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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022173729
(43)【公開日】2022-11-22
(54)【発明の名称】超音波探触子
(51)【国際特許分類】
A61B 8/00 20060101AFI20221115BHJP
【ＦＩ】
A61B8/00
【審査請求】未請求
【請求項の数】8
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2021079609
(22)【出願日】2021-05-10
(71)【出願人】
【識別番号】000001270
【氏名又は名称】コニカミノルタ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001254
【氏名又は名称】弁理士法人光陽国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】西久保 雄一
【テーマコード（参考）】
4C601
【Ｆターム（参考）】
4C601EE11
4C601GA01
(57)【要約】
【課題】超音波探触子を、直接手に持っても滑りにくく、被せたカバーも滑りにくく、直接でもカバー越しでも手に持って滑りにくくする。
【解決手段】超音波診断装置において超音波画像を取得するために、被検体に当ててハンドリングされ、当該被検体との超音波の送受信を行う超音波探触子１Ａは、超音波が出入射する音響ウィンドウを先端面２に有し、先端面から後端方向に側面の表面粗さを計測したとき、先端面に隣接した近位側面領域１０の表面粗さが、近位側面領域に隣接し近位側面領域より先端面から離れた遠位側面領域２０の表面粗さより小さい値である複合粗さの側面部位を有する。
【選択図】図１
【解決手段】超音波診断装置において超音波画像を取得するために、被検体に当ててハンドリングされ、当該被検体との超音波の送受信を行う超音波探触子１Ａは、超音波が出入射する音響ウィンドウを先端面２に有し、先端面から後端方向に側面の表面粗さを計測したとき、先端面に隣接した近位側面領域１０の表面粗さが、近位側面領域に隣接し近位側面領域より先端面から離れた遠位側面領域２０の表面粗さより小さい値である複合粗さの側面部位を有する。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
超音波診断装置において超音波画像を取得するために、被検体に当ててハンドリングされ、当該被検体との超音波の送受信を行う超音波探触子であって、
前記超音波が出入射する音響ウィンドウを先端面に有し、
前記先端面から後端方向に側面の表面粗さを計測したとき、前記先端面に隣接した近位側面領域の表面粗さが、前記近位側面領域に隣接し前記近位側面領域より前記先端面から離れた遠位側面領域の表面粗さより小さい値である複合粗さの側面部位を有する超音波探触子。
前記超音波が出入射する音響ウィンドウを先端面に有し、
前記先端面から後端方向に側面の表面粗さを計測したとき、前記先端面に隣接した近位側面領域の表面粗さが、前記近位側面領域に隣接し前記近位側面領域より前記先端面から離れた遠位側面領域の表面粗さより小さい値である複合粗さの側面部位を有する超音波探触子。
【請求項2】
前記複合粗さの側面部位において、前記先端面に垂直な軸方向の長さの３分の１の中央部は前記遠位側面領域とされている請求項１に記載の超音波探触子。
【請求項3】
前記先端面の短軸方向幅をＤとして、前記複合粗さの側面部位における前記近位側面領域は、前記先端面と前記遠位側面領域の間に３Ｄ以上５Ｄ以下の長さで存在している請求項１又は請求項２に記載の超音波探触子。
【請求項4】
前記先端面の長辺に隣接した側面は、前記複合粗さの側面部位である請求項１から請求項３のうちいずれか一に記載の超音波探触子。
【請求項5】
前記先端面の長辺及び短辺に隣接した側面は、前記複合粗さの側面部位である請求項１から請求項３のうちいずれか一に記載の超音波探触子。
【請求項6】
前記複合粗さの側面部位における前記遠位側面領域より前記先端面に近い側面領域内での比較において、前記先端面の短辺に隣接した側面は、前記先端面の長辺に隣接した側面より表面粗さが小さい請求項４又は請求項５に記載の超音波探触子。
【請求項7】
前記複合粗さの側面部位における前記遠位側面領域の表面粗さは、異方性を有する請求項１から請求項６のうちいずれか一に記載の超音波探触子。
【請求項8】
前記先端面から後端方向に側面の表面粗さを計測したときの要素の平均長さＲｓｍは、Ｒｓｍ≦１ｍｍである請求項１から請求項７のうちいずれか一に記載の超音波探触子。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、超音波を利用した超音波診断装置の超音波探触子に関する。
【背景技術】
【0002】
超音波診断は、超音波探触子を患者の被検体の体表又は体腔内から当てるという簡単な操作で心臓や胎児の様子が超音波画像として得られ、かつ安全性が高いため繰り返して検査を行うことができる。
【0003】
また医師が超音波探触子（プローブ）を手に持って走査し画像を確認しながら別の手で穿刺をしたり、あるいは理学療法士が超音波探触子を手に持って、別の手で徒手による組織の動きを画像で見たりなど、走査以外のことも平行して行うため、無意識でも超音波探触子をしっかり保持できること、すなわち超音波探触子のグリップ性を高めることが一つの課題となっている。
特許文献１に記載の発明にあっては、グリップ部に突起パターンを有する滑り止め部を設けた。特許文献２に記載の発明にあっては、グリップ部に凹又は凸形状の滑り止めを設けた。
特許文献１に記載の発明にあっては、グリップ部に突起パターンを有する滑り止め部を設けた。特許文献２に記載の発明にあっては、グリップ部に凹又は凸形状の滑り止めを設けた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特許第３３７８７２７号公報
【特許文献2】特許第４５２３８０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ところで、未知のウイルスに対する感染リスク対策のため、超音波探触子を洗浄消毒することや超音波探触子にカバーを着けて使用するといったことに関心が高まりつつある。
数多くの患者の検査を行うには、検査毎に超音波探触子に新規なカバー（シース）を被せ検査後に廃棄して、常に超音波探触子の患者接触部を清潔に保つことが簡便であり衛生的であるため推奨されることがある。
一般に超音波探触子の専用シースは高価であるため、食品用のラップ、傘袋などが代替カバーとして使用されることもある。このような代替カバーは、非常に安価であり、使い勝手も悪くないものがある。しかし、専用シースではないため超音波探触子に被せたときには、超音波探触子の表面との密着性が悪い。そのため、検査技師が超音波探触子を手に持って体表等をハンドリングで走査している時に、超音波探触子の表面に対してカバーがずれてしまうということが度々発生し、検査効率を低下させる要因になっていた。
数多くの患者の検査を行うには、検査毎に超音波探触子に新規なカバー（シース）を被せ検査後に廃棄して、常に超音波探触子の患者接触部を清潔に保つことが簡便であり衛生的であるため推奨されることがある。
一般に超音波探触子の専用シースは高価であるため、食品用のラップ、傘袋などが代替カバーとして使用されることもある。このような代替カバーは、非常に安価であり、使い勝手も悪くないものがある。しかし、専用シースではないため超音波探触子に被せたときには、超音波探触子の表面との密着性が悪い。そのため、検査技師が超音波探触子を手に持って体表等をハンドリングで走査している時に、超音波探触子の表面に対してカバーがずれてしまうということが度々発生し、検査効率を低下させる要因になっていた。
【0006】
特許文献１，２に記載されるようなグリップ部に凹凸形状を設けた超音波探触子（プローブ）では、検査技師が超音波探触子を手に持って体表等をハンドリングで走査している時、超音波探触子に対する手の滑り止めとして機能する。
しかし、超音波探触子の表面とカバーとの密着性を向上させるものではないため、超音波探触子に対するカバーの滑り止めとしては機能しない。そのため、超音波探触子に対してカバーがずれたり、カバーとともに手が滑ったりする場合がある。
とは言え、カバーとの密着性が高くカバーが滑りにくい表面は、直接触る手は滑りやすいことがあるため、これを考慮する必要がある。
しかし、超音波探触子の表面とカバーとの密着性を向上させるものではないため、超音波探触子に対するカバーの滑り止めとしては機能しない。そのため、超音波探触子に対してカバーがずれたり、カバーとともに手が滑ったりする場合がある。
とは言え、カバーとの密着性が高くカバーが滑りにくい表面は、直接触る手は滑りやすいことがあるため、これを考慮する必要がある。
【0007】
本発明は以上の従来技術における問題に鑑みてなされたものであって、超音波診断装置の被検体に当て超音波画像を取得するための超音波探触子を、直接手に持っても滑りにくく、被せたカバーも滑りにくく、直接でもカバー越しでも手に持って滑りにくくすることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の一つの態様の超音波探触子は、超音波診断装置において超音波画像を取得するために、被検体に当ててハンドリングされ、当該被検体との超音波の送受信を行う超音波探触子であって、前記超音波が出入射する音響ウィンドウを先端面に有し、前記先端面から後端方向に側面の表面粗さを計測したとき、前記先端面に隣接した近位側面領域の表面粗さが、前記近位側面領域に隣接し前記近位側面領域より前記先端面から離れた遠位側面領域の表面粗さより小さい値である複合粗さの側面部位を有する。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、超音波診断装置の被検体に当て超音波画像を取得するための超音波探触子を、直接手に持っても滑りにくく、被せたカバーも滑りにくく、直接でもカバー越しでも手に持って滑りにくくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】本発明の一実施形態に係る超音波探触子の斜視図である。
【図3】本発明の他の一実施形態に係る超音波探触子の斜視図である。
【図4】複合粗さの側面部位における遠位側面領域の表面粗さを観察した拡大模式図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
以下に本発明の一実施形態につき図面を参照して説明する。以下は本発明の一実施形態であって本発明を限定するものではない。
【0012】
図１は、一つの実施形態の超音波診断装置の超音波探触子を示す。
図１に示すように超音波探触子１Ａは、超音波が出入射する音響ウィンドウを先端面２に有する。先端面２の長軸をＸ軸、短軸をＺ軸、先端面２に垂直な軸をＹ軸として説明する。
超音波探触子１Ａは、先端面２に隣接した４側面が後方へ連続した立体で、くびれ部３を介してさらに連続し、やや絞り込まれた後端部からケーブル４が延出した構造を有する。異なる方向の隣接する２側面間のコーナーは丸みが付けられている。ケーブル４が超音波診断装置（不図示）に接続され、超音波画像を取得するために、超音波探触子１Ａは、先端面（音響ウィンドウ）２を被検体に当ててハンドリングされ、当該被検体との超音波の送受信を行う。
図１に示すように超音波探触子１Ａは、超音波が出入射する音響ウィンドウを先端面２に有する。先端面２の長軸をＸ軸、短軸をＺ軸、先端面２に垂直な軸をＹ軸として説明する。
超音波探触子１Ａは、先端面２に隣接した４側面が後方へ連続した立体で、くびれ部３を介してさらに連続し、やや絞り込まれた後端部からケーブル４が延出した構造を有する。異なる方向の隣接する２側面間のコーナーは丸みが付けられている。ケーブル４が超音波診断装置（不図示）に接続され、超音波画像を取得するために、超音波探触子１Ａは、先端面（音響ウィンドウ）２を被検体に当ててハンドリングされ、当該被検体との超音波の送受信を行う。
【0013】
超音波探触子１Ａの側面は、側面１１ａ、側面１１ｂ、側面１２ａ、側面１２ｂ、側面２１ａ、側面２１ｂ、側面２２ａ、側面２２ｂ、側面３１ａ、側面３１ｂ、側面３２ａ、側面３２ｂからなる。
側面１１ａと側面１１ｂとは互いに反対面である。側面１２ａと側面１２ｂとは互いに反対面である。側面２１ａと側面２１ｂとは互いに反対面である。側面２２ａと側面２２ｂとは互いに反対面である。側面３１ａと側面３１ｂとは互いに反対面である。側面３２ａと側面３２ｂとは互いに反対面である。
側面１１ａ、側面１１ｂ、側面１２ａ、側面１２ｂは、先端面２に隣接した近位側面領域１０に属する。
側面２１ａ、側面２１ｂ、側面２２ａ、側面２２ｂは、近位側面領域１０に隣接し近位側面領域１０より先端面２から離れた遠位側面領域２０に属する。
側面３１ａ、側面３１ｂ、側面３２ａ、側面３２ｂは、さらに先端面２から離れた後端部側面領域３０に属する。
側面１１ａと側面１１ｂとは互いに反対面である。側面１２ａと側面１２ｂとは互いに反対面である。側面２１ａと側面２１ｂとは互いに反対面である。側面２２ａと側面２２ｂとは互いに反対面である。側面３１ａと側面３１ｂとは互いに反対面である。側面３２ａと側面３２ｂとは互いに反対面である。
側面１１ａ、側面１１ｂ、側面１２ａ、側面１２ｂは、先端面２に隣接した近位側面領域１０に属する。
側面２１ａ、側面２１ｂ、側面２２ａ、側面２２ｂは、近位側面領域１０に隣接し近位側面領域１０より先端面２から離れた遠位側面領域２０に属する。
側面３１ａ、側面３１ｂ、側面３２ａ、側面３２ｂは、さらに先端面２から離れた後端部側面領域３０に属する。
【0014】
側面１１ａ、側面１１ｂは、先端面２の長辺に隣接した側面である。側面２１ａは、側面１１ａの後端方向に連続する。側面２１ｂは、側面１１ｂの後端方向に連続する。側面３１ａは、側面２１ａの後端方向に連続する。側面３１ｂは、側面２１ｂの後端方向に連続する。
【0015】
側面１２ａ、側面１２ｂは、先端面２の短辺に隣接した側面である。側面２２ａは、側面１２ａの後端方向に連続する。側面２２ｂは、側面１２ｂの後端方向に連続する。側面３２ａは、側面２２ａの後端方向に連続する。側面３２ｂは、側面２２ｂの後端方向に連続する。
【0016】
超音波探触子１Ａは、先端面２から後端方向（Ｙ軸の負の方向）に側面の表面粗さを計測したとき、近位側面領域１０の表面粗さが、遠位側面領域２０の表面粗さより小さい値である。このような側面部位を「複合粗さの側面部位」と呼ぶ。
表面粗さが比較的小さい近位側面領域１０の側面に対しては、カバーが密着しやすいため、図２に示すように超音波探触子１Ａにカバー５を被せたとき、超音波探触子１Ａに対してカバー５が滑りにくくなる。これにより、超音波探触子１Ａに対してカバー５がずれたり、カバー５とともに手が滑ったりすることを抑制することができる。
表面粗さが比較的大きい遠位側面領域２０の側面に対しては、超音波探触子１Ａを直接手に持ったときに触れる手指が滑りにくい。なお、超音波探触子１Ａの外形は一例であって、図３に示す超音波探触子１Ｂその他の形態の超音波探触子であってもよい。
以上により、超音波探触子１Ａ（１Ｂ）を直接手に持っても滑りにくく、被せたカバー５も滑りにくく、直接でもカバー５越しでも手に持って滑りにくくすることができる。
表面粗さが比較的小さい近位側面領域１０の側面に対しては、カバーが密着しやすいため、図２に示すように超音波探触子１Ａにカバー５を被せたとき、超音波探触子１Ａに対してカバー５が滑りにくくなる。これにより、超音波探触子１Ａに対してカバー５がずれたり、カバー５とともに手が滑ったりすることを抑制することができる。
表面粗さが比較的大きい遠位側面領域２０の側面に対しては、超音波探触子１Ａを直接手に持ったときに触れる手指が滑りにくい。なお、超音波探触子１Ａの外形は一例であって、図３に示す超音波探触子１Ｂその他の形態の超音波探触子であってもよい。
以上により、超音波探触子１Ａ（１Ｂ）を直接手に持っても滑りにくく、被せたカバー５も滑りにくく、直接でもカバー５越しでも手に持って滑りにくくすることができる。
【0017】
側面１１ａ、側面２１ａは、複合粗さの側面部位とされている。すなわち、先端面２の長辺に隣接した側面１１ａ，２１ａは、複合粗さの側面部位である（側面１１ａの表面粗さが側面２１ａの表面粗さより小さい。）
また、側面１１ｂ、側面２１ｂは、複合粗さの側面部位とされている。すなわち、先端面２の長辺に隣接した側面１１ｂ，２１ｂは、複合粗さの側面部位である（側面１１ｂの表面粗さが側面２１ｂの表面粗さより小さい。）
また、側面１２ａ、側面２２ａは、複合粗さの側面部位とされている。すなわち、先端面２の短辺に隣接した側面１２ａ，２２ａは、複合粗さの側面部位である（側面１２ａの表面粗さが側面２２ａの表面粗さより小さい。）
さらに、側面１２ｂ、側面２２ｂは、複合粗さの側面部位とされている。すなわち、先端面２の短辺に隣接した側面１２ｂ，２２ｂは、複合粗さの側面部位である（側面１２ｂの表面粗さが側面２２ｂの表面粗さより小さい。）
以上のように方向の異なる４面すべてを複合粗さの側面部位とすることが好ましい。超音波探触子１Ａを直接手に持っても滑りにくく、被せたカバー５も滑りにくく、直接でもカバー５越しでも手に持って滑りにくくするためである。
但し、方向の異なる４面のうち、３面のみ、２面のみ又は１面のみを選択して複合粗さの側面部位として実施してもよい。例えば、側面１１ａと側面２１ａ、側面１１ｂと側面２１ｂを複合粗さの側面部位とし、側面１２ａと側面２２ａを一定の表面粗さ、側面１２ｂと側面２２ｂを一定の表面粗さとしてもよい。その場合、当該一定の表面粗さを、側面１１ａ及び側面１１ｂと同じか又はそれより小さい表面粗さとしてもよい。カバー５を滑りにくくすることができる。逆に、当該一定の表面粗さを、側面２１ａ及び側面２１ｂと同じか又はそれより大きい表面粗さとしてもよい。手を滑りにくくすることができる。
また、側面１１ｂ、側面２１ｂは、複合粗さの側面部位とされている。すなわち、先端面２の長辺に隣接した側面１１ｂ，２１ｂは、複合粗さの側面部位である（側面１１ｂの表面粗さが側面２１ｂの表面粗さより小さい。）
また、側面１２ａ、側面２２ａは、複合粗さの側面部位とされている。すなわち、先端面２の短辺に隣接した側面１２ａ，２２ａは、複合粗さの側面部位である（側面１２ａの表面粗さが側面２２ａの表面粗さより小さい。）
さらに、側面１２ｂ、側面２２ｂは、複合粗さの側面部位とされている。すなわち、先端面２の短辺に隣接した側面１２ｂ，２２ｂは、複合粗さの側面部位である（側面１２ｂの表面粗さが側面２２ｂの表面粗さより小さい。）
以上のように方向の異なる４面すべてを複合粗さの側面部位とすることが好ましい。超音波探触子１Ａを直接手に持っても滑りにくく、被せたカバー５も滑りにくく、直接でもカバー５越しでも手に持って滑りにくくするためである。
但し、方向の異なる４面のうち、３面のみ、２面のみ又は１面のみを選択して複合粗さの側面部位として実施してもよい。例えば、側面１１ａと側面２１ａ、側面１１ｂと側面２１ｂを複合粗さの側面部位とし、側面１２ａと側面２２ａを一定の表面粗さ、側面１２ｂと側面２２ｂを一定の表面粗さとしてもよい。その場合、当該一定の表面粗さを、側面１１ａ及び側面１１ｂと同じか又はそれより小さい表面粗さとしてもよい。カバー５を滑りにくくすることができる。逆に、当該一定の表面粗さを、側面２１ａ及び側面２１ｂと同じか又はそれより大きい表面粗さとしてもよい。手を滑りにくくすることができる。
【0018】
遠位側面領域２０は、超音波探触子１Ａを通常手に持ったとき、手指が触れる位置（グリップ部）とすることが好ましい。超音波探触子１Ａを手に持ったとき、手が滑らないようにするためである。そのため、複合粗さの側面部位において、先端面２に垂直なＹ軸方向の長さＬの３分の１の中央部（図においてＬ／３の部分）は遠位側面領域２０とされていることが好ましい。
なお、後端部側面領域３０の表面粗さに関しては任意である。例えば、複合粗さの側面部位における小さい方の表面粗さに合わせてもよい。又は、後端部側面領域３０に関しては、複合粗さの側面部位における大きい方の表面粗さに合わせてもよい（この場合、遠位側面領域２０が後端まで連続する形態になる。）。又は、複合粗さの側面部位におけるいずれの表面粗さにも合わせなくてもよい。
なお、後端部側面領域３０の表面粗さに関しては任意である。例えば、複合粗さの側面部位における小さい方の表面粗さに合わせてもよい。又は、後端部側面領域３０に関しては、複合粗さの側面部位における大きい方の表面粗さに合わせてもよい（この場合、遠位側面領域２０が後端まで連続する形態になる。）。又は、複合粗さの側面部位におけるいずれの表面粗さにも合わせなくてもよい。
【0019】
図１に示すように先端面２の短軸Ｚ方向の幅をＤとして、複合粗さの側面部位における近位側面領域１０は、先端面２と遠位側面領域２０の間に３Ｄ以上５Ｄ以下の長さで存在していることが好ましい。カバー５に密着し、カバー５のずれを止める密着面を十分に確保するとともに、遠位側面領域２０をグリップ部に配置するためである。３Ｄ未満であると密着面が小さすぎ、５Ｄを超えると遠位側面領域２０が先端面２から離れすぎる。
【0020】
側面１２ａ、側面１２ｂの表面粗さを、側面１１ａ，１１ｂの表面粗さより小さくしてもよい。
超音波探触子１Ａの先端面２は、Ｘ軸方向に長く、この方向の端面に相当する側面１２ａ、側面１２ｂにカバー５から受ける圧力が高くなりやすい。したがって、このような側面１２ａ、側面１２ｂの密着性を高めておくことにより、よりカバー５が滑りにくい超音波探触子１Ａ（１Ｂ）とすることができる。この場合、側面２２ａ、側面２２ｂの表面粗さは、側面１２ａ、側面１２ｂの表面粗さより大きくしてもよいし、上述したようの同じとしてもよい。
以上のように、複合粗さの側面部位における遠位側面領域２０より先端面２に近い側面領域（１０）内での比較において、先端面２の短辺に隣接した側面１２ａ（１２ｂ）は、先端面２の長辺に隣接した側面１１ａ（１１ｂ）より表面粗さが小さいものを実施してもよい。
超音波探触子１Ａの先端面２は、Ｘ軸方向に長く、この方向の端面に相当する側面１２ａ、側面１２ｂにカバー５から受ける圧力が高くなりやすい。したがって、このような側面１２ａ、側面１２ｂの密着性を高めておくことにより、よりカバー５が滑りにくい超音波探触子１Ａ（１Ｂ）とすることができる。この場合、側面２２ａ、側面２２ｂの表面粗さは、側面１２ａ、側面１２ｂの表面粗さより大きくしてもよいし、上述したようの同じとしてもよい。
以上のように、複合粗さの側面部位における遠位側面領域２０より先端面２に近い側面領域（１０）内での比較において、先端面２の短辺に隣接した側面１２ａ（１２ｂ）は、先端面２の長辺に隣接した側面１１ａ（１１ｂ）より表面粗さが小さいものを実施してもよい。
【0021】
また、図４に示すように複合粗さの側面部位における遠位側面領域の表面粗さは、異方性を有するものとしてもよい。この場合、Ｙ軸方向に計測した表面粗さ（Ｒａ１とする）が、Ｙ軸と垂直方向の計測した表面粗さ（Ｒａ２とする）より大きくするとよい。例えば、Ｒａ１＝３．２〔μｍ〕、Ｒａ２＝１．０〔μｍ〕である。超音波探触子１Ａ（１Ｂ）の先端面２を被検体に押し付ける方向Ｙについて手が滑りにくくなる。
【0022】
以上の超音波探触子１Ａ（１Ｂ）の側面（１１ａ，１１ｂ，１２ａ，１２ｂ，２１ａ，２１ｂ，２２ａ，２２ｂ，３１ａ，３１ｂ，３２ａ，３２ｂ）は、超音波探触子１Ａ（１Ｂ）の樹脂製筐体ケースの表面により構成され、成形型の成形面の転写により以上説明した異なる表面粗さに製造することができる。この製造方法によれば工程負担増、コスト増にならず、生産性良好に低コストに超音波探触子を製造することができる。なお、一部の領域で成形部品を作成し、2色成形により異なる表面粗さをもつ筐体に製造してもよい。
プローブの筐体の材料は、一般的な樹脂材料が使用され、ＰＡ、ＰＣ、ＰＯＭ、ＰＰＥ、ＰＥＴ、ＰＢＴ、ＰＴＦＥ、ＰＰＳ、ＰＳＵ、ＰＥＳ、ＰＡＲ、ＰＡＩ、ＴＰＩ、ＰＥＩ、ＰＥＥＫ、ＬＣＰ、等のほかに、これらの原材料の共重合体、これらの樹脂に変性を加えたもの、これらの樹脂をブレンドした材料、ガラスファイバー等の強化を行ったもの、等どのような材料でも使用可能である。
またカバーとの密着性向上のために、静電気的な引力を期待して、カバーの帯電極性と反対の帯電極性をもつ材料を使用してもよい。樹脂のブレンド比率を変えたり、添加剤を加えたり、あるいは成形後の表面処理をしたりすることで、極性の調整が可能である。
さらには、直接手に持ったときの密着性向上のために、親疎水性を制御した材料を使用してもよい。同様に樹脂のブレンド比率を変えたり、添加剤を加えたり、あるいは成形後の表面処理をしたりすることで、新疎水性の調整が可能である。
プローブの筐体の材料は、一般的な樹脂材料が使用され、ＰＡ、ＰＣ、ＰＯＭ、ＰＰＥ、ＰＥＴ、ＰＢＴ、ＰＴＦＥ、ＰＰＳ、ＰＳＵ、ＰＥＳ、ＰＡＲ、ＰＡＩ、ＴＰＩ、ＰＥＩ、ＰＥＥＫ、ＬＣＰ、等のほかに、これらの原材料の共重合体、これらの樹脂に変性を加えたもの、これらの樹脂をブレンドした材料、ガラスファイバー等の強化を行ったもの、等どのような材料でも使用可能である。
またカバーとの密着性向上のために、静電気的な引力を期待して、カバーの帯電極性と反対の帯電極性をもつ材料を使用してもよい。樹脂のブレンド比率を変えたり、添加剤を加えたり、あるいは成形後の表面処理をしたりすることで、極性の調整が可能である。
さらには、直接手に持ったときの密着性向上のために、親疎水性を制御した材料を使用してもよい。同様に樹脂のブレンド比率を変えたり、添加剤を加えたり、あるいは成形後の表面処理をしたりすることで、新疎水性の調整が可能である。
【0023】
先端面２から後端方向に側面（例えば側面１１ａと側面２１ａ）の表面粗さを計測したときの要素の平均長さＲｓｍは、Ｒｓｍ≦１〔ｍｍ〕である。要素の平均長さＲｓｍとは、粗さ曲線における起伏の１周期分に相当する要素の長さ（図４に要素の長さＲｓ１を例として示す）の平均値である。
Ｒｓｍ≦１〔ｍｍ〕であることのより、表面に汚れが溜まりにくく、付着した汚れも清掃除去しやすい。そのためには、好ましくはＲｓｍ≦０．８〔ｍｍ〕である。
Ｒｓｍ≦１〔ｍｍ〕であることのより、表面に汚れが溜まりにくく、付着した汚れも清掃除去しやすい。そのためには、好ましくはＲｓｍ≦０．８〔ｍｍ〕である。
【0024】
（実施例）
次に、本発明例、比較例を開示する。表Ｉに示すように表面粗さ、滑りやすさ、清掃性について調べた。
次に、本発明例、比較例を開示する。表Ｉに示すように表面粗さ、滑りやすさ、清掃性について調べた。
【0025】
【表1】
【0026】
表Ｉにおいて縦項目Ａ１，Ａ２，Ａ４は比較例、Ａ３は本発明例について示す。横項目Ｂ１は上述した要素の平均長さＲｓｍ〔ｍｍ〕である。
横項目Ｂ２の直持ち用表面粗さＳａ１〔μｍ〕は、複合粗さの側面部位における遠位側面領域２０の表面粗さに相当する。横項目Ｂ３のカバー用表面粗さＳａ２〔μｍ〕は、複合粗さの側面部位における近位側面領域１０の表面粗さに相当する。
複合粗さの側面部位はＹ軸周りの周囲４側面とした。先端面２と遠位側面領域２０の間を４Ｄとし、３分の１の中央部（Ｌ／３の部分）は遠位側面領域２０とした。ただし、Ａ１，Ａ２欄の比較例は、一律な表面粗さのものである。カバーとしてはＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）のラップを用いた。備考欄Ｂ７に比較例か本発明例かの別を示した。
横項目Ｂ２の直持ち用表面粗さＳａ１〔μｍ〕は、複合粗さの側面部位における遠位側面領域２０の表面粗さに相当する。横項目Ｂ３のカバー用表面粗さＳａ２〔μｍ〕は、複合粗さの側面部位における近位側面領域１０の表面粗さに相当する。
複合粗さの側面部位はＹ軸周りの周囲４側面とした。先端面２と遠位側面領域２０の間を４Ｄとし、３分の１の中央部（Ｌ／３の部分）は遠位側面領域２０とした。ただし、Ａ１，Ａ２欄の比較例は、一律な表面粗さのものである。カバーとしてはＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）のラップを用いた。備考欄Ｂ７に比較例か本発明例かの別を示した。
【0027】
Ａ１欄の比較例は、一律に側面を粗くした例である。横項目Ｂ４に記載したように直持ちで滑る頻度（直接手で持って滑る頻度）が比較的低かったが、横項目Ｂ５に記載したように被せたカバーが滑る頻度が比較的高かった。
Ａ２欄の比較例は、一律に側面を平滑にした例である。横項目Ｂ４に記載したように直持ちで滑る頻度が、Ａ１欄の比較的より上がり、横項目Ｂ５に記載したように被せたカバーが滑る頻度が、Ａ１欄の比較的より下がった。
Ａ３欄の本発明例は、上で説明したように先端面２に近い近位側面領域１０の表面粗さを小さく、０．６〔μｍ〕とし、先端面２から遠い遠位側面領域２０の表面粗さを大きく、３．３〔μｍ〕とした。このような本発明例では、横項目Ｂ４の直持ちで滑る頻度及び横項目Ｂ５の被せたカバーが滑る頻度の双方を、低く抑えることができた。
Ａ４欄の比較例は、Ａ３欄の本発明例と同じ表面粗さの組み合わせとしたが、要素の平均長さＲｓｍが１．２〔ｍｍ〕と大きい。このようなＡ４欄の比較例では、横項目Ｂ６欄に示したように清掃性が悪化した。清掃性は、一定の汚れの同一清掃処理に対する残り量により評価した。
Ａ２欄の比較例は、一律に側面を平滑にした例である。横項目Ｂ４に記載したように直持ちで滑る頻度が、Ａ１欄の比較的より上がり、横項目Ｂ５に記載したように被せたカバーが滑る頻度が、Ａ１欄の比較的より下がった。
Ａ３欄の本発明例は、上で説明したように先端面２に近い近位側面領域１０の表面粗さを小さく、０．６〔μｍ〕とし、先端面２から遠い遠位側面領域２０の表面粗さを大きく、３．３〔μｍ〕とした。このような本発明例では、横項目Ｂ４の直持ちで滑る頻度及び横項目Ｂ５の被せたカバーが滑る頻度の双方を、低く抑えることができた。
Ａ４欄の比較例は、Ａ３欄の本発明例と同じ表面粗さの組み合わせとしたが、要素の平均長さＲｓｍが１．２〔ｍｍ〕と大きい。このようなＡ４欄の比較例では、横項目Ｂ６欄に示したように清掃性が悪化した。清掃性は、一定の汚れの同一清掃処理に対する残り量により評価した。
【符号の説明】
【0028】
１Ａ 超音波探触子
１Ｂ 超音波探触子
２ 先端面
４ ケーブル
５ カバー
１０ 近位側面領域
１１ａ 側面
１１ｂ 側面
１２ａ 側面
１２ｂ 側面
２０ 遠位側面領域
２１ａ 側面
２１ｂ 側面
２２ａ 側面
２２ｂ 側面
３０ 後端部側面領域
３１ａ 側面
３１ｂ 側面
３２ａ 側面
３２ｂ 側面
１Ｂ 超音波探触子
２ 先端面
４ ケーブル
５ カバー
１０ 近位側面領域
１１ａ 側面
１１ｂ 側面
１２ａ 側面
１２ｂ 側面
２０ 遠位側面領域
２１ａ 側面
２１ｂ 側面
２２ａ 側面
２２ｂ 側面
３０ 後端部側面領域
３１ａ 側面
３１ｂ 側面
３２ａ 側面
３２ｂ 側面
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】