特開 2022-18468 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022018468

(43)【公開日】2022-01-27

(54)【発明の名称】情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム

(51)【国際特許分類】

   G06F 30/20 20200101AFI20220120BHJP

   G06F 16/21 20190101ALI20220120BHJP

【ＦＩ】

G06F17/50 612C

G06F16/21

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020121584

(22)【出願日】2020-07-15

(71)【出願人】

【識別番号】503361400

【氏名又は名称】国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構

(74)【代理人】

【識別番号】100106909

【弁理士】

【氏名又は名称】棚井 澄雄

(74)【代理人】

【識別番号】100161702

【弁理士】

【氏名又は名称】橋本 宏之

(74)【代理人】

【識別番号】100188592

【弁理士】

【氏名又は名称】山口 洋

(74)【代理人】

【識別番号】100181124

【弁理士】

【氏名又は名称】沖田 壮男

(74)【代理人】

【識別番号】100163496

【弁理士】

【氏名又は名称】荒 則彦

(72)【発明者】

【氏名】梅田 浩貴

(72)【発明者】

【氏名】植田 泰士

(72)【発明者】

【氏名】片平 真史

【テーマコード（参考）】

5B046

5B146

5B175

【Ｆターム（参考）】

5B046DA01

5B046JA07

5B046KA08

5B146CA01

5B146DJ14

5B146DL10

5B175CA07

5B175KA11

(57)【要約】

【課題】解析処理における作業者の知見に関する情報の記録及び参照を可能にする情報処理装置、情報処理方法、及びプログラムを提供すること。
【解決手段】ハードウェアの解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を取得する取得部と、前記取得部により取得された前記知見情報と、前記解析工程の解析目的、検証観点、前記ハードウェアの名称、前記ハードウェアの利用環境における過渡事象の計測位置、及び前記過渡事象のレビュー観点の少なくとも１つと、が対応付けられたツリー構造を有する知見ツリーを生成する生成部と、を備える情報処理装置である。
【選択図】図１０

【特許請求の範囲】

【請求項1】

ハードウェアの解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を取得する取得部と、
前記取得部により取得された前記知見情報と、前記解析工程の解析目的、検証観点、前記ハードウェアの名称、前記ハードウェアの利用環境における過渡事象の計測位置、及び前記過渡事象のレビュー観点の少なくとも１つと、が対応付けられたツリー構造を有する知見ツリーを生成する生成部と、
を備える情報処理装置。

【請求項2】

前記知見ツリーは、上位層から下位層に向かって、前記解析目的、前記検証観点、前記ハードウェアの名称、前記計測位置、及び前記過渡事象のレビュー観点の各々を示すノードが順に配置されたツリー構造を有する、
請求項１に記載の情報処理装置。

【請求項3】

前記過渡事象のレビュー観点は、予め定義された過渡事象のレビュー観点の識別情報により表される、
請求項１または２に記載の情報処理装置。

【請求項4】

前記取得部により取得された前記知見情報に含まれるレビューコメントと、予め定義されたキーワード情報とをマッチングすることにより前記レビューコメントから抽出された少なくとも１つの単語と、が対応付けられたレビューコメント分析表を生成する分析部をさらに備え、
前記生成部は、前記分析部により生成された前記レビューコメント分析表に基づいて、前記知見ツリーを生成する、
請求項１から３のいずれか一項に記載の情報処理装置。

【請求項5】

前記生成部は、前記レビューコメント分析表において、前記レビューコメントに前記過渡事象のレビュー観点が対応付けられている場合、前記過渡事象のレビュー観点を示すノードに前記レビューコメントが対応付けられた前記知見ツリーを生成する、
請求項４に記載の情報処理装置。

【請求項6】

前記生成部は、前記レビューコメント分析表において、前記レビューコメントに２つ以上の前記計測位置が対応付けられている場合、前記計測位置を示すノードに前記レビューコメントが対応付けられた前記知見ツリーを生成する、
請求項４または５に記載の情報処理装置。

【請求項7】

前記生成部は、前記レビューコメント分析表において、前記レビューコメントに２つ以上の前記ハードウェアの名称が対応付けられている場合、前記ハードウェアが複数である場合を示す第１分岐と、前記ハードウェアが単体である場合を示す第２分岐とを設定し、前記第１分岐の下位層に２つ以上の前記ハードウェアの名称を示すノードを追加し、該ノードに前記レビューコメントが対応付けられた前記知見ツリーを生成する、
請求項４から６のいずれ一項に記載の情報処理装置。

【請求項8】

前記生成部により生成された前記知見ツリーを表示部に表示させる表示制御部をさらに備える、
請求項１から７のいずれ一項に記載の情報処理装置。

【請求項9】

コンピュータが、
ハードウェアの解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を取得し、
取得された前記知見情報と、前記解析工程の解析目的、検証観点、前記ハードウェアの名称、前記ハードウェアの利用環境における過渡事象の計測位置、及び前記過渡事象のレビュー観点の少なくとも１つと、が対応付けられたツリー構造を有する知見ツリーを生成する、
情報処理方法。

【請求項10】

コンピュータに、
ハードウェアの解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を取得させ、
取得された前記知見情報と、前記解析工程の解析目的、検証観点、前記ハードウェアの名称、前記ハードウェアの利用環境における過渡事象の計測位置、及び前記過渡事象のレビュー観点の少なくとも１つと、が対応付けられたツリー構造を有する知見ツリーを生成させる、
プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、情報処理装置、情報処理方法、及びプログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

従来、各種ハードウェアの開発プロセスにおいては、動作検証のための試験として、ハードウェアの利用環境を模擬したシミュレーションによる解析試験が行われる。解析試験では、直接計測できない事象（流量、温度、圧力等）がシミュレーションにより解析される。また、シミュレーションの解析精度を高めるために、開発対象のハードウェアと類似する既存の設備等を用いた実機試験により得られる計測結果と、シミュレーションにより得られる解析結果とが一致するようにシミュレーションにおける各種パラメータが調整される。

【0003】

シミュレーションにおいては、実際の利用環境を模擬するため、調整対象となるパラメータの数が膨大になることが多い。このため、シミュレーションに要する計算時間の制約から、作業者は、自身の知見に基づいて、一部のパラメータについては省略したり、固定値として取り扱う等して模擬度合いを下げる調整を行う。また、一方で、作業者は、重要なパラメータについては、他のパラメータによる影響を考慮した方程式を用いて定義する等して模擬度合いを高める調整を行う（例えば、特許文献１）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０２０－６１０６５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

上記のように、シミュレーションにおけるパラメータの調整は、解析目的、ハードウェアの構造、利用環境における各種物理事象等を合わせて考慮した作業者の複合的な知見に基づいて行われていた。また、開発対象のハードウェアは新規性が高く、同一の既存のハードウェアは存在しないため、既存の設備等から得られる計測結果をそのまま利用することはできず、作業者の知見に基づいて適宜修正等が行われていた。従来、このような作業者の複合的な知見を記録および参照する手段が無いため、解析モデルの作成時や解析結果のレビュー時等に、他者はどのような観点で作業者が解析を行ったのかを把握することができなかった。

【0006】

本発明は、このような事情を考慮してなされたものであり、解析処理における作業者の知見に関する情報の記録及び参照を可能にする情報処理装置、情報処理方法、及びプログラムを提供することを目的の一つとする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一態様は、ハードウェアの解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を取得する取得部と、前記取得部により取得された前記知見情報と、前記解析工程の解析目的、検証観点、前記ハードウェアの名称、前記ハードウェアの利用環境における過渡事象の計測位置、及び前記過渡事象のレビュー観点の少なくとも１つと、が対応付けられたツリー構造を有する知見ツリーを生成する生成部と、を備える情報処理装置である。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、解析処理における作業者の知見に関する情報の記録及び参照を可能にすることができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】知見ツリーの基本構造Ｔ１の一例を示す図である。

【図2】情報処理装置による解析処理の対象となるハードウェアの利用環境の一例を示す図である。

【図3】情報処理装置による解析処理の対象となる解析工程を説明する図である。

【図4】解析モデルによる解析値Ａ１の一例を示す図である。

【図5】解析対象の設計期待値Ａ２の一例を示す図である。

【図6】現在及び／または過去の参照値Ａ３の一例を示す図である。

【図7】比較結果Ａ４の一例を示す図である。

【図8】過渡事象レビュー観点ＩＤの一覧を示す図である。

【図9】レビュー結果Ａ５の一例を示す図である。

【図10】情報処理装置１の構成の一例を示す図である。

【図11】キーワード情報の一例を示す図である。

【図12】情報処理装置１によるレビューコメント分析表の生成処理の流れの一例を示すフローチャートである。

【図13】レビューコメント分析表Ｔ２の一例を示す図である。

【図14】情報処理装置１による知見ツリーの生成処理の流れの一例を示すフローチャートである。

【図15】レビューコメント分析表Ｔ２において「過渡事象レビュー観点ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。

【図16】レビューコメント分析表Ｔ２において２つ以上の「計測ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。

【図17】レビューコメント分析表Ｔ２において２つ以上の「計測ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する他の処理の様子を示す図である。

【図18】レビューコメント分析表Ｔ２において２つ以上の「ＨＷ機器」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。

【図19】レビューコメント分析表Ｔ２において、１つの「ＨＷ機器」と、１つの「計測ＩＤと」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

［実施形態］
以下、図を参照して本発明に係る情報処理装置、情報処理方法、及びプログラムの実施形態について説明する。

【0011】

＜情報処理装置の適用対象＞
本実施形態の情報処理装置は、ハードウェアの開発プロセスに含まれる解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を用いて、過渡解析における知見情報を示す知見ツリーを生成する。本実施形態において、過渡解析とは、時間的に状態が変化する事象（過渡事象）の挙動を解析することを意味する。過渡事象は、例えば、開発対象のハードウェアの利用環境における特定の箇所において計測される温度、圧力、流量等の値である。

【0012】

知見ツリーとは、解析対象に関連する情報とともに、解析作業を行った作業者により記録されたレビューコメントをツリー構造で示すものである。このレビューコメントには、解析作業における作業者の解析前提を示す情報が含まれる。図１は、知見ツリーの基本構造Ｔ１を説明する図である。知見ツリーの基本構造Ｔ１においては、解析目的（Ｇ１）、検証観点（Ｇ１．１）、ハードウェア（ＨＷ）機器（Ｇ１．１．１）、計測箇所（Ｇ１．１．１．１）、過渡レビュー観点ＩＤ（Ｇ１．１．１．１．１）等の解析対象に関する情報を示すノード（「ゴール」とも呼ぶ）がツリー構造をなしている。知見ツリーは、上位層から下位層に向かって、解析目的、検証観点、ハードウェアの名称、計測位置、及び過渡事象のレビュー観点の各々を示すノードが順に配置されたツリー構造を有する。

【0013】

また、これらの各ノード（Ｇ）には、解析前提Ｃ１、解析前提Ｃ１．１、解析前提Ｃ１．１．１、解析前提Ｃ１．１．１．１、解析前提Ｃ１．１．１．１．１等のレビューコメントを示す情報（「コンテキスト」とも呼ぶ）が対応付けられている。解析目的（Ｇ１）、検証観点（Ｇ１．１）、ハードウェア（ＨＷ）機器（Ｇ１．１．１）、計測箇所（Ｇ１．１．１．１）、過渡レビュー観点ＩＤ（Ｇ１．１．１．１．１）等の解析対象に関する情報を示すノード間には、運用シーケンス分割（Ｓ１）、解析対象の分割（Ｓ１．１）、計測対象毎の分割（Ｓ１．１．１）、レビュー観点毎の分割（Ｓ１．１．１．１）等のツリー構造を細分化・詳細化するための観点を示すノードが設定されている。上記のゴール（Ｇ）、コンテキスト（Ｃ）の文言は、解析作業を行った作業者により記録されたレビューコメントに基づいて設定される。一方、ツリー構造を細分化・詳細化するための観点を示すノード（Ｓ）の文言は、予め定義された固定のものである。知見ツリーにおいて、解析前提（Ｃ）は角丸四角の図形によって表され、ノード（Ｇ）は四角の図形によって表され、ノード（Ｓ）はひし形の図形よって表される。また、解析前提（Ｃ）と、ノード（Ｇ）との間の対応付けは、矢印によって表される。

【0014】

解析結果のレビュー等を行う他者は、このような知見ツリーを参照することで、解析作業を担当した作業者の知見に関する情報を確認することができる。知見ツリーの生成方法については後述する。

【0015】

図２は、情報処理装置による解析処理の対象となるハードウェアの利用環境の一例を示す図である。図２において、例えば、タンク、ポンプ、タービン、ガス発生器、および燃焼器の少なくとも１つが開発対象のハードウェアである。図１に示す例では、３つの計測箇所Ａ１，Ｂ１，及びＣ１が設定されている。３つの計測箇所Ａ１，Ｂ１，及びＣ１には、計測センサーとして、例えば、「温度センサー」が設置されており、この温度センサーにより、過渡事象である「温度」が測定される。計測箇所Ａ１は、ガス発生器とタービンＡとをつなぐ配管に位置する。計測箇所Ａ１には、その識別情報として「計測ＩＤ１」が設定されている。計測箇所Ｂ１は、ガス発生器とタービンＢとをつなぐ配管に位置する。計測箇所Ｂ１には、その識別情報として「計測ＩＤ２」が設定されている。計測箇所Ｃ１は、燃焼器とガス発生器とをつなぐ配管に位置する。計測箇所Ｃ１には、その識別情報として「計測ＩＤ３」が設定されている。以下においては、この図１に示す利用環境を例に挙げて説明する。

【0016】

図３は、情報処理装置による解析処理の対象となる解析工程を説明する図である。解析工程は、例えば、解析工程１、解析工程２、解析工程３、及び解析工程４を含む。

【0017】

解析工程１は、解析ツール（シミュレータ）を用いてハードウェアの利用環境の挙動を模擬する工程である。解析工程１では、予め準備された解析モデルを用いてハードウェアの利用環境を模擬することで、特定の計測箇所における過渡事象の解析値Ａ１を得る。図４は、解析値Ａ１の一例を示す図である。図４の例では、時刻毎の、計測ＩＤ１からＩＤ３の各々における温度の解析値（シミュレーション結果）が示されている。さらに、計測ＩＤ１に対して、レビューコメントＣ１が対応付けられている。このレビューコメントＣ１は、シミュレーションを行った作業者によって記録されたものである。このレビューコメントＣ１には、例えば、シミュレーションを行うに際して作業者が前提とした解析モデルの特徴や、解析対象の特徴を示す説明（解析前提）が含まれる。図４の例では、このレビューコメントＣ１として、解析モデルに関して「レビューコメントＸ１」が登録され、解析対象に関して「レビューコメントＸ２」が登録されている。

【0018】

解析工程２は、設計期待値を取得する工程である。設計期待値とは、利用環境が設計に沿った理想的な動作を行った場合における解析対象（過渡事象）の期待値である。設計期待値は、例えば、作業者により指定される。図５は、解析対象の設計期待値Ａ２の一例を示す図である。図５の例では、時刻毎の、計測ＩＤ１からＩＤ３の各々における温度の設計期待値が示されている。例えば、計測ＩＤ１の設計期待値は、時刻ｔ１からｔ３にわたって、温度が１０度ずつ徐々に増大する。さらに、この設計期待値Ａ２においては、計測ＩＤ１に対して、レビューコメントＣ２が対応付けられている。このレビューコメントＣ２は、作業者によって登録されたものである。

【0019】

解析工程３は、現在及び／または過去の参照値を取得する工程である。現在及び／または過去の参照値とは、開発対象のハードウェアと類似する機器を含む既存の利用環境や、試験用に準備された試験機器を含む利用環境において実際に測定された解析対象（過渡事象）の実測値である。図６は、解析対象の参照値Ａ３の一例を示す図である。図６の例では、時刻毎の、計測ＩＤ１からＩＤ３の各々における温度の実測値が示されている。さらに、計測ＩＤ２に対して、レビューコメントＣ３が対応付けられている。このレビューコメントＣ３は、作業者によって登録されたものである。

【0020】

解析工程４は、解析工程１から３において取得された解析値、設計期待値、及び参照値を比較する工程である。ここでは、予め定義された定数定義や計算式定義に基づいて、各解析工程で得られた値の単位を揃える処理や、所定の指標値を算出する処理が行われる。図７は、計測ＩＤ１についての比較結果Ａ４の一例を示す。図７の例では、解析工程１において取得された計測ＩＤ１の解析値ＩＤ１＿Ａ１と、解析工程２において取得された計測ＩＤ１の設計期待値ＩＤ１＿Ａ２と、解析工程３において取得された計測ＩＤ１の参照値ＩＤ１＿Ａ３とが時刻と値との関係を示すグラフにより比較可能に示されている。さらに、この計測ＩＤ１の比較結果に対して、レビューコメントＣ４が対応付けられている。このレビューコメントＣ４は、作業者によって登録されたものである。このレビューコメントＣ４は、例えば、再度のシミュレーションを行うに際して作業者が前提とした解析モデルの特徴に対するコメント（レビューコメントＷＡ１）、解析対象の特徴に対するコメント（レビューコメントＷＡ２）に加えて、過渡事象レビュー観点ＩＤ（「１－Ａ－Ｍａｘ」）を含む。

【0021】

過渡事象レビュー観点ＩＤとは、予め定義されたレビュー観点を識別する識別情報である。図８は、予め定義された過渡事象レビュー観点ＩＤの一覧を示す。例えば、過渡事象レビュー観点ＩＤ「１－Ａ－Ｍａｘ」は、過渡レビュー観点が「該当時間の絶対値」であり、記録範囲が「全区間」であり、計測値の閾値種別が「最大」であるレビュー観点を示している。例えば、作業者は、図７に示す比較結果をレビューした際、自信が着目した観点に相当する過渡事象レビュー観点ＩＤを図８の一覧から選択して、レビューコメントＣ４に記録する。すなわち、過渡事象のレビュー観点は、予め定義された過渡事象のレビュー観点の識別情報により表される。

【0022】

また、解析工程４では、上記の解析工程におけるレビューコメントをまとめて、レビュー結果が生成される。図９は、レビュー結果Ａ５の一例を示す図である。図９の例では、「計測ＩＤ１」の行に、図４に示す解析値Ａ１の計測ＩＤ１に対して付与されたレビューコメントＣ１と、図５に示す設計期待値Ａ２の計測ＩＤ１に対して付与されたレビューコメントＣ２と、図７に示す計測ＩＤ１の比較結果Ａ４に対して付与されたレビューコメントＣ４とが含まれる。なお、図７に示す計測ＩＤ１の比較結果Ａ４に対して付与されたレビューコメントＣ４に含まれる「解析モデル」に対するレビューコメントＷＡ１および「解析対象」に対するレビューコメントＷＡ２は、「解析工程４」の列に記載されるが、「過渡事象レビュー観点ＩＤ」の値である「１－Ａ－Ｍａｘ」は、「解析工程４」とは区別されて列である「過渡事象レビュー観点ＩＤ」列に記載される。また、図９の例では、「計測ＩＤ２」の行に、図６に示す計測ＩＤ２に対して付与されたレビューコメントＣ３が含まれる。なお、計測ＩＤ２および計測ＩＤ３に対しても、上記の計測ＩＤ１と同様な比較処理が行われる。

【0023】

＜情報処理装置の構成＞
図１０は、情報処理装置１の構成の一例を示す図である。情報処理装置１は、解析値Ａ１、設計期待値Ａ２、参照値Ａ３、比較結果Ａ４、及びレビュー結果Ａ５を入力値として受け取り、知見ツリーＴＲを出力する。情報処理装置１は、例えば、入力インターフェース１０と、表示部２０と、制御部３０と、記憶部４０とを備える。

【0024】

入力インターフェース１０は、情報処理装置１のユーザからの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して制御部３０に出力する。例えば、入力インターフェース１０は、マウス、キーボード、タッチパネル等を含む。入力インターフェース１０がタッチパネルである場合、入力インターフェース１０は、後述する表示部２０の表示機能を兼ね備えるものであってもよい。

【0025】

表示部２０は、各種の情報を表示する。例えば、表示部２０は、制御部３０によって生成された画像や、ユーザからの各種の入力操作を受け付けるためのＧＵＩ（Graphical User Interface）等を表示する。表示部２０は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイ等である。

【0026】

制御部３０は、情報処理装置１の動作を制御する。制御部３０は、例えば、取得部３１と、分析部３２と、生成部３３と、表示制御部３４との機能を有する。制御部３０は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等のハードウェアプロセッサが記憶部４０に記憶されるプログラム（ソフトウェア）を実行することにより、取得部３１と、分析部３２と、生成部３３と、表示制御部３４との各機能部を実現する。また、これらの構成要素のうち一部又は全部は、ＬＳＩ（Large Scale Integration)やＡＳＩＣ(Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）等のハードウェア（回路部；circuitryを含む）によって実現されてもよいし、ソフトウェアとハードウェアの協働によって実現されてもよい。

【0027】

取得部３１は、解析値Ａ１、設計期待値Ａ２、参照値Ａ３、比較結果Ａ４、及びレビュー結果Ａ５を取得する。取得部３１は、例えば、入力インターフェース１０を介したユーザの操作に基づいて、解析値Ａ１、設計期待値Ａ２、参照値Ａ３、比較結果Ａ４、及びレビュー結果Ａ５を取得する。或いは、取得部３１は、ネットワークを介して接続された他装置に記憶されている解析値Ａ１、設計期待値Ａ２、参照値Ａ３、比較結果Ａ４、及びレビュー結果Ａ５を取得してもよい。すなわち、取得部３１は、ハードウェアの解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を取得する。

【0028】

分析部３２は、レビュー結果Ａ５と、予め定義されたキーワード情報Ｄ２とに基づいて、レビューコメント分析表を生成する。図１１は、キーワード情報Ｄ２の一例を示す図である。図１１に示すように、キーワード情報Ｄ２には、分類子毎の具体名称、別名称が対応付けられている。分析部３２によるレビューコメント分析表の具体的な生成方法については後述する。

【0029】

すなわち、分析部３２は、取得部３１により取得された知見情報に含まれるレビューコメントと、予め定義されたキーワード情報とをマッチングすることによりレビューコメントから抽出された少なくとも１つの単語と、が対応付けられたレビューコメント分析表Ｔ２を生成する。

【0030】

生成部３３は、分析部３２により生成されたレビューコメント分析表に基づいて、知見ツリーを生成する。すなわち、生成部３３は、取得部３１により取得された知見情報と、解析工程の解析目的、検証観点、ハードウェアの名称、ハードウェアの利用環境における過渡事象の計測位置、及び過渡事象のレビュー観点の少なくとも１つと、が対応付けられたツリー構造を有する知見ツリーを生成する。生成部３３による知見ツリーの具体的な生成方法については後述する。

【0031】

表示制御部３４は、表示部２０の動作を制御する。表示制御部３４は、例えば、分析部３２により生成されたレビューコメント分析表や、生成部３３により生成された知見ツリーを、表示部２０に表示させる。

【0032】

記憶部４０は、例えば、図８に示す過渡事象レビュー観点情報Ｄ１、図１１に示すキーワード情報Ｄ２等を記憶する。記憶部４０、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、フラッシュメモリ、又はこれらのうち複数が組み合わされたハイブリッド型記憶装置等により実現される。また、記憶部４０の一部又は全部は、ＮＡＳ（Network Attached Storage）や外部のストレージサーバ等、情報処理装置１のアクセス可能な外部装置であってもよい。

【0033】

＜情報処理装置の処理（レビューコメント分析表の生成処理）＞
次に、情報処理装置１によるレビューコメント分析表の生成処理について説明する。図１２は、情報処理装置１によるレビューコメント分析表の生成処理の流れの一例を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、例えば、情報処理装置１のユーザが、入力インターフェース１０を介して、レビューコメント分析表の生成処理の開始指示を入力した場合に開始される。

【0034】

まず、情報処理装置１の取得部３１は、例えば、入力インターフェース１０を介したユーザの操作に基づいて、解析値Ａ１、設計期待値Ａ２、参照値Ａ３、比較結果Ａ４、及びレビュー結果Ａ５を取得する（ステップＳ１０１）。

【0035】

次に、分析部３２は、取得されたレビュー結果Ａ５に含まれる複数のレビューコメントの中から、処理対象のレビューコメントを選択する（ステップＳ１０３）。例えば、図９に示すレビュー結果Ａ５において、分析部３２は、処理対象のレビューコメントとして、解析工程１において計測ＩＤ１と対応付けられたレビューコメント「レビューコメントＸ１」及び「レビューコメントＸ２」を選択する。

【0036】

次に、分析部３２は、選択されたレビューコメントに対して形態素解析を行い、選択されたレビューコメントに含まれる単語（例えば、名詞句）を抽出する（ステップＳ１０５）。

【0037】

次に、分析部３２は、抽出された単語と、キーワード情報Ｄ２に予め登録されているキーワードとのマッチングを行い、抽出された単語の各々がキーワード情報Ｄ２に登録されているか否かを判定する（ステップＳ１０７）。例えば、図１１に示すキーワード情報Ｄ２には分類子「ＨＷ機器」の具体名称として「タービンＡ」が予め登録されている。ここで、分析部３２は、抽出された単語が「タービンＡ」である場合、抽出された単語がキーワード情報Ｄ２に登録されていると判定する。一方、分析部３２は、抽出された単語が「タンクＣ」である場合、キーワード情報Ｄ２には同単語は登録されていないため、抽出された単語がキーワード情報Ｄ２に登録されていないと判定する。

【0038】

分析部３２は、抽出された単語がキーワード情報Ｄ２に登録されていると判定した場合、この抽出された単語を、レビューコメント分析表Ｔ２に追加する（ステップＳ１０９）。図１３は、レビューコメント分析表Ｔ２の一例を示す図である。図１３に示すように、レビューコメント分析表Ｔ２には、レビューコメントと、キーワード情報Ｄ２に登録されていると判定された単語とが対応付けられて記録される。詳細には、レビューコメント分析表Ｔ２において、キーワード情報Ｄ２に登録されていると判定された単語は、分類子と対応付けられている。例えば、図１１に示すキーワード情報Ｄ２において「タービンＡ」は分類子「ＨＷ機器」と対応付けられている。このため、抽出された単語「タービンＡ」は、レビューコメント分析表Ｔ２の「ＨＷ機器」の列に対応付けて記録される。その他、図１３に示すレビューコメント分析表Ｔ２においては、識別番号「Ｎｏ．１」のレビューコメント「レビューコメントＸ１」及び「レビューコメントＸ２」と対応付けられて、「始動（分類子は“運用シーケンス”）」、「計測箇所Ａ１（分類子は“計測ＩＤ”）」が記録されている。なお、レビューコメント分析表Ｔ２における「ツール補正及び検証観点」の列には、必要に応じてユーザが入力インターフェース１０を介して入力した任意の文字が記録されている。

【0039】

なお、分析部３２は、処理対象のレビューコメントに「過渡事象レビュー観点ＩＤ」が含まれている場合には、この「過渡事象レビュー観点ＩＤ」をレビューコメント分析表Ｔ２に追加する。例えば、図１３に示すレビューコメント分析表Ｔ２においては、識別番号「Ｎｏ．４」のデータには、「過渡事象レビュー観点ＩＤ」である「１－Ａ－ＭＡＸ」が記録されている。

【0040】

次に、分析部３２は、取得されたレビュー結果Ａ５に含まれる複数のレビューコメントの全てのレビューコメントに対する上記の処理が完了したか否かを判定する（ステップＳ１１１）。分析部３２は、全てのレビューコメントに対する上記の処理が完了していないと判定した場合、上記のステップＳ１０３に戻り、以降の処理を繰り返す。一方、分析部３２は、全てのレビューコメントに対する上記の処理が完了したと判定した場合、本フローチャートの処理を終了する。なお、表示制御部３４は、分析部３２により生成されたレビューコメント分析表を表示部２０に表示させてもよい。

【0041】

＜情報処理装置の処理（知見ツリーの生成処理）＞
次に、情報処理装置１による知見ツリーの生成処理について説明する。図１４は、情報処理装置１による知見ツリーの生成処理の流れの一例を示すフローチャートである。このフローチャートの処理は、例えば、上記のレビューコメント分析表Ｔ２が生成された後に、情報処理装置１のユーザが、入力インターフェース１０を介して、知見ツリーの生成処理の開始指示を入力した場合に開始される。なお、このフローチャートの処理は、図１２に示されるレビューコメント分析表の生成処理の後に自動的に開始されてもよい。

【0042】

まず、情報処理装置１の生成部３３は、レビューコメント分析表Ｔ２から全てのレビューコメントを抽出する（ステップＳ２０１）。

【0043】

次に、生成部３３は、抽出されたレビューコメントの内、以下の第１条件および第２条件のいずれの条件も満たさないレビューコメントを、処理対象のレビューコメントから除外する（ステップＳ２０３）。第１条件は、レビューコメント分析表Ｔ２において、レビューコメントと対応付けられた「計測ＩＤ」及び「ＨＷ機器」の両方に単語が記録されていること、または、「計測ＩＤ」及び「ＨＷ機器」の一方に２つ以上の単語が記録されていることである。第２条件は、レビューコメント分析表Ｔ２において、レビューコメントと対応付けられた「ツール補正及び検証観点」に単語が登録されていることである。レビューコメントが第１条件および第２条件のいずれも満たさない場合、このレビューコメントには作業者の知見が具体的に表現されていないことが推定される。このため、生成部３３は、第１条件または第２条件のいずれの条件も満たさないレビューコメントについては、処理対象のレビューコメントから除外し、知見ツリーに反映しない。

【0044】

次に、生成部３３は、処理対象のレビューコメントの内、レビューコメント分析表Ｔ２において、「過渡事象レビュー観点ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する処理を行う（ステップＳ２０５）。例えば、生成部３３は、知見ツリーＴＲにおいて、計測ＩＤ（計測箇所）のノードの下位層に過渡事象レビュー観点ＩＤを追加し、この過渡事象レビュー観点ＩＤにレビューコメントを対応付けする。

【0045】

図１５は、レビューコメント分析表Ｔ２において、「過渡事象レビュー観点ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。図１３に示す例において、識別番号「Ｎｏ．４」のレビューコメント「レビューコメントＷＡ１」及び「レビューコメントＷＡ２」には、過渡事象レビュー観点ＩＤ「１－Ａ－ＭＡＸ」が対応付けられている。この場合、生成部３３は、図１５に示す計測ＩＤのノードである「Ｇ１．１．１．１」（図１５のＰ４の箇所）および最下層（図１５のＰ１の箇所）に「計測箇所Ａ１」を設定する。そして、生成部３３は、この「Ｇ１．１．１．１：計測箇所Ａ１」の下層に分割された分岐部に位置するノード「Ｇ１．１．１．１．１」に、過渡事象レビュー観点ＩＤ「１－Ａ－ＭＡＸ」と対応する定型文（図８参照）である「全区間での「計測ＩＤ」の最大値を確認する（１－Ａ－ＭＡＸ）」を設定する（図１５のＰ５の箇所）。そして、この「Ｇ１．１．１．１．１」に選択されたレビューコメントのコンテキスト「Ｃ１．１．１．１．１」を対応付けする（図１５のＰ６の箇所）。その他、生成部３３は、図１５の検証観点のノード「Ｇ１．１」に「始動」を設定し（図１５のＰ２の箇所）、ＨＷ機器のノード「Ｇ１．１．１」に「タービンＡ」を設定する（図１５のＰ３の箇所）。なお、知見ツリーＴＲの最上位層に位置する「Ｃ１：解析前提」および「Ｇ１：解析目的」に設定する文言は、ユーザが予め任意に設定することができる。

【0046】

すなわち、生成部３３は、レビューコメント分析表Ｔ２において、レビューコメントに過渡事象のレビュー観点が対応付けられている場合、過渡事象のレビュー観点を示すノードにレビューコメントが対応付けられた知見ツリーを生成する。

【0047】

次に、生成部３３は、処理対象のレビューコメントの内、レビューコメント分析表Ｔ２において、２つ以上の「計測ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する処理を行う（ステップＳ２０７）。例えば、生成部３３は、知見ツリーＴＲにおいて、既に、同一の計測ＩＤのノードが設定されている場合には、そのノード名に２つ以上の「計測ＩＤ」を転記し、このノードにレビューコメントを対応付ける。この場合、計測ＩＤのノードの上位にＨＷ機器のノードが存在する場合には、そのＨＷ機器が、処理対象のレビューコメントと対応付けられたＨＷ機器と一致しているかを確認する。一致していない場合には、生成部３３は、処理対象のレビューコメントに対応付けられたＨＷ機器のノードを新たに追加して、その下位層に、計測ＩＤのノードを追加し、この計測ＩＤのノードに処理対象のレビューコメントを対応付ける。

【0048】

図１６は、レビューコメント分析表Ｔ２において、２つ以上の「計測ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。図１３に示す例において、識別番号「Ｎｏ．５」のレビューコメント「レビューコメントＶＡ１」及び「レビューコメントＶＡ２」には、２つの計測ＩＤである「計測箇所Ａ１」及び「計測箇所Ｂ１」が対応付けられている。この場合、生成部３３は、図１６に示す計測ＩＤのノードである「Ｇ１．１．１．１」（図１６のＱ２の箇所）に計測ＩＤ「計測箇所Ａ１」及び「計測箇所Ｂ１」を転記する。そして、生成部３３は、この「Ｇ１．１．１．１：計測箇所Ａ１，計測箇所Ｂ１」に選択されたレビューコメントのコンテキスト「Ｃ１．１．１．１」を対応付けする（図１６のＱ３の箇所）。その他、生成部３３は、「Ｇ１．１．１．１：計測箇所Ａ１，計測箇所Ｂ１」の最下層に「計測箇所Ｂ１」を設定する（図１６のＱ１の箇所）。

【0049】

図１７は、レビューコメント分析表Ｔ２において、２つ以上の「計測ＩＤ」が存在するレビューコメントに対する他の処理の様子を示す図である。図１３に示す例において、識別番号「Ｎｏ．２」のレビューコメント「レビューコメントＹ１」及び「レビューコメントＹ２」には、２つの計測ＩＤである「計測箇所Ｂ１」及び「計測箇所Ｃ１」が対応付けられている。また、この識別番号「Ｎｏ．２」のレビューコメントには、ＨＷ機器として「タンクＢ」が対応付けられている。この時点において、ＨＷ機器「タンクＢ」は知見ツリーＴＲに設定されていない。このため、生成部３３は、ＨＷ機器のゴールとして「Ｇ１．１．２：タンクＢ」を新たに設定し（図１７のＲ１の箇所）、その下位層に、計測ＩＤのノードとして「Ｇ１．１．２．１：計測箇所Ｂ１，計測箇所Ｃ１」を追加し（図１７のＲ２の箇所）、この計測ＩＤのノードに処理対象のレビューコメントのコンテキストとして「Ｃ１．１．２．１：レビューコメントＹ１，レビューコメントＹ２」を対応付ける（図１７のＲ３の箇所）。

【0050】

すなわち、生成部３３は、レビューコメント分析表Ｔ２において、レビューコメントに２つ以上の計測位置が対応付けられている場合、計測位置を示すノードにレビューコメントが対応付けられた知見ツリーを生成する。

【0051】

次に、生成部３３は、処理対象のレビューコメントの内、レビューコメント分析表Ｔ２において、２つ以上の「ＨＷ機器」が存在するレビューコメントに対する処理を行う（ステップＳ２０９）。

【0052】

図１８は、レビューコメント分析表Ｔ２において、２つ以上の「ＨＷ機器」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。図１３に示す例において、識別番号「Ｎｏ．３」のレビューコメント「レビューコメントＺ１」及び「レビューコメントＺ２」には、２つのＨＷ機器である「タービンＡ」及び「燃焼器」が対応付けられている。この場合、生成部３３は、ＨＷ機器のノードの上位層に新たな細分化・詳細化の観点であるノード「Ｓ１．１：複数と単体に分ける」を設定し（図１８のＳ１の箇所）、この「Ｓ１．１：複数と単体に分ける」の下位層に２つのノード「Ｇ１．１．１：複数のＨＷ間のＩＦ」及び「Ｇ１．１．２：単一のＨＷ」を設定する。「Ｇ１．１．２：単一のＨＷ」の下層の「Ｓ１．１．２．：解析対象の分割」以下の構造は、図１７に示す検証観点「Ｓ１．１：解析対象の分割」以下の構造と同じである。一方、「Ｇ１．１．１：複数のＨＷ間のＩＦ」の下位層には、細分化・詳細化の観点であるノード「Ｓ１．１．１：解析対象ＩＦ毎の分割」、ＨＷ機器のノード「Ｇ１．１．１．１：タービンＡと燃焼器」、細分化・詳細化の観点であるノード「Ｓ１．１．１．１：計測箇所毎の分割」、計測ＩＤのノード「Ｇ１．１．１．１．１：計測箇所Ｂ１」が設定され、この計測ＩＤのノード「Ｇ１．１．１．１．１：計測箇所Ｂ１」に処理対象のレビューコメントのコンテキストとして「Ｃ１．１．１．１：レビューコメントＺ１，レビューコメントＺ２」が対応付けられる（図１８のＳ２の箇所）。

【0053】

すなわち、生成部３３は、レビューコメント分析表Ｔ２において、レビューコメントに２つ以上のハードウェアの名称が対応付けられている場合、ハードウェアが複数である場合を示す第１分岐と、ハードウェアが単体である場合を示す第２分岐とを設定し、第１分岐の下位層に２つ以上のハードウェアの名称を示すノードを追加し、該ノードにレビューコメントが対応付けられた知見ツリーを生成する。

【0054】

次に、生成部３３は、処理対象のレビューコメントの内、レビューコメント分析表Ｔ２において、１つの「ＨＷ機器」と、１つの「計測ＩＤ」とが存在するレビューコメントに対する処理を行う（ステップＳ２１１）。

【0055】

図１９は、レビューコメント分析表Ｔ２において、１つの「ＨＷ機器」と、１つの「計測ＩＤと」が存在するレビューコメントに対する処理の様子を示す図である。図１３に示す例において、識別番号「Ｎｏ．１」のレビューコメント「レビューコメントＸ１」及び「レビューコメントＸ２」には、１つのＨＷ機器である「タービンＡ」と、１つの計測ＩＤである「計測箇所Ａ１」とが対応付けられている。この場合、生成部３３は、ＨＷ機器のノードである「Ｇ１．１．２．１：タービンＡ」の下位層の「Ｓ．１．１．２．１：計測対象毎の分割」の下位層に、計測ＩＤのノードである「Ｇ１．１．２．１．２：計測箇所Ａ１」を設定し、この計測ＩＤのノード「Ｇ１．１．２．１．２：計測箇所Ａ１」に処理対象のレビューコメントのコンテキストとして「Ｃ．１．１．２．１．２：レビューコメントＸ１，レビューコメントＸ２」を対応付ける（図１９のＵ１の箇所）。

【0056】

以上の処理により、知見ツリーＴＲが完成し、本フォローチャートの処理が完了する。
なお、表示制御部３４は、生成部３３により生成された知見ツリーＴＲを表示部２０に表示させてもよい。或いは、生成部３３は、生成した知見ツリーＴＲを、情報処理装置１の外部にファイルとして出力するようにしてもよい。

【0057】

以上説明したように、本実施形態の情報処理装置１は、ハードウェアの解析工程毎に記録された解析前提に関する知見情報を取得する取得部３１と、前記取得部３１により取得された前記知見情報と、前記解析工程の解析目的、検証観点、前記ハードウェアの名称、前記ハードウェアの利用環境における過渡事象の計測位置、及び前記過渡事象のレビュー観点の少なくとも１つと、が対応付けられたツリー構造を有する知見ツリーＲを生成する生成部３３とを備えることにより、解析処理における作業者の知見に関する情報の記録及び参照を可能にすることができる。

【0058】

以上、本発明を実施するための形態について実施形態を用いて説明したが、本発明はこうした実施形態に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変形及び置換を加えることができる。

【符号の説明】

【0059】

１…情報処理装置、１０…入力インターフェース、２０…表示部、３０…制御部、３１…取得部、３２…分析部、３３…生成部、３４…表示制御部、４０…記憶部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】