ｒｎにおける反応領域１４の位置情報ＲＲＪｎに基づいて、測定半径位置ｒｎ＋１における反応領域１４に対応する測定ゲート幅ＭＷを有する測定ゲート信号ＭＧＳｎ＋１を生成する。測定ゲート信号ＭＧＳは反応領域１４における微粒子１５、及び、検出対象物質の数を計測するためのゲート信号である。
【0098】
カウント値生成処理部２３１は、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、反応領域１４に対する測定が終了したか否かを判定する。測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部１３１は全ての測定半径位置におけるカウント値ＭＧＣＶを合算し、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを決定する。反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶは、反応領域１４に捕捉されている微粒子１５の数、及び、微粒子１５と特異的に結合している検出対象物質の数に対応する。
【0099】
測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部２３１は分布データテーブル取得信号ＴＳ１を生成し、カウント値分布データ処理部２３３へ出力する。カウント値分布データ処理部２３３は、分布データテーブル取得信号ＴＳ１が入力されると、カウント値分布データテーブルＣＴをカウント値生成処理部２３１へ出力する。
【0100】
測定が終了したと判定された場合、カウント値生成処理部２３１は反応領域特定信号ＲＳを生成し、反応領域特定処理部２３４へ出力する。反応領域特定処理部２３４は、反応領域特定信号ＲＳが入力されると、分布データ取得信号ＤＳを生成し、カウント値分布データ処理部２３３へ出力する。カウント値分布データ処理部２３３は、分布データ取得信号ＤＳが入力されると、カウント値分布データテーブルＣＴに保存されている各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データＤＤとして、反応領域特定処理部２３４へ出力する。
【0101】
反応領域特定処理部２３４は、各測定半径位置における検出結果に基づいて反応領域１４の位置（例えば中心位置座標）を特定して反応領域１４の位置情報ＲＲＪを生成し、カウント値生成処理部２３１へ出力する。
【0102】
制御ＧＵＩ１０１から測定結果の取得要求ＡＲがあった場合、カウント値生成処理部２３１は、反応領域１４の位置情報ＲＲＪ、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶ、及び、カウント値分布データテーブルＣＴを制御ＧＵＩ１０１へ出力する。
【0103】
制御ＧＵＩ１０１は、反応領域１４とカウント値分布データテーブルＣＴとを関連付けて反応領域１４におけるカウント値分布を表示したり、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを表示したりする。
【0104】
図１５Ａ、図１５Ｂ、及び図１５Ｃに示すフローチャートを用いて、第２実施形態の分析装置２００における分析方法を説明する。ユーザの指示により、制御ＧＵＩ１０１は、図１５Ａに示すステップＳ２０１にて、起動命令信号ＭＳを制御ＣＰＵ１２０へ出力する。制御ＣＰＵ１２０は、起動命令信号ＭＳが入力されると、ステップＳ２０２にて、検出回路１０３、及び、光ディスクドライブ１１０を起動させる。
【0105】
制御ＣＰＵ１２０のドライブ制御部１６０は、ステップＳ２０３にて、光ディスクドライブ１１０を制御して、試料分析用ディスク１０の回転を制御する。さらに、ドライブ制御部１６０は、光ディスクドライブ１１０を制御して、光ピックアップ１１１を試料分析用ディスク１０の目的の半径位置へ移動させ、光ピックアップ１１１からレーザ光１１１ａを試料分析用ディスク１０に向けて照射させる。
【0106】
光ディスクドライブ１１０は、ステップＳ２０４にて、光ピックアップ１１１の試料分析用ディスク１０における測定半径位置を含む測定半径位置情報ＨＪを、ドライブ制御部２６０とゲート情報処理部２４０とを介してカウント値生成処理部２３１へ出力する。基準位置検出センサ１１２は、ステップＳ２０５にて、試料分析用ディスク１０の基準位置識別部１１を検出し、基準位置検出信号ＫＳを生成する。光ピックアップ１１１は、ステップＳ２０６にて、試料分析用ディスク１０からの反射光を受光し、受光検出信号ＪＳを生成する。
【0107】
ゲート情報処理部２４０は、ステップＳ２０７にて、分布ゲート幅ＤＷ、及び、測定ゲート幅ＭＷを測定半径位置毎に設定する。光ディスクドライブ１１０、及び、ゲート情報処理部２４０は、ステップＳ２０４〜Ｓ２０６と及び、ステップＳ２０７を並行して実行することができる。
【0108】
ゲート情報処理部２４０は、ステップＳ２０８にて、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、基準位置識別部１１が検出されてから測定領域１６が測定半径位置に到達するまでの時間を基準シフト量φｂとして測定半径位置（トラック）毎に設定する。さらに、ゲート情報処理部２４０は、分布ゲートシフト量Δφｂ、シフト調整量Δφｃ、及び、位相差φｂ＋Δφｂを測定半径位置毎に設定する。
【0109】
ゲート情報処理部２４０は、ステップＳ２０９にて、測定半径位置情報ＨＪに基づいてゲート情報ＧＪ２を生成し、回路制御部２５０を介して検出回路１０３へ出力する。検出回路１０３は、ステップＳ２１０にて、基準位置検出信号ＫＳ、及び、ゲート情報ＧＪ２に基づいて、測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向にシフトされた分布ゲート信号ＤＧＳを生成する。
【0110】
検出回路１０３は、ステップＳ２１１にて、受光検出信号ＪＳから分布ゲート信号ＤＧＳ毎に微粒子パルス信号ＢＳを抽出する。検出回路１０３は、ステップＳ２１２にて、抽出された微粒子パルス信号ＢＳをカウントし、各分布ゲート信号ＤＧＳに対応するカウント値ＤＧＣＶを生成する。
【0111】
検出回路１０３は、ステップＳ２１３にて、カウント値ＤＧＣＶを、分布ゲート信号ＤＧＳ毎に、回路制御部２５０とカウント値生成処理部２３１とを介してゲートシフト処理部２３２へ順次出力する。ゲートシフト処理部２３２は、図１５Ｂに示すステップＳ２１４にて、各測定半径位置に対して、分布ゲート信号ＤＧＳに対応するゲート信号対応領域ＧＲを分布ゲートシフト量Δφｂ（Δφｂ＝ＤＷ／４）毎に試料分析用ディスクの回転方向に分割し、複数の分割領域ＤＲを設定する。ゲートシフト処理部２３２は、ステップＳ２１５にて、各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＧＣＶを設定する。
【0112】
カウント値分布データ処理部２３３は、ステップＳ２１６にて、分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＧＣＶを、内部メモリに分割領域ＤＲごとに逐次保持する。カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２１７にて、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、測定半径位置毎に測定が終了したか否かを判定する。測定半径位置における測定が終了していない（ＮＯ）と判定された場合、制御ＣＰＵ１２０は、処理をステップＳ２１６へ戻す。
【0113】
測定半径位置における測定が終了した（ＹＥＳ）と判定された場合、カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２１８にて、内部メモリに保持されている各分割領域ＤＲにおけるカウント値ＤＧＣＶを、対応する分割領域ＤＲの位置情報ＤＲＪに基づいて、カウント値分布データテーブルＣＴに保存する。カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２１９にて、測定半径位置毎に反応領域特定信号ＲＳを生成し、反応領域特定処理部２３４へ順次出力する。
【0114】
反応領域特定処理部２３４は、ステップＳ２２０にて、反応領域特定信号ＲＳに基づいて分布データ取得信号ＤＳを生成し、カウント値分布データ処理部２３３へ出力する。カウント値分布データ処理部２３３は、ステップＳ２２１にて、分布データ取得信号ＤＳに基づいて、カウント値分布データテーブルＣＴに保存されている、測定半径位置に対応する各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データＤＤとして、反応領域特定処理部２３４へ出力する。
【0115】
反応領域特定処理部２３４は、カウント値分布データＤＤが入力されると、ステップＳ２２２にて、フィルタを測定領域１６の全域内で走査し、フィルタ内のカウント値が最大となる位置を検出する。反応領域特定処理部２３４は、検出結果に基づいて測定半径位置における反応領域１４の位置（例えば中心位置座標）を特定して反応領域１４の位置情報ＲＲＪを測定半径位置毎に生成する。反応領域特定処理部２３４は、反応領域１４の位置情報ＲＲＪを、カウント値生成処理部２３１と回路制御部２５０とを介して、測定半径位置毎に検出回路１０３へ出力する。
【0116】
検出回路１０３は、ステップＳ２２３にて、基準位置検出信号ＫＳ、ゲート情報ＧＪ２、及び、位置情報ＲＲＪに基づいて、測定ゲート信号ＭＧＳを生成する。検出回路１０３は、測定半径位置ｒｎ＋１における分布ゲート信号ＤＧＳｎ＋１と測定ゲート信号ＭＧＳｎ＋１とを生成する場合、１つ前の測定半径位置ｒｎにおける位置情報ＲＲＪｎに基づいて測定ゲート信号ＭＧＳｎ＋１を生成する。
【0117】
検出回路１０３は、ステップＳ２２４にて、受光検出信号ＪＳから測定ゲート信号ＭＧＳ毎に微粒子パルス信号ＢＳを抽出する。検出回路１０３は、ステップＳ２２５にて、抽出された微粒子パルス信号ＢＳをカウントし、各測定ゲート信号ＭＧＳに対応するカウント値ＭＧＣＶを生成する。検出回路１０３は、カウント値ＭＧＣＶを、回路制御部２５０を介して測定ゲート信号ＭＧＳ毎にカウント値生成処理部２３１へ順次出力する。ステップＳ２１１及びＳ２１２とステップＳ２２４及びＳ２２５とは、検出回路１０３にて並行に処理される。カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２２６にて、測定半径位置毎にカウント値ＭＧＣＶを保存する。
【0118】
カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２２７にて、測定半径位置情報ＨＪに基づいて、反応領域１４に対する測定が終了したか否かを判定する。測定が終了していない（ＮＯ）と判定された場合、制御ＣＰＵ２２０は、処理をステップＳ２０４へ戻す。反応領域１４に対する測定が終了した（ＹＥＳ）と判定された場合、制御ＣＰＵ２２０は、ステップＳ２２８にて、検出回路１０３、及び、光ディスクドライブ１１０を停止させる。
【0119】
測定が終了した（ＹＥＳ）と判定された場合、カウント値生成処理部１３１は、ステップＳ２２９にて、全ての測定半径位置におけるカウント値ＭＧＣＶを合算し、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを決定する。反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶは、反応領域１４に捕捉されている微粒子１５の数、及び、微粒子１５と特異的に結合している検出対象物質の数に対応する。
【0120】
カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２３０にて、分布データテーブル取得信号ＴＳ１を生成し、カウント値分布データ処理部２３３へ出力する。カウント値分布データ処理部２３３は、分布データテーブル取得信号ＴＳ１が入力されると、ステップＳ２３１にて、カウント値分布データテーブルＣＴをカウント値生成処理部２３１へ出力する。
【0121】
測定が終了した（ＹＥＳ）と判定された場合、カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２３２にて、反応領域特定信号ＲＳを生成し、反応領域特定処理部２３４へ出力する。反応領域特定処理部２３４は、反応領域特定信号ＲＳが入力されると、ステップＳ２３３にて、分布データ取得信号ＤＳを生成し、カウント値分布データ処理部２３３へ出力する。カウント値分布データ処理部２３３は、分布データ取得信号ＤＳが入力されると、ステップＳ２３４にて、カウント値分布データテーブルＣＴに保存されている各分割領域ＤＲのカウント値ＤＣＶをカウント値分布データＤＤとして、反応領域特定処理部２３４へ出力する。
【0122】
反応領域特定処理部２３４は、ステップＳ２３５にて、カウント値分布データＤＤに基づいて、反応領域１４の位置（例えば中心位置座標）を特定して反応領域１４の位置情報ＲＲＪを生成し、カウント値生成処理部２３１へ出力する。
【0123】
制御ＧＵＩ１０１から測定結果の取得要求ＡＲがあった場合、カウント値生成処理部２３１は、ステップＳ２３６にて、反応領域１４の位置情報ＲＲＪ、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶ、及び、カウント値分布データテーブルＣＴを制御ＧＵＩ１０１へ出力する。制御ＧＵＩ１０１は、ステップＳ２３７にて、反応領域１４とカウント値分布データテーブルＣＴとを関連付けて反応領域１４におけるカウント値分布を表示したり、反応領域１４におけるカウント値ＲＣＶを表示したりする。
【0124】
第２実施形態の分析装置２００及び分析方法では、２種類のゲート信号ＧＳを分布ゲート信号ＤＧＳ、及び、測定ゲート信号ＭＧＳとして生成する。分布ゲート信号ＤＧＳは反応領域１４の位置を特定するためのゲート信号である。測定ゲート信号ＭＧＳは反応領域１４における微粒子１５、及び、検出対象物質の数を計測するためのゲート信号である。
【0125】
分析装置２００及び分析方法では、測定半径位置（トラック）毎に分布ゲートシフト量Δφｂを設定する。分析装置２００及び分析方法では、分布ゲート信号ＤＧＳを測定半径位置毎に試料分析用ディスク１０の回転方向に分布ゲートシフト量Δφｂだけシフトさせる。分析装置２００及び分析方法では、反応領域１４を分布ゲートシフト量Δφｂ毎に試料分析用ディスク１０の回転方向に分割して複数の分割領域ＤＲを設定する。
【0126】
第２実施形態の分析装置２００及び分析方法によれば、反応領域１４の外周部に対応して分布ゲート信号ＤＧＳを生成し、分布ゲート信号ＤＧＳにおけるカウント値に基づいて分割領域ＤＲのカウント値を設定する。これにより、回路規模の増大を抑制し、試料分析用ディスクの回転方向における測定分解能を向上させることができる。
【0127】
第２実施形態の分析装置２００及び分析方法では、１つ前の測定半径位置ｒｎにおける反応領域１４の位置情報ＲＲＪｎに基づいて、測定半径位置ｒｎ＋１における反応領域１４に対応する測定ゲート幅ＭＷを有する測定ゲート信号ＭＧＳｎ＋１を生成する。従って、第２実施形態の分析装置２００及び分析方法によれば、反応領域１４に対応する測定ゲート幅ＭＷを有する測定ゲート信号ＭＧＳｎ＋１により、反応領域１４における微粒子１５、及び、検出対象物質の数を精度良く計測することができる。
【0128】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。
【0129】
第１実施形態の分析装置１００及び分析方法ではゲート幅Ｗを３分割（ｍ＝３）するようにゲートシフト量Δφａを設定し、第２実施形態の分析装置２００及び分析方法では分布ゲート幅ＤＷを４分割（ｍ＝４）するように分布ゲートシフト量Δφｂを設定する。ゲート幅Ｗ、及び、分布ゲート幅ＤＷをｍ分割してゲートシフト量Δφａ、及び、分布ゲートシフト量Δφｂを設定する場合、分割数ｍを多くすると試料分析用ディスクの回転方向における測定分解能がより向上し、少なくすると回路規模の増大をより抑制することができる。従って、上記の分割数ｍは第１及び第２実施形態の分析装置１００及び２００、並びに分析方法に限定されるものではなく、設計仕様に基づいて適宜設定されるものである。
【符号の説明】
【0130】
１０ 試料分析用ディスク１１ 基準位置識別部
１４ 反応領域
１５ 微粒子
１００ 分析装置
１０３ 検出回路
１１０ 光ディスクドライブ
１１１ 光ピックアップ
１１２ 基準位置検出センサ
１１１ａ レーザ光
１３２ ゲートシフト処理部
１４０ ゲート情報処理部
ＪＳ 受光検出信号
ＫＳ 基準位置検出信号
ＨＪ 測定半径位置情報
Δφａ，Δφｂ ゲートシフト量
ＧＪ１，ＧＪ２ ゲート情報
ＧＳ ゲート信号
ＢＳ 微粒子パルス信号
ＧＣＶ，ＤＣＶ カウント値
ＧＲ ゲート信号対応領域
ＤＲ 分割領域
ＤＲＪ 位置情報