特開 2022-142694 テストハンドラのための共用型マッチプレート

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022142694

(43)【公開日】2022-09-30

(54)【発明の名称】テストハンドラのための共用型マッチプレート

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/26 20200101AFI20220922BHJP

【ＦＩ】

G01R31/26 J

【審査請求】有

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021084272

(22)【出願日】2021-05-19

(31)【優先権主張番号】110109428

(32)【優先日】2021-03-16

(33)【優先権主張国・地域又は機関】TW

(71)【出願人】

【識別番号】506292169

【氏名又は名称】力成科技股▲分▼有限公司

(74)【代理人】

【識別番号】110001818

【氏名又は名称】特許業務法人Ｒ＆Ｃ

(72)【発明者】

【氏名】張 朝詠

(72)【発明者】

【氏名】許 葆淳

(72)【発明者】

【氏名】楊 志龍

(72)【発明者】

【氏名】潘 奎宇

【テーマコード（参考）】

2G003

【Ｆターム（参考）】

2G003AA07

2G003AG12

2G003AH04

(57)【要約】

【課題】異なる回路板に対応できるテストハンドラのための共用型マッチプレートを提供する。
【解決手段】基台２０、２つのガイド板３０、４つのガイドブロック４０、４つの固定部材５０及び２つのプッシュ部材６０を備える。基台２０は板体２１及び固定ブロック２２を有する。各ガイド板３０は基台２０とガイドブロック４０との間に設置されている。各固定部材５０は、対応のガイドブロック４０を対応のガイド板３０に固定する。各プッシュ部材６０は、対応のガイド板３０に固定されている。
【選択図】図３

【特許請求の範囲】

【請求項1】

基台であって、
２×２の配列で間隔をおいて配置される４つの第１開口が形成された板体と、
前記板体の底面中央部に取り付けられ、上面には所定の深さの２つの溝部が形成され、底面には各々が対応の前記溝部に連通する２つの貫通溝が形成されている固定ブロックと、を有する前記基台と、
各々が固定部及び２つの対向する外翼部を有する２つのガイド板であって、前記固定部は、前記固定ブロックにおける対応の溝部内に設置され、前記外翼部の夫々は、対応の前記溝部の外側に突出し、且つ前記板体における前記第１開口に対応する第１固定穴が形成され、各前記ガイド板は、前記溝部の深さよりも小さい厚さを有する、前記ガイド板と、
各々が対応の前記第１開口内に設置され、且つ各々に前記ガイド板における前記第１固定穴に対応する第１貫通穴が形成された４つのガイドブロックと、
各々が対応の前記ガイドブロックにおける前記第１貫通穴及び前記ガイド板における前記第１固定穴内に挿入され、対応のガイドブロックを対応のガイド板に固定する４つの固定部材と、
各々が前記固定ブロックにおける対応の貫通溝内に挿設されて対応のガイド板に固定される２つのプッシュ部材と、を備えるテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項2】

各前記ガイド板における固定部に第２固定穴が更に形成され、
各前記プッシュ部材に、対応のガイド板における前記第２固定穴に対応する第２貫通穴が更に形成され、
各前記プッシュ部材は、ねじによって対応のガイド板にねじ止めされている、請求項１に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項3】

前記板体の上面に設置され、前記板体における前記第１開口に対応する４つの第２開口が形成された設置板を更に備える、請求項２に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項4】

前記設置板に２つの設置穴が更に形成され、
前記板体の上面に、各々が対応の設置穴に係合する２つの固定ピンが更に形成されている、請求項３に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項5】

各前記ガイド板における固定部の底面に２つの第１柱状突起が更に形成され、
各前記プッシュ部材の上面に、各々が対応のガイド板における前記第１柱状突起に係合する２つの第１凹入溝が更に形成されている、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項6】

前記固定ブロックにおける各前記溝部の内底面に２つの第２凹入溝が更に形成され、
各前記ガイド板における各前記外翼部の底面に、対応の固定ブロックにおける前記第２凹入溝に係合する第２柱状突起が更に形成されている、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項7】

各前記ガイドブロックの底面に２つの第３凹入溝が更に形成され、
各前記ガイド板における各前記外翼部の上面に、各々が対応の前記ガイドブロックにおける前記第３凹入溝に係合する２つの第３柱状突起が更に形成されている、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項8】

各前記ガイド板における前記固定部の幅が各前記外翼部の幅よりも小さい、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項9】

各前記ガイドブロックの対向する２つの側辺に延出プレートが更に形成され、
前記板体における各前記第１開口の対向する２つの側辺に、各々が前記ガイドブロックにおける各前記延出プレートに対応する２つのストリップ状突起が更に形成されている、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【請求項10】

前記板体の厚さが前記固定ブロックの厚さよりも小さい、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストハンドラのための共用型マッチプレート。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、テストハンドラのためのマッチプレートに関し、特にテストハンドラのための共用型マッチプレートに関する。

【背景技術】

【0002】

半導体パッケージングファウンドリには、制作された半導体素子が正常に機能するかのテストを出荷前に行うためのテストハンドラが設置されている。テストハンドラのテストエリアには、複数のテスト用回路板が設けられ、各回路板には、複数の半導体素子の夫々と接触して電気テストを行うための複数のテストソケットが設けられている。また、テストハンドラには、複数のマッチプレートが設置されており、各マッチプレートは、回路板上のテストソケットに対応するように、クライアントから提供されたテスト用回路板に応じて交換される。例えば、図８及び図１０に示すテストハンドラのマッチプレート８０には、対応の半導体素子を回路板におけるテストソケットに押し付けてテストを行うためのプッシュ部材８５が４つ備えられている。ところで、テストソケットの数量及び位置が異なる回路板が使用される場合には、半導体素子を対応のテストソケットに押し付けてテストを行うことができるように、マッチプレート８０を異なる種類のもの、例えば、プッシュ部材８５を２つ備えたものに交換する必要がある。

【0003】

図７に示すように、従来のマッチプレート８０は、４つの固定部材８１、４つのガイドブロック８２、設置板８３、基台８４、及び２つ×２つのプッシュ部材８５から構成されている。設置板８３は、基台８４の上面に設置され、基台８４には、２つ×２つの開口８４１が形成され、各ガイドブロック８２には、第１貫通穴８２１が形成され、各プッシュ部材８５には、第２貫通穴８５１が形成されている。そして、マッチプレート８０は、図９に示すように、ガイドブロック８２の夫々を基台８４の上方から対応の開口８４１内へスライドさせて各プッシュ部材８５における第２貫通穴８５１を対応のガイドブロック８２における第１貫通穴８２１に位置合わせし、且つ固定部材８１の夫々を、ガイドブロック８２の上面から対応の第１貫通穴８２１に通過させて対応のプッシュ部材８５における第２貫通穴８５１に固定させることによって組み立てられる。そのため、マッチプレートを異なる種類のもの、例えば２つのプッシュ部材８５を備えたものに交換するには、マッチプレート８０全体を取り外してから異なる種類のマッチプレートを取り付ける必要がある。しかし、このような作業はテストコストの上昇を招く。また、固定部材８１によってガイドブロック８２に対して固定されているプッシュ部材８５を交換するには、まず固定部材８１を緩める必要がある。しかし、この作業は非常に手間がかかる。したがって、従来のマッチプレートには改良の余地があった。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

本発明は、異なる回路板に対応するためにマッチプレートを別途購入する必要があるという従来のテストハンドラの問題点に鑑みてなされたものであり、その主な目的は、異なる回路板に対応できるように改良された、テストハンドラのための共用型マッチプレートを提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0005】

上記目的を達成するために、本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートは、
基台であって、
２×２の配列で間隔をおいて配置される４つの第１開口が形成された板体と、
前記板体の底面中央部に取り付けられ、上面には所定の深さの２つの溝部が形成され、底面には各々が対応の前記溝部に連通する２つの貫通溝が形成されている固定ブロックと、を有する前記基台と、
各々が固定部及び２つの対向する外翼部を有する２つのガイド板であって、前記固定部は、前記固定ブロックにおける対応の溝部内に設置され、前記外翼部の夫々は、対応の前記溝部の外側に突出し、且つ前記板体における前記第１開口に対応する第１固定穴が形成され、各前記ガイド板は、前記溝部の深さよりも小さい厚さを有する、前記ガイド板と、
各々が対応の前記第１開口内に設置され、且つ各々に前記ガイド板における前記第１固定穴に対応する第１貫通穴が形成された４つのガイドブロックと、
各々が対応の前記ガイドブロックにおける前記第１貫通穴及び前記ガイド板における前記第１固定穴内に挿入され、対応のガイドブロックを対応のガイド板に固定する４つの固定部材と、
各々が前記固定ブロックにおける対応の貫通溝内に挿設されて対応のガイド板に固定される２つのプッシュ部材と、を備えることを特徴とする。

【0006】

以上のように構成されたガイド板及び固定ブロックを備える本発明では、プッシュ部材の夫々は対応のガイド板に固定されている。そのため、テストソケットの数量及び位置が異なる回路板の使用に応じて、プッシュ部材の数量及び位置を調整する必要があるときには、ガイド板を交換することによってプッシュ部材の数量を調整することができる。異なる種類のマッチプレートを新たに購入する必要がなく、また、交換のためにマッチプレート全体を取り外す必要がないので、テストコストを節約することができ、取り外しにかかる手間を省くことができる。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートの分解斜視図である。

【図2A】本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートの上面斜視図である。

【図2B】本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートの底面斜視図である。

【図3】本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートの側面断面図である。

【図4】本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートの他の角度の断面図である。

【図5】本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートの部分断面図である。

【図6】本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレートの底面図である。

【図7】従来のテストハンドラのための共用型マッチプレートの分解斜視図である。

【図8】従来のテストハンドラのための共用型マッチプレートの斜視図である。

【図9】従来のテストハンドラのための共用型マッチプレートの側面断面図である。

【図10】従来のテストハンドラのための共用型マッチプレートの底面図である。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、図面を参照しながら、本発明に係るテストハンドラのためのマッチプレートの実施形態を詳細に説明する。

【0009】

図１及び図２Ａに示すように、第１実施形態の本発明に係るテストハンドラのための共用型マッチプレート１０は、基台２０と、２つのガイド板３０と、４つのガイドブロック４０と、４つの固定部材５０と、２つのプッシュ部材６０とを備える。これらガイドブロック４０及び固定部材５０は、図７に示す従来の種類のマッチプレート８０における４つのガイドブロック８２及び４つの固定部材８１と同一のものであり、本実施形態のマッチプレート１０と従来のマッチプレート８０との間でこれら部材を共用することができる。

【0010】

上記基台２０は、板体２１と固定ブロック２２とを有する。板体２１は、４つの第１開口２１１と、底面２１２と、上面２１３とを有し、固定ブロック２２は、上面２２１と、底面２２２と、２つの溝部２２３と、２つの貫通溝２２４とを有する。本実施形態において、図１及び図２Ａに示すように、第１開口２１１は、板体２１を貫通するように形成され、且つ２×２の配列で間隔をおいて配置されている。固定ブロック２２は、板体２１の底面２１２における中央部に取り付けられている。固定ブロック２２の上面２２１に、溝部２２３が所定の深さを有するように形成され、固定ブロック２２の底面２２２に、対応の溝部２２３と連通する貫通溝２２４が形成されている。ある実施形態において、図１に示すように、更に、板体２１における第１開口２１１の対向する２つの側辺２１４に２つのストリップ状突起２１５が形成され、板体２１の上面２１３に２つの固定ピン２１６が形成され、板体２１に２つの貫通穴２１７が形成されている。固定ブロック２２の各溝部２２３の内底面２２５には、２つの第２凹入溝２２６が形成され、固定ブロック２２には、２つの貫通穴２２７が形成されている。固定ブロック２２は、板体２１の厚さよりも大きい厚さを有している（図４を参照）。基台２０は、貫通穴２１７と貫通穴２２７とが位置合わせされた板体２１及び固定ブロック２２をねじ２３によってねじ止めすることによって組み立てられる。

【0011】

各ガイド板３０は、固定部３１及び２つの外翼部３２を有する。本実施形態において、図１及び図２Ｂに示すように、固定部３１は、固定ブロック２２における対応の溝部２２３内に設置されている。各外翼部３２は、対応の溝部２２３の外側に突出しており、板体２１における第１開口２１１に対応する第１固定穴３２１が形成されている。各ガイド板３０は、基台２０内において上下動できるように、溝部２２３の深さよりも小さい厚さを有する。ある実施形態において、更に、各ガイド板３０における固定部３１に第２固定穴３１１が貫通して形成されていると共に（図１を参照）、固定部３１の底面３１２に２つの第１柱状突起３１３が形成されている（図３を参照）。また、各外翼部３２の底面３２２に第２柱状突起３２４が形成されていると共に（図４を参照）、各外翼部３２の上面３２３に２つの第３柱状突起３２５が形成されている（図５を参照）。固定部３１は、外翼部３２の幅よりも小さい幅を有する。第２柱状突起３２４の夫々は、固定ブロック２２における対応の第２凹入溝２２６に係合し（図４を参照）、これにより構造安定性が強化される。

【0012】

各ガイドブロック４０には、第１貫通穴４１が形成されている。本実施形態において、図２Ａに示すように、各ガイドブロック４０は対応の第１開口２１１内に設置され、各第１貫通穴４１は、ガイド板３０における第１固定穴３２１に対応する。ある実施形態において、図５に示すように、更に、各ガイドブロック４０の底面４２に２つの第３凹入溝４２１が形成され、これら第３凹入溝４２１はガイド板３０における対応の第３柱状突起３２５と係合し、これにより構造安定性が強化される。また、図４に示すように、各ガイドブロック４０の対向する２つの側辺４３の夫々に延出プレート４３１が形成され、各延出プレート４３１は、板体２１における対応のストリップ状突起２１５と当接する。

【0013】

図３に示すように、各固定部材５０は、対応のガイドブロック４０の第１貫通穴４１及びガイド板３０の第１固定穴３２１に挿入され、対応のガイドブロック４０を対応のガイド板３０に固定する。本実施形態において、固定部材５０は先端部にねじ山が形成されたねじであり、第１貫通穴４１を通過してねじ穴である第１固定穴３２１に螺合される。

【0014】

各プッシュ部材６０は、固定ブロック２２における対応の貫通溝２２４に挿設されて対応のガイド板３０に固定される。本実施形態において、図２Ｂに示すように、更に、各プッシュ部材６０に第２貫通穴６１が形成されている。第２貫通穴６１を対応のガイド板３０における第２固定穴３１１に位置合わせし、ねじ６３をプッシュ部材６０の底面から第２貫通穴６１に通過させてガイド板３０における第２固定穴３１１に螺合させることにより、プッシュ部材６０が対応のガイド板３０にねじ止めされる（図６を参照）。また、図３に示すように、各プッシュ部材６０の上面６２には、２つの第１凹入溝６２１が形成されている。各第１凹入溝６２１は、ガイド板３０における対応の第１柱状突起３１３と係合し、これにより構造安定性が強化される。

【0015】

ある実施形態において、図１に示すように、共用型マッチプレート１０は、板体２１の上面２１３に設置され且つ第１開口２１１に対応する４つの第２開口７１が形成された設置板７０を更に備える。本実施形態において、図２Ａに示すように、設置板７０に２つの設置穴７２が更に形成されている。各設置穴７２には板体２１における対応の固定ピン２１６が係合され、これにより、設置板７０が板体２１の上面２１３に固定される。

【0016】

マッチプレート１０の組み立てに際し、まずは、図１に示すように、各ガイドブロック４０を板体２１の上方から板体２１における対応の第１開口２１１内に設置して、各ガイドブロック４０における第１貫通穴４１を板体２１の下方のガイド板３０における対応の第１固定穴３２１に位置合わせし、そして、各固定部材５０をガイドブロック４０の上面から対応の第１貫通穴４１に通過させて第１固定穴３２１に固定し、これによってガイドブロック４０を対応のガイド板３０に連結させる。次に、ガイド板３０の下方に位置する各固定ブロック２２における溝部２２３と対応のガイド板３０における固定部３１と、及び、固定ブロック２２における各貫通穴２２７と板体２１における対応の貫通穴２１７と、をそれぞれ位置合わせすると共に、ねじ２３を固定ブロック２２に通過させて板体２１に螺合させることで、基台２０を構成する。ここで、ガイド板３０の固定部３１が基台２０内に設置されており且つガイド板３０の厚さが溝部２２３の深さよりも小さいため、ガイドブロック４０が上下に摺動すると、それに伴ってガイド板３０も基台２０内において上下動する。また、固定ブロック２２に形成されている貫通溝２２４により、各ガイド板３０における固定部３１は露出している。固定部３１における第２固定穴３１１と、当該固定ブロック２２の下方に位置する対応のプッシュ部材６０における第２貫通穴６１とを位置合わせすると共に、ねじ６３を各プッシュ部材６０の底面から第２貫通穴６１に通過させて対応の第２固定穴３１１に螺合させることで、プッシュ部材６０を対応のガイド板３０にねじ止めさせる。このようにして、プッシュ部材６０はガイド板３０１を介してガイドブロック４０の動きに連動するため、ガイドブロック４０が上下に摺動すると、それに伴ってプッシュ部材６０も上下に移動する。

【0017】

本発明に係る共用型マッチプレートでは、ガイド板及び固定ブロックを以上のように構成することにより、プッシュ部材の数量にかかわらず共通の板体、設置板、ガイドブロック及び固定部材を使用することが可能になる。そのため、テストソケットの数量及び位置が異なる回路板の使用に応じて、プッシュ部材の数量及び位置を調整する必要があるときには、ガイド板を交換することによってプッシュ部材の数量を調整することができる。異なる種類のマッチプレートを新たに購入する必要がなく、また、交換のためにマッチプレート全体を取り外す必要がないので、テストコストを節約することができ、取り外しにかかる手間を省くことができる。更に、本発明に係る共用型マッチプレートでは、プッシュ部材を、対応のガイド板を介して基台の底面における略中央部に設置している。これにより、基台の上面における固定部材が押し下げられる際に、それに対応するプッシュ部材には圧力が均一に付与される。また、プッシュ部材は、その下方からねじ込まれたねじによって対応のガイド板にねじ止めされている。そのため、プッシュ部材の下方からねじを緩めるだけでプッシュ部材の数量の調整が可能になる。全体を取り外して交換する必要がないので、交換作業に要する時間を省くことができる。

【0018】

上述した実施形態は例示にすぎず、本発明を限定するものではない。本発明を上記実施形態により説明したが、本発明はこれら開示された実施形態に限定されず、当業者であれば、本発明の技術的思想を逸脱することなく、様々な変更および修飾を加えて均等物とすることができる。したがって、上記実施形態に変更、改変および修飾を加えた内容もまた、本発明の技術的思想に含まれるものである。

【符号の説明】

【0019】

１０ テストハンドラのための共用型マッチプレート
２０ 基台
２１ 板体
２１１ 第１開口
２１２ 底面
２１３ 上面
２１４ 側辺
２１５ ストリップ状突起
２１６ 固定ピン
２１７ 貫通穴
２２ 固定ブロック
２２１ 上面
２２２ 底面
２２３ 溝部
２２４ 貫通溝
２２５ 内底面
２２６ 第２凹入溝
２２７ 貫通穴
２３ ねじ
３０ ガイド板
３１ 固定部
３１１ 第２固定穴
３１２ 底面
３１３ 第１柱状突起
３２ 外翼部
３２１ 第１固定穴
３２２ 底面
３２３ 上面
３２４ 第２柱状突起
３２５ 第３柱状突起
４０ ガイドブロック
４１ 第１貫通穴
４２ 底面
４２１ 第３凹入溝
４３ 側辺
４３１ 延出プレート
５０ 固定部材
６０ プッシュ部材
６１ 第２貫通穴
６２ 上面
６２１ 第１凹入溝
６３ ねじ
７０ 設置板
７１ 第２開口
７２ 設置穴
８０ テストハンドラのためのマッチプレート
８１ 固定部材
８２ ガイドブロック
８２１ 第１貫通穴
８３ 設置板
８４ 基台
８４１ 開口
８５ プッシュ部材
８５１ 第２貫通穴

【図1】

【図2A】

【図2B】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】