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特開2022-118292不良品判定システム、不良品判定システムによる不良品判定方法及びプログラム
発明の名称 不良品判定システム、不良品判定システムによる不良品判定方法及びプログラム
出願人 株式会社日立ソリューションズ・クリエイト （識別番号 597132849）
特許公開件数ランキング 3192 位（5件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 2725 位（5件）（共同出願を含む）
出願人 株式会社日立ソリューションズ （識別番号 233055）
特許公開件数ランキング 1052 位（21件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 1304 位（16件）（共同出願を含む）
出願人 ニチアス株式会社 （識別番号 110804）
特許公開件数ランキング 1617 位（14件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 1741 位（10件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2022-118292
公報発行日 2022年8月15
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-118292
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