特開 2022-188541 誤り率測定装置および誤り率測定方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022188541

(43)【公開日】2022-12-21

(54)【発明の名称】誤り率測定装置および誤り率測定方法

(51)【国際特許分類】

   H04L 1/00 20060101AFI20221214BHJP

   G06F 11/34 20060101ALI20221214BHJP

【ＦＩ】

H04L1/00 C

G06F11/34 176

【審査請求】有

【請求項の数】8

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021096656

(22)【出願日】2021-06-09

(71)【出願人】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100067323

【弁理士】

【氏名又は名称】西村 教光

(74)【代理人】

【識別番号】100124268

【弁理士】

【氏名又は名称】鈴木 典行

(72)【発明者】

【氏名】砂山 諒

【テーマコード（参考）】

5B042

5K014

【Ｆターム（参考）】

5B042MA08

5B042MC09

5K014GA02

5K014GA05

(57)【要約】

【課題】複数レーンのハンドシェイクによるステート遷移のログデータを同時に記録して表示する。
【解決手段】誤り率測定装置１は、被測定物ＷをＬＯＯＰＢＡＣＫのステートに遷移させた状態でパターン発生器２から既知パターンのテスト信号を被測定物Ｗに送信し、テスト信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返して受信する入力データのビットエラーをエラー検出器３にて検出するものであり、被測定物ＷをＬＯＯＰＢＡＣＫのステートに遷移させる際の被測定物Ｗとの間の所定の通信規格での複数レーンのハンドシェイクによる各レーンのステート遷移のログデータを記録するログ記録部１９と、ログ記録部１９に記録された各レーンのステート遷移のログデータを時系列順に表示する表示部２１と、を備える。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

被測定物（Ｗ）を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態でパターン発生器（２）から既知パターンのテスト信号を前記被測定物に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返して受信する入力データのビットエラーをエラー検出器（３）にて検出する誤り率測定装置（１）において、
前記被測定物を前記信号パターン折り返しのステートに遷移させる際の前記被測定物との間の所定の通信規格での複数レーンのハンドシェイクによる各レーンのステート遷移のログデータを記録するログ記録部（１９）を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。

【請求項2】

前記ログデータは、自レーンが次のステートに進むためのステート遷移条件を満たして他レーンが前記ステート遷移条件を満たすことを待機している状態を示すログデータを含むことを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。

【請求項3】

前記ログ記録部（１９）に記録された各レーンのステート遷移のログデータを時系列順に表示する表示部（２１）を備えたことを特徴とする請求項１または２に記載の誤り率測定装置。

【請求項4】

前記通信規格がハイスピードシリアルバスの通信規格であることを特徴とする請求項１～３の何れかに記載の誤り率測定装置。

【請求項5】

被測定物（Ｗ）を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態でパターン発生器（２）から既知パターンのテスト信号を前記被測定物に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返して受信する入力データのビットエラーをエラー検出器（３）にて検出する誤り率測定方法において、
前記被測定物を前記信号パターン折り返しのステートに遷移させる際の前記被測定物との間の所定の通信規格での複数レーンのハンドシェイクによる各レーンのステート遷移のログデータを前記エラー検出器に備えるログ記録部（１９）が記録するステップを含むことを特徴とする誤り率測定方法。

【請求項6】

前記ログデータは、自レーンが次のステートに進むためのステート遷移条件を満たして他レーンが前記ステート遷移条件を満たすことを待機している状態を示すログデータを含むことを特徴とする請求項５に記載の誤り率測定方法。

【請求項7】

前記ログ記録部（１９）に記録された各レーンのステート遷移のログデータを時系列順に表示部（２１）に表示するステップを含むことを特徴とする請求項５または６に記載の誤り率測定方法。

【請求項8】

前記通信規格がハイスピードシリアルバスの通信規格であることを特徴とする請求項５～７の何れかに記載の誤り率測定方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で既知パターンをテスト信号として被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置および誤り率測定方法に関する。

【背景技術】

【0002】

誤り率測定装置は、例えば下記特許文献１に開示されるように、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Error Rate）を測定する装置として従来から知られている。

【0003】

また、この種の誤り率測定装置としては、例えば下記特許文献２に開示されるように、リンク状態の遷移先、遷移の発生時刻、遷移のトリガ、エラー情報を含むログデータをリンク状態管理機構のリンク状態の遷移毎に記録する機能を備えたものも知られている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２００７－２７４４７４号公報

【特許文献2】特開２０１７－０９８６１５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

ところで、ＰＣＩｅ，ＵＳＢを始めとするハイスピードシリアルバス（High Speed Serial Bus)の規格において、被測定物としてレシーバのテストを行う際には、レシーバをテスト専用の信号折り返しモード（ＬＯＯＰＢＡＣＫ）に遷移させるハンドシェイクを実行した後、テスト用の既知パターンを入力し、折り返された信号の誤り率を確認する手法が一般的である。

【0006】

そして、ハイスピードシリアルバスのテストにおいて、誤り率測定装置に上記のハンドシェイクのログデータを出力できる機能があればデバッグ時に有用であり、ハンドシェイク中のどのステートで失敗したのかを明らかにすることができる。

【0007】

また、近年公表されたＵＳＢ３．２の規格においては、２レーンで通信を行うｘ２モードが新規に規定されている。この２レーンモードのハンドシェイクでは、レーン０とレーン１の各々でハンドシェイクを行う必要がある。その際、例えばレーン１（レーン０）で次のステートに進むためのステート遷移条件を満たしたとしてもレーン０（レーン１）がステート遷移条件を満たすまでは、レーン１（レーン０）も次のステートへ遷移しない、という動作が規格で定義されている。

【0008】

しかしながら、上述した特許文献２に開示される誤り率測定装置では、ステート遷移のタイムラインを表示する機能にとどまり、複数レーンのハンドシェイクによるステート遷移のログデータを同時に記録することができなかった。さらに、複数レーン間で互いに互いのステート遷移条件を満たしたか否かをログとして表示することはできなかった。このため、従来の誤り率測定装置では複数レーンのハンドシェイクにおける失敗原因の解析が難しいという課題があった。

【0009】

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、複数レーンのハンドシェイクによるステート遷移のログデータを同時に記録したり表示することができる誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0010】

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、被測定物Ｗを信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態でパターン発生器２から既知パターンのテスト信号を前記被測定物に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返して受信する入力データのビットエラーをエラー検出器３にて検出する誤り率測定装置１において、
前記被測定物を前記信号パターン折り返しのステートに遷移させる際の前記被測定物との間の所定の通信規格での複数レーンのハンドシェイクによる各レーンのステート遷移のログデータを記録するログ記録部１９を備えたことを特徴とする。

【0011】

本発明の請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
前記ログデータは、自レーンが次のステートに進むためのステート遷移条件を満たして他レーンが前記ステート遷移条件を満たすことを待機している状態を示すログデータを含むことを特徴とする。

【0012】

本発明の請求項３に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
前記ログ記録部１９に記録された各レーンのステート遷移のログデータを時系列順に表示する表示部２１を備えたことを特徴とする。

【0013】

本発明の請求項４に記載された誤り率測定装置は、請求項１～３の何れかの誤り率測定装置において、
前記通信規格がハイスピードシリアルバスの通信規格であることを特徴とする。

【0014】

本発明の請求項５に記載された誤り率測定方法は、被測定物Ｗを信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態でパターン発生器２から既知パターンのテスト信号を前記被測定物に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返して受信する入力データのビットエラーをエラー検出器３にて検出する誤り率測定方法において、
前記被測定物を前記信号パターン折り返しのステートに遷移させる際の前記被測定物との間の所定の通信規格での複数レーンのハンドシェイクによる各レーンのステート遷移のログデータを前記エラー検出器に備えるログ記録部１９が記録するステップを含むことを特徴とする。

【0015】

本発明の請求項６に記載された誤り率測定方法は、請求項５の誤り率測定方法において、
前記ログデータは、自レーンが次のステートに進むためのステート遷移条件を満たして他レーンが前記ステート遷移条件を満たすことを待機している状態を示すログデータを含むことを特徴とする。

【0016】

本発明の請求項７に記載された誤り率測定方法は、請求項５または６の誤り率測定方法において、
前記ログ記録部１９に記録された各レーンのステート遷移のログデータを時系列順に表示部２１に表示するステップを含むことを特徴とする。

【0017】

本発明の請求項８に記載された誤り率測定方法は、請求項５～７の何れかの誤り率測定方法において、
前記通信規格がハイスピードシリアルバスの通信規格であることを特徴とする。

【発明の効果】

【0018】

本発明によれば、複数レーンのハンドシェイクによるステート遷移のログデータを同時に記録したり表示することができ、複数レーンの規格をテストする際に、ユーザはハンドシェイク失敗の原因がどのレーンで生じたか、どのステートで生じたか、を容易に特定することができる。その結果、ユーザはあるステートでどのレーンに問題があるかを特定できるため、ＨＳＢデバイスのデバッグを極めて効率的に行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0019】

【図1】本発明に係る誤り率測定装置のブロック構成図である。

【図2】本発明に係る誤り率測定装置と被測定物との間で２レーンモードのハンドシェイクを行ってログを表示する方法を示すフローチャートである。

【図3】本発明に係る誤り率測定装置と被測定物の２レーンモードのハンドシェイク成功時の遷移イメージの一例を示す図である。

【図4】本発明に係る誤り率測定装置のレーン０におけるハンドシェイク成功時のログの表示例を示す図である。

【図5】本発明に係る誤り率測定装置のレーン１におけるハンドシェイク成功時のログの表示例を示す図である。

【図6】本発明に係る誤り率測定装置のレーン０におけるハンドシェイク失敗時のログの表示例を示す図である。

【図7】本発明に係る誤り率測定装置のレーン１におけるハンドシェイク失敗時のログの表示例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0020】

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

【0021】

本発明は、例えばＰＣＩｅ，ＵＳＢなどのハイスピードシリアルバス（ＨＳＢ）の規格において、リンク状態を管理するリンク状態管理機構としてリンク・トレーニング・ステータス・ステート・マシン（ＬＴＳＳＭ：Link Training ＆Status State Machine）を搭載したデバイスを被測定物とし、被測定物を信号パターン折り返しのステート（ＬＯＯＰＢＡＣＫ）に遷移させた状態の測定モード時に既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関するものである。なお、ＬＴＳＳＭは、物理層の中に存在し、物理層が受信した信号を見て遷移するものである。

【0022】

図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、パターン発生器２とエラー検出器３を備えて概略構成され、被測定物ＷのＬＴＳＳＭのリンク状態をＬＯＯＰＢＡＣＫ（ループバック）のステートに遷移させるシーケンスを搭載し、被測定物Ｗに既知のパターン信号を入力してビット誤り率を測定する測定モードに先立ち、所定の通信規格（例えばＰＣＩｅ，ＵＳＢなどのＨＳＢ）の複数レーンに関して、ハンドシェイクによる各レーンのステート遷移のログデータ（他レーンのステート遷移条件満足待ちの状態のログデータを含む）を同時に記録および表示する機能を有する。

【0023】

なお、以下では、レーン０とレーン１で通信を行う２レーンモードが規定されたＵＳＢ３．２の規格に対応した場合を例にとって説明する。

【0024】

被測定物Ｗは、レーン０のリンク状態を管理するＬＴＳＳＭ（Ｗａ）とレーン１のリンク状態を管理するＬＴＳＳＭ（Ｗｂ）を搭載しており、ビット誤り率の測定前の２レーンモードでのハンドシェイクを行うトレーニングモード時に、不図示のテスト治具を介して誤り率測定装置１と接続し、この接続を検知してＬＦＰＳ信号の送信を開始する。

【0025】

パターン発生器２は、被測定物Ｗに送信するパターンを発生するもので、第１のパターン発生部１１と第２のパターン発生部１２を備える。

【0026】

第１のパターン発生部１１は、レーン０に対応して設けられ、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗａ）をＬＯＯＰＢＡＣＫのステートに遷移させるためのトレーニングモード時に、後述する制御部２２の制御により、ＬＴＳＳＭ１６ａに基づくレーン０のトレーニングパターン信号を発生する。

【0027】

第１のパターン発生部１１は、被測定物ＷがＬＯＯＰＢＡＣＫのステートに遷移している状態で被測定物Ｗのジッタトレランステストを行う測定モード時に、後述する制御部２２の制御により、被測定物Ｗに入力する既知パターンのレーン０のパターン信号（「０」、「１」のＮＲＺ信号による疑似ランダム２値信号列からなり、規格で定められたパターンのＣＰ（Compliance pattern））を発生する。

【0028】

第２のパターン発生部１２は、レーン１に対応して設けられ、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗｂ）をＬＯＯＰＢＡＣＫのステートに遷移させるためのトレーニングモード時に、後述する制御部２２の制御により、ＬＴＳＳＭ１７ａに基づくレーン１のトレーニングパターン信号を発生する。

【0029】

第２のパターン発生部１２は、被測定物Ｗの測定モード時に、後述する制御部２２の制御により、被測定物Ｗに入力する既知パターンのレーン１のパターン信号（レーン０のパターン信号と同様の規格で定められたパターンのＣＰ）を発生する。

【0030】

エラー検出器３は、被測定物Ｗから送信されるパターン信号を検出するもので、第１のパターン検出部１３、第２のパターン検出部１４、エラー検出部１５、第１のリンク状態管理部１６、第２のリンク状態管理部１７、時刻生成部１８、ログ記録部１９、記憶部２０、表示部２１、制御部２２を備える。

【0031】

第１のパターン検出部１３は、レーン０に対応して設けられ、トレーニングモード時に、パターン発生器２の第１のパターン発生部１１から送信されるレーン０のトレーニングパターン信号によるハンドシェイクに伴い、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗａ）のステートの遷移に応じて被測定物Ｗから送信されるレーン０のトレーニングパターン信号を検出する。

【0032】

第１のパターン検出部１３は、測定モード時に、パターン発生器２の第１のパターン発生部１１が発生するレーン０のパターン信号が被測定物Ｗに入力されたときに、これに伴って被測定物Ｗから折り返して入力されるレーン０のパターン信号を検出する。

【0033】

第２のパターン検出部１４は、レーン１に対応して設けられ、トレーニングモード時に、パターン発生器２の第２のパターン発生部１２から送信されるレーン１のトレーニングパターン信号によるハンドシェイクに伴い、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗｂ）のステートの遷移に応じて被測定物Ｗから送信されるレーン１のトレーニングパターン信号を検出する。

【0034】

第２のパターン検出部１４は、測定モード時に、パターン発生器２の第２のパターン発生部１２が発生するレーン１のパターン信号が被測定物Ｗに入力されたときに、これに伴って被測定物Ｗから折り返して入力されるレーン１のパターン信号を検出する。

【0035】

エラー検出部１５は、被測定物ＷがＬＯＯＰＢＡＣＫのステートに遷移している状態の測定モード時に、パターン発生器２の第１のパターン発生部１１と第２のパターン発生部１２が発生する既知パターンのテスト信号であるレーン０とレーン１のパターン信号と、このレーン０とレーン１のパターン信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返して第１のパターン検出部１３と第２のパターン検出部１４にて検出されるレーン０とレーン１のパターン信号とを比較してビットエラーを検出する。

【0036】

第１のリンク状態管理部１６は、被測定物Ｗに搭載されたＬＴＳＳＭ（Ｗａ）と同一又は同等の機構を有するＬＴＳＳＭ１６ａを備え、使用するＩ／Ｏインターフェースの規格（本例ではＵＳＢ３．２）に従って動作する。その際、レーン０で次のステートに進むためのステート遷移条件を満たしたとしてもレーン１がステート遷移条件を満たすまでは、レーン０も次のステートへ遷移しないように他レーンのステート遷移条件満足待ちの状態が定義されている。例えばＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥからＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮへのステート遷移条件が「８回連続で正常なＴＳ１ＯＳまたはＴＳ２ＯＳを受信すること」と定義されている場合、レーン０とレーン１の両方がステート遷移条件を満たしたときに次のステートに進むことができる。また、ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮからＰＯＬＬＩＮＧ＿ＩＤＬＥへの遷移条件が「８回連続で正常なＴＳ２ＯＳを受信し、かつ１６回のＴＳ２を受信すること」と定義されている場合、レーン０とレーン１の両方がステート遷移条件を満たしたときに次のステートに進むことができる。

【0037】

第１のリンク状態管理部１６は、被測定物Ｗとの間で通信される信号により、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗａ）と同じようにレーン０のリンク状態のステートが遷移し、被測定物ＷにおけるＬＴＳＳＭ（Ｗａ）の現在のリンク状態を認識することができる。これにより、レーン０に関して、ＬＴＳＳＭ値、リンク速度、ループバックの有無、ＬＴＳＳＭの遷移パターン、レーンを識別するためのレーン番号、リンク番号、パターン信号の発生時間や発生回数、エンファシス量、受け側のイコライザーの調整値などの各種情報を得ることができる。

【0038】

第２のリンク状態管理部１７は、被測定物Ｗに搭載されたＬＴＳＳＭ（Ｗｂ）と同一又は同等の機構を有するＬＴＳＳＭ１７ａを備え、第１のリンク状態管理部１６と同様に、使用するＩ／Ｏインターフェースの規格（本例ではＵＳＢ３．２）に従って動作する。その際、第１のリンク状態管理部１６と同様に、レーン１で次のステートに進むためのステート遷移条件を満たしたとしてもレーン０がステート遷移条件を満たすまでは、レーン１も次のステートへ遷移しないように他レーンのステート遷移条件待ちの状態が定義されている。

【0039】

第２のリンク状態管理部１７は、第１のリンク状態管理部１６と同様に、被測定物Ｗとの間で通信される信号により、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗｂ）と同じようにレーン１のリンク状態のステートが遷移し、被測定物ＷにおけるＬＴＳＳＭ（Ｗａ）の現在のリンク状態を認識することができる。これにより、レーン１に関して、第１のリンク状態管理部１６と同様の各種情報を得ることができる。

【0040】

なお、第１のリンク状態管理部１６と第２のリンク状態管理部１７は、互いに相手レーンのリンク状態を認識しており、リンク状態に応じた各種情報のやり取りが行われる。

【0041】

時刻生成部１８は、現在時刻を生成し、生成した時刻情報をログ記録部１８に出力する。

【0042】

ログ記録部１９は、時刻生成部１８にて生成する時刻情報を元にして、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗａ，Ｗｂ）をＬＯＯＰＢＡＣＫのステートに遷移させるための通信規格：ＵＳＢ３．２での２レーンモードのハンドシェイクにより第１のリンク状態管理部１６と第２のリンク状態管理部１７が管理するＬＴＳＳＭ値やリンク速度を含むレーン０とレーン１の各レーンのログ情報、測定モード時にエラー検出部１５が検出したビット誤り率の測定結果を含むログ情報を記録する。

【0043】

なお、ＬＴＳＳＭ１６ａ，１７ａの遷移中にログ記録部１９に記録されるログ情報としては、例えばＬＴＳＳＭ値、リンク速度、ループバックの有無、ＬＴＳＳＭの遷移パターン、レーン番号、リンク番号、パターン信号の発生時間や発生回数、エンファシス量、受け側のイコライザーの調整値などがある。

【0044】

記憶部２０は、制御部２２の制御により、ログ記録部１９が記録したログ情報を格納する。例えばリンク状態の遷移先、遷移の発生時刻、遷移のトリガ、エラー情報などがＬＴＳＳＭ１６ａ，１７ａの遷移に応じて各レーン（レーン０、レーン１）ごとにログ情報として記憶部２０に格納される。

【0045】

表示部２１は、制御部２２の制御により、ログ記録部１９が記録したログ情報または記憶部２０に格納されたログ情報を図４～図７に示す表示形態で表示画面２１ａに表示する。また、表示部２１は、不図示の操作部の操作に基づく制御部２２の制御により、誤り率測定に関わる設定画面やエラー検出部１５にて検出してログ記録部１９に記録されたエラー情報を含む測定結果などを表示する。

【0046】

制御部２２は、被測定物Ｗとの間の２レーンモードでのハンドシェイクやビット誤り率の測定を行うにあたって、パターン発生器２とエラー検出器３の各部を統括制御する。

【0047】

具体的に、制御部２２は、トレーニングモード時に、第１のリンク状態管理部１６のＬＴＳＳＭ１６ａと第２のリンク状態管理部１７のＬＴＳＳＭ１７ａの現在のリンク状態に応じて次に発生すべきレーン０とレーン１のトレーニングパターン信号を発生するように第１のパターン発生部１１と第２のパターン発生部１２に指示を行う。

【0048】

また、制御部２２は、測定モード時に、レーン０とレーン１のパターン信号を発生するように第１のパターン発生部１１と第２のパターン発生部１２に指示を行う。

【0049】

さらに、制御部２２は、ログ記録部１９に記録されたログ情報の記憶部２０への書き込みや記憶部２０に記憶されたログ情報の読み出しの制御、表示部２１の表示画面２１ａへのログ情報の表示の制御などを行う。

【0050】

次に、上記のように構成される誤り率測定装置１と被測定物Ｗとの間で２レーンモードのハンドシェイクを行ってログデータを表示する方法について図２のフローチャートを参照しながら説明する。

【0051】

誤り率測定装置１の信号出力部のインターフェースと被測定物Ｗの信号受信部のインターフェースが異なるため、インターフェースを一致させるための変換に使用されるテスト治具を介して誤り率測定装置１と被測定物Ｗとの間を接続する（図２のＳＴ１）。

【0052】

被測定物Ｗは、テスト治具を介して誤り率測定装置１との間の接続を検知すると、トレーニングパターン信号としてＬＦＰＳ信号の送信を開始する（図２のＳＴ２）。

【0053】

誤り率測定装置１は、被測定物Ｗから送信されるＬＦＰＳ信号の受信をトリガとしてＰＯＬＬＩＮＧ＿ＬＦＰＳステートに遷移し、トレーニングパターン信号としてＬＦＰＳ信号の送信を開始する（図２のＳＴ３）。

【0054】

被測定物Ｗは、誤り率測定装置１から送信されるＬＦＰＳ信号の受信をトリガとして次のステートに遷移し、次のステートに対応するトレーニングパターン信号を送信する（図２のＳＴ４）。

【0055】

そして、被測定物Ｗと誤り率測定装置１は、２レーンモードのハンドシェイクにより、レーン０とレーン１において互いに各ステートで定義されたトレーニングパターン信号を送信してステートが遷移し、被測定物ＷのＬＴＳＳＭ（Ｗａ，Ｗｂ）が最終的にテストを行うためのＬＯＯＰＢＡＣＫ＿ＡＣＴＩＶＥステートに遷移する（図２のＳＴ５）。

【0056】

具体的に、誤り率測定装置１と被測定物Ｗの２レーンハンドシェイクが成功した場合、被測定物Ｗは、図３に示すように、ＬＦＰＳ ＳＣＤ１／ＳＣＤ２→ＬＢＰＭ ＣＡＰ／ＲＤＹ→ＥＮＤ ＯＦ ＬＢＰＭ→ＴＳＥＱ→ＴＳ１→ＴＳ２→ＬＯＯＰＢＡＣＫの順に、各ステートで定義されたパターン（ステートと１：１で紐付くパターン）を送信してステート遷移する。また、誤り率測定装置１は、被測定物Ｗのステート遷移に伴い、図３に示すように、各ステートで定義されたパターンを送信してステート遷移する。

【0057】

そして、被測定物Ｗおよび誤り率測定装置１の２レーンハンドシェイクによりＬＯＯＰＢＡＣＫ＿ＡＣＴＩＶＥステートに遷移すると、誤り率測定装置１が自身のレーン０とレーン１それぞれのステート遷移のログデータを表示部２１の表示画面２１ａに表示する（図２のＳＴ６）。

【0058】

具体的に、誤り率測定装置１のレーン０とレーン１による２レーンモードのハンドシェイクが成功した場合は、図４および図５に示す表示形態でレーン０とレーン１それぞれのステート遷移のログデータを時系列順に配置して表示画面２１ａに表示する。その際、表示画面２１ａには、ステート遷移のログデータに加え、自レーンがステート遷移条件を満たして他レーンがステート遷移条件を満たすことを待機している状態を示すログデータ（図４の斜線で囲む「ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮ（Ｗａｉｔｉｎｇ ｆｏｒ ｏｔｈｅｒ ｌａｎｅ）」、図５の斜線で囲む「ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥ（Ｗａｉｔｉｎｇ ｆｏｒ ｏｔｈｅｒ ｌａｎｅ）」、「ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＩＤＬＥ（Ｗａｉｔｉｎｇ ｆｏｒ ｏｔｈｅｒ ｌａｎｅ）」）も表示される。

【0059】

図４および図５のステート遷移のログデータによれば、最初に低速信号によるレーン０のハンドシェイクにより、ＩＮＩＴＩＡＬ→ＤＥＴＥＣＴ＿ＡＣＴＩＶＥ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＬＦＰＳ＿ＳＣＤ１→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＬＦＰＳ＿ＰＬＵＳ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＬＦＰＳ＿ＥＮＤＳＣＤ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＰＯＲＴ＿ＭＡＴＣＨ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＰＯＲＴ＿ＣＯＮＦＩＧ＿ＲＥＡＤＹ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＰＯＲＴ＿ＥＮＤＬＢＰＭの順にステートが遷移する。

【0060】

続いて、高速信号によるレーン０およびレーン１のハンドシェイクを行い、レーン０がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＲＸＥＱのステートに遷移した後、レーン１がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＲＸＥＱのステートに遷移する。その後、レーン１がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥのステートに遷移した後、レーン０がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥのステートに遷移する。

【0061】

そして、レーン１のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥでのハンドシェイクが完了すると、レーン０のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥでのハンドシェイクが完了するまで待機する。続いて、レーン０のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥでのハンドシェイクが完了すると、レーン１がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮのステートに遷移した後、レーン０がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮのステートに遷移する。

【0062】

その後、レーン０のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮでのハンドシェイクが完了すると、レーン１のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮでのハンドシェイクが完了するまで待機する。

【0063】

そして、レーン１のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＣＯＮＦＩＧＵＲＡＴＩＯＮでのハンドシェイクが完了すると、レーン０およびレーン１がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＩＤＬＥのステートに遷移する。続いて、レーン１のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＩＤＬＥでのハンドシェイクが完了した後、レーン０のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＩＤＬＥでのハンドシェイクが完了するまで待機する。そして、レーン０のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＩＤＬＥでのハンドシェイクが完了すると、レーン０およびレーン１がＬＯＯＰＢＡＣＫ＿ＡＣＴＩＶＥのステートに遷移し、２レーンモードのハンドシェイクが成功する。

【0064】

これに対し、誤り率測定装置１のレーン０とレーン１による２レーンモードのハンドシェイクが失敗した場合は、図６および図７に示す表示形態でレーン０とレーン１それぞれのステート遷移のログデータを時系列順に配置して表示画面２１ａに表示する。その際、表示画面２１ａには、ステート遷移のログデータに加え、自レーンがステート遷移条件を満たして他レーンがステート遷移条件を満たすことを待機している状態を示すログデータ（図７の斜線で囲む「ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥ（Ｗａｉｔｉｎｇ ｆｏｒ ｏｔｈｅｒ ｌａｎｅ）」）も表示される。

【0065】

図６および図７のステート遷移のログデータによれば、図４と同様に、最初に低速信号によるレーン０のハンドシェイクにより、ＩＮＩＴＩＡＬ→ＤＥＴＥＣＴ＿ＡＣＴＩＶＥ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＬＦＰＳ＿ＳＣＤ１→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＬＦＰＳ＿ＰＬＵＳ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＬＦＰＳ＿ＥＮＤＳＣＤ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＰＯＲＴ＿ＭＡＴＣＨ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＰＯＲＴ＿ＣＯＮＦＩＧ＿ＲＥＡＤＹ→ＰＯＬＬＩＮＧ＿ＰＯＲＴ＿ＥＮＤＬＢＰＭの順にステートが遷移する。

【0066】

その後、高速信号によるレーン０およびレーン１のハンドシェイクを行い、レーン０がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＲＸＥＱのステートが遷移した後、レーン１がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＲＸＥＱのステートに遷移する。続いて、レーン１がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥのステートが遷移した後、レーン０がＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥのステートに遷移する。

【0067】

そして、レーン１のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥでのハンドシェイクが完了した後、レーン０のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥでのハンドシェイクが完了するまで待機する。その後、レーン０のＰＯＬＬＩＮＧ＿ＡＣＴＩＶＥでのハンドシェイクが完了する前にタイムアウトしてＩＮＩＴＩＡＬのステートに遷移し、２レーンハンドシェイクが失敗に終わる。

【0068】

なお、図４～図７において、Ｔｉｍｅ［ｎｓ］は経過時間、Ｄｅｌｔａ Ｔｉｍｅはステートの滞在時間、Ｓｔａｔｅはステートの名称、Ｓｐｅｅｄ［ＧＴ／ｓ］は信号名または速度を示している。また、図４～図７ではレーン０とレーン１のステート遷移のログデータを別々に図示しているが、図４および図５に示す２レーンハンドシェイク成功時のレーン０とレーン１のステート遷移のログデータは時系列順に表示部２１の１つの表示画面２１ａに一緒に表示され、図６および図７に示す２レーンハンドシェイク失敗時のレーン０とレーン１のステート遷移のログデータは時系列順に表示部２１の１つの表示画面２１ａに一緒に表示される。

【0069】

このように、本実施の形態によれば、所定の通信規格（ＰＣＩｅ，ＵＳＢなどのＨＳＢ）での複数のレーンの各々のハンドシェイクのログデータを同時に記録し、この同時に記録したステート遷移のログデータを表示する機能を有する。また、各レーンのステート遷移のログデータに加え、他レーンのステート遷移条件満足待ちの状態（自レーンが次のステートに進むためのステート遷移条件を満たして他レーンがステート遷移条件を満たすことを待機している状態）を定義し、この他レーンのステート遷移条件満足待ちの状態を含めたログデータを表示する機能を有する。

【0070】

これにより、複数レーンの規格をテストする際に、ユーザはハンドシェイク失敗の原因がどのレーンで生じたか、どのステートで生じたか、を容易に特定することができる。その結果、ユーザはあるステートでどのレーンに問題があるか（例えば、ステートによっては長時間待機しているレーンではない方のレーンに問題がある）を特定できるため、ＨＳＢデバイスのデバッグを極めて効率的に行うことが可能となる。

【0071】

以上、本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

【符号の説明】

【0072】

１ 誤り率測定装置
２ パターン発生器
１１ 第１のパターン発生部
１２ 第２のパターン発生部
３ エラー検出器
１３ 第１のパターン検出部
１４ 第２のパターン検出部
１５ エラー検出部
１６ 第１のリンク状態管理部
１６ａ ＬＴＳＳＭ
１７ 第１のリンク状態管理部
１７ａ ＬＴＳＳＭ
１８ 時刻生成部
１９ ログ記録部
２０ 記憶部
２１ 表示部
２１ａ 表示画面
２２ 制御部
Ｗ 被測定物
Ｗａ，Ｗｂ ＬＴＳＳＭ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】