特開 2022-102655 静電座標入力装置および静電座標算出方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022102655

(43)【公開日】2022-07-07

(54)【発明の名称】静電座標入力装置および静電座標算出方法

(51)【国際特許分類】

   G06F 3/041 20060101AFI20220630BHJP

   G06F 3/044 20060101ALI20220630BHJP

【ＦＩ】

G06F3/041 520

G06F3/041 512

G06F3/044 120

G06F3/041 590

【審査請求】未請求

【請求項の数】8

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020217513

(22)【出願日】2020-12-25

(71)【出願人】

【識別番号】000010098

【氏名又は名称】アルプスアルパイン株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100107766

【弁理士】

【氏名又は名称】伊東 忠重

(74)【代理人】

【識別番号】100070150

【弁理士】

【氏名又は名称】伊東 忠彦

(72)【発明者】

【氏名】中嶋 智

(72)【発明者】

【氏名】遠藤 新一

(72)【発明者】

【氏名】渡邊 実

(72)【発明者】

【氏名】ハリャディ ハリー

(57)【要約】

【課題】操作面に対して操作者の２本の指による近接操作が同時になされた場合、当該２本の指の各々の近接位置の検出精度を高めること。
【解決手段】静電座標入力装置は、静電容量方式により、操作面に対する操作者の指の近接位置を検出する指検出部と、指検出部によって２本の指に対応する２つの近接位置が検出された場合、当該２つの近接位置間の距離を広げる方向に、２つの近接位置を補正する補正部とを備える。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

静電容量方式により、操作面に対する操作者の指の近接位置を検出する指検出部と、
前記指検出部によって２本の前記指に対応する２つの前記近接位置が検出された場合、当該２つの近接位置間の距離を広げる方向に、前記２つの近接位置を補正する補正部と
を備えることを特徴とする静電座標入力装置。

【請求項2】

前記補正部は、
前記２つの近接位置間の距離が、所定の閾値未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を広げる方向に、前記２つの近接位置を補正する
ことを特徴とする請求項１に記載の静電座標入力装置。

【請求項3】

前記補正部は、
前記２つの近接位置間の距離が、所定の閾値未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を、当該２つの近接位置間の距離よりも大きい所定の距離に補正する
ことを特徴とする請求項２に記載の静電座標入力装置。

【請求項4】

前記補正部は、
前記２つの近接位置間の距離が、所定の閾値未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を、当該２つの近接位置間の距離が長いほど、当該２つの近接位置間の距離よりも大きい所定の距離との差が小さくなるように補正する
ことを特徴とする請求項２に記載の静電座標入力装置。

【請求項5】

前記補正部は、
前記２つの近接位置間の距離が短いほど、補正量が多くなるように、当該２つの近接位置間の距離を広げる方向に、前記２つの近接位置を補正する
ことを特徴とする請求項１に記載の静電座標入力装置。

【請求項6】

前記指検出部は、
静電容量値の変化量が極大値である検出電極の位置に基づいて、曲線近似計算法により、２つの前記近接位置の各々の座標を算出する
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載の静電座標入力装置。

【請求項7】

前記指検出部は、
静電容量値の変化量が極大値である検出電極の位置に基づいて、重心計算法により、２つの前記近接位置の各々の座標を算出する
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載の静電座標入力装置。

【請求項8】

静電容量方式により、操作面に対する操作者の指の近接位置を検出する指検出工程と、
前記指検出工程によって２本の前記指に対応する２つの前記近接位置が検出された場合、当該２つの近接位置間の距離を広げる方向に、前記２つの近接位置を補正する補正工程と
を含むことを特徴とする静電座標算出方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、静電座標入力装置および静電座標算出方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、静電容量方式によって指の近接位置を検出する静電座標入力装置において、静電容量の変化量が極大値となる検出電極の座標と、それに隣接する検出電極の座標とを通過する２次曲線のピークの座標を、指の近接位置の座標として補完的に算出する技術が用いられている（例えば、下記特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１３－３９７８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、従来技術では、特に解像度が低い製品（例えば、検出電極数が少ない製品、検出電極から離れた指を検出する製品等)において、操作面に対して操作者の２本の指による近接操作が同時になされた場合、２本の指の各々による静電容量の変化が、相互に影響を及ぼしてしまうため、２次曲線における２つのピークの座標が互いに近づく方向に変動し、２本の指の各々の近接位置の検出精度が低下する虞がある。

【課題を解決するための手段】

【0005】

一実施形態に係る静電座標入力装置は、静電容量方式により、操作面に対する操作者の指の近接位置を検出する指検出部と、指検出部によって２本の指に対応する２つの近接位置が検出された場合、当該２つの近接位置間の距離を広げる方向に、２つの近接位置を補正する補正部とを備える。

【発明の効果】

【0006】

一実施形態によれば、操作面に対して操作者の２本の指による近接操作が同時になされた場合、当該２本の指の各々の近接位置の検出精度を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】一実施形態に係る静電座標入力装置の構成を示すブロック図

【図2】一実施形態に係る制御装置の機能構成を示すブロック図

【図3】一実施形態に係る制御装置による処理の手順を示すフローチャート

【図4】一実施形態に係る制御装置（指検出部）による２つの近接位置の算出例を示す図

【図5】一実施形態に係る静電座標入力装置において生じ得る静電容量の変化量の誤差の一例を示す図

【図6】一実施形態に係る制御装置（補正部）による各補正方法の補正前の算出値と補正後の算出値との関係を示す図

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、図面を参照して、本発明の一実施形態について説明する。

【0009】

図１は、一実施形態に係る静電座標入力装置１０の構成を示すブロック図である。図１に示す静電座標入力装置１０は、操作者の指による操作面１０Ａに対する近接操作が可能な装置であり、静電容量方式（自己容量検出方式または相互容量検出方式）により、操作面１０Ａに対する操作者の指の近接位置を検出可能な装置である。

【0010】

図１に示すように、静電座標入力装置１０は、センサ基板１１、Ｘ軸側検出部１４、Ｙ軸側検出部１５、Ａ／Ｄ変換部１６、記憶部１７、制御装置２０、およびインタフェース部１９を備える。

【0011】

センサ基板１１は、操作面１０Ａ（図４参照）の裏側に重ねて設けられている。センサ基板１１には、Ｘ軸方向（図１の横方向）の静電容量を検出するための複数のＸ軸電極１２と、Ｙ軸方向（図１の縦方向）の静電容量を検出するための複数のＹ軸電極１３とがマトリクス状に並設されている。

【0012】

Ｘ軸側検出部１４は、複数のＸ軸電極１２の各々の静電容量を検出する。また、Ｘ軸側検出部１４は、検出された複数のＸ軸電極１２の各々の静電容量を示す検出信号（アナログ信号）を出力する。

【0013】

Ｙ軸側検出部１５は、複数のＹ軸電極１３の各々の静電容量を検出する。また、Ｙ軸側検出部１５は、検出された複数のＹ軸電極１３の各々の静電容量を示す検出信号（アナログ信号）を出力する。

【0014】

Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部１６は、Ｘ軸側検出部１４から出力された検出信号およびＹ軸側検出部１５から出力された検出信号をデジタル信号に変換し、制御装置２０へ供給する。

【0015】

記憶部１７は、各種情報を記憶する。記憶部１７に記憶される情報としては、例えば、Ｘ軸側検出部１４によって検出された複数のＸ軸電極１２の各々の静電容量値、Ｙ軸側検出部１５によって検出された複数のＹ軸電極１３の各々の静電容量値、制御装置２０によって実行されるプログラム、等が挙げられる。

【0016】

制御装置２０は、Ｘ軸側検出部１４からＡ／Ｄ変換部１６を介して供給された検出信号によって特定される、複数のＸ軸電極１２の各々の静電容量の変化に基づいて、操作面１０Ａに対する指のＸ軸方向の近接位置を検出する。また、制御装置２０は、Ｙ軸側検出部１５からＡ／Ｄ変換部１６を介して供給された検出信号によって特定される、複数のＹ軸電極１３の各々の静電容量の変化に基づいて、操作面１０Ａに対する指のＹ軸方向の近接位置を検出する。そして、制御装置２０は、特定された指の近接位置を示す座標情報を出力する。なお、制御装置２０の機能の詳細については、図２を用いて後述する。

【0017】

インタフェース部１９は、制御装置２０から出力された指の近接位置を示す座標情報を、外部機器（図示省略）に出力する。例えば、外部機器は、インタフェース部１９から出力された、指の近接位置を示す座標情報に応じて、当該座標に対応する所定の処理を実行する。

【0018】

（制御装置２０の機能構成）
図２は、一実施形態に係る制御装置２０の機能構成を示すブロック図である。図２に示すように、制御装置２０は、静電容量算出部２１、指検出部２２、補正部２３、および出力部２４を備える。

【0019】

静電容量算出部２１は、Ｘ軸側検出部１４およびＹ軸側検出部１５からＡ／Ｄ変換部１６を介して供給される検出信号に基づいて、各検出電極の静電容量の変化量を算出する。

【0020】

指検出部２２は、静電容量算出部２１によって検出された各検出電極の静電容量の変化量に基づいて、Ｘ軸方向およびＹ軸方向のそれぞれについて、操作者の指の近接位置を検出する。

【0021】

本実施形態では、指検出部２２は、Ｘ軸方向およびＹ軸方向のそれぞれについて、曲線近似計算法を用いて、操作者の指の近接位置を検出することができる。具体的には、指検出部２２は、Ｘ軸方向およびＹ軸方向のそれぞれについて、下記数式（１）により、静電容量の変化量が最も大きい電極をピーク電極として、ピーク電極と、ピーク電極よりも１つ前の電極と、ピーク電極よりも１つ後の電極とを通る２次曲線の頂点を、操作者の指の近接位置として算出することができる。

【0022】

【数1】

【0023】

但し、上記数式（１）において、ＸＱは、操作者の指の近接位置の座標を示す。また、Ｘ_ｐｋは、ピーク電極における静電容量の変化量を示す。また、Ｘ_ｐｋ－１は、ピーク電極よりも１つ前の検出電極における静電容量の変化量を示す。また、Ｘ_ｐｋ＋１は、ピーク電極よりも１つ後の検出電極における静電容量の変化量を示す。また、ＲＥＳＯは、電極間分解能を示す。また、Ｘ_ＯＦＳは、ピーク電極の座標を示す。

【0024】

また、本実施形態では、指検出部２２は、操作面１０Ａに対して操作者の２本の指による近接操作がなされた場合、制御装置２０は、Ｘ軸方向およびＹ軸方向のそれぞれについて、操作者の２本の指の各々の近接位置を特定することができる。

【0025】

補正部２３は、指検出部２２によって検出された２つの近接位置の距離が、所定の閾値よりも短い場合、当該２つの近接位置の距離を広げる方向に、当該２つの近接位置を補正する。特に、本実施形態では、補正部２３は、指検出部２２によって検出された２つの近接位置の距離が、所定の閾値未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を、当該２つの近接位置間の距離よりも大きい所定の距離に補正する。例えば、補正部２３は、指検出部２２によって検出された２つの近接位置の距離が、「２１ｍｍ」（「所定の閾値」の一例）未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を、「２１ｍｍ」（「所定の距離」の一例）に補正する。

【0026】

出力部２４は、指検出部２２によって検出された操作者の指の近接位置を示す座標情報を出力する。または、出力部２４は、補正部２３によって補正された操作者の指の近接位置を示す座標情報を出力する。

【0027】

なお、制御装置２０は、ハードウェア構成として、プロセッサ（例えば、ＣＰＵ）、記憶媒体（例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＳＳＤ（Solid State Drive）等）、通信インタフェース等を備えて構成されている。例えば、図２に示す制御装置２０の各機能部は、記憶媒体に記憶されているプログラムを、プロセッサが実行することによって実現される。また、Ａ／Ｄ変換部１６、記憶部１７、およびインタフェース部１９の少なくともいずれか一つは、制御装置２０に設けられてもよい。

【0028】

（制御装置２０による処理の手順）
図３は、一実施形態に係る制御装置２０による処理の手順を示すフローチャートである。

【0029】

まず、制御装置２０の静電容量算出部２１が、Ｘ軸側検出部１４およびＹ軸側検出部１５からＡ／Ｄ変換部１６を介して供給される検出信号に基づいて、各検出電極の静電容量の変化量を算出する（ステップＳ３０１）。

【0030】

次に、制御装置２０の指検出部２２が、ステップＳ３０１で算出された各検出電極の静電容量の変化量に基づいて、操作面１０Ａにおける指近接領域を特定する（ステップＳ３０２）。例えば、指検出部２２は、静電容量の変化量が所定の閾値よりも大きい複数の検出電極を含む領域を、指近接領域として検出する。

【0031】

次に、制御装置２０の指検出部２２が、ステップＳ３０２で特定された指近接領域に含まれる複数の検出電極の静電容量の変化量を比較することにより、当該複数の検出電極のうち、静電容量の変化量が極大値となる検出電極を特定する（ステップＳ３０３）。

【0032】

次に、制御装置２０の指検出部２２が、ステップＳ３０３で特定された静電容量の変化量が極大値となる検出電極に基づいて、２つの近接位置が検出されたか否か（すなわち、２本の指が検出されたか否か）を判断する（ステップＳ３０４）。例えば、ステップＳ３０３において、２つの検出電極が特定された場合、指検出部２２は、２つの近接位置が検出されたと判断する。

【0033】

ステップＳ３０４において、２つの近接位置が検出されていないと判断された場合（ステップＳ３０４：Ｎｏ）、すなわち、１つの近接位置が検出されていないと判断した場合、指検出部２２が、曲線近似計算法を用いて、１つの近接位置の座標を算出する（ステップＳ３０５）。そして、出力部２４が、ステップＳ３０５で算出された１つ座標を含む座標情報を出力する（ステップＳ３１０）。その後、制御装置２０は、図３に示す一連の処理を終了する。

【0034】

一方、ステップＳ３０４において、２つの近接位置が検出されたと判断された場合（ステップＳ３０４：Ｙｅｓ）、指検出部２２が、曲線近似計算法を用いて、２つの近接位置の各々の座標を算出する（ステップＳ３０６）。

【0035】

次に、補正部２３が、ステップＳ３０６で算出された２つの座標間の距離を算出する（ステップＳ３０７）。そして、補正部２３が、ステップＳ３０７で算出された距離が所定の閾値（例えば、「２１ｍｍ」）未満であるか否かを判断する（ステップＳ３０８）。

【0036】

ステップＳ３０８において、２つの座標間の距離が所定の閾値未満ではないと判断された場合（ステップＳ３０８：Ｎｏ）、出力部２４が、ステップＳ３０６で算出された２つの座標を含む座標情報を出力する（ステップＳ３１０）。その後、制御装置２０は、図３に示す一連の処理を終了する。

【0037】

一方、ステップＳ３０８において、２つの座標間の距離が所定の閾値未満であると判断された場合（ステップＳ３０８：Ｙｅｓ）、補正部２３が、２つの座標間の距離が広がる方向の所定の距離（例えば、「２１ｍｍ」）となるように、且つ、２つの座標を補正する（ステップＳ３０９）。例えば、補正部２３は、２つの座標を結ぶ線分と、その線分の中心点とを求め、その中心点から２つの座標までの距離が等しくなるように、２つの座標を補正する。

【0038】

そして、出力部２４が、ステップＳ３０９で補正されることによって得られた２つの座標を含む座標情報を出力する（ステップＳ３１０）。その後、制御装置２０は、図３に示す一連の処理を終了する。

【0039】

この実施形態では、２本の指を２１ｍｍ以下に接近させて回転させると、同一間隔（２１ｍｍ）で指を回転させたものとして出力される。

【0040】

（２つの近接位置の算出例）
図４は、一実施形態に係る制御装置２０（指検出部２２）による２つの近接位置の算出例を示す図である。

【0041】

図４に示す例では、センサ基板１１には、１５本のＸ軸電極１２（Ｘ０～Ｘ１４）と、１５本のＹ軸電極１３（Ｙ０～Ｙ１４）とが、マトリクス状に、且つ、操作面１０Ａに重ねて設けられている。また、図４に示す例では、操作面１０Ａに対して、操作者の２本の指３０Ａ，３０Ｂによる近接操作がなされている。

【0042】

図４に示すように、Ｘ軸方向においては、指３０Ａと重なるＸ軸電極Ｘ４と、指３０Ｂと重なるＸ軸電極Ｘ１０とのそれぞれにおいて、静電容量の変化量のピークが生じている。

【0043】

例えば、制御装置２０の指検出部２２は、曲線近似計算法を用いて、Ｘ軸電極Ｘ４と、その前後のＸ軸電極Ｘ３，Ｘ５とを通過する二次曲線の頂点位置のＸ軸座標を、指３０Ａの近接位置のＸ軸座標として算出することができる。

【0044】

同様に、制御装置２０の指検出部２２は、曲線近似計算法を用いて、Ｘ軸電極Ｘ１０と、その前後のＸ軸電極Ｘ９，Ｘ１１とを通過する二次曲線の頂点位置のＸ軸座標を、指３０Ｂの近接位置のＸ軸座標として算出することができる。

【0045】

また、図４に示すように、Ｙ軸方向においては、指３０Ａと重なるＹ軸電極Ｙ１０と、指３０Ｂと重なるＹ軸電極Ｙ４とのそれぞれにおいて、静電容量の変化量のピークが生じている。

【0046】

例えば、制御装置２０の指検出部２２は、曲線近似計算法を用いて、Ｙ軸電極Ｙ１０と、その前後のＹ軸電極Ｙ９，Ｙ１１とを通過する二次曲線の頂点位置のＹ軸座標を、指３０Ａの近接位置のＹ軸座標として算出することができる。

【0047】

同様に、制御装置２０の指検出部２２は、曲線近似計算法を用いて、Ｙ軸電極Ｙ４と、その前後のＹ軸電極Ｙ３，Ｙ５とを通過する二次曲線の頂点位置のＹ軸座標を、指３０Ｂの近接位置のＹ軸座標として算出することができる。

【0048】

（静電容量の変化量の誤差の一例）
図５は、一実施形態に係る静電座標入力装置１０において生じ得る静電容量の変化量の誤差の一例を示す図である。

【0049】

図５において、破線は、２本の指間の距離を「２０ｍｍ」とした場合において、２つの指の各々を個別に検出したときの、各検出電極の静電容量の変化量を示している。一方、図５において、実線は、２つの指間の距離を「２０ｍｍ」とした場合において、２つの指の各々を同時に検出したときの、各検出電極の静電容量の変化量を示している。また、図５に示すグラフにおいて、横軸は、検出電極の番号および位置を示し、縦軸は、静電容量値の変化量を示す。また、図５に示すグラフでは、電極間の間隔が「５ｍｍ」であることを前提としている。

【0050】

図５にて破線で示すように、２本の指を個別に検出した場合には、一方の指による静電容量の変化が、他方の指による静電容量の変化を与えないため、２つのピーク電極間の距離が、実際の２本の指間の距離（「２０ｍｍ」）と略等しくなる。一方、図５にて実線で示すように、２本の指を同時に検出した場合には、２本の指による静電容量の変化が合成されるため、２つのピーク電極間の距離が、実際の２本の指間の距離（「２０ｍｍ」）よりも短くなる虞がある。この場合、指検出部２２によって算出される２つの近接位置間の距離は、実際の２本の指間の距離よりも短くなる虞がある。

【0051】

そこで、一実施形態に係る制御装置２０は、指検出部２２によって算出された２つの近接位置間の距離が、所定の閾値（例えば、「２１ｍｍ」）未満の場合、２つの近接位置の距離を、所定の距離（例えば、「２１ｍｍ」）に補正する。これにより、一実施形態に係る制御装置２０は、２つの近接位置間の距離が、実際の２本の指間の距離と略等しくなるように、２つの近接位置の各々の座標を補正することができる。その結果、一実施形態に係る制御装置２０は、操作面１０Ａに対して操作者の２本の指による近接操作がなされた場合、当該２本の指の各々の近接位置の検出精度を高めることができる。

【0052】

なお、本実施形態において、所定の距離を「２１ｍｍ」としているのは、一般的に、隣接する２本指（例えば、人差し指および中指）を密着させた状態で、２本の指の中心同士の間隔が「２１ｍｍ」よりも小さくなることが考え難いからである。

【0053】

（補正方法の比較例）
図６は、一実施形態に係る制御装置２０（補正部２３）による各補正方法の補正前の算出値と補正後の算出値との関係を示す図である。

【0054】

図６では、補正部２３による第１の補正方法の補正前の算出値と補正後の算出値との関係が、実線で表されている。図６に示すグラフにおいて、横軸は、２つの近接位置間の距離の補正前の算出値を示し、縦軸は、２つの近接位置間の距離の補正後の算出値を示す。

【0055】

図６では、補正部２３による第１の補正方法の補正前の算出値と補正後の算出値との関係が、実線で表されている。第１の補正方法は、２つの近接位置間の距離が、所定の閾値未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を、当該２つの近接位置間の距離よりも大きい所定の距離に補正する補正方法である。例えば、図６では、第１の補正方法として、２つの近接位置間の距離が、「２１ｍｍ」（「所定の閾値」の一例）未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を、「２１ｍｍ」（「所定の距離」の一例）に補正する例を表している。

【0056】

また、図６では、補正部２３による第２の補正方法の補正前の算出値と補正後の算出値との関係が、破線で表されている。第２の補正方法は、２つの近接位置間の距離が、所定の閾値未満の場合、当該２つの近接位置間の距離を、当該２つの近接位置間の距離が長いほど、当該２つの近接位置間の距離よりも大きい所定の距離との差が小さくなるように補正する方法である。例えば、図６では、第２の補正方法として、２つの近接位置間の距離が、「２１ｍｍ」（「所定の閾値」の一例）未満の場合、当該２つの近接位置間の距離が長いほど、「２１ｍｍ」（「所定の距離」の一例）との差が小さくなるように、当該２つの近接位置間の距離を補正する例を表している。例えば、第２の補正方法では、２つの近接位置間の距離の補正後の算出値を、ｘを補正前の算出値として、式｛ｘ／定数１＋定数２｝によって求めることができる。但し、この式は一例であり、他の式を用いて補正後の算出値を求めてもよい。定数１，２は、シミュレーション等によって予め適切な値が設定され得る。

【0057】

また、図６では、制御装置２０による第２の補正方法の補正前の算出値と補正後の算出値との関係が、一点鎖線で表されている。第３の補正方法は、２つの近接位置間の距離が短いほど、補正量が多くなるように、当該２つの近接位置間の距離を広げる方向に補正する補正方法である。例えば、第３の補正方法では、２つの近接位置間の距離の補正後の算出値を、Ｘを補正前の算出値として、式｛（Ｘ＋定数３／（Ｘ＊定数４＋定数５）＾２｝によって求めることができる。但し、この式は一例であり、他の式を用いて補正後の算出値を求めてもよい。定数３～５は、シミュレーション等によって予め適切な値が設定され得る。

【0058】

補正部２３は、２つの近接位置間の距離の補正方法として、第１の方法、第２の方法、および第３の方法のいずれを用いてもよい。補正部２３は、いずれの補正方法によっても、２つの近接位置間の距離が異常値とならないように、２つの近接位置間の距離を適切に補正して、２つの近接位置の各々の検出精度を高めることができる。特に、２本の指で操作を行う場合、２つの位置の中心座標と、２つの位置を結ぶ線分の方向（角度）と、２つの位置の間隔とが重要である。本発明は、２つの位置の中心座標の精度と、２つの位置を結ぶ線分の方向（角度）の精度とを悪化させることなく、２つの位置の間隔の精度を高めることができる。

【0059】

以上、本発明の一実施形態について詳述したが、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形又は変更が可能である。

【0060】

例えば、一実施形態では、指検出部２２は、静電容量値の変化量が極大値である検出電極の位置に基づいて、曲線近似計算法により、２つの近接位置の各々の座標を算出するが、これに限らない。例えば、指検出部２２は、静電容量値の変化量が極大値である検出電極の位置に基づいて、重心計算法により、２つの近接位置の各々の座標を算出してもよい。

【符号の説明】

【0061】

１０ 静電座標入力装置
１０Ａ 操作面
１１ センサ基板
１２ Ｘ軸電極
１３ Ｙ軸電極
１４ Ｘ軸側検出部
１５ Ｙ軸側検出部
１６ Ａ／Ｄ変換部
１７ 記憶部
１９ インタフェース部
２０ 制御装置
２１ 静電容量算出部
２２ 指検出部
２３ 補正部
２４ 出力部
３０Ａ，３０Ｂ 指

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】