特開 2022-40950 誤り率測定装置およびパラメータ取得方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022040950

(43)【公開日】2022-03-11

(54)【発明の名称】誤り率測定装置およびパラメータ取得方法

(51)【国際特許分類】

   H04L 1/00 20060101AFI20220304BHJP

   H04L 43/00 20220101ALI20220304BHJP

   H04B 17/309 20150101ALI20220304BHJP

【ＦＩ】

H04L1/00 C

H04L12/70 100Z

H04B17/309 100

【審査請求】有

【請求項の数】2

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020145926

(22)【出願日】2020-08-31

(71)【出願人】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100067323

【弁理士】

【氏名又は名称】西村 教光

(74)【代理人】

【識別番号】100124268

【弁理士】

【氏名又は名称】鈴木 典行

(72)【発明者】

【氏名】大日向 哲郎

【テーマコード（参考）】

5K014

5K030

【Ｆターム（参考）】

5K014GA02

5K030GA11

5K030HA08

5K030HB12

5K030HC01

5K030JA10

5K030MB05

5K030MC07

5K030MC08

(57)【要約】

【課題】Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うための操作回数を低減して時間の短縮を図る。
【解決手段】誤り率測定装置１は、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定するものであり、少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態でパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物Ｗに順次送信するデータ送信部１１と、データ送信部１１から順次送信される変更指示による全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を被測定物Ｗから順次受信して取得するデータ受信部１３と、を備える。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置（１）であって、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物（Ｗ）に順次送信するデータ送信部（１１）と、
前記データ送信部から順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するデータ受信部（１３）と、を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。

【請求項2】

リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置のパラメータ取得方法であって、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物（Ｗ）に順次送信するステップと、
前記順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定装置のパラメータ取得方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、被測定物（ＤＵＴ：Device Under Test ）のビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Error Rate）を測定する誤り率測定装置に関し、特に、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置およびパラメータ取得方法に関する。

【背景技術】

【0002】

誤り率測定装置は、例えば下記特許文献１に開示されるように、被測定物（ＤＵＴ）を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率を測定する装置として従来から知られている。

【0003】

ところで、この種の誤り率測定装置では、被測定物のビット誤り率を測定する他、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間の測定を行う場合がある。

【0004】

例えばＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ（以下、ＰＣＩｅと略称する）の場合、コンプライアンステスト項目の一つとして、応答時間の試験（Ｔｘ Ｌｉｎｋ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｔｉｍｅ ｔｅｓｔ）がある。この応答時間の試験は、図６のフローチャートに基づく下記（１）～（５）の手順で行われる。

【0005】

（１）被測定物をループバック状態（Ｌｏｏｐｂａｃｋ Ａｃｔｉｖｅ）に設定するためのリンクトレーニングを開始する（ＳＴ１１）。
（２）リンクトレーニング中に図５のＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine）における「Ｒｅｃｏｖｅｒｙ」のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で誤り率測定装置が被測定物のパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ：プリセット（例えば初期値：Ｐｒｅｓｅｔ０）の変更を指示する（ＳＴ１２）。
（３）被測定物が実際に指示されたＰｒｅｓｅｔ（例えば初期値：Ｐｒｅｓｅｔ０）に変化するまでの応答時間を誤り率測定装置にて測定する（ＳＴ１３）。このとき、指示されたＰｒｅｓｅｔ（例えば初期値：Ｐｒｅｓｅｔ０）に対応するＣｕｒｓｏｒ値：カーソル値を被測定物が誤り率測定装置に返送する（ＳＴ１４）。このＣｕｒｓｏｒ値は被測定物が持つ固有の値であり、この試験を通じて誤り率測定装置はこの値を知ることができる。
（４）ＳＴ１２～ＳＴ１４の処理をパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０（初期値）から順にインクリメントしてＰｒｅｓｅｔ９まで実行し、計１０回の処理を行う（ＳＴ１５）。
（５）ＳＴ１５で得られたＰｒｅｓｅｔ０～９のうち、所望とするＰｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値を設定し、設定したＣｕｒｓｏｒ値で応答時間の試験を行うためのビットを設定して応答時間を測定する（ＳＴ１６）。

【0006】

なお、各Ｃｕｒｓｏｒ値は、予め被測定物と誤り率測定装置がそれぞれ持っており、Ｐｒｅｓｅｔ０～９の各Ｐｒｅｓｅｔ毎に任意に設定可能である。このため、各Ｃｕｒｓｏｒ値は、被測定物と誤り率測定装置がお互いどの値を持っているか判らない。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0007】

【特許文献1】特開２００７－２７４４７４号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0008】

しかしながら、従来の誤り率測定装置では、１回のリンクトレーニングに対して１つずつのＰｒｅｓｅｔの試験を行う必要があり、リンクトレーニングの都度Ｃｕｒｓｏｒ値を取得していた。このため、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うためには、まず事前にＰｒｅｓｅｔによる試験を１０回繰り返さなければならず、操作が煩雑なだけでなく、時間を要するという問題点があった。

【0009】

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うための操作回数を低減して時間の短縮を図ることができる誤り率測定装置およびパラメータ取得方法を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0010】

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置１であって、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物Ｗに順次送信するデータ送信部１１と、
前記データ送信部から順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するデータ受信部１３と、を備えたことを特徴とする。

【0011】

本発明の請求項２に記載された誤り率測定装置のパラメータ取得方法は、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置のパラメータ取得方法であって、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物Ｗに順次送信するステップと、
前記順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するステップと、を含むことを特徴とする。

【発明の効果】

【0012】

本発明によれば、リンクトレーニング中に被測定物に対してパラメータ値の変更指示があってから実際に指示されたパラメータ値に変更されるまでの応答時間を測定するにあたって、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うための操作回数を低減して時間の短縮を図ることができる。これにより、例えば複数の被測定物のＣｕｒｓｏｒ試験のみを連続して行いたい場合などに、作業が効率化でき有用である。さらに、１回のリンクトレーニング中に行えば、一段と作業の効率化が可能である。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】本発明に係る誤り率測定装置と被測定物との接続構成の概略を示すブロック図である。

【図2】本発明に係る誤り率測定装置のパラメータ取得方法を含む試験手順を示すフローチャートである。

【図3】本発明に係る誤り率測定装置が被測定物から取得するＰｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値の一例を示す図である。

【図4】本発明に係る誤り率測定装置と被測定物との他の接続構成の概略を示すブロック図である。

【図5】リンク状態管理機構の一例であって、ＬＴＳＳＭの状態遷移図である。

【図6】従来のパラメータ取得方法を含む試験手順を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0014】

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

【0015】

［本発明の概要について］
本発明に係る誤り率測定装置は、例えば拡張バスや拡張スロットの接続規格であるＰＣＩｅの規格に準拠したデバイスを被測定物（ＤＵＴ）とし、被測定物を信号パターン折り返しのステート（図５のＬＴＳＳＭの「Ｌｏｏｐｂａｃｋ」ステート）に遷移させた状態で固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率を測定するものである。

【0016】

特に、本発明は、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中に被測定物に対してパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ：プリセットまたはＣｕｒｓｏｒ：カーソル）の変更指示があってから実際に指示されたパラメータ値に変更されるまでの応答時間を測定するにあたって、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うための操作回数を低減して時間の短縮を図ることを目的としている。

【0017】

なお、パラメータ値は、予め被測定物と誤り率測定装置がそれぞれ持っており、Ｔｒａｎｓｍｉｔｔｅｒ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎの量を決めるための値である。具体的には、例えばタップ毎の振幅（プリシュート、ディエンファシスのエンファシス量）に対応したパラメータ値として、Ｐｒｅｓｅｔ０～９と、Ｐｒｅｓｅｔ０～９の各Ｐｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値とがある。各Ｃｕｒｓｏｒ値は、Ｐｒｅｓｅｔ０～９の各Ｐｒｅｓｅｔ毎に任意に設定可能であり、被測定物と誤り率測定装置がお互いどの値を持っているか判らないものである。

【0018】

図１に示すように、誤り測定装置１は、上記目的を達成するため、設定部２、パターン発生器３、エラー検出器４を備えて概略構成され、リンクの状態を管理するための１回のリンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を全て送信し、それらに対応するＣｕｒｓｏｒ値を一度に全て取得する機能を有する。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。

【0019】

図１に示すように、被測定物Ｗは、リンク状態を管理するリンク状態管理機構として、図５のＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine）によるリンク状態管理部Ｗ１を搭載し、データ受信部Ｗ２、データ送信部Ｗ３を備えて概略構成される。以下、被測定物Ｗと誤り率測定装置１の各構成について説明する。

【0020】

［被測定物の構成について］
データ受信部Ｗ２は、応答時間の試験（Ｔｘ Ｌｉｎｋ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｔｉｍｅ ｔｅｓｔ）を行う際に、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中に誤り率測定装置１のパターン発生器３からのパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示を受信する。

【0021】

また、データ受信部Ｗ２は、ビット誤り率の測定を行う際に、信号パターン折り返しのステート（図５のＬＴＳＳＭの「Ｌｏｏｐｂａｃｋ」ステート）に遷移させた状態で固定データを含む既知パターンのテスト信号を誤り率測定装置１のパターン発生器３から受信する。

【0022】

データ送信部Ｗ３は、応答時間の試験を行う際に、データ受信部Ｗ２が誤り率測定装置１のパターン発生器３からパラメータ値として１回のリンクトレーニング中に順次送信される全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を受信すると、この受信した全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値のデータを誤り率測定装置１に順次送信する。すなわち、誤り率測定装置１が被測定物ＷにＰｒｅｓｅｔ０の変更指示を送信してＰｒｅｓｅｔ０に対応するＣｕｒｓｏｒ値を被測定物Ｗが誤り率測定装置１に返信するという手順を、Ｐｒｅｓｅｔ０～９まで１回のリンクトレーニング中に繰り返し行う。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。

【0023】

また、データ送信部Ｗ３は、ビット誤り率の測定を行う際に、データ受信部Ｗ２が誤り率測定装置１のパターン発生器３から既知パターンのテスト信号を受信すると、この受信したテスト信号に対する応答信号を被測定信号として誤り率測定装置１に折り返して送信する。

【0024】

［誤り率測定装置の構成について］
設定部２は、ビット誤り率の測定に関わる各種設定を行う。具体的に、設定部２は、パラメータ値としてのＰｒｅｓｅｔによる応答時間の試験を行うため、測定条件としてのＰｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数を設定する。例えば、Ｐｒｅｓｅｔの初期値を「０」、Ｐｒｅｓｅｔの測定回数を「２」と設定した場合には、Ｐｒｅｓｅｔ０，１による応答時間の試験を１回のリンクトレーニング中に行う。また、Ｐｒｅｓｅｔの初期値を「３」、Ｐｒｅｓｅｔの測定回数を「５」と設定した場合には、Ｐｒｅｓｅｔ３，４，５，６，７による応答時間の試験を１回のリンクトレーニング中に行う。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。

【0025】

また、設定部２は、後述するパラメータ取得方法を含む試験手順に基づいて被測定物Ｗから取得したパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の何れかに対応するＣｕｒｓｏｒ値の設定、設定したＣｕｒｓｏｒ値による応答時間の試験を行うためのビットを設定する。

【0026】

パターン発生器３は、例えばＰＣＩｅのＬＴＳＳＭの状態に基づくトレーニングシーケンスや既知パターンによるデータを発生するもので、データ送信部１１とトリガ発生部１２を含む。

【0027】

データ送信部１１は、パラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）による応答時間の試験を行う際に、エラー検出器４の後述するリンク状態管理部１３ａからの指示により、パラメータ値による応答時間の試験に必要なトレーニングシーケンス（Training Sequence Ordered Sets：TS OS ）を発生する。

【0028】

トレーニングシーケンスは、誤り率測定装置１と被測定物Ｗがパラメータをやり取りするためのデータパターン列であり、被測定物Ｗに対してパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更を指示するデータ、設定部２にて設定される測定条件としてのＰｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数のデータ、設定部２にて設定されるＰｒｅｓｅｔ０～９の何れかに対応するＣｕｒｓｏｒ値のデータ、設定したＣｕｒｓｏｒ値による応答時間の試験を行うためのビットのデータなどが含まれる。

【0029】

データ送信部１１は、被測定物Ｗがループバックに遷移した状態で被測定物Ｗのビット誤り率を測定する際に、被測定物Ｗに入力する既知パターンとして、ＰＲＢＳ（疑似ランダム・ビット・シーケンス）パターンや任意のプログラマブルパターンによるパターン信号（テスト信号）を発生する。

【0030】

トリガ発生部１２は、タイミング信号としてのトリガを発生する。このトリガは、データ送信部１１がパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示のデータを含むトレーニングシーケンスを発生した時点で生成され、外部のケーブルまたは内部配線を介してエラー検出器４の後述するデータ受信部１３に入力される。

【0031】

エラー検出器４は、被測定物Ｗからのデータを受信してエラーを検出するもので、データ受信部１３、記憶部１４、表示部１５を含む。

【0032】

データ受信部１３は、パターン発生器３のトリガ発生部１２からトリガが入力しており、リンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示があってから実際に指示されたパラメータ値に変更されるまでの応答時間を測定する機能を有し、リンク状態管理部１３ａとエラー検出部１３ｂを備える。

【0033】

データ受信部１３は、パターン発生器３のトリガ発生部１２から入力されるトリガを起点として、パターン発生器３のデータ送信部１１が被測定物Ｗに対してパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示を送信した時間（パラメータ値変更指示送信時間）を測定し、測定した時間をログ情報として記憶部１４に記憶する。

【0034】

データ受信部１３は、パターン発生器３からのパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示に従って実際にパラメータ値が変更された被測定物Ｗからデータを受信した時間（データ受信時間）を測定し、上述したパラメータ値変更指示送信時間からデータ受信時間までの応答時間を測定して測定したデータ受信時間および応答時間をログ情報として記憶部１４に記憶する。

【0035】

リンク状態管理部１３ａは、被検査物Ｗに搭載されたリンク状態管理部Ｗ１と同一または同等の機構としてＬＴＳＳＭを有し、使用する規格（例えばＰＣＩｅ）に従って動作する。

【0036】

リンク状態管理部１３ａは、被測定物Ｗ（データ受信部Ｗ２、データ送信部Ｗ３）との間で通信されるトレーニングシーケンスにより、被測定物Ｗのリンク状態管理部Ｗ１の現在のリンク状態を認識する。具体的には、ＬＴＳＳＭ値、リンク速度、ループバックの有無、ＬＴＳＳＭの遷移パターン、レーンを識別するためのレーン番号、リンク番号、パターン信号の発生時間や発生回数、エンファシス量、受け側のイコライザの調整値などの各種情報を得る。

【0037】

リンク状態管理部１３ａは、誤り率測定装置１と被測定物Ｗとの間の通信において、パターン発生器３からの被測定物Ｗの現在のリンク状態を把握するためのトレーニングシーケンスの送信に伴って被測定物Ｗのデータ送信部Ｗ３から受信するトレーニングシーケンスにより被測定物Ｗの現在のリンク状態を管理し、被測定物Ｗの現在のＬＴＳＳＭの状態に応じて次に発生すべきトレーニングシーケンスをパターン発生器３のデータ送信部１１に指示する。

【0038】

エラー検出部１３ｂは、ビット誤り率測定を行う際、被測定物Ｗがループバックに遷移している状態において、パターン発生器３のデータ送信部１１が発生する既知パターンのテスト信号と、このテスト信号の入力に伴って被検査物Ｗから折り返して入力されるパターン信号とを比較してビット誤り率を検出する。

【0039】

記憶部１４は、ＬＴＳＳＭのＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態でパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示に伴って被測定物Ｗから取得したパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値（プリカーソル：Ｃ－１、メインカーソル：Ｃ０、ポストカーソル：Ｃ＋１））、データ受信部１３にて測定したパラメータ値変更指示送信時間、データ受信時間、応答時間をログ情報として記憶する他、エラー検出部１３ｂにて検出したビット誤り率、ビット誤り測定に関する各種設定情報、リンク状態管理部１３ａが管理するＬＴＳＳＭ値やリンク速度を含む各種情報などを記憶する。

【0040】

表示部１５は、例えば液晶などの表示器からなり、被測定物Ｗから取得したパラメータ値（例えば図３に示すようなＰｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値（Ｃ－１、Ｃ０、Ｃ＋１））、データ受信部１３にて測定した応答時間（記憶部１４に記憶された応答時間を含む）、エラー検出部１３ｂにて検出したビット誤り率などを含む測定結果、ビット誤り測定に関わる各種設定画面などを表示する。

【0041】

［応答時間の測定手順について］
次に、上記のように構成される誤り測定装置１によるパラメータ取得方法を含む応答時間の測定手順について図２を参照しながら説明する。ここでは、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の変更指示があってから実際に指示されたＰｒｅｓｅｔに変更されるまでの応答時間を測定する場合を例にとって説明する。

【0042】

まず、測定条件としてのＰｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数を設定する（ＳＴ１）。ここでは、パラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９全てのＰｒｅｓｅｔによる応答時間の試験を行ってＰｒｅｓｅｔ０～９全てに対応するＣｕｒｓｏｒを取得するため、Ｐｒｅｓｅｔの初期値：「０」、Ｐｒｅｓｅｔの測定回数：「１０」をそれぞれ設定する。

【0043】

パターン発生器３のデータ送信部１１は、エラー検出器４のリンク状態管理部１３ａからの指示により、ＰＣＩｅのトレーニングシーケンスに基づき被測定物Ｗに対してパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更を指示するデータを含むトレーニングシーケンスを発生し、被測定物Ｗをループバック状態に設定するためのリンクトレーニングを開始する（ＳＴ２）。

【0044】

なお、各Ｐｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示はミリセックオーダーで行うことが規格で決められている。このため、例えばＰｒｅｓｅｔ０の変更を指示するデータを含むトレーニングシーケンスを被測定物Ｗに送信した場合には、ミリセックオーダーで次のＰｒｅｓｅｔ１の変更を指示するデータを含むトレーニングシーケンスが被測定物Ｗに送信される。

【0045】

パターン発生器３のデータ送信部１１は、リンクトレーニングを開始すると、１回のリンクトレーニング中にＬＴＳＳＭのＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で被測定物Ｗに対するＰｒｅｓｅｔの変更指示を設定部２にて設定された測定条件（Ｐｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数）に従って被測定物Ｗのパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更を順次指示する（ＳＴ３）。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。

【0046】

そして、被測定物Ｗは、パターン発生器３のデータ送信部１１からパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更の指示を順次受信すると、受信した指示に従って該当するパラメータ値としてのＰｒｅｓｅｔを変更する。すなわち、被測定物Ｗは、パターン発生器３のデータ送信部１１からパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０→Ｐｒｅｓｅｔ１→Ｐｒｅｓｅｔ２→…→Ｐｒｅｓｅｔ８→Ｐｒｅｓｅｔ９の順番に変更の指示を順次受信すると、Ｐｒｅｓｅｔ０→Ｐｒｅｓｅｔ１→Ｐｒｅｓｅｔ２→…→Ｐｒｅｓｅｔ８→Ｐｒｅｓｅｔ９の順番にパラメータ値を順次変更する。

【0047】

このとき、エラー検出器４のデータ受信部１３は、パターン発生器３のトリガ発生部１２から入力されるトリガを起点として、パターン発生器３のデータ送信部１１が被測定物Ｗに対してパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を送信した時間（パラメータ値変更指示送信時間）を測定し、測定した時間を記憶部１４に記憶する。

【0048】

そして、エラー検出器４のデータ受信部１３は、被測定物Ｗが実際に指示されたパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９それぞれに変化するまでの応答時間を測定し（ＳＴ４）、測定したそれぞれの応答時間を記憶部１４に記憶する。

【0049】

このとき、被測定物Ｗは、順次変更を指示されたパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を誤り率測定装置１に返送し、返送されたそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を誤り率測定装置１（記憶部１４）が保持する（ＳＴ５）。

【0050】

ここで、図３は指示されたパラメータ値：Ｐｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値の一例を示す。なお、図３ではＰｒｅｓｅｔ０～９をＰ０～９として表記し、Ｃ－１、Ｃ、Ｃ＋１の合計値が６３となるようにＰｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値が予め被測定物Ｗに設定されている。図３において、例えば指示されたパラメータ値がＰｒｅｓｅｔ５の場合には、Ｐｒｅｓｅｔ５に対応するＣｕｒｓｏｒ値としてＣ－１：６、Ｃ：５７、Ｃ＋１：０が被測定物Ｗから返送される。また、指示されたパラメータ値がＰｒｅｓｅｔ７の場合には、Ｐｒｅｓｅｔ７に対応するＣｕｒｓｏｒ値としてＣ－１：７、Ｃ：４５、Ｃ＋１：１１が被測定物Ｗから返送される。

【0051】

そして、エラー検出器４は、ＳＴ５で得られたＰｒｅｓｅｔ０～９のうち、所望とするＰｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値を設定部２にて設定するとともに、設定したＣｕｒｓｏｒ値で応答時間の試験を行うためのビットを設定部２にて設定してＣｕｒｓｏｒ値による応答時間を測定する（ＳＴ６）。

【0052】

［他の接続構成について］
ところで、図１の接続構成に代えて、図４の接続構成でも同様にパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）による応答時間の試験を行うことができる。なお、図４において、図１と同一または同等の構成要素には同一番号を付している。また、特に図示はしないが、図４の誤り率測定装置１は、パターン発生器３が図１のデータ送信部１１とトリガ発生部１２の機能を備え、エラー検出器４がデータ受信部１３、記憶部１４、表示部１５の機能を備えている。なお、データ送信部１１は、１回のリンクトレーニング中にＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態でパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物Ｗに順次送信する機能を有する。また、データ受信部１３は、データ送信部１１から順次送信される変更指示による全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を被測定物Ｗから順次受信して取得する機能を有する。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。

【0053】

図４の接続構成では、計測器としての誤り率測定装置１のパターン発生器３と波形測定装置（例えばオシロスコープなど）２１との間をケーブルで接続し、パターン発生器３からケーブルを介して波形測定装置２１にトリガを入力する。また、誤り率測定装置１のパターン発生器３は、被測定物Ｗと波形測定装置２１に対し、ディバイダ２２を介してそれぞれケーブルで接続する。さらに、誤り率測定装置１のエラー検出器４は、被測定物Ｗと波形測定装置２１に対し、ディバイダ２３を介してそれぞれケーブルで接続する。

【0054】

図４の接続構成でパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）による応答時間の試験を行う場合には、誤り率測定装置１のパターン発生器３が送信するデータ（パラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の全ての変更を指示するデータまたは被測定物Ｗから取得するＰｒｅｓｅｔ０～９の何れかのＰｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値の変更を指示するデータを含む）をディバイダ２２により２つに分岐する。このディバイダ２２により分岐したデータは、一方が波形測定装置２１に入力され、他方が被測定物Ｗに入力される。そして、被測定物Ｗが送信するデータ（パラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の全てに変更したデータ、Ｐｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を含む）をディバイダ２３により２つに分岐する。このディバイダ２３により分岐したデータは、一方が被測定物Ｗとリンクトレーニングを行うために誤り率測定装置１のエラー検出器４に入力され、他方がパラメータ値の変化を観測するための波形測定装置２１に入力される。そして、波形測定装置２１で取得したデータの波形をデコードすることにより、被測定物Ｗがパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更の指示を受けてから実際にパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）を変更するまでの応答時間を測定する。

【0055】

また、上述した実施の形態では、規格としてＰＣＩｅを例にとって説明したが、被測定物Ｗとの間のリンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値の変更指示があったときの応答時間の測定が要求される規格であれば、ＰＣＩｅのみに限定されるものではない。

【0056】

このように、本実施の形態によれば、少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態でパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９への変更指示を全て送信し、それらに対応するＣｕｒｓｏｒ値を一度に全て取得する構成なので、従来の手法ではＣｕｒｓｏｒによる試験を行う前にＰｒｅｓｅｔで１０回の試験が必要であったのに対し、Ｐｒｅｓｅｔ１回の試験でＣｕｒｓｏｒによる試験が可能となり、操作回数が低減できるとともに、測定時間が短縮できる。これにより、例えば複数の被測定物のＣｕｒｓｏｒ試験のみを連続して行いたい場合などに、作業が効率化でき有用である。さらに、被測定物に対してパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を全て送信し、それらに対応するＣｕｒｓｏｒ値を一度に全て取得する動作を１回のリンクトレーニング中に行えば、一段と作業の効率化が可能である。

【0057】

以上、本発明に係る誤り率測定装置およびパラメータ取得方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

【符号の説明】

【0058】

１ 誤り率測定装置
２ 設定部
３ パターン発生器
４ エラー検出器
１１ データ送信部
１２ トリガ発生部
１３ データ受信部
１３ａ リンク状態管理部（ＬＴＳＳＭ）
１３ｂ エラー検出部
１４ 記憶部
１５ 表示部
２１ 波形測定装置
２２，２３ ディバイダ
Ｗ 被測定物（ＤＵＴ）
Ｗ１ リンク状態管理部（ＬＴＳＳＭ）
Ｗ２ データ受信部
Ｗ３ データ送信部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】