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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022147913
(43)【公開日】2022-10-06
(54)【発明の名称】ガスセンサ
(51)【国際特許分類】
   G01N 27/409 20060101AFI20220929BHJP
   G01N 27/416 20060101ALI20220929BHJP
【FI】
G01N27/409 100
G01N27/416 331
【審査請求】未請求
【請求項の数】6
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2021049381
(22)【出願日】2021-03-24
(71)【出願人】
【識別番号】000004064
【氏名又は名称】日本碍子株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100124039
【弁理士】
【氏名又は名称】立花 顕治
(72)【発明者】
【氏名】安立 光輝
(72)【発明者】
【氏名】清家 雄也
【テーマコード(参考)】
2G004
【Fターム(参考)】
2G004BB04
2G004BC02
2G004BJ03
2G004BM07
(57)【要約】
【課題】製造過程においてハウジングのかしめ部が上方から押圧されても、安定したかしめ形状が実現されるガスセンサを提供する。
【解決手段】ガスセンサは、センサ素子と、保持部材と、ハウジングとを備えている。保持部材は、センサ素子の一部を保持する。ハウジングは、センサ素子及び保持部材を収容する。ハウジングは、筒状の基部と、筒状のかしめ部とを含む。かしめ部は、基部よりも後端側に設けられており、一部が折れ曲がった状態で保持部材の後端側の位置を押さえる。かしめ部の厚みは、基部の厚みよりも薄い。かしめ部は、基部寄りの部分及び後端寄りの部分の各々よりも厚みが大きく変化する、又は、基部寄りの部分と後端寄りの部分との間において厚みの変化度合が変化する点である折れ点を有する。かしめ部において、折れ点よりも基部寄りの部分の厚みは折れ点よりも後端寄りの部分の厚みよりも厚い。
【選択図】図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
被測定ガスにおける所定ガス成分の濃度を測定するためのセンサ素子と、
前記センサ素子の一部を保持する保持部材と、
前記センサ素子及び前記保持部材を収容するハウジングとを備え、
前記ハウジングは、
筒状の基部と、
前記基部よりも後端側に設けられており、一部が折れ曲がった状態で前記保持部材の後端側の位置を押さえる、筒状のかしめ部とを含み、
前記かしめ部の厚みは、前記基部の厚みよりも薄く、
前記かしめ部は、前記基部寄りの部分及び後端寄りの部分の各々よりも厚みが大きく変化する、又は、前記基部寄りの部分と前記後端寄りの部分との間において厚みの変化度合が変化する点である折れ点を有し、
前記かしめ部において、前記折れ点よりも前記基部寄りの部分の厚みは前記折れ点よりも前記後端寄りの部分の厚みよりも厚い、ガスセンサ。
【請求項2】
前記かしめ部において、前記折れ点よりも前記基部寄りの部分は前記基部に向かって厚みが徐々に厚くなるテーパ構造を有している、請求項1に記載のガスセンサ。
【請求項3】
前記かしめ部において、前記折れ点よりも後端寄りの部分の厚みは、いずれの部分においても略同一である、請求項1又は請求項2に記載のガスセンサ。
【請求項4】
前記かしめ部の厚みは、0.68mm以下である、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のガスセンサ。
【請求項5】
前記かしめ部のうち前記基部との境界部分における厚みをL1とし、前記かしめ部のうち最も後端の部分における厚みをL2とした場合に、L2<0.54L1という関係が成立する、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のガスセンサ。
【請求項6】
前記かしめ部において、周方向の一部において切欠きが形成されている、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載のガスセンサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はガスセンサに関する。
【背景技術】
【0002】
特許第3885781号(特許文献1)は、ガスセンサを開示する。このガスセンサにおいては、センサ素子が筒状のハウジング内に収容されている。このガスセンサにおいては、ハウジングの後端部に形成された筒状固定部を屈曲変形させることによって、ハウジングとセンサ素子とがかしめ固定されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特許第3885781号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上記特許文献1に開示されているガスセンサにおいては、筒状固定部が上方から押圧されることによって、ハウジングとセンサ素子とのかしめ固定が行なわれる。しかしながら、このガスセンサにおいては、筒状固定部のうち筒状縮径部の強度が十分ではない可能性がある。その結果、安定したかしめ形状が実現されない可能性がある。
【0005】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであって、その目的は、製造過程においてハウジングのかしめ部が上方から押圧されても、安定したかしめ形状が実現されるガスセンサを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明に従うガスセンサは、センサ素子と、保持部材と、ハウジングとを備えている。センサ素子は、被測定ガスにおける所定ガス成分の濃度を測定するために用いられる。保持部材は、センサ素子の一部を保持する。ハウジングは、センサ素子及び保持部材を収容する。ハウジングは、筒状の基部と、筒状のかしめ部とを含む。かしめ部は、基部よりも後端側に設けられており、一部が折れ曲がった状態で保持部材の後端側の位置を押さえる。かしめ部の厚みは、基部の厚みよりも薄い。かしめ部は、基部寄りの部分及び後端寄りの部分の各々よりも厚みが大きく変化する、又は、基部寄りの部分と後端寄りの部分との間において厚みの変化度合が変化する点である折れ点を有する。かしめ部において、折れ点よりも基部寄りの部分の厚みは折れ点よりも後端寄りの部分の厚みよりも厚い。
【0007】
かしめ部において、折れ点よりも基部寄りの部分の厚みは、折れ点よりも後端寄りの部分の厚みよりも厚い。したがって、このガスセンサによれば、折れ点を境にかしめ部の厚みが変化しており、かしめ時に折れ点でかしめ部が折れ曲がりやすいため、かしめ部が上方から押圧されても、かしめ部の折れ曲がる位置を制御することができる。その結果、このガスセンサによれば、かしめ部の横膨らみを抑制することができ、かしめ形状を安定させることができる。すなわち、このガスセンサによれば、かしめ部が上方から押圧されても、安定したかしめ形状が実現される。
【0008】
上記かしめ部において、折れ点よりも基部寄りの部分は、基部に向かって厚みが徐々に厚くなるテーパ構造を有していてもよい。このガスセンサによれば、折れ点よりも基部寄りの部分における強度を十分に確保することができる。その結果、かしめ部が上方から押圧されても、安定したかしめ形状が実現される。
【0009】
上記かしめ部において、折れ点よりも後端寄りの部分の厚みは、いずれの部分においても略同一であってもよい。
【0010】
上記かしめ部の厚みは、0.68mm以下であってもよい。
【0011】
上記かしめ部のうち基部との境界部分における厚みをL1とし、上記かしめ部のうち最も後端の部分における厚みをL2とした場合に、L2<0.54L1という関係が成立してもよい。
【0012】
上記かしめ部において、周方向の一部において切欠きが形成されていてもよい。
【0013】
かしめ部において、周方向の一部に切欠きが形成されていない場合について考える。この場合には、かしめ部がかしめられると、かしめ部の後端が径方向の内側に押し込まれるため、かしめ部の後端の周方向の長さが短くなる。その結果、かしめ部の折り曲げられた部分のうち余った部分が他の方向に追いやられ、例えば、かしめ部の横膨らみが生じる。このガスセンサにおいては、かしめ部において周方向の一部に切欠きが形成されている。したがって、かしめ部がかしめられ、かしめ部の後端が径方向の内側に押し込まれたとしても、折り曲げられた部分が、切り欠きがない場合と比較して径方向の内側に納まりやすい。その結果、このガスセンサによれば、かしめ部の横膨らみを抑制することができる。
【発明の効果】
【0014】
本発明によれば、製造過程においてハウジングのかしめ部が上方から押圧されても、安定したかしめ形状が実現されるガスセンサを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
図1】ガスセンサの一部の縦断面を模式的に示す図である。
図2】センサ素子の構成の一例を概略的に示した断面模式図である。
図3】かしめ部がかしめられる前におけるハウジングの縦断面を模式的に示す図である。
図4図3の部分C1の拡大図である。
図5】3室構造のセンサ素子の構成の一例を概略的に示した断面模式図である。
図6】第1の変形例における、かしめ部がかしめられる前におけるハウジングの縦断面を模式的に示す図である。
図7図6のVII-VII断面を模式的に示す図である。
図8】第2の変形例における、かしめ部の形状を模式的に示す図である。
図9】第3の変形例における、かしめ部の形状を模式的に示す図である。
図10】第4の変形例における、かしめ部の形状を模式的に示す図である。
図11】比較例における、かしめ部の形状を模式的に示す図である。
図12】試験器を用いたリーク試験の概略説明図である。
図13】比較例2のかしめ形状の例を示す図である。
図14】実施例1のかしめ形状の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
【0017】
[1.ガスセンサの全体構成]
図1は、本実施の形態に従うガスセンサ100の一部の縦断面を模式的に示す図である。なお、各図面においては、後述のセンサ素子101の長手方向が前後方向であり、センサ素子101の厚み方向が上下方向である。
【0018】
図1に示されるように、ガスセンサ100は、例えば、車両の排ガス管等の配管に取り付けられる。ガスセンサ100は、排気ガス等の被測定ガスにおける所定ガス成分の濃度を測定するように構成されている。所定ガス成分としては、例えば、NOx及びO2が挙げられる。なお、本実施の形態に従うガスセンサ100は、被測定ガスにおけるNOx濃度を測定するように構成されている。
【0019】
ガスセンサ100は、センサ素子101と、保護カバー130と、保持部材143と、ハウジング140とを含んでいる。センサ素子101は、長尺な直方体形状を有し、被測定ガス中の所定ガス成分を検出するために用いられる。センサ素子101については、後程詳しく説明する。保護カバー130は、筒状であり、センサ素子101の前端周辺を覆う。
【0020】
保持部材143は、セラミックスサポーター144a,144bと、圧粉体145とを含んでいる。セラミックスサポーター144a,144b及び圧粉体145の各々は、ハウジング140内においてセンサ素子101の周囲を覆い、センサ素子101を保持している。
【0021】
ハウジング140は、筒状の基部141と、筒状のかしめ部142とを含んでいる。セラミックスサポーター144a,144b及び圧粉体145の各々は、基部141の内側に封入されている。センサ素子101は、保持部材143及びハウジング140の各々の中心軸上に位置しており、保持部材143及びハウジング140の各々を前後方向に貫通している。
【0022】
かしめ部142は、基部141よりも後端側に設けられており、折れ曲がった状態で保持部材143(セラミックスサポーター144b)の後端側の位置を押さえている。かしめ部142は、周方向の全周に渡って形成されている。かしめ部142は、上方(図中、後方向)からかしめ加工が行なわれることによって折れ曲がっている。これにより、保持部材143がハウジング140内に固定されている。かしめ部142の厚みは、基部141の厚みよりも薄い。かしめ部142については、後程詳しく説明する。
【0023】
[2.センサ素子の構成]
図2は、ガスセンサ100が備えるセンサ素子101の構成の一例を概略的に示した断面模式図である。センサ素子101は、それぞれがジルコニア(ZrO2)等の酸素イオン伝導性固体電解質層からなる第1基板層1と、第2基板層2と、第3基板層3と、第1固体電解質層4と、スペーサ層5と、第2固体電解質層6との6つの層が、図面視で下側からこの順に積層された構造を有する素子である。また、これら6つの層を形成する固体電界質は緻密な気密のものである。係るセンサ素子101は、例えば、各層に対応するセラミックスグリーンシートに所定の加工及び回路パターンの印刷などを行った後にそれらを積層し、さらに、焼成して一体化させることによって製造される。
【0024】
センサ素子101の先端は、保護層90によって被覆されている。保護層90は、多孔質体で構成されており、例えばセラミックス粒子を含むセラミックスで構成されている。セラミックス粒子としては、アルミナ(Al23)、ジルコニア(ZrO2)、スピネル(MgAl24)、ムライト(Al613Si2)等の金属酸化物の粒子が挙げられ、保護層90は、これらの少なくともいずれかを含んでいることが好ましい。なお、本実施の形態において、保護層90は、アルミナ多孔質体で構成されている。
【0025】
センサ素子101の一先端部であって、第2固体電解質層6の下面と第1固体電解質層4の上面との間には、ガス導入口10と、第1拡散律速部11と、緩衝空間12と、第2拡散律速部13と、第1内部空所20と、第3拡散律速部30と、第2内部空所40とが、この順に連通する態様にて隣接形成されてなる。
【0026】
ガス導入口10と、緩衝空間12と、第1内部空所20と、第2内部空所40とは、スペーサ層5をくり抜いた態様にて設けられた上部を第2固体電解質層6の下面で、下部を第1固体電解質層4の上面で、側部をスペーサ層5の側面で区画されたセンサ素子101内部の空間である。
【0027】
第1拡散律速部11と、第2拡散律速部13と、第3拡散律速部30とはいずれも、2本の横長の(図面に垂直な方向に開口が長手方向を有する)スリットとして設けられる。なお、ガス導入口10から第2内部空所40に至る部位をガス流通部とも称する。
【0028】
また、ガス流通部よりも先端側から遠い位置には、第3基板層3の上面と、スペーサ層5の下面との間であって、側部を第1固体電解質層4の側面で区画される位置に基準ガス導入空間43が設けられている。基準ガス導入空間43には、例えば大気が導入される。なお、第1固体電解質層4がセンサ素子101の後端まで延びており、基準ガス導入空間43が形成されていなくてもよい。また、基準ガス導入空間43が形成されていない場合に、大気導入層48がセンサ素子101の後端まで延びていてもよい(例えば、図5参照)。
【0029】
大気導入層48は、多孔質アルミナからなる層であって、大気導入層48には基準ガス導入空間43を通じて基準ガスが導入されるようになっている。また、大気導入層48は、基準電極42を被覆するように形成されている。
【0030】
基準電極42は、第3基板層3の上面と第1固体電解質層4とに挟まれる態様にて形成される電極であり、上述のように、その周囲には、基準ガス導入空間43につながる大気導入層48が設けられている。また、後述するように、基準電極42を用いて第1内部空所20内や第2内部空所40内の酸素濃度(酸素分圧)を測定することが可能となっている。
【0031】
ガス流通部において、ガス導入口10は、外部空間に対して開口してなる部位であり、該ガス導入口10を通じて外部空間からセンサ素子101内に被測定ガスが取り込まれるようになっている。
【0032】
第1拡散律速部11は、ガス導入口10から取り込まれた被測定ガスに対して、所定の拡散抵抗を付与する部位である。
【0033】
緩衝空間12は、第1拡散律速部11より導入された被測定ガスを第2拡散律速部13へと導くために設けられた空間である。
【0034】
第2拡散律速部13は、緩衝空間12から第1内部空所20に導入される被測定ガスに対して、所定の拡散抵抗を付与する部位である。
【0035】
被測定ガスが、センサ素子101外部から第1内部空所20内まで導入されるにあたって、外部空間における被測定ガスの圧力変動(被測定ガスが自動車の排気ガスの場合であれば排気圧の脈動)によってガス導入口10からセンサ素子101内部に急激に取り込まれた被測定ガスは、直接第1内部空所20へ導入されるのではなく、第1拡散律速部11、緩衝空間12、第2拡散律速部13を通じて被測定ガスの濃度変動が打ち消された後、第1内部空所20へ導入されるようになっている。これによって、第1内部空間へ導入される被測定ガスの濃度変動はほとんど無視できる程度のものとなる。
【0036】
第1内部空所20は、第2拡散律速部13を通じて導入された被測定ガス中の酸素分圧を調整するための空間として設けられている。係る酸素分圧は、主ポンプセル21が作動することによって調整される。
【0037】
主ポンプセル21は、第1内部空所20に面する第2固体電解質層6の下面のほぼ全面に設けられた天井電極部22aを有する内側ポンプ電極22と、第2固体電解質層6の上面の天井電極部22aと対応する領域に外部空間に露出する態様にて設けられた外側ポンプ電極23と、これらの電極に挟まれた第2固体電解質層6とによって構成されてなる電気化学的ポンプセルである。
【0038】
内側ポンプ電極22は、第1内部空所20を区画する上下の固体電解質層(第2固体電解質層6及び第1固体電解質層4)、及び、側壁を与えるスペーサ層5にまたがって形成されている。具体的には、第1内部空所20の天井面を与える第2固体電解質層6の下面には天井電極部22aが形成され、また、底面を与える第1固体電解質層4の上面には底部電極部22bが形成され、そして、それら天井電極部22aと底部電極部22bとを接続するように、側部電極部(図示省略)が第1内部空所20の両側壁部を構成するスペーサ層5の側壁面(内面)に形成されて、該側部電極部の配設部位においてトンネル形態とされた構造において配設されている。
【0039】
内側ポンプ電極22と外側ポンプ電極23とは、多孔質サーメット電極(例えば、Auを1%含むPtとZrO2とのサーメット電極)として形成される。なお、被測定ガスに接触する内側ポンプ電極22は、被測定ガス中のNOx成分に対する還元能力を弱めた材料を用いて形成される。
【0040】
主ポンプセル21においては、内側ポンプ電極22と外側ポンプ電極23との間に所望のポンプ電圧Vp0を印加して、内側ポンプ電極22と外側ポンプ電極23との間に正方向あるいは負方向にポンプ電流Ip0を流すことにより、第1内部空所20内の酸素を外部空間に汲み出し、あるいは、外部空間の酸素を第1内部空所20に汲み入れることが可能となっている。
【0041】
また、第1内部空所20における雰囲気中の酸素濃度(酸素分圧)を検出するために、内側ポンプ電極22と、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と、基準電極42によって、電気化学的なセンサセル、すなわち、主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80が構成されている。
【0042】
主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80における起電力V0を測定することで第1内部空所20内の酸素濃度(酸素分圧)がわかるようになっている。さらに、起電力V0が一定となるようにVp0をフィードバック制御することでポンプ電流Ip0が制御されている。これによって、第1内部空所内20内の酸素濃度は所定の一定値に保つことができる。
【0043】
第3拡散律速部30は、第1内部空所20で主ポンプセル21の動作により酸素濃度(酸素分圧)が制御された被測定ガスに所定の拡散抵抗を付与して、該被測定ガスを第2内部空所40に導く部位である。
【0044】
第2内部空所40は、第3拡散律速部30を通じて導入された被測定ガス中の窒素酸化物(NOx)濃度の測定に係る処理を行うための空間として設けられている。NOx濃度の測定は、主として、補助ポンプセル50により酸素濃度が調整された第2内部空所40において、さらに、測定用ポンプセル41の動作によりNOx濃度が測定される。
【0045】
第2内部空所40では、あらかじめ第1内部空所20において酸素濃度(酸素分圧)が調整された後、第3拡散律速部を通じて導入された被測定ガスに対して、さらに補助ポンプセル50による酸素分圧の調整が行われるようになっている。これにより、第2内部空所40内の酸素濃度を高精度に一定に保つことができるため、係るガスセンサ100においては精度の高いNOx濃度測定が可能となる。
【0046】
補助ポンプセル50は、第2内部空所40に面する第2固体電解質層6の下面の略全体に設けられた天井電極部51aを有する補助ポンプ電極51と、外側ポンプ電極23(外側ポンプ電極23に限られるものではなく、センサ素子101と外側の適当な電極であれば足りる)と、第2固体電解質層6とによって構成される、補助的な電気化学的ポンプセルである。
【0047】
係る補助ポンプ電極51は、先の第1内部空所20内に設けられた内側ポンプ電極22と同様なトンネル形態とされた構造において、第2内部空所40内に配設されている。つまり、第2内部空所40の天井面を与える第2固体電解質層6に対して天井電極部51aが形成され、また、第2内部空所40の底面を与える第1固体電解質層4には、底部電極部51bが形成され、そして、それらの天井電極部51aと底部電極部51bとを連結する側部電極部(図示省略)が、第2内部空所40の側壁を与えるスペーサ層5の両壁面にそれぞれ形成されたトンネル形態の構造となっている。
【0048】
なお、補助ポンプ電極51についても、内側ポンプ電極22と同様に、被測定ガス中のNOx成分に対する還元能力を弱めた材料を用いて形成される。
【0049】
補助ポンプセル50においては、補助ポンプ電極51と外側ポンプ電極23との間に所望の電圧Vp1を印加することにより、第2内部空所40内の雰囲気中の酸素を外部空間に汲み出し、あるいは、外部空間から第2内部空所40内に汲み入れることが可能となっている。
【0050】
また、第2内部空所40内における雰囲気中の酸素分圧を制御するために、補助ポンプ電極51と、基準電極42と、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3とによって電気化学的なセンサセル、すなわち、補助ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル81が構成されている。
【0051】
なお、この補助ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル81にて検出される起電力V1に基づいて電圧制御される可変電源52にて、補助ポンプセル50がポンピングを行う。これにより第2内部空所40内の雰囲気中の酸素分圧は、NOxの測定に実質的に影響がない低い分圧にまで制御されるようになっている。
【0052】
また、これとともに、そのポンプ電流Ip1が、主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80の起電力の制御に用いられるようになっている。具体的には、ポンプ電流Ip1は、制御信号として主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80に入力され、その起電力V0が制御されることにより、第3拡散律速部30から第2内部空所40内に導入される被測定ガス中の酸素分圧の勾配が常に一定となるように制御されている。NOxセンサとして使用する際は、主ポンプセル21と補助ポンプセル50との働きによって、第2内部空所40内での酸素濃度は約0.001ppm程度の一定の値に保たれる。
【0053】
測定用ポンプセル41は、第2内部空所40内において、被測定ガス中のNOx濃度の測定を行う。測定用ポンプセル41は、第2内部空所40に面する第1固体電解質層4の上面であって第3拡散律速部30から離間した位置に設けられた測定電極44と、外側ポンプ電極23と、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4とによって構成された電気化学的ポンプセルである。
【0054】
測定電極44は、多孔質サーメット電極である。測定電極44は、第2内部空所40内の雰囲気中に存在するNOxを還元するNOx還元触媒としても機能する。さらに、測定電極44は、第4拡散律速部45によって被覆されてなる。
【0055】
第4拡散律速部45は、アルミナ(Al23)を主成分とする多孔体にて構成される膜である。第4拡散律速部45は、測定電極44に流入するNOxの量を制限する役割を担うと共に、測定電極44の保護膜としても機能する。
【0056】
測定用ポンプセル41においては、測定電極44の周囲の雰囲気中における窒素酸化物の分解によって生じた酸素を汲み出して、その発生量をポンプ電流Ip2として検出することができる。
【0057】
また、測定電極44の周囲の酸素分圧を検出するために、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と、測定電極44と、基準電極42とによって電気化学的なセンサセル、すなわち、測定用ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル82が構成されている。測定用ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル82にて検出された起電力V2に基づいて可変電源46が制御される。
【0058】
第2内部空所40内に導かれた被測定ガスは、酸素分圧が制御された状況下で第4拡散律速部45を通じて測定電極44に到達することとなる。測定電極44の周囲の被測定ガス中の窒素酸化物は還元されて(2NO→N2+O2)酸素を発生する。そして、この発生した酸素は測定用ポンプセル41によってポンピングされることとなるが、その際、測定用ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル82にて検出された制御電圧V2が一定となるように可変電源の電圧Vp2が制御される。測定電極44の周囲において発生する酸素の量は、被測定ガス中の窒素酸化物の濃度に比例するものであるから、測定用ポンプセル41におけるポンプ電流Ip2を用いて被測定ガス中の窒素酸化物濃度が算出されることとなる。
【0059】
また、測定電極44と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と、基準電極42とを組み合わせて、電気化学的センサセルとして酸素分圧検出手段を構成するようにすれば、測定電極44の周りの雰囲気中のNOx成分の還元によって発生した酸素の量と基準大気に含まれる酸素の量との差に応じた起電力を検出することができ、これによって被測定ガス中のNOx成分の濃度を求めることも可能である。
【0060】
また、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と、外側ポンプ電極23と、基準電極42とから電気化学的なセンサセル83が構成されており、このセンサセル83によって得られる起電力Vrefによりセンサ外部の被測定ガス中の酸素分圧を検出可能となっている。
【0061】
このような構成を有するガスセンサ100においては、主ポンプセル21と補助ポンプセル50とを作動させることによって酸素分圧が常に一定の低い値(NOxの測定に実質的に影響がない値)に保たれた被測定ガスが測定用ポンプセル41に与えられる。したがって、被測定ガス中のNOxの濃度に略比例して、NOxの還元によって発生する酸素が測定用ポンプセル41より汲み出されることによって流れるポンプ電流Ip2に基づいて、被測定ガス中のNOx濃度を知ることができるようになっている。
【0062】
さらに、センサ素子101は、固体電解質の酸素イオン伝導性を高めるために、センサ素子101を加熱して保温する温度調整の役割を担うヒータ部70を備えている。ヒータ部70は、ヒータ電極71と、ヒータ72と、スルーホール73と、ヒータ絶縁層74と、圧力放散孔75とを備えている。
【0063】
ヒータ電極71は、第1基板層1の下面に接する態様にて形成されてなる電極である。ヒータ電極71を外部電源と接続することによって、外部からヒータ部70へ給電することができるようになっている。
【0064】
ヒータ72は、第2基板層2と第3基板層3とに上下から挟まれた態様にて形成される電気抵抗体である。ヒータ72は、スルーホール73を介してヒータ電極71と接続されており、該ヒータ電極71を通して外部より給電されることにより発熱し、センサ素子101を形成する固体電解質の加熱と保温を行う。
【0065】
また、ヒータ72は、第1内部空所20から第2内部空所40の全域に渡って埋設されており、センサ素子101全体を上記固体電解質が活性化する温度に調整することが可能となっている。
【0066】
ヒータ絶縁層74は、ヒータ72の上下面に、アルミナ等の絶縁体によって形成されてなる絶縁層である。ヒータ絶縁層74は、第2基板層2とヒータ72との間の電気的絶縁性、及び、第3基板層3とヒータ72との間の電気的絶縁性を得る目的で形成されている。
【0067】
圧力放散孔75は、第3基板層3を貫通し、基準ガス導入空間43に連通するように設けられてなる部位であり、ヒータ絶縁層74内の温度上昇に伴う内圧上昇を緩和する目的で形成されてなる。
【0068】
[3.ハウジングの構成]
図3は、かしめ部142がかしめられる前におけるハウジング140の縦断面を模式的に示す図である。図4は、図3の部分C1の拡大図である。
【0069】
図3及び図4を参照して、かしめ部142は、折れ点P1よりも基部141寄りの部分T1と、折れ点P1よりも後端寄りの部分T2とを含んでいる。部分T1の厚みは、部分T2の厚みよりも厚い。部分T1の厚み方向の長さは、L1であり、部分T1の範囲内のいずれの部分においても略同一である。部分T2の厚み方向の長さは、L2であり、部分T2の範囲内のいずれの部分においても略同一である。例えば、長さL1は、0.68mm程度である。また、長さL2は、0.36mm程度である。基部141寄りの部分T1及び後端寄りの部分T2の各々においては、かしめ部142の厚みが変化していない。一方、折れ点P1においては、かしめ部142の厚みが、部分T1及び部分T2の各々よりも大きく変化している。すなわち、かしめ部142は、部分T1及び部分T2の各々よりも厚みが大きく変化する折れ点P1を有する。
【0070】
このように、かしめ部142において、部分T1の厚みは、部分T2の厚みよりも厚い。したがって、折れ点P1を境にかしめ部142の厚みが変化しており、かしめ時に折れ点P1でかしめ部142が折れ曲がりやすいため、かしめ加工時にかしめ部142が上方から押圧された場合に、かしめ部142の折れ曲がる位置を折れ点P1に制御することができる。その結果、ハウジング140を含むガスセンサ100によれば、かしめ部142の座屈変形を抑制することができ、かしめ形状を安定させることができる。
【0071】
例えば、長さL1と長さL2に関し、L2<0.54L1という関係が成立してもよい。例えば、このような関係が成立することによって、かしめ部142が上方から押圧された場合に、折れ点P1においてより折れ曲がりやすくなる。
【0072】
[4.特徴]
以上のように、本実施の形態に従うガスセンサ100のかしめ部142において、折れ点P1よりも基部141寄りの部分T1の厚みは、折れ点P1よりも後端寄りの部分T2の厚みよりも厚い。したがって、ガスセンサ100によれば、折れ点P1を境にかしめ部142の厚みが変化しており、かしめ時に折れ点P1でかしめ部142が折れ曲がりやすいため、かしめ部142が上方から押圧されても、かしめ部142の折れ曲がる位置を折れ点P1に制御することができる。その結果、ガスセンサ100によれば、かしめ部142の座屈変形を抑制し、かしめ部142の横膨らみを抑制することができ、かしめ形状を安定させることができる。
【0073】
[5.変形例]
以上、実施の形態について説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて、種々の変更が可能である。以下、変形例について説明する。
【0074】
<5-1>
上記実施の形態に従うガスセンサ100において、センサ素子101には、第1内部空所20と、第2内部空所40とが形成されていた。すなわち、センサ素子101は、2室構造であった。しかしながら、センサ素子101は、必ずしも2室構造である必要はない。例えば、センサ素子101は、3室構造であってもよい。
【0075】
図5は、3室構造のセンサ素子101Xの構成の一例を概略的に示した断面模式図である。図5に示されるように、第2内部空所40(図2)を第5拡散律速部60でさらに2室に分け、第2内部空所40Xと第3内部空所61とを作成してもよい。この場合、第2内部空所40Xに補助ポンプ電極51Xを配置し、第3内部空所61に測定電極44Xを配置してもよい。また3室構造にする場合には、第4拡散律速部45を省略してもよい。
【0076】
<5-2>
また、上記実施の形態において、かしめ部142は、周方向の全周に渡って一律の形状で形成されていた。しかしながら、かしめ部142は、必ずしも周方向の全周に渡って一律の形状で形成されていなくてもよい。例えば、かしめ部142においては、周方向の一部において切欠きが形成されていてもよい。
【0077】
図6は、変形例における、かしめ部142Yがかしめられる前におけるハウジング140Yの縦断面を模式的に示す図である。図7は、図6のVII-VII断面を模式的に示す図である。
【0078】
図6及び図7を参照して、ハウジング140Yは、筒状の基部141と、筒状のかしめ部142Yとを含んでいる。かしめ部142Yにおいては、周方向の一部において切欠き部200が形成されている。
【0079】
かしめ部142Yにおいて周方向の一部に切欠き部200が形成されていない場合、かしめ部がかしめられると、かしめ部の後端が径方向の内側に押し込まれるため、かしめ部の後端の周方向の長さが短くなる。その結果、かしめ部の折り曲げられた部分のうち余った部分が他の方向に追いやられ、例えば、かしめ部の横膨らみが生じる。図6及び図7に示される変形例においては、かしめ部142Yにおいて周方向の一部に切欠き部200が形成されている。したがって、かしめ部142Yがかしめられ、かしめ部142Yの後端が径方向の内側に押し込まれたとしても、折り曲げられた部分が、切欠き部200が形成されていない場合と比較して径方向の内側に納まりやすい。その結果、かしめ部142Yの横膨らみを抑制することができる。
【0080】
<5-3>
また、かしめ部142の形状は、図4に示される形状に限定されない。例えば、かしめ部142の形状は、図8図9又は図10に示されるような形状であってもよい。すなわち、図8に示されるように、かしめ部142Z1において、部分T1Z1が、基部141に向かって厚みが徐々に厚くなるテーパ構造を有していてもよい。かしめ部142Z1においては、部分T1Z1と基部141との境界部分の厚みが最も厚くなっている。したがって、部分T1Z1における強度が十分に確保されている。その結果、かしめ部142Z1が上方から押圧されても、安定したかしめ形状が実現される。
【0081】
また、図9に示されるように、かしめ部142Z2において、折れ点P1Z2よりも基部141寄りの部分T1Z2のみならず、折れ点P1Z2よりも後端寄りの部分T2Z2もテーパ構造を有していてもよい。また、図10に示されるように、かしめ部142Z3において、折れ点P1Z3よりも後端寄りの部分T2Z3が有するテーパ構造が曲線状であってもよい。要するに、かしめ部において、折れ点よりも基部寄りの部分における厚みと、折れ点よりも後端寄りの部分における厚みとが異なっていれば、かしめ部の形状はどのようなものであってもよい。また、かしめ部にテーパ構造が形成されている場合には、折れ点よりも基部寄りの部分における厚みの変化度合と、折れ点よりも後端寄りの部分における厚みの変化度合とが異なっていてもよい。この場合に、折れ点は、基部寄りの部分と後端寄りの部分との間において厚みの変化度合が変化する点である。
【0082】
[6.実施例等]
<6-1.実施例1及び比較例1-3>
図1に示されるガスセンサ100の一部と同等のもの(一次組立品)が製造された。実施例1-3及び比較例1-2の各々においては、かしめ部の形状のみが異なっていた。実施例1におけるかしめ部の形状は図4に示される形状であり、実施例2におけるかしめ部の形状は図8に示される形状であり、実施例3におけるかしめ部の形状は図9に示される形状であった。
【0083】
実施例1において、かしめ部142と基部141との境界部分におけるかしめ部142の厚みは、0.68mmであった。また、かしめ部142の後端部分の厚みは、0.36mmであった。また、実施例2において、かしめ部142Z1と基部141との境界部分におけるかしめ部142Z1の厚みは、0.68mmであった。また、かしめ部142Z1の後端部分の厚みは、0.36mmであった。また、実施例3において、かしめ部142Z2と基部141との境界部分におけるかしめ部142Z2の厚みは、0.68mmであった。また、142Z第2基板層2の後端部分の厚みは、0.36mmであった。
【0084】
比較例1においては、図11に示されるかしめ部142Z4のように、かしめ部において厚みが一律であった。すなわち、比較例1においては、かしめ部において折れ点及びテーパ構造を有する部分は存在しなかった。比較例1におけるかしめ部の厚みは、0.56mmであった。
【0085】
比較例2においては、図11に示されるかしめ部142Z4のように、かしめ部において厚みが一律であった。すなわち、比較例2においては、かしめ部においてテーパ構造を有する部分は存在しなかった。比較例2におけるかしめ部の厚みは、0.46mmであった。
【0086】
<6-2.試験>
(6-2-1.かしめ部のコンピュータ断層撮影)
実施例1-3及び比較例1-2の各々の一次組立品に関し、コンピュータ断層撮影(CT)を行なった。CTを通じて生成された画像に基づいて、かしめ部における横膨らみの有無が確認された。
【0087】
(6-2-2.リーク試験)
一次組立品を用いてリーク試験を行なった。リーク試験を通じて、保持部材143とセンサ素子101との気密性能を検査した。
【0088】
図12は、試験器500を用いたリーク試験の概略説明図である。図12に示されるように、試験器500は、取付治具502と、上カバー504と、下カバー506と、管508とを含んでいる。取付治具502には、一次組立品の雄ネジ部(図示省略)が取り付け可能な雌ネジ部(図示省略)が形成されている。上カバー504及び下カバー506は、取付治具502の上下をそれぞれ覆う。管508は、下カバー506の開口と接続されている。上カバー504、取付治具502及び下カバー506の接続部はOリングで封止されている。取付治具502の雌ネジ部に、雄ネジ部にシールテープが巻かれた一次組立品を取り付け、トルクレンチ(4.0Nm)で固定した。
【0089】
これにより、上カバー504内と下カバー506内とが、一次組立品の内部を介する以外は互いにガスが流通しない状態とした。そして、管508の内部に石鹸水からなる膜510を張った。この状態で、上カバー504の上部開口からエアーを供給して0.4MPaGの圧力を1分間かけ、膜510の上昇量(mm)をスケールで測定した。そして、この上昇量を、リーク量(cc/min)に換算した。なお、上昇量1mmが0.01cc(=0.01cm3)のリーク量に相当する。リーク量が少ないほど、保持部材143とセンサ素子101との気密性が高いことを意味する。
【0090】
<6-3.試験結果>
(6-3-1.かしめ部のコンピュータ断層撮影)
CTの結果、実施例1-3においては、かしめ部において座屈変形がほとんど生じず、かしめ部の横膨らみがほとんど生じなかった。一方、比較例1,2においては、かしめ部において座屈変形が生じ、かしめ部の横膨らみが生じた。
【0091】
図13は、比較例2のかしめ形状の例を示す図である。図13に示されるように、比較例2においては、かしめ部で横膨らみが生じた。比較例1においても、比較例2と同様にかしめ部の横膨らみが生じた。
【0092】
図14は、実施例1のかしめ形状の例を示す図である。図14に示されるように、実施例1においては、かしめ部で横膨らみが生じなかった。実施例2,3においても、実施例1と同様にかしめ部の横膨らみが生じなかった。
【0093】
(6-3-2.リーク試験)
実施例1-3及び比較例1-2の各々について4つの一次組立品を用意し、リーク試験を行なった。リーク試験の結果については、次の総合評価において説明する。
【0094】
(6-3-3.総合評価)
リーク量に関しては、リーク量が0.1cc/min以下である場合に「good」と評価し、リーク量が0.1cc/minより大きい場合に「bad」と評価した。保持力に関しては、かしめ部に横膨らみがなく、内部部品(例えば、保持部材143)とかしめ部との間に隙間が確認されなかった場合に「good」と評価し、かしめ部に横膨らみがあり、内部部品とかしめ部との間に隙間が確認された場合に「bad」と評価した。総合評価に関しては、リーク量及び保持力の両方が「good」である場合に「good」と評価し、リーク量及び保持力の少なくともいずれかが「bad」である場合に「bad」と評価した。評価結果を以下の表1に示す。
【0095】
【表1】
表1に示されるように、比較例1-2の各々は総合評価が「bad」であるのに対して、実施例1-3は総合評価が「good」であった。
【符号の説明】
【0096】
1 第1基板層、2 第2基板層、3 第3基板層、4 第1固体電解質層、5 スペーサ層、6 第2固体電解質層、10 ガス導入口、11 第1拡散律速部、12 緩衝空間、13 第2拡散律速部、20 第1内部空所、21 主ポンプセル、22 内側ポンプ電極、22a,51a,51aX 天井電極部、22b,51b,51bX 底部電極部、23 外側ポンプ電極、30 第3拡散律速部、40,40X 第2内部空所、41 測定用ポンプセル、42 基準電極、43 基準ガス導入空間、44,44X 測定電極、45 第4拡散律速部、46,52 可変電源、48 大気導入層、50 補助ポンプセル、51,51X 補助ポンプ電極、60 第5拡散律速部、61 第3内部空所、70 ヒータ部、71 ヒータ電極、72 ヒータ、73 スルーホール、74 ヒータ絶縁層、75 圧力放散孔、80 主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル、81 補助ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル、82 測定用ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル、83 センサセル、90 保護層、100 ガスセンサ、101 センサ素子、130 保護カバー、140,140Y ハウジング、141 基部、142,142Y,142Z1,142Z2,142Z3,142Z4 かしめ部、143 保持部材、144a,144b セラミックスサポーター、145 圧粉体、200 切欠き部、500 試験器、502 取付治具、504 上カバー、506 下カバー、508 管、510 膜、P1,P1Z1,P1Z2,P1Z3 折れ点。
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11
図12
図13
図14