特開 2022-163658 非接触回路検査装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022163658

(43)【公開日】2022-10-26

(54)【発明の名称】非接触回路検査装置

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/00 20060101AFI20221019BHJP

【ＦＩ】

G01R31/00

【審査請求】未請求

【請求項の数】4

【出願形態】書面

(21)【出願番号】P 2021091883

(22)【出願日】2021-04-14

(71)【出願人】

【識別番号】520433388

【氏名又は名称】株式会社アイドゥス企画

(72)【発明者】

【氏名】椚 砂土詩

【テーマコード（参考）】

2G036

【Ｆターム（参考）】

2G036AA20

2G036BA46

2G036BB22

2G036CA10

(57)【要約】      （修正有）

【課題】耐圧絶縁等、試験機回路に於いて、周囲の誘電体及び導体の影響を除外して非接触回路検査装置の確度を向上させることができる、非接触回路検査装置を提供する。
【解決手段】交流電源（４）の交流信号（４ａ）を重畳装置（５）で耐圧絶縁等、試験回路（１）の試験信号（１ａ）に重畳し、試験信号電極、プローブ（１ｂ）で非試験体（２）に接続、ガーディング電源（８）で非試験体の周囲の誘電体（１０）及び導体を迂回して非接触電極（６）へ流れ込む電流を吸収、非試験体（２）の任意の位置に配置した非接触電極（６）へ流れ込む非接触電流をガーディング電源（８）でガードしたシールド線を通して交流電流計（７）で測定する事で、バラつきを抑え確度の高い非接触回路検査装置が実現出来ます。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

交流電源（４）耐圧絶縁等、試験機（１）回路に交流信号を重畳する重畳装置（５）非検査体を流れる電流を測定する非接触電極（６）交流電流計（７）、非試験体（２）の周囲の誘電体（１０）及び導体を迂回し、非接触電極（６）へ流れ込む迂回電流を吸収するガーディング電源（８）を備える非接触回路検査装置。

【請求項2】

耐圧絶縁等、試験機（１）回路に交流信号を重畳する為のトランス、又は容量結合回路を有する重畳装置（５）を備える非接触回路検査装置。

【請求項3】

非試験体（２）の形状に合わせて、表面を絶縁処理した導体で電極面以外をガーディング電源（８）でシールドした非接触電極を備える非接触回路検査装置。

【請求項4】

交流電源（４）の交流信号に対し位相角度、電位を任意に設定出来るガーディング電源（８）を備える非接触回路検査装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

交流電源（４）の交流信号（４ａ）耐圧絶縁等、試験機（１）の試験信号（１ａ）に重畳装置（５）で重畳し試験信号電極、プローブ（１ｂ）で非試験体（２）に接続、非試験体（２）の周囲の誘電体（１０）及び導体を迂回して非接触電極（６）へ流れ込む迂回電流をガーディング電源（８）で吸収し非試験体（２）を経由して非接触電極（６）に流れる非接触電流を交流電流計（７）で測定する非接触回路検査装置です。

【技術背景】

【0002】

静電容量測定による試験信号電極、プローブ（１ｂ）の接触を保証する非接触回路検査装置に於いてガーディング電源（８）を使用し、非試験体（２）の周囲の誘電体（１０）及び導体を迂回して非接触電極（６）へ流れ込む迂回電流を吸収する事で安定した測定が出来ます。
また、重畳装置（５）を備え、耐圧絶縁等、試験機（１）回路に交流信号を重畳する事で、耐圧絶縁等、試験機（１）回路と回路検査を切り替える必要としない非接触回路検査装置です。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２００８－２０３０７６号公報

【発明の概要】

【発明が解消しようとする課題】

【0004】

耐圧絶縁等、試験機（１）回路に於いて回路が正しく構成されなければ耐圧絶縁等、試験機（１）回路に於いて正確な判定が出来ません、特許文献１回路検査装置は周囲の誘電体（１０）の影響で測定値がバラつき安定性に問題が有ります。 ガーディング電源（８）を使用する事で周辺の誘電体（１０）及び導体の影響を除外して、非接触回路検査装置の確度を向上出来す。又、重畳装置（５）を備える事で耐圧絶縁等、試験機（１）回路と非接触回路検査回路の切り替え装置を必要とせず、簡素化により耐圧絶縁等、試験機（１）回路の非接触回路検査の確度の向上しました。

【課題を解決する為の手段】

【0005】

交流電源（４）の交流信号（４ａ）を重畳装置（５）で耐圧絶縁等、試験機（１）回路の試験信号に重畳し非試験体（２）に印加する、ガーディング電源（８）で非試験体（２）の周囲の誘電体（１０）及び導体を迂回して非接触電極（６）に流れる迂回電流を吸収し、非試験体を経由して非接触電極（６）へ流れる非接触電流を交流電流計（７）で測定します。

【0006】

非接触電極（６）は、非試験体の形状に合わせて表面を絶縁処理した導体で、電極面以外をガーディング電源（８）でガードし、ガードしたシールド線を使用して交流電流計（７）に接続します。

【発明の効果】

【0007】

重畳装置（５）を使用する事で耐圧絶縁等、試験機（１）回路に大幅な改造を加える必要が無く、ガーディング電源（８）で非試験体の周囲の誘電体（１０）及び導体を迂回して非接触電極（６）に流れる電流を吸収する事で、重畳装置（５）で重畳した交流信号を非接触電極（６）で安定して測定出来、非接触回路検査装置の確度が向上しました。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】 この出願に係る発明の第一の実施の形態を示す構成図です。

【図2】 この出願に係る発明の第一の実施の形態を示す等価電気回路図です。

【発明を実施するための形態】

【0009】

交流電源（４）の交流信号を重畳装置（５）を使用し耐圧絶縁等、試験機（１）回路の試験信号（１ａ）に重畳し、非試験体（２）を経由し、非接触電極（６）へ流し、交流電流（７）で測定するガーディング電源（８）のガード電圧を非試験体（２）周辺の誘電体（１０）及び導体にガーディング端子（９）を接続して迂回電流を吸収する。

【符号の説明】

【0010】

１ 耐圧絶縁等、試験機
１ａ 試験信号
１ｂ 試験信号電極、プローブ
２ 非試験体
３ 対地
３ａ 対地信号
３ｂ 対地信号電極
４ 交流電源
４ａ 交流信号
５ 重畳装置
６ 非接触電極 （ＣＡ）
６ａ 非接触信号
７ 交流電流計
８ ガーディング電源
９ ガード端子
１０ 誘電体（ＣＸ、ＣＹ）
１２ 中性点

【図1】

【図2】