(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022157591
(43)【公開日】2022-10-14
(54)【発明の名称】溶接制御方法、溶接電源、溶接システム、溶接方法及び積層造形方法
(51)【国際特許分類】
B23K 9/173 20060101AFI20221006BHJP
B23K 9/09 20060101ALI20221006BHJP
B23K 9/095 20060101ALI20221006BHJP
B23K 9/12 20060101ALI20221006BHJP
B23K 9/04 20060101ALI20221006BHJP
B23K 9/032 20060101ALI20221006BHJP
B25J 13/00 20060101ALI20221006BHJP
【FI】
B23K9/173 C
B23K9/09
B23K9/095 501A
B23K9/12 331F
B23K9/04 G
B23K9/04 Z
B23K9/032 Z
B25J13/00 Z
【審査請求】未請求
【請求項の数】16
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2021061901
(22)【出願日】2021-03-31
(71)【出願人】
【識別番号】000001199
【氏名又は名称】株式会社神戸製鋼所
(74)【代理人】
【識別番号】110002000
【氏名又は名称】特許業務法人栄光特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】徐 培尓
(72)【発明者】
【氏名】中司 昇吾
(72)【発明者】
【氏名】小川 亮
(72)【発明者】
【氏名】佐藤 英市
【テーマコード(参考)】
3C707
4E001
4E081
4E082
【Fターム(参考)】
3C707AS11
3C707BS10
3C707LS04
4E001AA03
4E001BB06
4E001DD01
4E001DD04
4E001DD05
4E001DD06
4E001DE04
4E001EA04
4E001EA05
4E001EA08
4E081BB04
4E081CA07
4E082AA01
4E082AB02
4E082BA04
4E082CA01
4E082DA01
4E082EA11
4E082EB11
4E082EC01
4E082EF02
4E082EF07
4E082EF08
4E082EF26
4E082FA04
(57)【要約】
【課題】溶滴移行の規則性が乱れる現象を抑制し、スパッタを低減させる。
【解決手段】第1パルス期間T1と第2パルス期間T2とを、1周期とするパルス波形の制御を行う溶接制御方法は、電圧検出手段VDにより、電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、電圧偏差平均算出手段81により、電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分である差分信号に基づいて、第2パルス期間T2内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、制御量算出手段82により、電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、第1ピーク電流値Ip1及び第2ピーク電流値Ip2のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有する。
【選択図】
図3
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行う溶接制御方法であって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする溶接制御方法。
【請求項2】
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveを、前記第2パルス期間全体により算出する、請求項1に記載の溶接制御方法。
【請求項3】
前記制御量算出ステップにおいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出するにあたり、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量範囲をあらかじめ定めておき、
算出された前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量が、前記あらかじめ定めた制御量範囲を外れた場合に、前記第2ベース期間におけるベース時間及びベース電流、並びに前記第1ベース期間におけるベース時間及びベース電流値のうち少なくとも一つを制御する、請求項1又は2に記載の溶接制御方法。
【請求項4】
前記制御量算出ステップにおいて、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに対して、少なくとも、あらかじめ定めたゲイン値P2_gain及び補正係数を乗じて、電流操作量Diを算出し、
前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を増減させるためのピーク電流制御量Di_sumを、任意の過去の周期から現周期までの前記電流操作量Diの積算値として算出する、請求項1~3のいずれか1項に記載の溶接制御方法。
【請求項5】
前記補正係数を電流補正係数Ic_aveとし、
前記電流補正係数Ic_aveは、少なくとも、あらかじめ定めた溶接電流設定信号Is及び前記ピーク電流制御量Di_sumを加算した値を含む、請求項4に記載の溶接制御方法。
【請求項6】
前記ゲイン値P2_gainは、少なくとも、前記溶接ワイヤの送給速度又は設定溶接電流に基づいて設定される、請求項4又は5に記載の溶接制御方法。
【請求項7】
前記第1ピーク期間及び前記第2ピーク期間のうち少なくとも一方における、立上り部及び立下り部は、3段以下の傾きを有する、請求項1~6のいずれか1項に記載の溶接制御方法。
【請求項8】
前記第1ピーク期間における立下り部は、第1傾斜区間、電流一定区間及び第2傾斜区間からなる、請求項1~7のいずれか1項に記載の溶接制御方法。
【請求項9】
前記第1ピーク期間における前記立下り部において離脱検出信号が検出されない場合に、
前記第1ベース期間中に、あらかじめ定めた固定波形制御を追加する、請求項8に記載の溶接制御方法。
【請求項10】
前記固定波形制御中に前記離脱検出信号が検出されない場合に、
次のパルス期間における前記第2ピーク電流値として、あらかじめ定めた第2ピーク電流基準値に対してあらかじめ定めた固定値Ic1を減算した値を適用する、請求項9に記載の溶接制御方法。
【請求項11】
前記第1パルス期間中に短絡信号を検出した場合に、
次のパルス期間における前記第2ピーク電流値として、あらかじめ定めた第2ピーク電流基準値に対してあらかじめ定めた固定値Ic2を加算した値を適用する、請求項1~10のいずれか1項に記載の溶接制御方法。
【請求項12】
前記第2パルス期間中にアーク不安定を検出した場合に
次のパルス期間における前記第1ピーク電流値として、あらかじめ定めた第1ピーク電流基準値に対してあらかじめ定めた固定値Ic3を加算した値を適用する、請求項1~11のいずれか1項に記載の溶接制御方法。
【請求項13】
ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行う溶接電源であって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出手段と、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出手段と、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出手段と、を有することを特徴とする溶接電源。
【請求項14】
溶接ロボットと、送給装置と、溶接電源と、シールドガス供給装置と、溶接制御装置と、を少なくとも備え、ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御に用いられる溶接システムであって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記溶接電源は、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出手段と、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出手段と、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出手段と、を有することを特徴とする溶接システム。
【請求項15】
ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行いながら、アーク溶接する溶接方法であって、
前記アーク溶接に用いられるシールドガスとして、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスを含み、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記波形制御の方法として、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする溶接方法。
【請求項16】
ガスシールドアーク溶接を応用した積層造形において溶接電流の波形制御を行いながら、積層造形を行う積層造形方法であって、
前記ガスシールドアーク溶接に用いられるシールドガスとして、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスを含み、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記波形制御の方法として、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする積層造形方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、パルス波形を用いたガスシールドアーク溶接における溶接制御方法、溶接電源、溶接システム、溶接方法及びガスシールドアーク溶接を応用した積層造形方法に関する。
【背景技術】
【0002】
ガスシールドアーク溶接(GMAW:Gas-shielded Metal Arc Welding)において、シールドガス中に炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス、酸素ガス等の電位傾度の高い成分が含まれる場合、溶滴移行の形態はグロビュラー移行をとる。グロビュラー移行は、溶融池へ移行する溶滴サイズが不規則になるため、従来、スパッタの発生を主とする溶接作業性に課題があった。なお、このGMAWの応用例として、「付加製造」(Additive Manufacturing)技術、より具体的には金属積層造型(WAAM:Wire and Arc Additive Manufacturing)技術があり、本課題は溶接の分野だけでなく、付加製造の分野においても共通の課題となる。
なお、付加製造という用語は、広義では「積層造形」または「ラピットプロトタイピング」の用語で用いられることがあり、本発明においては、統一して「積層造形」の用語を用いる。また、本発明の溶接技術を積層造形に適用する場合は、「溶接」の用語を「溶着」、「付加製造」または「積層造形」等に適宜言い換えるとよい。例えば、溶接として扱う場合は「溶接制御方法」や「溶接電源」となるが、積層造形として扱う場合は、「積層造形制御方法」や「積層造形電源」と言い換える。
【0003】
上記課題を解決するにあたり、特許文献1には、炭酸ガス単体又は炭酸ガスを主成分とする混合ガスを用いた消耗電極式アーク溶接において、溶接アークを安定させ、溶滴の移行規則性を向上させて、スパッタ発生量及びヒューム発生量を大幅に低減させる技術が開示されている。
具体的に、当該技術は、相互にパルスピーク電流レベル及びパルス幅の異なるパルス波形を有する第1パルスと第2パルスとが交互に繰り返されるパルス電流を溶接電流としてアーク溶接する方法であって、第1パルスのピーク電流が300~700A、ピーク期間が0.3~5.0ms、ベース電流が30~200A、ベース期間が0.3~10msであり、第2パルスのピーク電流が200~600A、ピーク期間が1.0~15ms、ベース電流が30~200A、ベース期間が3.0~20msとするものである。この方法によれば、溶接アークの安定性を向上させ、大粒スパッタ発生量及びヒューム発生量を大幅に低減できると共に、溶滴離脱時のワイヤ先端のくびれ部分の飛散による小粒スパッタ及び溶滴離脱後のワイヤに残留した融液の飛散によるスパッタを大幅に低減できるとされている。
【0004】
また、特許文献2には、炭酸ガス主体のシールドガスを用いても、1周期あたり1溶滴移行が可能であり、何らかの外乱で溶滴移行の規則性が乱れても、即座に正常状態に復帰させることができる技術が開示されている。
具体的に、当該技術は、何らかの外乱で溶滴移行の規則性が乱れたときに、溶滴を離脱させる第1パルスに続いて、溶滴を整形する第2パルスとは異なる第3パルスを出力する方法であって、溶滴移行の規則性を正常状態に復帰させるまでに要する期間を従来よりも短縮するものである。この方法によれば、正常状態に復帰させるまでに要する期間に発生するスパッタ及びヒュームを低減できる結果、仮に溶滴移行の規則性が乱れたとしても、そのときの溶接の品質の低下を最小限に食い止めることができるとされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開2007-237270号公報
【特許文献2】特開2009-233728号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかしながら、特許文献1の技術は、特許文献2の段落0017で指摘されているように、第1パルスと第2パルスとを交互に生成するように設定した波形に対し、何らかの外乱で溶滴移行の規則性が乱れると、正常状態に復活するまでの期間、スパッタ及びヒュームが発生する。また、特許文献2の技術は、溶滴移行の規則性が乱れた場合に、第1パルスと第2パルスとを交互に生成するように設定した波形に対して、溶滴移行を行わせる第3パルスを出力することで、正常状態に復帰できるようにリセットするものであるが、この第3パルスがスパッタ発生の原因となる。よって、スパッタを顕著に低減させるためには、溶滴移行の規則性が乱れる現象を抑制する必要が生じる。
【0007】
本発明は、前述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを交互に生成するように設定した波形に対し、溶滴移行の規則性が乱れる現象を抑制し、スパッタを低減することができる溶接制御方法、溶接電源、溶接システム、溶接方法及び積層造形方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
したがって、本発明の上記目的は、溶接制御方法に係る下記[1]の構成により達成される。
[1] ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行う溶接制御方法であって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする溶接制御方法。
【0009】
また、本発明の上記目的は、溶接電源に係る下記[2]の構成により達成される。
[2] ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行う溶接電源であって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出手段と、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出手段と、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出手段と、を有することを特徴とする溶接電源。
【0010】
また、本発明の上記目的は、溶接システムに係る下記[3]の構成により達成される。
[3] 溶接ロボットと、送給装置と、溶接電源と、シールドガス供給装置と、溶接制御装置と、を少なくとも備え、ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御に用いられる溶接システムであって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記溶接電源は、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出手段と、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出手段と、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出手段と、を有することを特徴とする溶接システム。
【0011】
また、本発明の上記目的は、溶接方法に係る下記[4]の構成により達成される。
[4] ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行いながら、アーク溶接する溶接方法であって、
前記アーク溶接に用いられるシールドガスとして、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスを含み、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記波形制御の方法として、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする溶接方法。
【0012】
また、本発明の上記目的は、積層造形方法に係る下記[5]の構成により達成される。
[5] ガスシールドアーク溶接を応用した積層造形において溶接電流の波形制御を行いながら、積層造形を行う積層造形方法であって、
前記ガスシールドアーク溶接に用いられるシールドガスとして、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスを含み、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記波形制御の方法として、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする積層造形方法。
【発明の効果】
【0013】
本発明によれば、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを交互に生成するように設定した波形に対し、第1パルス期間の第1ピーク電流値及び第2パルス期間の第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を制御することで、溶滴移行の規則性が乱れる現象を抑制でき、スパッタの発生をより低減させることができる。
【図面の簡単な説明】
【0014】
【
図1】
図1は、本実施形態に係る溶接システムの一構成例を示す概略図である。
【
図2B】
図2Bは、基準パルス波形における各設定値の説明図である。
【
図5】
図5における上側のグラフは、第2パルス期間T2における電圧検出信号Voと電圧設定信号Vsとを比較して示すグラフである。また、
図5における下側のグラフは、第2パルス期間T2における電圧検出信号Voと電圧設定信号Vとの差分を積算して示すグラフである。
【
図6】
図6は、第1ピーク電流値Ip1の立下り部の変化の一例を示すグラフである。
【
図7】
図7は、離脱検出信号が検出されない場合、第1ベース期間Tb1中に、あらかじめ定めた固定波形制御を追加する状態を示すグラフである。
【
図8】
図8は、固定波形制御中に離脱検出信号が検出されない場合、次のパルス期間の第2ピーク電流値Ip2として、あらかじめ定めた第2ピーク電流基準値Ip2_refに対してあらかじめ定めた固定値Ic1を減算した電流値を適用した状態を示すグラフである。
【
図9】
図9は、第1パルス期間T1中に短絡信号を検出した場合及び第2パルス期間T2中にアーク不安定を検出した場合における、それぞれの制御方法の一例を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0015】
以下、本発明に係る一実施形態について図面を参照しつつ説明する。なお、本実施形態は溶接ロボットを用いた場合の一例であり、本発明に係る溶接制御方法は本実施形態の構成に限定されるものではない。例えば、台車を用いた自動溶接装置に本発明の溶接制御方法を適用してもよいし、可搬型の小型溶接ロボットに本発明の溶接制御方法を適用してもよい。また、本実施形態では、パルス波形を用いたガスシールドアーク溶接方法を用いている。
さらに本実施形態においては、本発明に係る溶接制御方法を適用したガスシールドアーク溶接方法について説明するが、本発明に係る溶接制御方法は、ガスシールドアーク溶接を応用した積層造形方法についても同様に適用可能である。
【0016】
<アーク溶接システムの概要>
まず、本実施形態の溶接制御方法で用いられるアーク溶接システムの概要について説明する。
図1は、本実施形態に係るアーク溶接システムの構成例を示す概略図である。アーク溶接システム10は、溶接ロボット20、溶接電源30、制御装置40、コントローラ50、不図示の送給装置及び不図示のシールドガス供給装置を備えている。
【0017】
溶接電源30は、不図示のプラスのパワーケーブルを介して、消耗式電極である溶接ワイヤ22に通電できるように溶接ロボット20に接続され、不図示のマイナスのパワーケーブルを介して、被溶接物(以降、「ワーク」とも称する。)Wと接続されている。
図1に示す接続状態は、逆極性で溶接を行う場合であり、正極性で溶接を行う場合、溶接電源30における極性を逆にすればよい。
【0018】
また、溶接電源30と、溶接ワイヤ22を送給するための送給装置とは、不図示の信号線によって接続され、溶接ワイヤ22の送り速度を制御することができる。
【0019】
溶接ロボット20は、エンドエフェクタとして、溶接トーチ21を備えている。溶接トーチ21は、溶接ワイヤ22に通電させる通電機構、すなわち不図示のコンタクトチップを有している。溶接ワイヤ22は、コンタクトチップからの通電により、その先端からアークを発生し、その熱で溶接の対象であるワークWを溶接する。
【0020】
さらに、溶接トーチ21は、シールドガスを噴出する機構である不図示のシールドガスノズルを備える。シールドガスは、本実施形態で用いる波形の特性上、グロビュール移行の形態をとるガス組成にすればよい。具体的には、電位傾度の高い、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスが含まれることが好ましい。また、汎用性の観点から炭酸ガス単体で用いる場合がより好ましく、アルゴンガス(以降、「Ar」とも称する。)との混合ガスの場合は、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスが含まれ、Ar以外のガスが、合計で5~50%に混合した系がより好ましい。シールドガスは、シールドガス供給装置から供給される。
【0021】
本実施形態で使用する溶接ワイヤ22は、フラックスを含まないソリッドワイヤとフラックスを含むフラックス入りワイヤのどちらでもよい。溶接ワイヤ22の材質も問わず、例えば、軟鋼でもよいし、ステンレス、アルミニウム、チタンでもよく、ワイヤ表面に銅等のめっきがあってもよい。さらに、溶接ワイヤ22の径も特に問わない。本実施形態の場合、好ましくは径の上限を1.6mmとし、径の下限を0.8mmとする。
【0022】
また、本実施形態におけるワークWは特に問わず、継手形状、溶接姿勢や開先形状なども特に問わない。
【0023】
制御装置40は、主に溶接ロボット20の動作を制御する。制御装置40は、あらかじめ溶接ロボット20の動作パターン、溶接開始位置、溶接終了位置、溶接条件、ウィービング動作等を定めた教示データを保持し、溶接ロボット20に対してこれらを指示して溶接ロボット20の動作を制御する。また、制御装置40は、教示データに従い、溶接作業中の溶接電流、アーク電圧、送給速度等の溶接条件を溶接電源30に与える。
【0024】
コントローラ50は、制御装置40に接続され、溶接ロボット20を動作させるためのプログラム作成又は表示、教示データの入力等を行い、制御装置40へ与える。また、溶接ロボット20のマニュアル操作を行う機能も有する。なお、コントローラ50と制御装置40の接続は、有線であるか無線であるかを特に問わない。
【0025】
溶接電源30は、制御装置40からの指令により、溶接ワイヤ22及びワークWに電力を供給することで、溶接ワイヤ22とワークWとの間にアークを発生させる。また、溶接電源30は、制御装置40からの指令により、送給装置に溶接ワイヤ22を送給する速度を制御するための信号を出力する。
【0026】
<基準パルス波形>
次に、溶接電源30から出力される溶接電流のパルス波形について説明する。本実施形態において、溶接電源30から出力される溶接電流のパルス波形は、
図2Aに示すように、溶滴を離脱させるための第1パルス期間T1と、溶接ワイヤの先端に充分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間T2と、を交互に生成するように設定した波形(以降、「基準パルス波形」とも称する。)を基準とする。
【0027】
第1パルス期間T1は、あらかじめ定めた第1ピーク電流値Ip1を有する第1ピーク期間Tp1と、あらかじめ定めた第1ベース電流値Ib1を有し、第1ピーク期間Tp1後の第1ベース期間Tb1で構成される。また、第2パルス期間T2は、あらかじめ定めた第1ピーク電流値Ip1よりも低い第2ピーク電流値Ip2を有する第2ピーク期間Tp2と、あらかじめ定めた第2ベース電流値Ib2を有し、第2ピーク期間Tp2後の第2ベース期間Tb2で構成される。
なお、第1ピーク期間Tp1及び第2ピーク期間Tp2は、それぞれ、立上り部や立下り部も含む。すなわち、第1ピーク期間Tp1及び第2ピーク期間Tp2は、それぞれ、立上り部、ピーク部及び立下り部で構成される。さらに、本実施形態において基準パルス波形の1周期は、第1パルス期間T1と第2パルス期間T2で構成される。
【0028】
このようなパルス条件により溶接を実施すると、
図2Aに示すように、第2ピーク期間Tp2中では、溶滴23,24のように溶接ワイヤ22の先端で成長する。第2ベース期間Tb2では電流が急激に減少するため、押上げ力が弱まり、溶滴25は溶接ワイヤ22の先端で垂れ下がるように整形される。次いで、第1ピーク期間Tp1に入ると、高く設定した第1ピーク電流による電磁ピンチ力の影響により、溶滴26,27はくびれを形成して急速に離脱する。そして、離脱後に溶接ワイヤ22側にアークが移動する瞬間においては、第1ベース期間Tb1に電流が下がっている状態にする。これにより、溶接ワイヤ22のくびれ部分の飛散及び離脱後の残留融液の飛散による小粒スパッタが低減する。以後、同様にして、溶滴が形成し、離脱することを繰り返す溶滴移行が行われる。
【0029】
<溶接電源の機能構成>
続いて、本実施形態に係る溶接電源30の機能構成について詳細に説明する。
図3に示すように、溶接電源30は、アークを発生させて溶接を行うための電力を供給する電力供給部PMと、補正電流Ierrなどの各種補正量を算出する補正量算出回路60と、送給速度指令、溶接電流指令、アーク電圧指令などの信号を受け取り、電流設定信号Irを出力する出力電流制御回路70と、補正電流Ierrや電流設定信号Irを受け取り、電力供給部PMの制御量を演算する加算回路ADDと、溶接中のアーク電圧を検出して電圧検出信号Voを出力する電圧検出手段である電圧検出部VDと、溶接中の溶接電流を検出して溶接電流検出信号Ioを出力する電流検出部IDと、パルス波形に係る設定値を補正するパルス波形補正回路80を備える。
【0030】
電力供給部PMは、3相200V等の商用電源を入力として、入力された交流電圧を、後述する制御出力電流設定信号Isetと溶接電流検出信号Ioとの誤差増幅信号である電流誤差増幅信号Eiに従って、不図示のインバータ、インバータトランス、整流器等で出力制御を行い、溶接電流及びアーク電圧を出力する。また、出力電圧を平滑するためにリアクトルWLを構成する。
【0031】
電流検出部IDは、溶接中の溶接電流を検出して溶接電流検出信号Ioを出力する。溶接電流検出信号Ioは、図示しないA/D変換部でデジタル変換され、電流誤差増幅回路EI、出力電流制御回路70、補正量算出回路60及びその他制御回路などへ入力される。なお、電流誤差増幅回路EIは、電流誤差増幅信号Eiを電力供給部PMへ入力する。電力供給部PMは、この電流誤差増幅信号Eiに従って、インバータ、インバータトランス、整流器等で出力制御を行い、溶接電流及びアーク電圧を出力する。
【0032】
電圧検出部VDは、溶接中のアーク電圧を検出して電圧検出信号Voを出力する。電圧検出信号Voは、図示しないA/D変換部でデジタル変換され、後述するパルス波形補正回路80、出力電流制御回路70、補正量算出回路60及びその他の制御回路などへ入力される。
【0033】
ここで補正量算出回路60は、各種補正量を出力する回路の総称としている。本実施形態において、補正量の算出回路の種類は特に問わず、必要に応じて備えればよい。各種補正量を出力する回路として、例えば、短絡判定回路、短絡/アーク判別回路、電子リアクトル制御回路、外部特性補正回路等が挙げられる。これら補正回路から補正電流Ierrを出力し、加算回路ADDに入力する。
【0034】
出力電流制御回路70は、記憶部DB及びパルス状態生成部71を含み、出力電流制御回路70内で生成した電流設定信号Irを加算回路ADDへ出力する。記憶部DBは、初期の各種設定信号、各判定、各算出部で適用する閾値、溶接電源30の外部特性係数、すなわち溶接電源30の出力特性等のデータを有しており、各回路、各部に対し信号を出力する。
【0035】
例えば、本実施形態において、記憶部DBには、あらかじめ、溶接電流設定信号Is、電圧設定信号Vs、ワイヤ送給速度設定信号Wfr、又は波形制御の設定値や各種回路で算出するための定数などが直接入力され、又は溶接電流設定回路IS、出力電圧設定回路VS、ワイヤ送給速度設定回路WFRなどからそれぞれ入力され、格納されている。なお、本実施形態では、記憶部DBを通じて各設定値を各種回路へ入力しているが、これらの設定値は直接的に各種回路へ入力してもよいし、記憶部DBを出力電流制御回路70外へ独立して備えてもよい。
【0036】
また、波形制御の設定値とは、例えば、パルス波形制御を行う場合は、ピーク期間、ピーク電流、ベース期間、ベース電流、パルス周期などが挙げられ、短絡時の波形制御を行う場合においては、制御期間の設定値、傾斜の設定値等が挙げられる。
例えば、本実施形態においては、
図2Bに示すように、第1ピーク電流基準値Ip1_ref、第1ベース電流基準値Ib1_ref、第1ピーク期間基準値Tp1_ref、第1ベース期間基準値Tb1_ref、第2ピーク電流基準値Ip2_ref、第2ベース電流基準値Ib2_ref、第2ピーク期間基準値Tp2_ref、第2ベース期間基準値Tb2_ref、第1ピーク立上り期間基準値Tp1u_ref、第1ピーク立下り期間基準値Tp1d_ref、第2ピーク立上り期間基準値Tp2u_ref、第2ピーク立下り期間基準値Tp2d_refなどが、波形制御の設定値として用いられる。
【0037】
出力電流制御回路70におけるパルス状態生成部71は、本実施形態で示すように、溶接電流をパルス波形制御する場合に用いられ、記憶部DBから各種パルス波形に係る設定値を入力するとともに、後述するパルス波形補正回路80から出力される補正信号を入力し、パルス波形の電流設定信号Irを出力する。
【0038】
加算回路ADDは、補正量算出回路60から出力される補正電流Ierrを入力する。加算回路ADDは、補正電流Ierrに、出力電流制御回路70から出力される電流設定信号Irを加算して、電流誤差増幅回路EIへ制御出力電流設定信号Isetを出力する。補正電流Ierrは、補正量算出回路60から出力されるものだけでなく、不図示のその他の制御回路から出力されたものについても、加算回路ADDに入力されてもよい。
【0039】
<パルス波形補正回路の機能構成>
次に、本実施形態に係るパルス波形補正回路80の機能構成について、
図4に基づいて詳細に説明する。
図4に示すように、パルス波形補正回路80は、電圧偏差平均算出手段である電圧偏差平均算出部81と、制御量算出手段であるパルス波形制御量算出部82を有する。
なお、本実施形態では、第2ピーク電流Ip2を増減させるように補正することを目的としたピーク電流補正指令信号Ip2ref_setを出力するためのプロセスを説明するが、出力するピーク電流補正指令信号として、本実施形態のように第2ピーク電流Ip2のピーク電流補正指令信号Ip2ref_setでもよいし、又は第1ピーク電流値Ip1のピーク電流補正指令信号Ip1ref_setでもよく、あるいはその両方を算出して出力してもよい。
【0040】
電圧偏差平均算出部81は、少なくとも電圧設定信号Vs及び電圧検出信号Voを入力し、パルス波形制御量算出部82においてピーク電流操作量Di_sumを算出するために必要な電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出して、パルス波形制御量算出部82へ出力する。
【0041】
以下、電圧偏差平均算出部81において、電圧偏差平均値Verrp2_aveの算出過程について一例を挙げる。
【0042】
(a)電圧偏差平均算出部81は、電圧設定信号Vs及び電圧検出信号Voを入力し、あらかじめ定めた検出のサンプリングごとに、電圧設定信号Vsと電圧検出信号Voとの差分値Verrを算出する。例えば、サンプリング周期を0.05msec(50μsec)とした設定した場合は、0.05msecごとに差分値Verrを算出する。
(b)電圧偏差平均算出部81は、この差分値Verrを、第2パルス期間T2内において、あらかじめ定めた区間におけるサンプリング数ごとの差分信号である第2パルス差分信号Verrp2を少なくとも1つ抽出し、その第2パルス差分信号Verrp2をサンプリング数分積算して、電圧偏差積算値Verrp2_sumを算出する。具体的には、
図5に示すように、例えば、第2ピーク期間Tp2の立ち上がり開始から、第2パルス期間T2内の任意の時間までの第2パルス差分信号Verrp2をサンプリング数分積算する。
ここで、上記(a)や(b)で述べている差分は、上述のとおり実測値としての電圧検出信号Voと基準値としての設定電圧(電圧設定信号)Vsとの差であることから電圧偏差とも言え、差分信号は電圧偏差信号と言い換えてもよい。
なお、後述する電圧偏差平均値Verrp2_aveの精度を向上させ、より精度よく溶接制御するためには、第2ピーク期間Tp2の立ち上がりから、第2ベース期間Tb2の最後まで、すなわち第2パルス期間T2全体をサンプリングの範囲とすることが好ましい。
(c)電圧偏差平均算出部81は、算出された電圧偏差積算値Verrp2_sumを、不図示の第2パルス期間サンプリングカウンタ部によってカウントされたサンプリング数(
図4において「2ndcnt」と称する。)で除して、平滑化された電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する。
【0043】
続いて、パルス波形制御量算出部82は、電圧偏差平均算出部81より出力された電圧偏差平均値Verrp2_aveを以下で詳細に説明するパルス波形制御量算出部82へ入力し、第2ピーク電流の補正量であるピーク電流操作量Di_sumを算出し、該ピーク電流操作量Di_sumに第2ピーク電流基準値Ip2_refを加算することによって、第2ピーク電流のピーク電流補正指令信号Ip2ref_setをパルス状態生成部71へ入力する。
【0044】
以下、パルス波形制御量算出部82において、第2ピーク電流Ip2のピーク電流補正指令信号Ip2ref_setの算出過程について一例を挙げる。
【0045】
(d)パルス波形制御量算出部82は、電圧偏差平均値Verrp2_aveを入力し、電圧偏差平均値Verrp2_aveに対して、少なくとも、あらかじめ定めたゲイン値P2_gain及び補正係数として後述する電流補正係数Ic_aveを乗算し、電流操作量Diを算出する。ゲイン値P2_gainは、本実施形態において、記憶部DBにおいてデータベース化されてあらかじめ定められ、少なくとも送給速度又は設定溶接電流ごとに設定されていると、適正なゲイン値を設定できるため好ましい。
(e)算出された電流操作量Diは、周期ごとに積算される(
図4の「積算ΣDi」を参照)。例えば、溶接開始直後である最初の1周期目に算出された電流操作量DiがD1のとき、ピーク電流操作量Di_sumはD1として算出され、次の周期に算出された電流操作量DiがD2のとき、ピーク電流操作量Di_sumはD1+D2として算出され、その次の周期に算出された電流操作量DiがD3のとき、ピーク電流操作量Di_sumはD1+D2+D3として算出される。
(f)算出されたピーク電流操作量Di_sumは、あらかじめ定めた操作量のリミッター範囲内、ここでは第2ピーク電流値Ip2の制御量範囲内であれば、第2ピーク電流基準値Ip2_refを加算することによって、第2ピーク電流Ip2のピーク電流補正指令信号Ip2ref_setをパルス状態生成部71へ入力する。
【0046】
以上のように、本実施形態に係るパルス波形補正回路80の機能に基づけば、溶滴を離脱させるための第1パルス期間T1と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間T2とを交互に生成するように設定した波形に対し、第1パルス期間T1の第1ピーク電流値Ip1及び第2パルス期間T2の第2ピーク電流値Ip2のうち少なくとも一方を制御することで、溶滴移行の規則性が乱れることを抑制でき、スパッタの発生をより低減させることができる。
【0047】
なお、ピーク電流操作量Di_sumが、リミッター範囲を外れた場合、すなわちリミッター範囲を上回った場合又は下回った場合は、例えば、リミッターを超えた操作量の過剰分を、第1ピーク期間Tp1、第1ベース期間Tb1、第2ベース期間Tb2における別の設定値に対して、補正量を補わせてもよい。例えば、第2ベース期間Tb2におけるベース時間及びベース電流、並びに第1ベース期間Tb1におけるベース時間及びベース電流の少なくとも一つを制御するのが好ましい。また、リミッターを超えたと判定した場合において、あらかじめ定めた値を第1ピーク電流値Ip1又は第1ベース期間Tb1に対し、増減させてもよい。このように、第2ピーク電流値Ip2の制御量が、制御量の範囲を外れた場合にも、溶滴移行の規則性が乱れること抑制することができる。
【0048】
ところで、本実施形態においては、補正係数として電流補正係数Ic_aveを用いた例を挙げている。この電流補正係数Ic_aveは、溶接電流設定信号Isと、現周期より前のピーク電流操作量Di_sumを加算して算出する。この電流補正係数Ic_aveが、電圧偏差平均値Verrp2_aveに乗算されることによって、増減時の変化量を制御することができる。すなわち、次周期において第2ピーク電流Ip2を増加させる場合には、電流補正係数Ic_aveの値が大きくなるので、次周期のパルスを大きく増加させるように働く。また、次周期において第2ピーク電流Ip2を減少させる場合には、電流補正係数Ic_aveの値が小さくなるので、次周期のパルスを小さく減少させるように働く。
このように、次周期の第2ピーク電流Ip2を増加させる場合と、減少させる場合の変化量をそれぞれ変えることで、より精度よく第2パルス期間T2における溶接ワイヤ22の溶融量を制御することができる。このように、電流補正係数Ic_aveを補正係数として用いると制御の観点から好ましい。
【0049】
なお、本実施形態においては上記のように制御しているが、例えば簡便な方法としてピーク電流操作量Di_sumがプラスであるかマイナスであるかを判断して、あらかじめ定めた値を補正係数として電圧偏差平均値Verrp2_aveに乗算してもよい。
【0050】
また、本実施形態においては、第1ピーク期間Tp1及び第2ピーク期間Tp2のうち少なくとも一方における、立上り部Tu、及び立下り部Tdの傾斜部において、その傾きを多段に変化させることによって、溶滴移行の規則性が乱れることをより効果的に抑制することができる。
【0051】
図6に、第1ピーク期間Tp1が立上り部Tu、ピーク部Tp及び立下り部Tdからなる場合において、立下り部Tdの傾きを多段変化させた例を示す。
図6に示す立下り部Tdは、その傾きが3段階に変化した例であり、傾きが指数関数的な曲線を持つ第1傾斜区間Td1、あらかじめ定めた電流値に保持する保持区間Tdc、及び瞬時に第1ベース電流値Ib1まで降下させる第2傾斜区間Td2で構成されている。
【0052】
第1ピーク期間Tp1の立下り部Tdの傾きを
図6のように多段変化させることによって、第1パルス期間T1における離脱検知のシグナルをより把握しやすくなる。離脱検知のシグナルを見逃した場合、健全な溶滴移行状態にも関わらず、溶滴移行の規則性を復帰させるための特別な制御を割り込ませると、それが原因となり、溶滴移行の規則性が乱れる可能性があることから、上記のように離脱検知のシグナルが確実に把握できれば、溶滴移行の規則性が乱れることを、より効果的に抑制することができる。なお、立下り部Td又は立上り部Tuにおける傾きの多段変化は、制御の容易性、すなわち制御効率と、多段にすることの効果の度合から見て、3段以下に設定するのが好ましい。
【0053】
次に、本実施形態の溶接制御方法により、溶滴移行の規則性が乱れることを抑制できたとしても、なお、溶滴移行の規則性が乱れた場合に、溶滴移行の規則性を復帰する手段について、
図7を参照して説明する。
図7は、第1ピーク期間Tp1における立下り部Tdにおいて離脱検出信号が検出されない場合に、あらかじめ定めた固定波形制御である第3パルスを追加する状態を示すグラフである。
【0054】
本実施形態において、溶滴移行の規則性が乱れたかどうかの判定は、第1パルス期間T1内の離脱検出信号の検出有無で判定するのがよい。第1パルス期間T1内で離脱検出信号が検出されない場合には、溶滴移行の規則性が乱れたと判定し、第1パルス期間T1と、第2パルス期間T2との間に、任意に設定した固定波形制御として、第3パルス期間T3を挿入する。第3パルス期間T3挿入後は、離脱検出信号が無くとも第2パルス期間T2へ移行してもよいし、離脱検出信号が検出されるまで、連続して第3パルス期間T3を挿入してもよい。なお、本実施形態の第3パルス期間T3は、第3ピーク期間Tp3と第3ベース期間Tb3からなる波形である。そして、第3パルス期間T3における第3ピーク電流Ip3は、例えば特開2009-233728号に示すように、第2パルス期間T2における第2ピーク電流Ip2とは異なるものを採用するのがよい。
【0055】
また、上記固定波形制御の期間である第3パルス期間T3内で、離脱検出信号が検出されない場合に、第2パルス期間T2へ移行する場合の他の制御方法について、
図8を参照して説明する。
図8は、固定波形制御を行ってもなお、離脱検出信号が検出されない場合における、次の第2ピーク期間Tp2の制御方法を説明するためのグラフである。
【0056】
第3パルス期間T3内に離脱検出信号が検出されない場合に、次期間の第2ピーク期間Tp2の電流値Ip2は、あらかじめ定めた第2ピーク電流基準値Ip2_refに対し、あらかじめ定めた固定値Ic1を減算した値を適用するように制御するとよい。第3パルス期間T3内で離脱検出信号が検出されない場合、次のパルス期間、すなわち第2パルス期間T2内のアーク長が過大になる現象が発生し得るため、この制御により、より効果的に溶滴移行の安定化を図ることができ、ひいては溶滴移行の規則性が乱れるのを抑制することができる。
【0057】
さらに、第1パルス期間T1中に、短絡信号を検出した場合に、アーク電圧が低下する現象が発生して溶滴移行の規則性が乱れるおそれがある。この場合の制御方法について、
図9を参照して説明する。
図9は、第1パルス期間T1中に短絡信号を検出した場合における制御方法の一例を示すグラフである。
【0058】
第1パルス期間T1中に短絡信号を検出した場合に、次のパルス期間の第2ピーク期間Tp2の電流値Ip2を、あらかじめ定めた第2ピーク電流基準値Ip2_refに対し、あらかじめ定めた固定値Ic2を増加した値を適用するように制御するとよい。この制御により、アーク長を長くして溶滴移行の規則性が乱れるのを、より効果的に抑制することができる。
【0059】
また、第2パルス期間T2において、アーク不安定を検出した場合、次のパルス周期の溶滴移行の規則性が乱れるおそれがある。この場合の制御方法について、
図9を参照して説明する。
図9は、第2パルス期間T2中にアーク不安定を検出した場合における制御方法の一例を示すグラフである。
図9に示すように、次のパルス周期の溶滴移行の規則性の乱れを解消するためには、次のパルス周期の第1ピーク期間Tp1の電流値Ip1は、あらかじめ定めた第1ピーク電流基準値Ip1_refに対し、あらかじめ定めた固定値Ic3を増加した値を適用するように制御するとよい。なお、アーク不安定の検出は、本実施形態においてはアーク偏向の検出を意味し、第2パルス期間T2内で、あらかじめ定めた閾値を超える急峻な電圧上昇のシグナルが確認された場合にアーク偏向と判定する。
【0060】
以上、本発明の一実施形態について詳細に説明したが、本発明は、前述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。例えば、上記の実施形態においては、出力電流制御回路70とパルス波形補正回路80を独立して構成したが、1つの回路に纏めた構成としてもよい。
【0061】
以上のとおり、本明細書には次の事項が開示されている。
【0062】
(1) ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行う溶接制御方法であって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする溶接制御方法。
この構成によれば、第1パルス期間の第1ピーク電流値及び第2パルス期間の第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を制御することで、溶滴移行の規則性が乱れることを抑制でき、スパッタの発生をより低減させることができる。
【0063】
(2) 前記電圧偏差平均値Verrp2_aveを、前記第2パルス期間全体により算出する、(1)に記載の溶接制御方法。
この構成によれば、電圧偏差平均値Verrp2_aveの精度が向上し、より精度よく溶接制御することができる。
【0064】
(3) 前記制御量算出ステップにおいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出するにあたり、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量範囲をあらかじめ定めておき、
算出された前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量が、前記あらかじめ定めた制御量範囲を外れた場合に、前記第2ベース期間におけるベース時間及びベース電流、並びに前記第1ベース期間におけるベース時間及びベース電流値のうち少なくとも一つを制御する、(1)又は(2)に記載の溶接制御方法。
この構成によれば、第2ピーク電流値の制御量が、制御量の範囲を外れた場合にも、溶滴移行の規則性が乱れるのを抑制することができる。
【0065】
(4) 前記制御量算出ステップにおいて、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに対して、少なくとも、あらかじめ定めたゲイン値P2_gain及び補正係数を乗じて、電流操作量Diを算出し、
前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を増減させるためのピーク電流制御量Di_sumを、任意の過去の周期から現周期までの前記電流操作量Diの積算値として算出する、(1)~(3)のいずれか1つに記載の溶接制御方法。
この構成によれば、より精度よく第2パルス期間T2における溶接ワイヤ22の溶融量を制御することができる。
【0066】
(5) 前記補正係数を電流補正係数Ic_aveとし、
前記電流補正係数Ic_aveは、少なくとも、あらかじめ定めた溶接電流設定信号Is及び前記ピーク電流制御量Di_sumを加算した値を含む、(4)に記載の溶接制御方法。
この構成によれば、より精度よく第2パルス期間T2における溶接ワイヤ22の溶融量を制御することができる。
【0067】
(6) 前記ゲイン値P2_gainは、少なくとも、前記溶接ワイヤの送給速度又は設定溶接電流に基づいて設定される、(4)又は(5)に記載の溶接制御方法。
この構成によれば、溶接ワイヤの送給速度又は設定溶接電流に基づいた、適正なゲイン値を設定できる。
【0068】
(7) 前記第1ピーク期間及び前記第2ピーク期間のうち少なくとも一方における、立上り部及び立下り部は、3段以下の傾きを有する、(1)~(6)のいずれか1つに記載の溶接制御方法。
この構成によれば、離脱検知のシグナルをより把握しやすくなり、溶滴移行の規則性が乱れることをより効果的に抑制することができる。
【0069】
(8) 前記第1ピーク期間における立下り部は、第1傾斜区間、電流一定区間及び第2傾斜区間からなる、(1)~(7)のいずれか1つに記載の溶接制御方法。
この構成によれば、離脱検知のシグナルをより把握しやすくなり、溶滴移行の規則性が乱れることをより効果的に抑制することができる。
【0070】
(9) 前記第1ピーク期間における前記立下り部において離脱検出信号が検出されない場合に、
前記第1ベース期間中に、あらかじめ定めた固定波形制御を追加する、(8)に記載の溶接制御方法。
この構成によれば、より効果的に溶滴移行の安定化を図ることができ、ひいては溶滴移行の規則性が乱れるのを抑制することができる。
【0071】
(10) 前記固定波形制御中に前記離脱検出信号が検出されない場合に、
次のパルス期間における前記第2ピーク電流値として、あらかじめ定めた第2ピーク電流基準値に対してあらかじめ定めた固定値Ic1を減算した値を適用する、(9)に記載の溶接制御方法。
この構成によれば、より効果的に溶滴移行の安定化を図ることができ、ひいては溶滴移行の規則性が乱れるのを抑制することができる。
【0072】
(11) 前記第1パルス期間中に短絡信号を検出した場合に、
次のパルス期間における前記第2ピーク電流値として、あらかじめ定めた第2ピーク電流基準値に対してあらかじめ定めた固定値Ic2を加算した値を適用する、(1)~(10)のいずれか1つに記載の溶接制御方法。
この構成によれば、アーク長を長くして溶滴移行の規則性が乱れることを、より効果的に抑制することができる。
【0073】
(12) 前記第2パルス期間中にアーク不安定を検出した場合に
次のパルス期間における前記第1ピーク電流値として、あらかじめ定めた第1ピーク電流基準値に対してあらかじめ定めた固定値Ic3を加算した値を適用する、(1)~(11)のいずれか1つに記載の溶接制御方法。
この構成によれば、次のパルス周期の溶滴移行の規則性が乱れることをより効果的に抑制することができる。
【0074】
(13) ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行う溶接電源であって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出手段と、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出手段と、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出手段と、を有することを特徴とする溶接電源。
この構成によれば、第1パルス期間の第1ピーク電流値及び第2パルス期間の第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を制御することで、溶滴移行の規則性が乱れることを抑制でき、スパッタの発生をより低減させることができる。
【0075】
(14) 溶接ロボットと、送給装置と、溶接電源と、シールドガス供給装置と、溶接制御装置と、を少なくとも備え、ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御に用いられる溶接システムであって、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記溶接電源は、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出手段と、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出手段と、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出手段と、を有することを特徴とする溶接システム。
この構成によれば、第1パルス期間の第1ピーク電流値及び第2パルス期間の第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を制御することで、溶滴移行の規則性が乱れることを抑制でき、スパッタの発生をより低減させることができる。
【0076】
(15) ガスシールドアーク溶接において溶接電流の波形制御を行いながら、アーク溶接する溶接方法であって、
前記アーク溶接に用いられるシールドガスとして、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスを含み、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記波形制御の方法として、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする溶接方法。
この構成によれば、ガスシールドアーク溶接において、シールドガス中に炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス、酸素ガスのような電位傾度の高い成分が含まれることで、溶滴移行の形態がグロビュラー移行をとったとしても、第1パルス期間の第1ピーク電流値及び第2パルス期間の第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を制御することで、溶滴移行の規則性が乱れることを抑制でき、スパッタの発生をより低減させることができる。
【0077】
(16) ガスシールドアーク溶接を応用した積層造形において溶接電流の波形制御を行いながら、積層造形を行う積層造形方法であって、
前記ガスシールドアーク溶接に用いられるシールドガスとして、炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス及び酸素ガスのうち少なくとも一つのガスを含み、
前記溶接電流の波形は、溶滴を離脱させるための第1パルス期間と、溶接ワイヤの先端に十分な大きさの溶滴を形成させるための第2パルス期間とを、1周期とするパルス波形であり、
前記第1パルス期間は、あらかじめ定めた、第1ピーク電流値を有する第1ピーク期間と、前記第1ピーク期間後の第1ベース期間とから構成され、
前記第2パルス期間は、あらかじめ定めた、前記第1ピーク電流値よりも低い第2ピーク電流値を有する第2ピーク期間と、前記第2ピーク期間後の第2ベース期間とから構成され、
前記波形制御の方法として、
電圧検出信号Voを出力する電圧検出ステップと、
前記電圧検出信号Voとあらかじめ定めた設定電圧Vsとの差分を差分信号とする場合に、前記差分信号に基づいて、前記第2パルス期間内においてあらかじめ定めた区間における電圧偏差平均値Verrp2_aveを算出する電圧偏差平均算出ステップと、
前記電圧偏差平均値Verrp2_aveに基づいて、前記第1ピーク電流値及び前記第2ピーク電流値のうち少なくとも一方の制御量を算出する制御量算出ステップと、を有することを特徴とする積層造形方法。
この構成によれば、ガスシールドアーク溶接を応用した積層造形において、シールドガス中に炭酸ガス、窒素ガス、水素ガス、酸素ガスのような電位傾度の高い成分が含まれることで、溶滴移行の形態がグロビュラー移行をとったとしても、第1パルス期間の第1ピーク電流値及び第2パルス期間の第2ピーク電流値のうち少なくとも一方を制御することで、溶滴移行の規則性が乱れることを抑制でき、スパッタの発生をより低減させることができる。
【符号の説明】
【0078】
10 アーク溶接システム
20 溶接ロボット
22 溶接ワイヤ
23~27 溶滴
30 溶接電源
40 制御装置(溶接制御装置)
80 パルス波形補正回路
81 電圧偏差平均算出部(電圧偏差平均算出手段)
82 パルス波形制御量算出部(制御量算出手段)
Di 電流操作量
Di_sum ピーク電流操作量
Ib1 第1ベース電流値
Ib1_ref 第1ベース電流基準値
Ib2 第2ベース電流値
Ib2_ref 第2ベース電流基準値
Ic1、Ic2、Ic3 あらかじめ定めた固定値
Ic_ave 電流補正係数
Ip1 第1ピーク電流値
Ip1_ref 第1ピーク電流基準値
Ip2 第2ピーク電流値
Ip2_ref 第2ピーク電流基準値
P2_gain ゲイン値
T1 第1パルス期間
T2 第2パルス期間
T3 第3パルス期間(固定波形制御)
Tb1 第1ベース期間
Tb2 第2ベース期間
Td 立下り部
Td1 第1傾斜区間
Tdc 保持区間(電流一定区間)
Td2 第2傾斜区間
Tp1 第1ピーク期間
Tp2 第2ピーク期間
Tu 立上り部
VD 電圧検出部(電圧検出手段)
Verrp2 第2パルス差分信号
Verrp2_ave 電圧偏差平均値
Verrp2_sum 電圧偏差積算値
Vo 電圧検出信号
Vs 電圧設定信号(設定電圧)