特許6973713IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

探傷装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ところで、タイプIVの欠陥は、管OBのうちの、管OBの外表面WOからの距離が比較的長い(換言すると、管OBのうちの外表面WOと内表面WIとの間の比較的深い)位置にて生じることがある。一方、超音波は、当該超音波が伝搬する距離が長くなるほど大きく減衰する。また、超音波が伝搬する距離が長くなるほど、管OBのうちの外表面WOと内表面WIとの間の目標位置にて反射された超音波に対する雑音が大きくなりやすい。 このため、上述した探傷装置を用いても、管OBのうちの外表面WOと内表面WIとの間の比較的深い位置におけるタイプIVの欠陥を十分に高い精度にて検出できなかった。なお、上述した課題は、タイプIV以外の型の欠陥の検出に対しても同様に生じ得る。 そこで、本発明の目的は、管の欠陥を十分に高い精度にて検出することができる探傷装置を提供することにある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

一つの側面では、探傷装置は、探触子と制御回路とを備える。 探触子は、駆動信号に応じて超音波を生成するとともに、超音波が対象物としての管にて反射されることにより到来する反射波としての超音波に応じて検出信号を生成する、少なくとも1つの圧電素子を有する。 制御回路は、駆動信号を探触子に供給するとともに、探触子からの検出信号に基づいて対象物の欠陥を検出する。 ・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
管の欠陥を十分に高い精度にて検出できる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】長手溶接により形成された管の断面図である。

【図2】第1実施形態の探傷装置の構成を表す図である。

【図3】図2の探傷装置における走査領域の一例を表す説明図である。

【図4】図2の探触子の斜視図である。

【図5】図2の探触子の底面図である。

【図6】図5のI−I線により表される平面により切断された探触子の断面図である。

【図7】図2の探触子の左側面図である。

【図8】図2の探触子の右側面図である。

【図9】図2の探触子における、第1圧電素子及び第2圧電素子の第3端面と、焦点位置と、超音波が伝搬する経路と、を表す説明図である。

【図10】図2の探触子における、焦点位置と、超音波が伝搬する経路と、熱影響部と、を表す説明図である。

【図11】複数の反射波の強度に対する、強度毎に当該強度が出現する頻度を表す頻度分布を表すグラフである。

【図12】反射波の強度を、走査領域に含まれる複数の位置のそれぞれと関連付けて表す説明図である。

【図13】母材部及び熱影響部のそれぞれに対する、領域数及び面積率を表す表である。

【図14】周溶接により形成された管の断面図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 探傷装置   10 探触子   11 筐体   11a 収容空間   11a1 第1部分空間   11a2 第2部分空間   12 音響隔離体   13 第1バッキング体   14 第1圧電素子   15 第1音響レンズ   16 第2バッキング体   17 第2圧電素子   18 第2音響レンズ   20 駆動装置   30 支持体   40 媒体保持装置   50 制御回路   51 パルサ部   52 レシーバ部   53 駆動制御部   BM 母材部   CA 中心軸   EF0 端面   EF1 音響レンズの第1端面   EF2 音響レンズの第2端面   EF3 圧電素子の第3端面   FP 焦点位置   HZ 熱影響部   MD 媒体   OB 管   RL1 第1参照直線   RL2 第2参照直線   RP1 第1基準位置   RP2 第2基準位置   SL 基準直線   WI 内表面   WM 溶接金属部   WO 外表面   θ 第1角度   γ 第2角度    

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

[広告欄]

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります