特開 2022-12106 接続構造、検査方法及び検査プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022012106

(43)【公開日】2022-01-17

(54)【発明の名称】接続構造、検査方法及び検査プログラム

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/66 20200101AFI20220107BHJP

【ＦＩ】

G01R31/66

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020113679

(22)【出願日】2020-07-01

(71)【出願人】

【識別番号】301072650

【氏名又は名称】ＮＥＣスペーステクノロジー株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100109313

【弁理士】

【氏名又は名称】机 昌彦

(74)【代理人】

【識別番号】100149618

【弁理士】

【氏名又は名称】北嶋 啓至

(72)【発明者】

【氏名】渡辺 和輝

【テーマコード（参考）】

2G014

【Ｆターム（参考）】

2G014AA01

2G014AA14

2G014AB59

2G014AB60

2G014AC08

(57)【要約】

【課題】基板間コネクタを用いて接続された複数の配線基板間の接続の確認に要する手間を軽減する接続構造等の提供。
【解決手段】接続構造は、二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている。
【選択図】 図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、
給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている、
接続構造。

【請求項2】

前記配線基板の各々は前記配線基板の端部近傍に複数の接続端子を備え、複数の前記配線基板の各々が備える前記接続端子は、前記基板間コネクタにより接続され、前記検査用電流経路は、前記配線基板の各々の偶数個の前記接続端子を経由する、請求項１に記載された接続構造。

【請求項3】

前記配線基板の少なくとも一つに、前記検査用電流経路が経由する二つの前記接続端子の間に形成された、前記検査用電流経路が経由する配線が設けられている、請求項２に記載された接続構造。

【請求項4】

二つの前記配線基板が複数の前記基板間コネクタにより接続されており、前記検査用電流経路は、複数の前記基板間コネクタをまたがって形成されている、請求項１乃至請求項３のうちのいずれか一に記載された接続構造。

【請求項5】

前記検査用電流経路は、複数の前記配線基板の間を複数回またがる、請求項１乃至請求項４のうちのいずれか一に記載された接続構造。

【請求項6】

複数の前記検査用電流経路を備える、請求項１乃至請求項５のうちのいずれか一に記載された接続構造。

【請求項7】

前記検査用電流経路に抵抗が挿入されている、請求項１乃至請求項６のうちのいずれか一に記載された接続構造。

【請求項8】

請求項１乃至請求項７のうちのいずれか一に記載された接続構造と、前記給電と双方の前記端部の間の電圧の測定とを行う測定器とを備える、検査システム。

【請求項9】

二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている、接続構造の前記端部に対し、前記給電を行い、
双方の前記端部の間の電圧を測定する、
検査方法。

【請求項10】

二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている、接続構造の前記端部に対し、前記給電を行う処理と、
双方の前記端部の間の電圧を測定する処理と、
をコンピュータに実行させる、
検査プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、電気的接続の検査方法に関する。

【背景技術】

【0002】

互いに接続される複数の配線基板を用いる機器の小型軽量化のために、それらの基板の信号経路や給電経路を互いに接続する基板間コネクタが用いられる（特許文献１参照）。基板間コネクタは、配線基板間に設置され、ねじ止め等による圧力により複数の配線基板の端子間を電気的に接続するものである。

【0003】

基板間コネクタを用いた機器においては、ねじ止めにより加えられる圧力の不足による端子間の接続不良が懸念され、接続確認が行われることがある。

【0004】

しかしながら、基板間コネクタにより接続された配線基板において、電気的接続の良否を目視により確認することは困難である。そのため、基板間コネクタが用いられた機器における配線基板間の接続確認は、電気的な検査方法により行われる。

【0005】

電気的な検査方法としては、実際に使用される出力信号を観測し、動作が正常であるか否かを確認することにより間接的に接続の良否を判定する方法が用いられる。

【0006】

ここで、特許文献２は、第１のプリント板と第２のプリント板とを少なくとも１回跨いで、監視信号出力手段から出力される監視信号を監視信号受信手段に伝達する配線を有する接続検出回路を開示する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0007】

【特許文献1】特開２００８－０６６０２９号公報

【特許文献2】国際公開第２００７／０９１３３２号

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0008】

しかしながら、背景技術の項で述べた、実際に使用される出力信号を観測し、動作が正常であるか否かを確認する方法は、良否を確認する信号の数が多いので、接続の良否を判定するのに手間を要する。

【0009】

本発明は、基板間コネクタを用いて接続された複数の配線基板間の接続の確認の手間を軽減する接続構造等の提供を目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0010】

本発明の接続構造は、二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている。

【発明の効果】

【0011】

本発明の接続構造等は、基板間コネクタを用いて接続された複数の配線基板間の接続の確認に要する手間を軽減する。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】本実施形態の検査システムの構成例を表す斜視概念図である。

【図2】本実施形態の接続構造の構成例を表す概念図である。

【図3】接続端子の構成例を表す概念図である。

【図4】基板間コネクタ１４１の構成例を表す概念図である。

【図5】配線の第一の例を表す概念図である。

【図6】配線の第二の例を表す概念図である。

【図7】配線の第三の例を表す概念図である。

【図8】三枚の配線基板を基板間コネクタで接続した接続構造の第一の例を表す概念図である。

【図9】三枚の配線基板を基板間コネクタで接続した接続構造の第二の例を表す概念図である。

【図10】二枚の配線基板を二つの基板間コネクタで接続する場合の検査用電流経路の形成のされ方の変形例（その１）を表す図である。

【図11】二枚の配線基板を二つの基板間コネクタで接続する場合の検査用電流経路の形成のされ方の変形例（その２）を表す図である。

【図12】二個の抵抗素子を直列に接続させた接続構造の上面図を表す概念図である。

【図13】二個の抵抗素子を並列に接続させた接続構造の上面図を表す概念図である。

【図14】二枚の配線基板の間を二回またがる検査用電流経路を備える接続構造を表す概念図である。

【図15】二枚の配線基板を備え検査用電流経路が二つ形成された接続構造の例を表す概念図である。

【図16】５枚の配線基板を備え、二つの検査用電流経路を備える接続構造の例を表す概念図である。

【図17】基準電位として電源から供給される電位を用いる接続構造の構成例を表す概念図である。

【図18】抵抗素子が複数個所に分散して配置された接続構造の構成例を表す概念図である。

【図19】抵抗素子が配線によりコネクタに接続された接続構造の構成例を表す概念図である。

【図20】信号電流を検査用電流経路に供給しその供給点における基準電位との間の信号電圧を測定する測定器が接続された接続構造の構成例を表す概念図である。

【図21】実施形態の接続構造の最小限の構成を表す概念図である。

【発明を実施するための形態】

【0013】

図１は、本実施形態の検査システムの例である検査システム１０の構成を表す斜視概念図である。また、図２は、図１に表される接続構造２０を表す概念図である。図２（ａ）は、接続構造２０の、図２（ｂ）の矢印９１ａの向きの上面図である。図２（ｂ）は、接続構造２０の側面図である。図２（ｃ）は、接続構造２０の図２（ｂ）の矢印９１ｂの向きの側面図である。

【0014】

検査システム１０は、接続構造２０における基板１０１と１０２との間の電気的接続の良否を検査するシステムである。ここで、接続構造２０は、基板１０１及び１０２と基板間コネクタ１４１との組合せである。接続構造２０においては、例えば図示されないねじによるねじ止めにより、基板１０１と基板間コネクタ１４１、及び、基板１０２と基板間コネクタ１４１とが、互いに固定されている。

【0015】

図１及び図２に表されるように接続構造２０には、検査用電流経路１６１が形成されている。検査用電流経路１６１は、コネクタ１３１の端子Ａから、接続端子１８１ａ、基板１０２、接続端子１８１ｂ及び抵抗１１１を経由してグランド端子１７２に至るまでの電流経路である。ここで、グランド端子は、グランドに接続された端子である。

【0016】

測定器１２１は、端子Ａから、検査用電流経路１６１及び端子Ｂを通じてグランドへ、設定された電流値の電流を流す。そして、測定器１２１は、端子Ｂのグランド電位を基準電位として、コネクタ１３１の端子Ａ－Ｂ間の電圧を測定する。端子Ｂは、グランド端子１７１を介して、グランドに接続されている。そして、測定器１２１は、測定した電圧値を、検査用電流経路１６１に供給した電流の電流値により除算した値を抵抗値として表示等の出力を行う。測定器１２１は、例えば、コンピュータを備えており、記憶装置に格納されたプログラムにより、上記動作を実行する。

【0017】

作業者等は、出力された抵抗値が、設定値に等しいか否かを判定することにより、基板１０１と１０２との間の電気的接続の良否を判定する。作業者等は、あるいは、抵抗値ではなく、前述の電圧値が、正常か否かを判定することにより、基板１０１と１０２との間の電気的接続の良否を判定しても構わない。

【0018】

作業者等は、基板１０１と１０２との間の電気的接続に不良が生じている旨を判断した場合には、基板１０１と基板間コネクタ１４１を接続するためのねじ及び基板１０２と基板間コネクタ１４１を接続するねじのしめ増しや締め直しを行う。

【0019】

次に、検査用電流経路１６１の形成され方についての具体例を説明する。

【0020】

基板１０１には、複数の接続端子１８１が形成されている。接続端子１８１のうち図１及び図２の接続端子１８１ａ及び１８１ｂ以外のものは、基板１０１に形成された図示されない配線に接続されている。当該配線は、基板１０１に設置された電気部品等に接続されている。当該配線は、基板１０１の上面又は下面に形成されている場合もあり、基板１０１の内部に形成されている場合もある。基板１０１は、例えば、多層基板である。

【0021】

接続端子１８１は、例えば、図３（ａ）に表される構成を備える。図３（ａ）の接続端子１８１は、基板１０１の上面に形成された金属パターンであるパッド８１ａと、基板１０１の下面に形成された金属パターンであるパッド８１ｂとの間を、金属８１ｃにより電気的に接続したものである。金属８１ｃは、基板１０１を貫通するように形成された穴に充填されている。図３（ａ）のような接続端子及びその製造方法は周知であり、ここでは、その詳細説明は省略される。

【0022】

図１及び図２の接続端子１８１は、すべてが、図３（ａ）のものである必要はなく、一部が図３（ｂ）乃至図３（ｆ）に表されるものであっても構わない。図３（ｂ）乃至図３（ｆ）の接続端子１８１の説明は、これらの図から明らかなので、省略される。

【0023】

図１及び図２においては表されていないが、基板１０２にも、基板１０１の接続端子１８１と同様の接続端子が形成されている。

【0024】

基板１０１の接続端子１８１のうち、接続端子１８１ａ及び１８１ｂは、図３（ａ）の接続端子１８１である。

【0025】

図４は、基板間コネクタ１４１の構成例を表す概念図である。図４（ａ）は、基板間コネクタ１４１の、図４（ｂ）の矢印９１ａの向きの上面図である。図４（ｂ）は、基板間コネクタ１４１の側面図である。図４（ｃ）は、基板間コネクタ１４１の、図４（ｂ）の矢印９１ｂの向きの側面図である。

【0026】

基板間コネクタ１４１は、上面１４ａに形成された金属板又は金属膜であるパッド２８１の各々と下面１４ｂに形成された金属板又は金属膜であるパッド２８２の各々を、金属２８３の各々で接続したものである。図１及び図２の接続構造２０においては、パッド２８１ａ及び２８１ｂは、接続端子１８１ａ及び１８１ｂにおける図３（ａ）のパッド８１ｂに接触している。また、パッド２８２ａ及び２８２ｂは、基板１０２が備える、接続端子１８１に相当する図示されない接続部材が備えるパッドに接続されている。

【0027】

基板間コネクタ１４１としては、例えば、特許文献１が開示するものを用いることができる。

【0028】

図１及び図２に表されるように、接続構造２０には、基板１０１と基板１０２との間の電気的な接続の良否の検査を可能にするために検査用電流経路１６１が形成されている。検査用電流経路１６１は、図２（ｂ）の接続端子１８１ａ、図４のパッド２８１ａ、金属２８３ａ、パッド２８２ａ、基板１０２の、接続端子１８１ａに相当する後述の接続端子、及び基板１０２に形成される後述の配線を経由する。検査用電流経路１６１は、さらに、基板１０２の、接続端子１８１に相当する後述の接続端子、図４のパッド２８２ｂ、金属２８３ｂ、パッド２８１ｂ、及び図２（ｂ）の接続端子１８１ｂを経由する。

【0029】

図１及び図２の検査用電流経路１６１は、図２（ｂ）のように、例えば、可能な限り外側に（左右の幅が広くなるように）形成されている。

【0030】

次に、基板１０２に形成される配線の具体例を説明する。

【0031】

図５は、基板１０２に形成される配線の第一の例である配線２９２を表す概念図である。図５の接続端子１８２ａ、１８２ｂ及び１８２ｄは、基板１０２における、図２の基板１０１の接続端子１８１に相当する接続端子である。接続端子１８２ａ、１８２ｂ及び１８２ｄの構成例は、図３の接続端子１８１と同様である。ただし、接続端子１８２ａ及び１８２ｂとしては、パッド８１ａが存在する、図３（ａ）、図３（ｂ）、図３（ｃ）及び図３（ｅ）の接続端子１８１のうちのいずれかに相当するものが用いられる。パッド８１ａの存在が、検査用電流経路１６１の形成に不可欠なためである。

【0032】

配線２９２は、接続端子１８２ａと接続端子１８２ｂとの間に、接続端子１８２ｄのいずれにも接触しないように形成される。図５の配線２９２は、接続端子１８２ａの上部のパッド（図３のパッド８１ａに相当）と接続端子１８２ｂの上部のパッド（パッド８１ａに相当）とに接続されるように、基板１０２の上面に、形成されている。配線２９２が形成される位置は、接続端子１８２ｄの上部のパッド（パッド８１ａに相当）が形成されていない位置である。

【0033】

配線２９２は、基板１０２の内部に形成されても構わない。図６は、基板１０２の内部に形成された配線の例である配線２９２を表す概念図である。図６の接続端子１８２ａ及び１８２ｂには、パッド８１ａ及び金属８１ｃがいずれも存在する、図３（ａ）又は図３（ｃ）に相当するものが用いられる。金属８１ｃの存在が必要な理由は、基板１０２の内部で接続端子１８２ａ及び１８２ｂと配線２９２とを接続させるためである。配線２９２は、接続端子１８２ｄの金属８１ｃが形成されていない領域の基板１０２の内部に、接続端子１８２ａ及び１８２ｂに接続されるように、形成されている。なお、基板１０２は、例えば、多層配線基板である。多層配線基板の内部に配線を形成する方法は周知であるので、ここでは、その説明は省略される。

【0034】

図５の配線２９２は、基板１０２の上面への、接続端子１８２ｄに接続された他の配線の形成を制限する。しかし、図６のように基板１０２の配線２９２が形成されることにより、接続端子１８２ｄに接続された他の配線の基板１０２の上面への形成は制限されにくくなる。

【0035】

配線２９２は、基板１０２の下面に形成されても構わない。図７は、基板１０２の下面に形成された配線の例である配線２９２を表す概念図である。図７の接続端子１８２ａ及び１８２ｂには、パッド８１ａ及び金属８１ｃがいずれも存在する、図３（ａ）又は図３（ｃ）に相当するものが用いられる。金属８１ｃの存在が必要な理由は、基板１０２の下面で接続端子１８２ａ及び１８２ｂと配線２９２とを接続させるためである。配線２９２は、接続端子１８２ｄの金属８１ｃが形成されていない領域の基板１０２の下面に、接続端子１８２ａ及び１８２ｂと接続されるように、形成されている。

【0036】

図７のように基板１０２の下面に配線２９２を形成することにより、接続端子１８２ｄに接続された他の配線の基板１０２の上面及び基板１０２の内部への形成は制限されにくくなる。

【0037】

検査用電流経路は、三枚以上の配線基板を基板間コネクタにより接続した接続構造にも適用され得る。また、図１及び図２において基板１０１上に形成されている各配線は、基板１０１の下面や、多層基板である場合の基板１０１の内部に形成されても良い。

【0038】

図８は、三枚の配線基板を基板間コネクタで接続した接続構造の第一の例である接続構造２０を表す概念図である。図８は、接続構造２０の図２（ｂ）と同様の向きの図である。

【0039】

図８の接続構造２０の場合、基板１０１と基板１０３は基板間コネクタ１４１により、基板１０３と基板１０２とは、基板間コネクタ１４２により、それぞれ、ねじ止め等により接続されている。基板間コネクタ１４１及び１４２は、いずれも、図４に表されるものである。基板１０３の接続端子１８３ａ及び１８３ｂには、いずれも、図３（ａ）に表される接続端子１８１に相当するものが用いられている。また、基板１０２における端子や配線は、前述の、図２の基板１０２の場合と同様である。

【0040】

以上により、図８の検査用電流経路１６１は形成されている。

【0041】

図９は、三枚の配線基板を基板間コネクタで接続した接続構造の第二の例である接続構造２０を表す概念図である。図９の接続構造２０の場合、基板１０１と基板１０３とは基板間コネクタ１４１及び１４３により、基板１０３と基板１０２とは、基板間コネクタ１４２及び１４４により、それぞれ、ねじ止め等により接続されている。基板間コネクタ１４１乃至１４４は、いずれも、図４に表されるものである。基板１０３の接続端子１８３ｂ及び１８３ｄには、いずれも、図３（ａ）に表される接続端子１８１に相当するものが用いられている。また、基板１０２における検査用電流経路１６１を含む図示されない二つの接続端子には、図３（ａ）、図３（ｂ）、図３（ｃ）及び図３（ｅ）のうちのいずれかに相当するものが用いられる。さらに、これらの接続端子間は、基板１０２の上面、基板内部又は下面に形成される図示されない配線により接続されている。

【0042】

以上により、図９の検査用電流経路１６１は形成されている。

【0043】

二枚の配線基板を二つの基板間コネクタで接続する場合の検査用電流経路１６１の形成のされ方には、種々の変形例が想定され得る。図１０及び図１１は、二枚の配線基板が二つの基板間コネクタで接続される場合の検査用電流経路１６１の形成のされ方の変形例を表す図である。図１０及び図１１においては、二つの基板間コネクタである基板間コネクタ１４１及び１４３が表され、その上下に存在する基板間コネクタ１４１及び１４３により接続される配線基板については図示が省略されている。図１０及び図１１に表される検査用電流経路１６１の実現方法は、以上の説明により十分に推測可能と思われるので、省略される。また、二枚の配線基板が三個以上の基板間コネクタで接続され、その二枚の基板とその三個以上の基板間コネクタとを通過する検査用電流経路が形成されても構わない。

【0044】

図２の測定器１２１により観測される抵抗の素子数は複数であっても構わず、また、それらの接続は、直列であっても並列であっても直列と並列との組合せであっても構わない。図１２は、二個の抵抗素子である抵抗１１１及び１１２を直列に接続させた接続構造２０の上面図を表す概念図である。また、図１３は、二個の抵抗素子である抵抗１１１及び１１３を並列に接続させた接続構造２０の上面図を表す。

【0045】

検査用電流経路１６１は、二枚の配線基板の間を複数回またがっても構わない。図１４は、二枚の配線基板の間を二回またがる検査用電流経路の例である検査用電流経路１６１を備える接続構造２０を表す概念図である。図１４の接続構造２０においては、接続端子１８１ｃと接続端子１８１ｄとの間は配線２０１により接続されている。これにより、検査用電流経路１６１は、基板１０１と基板１０２との間を二回またがる。このように、検査用電流経路が二枚の配線基板の間を複数回またがるようにすることにより、二枚の配線基板間の電気的接続の良否判断の信頼度が向上する。その理由は、検出用電流経路に含まれる接点の数が増えるためである。より多くの接点について通電の良否が確認されることで、二枚の配線基板間の電気的接続についての判定結果の信頼度が向上する。

【0046】

検査用電流経路が複数形成されても構わない。その場合、測定器は複数の検査用電流経路の各々についての電圧や抵抗値を導出する。そして、作業者等は、それらの電圧や抵抗値のいずれかに異常がある場合に、それらの配線基板間の電気的接続の不良を判断する。

【0047】

図１５は、二枚の配線基板を備え検査用電流経路が二つ形成された接続構造の例である接続構造２０を表す概念図である。図１５は、図２（ｂ）と同様の向きの側面図である。図１５の接続構造２０においては、接続端子１８１ａと接続端子１８１ｃとの間に第一の検査用電流経路である検査用電流経路１６１が形成されている。また、接続端子１８１ｄと接続端子１８１ｂとの間には、第二の検査用電流経路である検査用電流経路１６２が形成されている。

【0048】

図１６は、５枚の配線基板を備え、二つの検査用電流経路を備える接続構造の例である接続構造２０を表す概念図である。図１６の接続構造においては、基板１０２については、接続端子の表示が省略されている。基板１０２における端子や配線は、前述の図２の基板１０２の場合と同様である。基板１０４においては、接続端子は、最も端部よりの二つである接続端子１８４ａ及び１８４ｂのみが表されている。接続端子１８４ａ及び１８４ｂには、例えば、図３（ｂ）の接続端子１８１に相当するものが用いられる。その場合、接続端子１８４ａ及び１８４ｂの各々の上側のパッドは、検査用電流経路１６１の一部を構成する。また、接続端子１８４ａ及び１８４ｂの各々の下側のパッドは、検査用電流経路１６２の一部を構成する。

【0049】

検査用電流経路を複数設けることにより、二枚の配線基板間の電気的接続の不良個所の特定が容易になる。その理由は、不良が生じている検査用電流経路が特定されるためである。

【0050】

図１の測定器１２１は、抵抗値を測定する際に用いる基準電位として、必ずしもグランド電位が用いられる必要はない。図１７は、基準電位として電源から供給される電位を用いる接続構造２０の構成例を表す概念図である。図１７の電源端子１７３及び１７４には、図示されない電源から供給される直流電位（グランドとの間の直流電圧）が供給されている。測定器１２１は、検査用電流経路１６１を通じて電源端子１７４へ、設定された電流を流す。当該電流は負の場合もあり得る。そして、測定器１２１は、測定器１２１におけるその電流の供給元と電源端子１７３との間の電圧を測定する。そして、測定器１２１は、測定した電圧値を、検査用電流経路１６１に供給した電流の電流値により除算した値を抵抗値として表示等する。作業者等は、表示等された抵抗値が、設定値に等しいか否かにより、基板１０１と１０２との間の電気的接続の良否を判定する。

【0051】

抵抗は、検査用電流経路のどこに設置されていてもよい。図１８の接続構造２０においては、コネクタ１３１と接続端子１８１ａとの間に抵抗１１４が、接続端子１８１ｂとグランド端子１７２との間には抵抗１１１が、それぞれ設置されている。

【0052】

本実施形態の接続構造は、図１９に表される接続構造２０であっても構わない。図１９の接続構造２０においては、抵抗１１１の一方の端子は、配線１９１により、端子Ｂに接続されている。図１９の接続構造２０の場合も、作業者等は、図１の測定器１２１により端子Ａ－Ｂ間の電圧や抵抗を測定することにより配線基板間の電気的接続の良否を判断することができる。

【0053】

図１の測定器１２１に代えて、図２０のように測定器１２２が用いられても構わない。測定器１２２は、信号電流を検査用電流経路１６１に供給し、その供給点における基準電位との間の信号電圧を測定する。作業者等は、その信号電圧の波形や振幅が正常時のものと異なるか否かを調べることにより、配線基板間の電気的接続の良否を判断する。
［効果］
本実施形態の検査システムは、複数の配線基板をまたがって形成された検査用電流経路の抵抗値や電圧を測定する。配線基板間の電気的接続に異常がある場合には、測定された抵抗値や電圧に異常が生じる。そのため、前記検査システムは、作業者等に、配線基板間の電気的接続の異常の有無についての判断を可能にする。前記検査システムにおいては、配線基板において実際に使用される信号を入力して動作状況を確認する必要がないので、前記検査システムは、接続良否確認のための手間を軽減する。

【0054】

前記検査用電流経路は、配線基板に備えられる配線基板間を基板間コネクタにより接続するための接続端子のうち、通電検査用に用いられるもの以外のものに接触しないように形成される。そのため、前記検査システムは、通電検査と、配線基板における通電検査以外の通常の動作と、を両立させる。

【0055】

以上の説明では、電流の供給と基準電位との間の電圧の測定とが行われる端子Ａ（第一端子）と、前記基準電位が供給される端子Ｂ（第二端子と）は、一つの配線基板に設置される場合について説明した。しかしながら、これらの端子が設置される位置は、配線基板と基板間コネクタとの組合せにおけるいずれの位置であっても構わない。また、端子Ａと端子Ｂとの各々が、二つのコネクタの各々に備えられていても構わない。

【0056】

図２１は、実施形態の接続構造の最小限の構成である、接続構造２０ｘの構成を表す概念図である。接続構造２０ｘは、二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備える。接続構造２０ｘには、給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている。

【0057】

接続構造２０ｘは、複数の配線基板をまたがって形成された検査用電流経路の通電試験を可能にする。前記検査システムにおいては、配線基板において実際に使用される信号を入力して動作状況を確認する必要がないので、前記検査システムは、接続良否確認のための手間を軽減する。

【0058】

そのため、接続構造２０ｘは、前記構成により、［発明の効果］の項に記載した効果を奏する。

【0059】

以上、本発明の各実施形態を説明したが、本発明は、前記した実施形態に限定されるものではなく、本発明の基本的技術的思想を逸脱しない範囲で更なる変形、置換、調整を加えることができる。例えば、各図面に示した要素の構成は、本発明の理解を助けるための一例であり、これらの図面に示した構成に限定されるものではない。

【0060】

また、前記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記述され得るが、以下には限られない。
（付記１）
二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、
給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている、
接続構造。
（付記２）
前記配線基板の各々は前記配線基板の端部近傍に複数の接続端子を備え、複数の前記配線基板の各々が備える前記接続端子は、前記基板間コネクタにより接続され、前記検査用電流経路は、前記配線基板の各々の偶数個の前記接続端子を経由する、付記１に記載された接続構造。
（付記３）
前記検査用電流経路は、前記配線基板の各々における、互いに最も離れた二つの前記接続端子を経由する、付記２に記載された接続構造。
（付記４）
前記配線基板の少なくとも一つに、前記検査用電流経路が経由する二つの前記接続端子の間に形成された、前記検査用電流経路が経由する配線が設けられている、付記２又は付記３に記載された接続構造。
（付記５）
前記配線は、前記少なくとも一つの、上面、下面又は内部に形成されている、付記４に記載された接続構造。
（付記６）
前記配線は、前記検査用電流経路が経由しない前記接続端子に接続されないように形成されている、付記４又は付記５に記載された接続構造。
（付記７）
前記配線基板のうちの少なくとも一つは多層配線基板である、付記１乃至付記６のうちのいずれか一に記載された接続構造。
（付記８）
二つの前記配線基板が複数の前記基板間コネクタにより接続されており、前記検査用電流経路は、複数の前記基板間コネクタをまたがって形成されている、付記１乃至付記７のうちのいずれか一に記載された接続構造。
（付記９）
前記検査用電流経路は、複数の前記配線基板の間を複数回またがる、付記１乃至付記８のうちのいずれか一に記載された接続構造。
（付記１０）
複数の前記検査用電流経路を備える、付記１乃至付記９のうちのいずれか一に記載された接続構造。
（付記１１）
前記検査用電流経路に抵抗が挿入されている、付記１乃至付記１０のうちのいずれか一に記載された接続構造。
（付記１２）
前記抵抗は、直列、並列又は直列と並列の組合せで互いに接続された複数の抵抗素子を備える、付記１１に記載された接続構造。
（付記１３）
付記１乃至付記１２のうちのいずれか一に記載された接続構造と、前記給電と双方の前記端部の間の電圧の測定とを行う測定器とを備える、検査システム。
（付記１４）
一方の前記端部の電位は、グランドの電位、又は、電源から供給される直流電位である、付記１３に記載された、検査システム。
（付記１５）
前記給電は、直流電流又は信号電流の供給である、付記１３又は付記１４に記載された、検査システム。
（付記１６）
二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている、接続構造の前記端部に対し、前記給電を行い、
双方の前記端部の間の電圧を測定する、
検査方法。
（付記１７）
二つの配線基板の間を接続する基板間コネクタを介して接続された複数の前記配線基板を備え、給電が可能な端部を有し、前記配線基板の各々を少なくとも一回通過し、前記端部の近傍以外は前記配線基板及び前記基板間コネクタのいずれかのみを通過する、検査用電流経路が形成されている、接続構造の前記端部に対し、前記給電を行う処理と、
双方の前記端部の間の電圧を測定する処理と、
をコンピュータに実行させる、
検査プログラム。
なお、上記付記における、「配線基板」は、例えば、図１、図２、図１４又は図１５の基板１０１又は１０２、図５乃至図７の基板１０２、図８又は図９の基板１０１乃至１０３、図１２又は図１３の基板１０１、あるいは、図１５の基板１０１乃至１０５である。

【0061】

また、「基板間コネクタ」は、例えば、図１、図２、図４、図１４又は図１５の基板間コネクタ１４１、図８の基板間コネクタ１４１又は１４２、図９又は図１６の基板間コネクタ１４１乃至１４４、図１０又は図１１の基板間コネクタ１４１又は１４３である。

【0062】

また、「端部」は、例えば、図１、図２、図１２、図１３、又は、図１７乃至図２０の端子Ａ又はＢである。また、「検査用電流経路」は、例えば、図１、図２、図８乃至図１１又は図１４の検査用電流経路１６１、図１５又は図１６の検査用電流経路１６１又は１６２、あるいは、図２１の検査用電流経路１６１ｘである。

【0063】

また、「接続構造」は、例えば、図１、図２、図８、図９又は図１２乃至図２０の接続構造２０、あるいは、図２１の接続構造２０ｘである。また、「接続端子」は、例えば、図１、図２、図１２、図１３又は図１７乃至図２０の接続端子１８１（接続端子１８１ａ又は１８１ｂを含む。）、図３の接続端子１８１、図５乃至図７の接続端子１８２ａ、１８２ｂ又は１８２ｄ、あるいは、図８の接続端子１８１ａ、１８１ｂ、１８３ａ又は１８３ｂである。「接続端子」は、あるいは、例えば、図９の接続端子１８１ｂ、１８１ｄ、１８３ｂ又は１８３ｄ、図１４又は図１５の接続端子１８１ａ、１８１ｂ、１８１ｃ又は１８１ｄ、あるいは、図１６の接続端子１８１ａ、１８１ｂ、１８４ａ又は１８４ｂである。

【0064】

また、「互いに最も離れた二つの前記接続端子」は、例えば、図１、図２、図１２、図１３又は図１７乃至図２０の接続端子１８１ａ及び１８１ｂである。また、「配線」は、例えば、図５乃至図７の、配線２９２である。また、「二つの前記配線基板が複数の前記基板間コネクタにより接続されており、前記検査用電流経路は、複数の前記基板間コネクタをまたがって形成されている」は、例えば、図９乃至図１１の場合である。

【0065】

また、「前記検査用電流経路は、複数の前記配線基板の間を複数回またがる」は、例えば、図１０、図１１又は図１４の場合である。また、「複数の前記検査用電流経路を備える」は、例えば、図１５又は図１６の場合である。また、「抵抗」は、例えば、図１、図２又は図１７の抵抗１１１、図１２の抵抗１１１及び１１２、図１３の抵抗１１１及び１１３、図１８又は図２０の抵抗１１１及び１１４である。

【0066】

また、「測定器」は、例えば、図１の測定器１２１である。また、「検査システム」は、例えば、図１の検査システム１０である。また、「コンピュータ」は、例えば、図１の測定器１２１が備えるコンピュータである。また、「検査プログラム」は、例えば、図１の測定器１２１が備えるコンピュータに処理を実行させるプログラムである。

【符号の説明】

【0067】

１０ 検査システム
１４ａ 上面
１４ｂ 下面
２０、２０ｘ 接続構造
２０ａｘ 組合せ
８１ａ、８１ｂ、２８１、２８１ａ、２８１ｂ、２８２、２８２ａ、２８２ｂ パッド
８１ｃ、２８３ａ、２８３ｂ 金属
９１ａ、９１ｂ 矢印
１０１、１０２、１０３ 基板
１１１、１１２、１１３、１１４ 抵抗
１２１、１２２ 測定器
１３１ コネクタ
１４１、１４２、１４３、１４４ 基板間コネクタ
１６１、１６１ｘ、１６２ 検査用電流経路
１７１、１７２ グランド端子
１７３、１７４ 電源端子
１８１、１８１ａ、１８１ｂ、１８１ｄ、１８２ａ、１８２ｂ、１８２ｄ、１８３ａ、１８３ｂ、１８３ｄ、１８４ａ、１８４ｂ 接続端子
１９１、２０１、２９２ 配線
Ａ、Ｂ 端子
Ａｘ 第一端子
Ｂｘ 第二端子

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】