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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022185919
(43)【公開日】2022-12-15
(54)【発明の名称】計測装置及び計測方法
(51)【国際特許分類】
B23Q 17/00 20060101AFI20221208BHJP
G01B 5/00 20060101ALI20221208BHJP
【ＦＩ】
B23Q17/00 C
G01B5/00 A
【審査請求】有
【請求項の数】9
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2021093850
(22)【出願日】2021-06-03
(71)【出願人】
【識別番号】000006208
【氏名又は名称】三菱重工業株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100149548
【弁理士】
【氏名又は名称】松沼 泰史
(74)【代理人】
【識別番号】100162868
【弁理士】
【氏名又は名称】伊藤 英輔
(74)【代理人】
【識別番号】100161702
【弁理士】
【氏名又は名称】橋本 宏之
(74)【代理人】
【識別番号】100189348
【弁理士】
【氏名又は名称】古都 智
(74)【代理人】
【識別番号】100196689
【弁理士】
【氏名又は名称】鎌田 康一郎
(72)【発明者】
【氏名】開 純也
【テーマコード（参考）】
2F062
3C029
【Ｆターム（参考）】
2F062AA02
2F062EE01
2F062EE62
2F062GG09
2F062NN01
3C029EE09
(57)【要約】 （修正有）
【課題】マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しやすい計測装置及び計測方法を提供する。
【解決手段】計測装置１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴと当接可能な第一当接部１１１を有する計測探子１１を備える計測部１０と、マイクロストッパーＭＳの当り面ＭＣと当接可能な第二当接部２０１を有する基台２０と、を備え、基台に対し、計測探子が、カウンターシンクの軸方向に移動可能である。
【選択図】図２
【解決手段】計測装置１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴと当接可能な第一当接部１１１を有する計測探子１１を備える計測部１０と、マイクロストッパーＭＳの当り面ＭＣと当接可能な第二当接部２０１を有する基台２０と、を備え、基台に対し、計測探子が、カウンターシンクの軸方向に移動可能である。
【選択図】図２
【特許請求の範囲】
【請求項1】
カウンターシンクの刃と当接可能な第一当接部を有する計測探子を備える計測部と、
マイクロストッパーの当り面と当接可能な第二当接部を有する基台と、を備え、
前記基台に対し、前記計測探子が、前記カウンターシンクの軸方向に移動可能である計測装置。
マイクロストッパーの当り面と当接可能な第二当接部を有する基台と、を備え、
前記基台に対し、前記計測探子が、前記カウンターシンクの軸方向に移動可能である計測装置。
【請求項2】
前記計測部が、マイクロメーターをさらに備える請求項１に記載の計測装置。
【請求項3】
前記計測探子が、前記基台の開口に対し前記軸方向に出没可能である請求項１又は２に記載の計測装置。
【請求項4】
前記第一当接部が、皿形状で凹んでいる請求項１から３のいずれか一項に記載の計測装置。
【請求項5】
前記計測探子が、前記第一当接部から前記軸方向に延びる逃がし孔を有する請求項１から４のいずれか一項に記載の計測装置。
【請求項6】
基台に対しカウンターシンクの軸方向に移動可能である計測探子の第一当接部に、前記カウンターシンクの刃を当て、
マイクロストッパーの当り面が前記基台の第二当接部に当接するまで、前記計測探子を押し込む計測方法。
マイクロストッパーの当り面が前記基台の第二当接部に当接するまで、前記計測探子を押し込む計測方法。
【請求項7】
基準突出量を予め設定し、
前記マイクロストッパーに対する前記刃の突出量を、前記基準突出量と比較する請求項６に記載の計測方法。
前記マイクロストッパーに対する前記刃の突出量を、前記基準突出量と比較する請求項６に記載の計測方法。
【請求項8】
前記比較において、前記基準突出量に対する前記突出量の差を計測する請求項７に記載の計測方法。
【請求項9】
前記差が許容値内になるように、前記突出量を調整する請求項８に記載の計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、計測装置及び計測方法に関する。
【背景技術】
【0002】
構造部品の加工には、切削工具が用いられることが知られている。
【0003】
例えば、特許文献１には、工作機械で使用される切削工具の先端部の突出量を調整する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２００２－１６６３３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
構造部品には、皿形状の加工が必要となることがある。
このような皿形状の加工には、カウンターシンクと呼ばれる切削工具が用いられるが、適切な深さの皿形状を加工するため、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量の調整が必要となる。
しかし、カウンターシンクの刃は、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜している。
このため、特許文献１に開示されるような技術では、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しにくい。
このような皿形状の加工には、カウンターシンクと呼ばれる切削工具が用いられるが、適切な深さの皿形状を加工するため、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量の調整が必要となる。
しかし、カウンターシンクの刃は、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜している。
このため、特許文献１に開示されるような技術では、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しにくい。
【0006】
本開示は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しやすい計測装置及び計測方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上記課題を解決するために、本開示に係る計測装置は、カウンターシンクの刃と当接可能な第一当接部を有する計測探子を備える計測部と、マイクロストッパーの当り面と当接可能な第二当接部を有する基台と、を備え、前記基台に対し、前記計測探子が、前記カウンターシンクの軸方向に移動可能である。
【0008】
本開示に係る計測方法は、基台に対しカウンターシンクの軸方向に移動可能である計測探子の第一当接部に、前記カウンターシンクの刃を当て、マイクロストッパーの当り面が前記基台の第二当接部に当接するまで、前記計測探子を押し込む。
【発明の効果】
【0009】
本開示の計測装置及び計測方法によれば、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整しやすい。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】本開示のある実施形態に係る計測装置の斜視図である。
【図3】本開示のある実施形態に係る計測方法のフローチャートである。
【図4】本開示のある実施形態に係る仮調整されたカウンターシンクを準備するステップにおける計測装置の断面図である。
【図5】本開示のある実施形態に係る刃を当接するステップにおける計測装置の断面図である。
【図6】本開示のある実施形態に係るカウンターシンクを押すステップにおける計測装置の断面図である。
【図7】本開示のある実施形態に係る当り面を当接するステップにおける計測装置の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
以下、本開示の各実施形態について、図面を用いて説明する。すべての図面において同一または相当する構成には同一の符号を付し、共通する説明は省略する。
【0012】
【0013】
（計測装置の全体構成）
図１に示すように、計測装置１は、計測部１０と、基台２０と、を備える。
例えば、計測装置１は、航空機等の構造部品に対し皿形状の加工を施すための工具セットを調整するための設備であってもよい。
例えば、計測装置１は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の位置を調整するための設備であってもよい。
例えば、計測装置１は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を計測するための設備であってもよい。
図１に示すように、計測装置１は、計測部１０と、基台２０と、を備える。
例えば、計測装置１は、航空機等の構造部品に対し皿形状の加工を施すための工具セットを調整するための設備であってもよい。
例えば、計測装置１は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の位置を調整するための設備であってもよい。
例えば、計測装置１は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を計測するための設備であってもよい。
【0014】
（工具セットの構成）
図２に示すように、工具セットＴＳは、カウンターシンクＣＳと、マイクロストッパーＭＳと、を備える。
カウンターシンクＣＳは、構造部品に皿形状の加工を施すための切削工具である。
マイクロストッパーＭＳは、カウンターシンクＣＳを支持するための支持構造であるとともに、皿形状の切削を所定の深さで停止させるための機構である。
例えば、マイクロストッパーＭＳは、一端に当り面ＭＣを有する。
例えば、当り面ＭＣは、マイクロストッパーＭＳが備える中空円柱形状の樹脂ＭＰの下面であってもよい。
マイクロストッパーＭＳは、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡについて、当り面ＭＣに対する刃ＴＴの突出量ＡＰが所定値となる位置で、カウンターシンクＣＳを固定支持する。
このような工具セットＴＳで皿形状の切削を行うと、当り面ＭＣが構造部品の一面に当たる位置まで切削を行うことができる。
このため、カウンターシンクＣＳにより加工される構造部品の皿形状の深さは、当り面ＭＣに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰに一致する。
例えば、カウンターシンクＣＳは、切削方向を先導するためのパイロット部ＰＴを有してもよい。
例えば、パイロット部ＰＴは、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡに、刃ＴＴの先端からさらに延びる棒形状を有してもよい。
図２に示すように、工具セットＴＳは、カウンターシンクＣＳと、マイクロストッパーＭＳと、を備える。
カウンターシンクＣＳは、構造部品に皿形状の加工を施すための切削工具である。
マイクロストッパーＭＳは、カウンターシンクＣＳを支持するための支持構造であるとともに、皿形状の切削を所定の深さで停止させるための機構である。
例えば、マイクロストッパーＭＳは、一端に当り面ＭＣを有する。
例えば、当り面ＭＣは、マイクロストッパーＭＳが備える中空円柱形状の樹脂ＭＰの下面であってもよい。
マイクロストッパーＭＳは、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡについて、当り面ＭＣに対する刃ＴＴの突出量ＡＰが所定値となる位置で、カウンターシンクＣＳを固定支持する。
このような工具セットＴＳで皿形状の切削を行うと、当り面ＭＣが構造部品の一面に当たる位置まで切削を行うことができる。
このため、カウンターシンクＣＳにより加工される構造部品の皿形状の深さは、当り面ＭＣに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰに一致する。
例えば、カウンターシンクＣＳは、切削方向を先導するためのパイロット部ＰＴを有してもよい。
例えば、パイロット部ＰＴは、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡに、刃ＴＴの先端からさらに延びる棒形状を有してもよい。
【0015】
（計測部の構成）
計測部１０は、計測探子１１を備える。
計測探子１１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴと当接可能な第一当接部１１１を有する。
計測探子１１は、基台２０に対し、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡに移動可能である。
例えば、計測探子１１は、基台２０に対し、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡについて進退可能であってもよい。
例えば、軸方向ＤＡは、上下方向であってもよい。
計測部１０は、計測探子１１を備える。
計測探子１１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴと当接可能な第一当接部１１１を有する。
計測探子１１は、基台２０に対し、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡに移動可能である。
例えば、計測探子１１は、基台２０に対し、カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡについて進退可能であってもよい。
例えば、軸方向ＤＡは、上下方向であってもよい。
【0016】
例えば、計測探子１１は、基台２０上方から、基台２０の開口２０２に嵌め込み可能であってもよい。
例えば、計測探子１１は、基台２０の開口２０２に対し、軸方向ＤＡに出没可能であってもよい。
例えば、計測探子１１は、基台２０の開口２０２と同軸な中心軸１１２を有してもよい。
例えば、計測探子１１は、基台２０の開口２０２と同軸な円柱形状を有してもよい。
例えば、計測探子１１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴで軸方向ＤＡに押されることにより、基台２０の開口２０２内に沈む込みように構成されてもよい。
例えば、計測探子１１は、基台２０の開口２０２に対し、軸方向ＤＡに出没可能であってもよい。
例えば、計測探子１１は、基台２０の開口２０２と同軸な中心軸１１２を有してもよい。
例えば、計測探子１１は、基台２０の開口２０２と同軸な円柱形状を有してもよい。
例えば、計測探子１１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴで軸方向ＤＡに押されることにより、基台２０の開口２０２内に沈む込みように構成されてもよい。
【0017】
例えば、第一当接部１１１は、皿形状で凹んでいてもよい。
例えば、第一当接部１１１は、軸方向ＤＡに凹んでいてもよい。
例えば、第一当接部１１１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴに近い側から、計測探子１１の内側に向かって窄んで凹む皿形状を有してもよい。
例えば、第一当接部１１１は、軸方向ＤＡに凹んでいてもよい。
例えば、第一当接部１１１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴに近い側から、計測探子１１の内側に向かって窄んで凹む皿形状を有してもよい。
【0018】
例えば、計測探子１１は、第一当接部１１１から軸方向ＤＡに延びる逃がし孔１１３を有してもよい。
例えば、逃がし孔１１３は、第一当接部１１１の皿形状の凹みに連通して、第一当接部１１１から計測探子１１の内側に向かってさらに延びてもよい。
例えば、逃がし孔１１３は、第一当接部１１１に、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴが当接した状態において、カウンターシンクＣＳのパイロット部ＰＴから計測探子１１を逃がすように、パイロット部ＰＴより太く長い形状を有してもよい。
例えば、逃がし孔１１３は、第一当接部１１１の皿形状の凹みに連通して、第一当接部１１１から計測探子１１の内側に向かってさらに延びてもよい。
例えば、逃がし孔１１３は、第一当接部１１１に、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴが当接した状態において、カウンターシンクＣＳのパイロット部ＰＴから計測探子１１を逃がすように、パイロット部ＰＴより太く長い形状を有してもよい。
【0019】
例えば、計測部１０は、マイクロメーター１２と、延伸部１３と、弾性機構１４と、をさらに備えてもよい。
【0020】
マイクロメーター１２は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置を計測するための変位計である。
マイクロメーター１２は、計測面１２１と、表示部１２２と、基部１２３と、を備える。
マイクロメーター１２において、計測面１２１は、基部１２３から軸方向ＤＡに進退可能である。
例えば、計測面１２１は、中心が計測探子１１の中心軸１１２上に位置する円形状を有してもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置として、軸方向ＤＡにおける計測面１２１の相対位置を計測してもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、計測面１２１を延伸部１３の下端に当接させることにより、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置を計測可能であってもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、予め記憶させた基準位置をゼロ値として、基準位置に対する軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置を計測してもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、計測された計測探子１１の相対位置を表示部１２２に表示してもよい。
マイクロメーター１２は、計測面１２１と、表示部１２２と、基部１２３と、を備える。
マイクロメーター１２において、計測面１２１は、基部１２３から軸方向ＤＡに進退可能である。
例えば、計測面１２１は、中心が計測探子１１の中心軸１１２上に位置する円形状を有してもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置として、軸方向ＤＡにおける計測面１２１の相対位置を計測してもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、計測面１２１を延伸部１３の下端に当接させることにより、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置を計測可能であってもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、予め記憶させた基準位置をゼロ値として、基準位置に対する軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置を計測してもよい。
例えば、マイクロメーター１２は、計測された計測探子１１の相対位置を表示部１２２に表示してもよい。
【0021】
延伸部１３は、計測探子１１から計測面１２１に向かって、軸方向ＤＡに延びる円柱形状を有する。
例えば、延伸部１３は、計測探子１１の開口２０２に対する出没に連動して、軸方向ＤＡに進退してもよい。
例えば、延伸部１３の上端が、開口２０２内で計測探子１１と結合されてもよい。
例えば、延伸部１３の下端が、計測面１２１と対向していてもよい。
例えば、延伸部１３は、計測探子１１と同軸であってもよい。
例えば、延伸部１３は、計測探子１１の開口２０２に対する出没に連動して、軸方向ＤＡに進退してもよい。
例えば、延伸部１３の上端が、開口２０２内で計測探子１１と結合されてもよい。
例えば、延伸部１３の下端が、計測面１２１と対向していてもよい。
例えば、延伸部１３は、計測探子１１と同軸であってもよい。
【0022】
弾性機構１４は、基台２０に対し、軸方向ＤＡについて、計測探子１１に付勢を与える。
弾性機構１４は、計測探子１１が開口２０２内に沈む込み方向と反対方向に向かって、計測探子１１に付勢を与える。
例えば、弾性機構１４は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴに向かって、計測探子１１に付勢を与えてもよい。
例えば、弾性機構１４の上端が、計測探子１１の下面を押し上げるように、弾性機構１４が計測探子１１に付勢を与えてもよい。
例えば、弾性機構１４は、延伸部１３が貫通するように、計測探子１１と同軸に設けられたコイルバネであってもよい。
例えば、弾性機構１４は、計測探子１１と同軸であってもよい。
弾性機構１４は、計測探子１１が開口２０２内に沈む込み方向と反対方向に向かって、計測探子１１に付勢を与える。
例えば、弾性機構１４は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴに向かって、計測探子１１に付勢を与えてもよい。
例えば、弾性機構１４の上端が、計測探子１１の下面を押し上げるように、弾性機構１４が計測探子１１に付勢を与えてもよい。
例えば、弾性機構１４は、延伸部１３が貫通するように、計測探子１１と同軸に設けられたコイルバネであってもよい。
例えば、弾性機構１４は、計測探子１１と同軸であってもよい。
【0023】
（基台の構成）
上記のとおり、基台２０は、開口２０２を有する。
例えば、開口２０２には、弾性機構１４が収容されてもよい。
例えば、開口２０２には、計測探子１１が軸方向ＤＡに出没可能に収容されてもよい。
例えば、開口２０２内に、延伸部１３が軸方向ＤＡに延びていてもよい。
例えば、開口２０２は、円柱形状を有してもよい。
上記のとおり、基台２０は、開口２０２を有する。
例えば、開口２０２には、弾性機構１４が収容されてもよい。
例えば、開口２０２には、計測探子１１が軸方向ＤＡに出没可能に収容されてもよい。
例えば、開口２０２内に、延伸部１３が軸方向ＤＡに延びていてもよい。
例えば、開口２０２は、円柱形状を有してもよい。
【0024】
基台２０は、マイクロストッパーＭＳの当り面ＭＣと当接可能な第二当接部２０１をさらに有する。
例えば、第二当接部２０１は、当り面ＭＣと対向する平面であってもよい。
例えば、第二当接部２０１は、中心が計測探子１１の中心軸１１２上に位置する中空円であってもよい。
例えば、第二当接部２０１は、当り面ＭＣと対向する平面であってもよい。
例えば、第二当接部２０１は、中心が計測探子１１の中心軸１１２上に位置する中空円であってもよい。
【0025】
例えば、基台２０は、弾性機構１４の下端を載置可能なように、開口２０２の下端において、開口２０２外周から開口２０２の中心に向かって突出する突出部２０３をさらに有してもよい。
例えば、基台２０は、マイクロメーター１２を収容可能な中空部２０４を有してもよい。
例えば、基台２０は、マイクロメーター１２の基部１２３を底２０５に固定している固定台２０６を有してもよい。
例えば、開口２０２は、第二当接部２０１を有する面から中空部２０４まで、基台２０を軸方向ＤＡに貫通する孔であってもよい。
例えば、基台２０は、マイクロメーター１２を収容可能な中空部２０４を有してもよい。
例えば、基台２０は、マイクロメーター１２の基部１２３を底２０５に固定している固定台２０６を有してもよい。
例えば、開口２０２は、第二当接部２０１を有する面から中空部２０４まで、基台２０を軸方向ＤＡに貫通する孔であってもよい。
【0026】
例えば、基台２０は、パイロット部ＰＴの外径をチェック可能なパイロットチェック孔２０７をさらに備えてもよい。
【0027】
【0028】
例えば、作業者は、まず、基準突出量ＡＰ０を予め設定してもよい（ＳＴ０１：基準突出量を設定するステップ）。
例えば、いくつかの皿形状を実際に加工することにより、すでに適切な深さの皿形状を加工できる状態に調整された工具セット（マスター）について、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を計測装置１で計測し、基準突出量ＡＰ０として設定してもよい。
例えば、作業者は、基準突出量ＡＰ０の設定として、基準突出量ＡＰ０をゼロ値として、マイクロメーター１２に記憶させてもよい。
例えば、いくつかの皿形状を実際に加工することにより、すでに適切な深さの皿形状を加工できる状態に調整された工具セット（マスター）について、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を計測装置１で計測し、基準突出量ＡＰ０として設定してもよい。
例えば、作業者は、基準突出量ＡＰ０の設定として、基準突出量ＡＰ０をゼロ値として、マイクロメーター１２に記憶させてもよい。
【0029】
ＳＴ０１の実施に続いて、作業者は、図４に示すように、仮調整されたカウンターシンクＣＳを準備する（ＳＴ０２：仮調整されたカウンターシンクを準備するステップ）。
例えば、ＳＴ０２において、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを仮調整してもよい。
例えば、ＳＴ０２において、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰが仮調整された工具セットＴＳを準備してもよい。
例えば、ＳＴ０２において、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを仮調整してもよい。
例えば、ＳＴ０２において、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰが仮調整された工具セットＴＳを準備してもよい。
【0030】
ＳＴ０２の実施に続いて、作業者は、カウンターシンクＣＳを基台２０に載せる（ＳＴ０３：載せるステップ）。
例えば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰが仮調整された工具セットＴＳを基台２０に載せてもよい。
例えば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰが仮調整された工具セットＴＳを基台２０に載せてもよい。
【0031】
ＳＴ０３の実施に続いて、作業者は、図５に示すように、基台２０に対しカウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡに移動可能である計測探子１１の第一当接部１１１に、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴを当てる（ＳＴ０４：刃を当てるステップ）。
例えば、ＳＴ０４において、作業者は、仮調整されたカウンターシンクＣＳの刃ＴＴを、第一当接部１１１に当接してもよい。
例えば、ＳＴ０４において、作業者は、仮調整されたカウンターシンクＣＳの刃ＴＴを、第一当接部１１１に当接してもよい。
【0032】
ＳＴ０４の実施に続いて、作業者は、図６に示すように、計測探子１１を押し込む（ＳＴ０５：計測探子を押し込むステップ）。
ＳＴ０５において、作業者は、図７に示すように、マイクロストッパーＭＳの当り面ＭＣが、基台２０の第二当接部２０１に当接するまで、計測探子１１を押し込む。
例えば、ＳＴ０５において、作業者は、刃ＴＴを第一当接部１１１に当接させたまま、計測探子１１を軸方向ＤＡに押し込んでもよい。
ＳＴ０５において、作業者は、図７に示すように、マイクロストッパーＭＳの当り面ＭＣが、基台２０の第二当接部２０１に当接するまで、計測探子１１を押し込む。
例えば、ＳＴ０５において、作業者は、刃ＴＴを第一当接部１１１に当接させたまま、計測探子１１を軸方向ＤＡに押し込んでもよい。
【0033】
ＳＴ０５の実施に続いて、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを、基準突出量ＡＰ０と比較する（ＳＴ０６：比較するステップ）。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、図７に示す状態において、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差を計測してもよい。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差として、基準突出量ＡＰ０がゼロ値として記憶されたマイクロメーター１２の計測値を読み取ってもよい。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差が許容値内であるか否かを判定してもよい。その際、許容値は、機構部品に対し、加工すべき皿形状の深さに許容される値であってもよい。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、許容値内であるか否かの判定として、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差がゼロ値であるか否かを判定してもよい。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、図７に示す状態において、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差を計測してもよい。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差として、基準突出量ＡＰ０がゼロ値として記憶されたマイクロメーター１２の計測値を読み取ってもよい。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差が許容値内であるか否かを判定してもよい。その際、許容値は、機構部品に対し、加工すべき皿形状の深さに許容される値であってもよい。
例えば、ＳＴ０６において、作業者は、許容値内であるか否かの判定として、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差がゼロ値であるか否かを判定してもよい。
【0034】
基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差が許容値内である場合（ＳＴ０６：Ｙｅｓ）、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整が完了したとして、計測方法を終了する。
基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差が許容値内でない場合（ＳＴ０６：Ｎｏ）、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整し（ＳＴ０７：突出量を調整するステップ）、ＳＴ０３に戻る。
基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差が許容値内でない場合（ＳＴ０６：Ｎｏ）、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整し（ＳＴ０７：突出量を調整するステップ）、ＳＴ０３に戻る。
【0035】
（作用及び効果）
本実施形態によれば、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置が、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰに関連する。
このため、作業者は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の位置を計測することによって、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測することができる。
したがって、計測装置１によれば、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
本実施形態によれば、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置が、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰに関連する。
このため、作業者は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の位置を計測することによって、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測することができる。
したがって、計測装置１によれば、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
【0036】
一般に構造部品の締結には、ボルトが用いられることがある。その際、構造部品には、ボルトの挿入するための加工が必要になる。
例えば、皿頭のボルトの挿入穴には、皿形状の加工が必要となる。
例えば、突出し頭のボルトの挿入穴には、フィレットリリーフと呼ばれる皿形状の逃がしを設ける必要がある。
構造部品に適切な深さの皿形状を加工するには、切削工具として、マイクロストッパーに固定されたカウンターシンクが用いられる。カウンターシンクは、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜している刃を、軸方向周りに回転させて構造部品の表面を切削し、皿形状を加工する。皿形状が規定深さとなるまで構造部品の表面が切削されると、マイクロストッパーの当り面が構造部品の表面に当接する。このため、規定深さの形状を加工することができる。
したがって、規定深さの皿形状を加工するにはマイクロストッパーに対し、カウンターシンクの刃の突出量が適切に調整される必要がある。
例えば、皿頭のボルトの挿入穴には、皿形状の加工が必要となる。
例えば、突出し頭のボルトの挿入穴には、フィレットリリーフと呼ばれる皿形状の逃がしを設ける必要がある。
構造部品に適切な深さの皿形状を加工するには、切削工具として、マイクロストッパーに固定されたカウンターシンクが用いられる。カウンターシンクは、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜している刃を、軸方向周りに回転させて構造部品の表面を切削し、皿形状を加工する。皿形状が規定深さとなるまで構造部品の表面が切削されると、マイクロストッパーの当り面が構造部品の表面に当接する。このため、規定深さの形状を加工することができる。
したがって、規定深さの皿形状を加工するにはマイクロストッパーに対し、カウンターシンクの刃の突出量が適切に調整される必要がある。
【0037】
比較例１として、カウンターシンクの刃に直接マイクロメーターの計測面を当接させることで、作業者がマイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整したとする。
しかし、カウンターシンクの刃は、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜しているため、比較例１では、作業者は、カウンターシンクの刃の位置を一意的に特定することが難しい。
これに対し、本実施形態によれば、計測探子１１の位置を計測することで、カウンターシンクの刃の位置を特定できるため、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測しやすい。
しかし、カウンターシンクの刃は、カウンターシンクの軸方向に対し傾斜しているため、比較例１では、作業者は、カウンターシンクの刃の位置を一意的に特定することが難しい。
これに対し、本実施形態によれば、計測探子１１の位置を計測することで、カウンターシンクの刃の位置を特定できるため、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測しやすい。
【0038】
比較例２として、構造部品に対し実際に皿形状を加工し、加工された皿形状の深さを計測することで、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整したとする。
しかし、比較例２では、実際の皿形状の加工には少なくとも切削加工が必要であるため、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整するのに身体的負荷が掛る。
これに対し、本実施形態によれば、実際の皿形状の加工を行うことなく、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できるため、作業者にとって、身体的負荷が低減される。
しかし、比較例２では、実際の皿形状の加工には少なくとも切削加工が必要であるため、作業者は、マイクロストッパーに対するカウンターシンクの刃の突出量を調整するのに身体的負荷が掛る。
これに対し、本実施形態によれば、実際の皿形状の加工を行うことなく、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できるため、作業者にとって、身体的負荷が低減される。
【0039】
本実施形態の一例によれば、マイクロメーター１２により、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを数値で評価できる。
このため、作業者は、勘やコツに頼らず、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できる。
このため、作業者は、勘やコツに頼らず、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できる。
【0040】
本実施形態の一例によれば、計測探子１１が、基台２０の開口２０２に対し軸方向ＤＡに出没可能であるため、計測装置１は、計測探子１１にカウンターシンクＣＳを軸方向ＤＡに押し付けやすい構造を有する。
このため、計測装置１によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測しやすい。
このため、計測装置１によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測しやすい。
【0041】
本実施形態の一例によれば、第一当接部１１１は、皿形状で凹んでいるため、第一当接部１１１が、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴと広く当接可能な構造を有する。
このため、計測される突出量ＡＰが安定した値を示しやすい。
このため、計測される突出量ＡＰが安定した値を示しやすい。
【0042】
本実施形態の一例によれば、第一当接部１１１から軸方向ＤＡに延びる逃がし孔１１３を有するため、第一当接部１１１がカウンターシンクＣＳの刃ＴＴと当接する際に、計測装置１は、カウンターシンクＣＳのパイロット部ＰＴを逃がすことができる構造を有する。
このため、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰの計測において、パイロット部ＰＴが干渉しにくい。
このため、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰの計測において、パイロット部ＰＴが干渉しにくい。
【0043】
本実施形態の一例によれば、基準突出量ＡＰ０を予め設定し、マイクロストッパーＭＳに対する刃ＴＴの突出量ＡＰを、基準突出量ＡＰ０と比較するため、作業者は、予め設定された基準に近づけるように、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
【0044】
本実施形態の一例によれば、比較において、基準突出量ＡＰ０に対する突出量ＡＰの差を計測するため、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対しカウンターシンクＣＳの突出量ＡＰを調整すべきか否か、どの程度調整すべきかを把握しやすい。
【0045】
本実施形態の一例によれば、差が許容値内になるように、突出量ＡＰを調整するため、作業者は、すでに適切な深さの皿形状を加工できる状態に調整された基準に倣い、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できる。
【0046】
＜変形例＞
上述の実施形態の一例では、計測部１０は、変位計としてマイクロメーター１２を備えるが、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置を計測できるなら、どのような変位計を備えてもよい。
変形例として、計測部１０は、変位計として、レーザ変位計を備えてもよい。
上述の実施形態の一例では、計測部１０は、変位計としてマイクロメーター１２を備えるが、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置を計測できるなら、どのような変位計を備えてもよい。
変形例として、計測部１０は、変位計として、レーザ変位計を備えてもよい。
【0047】
上述の実施形態の一例では、マイクロメーター１２の基部１２３は、固定台２０６により、基台２０の底２０５に固定されているが、マイクロメーター１２の基部１２３が、基台２０に固定されるなら、どのように構成されてもよい。
変形例として、マイクロメーター１２の基部１２３は、基台２０の上部から垂下する腕部に固定されることにより、基台２０に固定されてもよい。
変形例として、マイクロメーター１２の基部１２３は、基台２０の上部から垂下する腕部に固定されることにより、基台２０に固定されてもよい。
【0048】
上述の実施形態の一例では、ＳＴ０７を実施した後、ＳＴ０３に戻っているが、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できるならどのように実施されてもよい。
変形例として、計測探子１１を押し込んだ状態（例えば、図７に示す状態）で刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できるなら、ＳＴ０７を実施した後、ＳＴ０６に戻ってもよい。
変形例として、計測探子１１を押し込んだ状態（例えば、図７に示す状態）で刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できるなら、ＳＴ０７を実施した後、ＳＴ０６に戻ってもよい。
【0049】
以上、本開示の実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、開示の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、開示の要旨を逸脱しない範囲で種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、開示の範囲や要旨に含まれる。
【0050】
＜付記＞
上述の実施形態に記載の計測装置１及び計測方法は、例えば以下のように把握される。
上述の実施形態に記載の計測装置１及び計測方法は、例えば以下のように把握される。
【0051】
（１）第１の態様に係る計測装置１は、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴと当接可能な第一当接部１１１を有する計測探子１１を備える計測部１０と、マイクロストッパーＭＳの当り面ＭＣと当接可能な第二当接部２０１を有する基台２０と、を備え、前記基台２０に対し、前記計測探子１１が、前記カウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡに移動可能である。
【0052】
本態様によれば、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置が、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰに関連する。
このため、作業者は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の位置を計測することによって、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測することができる。
したがって、計測装置１によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
このため、作業者は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の位置を計測することによって、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測することができる。
したがって、計測装置１によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
【0053】
（２）第２の態様に係る計測装置１は、前記計測部１０が、マイクロメーター１２をさらに備える（１）の計測装置１である。
【0054】
本態様によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを数値で評価できる。
このため、作業者は、勘やコツに頼らず、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できる。
このため、作業者は、勘やコツに頼らず、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できる。
【0055】
（３）第３の態様に係る計測装置１は、前記計測探子１１が、前記基台２０の開口２０２に対し前記軸方向ＤＡに出没可能である（１）又は（２）の計測装置１である。
【0056】
本態様によれば、計測装置１は、計測探子１１にカウンターシンクＣＳを軸方向ＤＡに押し付けやすい構造を有する。
このため、計測装置１によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測しやすい。
このため、計測装置１によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測しやすい。
【0057】
（４）第４の態様に係る計測装置１は、前記第一当接部１１１が、皿形状で凹んでいる（１）又は（３）のいずれかの計測装置１である。
【0058】
本態様によれば、第一当接部１１１が、カウンターシンクＣＳの刃ＴＴと広く当接可能な構造を有する。
このため、計測される突出量ＡＰが安定した値を示しやすい。
このため、計測される突出量ＡＰが安定した値を示しやすい。
【0059】
（５）第５の態様に係る計測装置１は、前記計測探子１１が、前記第一当接部１１１から前記軸方向ＤＡに延びる逃がし孔１１３を有する（１）又は（４）のいずれかの計測装置１である。
【0060】
本態様によれば、第一当接部１１１がカウンターシンクＣＳの刃ＴＴと当接する際に、計測装置１は、カウンターシンクＣＳのパイロット部ＰＴを逃がすことができる構造を有する。
このため、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰの計測において、パイロット部ＰＴが干渉しにくい。
このため、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰの計測において、パイロット部ＰＴが干渉しにくい。
【0061】
（６）第６の態様に係る計測方法は、基台２０に対しカウンターシンクＣＳの軸方向ＤＡに移動可能である計測探子１１の第一当接部１１１に、前記カウンターシンクＣＳの刃ＴＴを当て、マイクロストッパーＭＳの当り面ＭＣが前記基台２０の第二当接部２０１に当接するまで、前記計測探子１１を押し込む。
【0062】
本態様によれば、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の相対位置が、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰに関連する。
このため、作業者は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の位置を計測することによって、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測することができる。
したがって、計測方法によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
このため、作業者は、軸方向ＤＡにおける計測探子１１の位置を計測することによって、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを計測することができる。
したがって、計測方法によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
【0063】
（７）第７の態様に係る計測方法は、基準突出量ＡＰ０を予め設定し、前記マイクロストッパーＭＳに対する前記刃ＴＴの突出量ＡＰを、前記基準突出量ＡＰ０と比較する（６）の計測方法である。
【0064】
本態様によれば、作業者は、予め設定された基準に近づけるように、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整しやすい。
【0065】
（８）第８の態様に係る計測方法は、前記比較において、前記基準突出量ＡＰ０に対する前記突出量ＡＰの差を計測する（７）の計測方法である。
【0066】
本態様によれば、作業者は、マイクロストッパーＭＳに対しカウンターシンクＣＳを調整すべきか否か、どの程度調整すべきかを把握しやすい。
【0067】
（９）第９の態様に係る計測方法は、前記差が許容値内になるように、前記突出量ＡＰを調整する（７）の計測方法である。
【0068】
本態様によれば、作業者は、すでに適切な深さの皿形状を加工できる状態に調整された基準に倣い、マイクロストッパーＭＳに対するカウンターシンクＣＳの刃ＴＴの突出量ＡＰを調整できる。
【符号の説明】
【0069】
１ 計測装置
１０ 計測部
１１ 計測探子
１２ マイクロメーター
１３ 延伸部
１４ 弾性機構
２０ 基台
１１１ 第一当接部
１１２ 中心軸
１１３ 逃がし孔
１２１ 計測面
１２２ 表示部
１２３ 基部
２０１ 第二当接部
２０２ 開口
２０３ 突出部
２０４ 中空部
２０５ 底
２０６ 固定台
２０７ パイロットチェック孔
ＡＰ 突出量
ＣＳ カウンターシンク
ＤＡ 軸方向
ＭＣ 当り面
ＭＰ 樹脂
ＭＳ マイクロストッパー
ＰＴ パイロット部
ＴＳ 工具セット
ＴＴ 刃
１０ 計測部
１１ 計測探子
１２ マイクロメーター
１３ 延伸部
１４ 弾性機構
２０ 基台
１１１ 第一当接部
１１２ 中心軸
１１３ 逃がし孔
１２１ 計測面
１２２ 表示部
１２３ 基部
２０１ 第二当接部
２０２ 開口
２０３ 突出部
２０４ 中空部
２０５ 底
２０６ 固定台
２０７ パイロットチェック孔
ＡＰ 突出量
ＣＳ カウンターシンク
ＤＡ 軸方向
ＭＣ 当り面
ＭＰ 樹脂
ＭＳ マイクロストッパー
ＰＴ パイロット部
ＴＳ 工具セット
ＴＴ 刃
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】