6978963 欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシート

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6978963

(24)【登録日】2021年11月16日

(45)【発行日】2021年12月8日

(54)【発明の名称】欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシート

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/892 20060101AFI20211125BHJP

【ＦＩ】

   G01N21/892 A

【請求項の数】18

【全頁数】28

(21)【出願番号】特願2018-36990(P2018-36990)

(22)【出願日】2018年3月1日

(65)【公開番号】特開2018-146580(P2018-146580A)

(43)【公開日】2018年9月20日

【審査請求日】2020年12月10日

(31)【優先権主張番号】特願2017-40931(P2017-40931)

(32)【優先日】2017年3月3日

(33)【優先権主張国】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】000002093

【氏名又は名称】住友化学株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100106909

【弁理士】

【氏名又は名称】棚井 澄雄

(74)【代理人】

【識別番号】100196058

【弁理士】

【氏名又は名称】佐藤 彰雄

(74)【代理人】

【識別番号】100126664

【弁理士】

【氏名又は名称】鈴木 慎吾

(74)【代理人】

【識別番号】100153763

【弁理士】

【氏名又は名称】加藤 広之

(72)【発明者】

【氏名】井村 圭太

(72)【発明者】

【氏名】越野 哲史

【審査官】 嶋田 行志

(56)【参考文献】

【文献】 国際公開第２０１６／１６３２６１（ＷＯ，Ａ１）

【文献】 特開２００９−２４４０６４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−２２４７６３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−２４０８１６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００１−０５９８２１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開昭６３−１８０３２３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０００−０５１９４１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００８−０２０３２１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００６−０７１５６０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ２１／８４−Ｇ０１Ｎ ２１／９５８

ＪＳＴＰｌｕｓ／ＪＳＴ７５８０／ＪＳＴＣｈｉｎａ（ＪＤｒｅａｍＩＩＩ）

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す欠陥マーキング方法であって、
前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向において隣り合う第１の印字パターンと第２の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記被検査物の表面に前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンを印字し、
前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンはそれぞれ、前記一の方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記他の方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする欠陥マーキング方法。

【請求項2】

前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項１に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項3】

前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークを前記一の方向に複数並べて印字することを特徴とする請求項２に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項4】

前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークを前記一の方向に複数並べて印字することを特徴とする請求項２又は３に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項5】

前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか１つ以上を変更した印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項３又は４に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項6】

前記他の方向において、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第３の印字パターンを印字することによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項１〜５の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項7】

前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報を記録することを特徴とする請求項１〜６の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項8】

前記印字パターンを消し取り可能なインクを用いて印字することを特徴とする請求項１〜７の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項9】

前記被検査物として、前記一の方向に搬送される長尺帯状の原反の欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする請求項１〜８の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項10】

前記被検査物として、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートの欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする請求項１〜９の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。

【請求項11】

一の方向に搬送される長尺帯状の原反に対して欠陥検査を行う工程と、
請求項９に記載の欠陥マーキング方法を用いて、前記原反の欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とする原反の製造方法。

【請求項12】

長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートに対して欠陥検査を行う工程と、
請求項１０に記載の欠陥マーキング方法を用いて、前記シートの欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とするシートの製造方法。

【請求項13】

被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す印字装置を備え、
前記印字装置は、前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向に所定の間隔で並んで配置されると共に、前記被検査物の表面に印字パターンを印字する複数の印字部と、前記複数の印字部の駆動を制御する制御部と、を有し、
前記制御部は、前記他の方向において隣り合う第１の印字パターンと第２の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンを印字する印字部を選択する制御を行い、
前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンはそれぞれ、前記一の方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記他の方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする欠陥マーキング装置。

【請求項14】

前記制御部は、前記選択された何れか一方又は両方の印字部に対して、記録すべき前記欠陥に関する情報に応じて、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンを変更する制御を行うことを特徴とする請求項１３に記載の欠陥マーキング装置。

【請求項15】

欠陥箇所にマーキングが施された長尺帯状の原反であって、
前記マーキングにより表面に印字され、短手方向において隣り合う第１の印字パターン及び第２の印字パターンを有し、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの間に欠陥が位置し、
前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンはそれぞれ、前記原反の長手方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記短手方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記長手方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする原反。

【請求項16】

前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されていることを特徴とする請求項１５に記載の原反。

【請求項17】

欠陥箇所にマーキングが施されたシートであって、
前記マーキングにより表面に印字され、一の方向と交差する他の方向において隣り合う第１の印字パターン及び第２の印字パターンを有し、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの間に欠陥が位置し、
前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンはそれぞれ、前記一の方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記他の方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とするシート。

【請求項18】

前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されていることを特徴とする請求項１７に記載のシート。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシートに関する。

【背景技術】

【0002】

例えば、樹脂フィルムや紙などの長尺帯状の原反の製造工程では、原反を搬送する間に、原反の欠陥検査を行い、欠陥検査の結果に基づいて原反の欠陥箇所にマーキングを施すこと（以下、欠陥マーキングという。）が行われている（例えば、特許文献１〜４を参照。）。

【0003】

また、液晶表示パネルに使用される偏光板などの光学フィルム（シート）の製造工程では、欠陥の位置や種類、サイズ、検査方法などの欠陥に関する情報（以下、欠陥情報という。）を光学フィルムの端縁部に沿った特定の領域（以下、記録領域という。）に、印字ヘッドを用いて記録（印字）することも行われている。

【0004】

光学フィルムは、欠陥情報の記録が完了した後に、芯材に巻き取られ、巻き取り量が一定量に達すると、搬送方向の上流側の光学フィルムから切り離されて、原反ロールとして出荷される。原反ロールからは、製品仕様によって予め定められた大きさや方向にカットされたシート（チップ）が切り出される。また、欠陥部分については、製品から除外されて破棄される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２００１−３０５０７０号公報

【特許文献2】特開２００２−３０３５８０号公報

【特許文献3】特開２０１１−１０２９８５号公報

【特許文献4】特開２０１４−１６２１７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

ところで、上述した従来の欠陥マーキングでは、原反から欠陥部分を切り出したときに、マーキングと欠陥との間で切断されることによって、切断により切り出された側と、切断により切り残された側との何れに欠陥が位置しているのか、切断後に欠陥の位置が不明となることがあった。

【0007】

また、上記特許文献２に記載の発明では、傷マークを付けることによって、欠陥箇所にマーキングを施すことが行われている。しかしながら、傷マークを付けた場合、欠陥検査後に傷マークを消し取ることは不可能である。この場合、マーキング後の目視による検査（検品）によっては、欠陥部分が製品として許容されることもある。しかしながら、傷マークを付けた場合は、製品として使用できなくなってしまう。

【0008】

一方、上述した従来の欠陥マーキングでは、欠陥箇所にマーキングを施すことによって、欠陥の位置のみを表示するものが一般的である。したがって、従来の欠陥マーキングでは、上述した欠陥情報については記録されていない。このため、例えば出荷前に原反ロールを再検品する際に、欠陥情報が必要な場合は、欠陥情報を記録領域等に別途記録しておく必要がある。

【0009】

本発明は、このような従来の事情に鑑みて提案されたものであり、欠陥の位置を表示するのに好適な欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシートを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0010】

上記課題を解決するための手段として、本発明の態様に従えば、被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す欠陥マーキング方法であって、前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向において隣り合う第１の印字パターンと第２の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記被検査物の表面に前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンを印字することを特徴とする欠陥マーキング方法が提供される。

【0011】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録する方法であってもよい。

【0012】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークを少なくとも１つ又は前記一の方向に複数並べて印字する方法であってもよい。

【0013】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークを少なくとも１つ又は前記一の方向に複数並べて印字する方法であってもよい。

【0014】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか１つ以上を変更することによって、前記欠陥に関する情報を記録する方法であってもよい。

【0015】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更した印字パターンによって、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示する方法であってもよい。

【0016】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置することによって、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示する方法であってもよい。

【0017】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記他の方向において、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第３の印字パターンを印字することによって、前記欠陥に関する情報を記録する方法であってもよい。

【0018】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記何れかの印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報を記録する方法であってもよい。

【0019】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記印字パターンを消し取り可能なインクを用いて印字する方法であってもよい。

【0020】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記被検査物として、前記一の方向に搬送される長尺帯状の原反の欠陥箇所にマーキングを施す方法であってもよい。

【0021】

また、前記態様の欠陥マーキング方法では、前記被検査物として、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートの欠陥箇所にマーキングを施す方法であってもよい。

【0022】

また、本発明の態様に従えば、一の方向に搬送される長尺帯状の原反に対して欠陥検査を行う工程と、前記何れかの欠陥マーキング方法を用いて、前記原反を前記一の方向に搬送する間に、前記欠陥検査の結果に基づいて前記原反の欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とする原反の製造方法が提供される。

【0023】

また、本発明の態様に従えば、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートに対して欠陥検査を行う工程と、前記何れかの欠陥マーキング方法を用いて、前記欠陥検査の結果に基づいて前記シートの欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とするシートの製造方法が提供される。

【0024】

また、本発明の態様に従えば、被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す印字装置を備え、前記印字装置が、前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向に所定の間隔で並んで配置されると共に、前記被検査物の表面に印字パターンを印字する複数の印字部と、前記複数の印字部の駆動を制御する制御部と、を有し、前記制御部が、前記他の方向において隣り合う第１の印字パターンと第２の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンを印字する印字部を選択する制御を行うことを特徴とする欠陥マーキング装置が提供される。

【0025】

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れか一方又は両方の印字部に対して、記録すべき前記欠陥に関する情報に応じて、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンを変更する制御を行う構成であってもよい。

【0026】

また、前記態様の欠陥マーキング装置では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークを少なくとも１つ又は前記一の方向に複数並べて印字する構成であってもよい。

【0027】

また、前記態様の欠陥マーキング装置では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークを少なくとも１つ又は前記一の方向に複数並べて印字する構成であってもよい。

【0028】

また、前記態様の欠陥マーキング装置では、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか１つ以上を変更する構成であってもよい。

【0029】

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れかの印字部に対して、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更する制御を行う構成であってもよい。

【0030】

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れかの印字部に対して、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置する制御を行う構成であってもよい。

【0031】

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記他の方向において、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第３の印字パターンを印字する印字部を選択し、当該選択された何れ一方又は両方の印字部に対して、記録すべき前記欠陥に関する情報に応じて、前記第３の印字パターンを変更する制御を行う構成であってもよい。

【0032】

また、前記態様の欠陥マーキング装置において、前記制御部は、前記選択された何れかの印字部に対して、記録すべき前記欠陥以外に関する情報に応じて、前記何れかの印字パターンを変更する制御を行う構成であってもよい。

【0033】

また、本発明の態様に従えば、一の方向に搬送される長尺帯状の原反に対して欠陥検査を行う欠陥検査装置と、前記何れかの欠陥マーキング装置と、を備え、前記原反を前記一の方向に搬送する間に、前記欠陥検査の結果に基づいて前記原反の欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする原反の製造装置が提供される。

【0034】

また、本発明の態様に従えば、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートに対して欠陥検査を行う欠陥検査装置と、前記何れかの欠陥マーキング装置と、を備え、前記欠陥検査の結果に基づいて前記シートの欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とするシートの製造装置が提供される。

【0035】

また、本発明の態様に従えば、欠陥箇所にマーキングが施された長尺帯状の原反であって、前記マーキングにより表面に印字され、短手方向において隣り合う第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンを有し、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの間に欠陥が位置することによって、前記欠陥の位置が表示されていることを特徴とする原反が提供される。

【0036】

また、前記態様の原反では、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。

【0037】

また、前記態様の原反では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークが少なくとも１つ又は長手方向に複数並べて印字されている構成であってもよい。

【0038】

また、前記態様の原反では、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークが少なくとも１つ又は長手方向に複数並べて印字されている構成であってもよい。

【0039】

また、前記態様の原反では、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか１つ以上が変更されている構成であってもよい。

【0040】

また、前記態様の原反では、前記長手方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更した印字パターンによって、前記長手方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。

【0041】

また、前記態様の原反では、前記長手方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置することによって、前記長手方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。

【0042】

また、前記態様の原反では、前記短手方向において、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第３の印字パターンを有し、前記第３の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。

【0043】

また、前記態様の原反では、前記何れかの印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報が記録されている構成であってもよい。

【0044】

また、前記態様の原反では、前記印字パターンが消し取り可能なインクにより印字されている構成であってもよい。

【0045】

また、本発明の態様に従えば、欠陥箇所にマーキングが施されたシートであって、前記マーキングにより表面に印字され、一の方向と交差する他の方向において隣り合う第１の印字パターン及び前記第２の印字パターンを有し、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの間に欠陥が位置することによって、前記欠陥の位置が表示されていることを特徴とするシートが提供される。

【0046】

また、前記態様のシートでは、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。

【0047】

また、前記態様のシートでは、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークが少なくとも１つ又は前記一の方向に複数並んで印字されている構成であってもよい。

【0048】

また、前記態様のシートでは、前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークが少なくとも１つ又は前記一の方向に複数並んで印字されている構成であってもよい。

【0049】

また、前記態様のシートでは、前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか１つ以上が変更されている構成であってもよい。

【0050】

また、前記態様のシートでは、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を変更した印字パターンによって、前記一の方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。

【0051】

また、前記態様のシートでは、前記一の方向に並ぶ複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白を前記欠陥と隣り合う位置に配置することによって、前記一の方向における前記欠陥の位置が表示されている構成であってもよい。

【0052】

また、前記態様のシートでは、前記他の方向において、前記第１の印字パターンと前記第２の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第３の印字パターンを有し、前記第３の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されている構成であってもよい。

【0053】

また、前記態様のシートでは、前記何れかの印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報が記録されている構成であってもよい。

【0054】

また、前記態様のシートでは、前記印字パターンが消し取り可能なインクにより印字されている構成であってもよい。

【発明の効果】

【0055】

以上のように、本発明の態様によれば、欠陥の位置を表示するのに好適な欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシートを提供することが可能である。

【図面の簡単な説明】

【0056】

【図1】液晶表示パネルの一例を示す平面図である。

【図2】図１中に示す液晶表示パネルの断面図である。

【図3】光学フィルムの一例を示す断面図である。

【図4】フィルム製造装置及び欠陥マーキング装置の構成を示す側面図である。

【図5】図４に示す欠陥マーキング装置の構成を示す平面図である。

【図6】ドット状のマークにより印字された第１の印字パターン及び第２の印字パターンの一例を示す平面図である。

【図7】線状のマークにより印字された第１の印字パターン及び第２の印字パターンの一例を示す平面図である。

【図8】第３の印字パターンを追加した例を示す平面図である。

【図9】欠陥の種類とその印字パターンの違いを例示した平面図である。

【図10】第１の製造工程と第２の製造工程で発生した欠陥を示す断面図である。

【図11】第１の製造工程と第２の製造工程で発生した欠陥に対して印字された第１の印字パターン及び第２の印字パターンの一例を示す平面図である。

【図12】第１の印字パターン及び第２の印字パターンの変形例を示す平面図である。

【図13】印字パターンの組み合わせを例示した平面図である。

【発明を実施するための形態】

【0057】

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
本実施形態では、例えば光学表示デバイスの生産システムとして、その一部を構成するフィルム製造装置（原反の製造装置）、並びに、このフィルム製造装置を用いたフィルム製造方法（原反の製造方法）について説明する。

【0058】

フィルム製造装置は、例えば液晶表示パネルや有機ＥＬ表示パネルなどのパネル状の光学表示部品（光学表示パネル）に貼合される、例えば偏光フィルムや位相差フィルム、輝度向上フィルムなどのフィルム状の光学部材（光学フィルム）を製造するものである。フィルム製造装置は、このような光学表示部品や光学部材を含む光学表示デバイスを生産する生産システムの一部を構成している。

【0059】

本実施形態では、光学表示デバイスとして透過型の液晶表示装置を例示している。透過型の液晶表示装置は、液晶表示パネルと、バックライトとを概略備えている。この液晶表示装置では、バックライトから出射された照明光を液晶表示パネルの裏面側から入射し、液晶表示パネルにより変調された光を液晶表示パネルの表面側から出射することによって、画像を表示することが可能である。

【0060】

（光学表示デバイス）
先ず、光学表示デバイスとして、図１及び図２に示す液晶表示パネルＰの構成について説明する。なお、図１は、液晶表示パネルＰの構成を示す平面図である。図２は、図１中に示す切断線Ａ−Ａによる液晶表示パネルＰの断面図である。なお、図２では、断面を示すハッチングの図示を省略している。

【0061】

液晶表示パネルＰは、図１及び図２に示すように、第１の基板Ｐ１と、第１の基板Ｐ１に対向して配置された第２の基板Ｐ２と、第１の基板Ｐ１と第２の基板Ｐ２との間に配置された液晶層Ｐ３とを概略備えている。

【0062】

第１の基板Ｐ１は、平面視で長方形状を為す透明基板からなる。第２の基板Ｐ２は、第１の基板Ｐ１よりも比較的小形の長方形状を為す透明基板からなる。液晶層Ｐ３は、第１の基板Ｐ１と第２の基板Ｐ２との間の周囲をシール材（図示せず。）で封止し、シール材によって囲まれた平面視で長方形状を為す領域の内側に配置されている。液晶表示パネルＰでは、平面視で液晶層Ｐ３の外周の内側に収まる領域を表示領域Ｐ４とし、この表示領域Ｐ４の周囲を囲む外側の領域を額縁部Ｇとする。

【0063】

液晶表示パネルＰの裏面（バックライト側）には、偏光フィルムとしての第１の光学フィルムＦ１１と、この第１の光学フィルムＦ１１に重ねて輝度向上フィルムとしての第３の光学フィルムＦ１３とが順に積層されて貼合されている。液晶表示パネルＰの表面（表示面側）には、偏光フィルムとしての第２の光学フィルムＦ１２が貼合されている。以下、第１、第２及び第３の光学フィルムＦ１１，Ｆ１２，Ｆ１３を光学フィルムＦ１Ｘと総称することがある。

【0064】

（光学フィルム）
次に、図３に示す光学フィルムＦ１Ｘを構成する光学シートＦＸの一例について説明する。なお、図３は、光学シートＦＸの構成を示す断面図である。なお、図３では、断面を示すハッチングの図示を省略している。

【0065】

光学フィルムＦ１Ｘは、図３に示す長尺帯状の光学シート（原反）ＦＸから所定の長さのシート片（チップ）を切り出すことによって得られる。具体的に、この光学シートＦＸは、基材シートＦ４と、基材シートＦ４の一方の面（図３中の上面）に設けられた粘着層Ｆ５と、粘着層Ｆ５を介して基材シートＦ４の一方の面に設けられたセパレータシートＦ６と、基材シートＦ４の他方の面（図３中の下面）に設けられた表面保護シートＦ７とを有する。

【0066】

基材シートＦ４は、例えば偏光フィルムの場合、偏光子Ｆ４ａを一対の保護フィルムＦ４ｂ，Ｆ４ｃが挟み込む構造を有している。粘着層Ｆ５は、シート片（光学フィルムＦ１Ｘ）を液晶表示パネルＰに貼着させるものである。セパレータシートＦ６は、粘着層Ｆ５を保護するものであり、シート片（光学フィルムＦ１Ｘ）を液晶表示パネルＰに貼合する前に粘着層Ｆ５から剥離される。なお、光学フィルムＦ１ＸからセパレータシートＦ６を除いた部分は、貼合シートＦ８とされる。

【0067】

表面保護シートＦ７は、基材シートＦ４の表面を保護するものである。表面保護シートＦ７は、シート片（光学フィルムＦ１Ｘ）が液晶表示パネルＰに貼着された後に、シート片（光学フィルムＦ１Ｘ）の表面から剥離される。

【0068】

なお、基材シートＦ４については、一対の保護フィルムＦ４ｂ，Ｆ４ｃのうち何れか一方を省略した構成としてもよい。例えば、粘着層Ｆ５側の保護フィルムＦ４ｂを省略して、偏光子Ｆ４ａに粘着層Ｆ５が直接設けられた構成とすることができる。また、表面保護シートＦ７側の保護フィルムＦ４ｃには、例えば、液晶表示パネルＰの最外面を保護するハードコート処理や、防眩効果が得られるアンチグレア処理などの表面処理が施されていてもよい。また、基材シートＦ４については、上述した積層構造のものに限らず、単層構造のものであってもよい。また、表面保護シートＦ７については、省略することも可能である。

【0069】

（フィルム製造装置及びフィルム製造方法）
次に、図４に示すフィルム製造装置１００について説明する。なお、図４は、フィルム製造装置１００の構成を示す側面図である。

【0070】

フィルム製造装置１００は、図４に示すように、例えば、偏光フィルムとなる長尺帯状の第１のフィルムＦ１０１の一面に、表面保護フィルムとなる長尺帯状の第２のフィルムＦ１０２を貼合した後、第１のフィルムＦ１０１の他面に表面保護フィルムとなる長尺帯状の第３のフィルムＦ１０３を貼合することによって、第１のフィルムＦ１０１の両面に第２のフィルムＦ１０２及び第３のフィルムＦ１０３が貼合された光学フィルムＦ１０Ｘを製造するものである。

【0071】

具体的に、このフィルム製造装置１００は、第１の搬送ライン１０１と、第２の搬送ライン１０２と、第３の搬送ライン１０３と、第４の搬送ライン１０４と、第５の搬送ライン１０５と、巻取部１０６とを概略備えている。

【0072】

このうち、第１の搬送ライン１０１は、第１のフィルムＦ１０１を搬送する搬送経路を形成し、第２の搬送ライン１０２は、第１の原反ロールＲ１から巻き出された第２のフィルムＦ１０２を搬送する搬送経路を形成し、第３の搬送ライン１０３は、第１のフィルムＦ１０１の一面に第２のフィルムＦ１０２が貼合された片面貼合フィルムＦ１０４を搬送する搬送経路を形成し、第４の搬送ライン１０４は、第２の原反ロールＲ２から巻き出された第３のフィルムＦ１０３を搬送する搬送経路を形成し、第５の搬送ライン１０５は、片面貼合フィルムＦ１０４の第１のフィルムＦ１０１側の面（第１のフィルムＦ１０１の他面）に第３のフィルムＦ１０３が貼合された両面貼合フィルムＦ１０５（光学フィルムＦ１０Ｘ）を搬送する搬送経路を形成している。そして、製造された光学フィルムＦ１０Ｘは、巻取部１０６において、第３の原反ロールＲ３として芯材に巻き取られる。

【0073】

第１の搬送ライン１０１は、例えば、ＰＶＡ（Polyvinyl Alcohol）などの偏光子の基材となるフィルムに対して、染色処理や架橋処理、延伸処理などを施した後、その両面にＴＡＣ（Triacetylcellulose）などの保護フィルムを貼合することにより得られた長尺帯状の第１のフィルムＦ１０１を第３の搬送ライン１０３に向けて搬送させるものである。

【0074】

具体的に、この第１の搬送ライン１０１には、第３の搬送ライン１０３の上流側を挟んだ一方側から第３の搬送ライン１０３に向けて、一対の第１のニップロール１１１ａ，１１１ｂと、複数の第１のダンサーロール１１２ａ，１１２ｂを含む第１のアキュームレーター１１２と、第１のガイドロール１１３とが、水平方向に順次並んで配置されている。

【0075】

一対の第１のニップロール１１１ａ，１１１ｂは、その間に第１のフィルムＦ１０１を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図４中に示す矢印ａの方向（右方向）に第１のフィルムＦ１０１を引き出すものである。

【0076】

第１のアキュームレーター１１２は、第１のフィルムＦ１０１の送り量の変動による差を吸収すると共に、第１のフィルムＦ１０１に加わる張力の変動を低減するためのものである。具体的に、この第１のアキュームレーター１１２は、第１のニップロール１１１ａ，１１１ｂと第１のガイドロール１１３との間で、上部側に位置する複数のダンサーロール１１２ａと、下部側に位置する複数のダンサーロール１１２ｂとが交互に並んで配置された構成を有している。

【0077】

第１のアキュームレーター１１２では、上部側のダンサーロール１１２ａと下部側のダンサーロール１１２ｂとに第１のフィルムＦ１０１が互い違いに掛け合わされた状態で、第１のフィルムＦ１０１を搬送させながら、上部側のダンサーロール１１２ａと下部側のダンサーロール１１２ｂとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第１の搬送ライン１０１を停止することなく、第１のフィルムＦ１０１を蓄積することが可能となっている。例えば、第１のアキュームレーター１１２では、上部側のダンサーロール１１２ａと下部側のダンサーロール１１２ｂとの間の距離を広げることよって、第１のフィルムＦ１０１の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール１１２ａと下部側のダンサーロール１１２ｂとの間の距離を狭めることよって、第１のフィルムＦ１０１の蓄積を減らすことができる。第１のアキュームレーター１１２は、例えば、原反ロールＲ１〜Ｒ３の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。

【0078】

第１のガイドロール１１３は、回転しながら第１のニップロール１１１ａ，１１１ｂにより引き出された第１のフィルムＦ１０１を第３の搬送ライン１０３の上流側に向けて案内するものである。なお、第１のガイドロール１１３は、１つだけ配置された構成に限らず複数配置された構成であってもよい。

【0079】

第２の搬送ライン１０２は、例えば、ＰＥＴ（Polyethylene terephthalate）などの表面保護フィルムとなる長尺帯状の第２のフィルムＦ１０２を第１の原反ロールＲ１から巻き出しつつ、第３の搬送ライン１０３に向けて搬送させるものである。

【0080】

具体的に、この第２の搬送ライン１０２には、第３の搬送ライン１０３の上流側を挟んだ他方側から第３の搬送ライン１０３に向けて、一対の第２のニップロール１２１ａ，１２１ｂと、複数の第２のダンサーロール１２２ａ，１２２ｂを含む第２のアキュームレーター１２２と、複数の第２のガイドロール１２３ａ，１２３ｂとが、水平方向に順次並んで配置されている。

【0081】

一対の第２のニップロール１２１ａ，１２１ｂは、その間に第２のフィルムＦ１０２を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図４中に示す矢印ｂの方向（左方向）に第２のフィルムＦ１０２を引き出すものである。

【0082】

第２のアキュームレーター１２２は、第２のフィルムＦ１０２の送り量の変動による差を吸収すると共に、第２のフィルムＦ１０２に加わる張力の変動を低減するためのものである。具体的に、この第２のアキュームレーター１２２は、第２のニップロール１２１ａ，１２１ｂと第２のガイドロール１２３ａ，１２３ｂとの間で、上部側に位置する複数のダンサーロール１２２ａと、下部側に位置する複数のダンサーロール１２２ｂとが交互に並んで配置された構成を有している。

【0083】

第２のアキュームレーター１２２では、上部側のダンサーロール１２２ａと下部側のダンサーロール１２２ｂとに第２のフィルムＦ１０２が互い違いに掛け合わされた状態で、第２のフィルムＦ１０２を搬送させながら、上部側のダンサーロール１２２ａと下部側のダンサーロール１２２ｂとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第２の搬送ライン１０２を停止することなく、第２のフィルムＦ１０２を蓄積することが可能となっている。例えば、第２のアキュームレーター１２２では、上部側のダンサーロール１２２ａと下部側のダンサーロール１２２ｂとの間の距離を広げることよって、第２のフィルムＦ１０２の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール１２２ａと下部側のダンサーロール１２２ｂとの間の距離を狭めることよって、第２のフィルムＦ１０２の蓄積を減らすことができる。第２のアキュームレーター１２２は、例えば、原反ロールＲ１〜Ｒ３の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。

【0084】

複数の第２のガイドロール１２３ａ，１２３ｂは、それぞれ回転しながら第２のニップロール１２１ａ，１２１ｂにより引き出された第２のフィルムＦ１０２を第３の搬送ライン１０３の上流側に向けて案内するものである。なお、第２のガイドロール１２３ａ，１２３ｂは、複数配置された構成に限らず１つだけ配置された構成であってもよい。

【0085】

第３の搬送ライン１０３は、第１のフィルムＦ１０１の一面に第２のフィルムＦ１０２を貼合した長尺帯状の片面貼合フィルムＦ１０４を第５の搬送ライン１０５に向けて搬送させるものである。

【0086】

具体的に、この第３の搬送ライン１０３には、一対の第３のニップロール１３１ａ，１３１ｂが配置されている。一対の第３のニップロール１３１ａ，１３１ｂは、第１の搬送ライン１０１の下流側と第２の搬送ライン１０２の下流側との合流点に位置して、その間に第１のフィルムＦ１０１及び第２のフィルムＦ１０２を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、第１のフィルムＦ１０１と第２のフィルムＦ１０２とを貼合した片面貼合フィルムＦ１０４を図４中に示す矢印ｃの方向（下方向）に引き出すものである。

【0087】

第４の搬送ライン１０４は、例えば、ＰＥＴ（Polyethylene terephthalate）などの表面保護フィルムとなる長尺帯状の第３のフィルムＦ１０３を第２の原反ロールＲ２から巻き出しつつ、第５の搬送ライン１０５に向けて搬送させるものである。

【0088】

具体的に、この第４の搬送ライン１０４には、第３の搬送ライン１０３の下流側を挟んだ一方側から第３の搬送ライン１０３に向けて、一対の第４のニップロール１４１ａ，１４１ｂと、複数の第３のダンサーロール１４２ａ，１４２ｂを含む第３のアキュームレーター１４２と、複数の第４のガイドロール１４３ａ，１４３ｂとが、水平方向に順次並んで配置されている。

【0089】

一対の第４のニップロール１４１ａ，１４１ｂは、その間に第３のフィルムＦ１０３を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図４中に示す矢印ｄの方向（右方向）に第３のフィルムＦ１０３を引き出すものである。

【0090】

第３のアキュームレーター１４２は、第３のフィルムＦ１０３の送り量の変動による差を吸収すると共に、第３のフィルムＦ１０３に加わる張力の変動を低減するためのものである。具体的に、この第３のアキュームレーター１４２は、第４のニップロール１４１ａ，１４１ｂと第４のガイドロール１４３ａ，１４３ｂとの間で、上部側に位置する複数のダンサーロール１４２ａと、下部側に位置する複数のダンサーロール１４２ｂとが交互に並んで配置された構成を有している。

【0091】

第３のアキュームレーター１４２では、上部側のダンサーロール１４２ａと下部側のダンサーロール１４２ｂとに第３のフィルムＦ１０３が互い違いに掛け合わされた状態で、第３のフィルムＦ１０３を搬送させながら、上部側のダンサーロール１４２ａと下部側のダンサーロール１４２ｂとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第４の搬送ライン１０４を停止することなく、第３のフィルムＦ１０３を蓄積することが可能となっている。例えば、第３のアキュームレーター１４２では、上部側のダンサーロール１４２ａと下部側のダンサーロール１４２ｂとの間の距離を広げることよって、第３のフィルムＦ１０３の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール１４２ａと下部側のダンサーロール１４２ｂとの間の距離を狭めることよって、第３のフィルムＦ１０３の蓄積を減らすことができる。第３のアキュームレーター１４２は、例えば、原反ロールＲ１〜Ｒ３の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。

【0092】

複数の第４のガイドロール１４３ａ，１４３ｂは、それぞれ回転しながら第４のニップロール１４１ａ，１４１ｂにより引き出された第３のフィルムＦ１０３を第３の搬送ライン１０３の下流側（第５の搬送ライン１０５の上流側）に向けて案内するものである。なお、第４のガイドロール１４３ａ，１４３ｂは、複数配置された構成に限らず１つだけ配置された構成であってもよい。

【0093】

第５の搬送ライン１０５は、片面貼合フィルムＦ１０４の第１のフィルムＦ１０１側の面（第１のフィルムＦ１０１の他面）に第３のフィルムＦ１０３を貼合した長尺帯状の両面貼合フィルムＦ１０５（光学フィルムＦ１０Ｘ）を第３の原反ロールＲ３に向けて搬送させるものである。

【0094】

具体的に、この第５の搬送ライン１０５には、第３の搬送ライン１０３の下流側を挟んだ他方側から第３の原反ロールＲ３に向けて、一対の第５のニップロール１５１ａ，１５１ｂと、第５のガイドロール１５３ａと、一対の第６のニップロール１５１ｃ，１５１ｄと、複数の第４のダンサーロール１５２ａ，１５２ｂを含む第４のアキュームレーター１５２と、第６のガイドロール１５３ｂとが、水平方向に順次並んで配置されている。

【0095】

一対の第５のニップロール１５１ａ，１５１ｂは、第３の搬送ライン１０３の下流側と第５の搬送ライン１０５の上流側との合流点に位置して、その間に片面貼合フィルムＦ１０４及び第３のフィルムＦ１０３を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、片面貼合フィルムＦ１０４と第３のフィルムＦ１０３とを貼合した両面貼合フィルムＦ１０５を図４中に示す矢印ｅの方向（下方向）に引き出すものである。

【0096】

第５のガイドロール１５３ａは、回転しながら第５のニップロール１５１ａ，１５１ｂにより引き出された両面貼合フィルムＦ１０５を第４のアキュームレーター１５２に向けて案内するものである。なお、第５のガイドロール１５３ａは、１つだけ配置された構成に限らず複数配置された構成であってもよい。

【0097】

一対の第６のニップロール１５１ｃ，１５１ｄは、その間に両面貼合フィルムＦ１０５を挟み込みながら、互いに逆向きに回転することによって、図４中に示す矢印ｆの方向（右方向）に両面貼合フィルムＦ１０５を引き出すものである。

【0098】

第４のアキュームレーター１５２では、上部側のダンサーロール１５２ａと下部側のダンサーロール１５２ｂとに両面貼合フィルムＦ１０５が互い違いに掛け合わされた状態で、両面貼合フィルムＦ１０５を搬送させながら、上部側のダンサーロール１５２ａと下部側のダンサーロール１５２ｂとを相対的に上下方向に昇降動作させる。これにより、第５の搬送ライン１０５を停止することなく、両面貼合フィルムＦ１０５を蓄積することが可能となっている。例えば、第４のアキュームレーター１５２では、上部側のダンサーロール１５２ａと下部側のダンサーロール１５２ｂとの間の距離を広げることよって、両面貼合フィルムＦ１０５の蓄積を増やす一方、上部側のダンサーロール１５２ａと下部側のダンサーロール１５２ｂとの間の距離を狭めることよって、両面貼合フィルムＦ１０５の蓄積を減らすことができる。第４のアキュームレーター１５２は、例えば、原反ロールＲ１〜Ｒ３の芯材を交換した後の紙継ぎなどの作業時に稼働される。

【0099】

第６のガイドロール１５３ｂは、両面貼合フィルムＦ１０５を第３の原反ロールＲ３に向けて案内するものである。なお、第６のガイドロール１５３ｂは、１つだけ配置された構成に限らず複数配置された構成であってもよい。

【0100】

両面貼合フィルムＦ１０５は、巻取部１０６において、光学フィルムＦ１０Ｘの第３の原反ロールＲ３として芯材に巻き取られた後、次工程へと送られる。

【0101】

（欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法）
次に、上記フィルム製造装置１００が備える欠陥マーキング装置１０、並びに、この欠陥マーキング装置１０を用いた欠陥マーキング方法について説明する。

【0102】

欠陥マーキング装置１０は、図４に示すように、上記フィルム製造装置１００の一部を構成するものであり、搬送ラインＬと、第１の欠陥検査装置１１及び第２の欠陥検査装置１２と、記録装置１３と、第１の測長器１４及び第２の測長器１５と、制御装置１６とを概略備えて構成されている。

【0103】

搬送ラインＬは、検査対象となるフィルムを搬送する搬送経路を形成するものであり、本実施形態では、上記第１の搬送ライン１０１、第３の搬送ライン１０３及び第５の搬送ライン１０５によって搬送ラインＬが構成されている。

【0104】

第１の欠陥検査装置１１は、第２のフィルムＦ１０２及び第３のフィルムＦ１０３が貼合される前の第１のフィルムＦ１０１の欠陥検査を行うものである。具体的に、この第１の欠陥検査装置１１は、第１のフィルムＦ１０１を製造する際や、第１のフィルムＦ１０１を搬送する際に生じた異物欠陥、凹凸欠陥、輝点欠陥などの各種欠陥を検出する。第１の欠陥検査装置１１は、第１の搬送ライン１０１で搬送される第１のフィルムＦ１０１に対して、例えば、反射検査、透過検査、斜め透過検査、クロスニコル透過検査などの検査処理を実行することにより、第１のフィルムＦ１０１の欠陥を検出する。

【0105】

第１の欠陥検査装置１１は、第１の搬送ライン１０１において、第１のニップロール１１１ａ，１１１ｂよりも上流側に、第１のフィルムＦ１０１に照明光を照射する複数の照明部２１ａ，２２ａ，２３ａと、第１のフィルムＦ１０１を透過した光（透過光）又は第１のフィルムＦ１０１で反射された光（反射光）を検出する複数の光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂとを有している。

【0106】

本実施形態では、透過光を検出する構成のため、第１のフィルムＦ１０１の搬送方向に並ぶ複数の照明部２１ａ，２２ａ，２３ａと光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂとが、それぞれ第１のフィルムＦ１０１を挟んで対向して配置されている。また、第１の欠陥検査装置１１では、このような透過光を検出する構成に限らず、反射光を検出する構成、若しくは透過光及び反射光を検出する構成であってもよい。反射光を検出する場合には、光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂを照明部２１ａ，２２ａ，２３ａ側に配置すればよい。

【0107】

照明部２１ａ，２２ａ，２３ａは、欠陥検査の種類に応じて光強度や波長、偏光状態等が調整された照明光を第１のフィルムＦ１０１に照射する。光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂは、ＣＣＤ等の撮像素子を用いて、第１のフィルムＦ１０１の照明光が照射された位置の画像を撮像する。光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂで撮像された画像（欠陥検査の結果）は、制御装置１６に出力される。

【0108】

第２の欠陥検査装置１２は、第２のフィルムＦ１０２及び第３のフィルムＦ１０３が貼合された後の第１のフィルムＦ１０１、すなわち両面貼合フィルムＦ１０５の欠陥検査を行うものである。具体的に、この第２の欠陥検査装置１２は、第１のフィルムＦ１０１に第２のフィルムＦ１０２及び第３のフィルムＦ１０３を貼合する際や、片面貼合フィルムＦ１０４及び両面貼合フィルムＦ１０５を搬送する際に生じた異物欠陥、凹凸欠陥、輝点欠陥などの各種欠陥を検出する。第２の欠陥検査装置１２は、第５の搬送ライン１０５で搬送される両面貼合フィルムＦ１０５に対して、例えば、反射検査、透過検査、斜め透過検査、クロスニコル透過検査などの検査処理を実行することにより、両面貼合フィルムＦ１０５の欠陥を検出する。

【0109】

第２の欠陥検査装置１２は、第５の搬送ライン１０５において、第５のニップロール１５１ａ，１５１ｂよりも下流側に、両面貼合フィルムＦ１０５に照明光を照射する複数の照明部２４ａ，２５ａと、両面貼合フィルムＦ１０５を透過した光（透過光）又は両面貼合フィルムＦ１０５で反射された光（反射光）を検出する複数の光検出部２４ｂ，２５ｂとを有している。

【0110】

本実施形態では、透過光を検出する構成のため、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向に並ぶ複数の照明部２４ａ，２５ａと光検出部２４ｂ，２５ｂとが、それぞれ両面貼合フィルムＦ１０５を挟んで対向して配置されている。また、第２の欠陥検査装置１２では、このような透過光を検出する構成に限らず、反射光を検出する構成、若しくは透過光及び反射光を検出する構成であってもよい。反射光を検出する場合には、光検出部２４ｂ，２５ｂを照明部２４ａ，２５ａ側に配置すればよい。

【0111】

照明部２４ａ，２５ａは、欠陥検査の種類に応じて光強度や波長、偏光状態等が調整された照明光を両面貼合フィルムＦ１０５に照射する。光検出部２４ｂ，２５ｂは、ＣＣＤ等の撮像素子を用いて、両面貼合フィルムＦ１０５の照明光が照射された位置の画像を撮像する。光検出部２４ｂ，２５ｂで撮像された画像（欠陥検査の結果）は、制御装置１６に出力される。

【0112】

記録装置１３は、第１の欠陥検査装置１１及び第２の欠陥検査装置１２の欠陥検査の結果に基づいて、欠陥箇所にマーキングを施す印字装置である。記録装置１３は、第５の搬送ライン１０５において、第２の欠陥検査装置１２よりも下流側に設けられている。記録装置１３は、例えばインクジェット方式を採用した複数の印字ヘッド１３ａを有している。なお、印字ヘッド１３ａについては、レーザー方式を採用したものであってもよい。

【0113】

複数の印字ヘッド１３ａは、図５に示すように、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向と交差する方向（幅方向）に並んで配置されている。また、各印字ヘッド１３ａには、インクを吐出するノズル部（印字部）１３ｂが両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向と交差する方向（幅方向）に所定の間隔で並んで配置されている。各印字ヘッド１３ａのノズル部１３ｂは、両面貼合フィルムＦ１０５に対向して、両面貼合フィルムＦ１０５の幅方向の一端側から他端側に亘って等間隔に並んで配置されている。

【0114】

また、複数の印字ヘッド１３ａと対向する位置には、両面貼合フィルムＦ１０５と接する第７のガイドロール１５３ｃが配置されている。そして、各印字ヘッド１３ａのノズル部１３ｂは、両面貼合フィルムＦ１０５の第７のガイドロール１５３ｃと接する位置とは反対側から、両面貼合フィルムＦ１０５の表面に向かってインクを吐出する。これにより、両面貼合フィルムＦ１０５の表面にドット状のマークを印字（マーキング）することが可能となっている。

【0115】

第１の測長器１４及び第２の測長器１５は、第１のフィルムＦ１０１の搬送量を測定するものである。具体的に、本実施形態では、第１の搬送ライン１０１において、第１のアキュームレーター１１２よりも上流側にある第１のニップロール１１１ａに第１の測長器１４を構成するロータリーエンコーダーと、第１のアキュームレーター１１２よりも下流側にある第３のニップロール１３１ａに第２の測長器１５を構成するロータリーエンコーダーとが配置されている。

【0116】

第１の測長器１４及び第２の測長器１５は、第１のフィルムＦ１０１に接して回転する第１のニップロール１１１ａ及び第３のニップロール１３１ａの回転変位量に応じて、ロータリーエンコーダーが第１のフィルムＦ１０１の搬送量を測定する。第１の測長器１４及び第２の測長器１５の測定結果は、制御装置１６に出力される。

【0117】

なお、本実施形態では、第１の欠陥検査装置１１と記録装置１３との間に、アキュームレーターが１つしか存在しないため、このアキュームレーターの上流側と下流側に測長器が１つずつ配置された構成となっている。一方、第１の欠陥検査装置１１と記録装置１３との間にアキュームレーターが複数存在する場合には、その最も上流側にあるアキュームレーターの上流側と、最も下流側にあるアキュームレーターの下流側に測長器が１つずつ配置された構成とすればよい。

【0118】

制御装置１６は、フィルム製造装置１００の各部を統括制御するものである。具体的に、この制御装置１６は、電子制御装置としてのコンピュータシステムを備えている。コンピュータシステムは、ＣＰＵ等の演算処理部と、メモリーやハードディスク等の情報記憶部とを概略備えている。

【0119】

制御装置１６の情報記憶部には、コンピュータシステムを制御するオペレーティングシステム（ＯＳ）や、演算処理部にフィルム製造装置１００の各部に各種の処理を実行させるプログラムなどが記録されている。また、制御装置１６は、フィルム製造装置１００の各部の制御に要する各種処理を実行するＡＳＩＣ等の論理回路を含んでいてもよい。また、制御装置１６は、コンピュータシステムの外部装置との入出力を行うためのインターフェースを含む。このインターフェースには、例えはキーボードやマウス等の入力装置や、液晶表示ディスプレイ等の表示装置、通信装置などが接続可能となっている。

【0120】

制御装置１６は、上述した第１の欠陥検査装置１１及び第２の欠陥検査装置１２の欠陥検査の結果に基づいて、複数の印字ヘッド１３ａのノズル部１３ｂの駆動を制御する制御部として機能する。すなわち、この制御装置１６は、光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂ及び光検出部２４ｂ，２５ｂで撮像された画像を解析して、欠陥の有無（位置）や種類などを判別する。そして、第１のフィルムＦ１０１や両面貼合フィルムＦ１０５に欠陥が存在すると判定した場合には、該当するノズル部１３ｂの駆動を制御して両面貼合フィルムＦ１０５の欠陥箇所にマーキングを施す欠陥マーキングを行う。

【0121】

また、欠陥マーキング装置１０では、両面貼合フィルムＦ１０５の欠陥検査位置と、欠陥箇所のマーキング位置との間にずれが生じないように、欠陥検査後に所定のタイミングで欠陥マーキングを行う。例えば、本実施形態では、第１の欠陥検査装置１１又は第２の欠陥検査装置１２による欠陥検査が行われた時刻以降に、搬送ラインＬ上で搬送されるフィルムの搬送量を算出し、算出された搬送量がオフセット距離と一致したときに、記録装置１３により欠陥マーキングが行われる。

【0122】

ここで、オフセット距離は、第１の欠陥検査装置１１及び第２の欠陥検査装置１２と、記録装置１３との間のフィルムの搬送距離を言う。厳密には、オフセット距離は、第１の欠陥検査装置１１及び第２の欠陥検査装置１２により欠陥検査が行われる位置（欠陥検査位置）と、記録装置１３によりマーキングが施される位置（マーキング位置）との間のフィルムの搬送距離として定義される。また、オフセット距離は、第１のアキュームレーター１１２を稼働させると変動する。

【0123】

第１のアキュームレーター１１２の非稼働時におけるオフセット距離（以下、第１のオフセット距離という。）は、予め制御装置１６の情報記憶部に記憶されている。具体的に、第１の欠陥検査装置１１及び第２の欠陥検査装置１２には、複数の光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂ及び光検出部２４ｂ，２５ｂが存在し、光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂ，２４ｂ，２５ｂ毎に欠陥検査が行われる。このため、制御装置１６の情報記憶部には、光検出部２１ｂ，２２ｂ，２３ｂ，２４ｂ，２５ｂ毎に第１のオフセット距離が記憶されている。

【0124】

第１のアキュームレーター１１２の稼働によってオフセット距離が変動する場合には、第１のアキュームレーター１１２の上流側と下流側との第１のフィルムＦ１０１の搬送量の差に基づいて、オフセット距離の補正値を算出する。すなわち、制御装置１６では、第１の測長器１４及び第２の測長器１５の測定結果から、第１のアキュームレーター１１２による第１のフィルムＦ１０１の蓄積量を算出し、この第１のフィルムＦ１０１の蓄積量に基づいてオフセット距離の補正値を算出する。

【0125】

欠陥マーキング装置１０では、第１のアキュームレーター１１２の稼働時に、オフセット距離の補正値に基づいて、記録装置１３がマーキングを施すタイミングを補正する。例えば、本実施形態では、第１の測長器１４及び第２の測長器１５の測定結果に基づいて、オフセット距離の補正値を算出する。制御装置１６は、この補正値及び第１のオフセット距離に基づいて、第１のアキュームレーター１１２の稼働時におけるオフセット距離（以下、第２オフセット距離という。）を算出する。

【0126】

本実施形態では、第１の測長器１４又は第２の測長器１５の測定結果に基づいて、第１の欠陥検査装置１１及び第２の欠陥検査装置１２による欠陥検査が行われた時刻以降に、搬送ラインＬ上で搬送されるフィルムの搬送量を算出し、算出された搬送量が第２のオフセット距離と一致したときに、記録装置１３により欠陥マーキングが行われる。

【0127】

また、本実施形態では、第１のアキュームレーター１１２の稼働時に、欠陥マーキングとは別に、第１のアキュームレーター１１２が稼働したことを示す情報（以下、アキュームレーター稼働情報という。）を両面貼合フィルムＦ１０５に記録してもよい。アキュームレーター稼働情報を記録した場合には、アキュームレーター稼働情報が付された部分の欠陥箇所をオペレーターが入念に検査することにより、マーキング位置のずれなどを検出することができる。これにより、良品部分を誤って欠陥箇所と判定する可能性が少なくなり、歩留りの向上が図られる。

【0128】

ところで、本実施形態の欠陥マーキング装置１０では、例えば図６に示すように、両面貼合フィルムＦ１０５の表面に、両面貼合フィルムＦ１０５の幅方向において隣り合う第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との間に欠陥Ｄが位置するように、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を印字する。

【0129】

本実施形態では、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２として、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）にドット状のマークＤＭを複数並べて印字する。マークＤＭは、目視観察により視認できる程度の大きさであり、具体的には、その直径が５ｍｍ以下（より好ましくは１ｍｍ以上且つ３ｍｍ以下）である。

【0130】

制御装置１６は、両面貼合フィルムＦ１０５の幅方向に並ぶ複数のノズル部１３ｂの中から、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を印字する２つのノズル部１３ｂを選択する。そして、これら選択された２つのノズル部１３ｂは、欠陥Ｄを挟んだ両面貼合フィルムＦ１０５の幅方向（短手方向）の両側に、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２とを印字する。

【0131】

この場合、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との間に欠陥Ｄが位置することによって、その間にある欠陥Ｄの位置を表示することができる。これにより、マーキング後の目視による検査（検品）において、欠陥Ｄの位置を容易に把握することが可能である。

【0132】

さらに、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との間隔によって、その間にある欠陥Ｄの大きさを認識することができる。したがって、選択される２つのノズル部１３ｂについては、両面貼合フィルムＦ１０５の幅方向に並ぶ複数のノズル部１３ｂのうち、必ずしも隣り合うノズル部１３ｂを選択する場合に限らず、欠陥Ｄの位置及び大きさに合わせて、２つのノズル部１３ｂを適宜選択すればよい。

【0133】

また、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との間に欠陥Ｄが位置することによって、両面貼合フィルムＦ１０５から欠陥部分を切り出したときに、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との何れか一方と、欠陥Ｄとの間で切断されることになる。

【0134】

この場合、切断により切り出された側と、切断により切り残された側とに、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との何れかが残存することになる。これにより、切断により切り出された側と、切断により切り残された側との何れに欠陥Ｄが位置しているのか、切断後に残存する第１の印字パターンＰＴ１又は第２の印字パターンＰＴ２によって、欠陥の位置を容易に確認することが可能である。

【0135】

また、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２については、消し取り可能なインクを用いて印字することが可能である。上述したように、マーキング後の目視による検査（検品）によっては、欠陥部分が製品として許容されることもある。この場合、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を消し取ることで、この部分を製品として使用することができ、収率の向上を図ることが可能である。

【0136】

消し取り可能なインクについては、ケトン類（メチルエチルケトン、アセトン等）、エステル類（酢酸エチル、プロピル＝アセタートサクサンプロピル等）、アルコール類（エタノール、２−プロパノール等）の中から適宜選択された溶剤に対して、着色剤や造膜用樹脂などを添加した油性インクを用いることができる。さらに、必要に応じて、硬化剤や界面活性剤などを添加してもよい。一方、インクを消し取るための溶剤については、上記溶剤と同じものを用いることができる。なお、トルエンやキシレンなどの芳香族炭化水素類の使用については、光学フィルム（偏光板）の材質を侵すため好ましくない。

【0137】

また、本実施形態の欠陥マーキング装置１０では、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との何れか一方又は両方の印字パターンによって、欠陥Ｄに関する情報を記録する。

【0138】

具体的に、制御装置１６は、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を印字する際に、選択されたノズル部１３ｂに対して、記録すべき欠陥Ｄに関する情報（欠陥情報）に応じて、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との何れか一方又は両方の印字パターン（本実施形態では、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２）を変更する制御を行う。

【0139】

例えば、本実施形態では、記録すべき欠陥情報に応じて、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を構成するマークＤＭの数と間隔を変更する。これにより、欠陥箇所にマーキングを施すと同時に、欠陥情報を記録することができる。

【0140】

欠陥情報は、欠陥Ｄの位置や種類、サイズ、検査方法（欠陥検査の種類）などの欠陥Ｄに関する情報である。第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２には、これらの欠陥情報が識別できるように、マークＤＭの数と間隔が予め設定されている。

【0141】

例えば、図６に示す第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２では、それぞれ両面貼合フィルムＦ１０５の一の方向である搬送方向（長手方向）に５つのマークＤＭが並んで印字されている。このうち、上流側に２つのマークＤＭと、下流側に３つマークＤＭとに別れて配置されている。また、上流側のマークＤＭと下流側のマークＤＭとの間にマーク１つ分の空白（間隔を空けた部分）Ｋが設けられている。

【0142】

空白Ｋは、両面貼合フィルムＦ１０５の他の方向である幅方向（短手方向）において欠陥Ｄとほぼ同列に配置されている。すなわち、この空白Ｋは、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）における欠陥Ｄの位置を表示している。なお、空白Ｋよりも欠陥Ｄが大きい場合には、空白Ｋを欠陥Ｄの中心と隣り合う位置に配置することが好ましい。

【0143】

この場合、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との間だけでなく、空白Ｋによって上流側のマークＤＭと下流側のマークＤＭとの間に欠陥Ｄが位置することを表示できる。これにより、欠陥Ｄの位置を更に容易に把握することが可能である。さらに、欠陥Ｄを跨いでチップを切り出した際には、残りのマークＤＭを見ることで、そのチップに欠陥Ｄが存在しているかを判別することが可能である。これにより、両面貼合フィルムＦ１０５の利用効率を向上させることができる。

【0144】

また、上流側と下流側のマークＤＭの数の違いから、両面貼合フィルムＦ１０５からの切り出された後でも、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（図６中の矢印で示す方向）を容易に把握できる。

【0145】

さらに、欠陥Ｄと空白Ｋの両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）におけるずれ量から、欠陥検査位置とマーキング位置との間のタイミングのずれ量が把握できる。そして、このずれ量に基づいて記録装置１３によるマーキングのタイミングを容易に調整することが可能である。

【0146】

空白Ｋの大きさについては、搬送方向に一定の間隔で並ぶマークＤＭの間隔（中心間距離）Ｔ１よりも、空白Ｋを挟んだ両側のマークＤＭの間隔（中心間距離）Ｔ２を大きくすることが好ましい。より具体的には、１．２≦Ｔ２／Ｔ１≦３．０の範囲とすることが好ましく、１．５≦Ｔ２／Ｔ１≦２．５の範囲とすることがより好ましい。

【0147】

以上のように、本実施形態によれば、上述した第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２によって、欠陥Ｄの位置を表示すると共に、欠陥情報を記録することが可能である。

【0148】

なお、本発明は、上記実施形態のものに必ずしも限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２については、上述したマークＤＭの数や間隔を変更する場合に限らず、それ以外にも、例えばサイズ（径）や色（赤、青、黒など。好ましくは黒。）などを変更することが可能である。すなわち、ドット状のマークＤＭの数、間隔、サイズ（径）、色のうち何れか１つ以上を変更すればよい。これにより、これらの印字パターンＰＴ１，ＰＴ２を更に細かく設定し、より多くの情報を記録することが可能である。

【0149】

また、例えば図７に示すように、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２については、上述したドット状のマークＤＭに限らず、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）に線状のマークＬＭを印字してもよい。

【0150】

この場合、上述したインクジェット方式の印字ヘッド１３ａだけでなく、例えば両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向と交差する方向（幅方向）に並ぶ複数のマーカ（印字部）を用いることができる。マーカについては、例えばペンマーカやレーザーマーカなど特に限定されるものではない。

【0151】

線状のマークＬＭを印字して欠陥情報を記録する場合は、記録すべき欠陥情報に応じて、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）に少なくとも１つ又は複数のマークＬＭを並べて配置し、線状のマークＬＭの数、間隔、サイズ（長さ、太さ）、色のうち何れか１つ以上を変更する。これにより、ドット状のマークＤＭを印字する場合と同様に、欠陥情報を記録することが可能である。また、線状のマークＬＭにおいて空白Ｋを設ける場合は、その空白Ｋの間隔を３〜５ｍｍ程度とすることが好ましい。

【0152】

また、例えば図８（ａ），（ｂ），（ｃ）に示すように、両面貼合フィルムＦ１０５の幅方向（短手方向）において、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との何れか一方又は両方と隣り合う第３の印字パターンＰＴ３を印字してもよい。

【0153】

この場合、制御装置１６は、上述した第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を印字する２つのノズル部１３ｂとは別に、第３の印字パターンＰＴ３を印字するノズル部１３ｂを選択する。第３の印字パターンＰＴ３を印字するノズル部１３ｂについては、記録すべき欠陥情報に応じて、少なくとも１つ又は複数のノズル部１３ｂを選択することができる。

【0154】

すなわち、第３の印字パターンＰＴ３については、図８（ａ）に示すように、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との何れか一方と隣接して印字する場合や、図８（ｂ）に示すように、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２の両側に隣接して印字する場合、図８（ｃ）に示すように、両面貼合フィルムＦ１０５の幅方向（短手方向）に複数並べて印字する場合など、記録すべき欠陥情報に応じて適宜選択することが可能である。

【0155】

また、第３の印字パターンＰＴ３については、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２との間に印字することも可能である。この場合、欠陥Ｄを挟んだ両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）の上流側又は下流側、若しくは両側に印字することが可能である。

【0156】

また、第３の印字パターンＰＴ３については、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２と同様に、ドット状のマークＤＭ又は線状のマークＬＭにより印字することができる。第３の印字パターンＰＴ３を変更する方法も、第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を変更する場合と同様である。

【0157】

したがって、欠陥情報については、上述した第１の印字パターンＰＴ１、第２の印字パターンＰＴ２及び第３の印字パターンＰＴ３の組み合わせによって、更に多くの情報を記録することが可能である。

【0158】

上述した第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３の何れかにより記録される欠陥情報については、例えば欠陥Ｄの種類などに応じて、どの印字パターンを変更するか、また、その変更される印字パターンを構成するマークＤＭ（ＬＭ）の数や間隔、サイズ（径、長さ、太さ）、色のうち何れを変更するかを予め設定しておけばよい。これにより、欠陥Ｄの種類などを予め設定されたルールに従って識別することが可能である。

【0159】

例えば、欠陥Ｄの種類については、例えば図９（ａ）に示す異物系、図９（ｂ）に示す気泡系、図９（ｃ）に示す輝点系、図９（ｄ）に示す皺系などを挙げることができる。このうち、図９（ａ）に示す異物系は、両面貼合フィルムＦ１０５に異物が混入したことにより生じる欠陥Ｄである。一方、図９（ｂ）に示す気泡系は、両面貼合フィルムＦ１０５に気泡が生じたことによる欠陥Ｄである。このような気泡は、異物が混入したときに異物を中心に噛み込むことがある。一方、図９（ｃ）に示す輝点系は、偏光フィルムとなる第１のフィルムＦ１０１に生じた欠陥Ｄであり、偏光フィルムに対して検光子をクロスニコルで配置したときに輝点（光抜け）として観察される欠陥Ｄである。一方、図９（ｄ）に示す皺系の欠陥Ｄは、両面貼合フィルムＦ１０５に皺が生じたことによる欠陥Ｄである。

【0160】

本実施形態では、空白Ｋを挟んだ上流側のマークＤＭと下流側のマークＤＭとのうち、上流側に配置されるマークＤＭの数を欠陥Ｄの種類に応じて異ならせている。例えば、上流側に配置されるマークＤＭの数は、図９（ａ）に示す異物系で３つ、図９（ｂ）に示す気泡系で１つ、図９（ｃ）に示す輝点系で２つ、図９（ｄ）に示す皺系で４つとなっている。これにより、上流側に配置されるマークＤＭの数から欠陥Ｄの種類を容易に識別することができる。

【0161】

また、本発明では、上述した第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３のうち何れかの印字パターンを変更することによって、欠陥Ｄ以外に関する情報を記録することも可能である。

【0162】

例えば、欠陥Ｄ以外に関する情報としては、製造条件や、製造場所、同一種の欠陥の発生頻度及びその周期性の有無などの製造情報を記録することが可能である。また、これらの製造情報を組み合わせることで、欠陥Ｄの発生原因や場所、工程などを特定することが可能である。これにより、欠陥Ｄの原因となった設備のメンテナンスを行うなどの対応によって、欠陥Ｄの発生を低減することが可能となる。

【0163】

ここで、上述した偏光フィルムの製造工程において、偏光子（ＰＶＡ）の両面に保護フィルム（ＴＡＣ）を貼合する工程（第１の工程）で欠陥Ｄ１が発生した場合を図１０（ａ）に示す。また、第１の工程の後に、一方の保護フィルム（ＴＡＣ）の面上に粘着剤とセパレータとを貼合する工程（第２の工程）で欠陥Ｄ２が発生した場合を図１０（ｂ）に示す。

【0164】

そして、第１の工程で発生した欠陥Ｄ１に対しては、例えば図１１（ａ）に示すような第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を印字する。一方、第２の工程で発生した欠陥Ｄ２に対しては、例えば図１１（ｂ）に示すような第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２を印字する。

【0165】

この場合、図１１（ａ），（ｂ）に示す欠陥Ｄ１，Ｄ２の位置については、それぞれの欠陥Ｄ１，Ｄ２を挟んだ両側に第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２とを印字し、なお且つ、一定の間隔で並ぶマークＤＭの間に空白Ｋを設けることによって、その位置を表示することができる。

【0166】

また、欠陥Ｄ１，Ｄ２に記録された情報については、第１の印字パターンＰＴ１と第２の印字パターンＰＴ２によって、欠陥Ｄ１，Ｄ２の種類（欠陥情報）と、第１の工程と第２の工程の何れかの工程で発生した欠陥Ｄ１，Ｄ２であるかの情報（製造情報）とが記録されている。

【0167】

具体的に、欠陥Ｄ１，Ｄ２の種類については、第１及び第２の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２を構成するマークＤＭの色によって区別されている。例えば、透過欠陥（青）、クロス欠陥（赤）、反射欠陥（緑）といったようにマークＤＭの色の違いによって、欠陥Ｄ１，Ｄ２の種類を識別することができる。

【0168】

一方、第１及び第２の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２では、空白Ｋよりも上流側（マークＤＭの数が少ない方）のマークＤＭの数によって、第１の工程と第２の工程の何れかの工程で発生した欠陥Ｄ１，Ｄ２であるかの情報が記録されている。例えば、第１及び第２の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２の上流側のマークＤＭの数が１つの場合は、第１の工程で発生した欠陥Ｄ１であることを示し、２つの場合は、第２の工程で発生した欠陥Ｄ２であることを示している。

【0169】

また、図１１（ｂ）に示す第１及び第２の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２に加えて、図１１（ｃ）に示すような第３の印字パターンＰＴ３を印字してもよい。第３の印字パターンＰＴ３については、マークＤＭの数によって、積層された偏光フィルムのうち何番目の層に欠陥Ｄ２が存在しているかの情報（欠陥情報）が記録されている。例えば、図１１（ｃ）に示す第３の印字パターンＰＴ３については、３つのマークＤＭによって構成されているため、積層順で３番目の層（ＴＡＣ）に欠陥Ｄ２が存在していることを識別することができる。

【0170】

以上のようにして、本発明では、偏光フィルムに対して、上述した第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ３を印字することによって、欠陥Ｄ１，Ｄ２の位置を表示すると共に、その欠陥Ｄ１，Ｄ２に関する情報等を記録することが可能である。

【0171】

また、本発明では、例えば図１２に示す第１の印字パターンＰＴ１及び第２の印字パターンＰＴ２のように、上述した空白Ｋを設ける代わりに、マークＤＭの間隔を狭めることによって、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）における欠陥Ｄの位置を表示してもよい。

【0172】

さらに、本発明では、両面貼合フィルムＦ１０５の搬送方向（長手方向）における欠陥Ｄの位置を表示するため、上述した空白Ｋを設ける（マークＤＭの間隔を変える）代わりに、マークＤＭの大きさを変えたり、第３の印字パターンＰＴ３を用いて欠陥Ｄの位置を表示したりすることも可能である。

【0173】

本発明では、上述した第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３のうち何れかの印字パターンの組み合わせによって、例えば図１３（ａ）〜（ｇ）に示すように、欠陥Ｄの周囲に様々な印字パターンを印字することが可能である。

【0174】

このうち、図１３（ａ）に示す印字パターンでは、４つのマークＤＭが欠陥Ｄの周囲を四方で囲むように、第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３が印字されている。一方、図１３（ｂ）に示す印字パターンでは、４つのマークＤＭが欠陥Ｄの周囲を三方で囲むように、第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３が印字されている。一方、図１３（ｃ）に示す印字パターンでは、５つのマークＤＭが欠陥Ｄの周囲を隣接する二辺で囲むように、第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３が印字されている。一方、図１３（ｄ）に示す印字パターンでは、６つのマークＤＭが欠陥Ｄの周囲を隣接する３辺で囲むように、第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３が印字されている。一方、図１３（ｅ）に示す印字パターンでは、１４つのマークＤＭが欠陥Ｄの周囲を四辺で囲むように、第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３が印字されている。一方、図１３（ｆ）に示す印字パターンでは、６つのマークＤＭが欠陥Ｄの周囲を斜めに対向する二辺で囲むように、第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３が印字されている。一方、図１３（ｇ）に示す印字パターンでは、８つのマークＤＭが欠陥Ｄの周囲を四方で囲むように、第１、第２及び第３の印字パターンＰＴ１，ＰＴ２，ＰＴ３が印字されている。

【0175】

なお、上記記録装置１３は、第２の欠陥検査装置１２の下流側に配置された構成となっているが、第１の欠陥検査装置１１の下流側に配置することも可能である。この場合、第１の欠陥検査装置１１による欠陥検査を行った後に、記録装置１３による欠陥情報の記録を行うことが可能である。

【0176】

また、上記記録装置１３については、上述した欠陥検査後に欠陥情報を記録するものに限定されるものではない。例えば、長距離の搬送ラインでは、記録装置を複数配置し、一定距離毎に距離情報の記録を行い、この記録された距離情報に基づいて距離の補正を行うことがある。このような距離情報の記録を行う記録装置については、例えば、第１の欠陥検査装置１１の上流側などに配置されることがある。

【0177】

また、上記記録装置１３については、上述した複数のノズル部１３ｂが並んで配置された複数の印字ヘッド１３ａを備えた構成に限らず、例えば、トラバース式の印字ヘッドを用いた場合には、この印字ヘッドを移動操作することで、フィルムの形状や搬送方向に関係なく、欠陥箇所にマーキングを施すことが可能である。

【0178】

なお、欠陥マーキング装置１０は、上記フィルム製造装置１００の一部を構成するものに限らず、上記フィルム製造装置１００とは独立した欠陥マーキング装置とすることが可能である。具体的には、第３の原反ロールＲ３から巻き出された両面貼合フィルムＦ１０５を搬送する間に、両面貼合フィルムＦ１０５の欠陥検査を行い、欠陥検査の結果に基づいて両面貼合フィルムＦ１０５の欠陥箇所にマーキングを施した後、再び芯材に巻き取る構成とすることが可能である。

【0179】

また、上記フィルム製造装置１００では、欠陥箇所にマーキングを施さず、追加の加工工程において欠陥箇所にマーキングを施してもよい。具体的には、第３の原反ロールＲ３から巻き出された両面貼合フィルムＦ１０５を搬送する間に、両面貼合フィルムＦ１０５の一方又は両面に、別のフィルムを貼合した後、欠陥検査を行い、上記フィルム製造装置１００の欠陥検査の結果と併せて、欠陥箇所にマーキングを施してもよい。

【0180】

なお、本発明の検査対象（被検査物）となる原反については、上述した偏光フィルムや位相差フィルム、輝度向上フィルムといった光学フィルムに必ずしも限定されるものではなく、欠陥箇所にマーキングが施されるフィルムや紙などの長尺帯状の原反であればよい。

【0181】

また、本発明の検査対象（被検査物）としては、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシート（チップ）であってもよい。すなわち、本発明では、上述した原反を搬送する間に、原反の欠陥検査を行い、欠陥検査の結果に基づいて原反の欠陥箇所にマーキングを施す場合に限らず、切断後にシートの欠陥検査を行い、その欠陥検査の結果に基づいてシートの欠陥箇所にマーキングを施してもよい。また、シートの欠陥検査とシートの欠陥箇所へのマーキングを実施する間に、シートに対して加工処理（例えば、別のフィルムの貼合や、シートの表面処理など。）を施してもよい。これにより、被検査物が原反である場合と同様に、被検査物であるシートに対して、本発明の欠陥マーキング方法（装置）を用いて、欠陥の位置を表示すると共に、その欠陥に関する情報等を記録することが可能である。さらに、本発明は、上述した原反やシート以外にも、本発明が適用可能なものに対して幅広く適用することが可能である。

【符号の説明】

【0182】

１００…フィルム製造装置（原反の製造装置） １０１…第１の搬送ライン １０２…第２の搬送ライン １０３…第３の搬送ライン １０４…第４の搬送ライン １０５…第５の搬送ライン １０６…巻取部 １１１ａ，１１１ｂ…第１のニップロール １１２…第１のアキュームレーター １１２ａ，１１２ｂ…第１のダンサーロール １１３…第１のガイドロール １２１ａ，１２１ｂ…第２のニップロール １２２…第２のアキュームレーター １２２ａ，１２２ｂ…第２のダンサーロール １２３ａ，１２３ｂ…第２のガイドロール １３１ａ，１３１ｂ…第３のニップロール １４１ａ，１４１ｂ…第４のニップロール １４２…第３のアキュームレーター １４２ａ，１４２ｂ…第３のダンサーロール １４３ａ，１４３ｂ…第４のガイドロール １５１ａ，１５１ｂ…第５のニップロール １５２…第４のアキュームレーター １５２ａ，１５２ｂ…第４のダンサーロール １５３ａ…第５のガイドロール １５３ｂ…第６のガイドロール １５３ｃ…第７のガイドロール
１０…欠陥マーキング装置 Ｌ…搬送ライン １１…第１の欠陥検査装置 １２…第２の欠陥検査装置 １３…記録装置（印字装置） １３ａ…印字ヘッド １３ｂ…ノズル部（印字部） １４…第１の測長器 １５…第２の測長器 １６…制御装置（制御部） ２１ａ，２２ａ，２３ａ，２４ａ，２５ａ…照明部 ２１ｂ，２２ｂ，２３ｂ，２４ｂ，２５ｂ…光検出部
Ｐ…液晶表示パネル（光学表示デバイス） Ｆ１Ｘ…光学フィルム Ｆ１０Ｘ…光学フィルム Ｆ１０１…第１のフィルム Ｆ１０２…第２のフィルム Ｆ１０３…第３のフィルム Ｆ１０４…片面貼合フィルム Ｆ１０５…両面貼合フィルム（原反） ＤＭ…ドット状のマーク ＬＭ…線状のマーク ＰＴ１…第１の印字パターン ＰＴ２…第２の印字パターン ＰＴ３…第３の印字パターン Ｄ…欠陥 Ｋ…空白

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】