特開 2022-165844 ライブラリ開発支援プログラム、ライブラリ開発支援方法および情報処理装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022165844

(43)【公開日】2022-11-01

(54)【発明の名称】ライブラリ開発支援プログラム、ライブラリ開発支援方法および情報処理装置

(51)【国際特許分類】

   G06F 30/3308 20200101AFI20221025BHJP

   H01L 21/82 20060101ALI20221025BHJP

【ＦＩ】

G06F30/3308

H01L21/82 Z

【審査請求】未請求

【請求項の数】8

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021071386

(22)【出願日】2021-04-20

(71)【出願人】

【識別番号】000005223

【氏名又は名称】富士通株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100104190

【弁理士】

【氏名又は名称】酒井 昭徳

(72)【発明者】

【氏名】後藤 健司

【テーマコード（参考）】

5B146

5F064

【Ｆターム（参考）】

5B146AA22

5B146GE01

5B146GG05

5B146GG22

5B146GJ05

5F064HH05

5F064HH09

5F064HH10

5F064HH12

(57)【要約】

【課題】回路ライブラリの開発にかかるコストを削減すること。
【解決手段】情報処理装置１０１は、測定対象回路ＴＣに関する設計データＤを取得する。情報処理装置１０１は、取得した設計データＤを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、測定対象回路ＴＣのうちの動作する箇所を特定する。情報処理装置１０１は、記憶部１１０を参照して、取得した設計データＤのうち、特定した動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換する。記憶部１１０は、あらかじめ用意された複数の置換用セルを記憶する。情報処理装置１０１は、置換後の設計データＤに基づいて、測定対象回路ＴＣに関する動作特性測定用のネットリストＮＬを作成する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

動作特性の測定対象回路に関する設計データを取得し、
取得した前記設計データを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定し、
複数の置換用セルを記憶する記憶部を参照して、前記設計データのうち、特定した前記動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、前記動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、
置換後の前記設計データに基づいて、前記測定対象回路に関する動作特性測定用のネットリストを作成する、
処理をコンピュータに実行させることを特徴とするライブラリ開発支援プログラム。

【請求項2】

前記置換する処理は、
前記測定項目がタイミング制約の場合、前記記憶部を参照して、前記他の箇所のセルを削除するための削除セルを特定し、前記他の箇所のセルを、特定した前記削除セルに置換する、ことを特徴とする請求項１に記載のライブラリ開発支援プログラム。

【請求項3】

前記置換する処理は、
前記測定項目が電力の場合、前記記憶部を参照して、前記他の箇所のセルにおける信号伝搬を切断して入力を固定する入力固定セルを特定し、前記他の箇所のセルを、特定した前記入力固定セルに置換する、ことを特徴とする請求項１または２に記載のライブラリ開発支援プログラム。

【請求項4】

前記動作する箇所のセルのうち、前記他の箇所のセルを置換用セルに置換した場合にフローティング状態となる接続ネットに接続されたセルを検出し、
検出した前記セルを、前記接続ネットからの入力を固定する入力固定セルに置換する、
処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１～３のいずれか一つに記載のライブラリ開発支援プログラム。

【請求項5】

前記設計データは、前記測定対象回路に関する回路図データと、前記測定対象回路に関するレイアウトデータとを含み、
前記特定する処理は、
前記回路図データと測定パターンとを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定する、ことを特徴とする請求項１～４のいずれか一つに記載のライブラリ開発支援プログラム。

【請求項6】

作成した前記動作特性測定用のネットリストを用いて、前記測定対象回路の動作特性をあらわすライブラリデータを生成し、
生成した前記ライブラリデータを出力する、
処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１～５のいずれか一つに記載のライブラリ開発支援プログラム。

【請求項7】

動作特性の測定対象回路に関する設計データを取得し、
取得した前記設計データを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定し、
複数の置換用セルを記憶する記憶部を参照して、前記設計データのうち、特定した前記動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、前記動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、
置換後の前記設計データに基づいて、前記測定対象回路に関する動作特性測定用のネットリストを作成する、
処理をコンピュータが実行することを特徴とするライブラリ開発支援方法。

【請求項8】

動作特性の測定対象回路に関する設計データを取得し、
取得した前記設計データを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定し、
複数の置換用セルを記憶する記憶部を参照して、前記設計データのうち、特定した前記動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、前記動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、
置換後の前記設計データに基づいて、前記測定対象回路に関する動作特性測定用のネットリストを作成する、
制御部を有することを特徴とする情報処理装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、ライブラリ開発支援プログラム、ライブラリ開発支援方法および情報処理装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）設計では、基本ゲートやデータを保持するフリップフロップなどのスタンダードセル、演算器など専用に設計されるカスタムマクロ、大量のデータ保持に使用されるメモリマクロなどの部品が使用される。これらの部品は、例えば、ＬＳＩ設計ツールで使用するライブラリデータのかたちで提供される。ライブラリには様々なものがあり、例えば、タイミング制約情報、電力情報などを持つ回路ライブラリがある。

【0003】

先行技術としては、シミュレーション対象とする機能に応じて作成したテストパターンを用いて低精度のシミュレーションを実行して、波形に一定以上の変化がある信号を抽出し、抽出した信号を対象としてネットリストを作成し、高精度のシミュレーションを実行するものがある。また、回路情報内に記述されている回路動作を制御する記述を制御記述情報として抽出し、テストベンチ情報から動作制御記述に伝播する信号を制御パターン情報として抽出し、制御記述情報と制御パターン情報から動作しない制御記述を特定し、動作しない制御記述を削除する技術がある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２００２－１０８９６５号公報

【特許文献2】特開２００７－１３３４５１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、従来技術では、ＬＳＩ設計などに用いられる回路ライブラリの開発に時間や計算機リソースなどのコストがかかるという問題がある。

【0006】

一つの側面では、本発明は、回路ライブラリの開発にかかるコストを削減することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

１つの実施態様では、動作特性の測定対象回路に関する設計データを取得し、取得した前記設計データを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定し、前記設計データのうち、特定した前記動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、あらかじめ用意された複数の置換用セルを記憶する記憶部を参照して、前記動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、置換後の前記設計データに基づいて、前記測定対象回路に関する動作特性測定用のネットリストを作成する、ライブラリ開発支援プログラムが提供される。

【発明の効果】

【0008】

本発明の一側面によれば、回路ライブラリの開発にかかるコストを削減することができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】図１は、実施の形態にかかるライブラリ開発支援方法の一実施例を示す説明図である。

【図2】図２は、情報処理システム２００のシステム構成例を示す説明図である。

【図3】図３は、ライブラリ開発支援装置２０１のハードウェア構成例を示すブロック図である。

【図4】図４は、セル置換ＤＢ２２０の記憶内容の一例を示す説明図である。

【図5】図５は、ライブラリ開発支援装置２０１の機能的構成例を示すブロック図である。

【図6】図６は、測定対象回路の一例を示す説明図である。

【図7】図７は、シミュレーション結果の具体例を示す説明図である。

【図8】図８は、アクティブリストの具体例を示す説明図である。

【図9】図９は、接続情報の具体例を示す説明図である。

【図10】図１０は、動作ブロックの特定例を示す説明図である。

【図11】図１１は、測定対象回路内の非動作ブロックの第１の置換例を示す説明図（その１）である。

【図12】図１２は、測定対象回路内の非動作ブロックの第１の置換例を示す説明図（その２）である。

【図13】図１３は、対応関係情報の具体例を示す説明図（その１）である。

【図14】図１４は、対応関係情報の具体例を示す説明図（その２）である。

【図15】図１５は、測定対象回路内の非動作ブロックの第２の置換例を示す説明図である。

【図16A】図１６Ａは、ライブラリ開発支援装置２０１の動作例を示す説明図（その１）である。

【図16B】図１６Ｂは、ライブラリ開発支援装置２０１の動作例を示す説明図（その２）である。

【図16C】図１６Ｃは、ライブラリ開発支援装置２０１の動作例を示す説明図（その３）である。

【図17】図１７は、ライブラリ開発支援装置２０１のデータ加工処理例を示す説明図である。

【図18】図１８は、ライブラリ開発支援装置２０１のデータ加工処理手順を示すフローチャートである。

【図19】図１９は、置換処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。

【図20】図２０は、メモリ回路の一例を示す説明図である。

【図21】図２１は、メモリ回路の読み出しデータの流れを示す説明図である。

【図22】図２２は、置換後のメモリ回路の一例を示す説明図である。

【図23】図２３は、デコード回路の一例を示す説明図である。

【図24】図２４は、置換後のデコード回路の一例を示す説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

以下に図面を参照して、本発明にかかるライブラリ開発支援プログラム、ライブラリ開発支援方法および情報処理装置の実施の形態を詳細に説明する。

【0011】

（実施の形態）
図１は、実施の形態にかかるライブラリ開発支援方法の一実施例を示す説明図である。図１において、情報処理装置１０１は、測定対象回路の動作特性の測定を支援するコンピュータである。測定対象回路の動作特性は、例えば、測定対象回路のタイミング制約、電力などである。

【0012】

近年、製造プロセスの微細化にともなうバラツキの増大、消費電力削減のための低電圧化等による検証条件の増加、ライブラリ精度向上のための情報量増加などにより、回路ライブラリの開発工数が増加している。回路ライブラリは、各部品のタイミング制約情報や電力情報などを持つライブラリである。部品は、例えば、基本ゲートやフリップフロップなどのスタンダードセル（以下、「ＳＴＤセル」という）、カスタムマクロ、メモリマクロなどである。

【0013】

従来の回路ライブラリ開発では、設計データとしてレイアウトデータと回路図データとが作成され、設計完了後にＬＶＳ（Ｌａｙｏｕｔ Ｖｅｒｓｕｓ Ｓｃｈｅｍａｔｉｃ）が実行される。回路図データは、回路素子とその接続関係を記述した回路情報（例えば、素子Ａと素子Ｂとの接続関係を示す情報）である。

【0014】

レイアウトデータは、実際の製造パターンを記述した物理情報（例えば、基板上に配置される回路素子のレイアウトを示す情報）である。ＬＶＳは、回路図データとレイアウトデータとが一致していることをチェックする処理である。ＬＶＳでは、回路図データとレイアウトデータとの一致確認とレイアウト形状情報の抽出が行われる。

【0015】

つぎに、従来の回路ライブラリ開発では、レイアウト形状情報と環境条件からＬＰＥ（Ｌａｙｏｕｔ Ｐａｒａｓｉｔｉｃ Ｅｘｔｒａｃｔｉｏｎ）が実行される。環境条件は、温度や配線バラツキ条件などである。ＬＰＥでは、レイアウトの配線抵抗、寄生容量の抽出が行われ、ＬＰＥネットリストが作成される。ＬＰＥネットリストは、回路接続情報に回路素子の形状データと寄生素子情報を含むデータである。

【0016】

例えば、ＬＰＥネットリストは、素子間の接続関係を示す通常のネットリストに、配線につく抵抗や容量などのシミュレーションで遅延を計算するための寄生素子の情報が含まれたものである。一般的に抵抗値は温度に依存し、容量値は配線バラツキ条件に依存する。このため、ＬＰＥネットリストは、例えば、「温度×配線バラツキ条件」の数分作成される。

【0017】

回路ライブラリは、例えば、回路ライブラリ測定ツール（以下、「ｌｉｂ測定ツール」という）により、ライブラリに必要なデータを測定することで生成される。例えば、ＬＰＥネットリスト、各種測定に必要な測定パターン（どういう信号を入力するのか）、ツールの設定や測定条件を記述した設定ファイルをｌｉｂ測定ツールに入力して実行することで、回路ライブラリが出力される。回路ライブラリを検証条件ごとに用意する場合には、検証条件の数分、ｌｉｂ測定ツールが実行される。

【0018】

ｌｉｂ測定ツールでは、大きく分けてタイミング制約と電力の測定が行われる。タイミング制約は、例えば、入力信号のセットアップ時間、ホールド時間、入力容量、入力から出力までのディレイ値である。電力は、例えば、動作の有無にかかわらず常に消費されるリーク電力と、動作時に配線容量の充放電で消費されるダイナミック電力である。

【0019】

カスタムマクロやメモリマクロは、例えば、ＳＴＤセルや専用回路を組み合わせた回路ブロック（以下、「ブロック」という）を複数組み合わせて設計される。タイミング制約の測定では、必要なブロックは回路全体の一部である。例えば、ある入力信号のセットアップ時間、ホールド時間を測定する場合、入力信号を保持するフリップフロップと関連する制御回路があればよい。このため、タイミング制約の測定は、例えば、入力されるＬＰＥネットリストを解析して必要なブロックだけ取り出す処理を行ってから行われる。

【0020】

一方、電力の測定では、リーク電力測定のために全てのトランジスタが必要になるため、入力されるＬＰＥネットリストをそのまま使用する。このため、測定パターンとして、タイミング制約向けには、測定したいブロックが動作するようなパターンを用意し、電力向けには、マクロ全体で必要な動作（最大電力動作、最小電力動作など）を行うパターンを用意する。

【0021】

大規模なマクロでは、ＬＰＥネットリストに含まれる素子数は数百万トランジスタ、数千万寄生素子になり、ｌｉｂ測定ツールの実行時間や計算機の使用リソース量が非常に大きなものになる。そのため、ＬＰＥネットリストから指定したトランジスタやネットの寄生素子を取り出してＬＰＥネットリストサイズを圧縮し、ｌｉｂ測定ツールの実行時間の短縮や計算機の使用リソースの削減を行うことが考えられる。

【0022】

例えば、ネットリストベースで、評価に使用するパターンで高速な低精度のシミュレーションにより動作箇所を特定し、回路全体のネットリストから動作箇所を抽出したネットリストを作成し、高精度なシミュレーションを行う従来技術１がある（例えば、特許文献１参照）。また、ハードウェア記述言語で設計された回路において検証で使用するテストベンチで動作しない記述を取り除き回路量を削減する従来技術２がある（例えば、特許文献２参照）。

【0023】

具体的には、例えば、従来技術１は、まず、測定パターンと回路図データを用いて、低精度で高速な機能シミュレーションを行う。この機能シミュレーションでは、正しく動作すればよく、信号の微細な変化やタイミングは考慮しない。従来技術１は、シミュレーション結果からアクティブリストを作成する。アクティブリストは、回路中で動作するネット、デバイスに関する情報の一覧である。

【0024】

つぎに、従来技術１は、ＬＰＥネットリストからアクティブリストに含まれるネットの寄生素子とデバイスの抽出を行い、測定パターンで動作するネットとデバイスに絞ったＬＰＥネットリストの圧縮を行う（以下、「圧縮版ＬＰＥネットリスト」という）。そして、従来技術１は、圧縮版ＬＰＥネットリストをｌｉｂ測定ツールに入力し、ライブラリ測定を行う。

【0025】

しかしながら、従来技術１は、タイミング制約などの回路の一部を用いて測定する項目のみに対応可能であり、電力の測定には対応することができない。例えば、電力の測定では、素子を削除するとリーク電力が正しく測定できなくなるため、従来技術１の圧縮版ＬＰＥネットリストを用いることができない。

【0026】

また、大規模回路では、数百万トランジスタ、数千万寄生素子を持つＬＰＥネットリストが作成される。多くの検証条件に対応するためには、バラツキ条件、温度条件を変えた複数のＬＰＥネットリストの作成が必要となる。このため、従来技術１では、ネットリストの作成、圧縮版ＬＰＥネットリストの抽出およびデータ管理に、多くの計算機リソースが必要になるという問題がある。

【0027】

そこで、本実施の形態では、回路ライブラリの開発にかかる計算機の実行時間や計算機リソースなどのコストを削減するライブラリ開発支援方法について説明する。ここで、情報処理装置１０１の処理例について説明する。

【0028】

（１）情報処理装置１０１は、測定対象回路ＴＣに関する設計データＤを取得する。ここで、測定対象回路ＴＣは、動作特性の測定対象となる回路である。例えば、測定対象回路ＴＣは、回路ライブラリに部品として登録されるＳＴＤセル、カスタムマクロ、メモリマクロなどの回路である。

【0029】

設計データＤは、例えば、測定対象回路ＴＣに関する回路図データｓｄと、測定対象回路に関するレイアウトデータｌｄとを含む。回路図データｓｄは、回路素子とその接続関係を記述した回路情報である。レイアウトデータｌｄは、実際の製造パターンを記述した物理情報である。回路図データｓｄとレイアウトデータｌｄは、例えば、レイアウト検証等に用いられる情報である。

【0030】

（２）情報処理装置１０１は、取得した設計データＤを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、測定対象回路ＴＣのうちの動作する箇所を特定する。ここで、動作シミュレーションは、測定対象回路ＴＣの動作を確認するためのシミュレーションである。例えば、ある機能の動作を確認する場合、その機能に応じて作成される測定パターン（入力信号のテストパターン）を用いてシミュレーションが実行される。

【0031】

図１の例では、測定対象回路ＴＣのうちの動作する箇所として、動作箇所１２０が特定された場合を想定する。

【0032】

（３）情報処理装置１０１は、記憶部１１０を参照して、取得した設計データＤのうち、特定した動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換する。記憶部１１０は、あらかじめ用意された複数の置換用セルを記憶する。測定項目としては、例えば、タイミング制約と電力がある。

【0033】

タイミング制約は、例えば、セットアップ時間、ホールド時間、入力容量、ディレイ値などである。電力は、例えば、リーク電力とダイナミック電力である。置換用セルへの置換処理は、例えば、設計データＤに含まれる回路図データｓｄおよびレイアウトデータｌｄそれぞれについて行われる。

【0034】

動作特性がタイミング制約の場合、測定対象回路ＴＣ内の動作しない箇所のセルを削除しても、セットアップ時間等を正しく測定することができる。一方、動作特性が電力の場合、測定対象回路ＴＣ内のセルを削除すると、例えば、リーク電力を正しく測定することができなくなる。

【0035】

このため、情報処理装置１０１は、記憶部１１０を参照して、動作特性の測定項目に応じて置換用セルを特定し、特定した動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、特定した置換用セルに置換する。この際、情報処理装置１０１は、例えば、他の箇所の一部のセルを置換用セルに置換してもよく、また、他の箇所の全てのセルを置換用セルに置換してもよい。

【0036】

具体的には、例えば、情報処理装置１０１は、測定項目がタイミング制約の場合、記憶部１１０を参照して、他の箇所のセルを削除するための削除セルを特定し、他の箇所のセルを、特定した削除セルに置換する。また、情報処理装置１０１は、測定項目が電力の場合、記憶部１１０を参照して、他の箇所における信号伝搬を切断して入力を固定する入力固定セルを特定し、他の箇所のセルを、特定した入力固定セルに置換する。

【0037】

図１の例では、測定対象回路ＴＣのうちの動作箇所１２０とは異なる他の箇所を「非動作箇所１３０」とする。この場合、情報処理装置１０１は、例えば、測定項目がタイミング制約の場合、非動作箇所１３０のセル１３１を削除セルに置換する。また、情報処理装置１０１は、測定項目が電力の場合、非動作箇所１３０のセル１３１を入力固定セルに置換する。

【0038】

（４）情報処理装置１０１は、置換後の設計データＤに基づいて、測定対象回路ＴＣに関する動作特性測定用のネットリストＮＬを作成する。ここで、動作特性測定用のネットリストＮＬは、測定対象回路ＴＣに関するタイミング制約や電力などの動作特性を測定するためのネットリストである。

【0039】

具体的には、例えば、情報処理装置１０１は、置換後の回路図データｓｄと置換後のレイアウトデータｌｄとを用いてＬＰＥを実行することにより、ＬＰＥネットリストを作成する。ＬＰＥネットリストは、動作特性測定用のネットリストＮＬの一例であり、例えば、通常のネットリストに、配線につく抵抗や容量などのシミュレーションで遅延を計算するための寄生素子の情報を含めたものである。

【0040】

このように、情報処理装置１０１によれば、測定対象回路ＴＣに関する動作特性測定用のネットリストＮＬを作成するにあたり、設計データＤを加工して、動作特性の測定に不要な回路ブロックを削除したり、動作特性の測定に不要な信号伝播を抑止したりすることができる。

【0041】

これにより、動作特性測定用のネットリストＮＬの作成にかかる実行時間と使用リソース量を削減することができる。また、作成されるネットリストＮＬ自体のデータ量が削減されるため、後段のｌｉｂ測定ツールにおける実行時間と使用リソースが少なくなり、ライブラリ開発にかかるコストを削減することが可能となる。

【0042】

（情報処理システム２００のシステム構成例）
つぎに、図１に示した情報処理装置１０１を含む情報処理システム２００のシステム構成例について説明する。ここでは、図１に示した情報処理装置１０１を、情報処理システム２００内のライブラリ開発支援装置２０１に適用した場合を例に挙げて説明する。情報処理システム２００は、例えば、ＬＳＩ設計などに用いるライブラリの開発を支援するサービスに適用される。

【0043】

図２は、情報処理システム２００のシステム構成例を示す説明図である。図２において、情報処理システム２００は、ライブラリ開発支援装置２０１と、クライアント装置２０２と、を含む。情報処理システム２００において、ライブラリ開発支援装置２０１およびクライアント装置２０２は、有線または無線のネットワーク２１０を介して接続される。ネットワーク２１０は、例えば、インターネット、ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）などである。

【0044】

ここで、ライブラリ開発支援装置２０１は、セル置換ＤＢ（Ｄａｔａｂａｓｅ）２２０を有し、回路ライブラリの開発を支援するコンピュータである。回路ライブラリは、タイミング制約情報、電力情報などを含むライブラリであり、例えば、ＬＳＩ設計に用いられる。ライブラリ開発支援装置２０１は、例えば、サーバである。

【0045】

セル置換ＤＢ２２０の記憶内容については、図４を用いて後述する。図１に示した記憶部１１０は、例えば、セル置換ＤＢ２２０に相当する。

【0046】

クライアント装置２０２は、情報処理システム２００のユーザが使用するコンピュータである。ユーザは、例えば、回路ライブラリの開発者である。クライアント装置２０２は、例えば、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）、タブレットＰＣなどである。

【0047】

なお、ここではライブラリ開発支援装置２０１とクライアント装置２０２とを別体に設けることにしたが、これに限らない。例えば、ライブラリ開発支援装置２０１は、クライアント装置２０２により実現されることにしてもよい。また、情報処理システム２００には、複数のクライアント装置２０２が含まれることにしてもよい。

【0048】

（ライブラリ開発支援装置２０１のハードウェア構成例）
図３は、ライブラリ開発支援装置２０１のハードウェア構成例を示すブロック図である。図３において、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）３０１と、メモリ３０２と、ディスクドライブ３０３と、ディスク３０４と、通信Ｉ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）３０５と、可搬型記録媒体Ｉ／Ｆ３０６と、可搬型記録媒体３０７と、を有する。また、各構成部は、バス３００によってそれぞれ接続される。

【0049】

ここで、ＣＰＵ３０１は、ライブラリ開発支援装置２０１の全体の制御を司る。ＣＰＵ３０１は、複数のコアを有していてもよい。メモリ３０２は、例えば、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）およびフラッシュＲＯＭなどを有する。具体的には、例えば、フラッシュＲＯＭがＯＳのプログラムを記憶し、ＲＯＭがアプリケーションプログラムを記憶し、ＲＡＭがＣＰＵ３０１のワークエリアとして使用される。メモリ３０２に記憶されるプログラムは、ＣＰＵ３０１にロードされることで、コーディングされている処理をＣＰＵ３０１に実行させる。

【0050】

ディスクドライブ３０３は、ＣＰＵ３０１の制御に従ってディスク３０４に対するデータのリード／ライトを制御する。ディスク３０４は、ディスクドライブ３０３の制御で書き込まれたデータを記憶する。ディスク３０４としては、例えば、磁気ディスク、光ディスクなどが挙げられる。

【0051】

通信Ｉ／Ｆ３０５は、通信回線を通じてネットワーク２１０に接続され、ネットワーク２１０を介して外部のコンピュータ（例えば、図２に示したクライアント装置２０２）に接続される。そして、通信Ｉ／Ｆ３０５は、ネットワーク２１０と装置内部とのインターフェースを司り、外部のコンピュータからのデータの入出力を制御する。通信Ｉ／Ｆ３０５には、例えば、モデムやＬＡＮアダプタなどを採用することができる。

【0052】

可搬型記録媒体Ｉ／Ｆ３０６は、ＣＰＵ３０１の制御に従って可搬型記録媒体３０７に対するデータのリード／ライトを制御する。可搬型記録媒体３０７は、可搬型記録媒体Ｉ／Ｆ３０６の制御で書き込まれたデータを記憶する。可搬型記録媒体３０７としては、例えば、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）－ＲＯＭ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）メモリなどが挙げられる。

【0053】

なお、ライブラリ開発支援装置２０１は、上述した構成部のほかに、例えば、入力装置、ディスプレイなどを有することにしてもよい。また、図２に示したクライアント装置２０２についても、ライブラリ開発支援装置２０１と同様のハードウェア構成により実現することができる。ただし、クライアント装置２０２は、上述した構成部のほかに、例えば、入力装置、ディスプレイなどを有する。

【0054】

（セル置換ＤＢ２２０の記憶内容）
つぎに、ライブラリ開発支援装置２０１が有するセル置換ＤＢ２２０の記憶内容について説明する。セル置換ＤＢ２２０は、例えば、メモリ３０２、ディスク３０４などの記憶装置により実現される。

【0055】

図４は、セル置換ＤＢ２２０の記憶内容の一例を示す説明図である。図４において、セル置換ＤＢ２２０は、セル種別ごとに、置換用セルをあらわす置換用セルデータ（例えば、置換用セルデータ４１１～４１３，４２１～４２３，４３１～４３７，４４１～４４７）を記憶する。

【0056】

セル種は、置換用セルの種類を示す。セル種としては、例えば、基本セル、削除セル、入力固定セル１、入力固定セル２などがある。基本セルは、例えば、バッファ、ＡＮＤゲート、ＯＲゲートなどである。削除セルは、セルを削除するための置換用セルを示す。入力固定セル１は、入力をグラウンド（０）に固定するための置換用セルを示す。入力固定セル２は、入力を電源電圧（１）に固定するための置換用セルを示す。

【0057】

例えば、置換用セルデータ４２１は、バッファを削除するための置換用セルをあらわす。また、置換用セルデータ４３１は、バッファへの入力をグラウンドに固定するための置換用セルをあらわす。また、置換用セルデータ４４１は、バッファへの入力を電源電圧に固定するための置換用セルをあらわす。

【0058】

なお、セル置換ＤＢ２２０には、例えば、基本セルをあらわす置換用セルデータ４１１～４１３は含まれていなくてもよい。また、セル置換ＤＢ２２０には、上述した置換用セルのほかに、例えば、接続に必要な配線データのみを持つ置換用セルが記憶されていてもよい。

【0059】

（ライブラリ開発支援装置２０１の機能的構成例）
図５は、ライブラリ開発支援装置２０１の機能的構成例を示すブロック図である。図５において、ライブラリ開発支援装置２０１は、取得部５０１と、特定部５０２と、置換部５０３と、作成部５０４と、生成部５０５と、出力部５０６と、記憶部５１０と、を含む。取得部５０１～出力部５０６は制御部となる機能であり、具体的には、例えば、図３に示したメモリ３０２、ディスク３０４、可搬型記録媒体３０７などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ３０１に実行させることにより、または、通信Ｉ／Ｆ３０５により、その機能を実現する。各機能部の処理結果は、例えば、メモリ３０２、ディスク３０４などの記憶装置に記憶される。また、記憶部５１０は、例えば、メモリ３０２、ディスク３０４などの記憶装置により実現される。具体的には、例えば、記憶部５１０は、図４に示したセル置換ＤＢ２２０を記憶する。

【0060】

取得部５０１は、動作特性の測定対象回路ＴＣに関する設計データＤを取得する。設計データＤは、例えば、測定対象回路ＴＣに関する回路図データｓｄと、測定対象回路ＴＣに関するレイアウトデータｌｄとを含む。回路図データｓｄは、レイアウトデータｌｄに比べてデータ量が少ないため、高速な処理が可能である。レイアウトデータｌｄについても、例えば、専用の加工ツールを使用することで、高速に処理することが可能である。

【0061】

具体的には、例えば、取得部５０１は、図２に示したクライアント装置２０２から設計データＤを受信することにより、受信した設計データＤを取得する。また、取得部５０１は、クライアント装置２０２から設計データＤの指定を受け付けることにより、不図示の設計データＤＢから、指定された設計データＤを取得してもよい。また、取得部５０１は、不図示の入力装置を用いたユーザの操作により、入力された設計データＤを取得してもよい。なお、測定対象回路ＴＣの一例については、図６を用いて後述する。

【0062】

特定部５０２は、取得された設計データＤを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、測定対象回路ＴＣのうちの動作する箇所を特定する。具体的には、例えば、特定部５０２は、測定対象回路ＴＣに関する回路図データｓｄと、あらかじめ用意された測定パターンとを用いて、機能シミュレーションを行う。

【0063】

機能シミュレーションは、測定対象回路ＴＣの機能を実現する動作を確認するための動作シミュレーションである。測定パターンは、入力する信号をあらわすものであり、シミュレーション対象とする機能に応じて作成される。なお、機能シミュレーションの結果の具体例については、図７を用いて後述する。

【0064】

つぎに、特定部５０２は、機能シミュレーションの結果からアクティブリストを作成する。アクティブリストは、回路中で動作するネット、デバイスに関する情報の一覧である。そして、特定部５０２は、作成したアクティブリストと接続情報とに基づいて、測定対象回路ＴＣのうちの動作する箇所を特定する。

【0065】

接続情報は、測定対象回路ＴＣ内のセルとネットとの接続関係を示す情報である。接続情報は、例えば、測定対象回路ＴＣに関する回路図データｓｄとレイアウトデータｌｄとでＬＶＳを実行することにより取得することができる。アクティブリストの具体例については、図８を用いて後述する。接続情報の具体例については、図９を用いて後述する。測定対象回路ＴＣのうちの動作する箇所の特定例については、図１０を用いて後述する。

【0066】

なお、動作シミュレーションは、ライブラリ開発支援装置２０１とは異なる他のコンピュータにおいて実行されてもよい。この場合、特定部５０２は、例えば、他のコンピュータから動作シミュレーションの結果を取得する。

【0067】

置換部５０３は、記憶部５１０を参照して、取得された設計データＤのうち、特定した箇所とは異なる他の箇所のセルを、動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換する。ここで、記憶部５１０は、あらかじめ用意された複数の置換用セルを記憶する。測定項目としては、例えば、タイミング制約と電力がある。

【0068】

タイミング制約は、例えば、セットアップ時間、ホールド時間、入力容量、ディレイ値などである。電力は、例えば、リーク電力とダイナミック電力である。置換用セルへの置換処理は、例えば、設計データＤに含まれる回路図データｓｄおよびレイアウトデータｌｄそれぞれについて行われる。

【0069】

具体的には、例えば、置換部５０３は、測定項目がタイミング制約の場合、図４に示したセル置換ＤＢ２２０を参照して、他の箇所のセルを削除するための削除セルを特定し、他の箇所のセルを、特定した削除セルに置換する。この際、置換部５０３は、例えば、他の箇所の一部のセルを削除セルに置換してもよく、また、他の箇所の全てのセルを削除セルに置換してもよい。

【0070】

また、置換部５０３は、測定項目が電力の場合、セル置換ＤＢ２２０を参照して、他の箇所のセルにおける信号伝搬を切断して入力を固定する入力固定セルを特定し、他の箇所のセルを、特定した入力固定セルに置換する。この際、置換部５０３は、例えば、他の箇所の一部のセルを入力固定セルに置換してもよく、また、他の箇所の全てのセルを入力固定セルに置換してもよい。

【0071】

入力固定セルは、他の箇所における信号伝搬を抑止するための置換用セルである。入力固定セルによれば、例えば、他の箇所のセルと別のセルとの接続関係を切断しつつ、フローティング状態とならないように、他の箇所のセルへの入力をグラウンドや電源電圧に固定することができる。

【0072】

例えば、測定項目を「電力」とし、他の箇所のセルを「バッファ」とし、そのセルへの入力を「０」とする。この場合、置換部５０３は、セル置換ＤＢ２２０を参照して、バッファへの入力をグラウンド（０）に固定するための入力固定セル（置換用セルデータ４３１）を特定する。そして、置換部５０３は、他の箇所のセルを、特定した入力固定セル（置換用セルデータ４３１）に置換する。

【0073】

また、測定項目を「電力」とし、他の箇所のセルを「バッファ」とし、そのセルへの入力を「１」とする。この場合、置換部５０３は、セル置換ＤＢ２２０を参照して、バッファへの入力を電源（１）に固定するための入力固定セル（置換用セルデータ４４１）を特定する。そして、置換部５０３は、他の箇所のセルを、特定した入力固定セル（置換用セルデータ４４１）に置換する。

【0074】

以下の説明では、測定対象回路ＴＣのうちの動作する箇所を「動作ブロック」と表記し、動作する箇所とは異なる他の箇所を「非動作ブロック」と表記する場合がある。

【0075】

ここで、非動作ブロックのセルを削除セルに置換した場合、動作ブロックのセルに接続されていた接続ネットがフローティング状態となってしまう。同様に、非動作ブロックのセルを入力固定セルに置換した場合、動作ブロックのセルに接続されていた接続ネットがフローティング状態となってしまうことがある。回路の入力がフローティング状態になっていると、期待通りのシミュレーションが行われない。

【0076】

このため、置換部５０３は、非動作ブロックのセルを置換用セルに置換した場合に、動作ブロックのセルのうち、フローティング状態となる接続ネットに接続されたセルを検出することにしてもよい。そして、置換部５０３は、検出したセルを、フローティング状態となる接続ネットからの入力を固定する入力固定セルに置換することにしてもよい。

【0077】

具体的には、例えば、置換部５０３は、セル置換ＤＢ２２０を参照して、検出したセルへの入力に応じて、フローティング状態となる接続ネットからの入力を固定する入力固定セルを特定する。そして、置換部５０３は、検出したセルを、特定した入力固定セルに置換することにしてもよい。

【0078】

作成部５０４は、置換後の設計データＤに基づいて、測定対象回路ＴＣに関する動作特性測定用のネットリストＮＬを作成する。ここで、動作特性測定用のネットリストＮＬは、測定対象回路ＴＣに関するタイミング制約や電力などの動作特性を測定するためのネットリストである。

【0079】

具体的には、例えば、作成部５０４は、置換後の回路図データｓｄと置換後のレイアウトデータｌｄとを用いてＬＰＥを実行することにより、ＬＰＥネットリストを作成する。ＬＰＥネットリストは、動作特性測定用のネットリストＮＬの一例であり、例えば、通常のネットリストに、配線につく抵抗や容量などのシミュレーションで遅延を計算するための寄生素子の情報を含めたものである。

【0080】

より詳細に説明すると、例えば、作成部５０４は、置換後の回路図データｓｄと置換後のレイアウトデータｌｄとでＬＶＳを実行する。そして、作成部５０４は、ＬＶＳを実行して得られる接続情報と形状情報と、所定の環境条件とに基づいて、ＬＰＥを実行することにより、ＬＰＥネットリストを作成する。

【0081】

接続情報は、セルとネットとの接続関係を示す情報である。形状情報は、レイアウトの幾何学情報であり、例えば、レイアウト上での各部品の位置などを特定可能である。所定の環境条件は、任意に指定可能であり、例えば、温度と配線バラツキ条件の組み合わせによってあらわされる。所定の環境条件は、例えば、取得部５０１によって取得される。

【0082】

なお、ＬＶＳを実行すると、接続情報、形状情報のほかに、例えば、対応関係情報が得られる。対応関係情報は、回路図データｓｄ内の部品（セル、ネット）が、レイアウトデータｌｄ内のどの部品と対応しているかを示す情報である。対応関係情報の具体例については、図１３および図１４を用いて後述する。

【0083】

生成部５０５は、作成された動作特性測定用のネットリストＮＬを用いて、測定対象回路ＴＣの動作特性をあらわすライブラリデータを生成する。具体的には、例えば、生成部５０５は、作成されたＬＰＥネットリストを用いて、既存のｌｉｂ測定ツールを実行することにより、測定対象回路ＴＣのタイミング制約、電力などをあらわすライブラリデータを生成する。

【0084】

ｌｉｂ測定ツールには、ＬＰＥネットリストのほかに、例えば、各種測定に必要な測定パターン、ツールの設定や測定条件を記述した設定ファイルが入力される。測定パターンや設定ファイルは、例えば、取得部５０１によって取得される。

【0085】

出力部５０６は、生成された測定対象回路ＴＣの動作特性をあらわすライブラリデータを出力する。出力部５０６の出力形式としては、例えば、メモリ３０２、ディスク３０４などの記憶装置への記憶、通信Ｉ／Ｆ３０５による他のコンピュータ（例えば、図２に示したクライアント装置２０２）への送信、不図示のディスプレイへの表示などがある。

【0086】

具体的には、例えば、出力部５０６は、測定対象回路ＴＣと対応付けて、生成されたライブラリデータを、不図示の回路ライブラリに登録することにしてもよい。これにより、ＬＳＩ設計に用いられる回路ライブラリを作成することができる。

【0087】

また、出力部５０６は、作成された動作特性測定用のネットリストＮＬを出力することにしてもよい。具体的には、例えば、出力部５０６は、測定対象回路ＴＣと対応付けて、ＬＰＥネットリストを他のコンピュータに送信することにしてもよい。これにより、他のコンピュータにおいて、ＬＰＥネットリストを用いて、測定対象回路ＴＣの動作特性をあらわすライブラリデータを生成することができる。

【0088】

（測定対象回路ＴＣ内の動作ブロックの特定例）
つぎに、図６～図１０を用いて、測定対象回路ＴＣ内の動作ブロックの特定例について説明する。まず、図６を用いて、測定対象回路ＴＣの一例について説明する。

【0089】

図６は、測定対象回路の一例を示す説明図である。図６において、測定対象回路６００は、動作特性の測定対象となる回路の一例である。図６に示す測定対象回路６００は、測定対象回路ＴＣに関する回路図データｓｄを可視化したものに相当する。

【0090】

測定対象回路６００において、Ｉ０～Ｉ９は、セルの名前を示す。例えば、セルＩ０は、インバータである。セルＩ１は、ＡＮＤゲートである。ａ～ｉは、接続ネットの名前を示す。例えば、接続ネットａは、セルＩ０とセルＩ１とを接続する。ＩＮ、ＴＥＳＴ、ＯＵＴは、それぞれ入出力ピン名を示す。

【0091】

つぎに、図７を用いて、機能シミュレーションの結果の具体例について説明する。ここでは、図６に示した測定対象回路６００の回路図データｓｄと測定パターンとを用いて実行された機能シミュレーションの結果を例に挙げて説明する。また、動作特性の測定項目がタイミング制約である場合を例に挙げて説明する。

【0092】

図７は、シミュレーション結果の具体例を示す説明図である。図７において、シミュレーション結果７００は、機能シミュレーションの結果を示す。シミュレーション結果７００には、各接続ネット、入出力ピンにおける信号の変化が示されている。ここでは、入力信号ＴＥＳＴは、常に０であるとする。

【0093】

つぎに、図８を用いて、アクティブリストの具体例について説明する。ここでは、図７に示したシミュレーション結果７００から作成されるアクティブリストを例に挙げて説明する。

【0094】

図８は、アクティブリストの具体例を示す説明図である。図８において、アクティブリスト８００は、機能シミュレーションにおいて、測定対象回路６００（図６参照）のうちの動作するネットに関する情報の一覧である。

【0095】

アクティブリスト８００において、１列目は、接続ネット名を示す。また、２列目は、接続ネットの状態を示す。ｉは、入力ピンを示す。ｏは、出力ピンを示す。１／０は、それぞれシミュレーション期間中常に１または０に固定であることを示す。ｘは、シミュレーション期間中に変化したことを示す。

【0096】

つぎに、図９を用いて、接続情報の具体例について説明する。ここでは、測定対象回路６００（図６参照）の回路図データｓｄとレイアウトデータｌｄとでＬＶＳを実行して得られる接続情報を例に挙げて説明する。

【0097】

図９は、接続情報の具体例を示す説明図である。図９において、接続情報９００は、測定対象回路６００（図６参照）内のセルとネットとの接続関係を示す。接続情報９００において、１列目は、測定対象回路６００で使用されているセルの名前を示す。２列目以降は、１列目に示したセルに接続されるネット情報を示す。

【0098】

つぎに、図１０を用いて、測定対象回路６００内の動作ブロックの特定例について説明する。ここでは、図８に示したアクティブリスト８００と、図９に示した接続情報９００とに基づいて、測定対象回路６００内の動作ブロックを特定する場合について説明する。

【0099】

図１０は、動作ブロックの特定例を示す説明図である。図１０において、動作箇所特定結果１０００は、測定対象回路６００内の動作ブロックを特定可能な情報の一例である。動作箇所特定結果１０００において、丸印で囲まれた箇所は、シミュレーション期間中に変化した接続ネット（状態ｘ）と入出力ピンを示す。

【0100】

丸印の箇所は、シミュレーション期間中に変化した接続ネット（状態ｘ）と、その接続ネットとセルとの接続関係から特定される。ここでは、セルＩ０～Ｉ５が動作ブロックとして特定され、セルＩ６～Ｉ９が非動作ブロックとして特定される。

【0101】

動作箇所特定結果１０００によれば、セルＩ６～Ｉ９に接続されている接続ネットｅ～ｉはシミュレーション期間中に変化していないため、セルＩ６～Ｉ９を含むブロックが、タイミング制約では不要なブロックであることを特定することができる。

【0102】

（測定対象回路内の非動作ブロックの第１の置換例）
図１１および図１２を用いて、測定対象回路６００内の非動作ブロック（セルＩ６～Ｉ９）の第１の置換例について説明する。ここでは、測定対象回路６００に関する回路図データｓｄに対する置換処理を例に挙げて説明する。また、動作特性の測定項目は、タイミング制約である。

【0103】

図１１および図１２は、測定対象回路内の非動作ブロックの第１の置換例を示す説明図である。図１１において、動作特性の測定項目がタイミング制約のため、測定対象回路６００内の非動作ブロックの各セルＩ６～Ｉ９が、削除セル１１０１～１１０４にそれぞれ置換されている。

【0104】

セルＩ６を例に挙げると、置換部５０３は、例えば、セル置換ＤＢ２２０を参照して、セルＩ６と同じ種別（バッファ）の削除セルをあらわす置換用セルデータ４２１を特定する。そして、置換部５０３は、特定した置換用セルデータ４２１を用いて、測定対象回路６００内のセルＩ６を削除セル１１０１に置換する。

【0105】

ここで、接続ネットｉに関して、セルＩ９が削除セル１１０４に置換されると、セルＩ４の接続ネットｉ側の入力がフローティング状態となる。フローティング状態は、期待通りのシミュレーションが行われないため、入力を固定する必要がある。接続ネットｉは、シミュレーション結果７００やアクティブリスト８００から「０」に固定されていることが特定される。

【0106】

図１２において、置換部５０３は、セルＩ９を削除セル１１０４に置換した場合に、フローティング状態となる接続ネットｉに接続されたセルＩ４を検出する。そして、置換部５０３は、検出したセルＩ４を、接続ネットｉからの入力を固定する入力固定セル１２０１に置換する。

【0107】

より詳細に説明すると、例えば、セルＩ４の入力側に接続されるもう一方の接続ネットｄは、シミュレーション期間中に変化した接続ネットである。このため、置換部５０３は、セル置換ＤＢ２２０を参照して、セルＩ４と同じ種別（ＯＲゲート）で、かつ、２入力のうち、一方の入力を外部からの入力とし、他方の入力をグラウンド（０）に固定する入力固定セルをあらわす置換用セルデータ４３６を特定する。そして、置換部５０３は、特定した置換用セルデータ４３６を用いて、測定対象回路６００内のセルＩ４を入力固定セル１２０１に置換する。

【0108】

また、置換部５０３は、回路図データｓｄと同様に、測定対象回路６００に関するレイアウトデータｌｄに対しても、例えば、図１３および図１４に示すような対応関係情報１３００，１４００を参照して、非動作ブロックのセルを置換用セルに置換する処理を行う。具体的には、例えば、置換部５０３は、対応関係情報１３００，１４００を参照して、回路図データｓｄと同じ箇所のセルを、回路図データｓｄと同じ置換用セルに置換する。

【0109】

図１３および図１４は、対応関係情報の具体例を示す説明図である。図１３において、対応関係情報１３００は、測定対象回路６００に関する回路図データｓｄ内のセルが、測定対象回路６００に関するレイアウトデータｌｄ内のどのセルと対応しているかを示す。対応関係情報１３００において、１列目は、回路図データｓｄのセル名を示す。２列目は、レイアウトデータｌｄのセル名を示す。

【0110】

図１４において、対応関係情報１４００は、測定対象回路６００に関する回路図データｓｄ内の接続ネットが、測定対象回路６００に関するレイアウトデータｌｄ内のどの接続ネットと対応しているかを示す。対応関係情報１４００において、１列目は、回路図データｓｄの接続ネット名を示す。２列目は、レイアウトデータｌｄの接続ネット名を示す。

【0111】

対応関係情報１３００，１４００によれば、回路図データｓｄ内の各部品（セル、接続ネット）が、レイアウトデータｌｄ内のどの部品と対応しているかを特定することができる。このため、置換部５０３は、レイアウトデータｌｄに対しても、回路図データｓｄと同様の処理手順により、非動作ブロックのセルを置換用セルに置換することができる。

【0112】

（測定対象回路内の非動作ブロックの第２の置換例）
図１５を用いて、測定対象回路６００内の非動作ブロック（セルＩ６～Ｉ９）の第２の置換例について説明する。ここでは、測定対象回路６００に関する回路図データｓｄに対する置換処理を例に挙げて説明する。また、動作特性の測定項目は、電力である。また、測定パターンは、タイミング制約の場合と同じものとする。

【0113】

動作特性の測定項目が電力の場合、非動作ブロックのセルを削除セルに置換すると、リーク電力を正しく測定することができない。このため、置換部５０３は、非動作ブロックのセルを、当該セルにおける信号伝播を切断して入力を固定する入力固定セルに置換する。すなわち、置換部５０３は、動作しない接続ネットを切り離して、入力を固定したセルに置き換える。

【0114】

図１５は、測定対象回路内の非動作ブロックの第２の置換例を示す説明図である。図１５において、動作特性の測定項目が電力のため、測定対象回路６００内の非動作ブロックの各セルＩ６～Ｉ９が、入力固定セル１５０１～１５０４にそれぞれ置換されている。

【0115】

セルＩ６を例に挙げると、置換部５０３は、例えば、セル置換ＤＢ２２０を参照して、セルＩ６と同じ種別（バッファ）で、かつ、セルＩ６における信号伝播を切断して入力を固定する入力固定セルをあらわす置換用セルデータ４３１を特定する。そして、置換部５０３は、特定した置換用セルデータ４３１を用いて、測定対象回路６００内のセルＩ６を入力固定セル１５０１に置換する。

【0116】

また、接続ネットｉに関して、セルＩ９が入力固定セル１５０４に置換されると、セルＩ４の接続ネットｉ側の入力がフローティング状態となる。このため、置換部５０３は、セルＩ４を、接続ネットｉからの入力をグラウンド（０）に固定する入力固定セル１５０５に置換する。

【0117】

（ライブラリ開発支援装置２０１の動作例）
つぎに、図１６Ａ、図１６Ｂおよび図１６Ｃを用いて、ライブラリ開発支援装置２０１の動作例について説明する。

【0118】

図１６Ａ、図１６Ｂおよび図１６Ｃは、ライブラリ開発支援装置２０１の動作例を示す説明図である。図１６Ａにおいて、まず、ライブラリ開発支援装置２０１は、測定対象回路ＴＣに関するレイアウトデータ１６０１と回路図データ１６０２とでＬＶＳを実行する。この結果、接続情報（例えば、図９参照）、形状情報および対応関係情報（例えば、図１３および図１４参照）を含むＬＶＳ結果１６０３が出力される。

【0119】

また、ライブラリ開発支援装置２０１は、動作特性の測定項目がタイミング制約の場合、回路図データ１６０２と、図１６Ｃに示す測定パターン１６２１（タイミング制約）とに基づいて、機能シミュレーション（タイミング制約）を行う。この結果、測定パターン１６２１ごとのアクティブリスト１６０４（タイミング制約）が出力される。

【0120】

また、ライブラリ開発支援装置２０１は、動作特性の測定項目が電力の場合、回路図データ１６０２と、図１６Ｃに示す測定パターン１６２２（電力）とに基づいて、機能シミュレーション（電力）を行う。この結果、測定パターン１６２２ごとのアクティブリスト１６０５（電力）が出力される。

【0121】

つぎに、ライブラリ開発支援装置２０１は、レイアウトデータ１６０１、回路図データ１６０２、ＬＶＳ結果１６０３、アクティブリスト１６０４（タイミング制約）およびアクティブリスト１６０５（電力）に基づいて、セル置換ＤＢ２２０を参照して、データ加工処理を実行する。

【0122】

ここで、図１７を用いて、データ加工処理例について説明する。

【0123】

図１７は、ライブラリ開発支援装置２０１のデータ加工処理例を示す説明図である。図１７において、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＬＶＳ結果１６０３、アクティブリスト１６０４（タイミング制約）に基づいて、セル置換ＤＢ２２０を参照して、レイアウトデータ１６０１および回路図データ１６０２それぞれに対するデータ加工（タイミング制約）を行う。

【0124】

データ加工（タイミング制約）では、例えば、図１１および図１２に示したような置換用セルへの置換が行われる。この結果、置換後のレイアウトデータ（タイミング制約）１６０１－１および置換後の回路図データ（タイミング制約）１６０２－１が出力される。

【0125】

また、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＬＶＳ結果１６０３、アクティブリスト１６０５（電力）に基づいて、セル置換ＤＢ２２０を参照して、レイアウトデータ１６０１および回路図データ１６０２それぞれに対するデータ加工（電力）を行う。データ加工（電力）では、例えば、図１５に示したような置換用セルへの置換が行われる。この結果、置換後のレイアウトデータ（電力）１６０１－２および置換後の回路図データ（電力）１６０２－２が出力される。

【0126】

図１６Ｂにおいて、ライブラリ開発支援装置２０１は、置換後のレイアウトデータ（タイミング制約）１６０１－１と置換後の回路図データ（タイミング制約）１６０２－１とでＬＶＳ（タイミング制約）を実行する。この結果、接続情報、形状情報および対応関係情報（不図示）を含むＬＶＳ結果（タイミング制約）１６１１が出力される。

【0127】

また、ライブラリ開発支援装置２０１は、置換後のレイアウトデータ（電力）１６０１－２と置換後の回路図データ（電力）１６０２－２とでＬＶＳ（電力）を実行する。この結果、接続情報、形状情報および対応関係情報（不図示）を含むＬＶＳ結果（電力）１６１２が出力される。

【0128】

つぎに、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＬＶＳ結果（タイミング制約）１６１１と環境条件１６１３とに基づいて、ＬＰＥを実行する。この結果、環境条件１６１３ごとのＬＰＥネットリスト（タイミング制約）１６１４が出力される。

【0129】

また、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＬＶＳ結果（電力）１６１２と環境条件１６１３とに基づいて、ＬＰＥを実行する。この結果、環境条件１６１３ごとのＬＰＥネットリスト（電力）１６１５が出力される。

【0130】

図１６Ｃにおいて、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＬＰＥネットリスト（タイミング制約）１６１４と、測定パターン（タイミング制約）１６２１と、設定ファイル１６２３とを用いて、ｌｉｂ測定ツールを実行する。設定ファイル１６２３は、ツールの各種設定や測定条件を含む。ｌｉｂ測定ツールでは、測定対象回路ＴＣが認識され、測定回路が抽出され、ライブラリデータが測定される。

【0131】

また、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＬＰＥネットリスト（電力）１６１５と、測定パターン（電力）１６２２と、設定ファイル１６２３とを用いて、ｌｉｂ測定ツールを実行する。ｌｉｂ測定ツールでは、測定対象回路ＴＣが認識され、ライブラリデータが測定される。

【0132】

この結果、回路ライブラリｌｉｂにライブラリデータ１６２４が出力される。ライブラリデータ１６２４は、測定対象回路ＴＣの動作特性（タイミング制約、電力）をあらわす情報である。ここで、ライブラリ開発支援装置２０１のデータ加工処理の具体的な処理手順について説明する。

【0133】

図１８は、ライブラリ開発支援装置２０１のデータ加工処理手順を示すフローチャートである。図１８のフローチャートにおいて、ライブラリ開発支援装置２０１は、測定対象回路ＴＣに関する回路図データｓｄとレイアウトデータｌｄとを取得する（ステップＳ１８０１）。そして、ライブラリ開発支援装置２０１は、取得した回路図データｓｄとレイアウトデータｌｄとでＬＶＳを実行する（ステップＳ１８０２）。

【0134】

つぎに、ライブラリ開発支援装置２０１は、取得した回路図データｓｄと、測定パターンとを用いて、機能シミュレーションを行う（ステップＳ１８０３）。そして、ライブラリ開発支援装置２０１は、機能シミュレーションの結果とＬＶＳの結果（接続情報）とに基づいて、測定対象回路ＴＣ内の動作ブロックを特定する（ステップＳ１８０４）。

【0135】

つぎに、ライブラリ開発支援装置２０１は、取得した回路図データｓｄに対する置換処理を実行する（ステップＳ１８０５）。置換処理は、測定対象回路ＴＣのうち動作ブロックとは異なる非動作ブロックのセルを置換用セルに置換する処理である。回路図データｓｄに対する置換処理の具体的な処理手順については、図１９を用いて後述する。

【0136】

つぎに、ライブラリ開発支援装置２０１は、取得したレイアウトデータｌｄに対する置換処理を実行する（ステップＳ１８０６）。レイアウトデータｌｄに対する置換処理の具体的な処理手順については、図１９に示す回路図データｓｄに対する置換処理の具体的な処理手順と同様のため、図示および説明を省略する。ただし、レイアウトデータｌｄに対する置換処理は、例えば、ＬＶＳの結果（対応関係情報）を用いて行われる。

【0137】

そして、ライブラリ開発支援装置２０１は、置換後の回路図データｓｄと、置換後のレイアウトデータｌｄとを出力して（ステップＳ１８０７）、本フローチャートによる一連の処理を終了する。なお、ステップＳ１８０２とステップＳ１８０３の処理は、実行順序が逆であってもよく、並列に実行されてもよい。また、ステップＳ１８０５とステップＳ１８０６の処理は、実行順序が逆であってもよく、並列に実行されてもよい。

【0138】

つぎに、図１９を用いて、図１８に示したステップＳ１８０５の置換処理の具体的な処理手順について説明する。

【0139】

図１９は、置換処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。図１９のフローチャートにおいて、まず、ライブラリ開発支援装置２０１は、セル置換ＤＢ２２０を参照して、特定した動作ブロックとは異なる非動作ブロックのセルを、動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換する（ステップＳ１９０１）。

【0140】

つぎに、ライブラリ開発支援装置２０１は、動作ブロックのセルのうち、フローティング状態となる接続ネットに接続されたセルを検出する（ステップＳ１９０２）。そして、ライブラリ開発支援装置２０１は、セル置換ＤＢ２２０を参照して、検出したセルを、フローティング状態となる接続ネットからの入力を固定する入力固定セルに置換して（ステップＳ１９０３）、置換処理を呼び出したステップに戻る。

【0141】

これにより、ライブラリ開発支援装置２０１は、ＬＰＥネットリスト作成の入力となるデータに対して、ライブラリ開発に不要な回路ブロックを削除したり、ライブラリ開発に不要な信号伝播を抑止したりする加工を施すことができる。

【0142】

（実施例）
つぎに、測定対象回路ＴＣとしてメモリ回路を用いた実施例について説明する。

【0143】

図２０は、メモリ回路の一例を示す説明図である。図２０において、メモリ回路２０００は、メモリセルアレイ２００１と、センスアンプ２００２と、デコード回路２００３と、入出力回路２００４と、制御回路２００５とを含む。メモリセルアレイ２００１には、データを保持するメモリセルＭＣが行列上に配置されている。

【0144】

センスアンプ２００２は、メモリセルアレイ２００１からデータを読み出す際にデータを増幅する。デコード回路２００３は、メモリセルアレイ２００１のどの行を選択するか決定する。入出力回路２００４は、データの入出力を行う。制御回路２００５は、メモリ回路２０００全体を制御する。

【0145】

Ｄは、書き込みデータを示す。Ｑは、読み出しデータを示す。Ａは、メモリセルＭＣを選択するアドレスデータを示す。ＷＲは、書き込み／読み出し選択信号を示す。ＣＫは、動作の基準となるクロック信号を示す。ここで、動作特性の測定項目がタイミング制約の場合を想定する。この場合、ライブラリ開発支援装置２０１は、メモリ回路２０００のタイミング制約に関する動作シミュレーションを行う。

【0146】

図２１は、メモリ回路の読み出しデータの流れを示す説明図である。ライブラリ開発支援装置２０１は、例えば、メモリセルＭＣそれぞれの電流値を観測し、電流値が一定の閾値を超えたセルを動作セルとして判定することができる。また、ライブラリ開発支援装置２０１は、読み出しディレイを観測し、最大ディレイパスと最小ディレイパスのビットから、該当するビットのセンスアンプ２００２－１，２００２－２と入出力回路２００４－１，２００４－２を特定することができる。

【0147】

ライブラリ開発支援装置２０１は、これらの情報とＬＶＳの出力情報（ＬＶＳ結果）とを組み合わせて、動作しないメモリセルＭＣとディレイ測定に影響しないセンスアンプ２００２と入出力回路２００４を特定する。動作しないメモリセルＭＣは、例えば、範囲２１０１，２１０２，２１０３，２１０４外のセルである。

【0148】

ディレイ測定に影響しないセンスアンプ２００２は、センスアンプ２００２－１，２００２－２以外のセンスアンプである。ディレイ測定に影響しない入出力回路２００４は、入出力回路２００４－１，２００４－２以外の入出力回路である。そして、ライブラリ開発支援装置２０１は、セル置換ＤＢ２２０を参照して、特定したメモリセルＭＣ等を、動作に影響しないよう最低限の接続に必要な置換用セルに置き換える処理を行う。

【0149】

図２２は、置換後のメモリ回路の一例を示す説明図である。図２２において、メモリ回路２０００から、非動作ブロック２２０１，２２０２が削除されている。ただし、図２２では、非動作ブロック２２０１，２２０２の削除がハッチングによって表現されている。非動作ブロック２２０１，２２０２では、例えば、各セルが、接続に必要な配線データのみを持つセルに置き換えられる。

【0150】

つぎに、動作特性の測定項目が電力の場合を想定する。この場合、ライブラリ開発支援装置２０１は、メモリ回路２０００の電力に関する動作シミュレーションを行う。電力測定では、動作するブロック以外を削除してしまうとリーク電力が正しく測定できないため、タイミング制約とは異なる処理が必要である。

【0151】

図２３は、デコード回路の一例を示す説明図である。図２３において、デコード回路２００３のｄｅｃ［ｍ－２］、ＷＬ［ｎ－１］、ＷＬ［ｎ－２］は、動作しない接続ネットであるとする。ここで、ＷＬ［ｎ－１］を駆動するゲートＡの入力は変化していないが、その手前のゲートＢの入力は変化している。

【0152】

このため、ライブラリ開発支援装置２０１は、ゲートＡの入力をグラウンドに固定したセルに置き換える。また、ＷＬ［ｎ－２］について、ゲートＣの入力が変化していない。このため、ライブラリ開発支援装置２０１は、ゲートＣの入力をグラウンドに固定したセルに置き換える。また、ｄｅｃ［ｍ－２］について、ゲートＤの入力が変化していない。このため、ライブラリ開発支援装置２０１は、ゲートＤの入力をグラウンドに固定したセルに置き換える。

【0153】

図２４は、置換後のデコード回路の一例を示す説明図である。図２４において、デコード回路２００３内のゲートＡが入力固定セル２４０１に置換されている。また、ゲートＣが入力固定セル２４０２に置換されている。また、ゲートＤが入力固定セル２４０３に置換されている。

【0154】

このように、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、デコード回路２００３内の動作しないゲートの入力をグラウンド（あるいは、電源電圧）に固定したセルに置き換えることで、信号伝搬を減らして動作領域を減らすことができる。これにより、ライブラリ測定精度を落とすことなく、ｌｉｂ測定ツールの実行時間と使用リソースの削減を実現することができる。

【0155】

以上説明したように、実施の形態にかかるライブラリ開発支援装置２０１によれば、測定対象回路ＴＣに関する設計データＤを取得し、取得した設計データＤを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、測定対象回路ＴＣのうちの動作ブロックを特定することができる。そして、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、記憶部５１０（例えば、セル置換ＤＢ２２０）を参照して、設計データＤのうち、特定した動作ブロックとは異なる非動作ブロックのセルを、動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、置換後の設計データＤに基づいて、測定対象回路ＴＣに関する動作特性測定用のネットリストＮＬを作成することができる。

【0156】

これにより、測定対象回路ＴＣに関する動作特性測定用のネットリストＮＬを作成するにあたり、設計データＤを加工して、動作特性測定用のネットリストＮＬの作成にかかる実行時間と使用リソース量を削減することができる。また、作成されるネットリストＮＬ自体のデータ量を削減することができる。また、例えば、マクロ設計では、基本ゲートを組み合わせて機能ブロックを作り、その機能ブロックを複数組み合わせて必要な機能を実現するマクロを設計するという階層設計が行われる。ここでは、あらかじめ基本ゲートの置換用セルを用意しておくことで、データ加工時は、非動作ブロックに関連した基本ゲートを、その動作に応じた置換用セルに置き換えるだけで済むため、処理を単純化することが可能になる。

【0157】

また、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、動作特性の測定項目がタイミング制約の場合、記憶部５１０を参照して、非動作ブロックのセルを削除するための削除セルを特定し、非動作ブロックのセルを、特定した削除セルに置換することができる。

【0158】

これにより、設計データＤから動作特性の測定に不要な回路ブロックを削除して、動作特性測定用のネットリストＮＬの作成にかかる実行時間と使用リソース量を削減することができる。

【0159】

また、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、動作特性の測定項目が電力の場合、記憶部５１０を参照して、非動作ブロックのセルにおける信号伝搬を切断して入力を固定する入力固定セルを特定し、非動作ブロックのセルを、特定した入力固定セルに置換することができる。

【0160】

これにより、設計データＤから動作特性の測定に不要な素子間の接続関係を削除して動作特性の測定に不要な信号伝播を抑止することができる。この結果、動作特性の測定に不要な信号伝播を判断しないことになり、動作特性測定用のネットリストＮＬの作成にかかる実行時間と使用リソース量を削減することができる。

【0161】

また、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、動作ブロックのセルのうち、非動作ブロックのセルを置換用セルに置換した場合にフローティング状態となる接続ネットに接続されたセルを検出し、検出したセルを、接続ネットからの入力を固定する入力固定セルに置換することができる。

【0162】

これにより、動作特性の測定に不要な回路ブロックを削除したり、素子間の接続関係を削除したりすることで、動作ブロックのセルに接続された接続ネットがフローティング状態になるのを防ぐことができる。このため、動作特性の測定時に測定対象回路ＴＣの動作が不安定なものとなることを回避することができる。

【0163】

また、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、測定対象回路ＴＣに関する回路図データｓｄと、測定対象回路ＴＣに関するレイアウトデータｌｄとを含む設計データＤを取得し、回路図データｓｄと測定パターンとを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、測定対象回路ＴＣのうちの動作ブロックを特定することができる。

【0164】

これにより、レイアウトデータｌｄに比べてデータ量が少ない回路図データｓｄを用いて、測定対象回路ＴＣの動作シミュレーションを行うことで、動作ブロックの特定にかかる処理の高速化を図ることができる。

【0165】

また、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、作成した動作特性測定用のネットリストＮＬを用いて、測定対象回路ＴＣの動作特性をあらわすライブラリデータを生成し、生成したライブラリデータを出力することができる。

【0166】

これにより、回路ライブラリを生成することができる。また、ライブラリデータを生成するにあたり、ネットリストＮＬ自体のデータ量が削減されているため、例えば、ｌｉｂ測定ツールにおける実行時間と使用リソースが少なくなり、ライブラリ開発にかかるコストを削減することができる。

【0167】

また、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、作成した動作特性測定用のネットリストＮＬを出力することができる。

【0168】

これにより、他のコンピュータにおいて、ＬＰＥネットリストを用いて、測定対象回路ＴＣの動作特性をあらわすライブラリデータを生成することができる。

【0169】

これらのことから、ライブラリ開発支援装置２０１によれば、ＬＰＥネットリストを作成する際の入力となるデータに、ライブラリ開発に不要な回路ブロックや接続が含まれなくなるため、ＬＰＥネットリストの作成にかかる実行時間と使用リソース量を削減することができる。また、ライブラリデータ（動作特性）の測定項目に応じて最適化されたＬＰＥネットリストが作成されるため、ライブラリデータの測定にかかる実行時間と使用リソース量を削減して、回路ライブラリの開発コストを削減することが可能になる。

【0170】

なお、本実施の形態で説明したライブラリ開発支援方法は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。本ライブラリ開発支援プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＵＳＢメモリ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また、本ライブラリ開発支援プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。

【0171】

また、本実施の形態で説明したライブラリ開発支援装置２０１（情報処理装置１０１）は、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）などの特定用途向けＩＣやＦＰＧＡなどのＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）によっても実現することができる。

【0172】

上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。

【0173】

（付記１）動作特性の測定対象回路に関する設計データを取得し、
取得した前記設計データを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定し、
複数の置換用セルを記憶する記憶部を参照して、前記設計データのうち、特定した前記動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、前記動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、
置換後の前記設計データに基づいて、前記測定対象回路に関する動作特性測定用のネットリストを作成する、
処理をコンピュータに実行させることを特徴とするライブラリ開発支援プログラム。

【0174】

（付記２）前記置換する処理は、
前記測定項目がタイミング制約の場合、前記記憶部を参照して、前記他の箇所のセルを削除するための削除セルを特定し、前記他の箇所のセルを、特定した前記削除セルに置換する、ことを特徴とする付記１に記載のライブラリ開発支援プログラム。

【0175】

（付記３）前記置換する処理は、
前記測定項目が電力の場合、前記記憶部を参照して、前記他の箇所のセルにおける信号伝搬を切断して入力を固定する入力固定セルを特定し、前記他の箇所のセルを、特定した前記入力固定セルに置換する、ことを特徴とする付記１または２に記載のライブラリ開発支援プログラム。

【0176】

（付記４）前記動作する箇所のセルのうち、前記他の箇所のセルを置換用セルに置換した場合にフローティング状態となる接続ネットに接続されたセルを検出し、
検出した前記セルを、前記接続ネットからの入力を固定する入力固定セルに置換する、
処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする付記１～３のいずれか一つに記載のライブラリ開発支援プログラム。

【0177】

（付記５）前記設計データは、前記測定対象回路に関する回路図データと、前記測定対象回路に関するレイアウトデータとを含み、
前記特定する処理は、
前記回路図データと測定パターンとを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定する、ことを特徴とする付記１～４のいずれか一つに記載のライブラリ開発支援プログラム。

【0178】

（付記６）作成した前記動作特性測定用のネットリストを用いて、前記測定対象回路の動作特性をあらわすライブラリデータを生成し、
生成した前記ライブラリデータを出力する、
処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする付記１～５のいずれか一つに記載のライブラリ開発支援プログラム。

【0179】

（付記７）作成した前記動作特性測定用のネットリストを出力する、処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする付記１～６のいずれか一つに記載のライブラリ開発支援プログラム。

【0180】

（付記８）動作特性の測定対象回路に関する設計データを取得し、
取得した前記設計データを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定し、
複数の置換用セルを記憶する記憶部を参照して、前記設計データのうち、特定した前記動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、前記動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、
置換後の前記設計データに基づいて、前記測定対象回路に関する動作特性測定用のネットリストを作成する、
処理をコンピュータが実行することを特徴とするライブラリ開発支援方法。

【0181】

（付記９）動作特性の測定対象回路に関する設計データを取得し、
取得した前記設計データを用いた動作シミュレーションの結果に基づいて、前記測定対象回路のうちの動作する箇所を特定し、
複数の置換用セルを記憶する記憶部を参照して、前記設計データのうち、特定した前記動作する箇所とは異なる他の箇所のセルを、前記動作特性の測定項目に応じて特定される置換用セルに置換し、
置換後の前記設計データに基づいて、前記測定対象回路に関する動作特性測定用のネットリストを作成する、
制御部を有することを特徴とする情報処理装置。

【符号の説明】

【0182】

１０１ 情報処理装置
１１０，５１０ 記憶部
１２０ 動作箇所
１３０ 非動作箇所
１３１ セル
２００ 情報処理システム
２０１ ライブラリ開発支援装置
２０２ クライアント装置
２１０ ネットワーク
２２０ セル置換ＤＢ
３００ バス
３０１ ＣＰＵ
３０２ メモリ
３０３ ディスクドライブ
３０４ ディスク
３０５ 通信Ｉ／Ｆ
３０６ 可搬型記録媒体Ｉ／Ｆ
３０７ 可搬型記録媒体
５０１ 取得部
５０２ 特定部
５０３ 置換部
５０４ 作成部
５０５ 生成部
５０６ 出力部
６００，ＴＣ 測定対象回路
７００ シミュレーション結果
８００，１６０４，１６０５ アクティブリスト
９００ 接続情報
１０００ 動作箇所特定結果
１１０１，１１０２，１１０３，１１０４ 削除セル
１２０１，１５０１，１５０２，１５０３，１５０４，１５０５，２４０１，２４０２，２４０３ 入力固定セル
１３００，１４００ 対応関係情報
１６０１，ｌｄ レイアウトデータ
１６０２，ｓｄ 回路図データ
１６０３，１６１１，１６１２ ＬＶＳ結果
１６１３ 環境条件
１６１４，１６１５ ＬＰＥネットリスト
１６２１，１６２２ 測定パターン
１６２３ 設定ファイル
１６２４ ライブラリデータ
２０００ メモリ回路
２００１ メモリセルアレイ
２００２ センスアンプ
２００３ デコード回路
２００４ 入出力回路
２００５ 制御回路
Ｄ 設計データ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16A】

【図16B】

【図16C】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】

【図22】

【図23】

【図24】