(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022046237
(43)【公開日】2022-03-23
(54)【発明の名称】検査装置、および、検査システム
(51)【国際特許分類】
G01N 23/04 20180101AFI20220315BHJP
G01N 23/18 20180101ALI20220315BHJP
【ＦＩ】
G01N23/04 340
G01N23/18
【審査請求】未請求
【請求項の数】11
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2020152175
(22)【出願日】2020-09-10
(71)【出願人】
【識別番号】000147833
【氏名又は名称】株式会社イシダ
(74)【代理人】
【識別番号】110000202
【氏名又は名称】新樹グローバル・アイピー特許業務法人
(72)【発明者】
【氏名】久保 拓右
【テーマコード（参考）】
2G001
【Ｆターム（参考）】
2G001AA01
2G001BA11
2G001BA15
2G001CA01
2G001DA08
2G001FA01
2G001FA06
2G001GA06
2G001HA07
2G001HA13
2G001JA09
2G001JA13
2G001KA05
2G001LA01
2G001PA03
2G001PA11
(57)【要約】
【課題】本開示の１つの目的は、異常確信度の確認が容易な検査装置、および、検査システムを提供することにある。
【解決手段】検査装置は、照射部と、検出部と、画像生成部と、表示部と、制御部と、を備える。照射部は、物品に電磁波を照射する。限定するものではないが、本実施形態において、電磁波はＸ線である。検出部は、物品Ｐを透過したＸ線を検出する。画像生成部は、検出部の検出結果に基づいて、物品Ｐの検査画像を生成する。表示部は、検査画像を表示する。制御部は、表示部における検査画像の表示態様を変更させる。制御部は、検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出する。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる。
【選択図】図１０
【解決手段】検査装置は、照射部と、検出部と、画像生成部と、表示部と、制御部と、を備える。照射部は、物品に電磁波を照射する。限定するものではないが、本実施形態において、電磁波はＸ線である。検出部は、物品Ｐを透過したＸ線を検出する。画像生成部は、検出部の検出結果に基づいて、物品Ｐの検査画像を生成する。表示部は、検査画像を表示する。制御部は、表示部における検査画像の表示態様を変更させる。制御部は、検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出する。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる。
【選択図】図１０
【特許請求の範囲】
【請求項1】
物品を検査する検査装置であって、
前記物品に電磁波を照射する照射部と、
前記物品を透過した又は前記物品に反射した前記電磁波を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果に基づいて、前記物品の検査画像を生成する画像生成部と、
前記検査画像を表示する表示部と、
前記表示部における前記検査画像の表示態様を変更させる制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出し、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる、
検査装置。
前記物品に電磁波を照射する照射部と、
前記物品を透過した又は前記物品に反射した前記電磁波を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果に基づいて、前記物品の検査画像を生成する画像生成部と、
前記検査画像を表示する表示部と、
前記表示部における前記検査画像の表示態様を変更させる制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出し、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる、
検査装置。
【請求項2】
前記画素は、画素値として色相を含み、
前記制御部は、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる際に、異なる前記異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる、
請求項１に記載の検査装置。
前記制御部は、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる際に、異なる前記異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる、
請求項１に記載の検査装置。
【請求項3】
前記画素は、画素値として明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含み、
前記制御部は、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる際に、異なる前記異常確信度に対し明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる、
請求項１又は２に記載の検査装置。
前記制御部は、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる際に、異なる前記異常確信度に対し明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる、
請求項１又は２に記載の検査装置。
【請求項4】
前記制御部は、前記異常確信度が第１閾値以上である画素と、前記第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせ、且つ第１閾値以上である画素については前記異常確信度に応じて表示態様を変化させ、前記検査画像を視覚的に区分して、前記表示部に表示させる、
請求項１から３のいずれか１項に記載の検査装置。
請求項１から３のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項5】
前記制御部は、前記異常確信度が前記第１閾値未満である前記画素については前記検査画像における画素値に基づいて前記表示部に表示させる、
請求項４に記載の検査装置。
請求項４に記載の検査装置。
【請求項6】
前記制御部は、前記異常確信度が第１閾値以上である画素と、前記第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせ、且つ第１閾値未満である画素については前記異常確信度に応じて表示態様を変化させ、前記検査画像を視覚的に区分して、前記表示部に表示させる、請求項１から３のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項7】
前記制御部は、前記異常確信度が第１閾値以上である画素と、前記第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせ、且つ前記異常確信度が前記第１閾値以上である前記画素については前記検査画像における画素値に基づいて、前記表示部に表示させる、
請求項６に記載の検査装置。
請求項６に記載の検査装置。
【請求項8】
前記制御部は、前記異常確信度が前記第１閾値よりも小さい閾値である第２閾値未満である前記画素については、前記検査画像における画素値に基づいて前記表示部に表示させる、
請求項６又は７に記載の検査装置。
請求項６又は７に記載の検査装置。
【請求項9】
前記制御部は、
前記異常確信度が前記第１閾値未満である画素であって、且つ、前記異常確信度が前記第１閾値以上である前記画素からの距離が所定範囲内に位置する前記画素を、前記検査画像における画素値に基づいて、前記表示部に表示させる、
請求項６から８のいずれか１項に記載の検査装置。
前記異常確信度が前記第１閾値未満である画素であって、且つ、前記異常確信度が前記第１閾値以上である前記画素からの距離が所定範囲内に位置する前記画素を、前記検査画像における画素値に基づいて、前記表示部に表示させる、
請求項６から８のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項10】
前記制御部は、前記異常確信度が前記第１閾値未満である画素であって、且つ、前記異常確信度が前記第１閾値以上である前記画素からの距離が所定範囲内に位置する前記画素に対して、マーキングを行って表示させる、
請求項６から９のいずれか１項に記載の検査装置。
請求項６から９のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項11】
請求項１から１０のいずれか１項に記載の検査装置と、
物品を、第１方向と、前記第１方向とは異なる第２方向とに振り分ける、振分部と、
を備え、
前記検査装置の前記制御部は、前記検査画像に含まれる前記画素のうち、
前記異常確信度の大きさが前記第１閾値以上である前記画素が所定数以上である場合に、前記検査画像に対応する前記物品に異常があると判断して、前記振分部に、前記物品を前記第１方向に振り分けさせるとともに、
それ以外の場合に、前記検査画像に対応する前記物品に異常がないと判断して、前記振分部に、前記物品を前記第２方向に振り分けさせる、
検査システム。
物品を、第１方向と、前記第１方向とは異なる第２方向とに振り分ける、振分部と、
を備え、
前記検査装置の前記制御部は、前記検査画像に含まれる前記画素のうち、
前記異常確信度の大きさが前記第１閾値以上である前記画素が所定数以上である場合に、前記検査画像に対応する前記物品に異常があると判断して、前記振分部に、前記物品を前記第１方向に振り分けさせるとともに、
それ以外の場合に、前記検査画像に対応する前記物品に異常がないと判断して、前記振分部に、前記物品を前記第２方向に振り分けさせる、
検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、検査装置、および、検査システムに関する。
【背景技術】
【0002】
従来、特許文献１（特開２０１４－０４８１７８号公報）に開示されているように、物品に対して電磁波としてのＸ線を照射し、検査画像としてのＸ線画像を作成することで、物品の異常を検出する検査装置が知られている。
【0003】
上記の特許文献１に記載の検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。また、上記の特許文献１では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域を赤色に塗りつぶす例が示されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上記の特許文献１に記載の検査装置では、異常確信度を、Ｘ線画像から容易に確認することができない。
【0005】
本開示の課題は、異常確信度を容易に確認することができる検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
第１観点に係る検査装置は、物品を検査する検査装置である。検査装置は、照射部と、検出部と、画像生成部と、表示部と、制御部と、を備える。照射部は、物品に電磁波を照射する。検出部は、物品を透過した又は物品に反射した電磁波を検出する。画像生成部は、検出部の検出結果に基づいて、物品の検査画像を生成する。表示部は、検査画像を表示する。制御部は、表示部における検査画像の表示態様を変更させる。制御部は、検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出する。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる。
【0007】
この構成によれば、異常確信度を確認することが容易である。
【0008】
第２観点に係る検査装置は、第１観点に係る検査装置であって、画素は、画素値として色相を含む。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。
【0009】
第３観点に係る検査装置は、第１観点又は第２観点に係る検査装置であって、画素は、画素値として明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含む。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる。
【0010】
第４観点に係る検査装置は、第１観点から第３観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素と、第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部に表示させる。
【0011】
第５観点に係る検査装置は、第４観点に係る検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値未満である画素については検査画像における画素値に基づいて表示部に表示させる。
【0012】
第６観点に係る検査装置は、第１観点から第３観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素と、第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部は、第１閾値未満である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部に表示させる。
【0013】
第７観点に係る検査装置は、第６観点に係る検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素と、第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素については検査画像における画素値に基づいて、表示部に表示させる。
【0014】
第８観点に係る検査装置は、第６観点又は第７観点に係る検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値よりも小さい閾値である第２閾値未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部に表示させる。
【0015】
第９観点に係る検査装置は、第６観点から第８観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素を、検査画像における画素値に基づいて、表示部に表示させる。
【0016】
第１０観点に係る検査装置は、第６観点から第９観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。
【0017】
第１１観点に係る検査システムは、第１観点から第１０観点のいずれかに記載の検査装置と、振分部と、を備える。振分部は、物品を、第１方向と、第１方向とは異なる第２方向とに振り分ける。検査装置の制御部は、検査画像に含まれる画素のうち、異常確信度の大きさが第１閾値以上である画素が所定数以上である場合に、検査画像に対応する物品に異常があると判断して、振分部に、物品を第１方向に振り分けさせる。制御部は、それ以外の場合に、検査画像に対応する物品に異常がないと判断して、振分部に、物品を第２方向に振り分けさせる。
【0018】
この検査システムは、異常確信度を確認することが容易な検査装置を備えている。このため、第１１観点に係る検査システムでは、作業効率が向上する。
【発明の効果】
【0019】
本発明に係る検査装置および、検査システムでは、異常確信度の確認が容易である。
【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】本発明の一実施形態である検査装置の外観を示す斜視図である。
【図2】検査装置が組み込まれる検査システムの概略図である。
【図3】検査装置のシールドボックスの内部の概略図である。
【図4】検知部によって検出される透過Ｘ線の強度の例を示すグラフである。
【図5】表示部と表示部に表示される検査画像の例を示す概略図である。
【図6】制御装置のブロック図である。
【図7】ニューラルネットワークの構成を示す模式図である。
【図8】画像生成部により生成される画像の一例である。
【図9A】画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図9B】画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図10】画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図11】検査装置が物品を検査する処理のフローチャートである。
【図12】画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図13】画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図14】画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図15】画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図16】第２実施形態に係る制御装置のブロック図である。
【図17】第２実施形態に係る表示部と表示部に表示される検査画像の例を示す概略図である。
【図18】第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図19】第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図20】第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図21】第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図22】第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。
【図23】従来技術に係る検査装置によって生成される検査画像の一例である。
【発明を実施するための形態】
【0021】
以下、本開示の一実施形態に係る検査装置について図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態は、具体例であって、技術的範囲を限定するものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。また、以下の図面では各構成部材の大きさの関係が実際のものとは異なる場合がある。
【0022】
【0023】
図１は、本開示に係る検査装置１０の一実施形態であるＸ線検査装置の外観を示す斜視図である。なお、後述するように、本開示はＸ線検査装置のみに適用されるものではなく、多種多様な装置に適用可能である。図２は、検査装置１０が組み込まれる検査システム１００の概略図である。検査システム１００は、検査装置１０と、振分部７０と、を備える。本実施形態に係る検査システム１００では、検査装置１０と振分部７０とがそれぞれ別体に構成されている。検査装置１０と振分部７０とは、通信線等によって電気的に接続されている。この構成により、検査装置１０の後述する制御部５２は、検査装置１０と、振分部７０とを制御することができる。検査システム１００は、物品Ｐの検査を行う。検査システム１００において、物品Ｐは、前段コンベア６０によって検査装置１０まで搬送される。図２では、物品Ｐが搬送される方向は、矢印で示されている。
【0024】
検査装置１０は、前段コンベア６０によって連続的に搬送されてくる物品Ｐに電磁波としてのＸ線を照射することにより、物品Ｐの検査を行う。例えば、本実施形態に係る検査装置１０は、物品Ｐの異物混入検査を行い、検査結果に基づいて物品Ｐを良品又は不良品に分類する。なお、後述するように、本開示に係る検査装置が行う検査は異物混入検査に限定されるものではなく、検査装置１０は多種多様な検査を実施することができる。検査装置１０によって行われた検査の結果は、制御部５２によって、検査装置１０の下流側に配置されている振分部７０の振分部制御装置１７０に送られる。
【0025】
振分部制御装置１７０は、検査装置１０において良品と判断された物品Ｐを、第１方向Ｄ１へ振り分けるように振分部７０を制御する。第１方向Ｄ１は、例えば良品を排出する後段コンベア８０へと向かう方向である。振分部制御装置１７０は、検査装置１０において不良品と判断された物品Ｐを、第２方向Ｄ２へ振り分けるように振分部７０を制御する。第２方向Ｄ２は、例えば不良品排出方向であり、第２方向Ｄ２に振り分けられた物品Ｐは、検査システム１００から排出される。詳細は後述する。
【0026】
なお、限定するものではないが、本実施形態における物品Ｐは、例えば鶏肉である。また、物品Ｐに含まれる異物は、例えば骨である。
【0027】
（２）検査装置の詳細な説明
本実施形態に係る検査装置１０は、主として、シールドボックス１１と、搬送ユニット１２と、照射部２０と、検出部３０と、表示部４０と、制御装置５０と、から構成される。
本実施形態に係る検査装置１０は、主として、シールドボックス１１と、搬送ユニット１２と、照射部２０と、検出部３０と、表示部４０と、制御装置５０と、から構成される。
【0028】
（２－１）シールドボックス
図３は、検査装置１０のシールドボックス１１の内部の概略図である。シールドボックス１１は、検査装置１０のケーシングである。図１に示されるように、シールドボックス１１の両側面には、物品Ｐを搬出入するための開口１１ａが形成されている。開口１１ａは、シールドボックス１１の外部から内部に物品Ｐを搬入するため、又は、シールドボックス１１の内部から外部に物品Ｐを搬出するために用いられる。開口１１ａは、遮蔽のれん１９により塞がれている。遮蔽のれん１９は、シールドボックス１１の内部から外部へのＸ線の漏洩を抑える。遮蔽のれん１９は、タングステンシートから成形される。遮蔽のれん１９は、物品Ｐが搬出入される時に物品Ｐによって押しのけられる。
図３は、検査装置１０のシールドボックス１１の内部の概略図である。シールドボックス１１は、検査装置１０のケーシングである。図１に示されるように、シールドボックス１１の両側面には、物品Ｐを搬出入するための開口１１ａが形成されている。開口１１ａは、シールドボックス１１の外部から内部に物品Ｐを搬入するため、又は、シールドボックス１１の内部から外部に物品Ｐを搬出するために用いられる。開口１１ａは、遮蔽のれん１９により塞がれている。遮蔽のれん１９は、シールドボックス１１の内部から外部へのＸ線の漏洩を抑える。遮蔽のれん１９は、タングステンシートから成形される。遮蔽のれん１９は、物品Ｐが搬出入される時に物品Ｐによって押しのけられる。
【0029】
シールドボックス１１の内部には、搬送ユニット１２、照射部２０、検出部３０及び制御装置５０等が収容されている。シールドボックス１１の正面上部には、表示部４０、入力用のキー、及び、電源スイッチ等が配置されている。
【0030】
（２－２）搬送ユニット
搬送ユニット１２は、シールドボックス１１の内部を通過するように物品Ｐを搬送するためのベルトコンベアである。図１に示されるように、搬送ユニット１２は、シールドボックス１１の両側面に形成された開口１１ａを貫通するように配置されている。
搬送ユニット１２は、シールドボックス１１の内部を通過するように物品Ｐを搬送するためのベルトコンベアである。図１に示されるように、搬送ユニット１２は、シールドボックス１１の両側面に形成された開口１１ａを貫通するように配置されている。
【0031】
搬送ユニット１２は、主として、コンベアモータ１２ａと、エンコーダ１２ｂと、コンベアローラ１２ｃと、無端状のベルト１２ｄとから構成されている。コンベアローラ１２ｃは、コンベアモータ１２ａによって駆動される。コンベアローラ１２ｃの駆動により、ベルト１２ｄが回転し、ベルト１２ｄ上の物品Ｐが搬送される。図４において、物品Ｐが搬送される方向は矢印で示されている。
【0032】
搬送ユニット１２による物品Ｐの搬送速度は、検査装置１０のオペレータによって入力された設定速度に応じて変動する。制御装置５０は、設定速度に基づいてコンベアモータ１２ａをインバータ制御し、物品Ｐの搬送速度を細かく制御する。搬送ユニット１２のエンコーダ１２ｂは、コンベアモータ１２ａの回転速度を検出することで物品Ｐの搬送速度を算出し、制御装置５０に送信する。
【0033】
なお、搬送ユニット１２は、搬送機構としてベルトコンベアを用いているが、ベルトコンベアの代わりにトップチェーンコンベア及び回転テーブル等を搬送機構として用いてもよい。
【0034】
（２－３）照射部
照射部２０は、シールドボックス１１内部の所定の位置まで搬送ユニット１２によって搬送された物品Ｐに、電磁波の一例としてのＸ線を照射するＸ線源である。照射部２０から照射されるＸ線には、様々なエネルギーのＸ線が含まれている。
照射部２０は、シールドボックス１１内部の所定の位置まで搬送ユニット１２によって搬送された物品Ｐに、電磁波の一例としてのＸ線を照射するＸ線源である。照射部２０から照射されるＸ線には、様々なエネルギーのＸ線が含まれている。
【0035】
図３に示されるように、照射部２０は、搬送ユニット１２の上方に配置されている。照射部２０は、搬送ユニット１２の下方に配置される検出部３０に向けて扇状のＸ線（放射光）を照射する。Ｘ線の照射範囲ＩＲは、図３に示されるように、搬送ユニット１２の搬送面に対して垂直であり、かつ、搬送ユニット１２によって物品Ｐが搬送される方向に対して直交する方向に広がる。換言すると、照射部２０から照射されるＸ線は、ベルト１２ｄの幅方向に広がる。
【0036】
（２－４）検出部
検出部３０は、照射部２０から照射されたＸ線を検出するセンサである。具体的には、検出部３０は、搬送ユニット１２によって搬送された物品Ｐを透過したＸ線である透過Ｘ線を検出する。
検出部３０は、照射部２０から照射されたＸ線を検出するセンサである。具体的には、検出部３０は、搬送ユニット１２によって搬送された物品Ｐを透過したＸ線である透過Ｘ線を検出する。
【0037】
図３に示されるように、検出部３０は、搬送ユニット１２のベルト１２ｄの下方に配置されている。検出部３０は、複数のＸ線検出素子３０ａから構成されている。複数のＸ線検出素子３０ａは、搬送ユニット１２によって物品Ｐが搬送される方向に直交する方向（ベルト１２ｄの幅方向）に沿って一直線に水平に配置されている。
【0038】
検出部３０は、透過Ｘ線を検出し、検出された透過Ｘ線の強度に応じた電圧を示すＸ線透過信号を出力する。Ｘ線透過信号は、後述するように、物品Ｐの透過画像（検査画像）の生成に用いられる。図４は、検出部３０によって検出される透過Ｘ線の強度の例を示すグラフである。グラフの横軸は、検出部３０上の位置を表す。グラフの縦軸は、検出部３０が検出した透過Ｘ線の強度を表す。
【0039】
物品Ｐの検査画像では、透過Ｘ線の検出量の多いところが明るく（輝度が高く）表示され、透過Ｘ線の検出量が少ないところが暗く（輝度が低く）表示される。すなわち、物品Ｐの検査画像の明暗（輝度）は、透過Ｘ線の検出量に依存する。図４に示されるように、物品Ｐを透過したＸ線の検出量は、物品Ｐを透過しなかったＸ線の検出量より低い。
【0040】
（２－５）表示部
本実施形態において、表示部４０は、タッチパネル機能付きの液晶ディスプレイである。表示部４０は、検査装置１０の入力部としても機能する。表示部４０には、例えば物品Ｐの検査結果等が表示される。また、図５に示されるように、表示部４０には、物品Ｐの良否判断に関するパラメータの入力のための画面等が表示される。
本実施形態において、表示部４０は、タッチパネル機能付きの液晶ディスプレイである。表示部４０は、検査装置１０の入力部としても機能する。表示部４０には、例えば物品Ｐの検査結果等が表示される。また、図５に示されるように、表示部４０には、物品Ｐの良否判断に関するパラメータの入力のための画面等が表示される。
【0041】
検査装置１０のオペレータは、表示部４０を操作して、検査パラメータ及び動作設定情報等を入力することができる。検査パラメータとは、物品Ｐの良否を判定するために必要なパラメータである。具体的には、検査パラメータは、物品Ｐに含まれる異常（異物）の有無を判定するために用いられる第１閾値Ｋ１等の閾値や、異常確信度等である。動作設定情報とは、物品Ｐの検査速度、及び、搬送ユニット１２の搬送方向等の情報である。
【0042】
本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、物品の異常確信度に関する閾値である。本実施形態においては、物品Ｐの検査画像を構成する画素の異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上となることで、又は、第１閾値Ｋ１以下となることで、検査画像の表示態様が変化する。詳細は後述する。
【0043】
本実施形態において、異常確信度は、物品Ｐに生じている異常状態の確からしさを示すパラメータである。物品Ｐに生じている異常状態とは、例えば、物品Ｐに異物が混入されている状態等を含む。異常確信度は、物品Ｐの検査画像を構成する画素から算出することができる。詳細は後述する。
【0044】
本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、異常確信度の上限又は下限を限度として設定することができる。限定するものではないが、本実施形態において、異常確信度の下限は０で、上限は２５５とする。本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、例えば異常確信度１５０に設定されるものとする。
【0045】
本開示に係る検査装置１０は、第１閾値Ｋ１の大きさの変更をオペレータ（ユーザ）から受け付ける閾値変更部９０を備える。後述する制御部５２は、閾値変更部９０が受け付けた変更に応じて、検査画像の画素の表示態様を変化させる。
【0046】
本実施形態において、閾値変更部９０は、表示部４０に表示される（図５参照）。検査装置１０のオペレータは、閾値変更部９０を通じて、第１閾値Ｋ１を変更することができる。第１閾値Ｋ１は、例えば図５に示すようなトグルスイッチ９１を左右にスライドさせることで変更することができる。ただし、第１閾値Ｋ１の変更手段はこれに限定されるものではなく、第１閾値Ｋ１は、ボタン、目盛、手入力、タッチ操作、その他様々な手段によって、変更されるものであってもよい。
【0047】
表示部４０は、制御装置５０に接続されており、制御装置５０と信号の送受信を行う。表示部４０によって入力された検査パラメータ及び動作設定情報は、制御装置５０の記憶部５１に記憶される。
【0048】
（２－６）制御装置
制御装置５０は、主として、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ及びＨＤＤ（ハードディスクドライブ）等によって構成されている。なお、ＨＤＤの代わりにＳＳＤ（ソリッドステートドライブ）が用いられてもよい。制御装置５０は、図示されない表示制御回路、入力回路及び通信ポート等も備えている。表示制御回路は、表示部４０の表示を制御する回路である。入力回路は、表示部４０のタッチパネル及び入力キーを介してオペレータによって入力された入力データを取り込む回路である。通信ポートは、プリンタ等の外部機器、及び、ＬＡＮ等のネットワークとの接続を可能にするポートである。
制御装置５０は、主として、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ及びＨＤＤ（ハードディスクドライブ）等によって構成されている。なお、ＨＤＤの代わりにＳＳＤ（ソリッドステートドライブ）が用いられてもよい。制御装置５０は、図示されない表示制御回路、入力回路及び通信ポート等も備えている。表示制御回路は、表示部４０の表示を制御する回路である。入力回路は、表示部４０のタッチパネル及び入力キーを介してオペレータによって入力された入力データを取り込む回路である。通信ポートは、プリンタ等の外部機器、及び、ＬＡＮ等のネットワークとの接続を可能にするポートである。
【0049】
図６は、制御装置５０のブロック図である。制御装置５０は、主として、記憶部５１と、制御部５２と、を有する。制御装置５０は例えば、コンベアモータ１２ａ、エンコーダ１２ｂ、照射部２０、検出部３０及び表示部４０等に電気的に接続されている。制御装置５０は、エンコーダ１２ｂからコンベアモータ１２ａの回転数に関するデータを取得し、そのデータに基づいて物品Ｐの移動距離を算出する。制御装置５０は、検出部３０から出力されたＸ線透過信号を受信し、搬送ユニット１２のベルト１２ｄ上の物品ＰがＸ線の照射範囲ＩＲに到達したタイミングを検出する。
【0050】
なお、本実施形態に係る制御装置５０は、一実施例にすぎない。制御装置５０は、本実施形態に係る制御装置５０が発揮する機能と同様の機能を、論理回路等のハードウェアにより実現してもよいし、ハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実現してもよい。
【0051】
また、制御装置５０に代えて、又は、制御装置５０とともに、本実施形態で説明する制御装置５０の機能の一部又は全部を実現する制御装置を有してもよい。例えば、後述する画像生成部５２ａの機能は、制御装置５０以外の制御装置によって実現されてもよい。
【0052】
また、制御装置５０は、本実施形態で説明する機能の一部又は全部を有していなくてもよい。例えば、本実施形態で説明する制御装置５０の機能の一部又は全部は、検査装置１０とは別の場所に設置されるサーバ等により実現されてもよい。換言すると、制御装置５０の機能は、検査装置１０だけで実行されなくてもよく、検査装置１０とは別に設置される図示しないサーバ等により実現されてもよい。
【0053】
（２－６－１）記憶部
記憶部５１には、制御部５２に実行させる各種プログラムが記憶されている。また、記憶部５１には、表示部４０からオペレータにより入力された検査パラメータ、デフォルト値として記憶されている検査パラメータ、及び異常（異物）検査の検査結果等が記憶される。オペレータにより入力された検査パラメータには、オペレータにより閾値変更部９０を通じて入力された第１閾値Ｋ１を含む。記憶部５１は、主として、画像記憶部５１ａと、教師データ記憶部５１ｂと、を有する。
記憶部５１には、制御部５２に実行させる各種プログラムが記憶されている。また、記憶部５１には、表示部４０からオペレータにより入力された検査パラメータ、デフォルト値として記憶されている検査パラメータ、及び異常（異物）検査の検査結果等が記憶される。オペレータにより入力された検査パラメータには、オペレータにより閾値変更部９０を通じて入力された第１閾値Ｋ１を含む。記憶部５１は、主として、画像記憶部５１ａと、教師データ記憶部５１ｂと、を有する。
【0054】
（２－６－１－１）画像記憶部
画像記憶部５１ａは、検査画像に関するデータを記憶する。検査画像に関するデータとは、ここでは例えば異物無し画像データや、異物混み画像データである。異物無し画像データとは、異物や仮想異物を含まない物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物無し画像データは、Ｈ×Ｗの２次元配列である。異物混み画像データとは、異物や仮想異物を含む物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物混み画像データは、異物無し画像データと同様に、Ｈ×Ｗの２次元配列である。画像記憶部５１ａに記憶される異物混み画像データ及び異物無し画像データは、限定するものではないが、後述する画像生成部５２ａによって取得されるものであってもよい。
画像記憶部５１ａは、検査画像に関するデータを記憶する。検査画像に関するデータとは、ここでは例えば異物無し画像データや、異物混み画像データである。異物無し画像データとは、異物や仮想異物を含まない物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物無し画像データは、Ｈ×Ｗの２次元配列である。異物混み画像データとは、異物や仮想異物を含む物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物混み画像データは、異物無し画像データと同様に、Ｈ×Ｗの２次元配列である。画像記憶部５１ａに記憶される異物混み画像データ及び異物無し画像データは、限定するものではないが、後述する画像生成部５２ａによって取得されるものであってもよい。
【0055】
具体的には、異物混み画像データは、例えば、異物を含む物品Ｐを検査装置１０の搬送ユニット１２に流し、画像生成部５２ａによる処理を経ることで取得されてもよい。この場合、異物は例えば、プラスチック片や金属片や骨等であってもよいし、異物混み画像データを取得するために用意されたテストピースであってもよい。あるいは、異物混み画像データは、例えば、検査画像の任意の場所に、仮想的な異物の画像を手動で追加することにより取得されてもよい。あるいは、異物混み画像データは、例えば、検査画像に仮想的な異物の画像を自動で追加するプログラムを実行することにより取得されてもよい。
【0056】
このほか、異物混み画像データや異物無し画像データは、例えばオペレータによってデータ入力されることで、画像記憶部５１ａに記憶されるものであってもよい。
【0057】
（２－６－１－２）教師データ記憶部
教師データ記憶部５１ｂは、後述する学習部５２ｃが物品Ｐに関する特徴を取得するために使用する教師データを記憶する。教師データは、主として、画像記憶部５１ａに記憶されている検査画像から抽出された画像データ、及び、その他のデータである。その他のデータは、例えば、物品Ｐの検査画像において、物品Ｐの異常（例えば、異物等）が存在する領域（例えば、異物等の異常に該当する画素の位置）に関するデータである。教師データの詳細及び利用方法については、後述する。
教師データ記憶部５１ｂは、後述する学習部５２ｃが物品Ｐに関する特徴を取得するために使用する教師データを記憶する。教師データは、主として、画像記憶部５１ａに記憶されている検査画像から抽出された画像データ、及び、その他のデータである。その他のデータは、例えば、物品Ｐの検査画像において、物品Ｐの異常（例えば、異物等）が存在する領域（例えば、異物等の異常に該当する画素の位置）に関するデータである。教師データの詳細及び利用方法については、後述する。
【0058】
（２－６－２）制御部
制御部５２は、記憶部５１に記憶された各種プログラムを呼び出して実行し、検査装置１０の各部の制御を行う。例えば、制御部５２は、照射部２０のＸ線照射タイミングや、Ｘ線照射量を制御する。
制御部５２は、記憶部５１に記憶された各種プログラムを呼び出して実行し、検査装置１０の各部の制御を行う。例えば、制御部５２は、照射部２０のＸ線照射タイミングや、Ｘ線照射量を制御する。
【0059】
また、制御部５２は、主として、画像生成部５２ａと、教師データ取得部５２ｂと、学習部５２ｃと、画像処理部５２ｄと、検査部５２ｅと、を有する。これらは、記憶部５１に記憶されているプログラムを実行することによって実現される機能である。
【0060】
（２－６－２－１）画像生成部
画像生成部５２ａは、検出部３０によって検出された透過Ｘ線量に基づいて、図８に示すような物品ＰのＸ線画像（検査画像）を生成する。図８に示すように、物品Ｐの検査画像では、透過Ｘ線の検出量の多い領域が明るく（輝度が高く）表示され、透過Ｘ線の検出量が少ない領域が暗く（輝度が低く）表示される。すなわち、物品Ｐの検査画像の明暗（輝度）は、透過Ｘ線の検出量に依存する。画像生成部５２ａが生成する検査画像において、輝度が最低値である領域の画素は黒く、輝度が最高値である画素は白で表示される。換言すると、画像生成部５２ａが生成する検査画像は、無彩色の画像である。図８に示す領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４は、輝度が低い領域である。一方で、領域Ｂ１は、輝度が高い領域である。
画像生成部５２ａは、検出部３０によって検出された透過Ｘ線量に基づいて、図８に示すような物品ＰのＸ線画像（検査画像）を生成する。図８に示すように、物品Ｐの検査画像では、透過Ｘ線の検出量の多い領域が明るく（輝度が高く）表示され、透過Ｘ線の検出量が少ない領域が暗く（輝度が低く）表示される。すなわち、物品Ｐの検査画像の明暗（輝度）は、透過Ｘ線の検出量に依存する。画像生成部５２ａが生成する検査画像において、輝度が最低値である領域の画素は黒く、輝度が最高値である画素は白で表示される。換言すると、画像生成部５２ａが生成する検査画像は、無彩色の画像である。図８に示す領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４は、輝度が低い領域である。一方で、領域Ｂ１は、輝度が高い領域である。
【0061】
ただし、図８の表示は一例であり、実際には、輝度の高い領域であっても、異物が混入している恐れがあり、また、輝度が低い領域であっても、異物が混入しているとは限らない。このため、画像生成部５２ａで生成された段階の検査画像では、異物を確認することが容易ではない。
【0062】
画像生成部５２ａは、検出部３０の各Ｘ線検出素子から出力されるＸ線透過信号を所定の短い時間間隔で取得し、取得したＸ線透過信号に基づいて検査画像を生成する。画像生成部５２ａは、扇状のＸ線の照射範囲ＩＲ（図４参照）を物品Ｐが通過する際に各Ｘ線検出素子から出力されるＸ線透過信号に基づいて、物品Ｐの検査画像を生成する。照射範囲ＩＲにおける物品Ｐの有無は、検出部３０が出力する信号の出力のタイミングにより判断される。
【0063】
画像生成部５２ａは、検出部３０の各Ｘ線検出素子３０ａから得られる透過Ｘ線の強度に関する所定の時間間隔ごとのデータを時系列的に沿ってマトリックス状につなぎ合わせて、物品Ｐの検査画像を生成する。
【0064】
（２－６－２－２）教師データ取得部
教師データ取得部５２ｂは、学習部５２ｃが使用する教師データを、画像記憶部５１ａから取得する。画像記憶部５１ａには、異物無し画像データや、異物混み画像データが記憶されている。異物無し画像データとは、異物や仮想異物を含まない物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物無し画像データは、Ｈ×Ｗの２次元配列である。異物混み画像データとは、異物や仮想異物を含む物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物混み画像データは、異物無し画像データと同様に、Ｈ×Ｗの２次元配列である。
教師データ取得部５２ｂは、学習部５２ｃが使用する教師データを、画像記憶部５１ａから取得する。画像記憶部５１ａには、異物無し画像データや、異物混み画像データが記憶されている。異物無し画像データとは、異物や仮想異物を含まない物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物無し画像データは、Ｈ×Ｗの２次元配列である。異物混み画像データとは、異物や仮想異物を含む物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物混み画像データは、異物無し画像データと同様に、Ｈ×Ｗの２次元配列である。
【0065】
教師データ取得部５２ｂは、画像記憶部５１ａに記憶されているこれらの異物無し画像データや、異物混み画像データを教師データとして取得する。例えば、教師データ取得部５２ｂは、画像記憶部５１ａに予め記憶されている異物無し画像データや異物混み画像データを、合わせて数百枚又は数千枚取得する。
【0066】
（２－６－２－３）学習部
学習部５２ｃは、教師データ取得部５２ｂが取得した教師データを用いて、学習モデル１３６の学習処理を実行する。学習モデル１３６に用いられる機械学習の例としては、ニューラルネットワーク、サポートベクターマシン、ランダムフォレスト等が挙げられる。
学習部５２ｃは、教師データ取得部５２ｂが取得した教師データを用いて、学習モデル１３６の学習処理を実行する。学習モデル１３６に用いられる機械学習の例としては、ニューラルネットワーク、サポートベクターマシン、ランダムフォレスト等が挙げられる。
【0067】
学習部５２ｃは、教師データ取得部５２ｂが取得した異物無し画像データや異物混み画像データに係る多数の教師データを用いて学習モデル１３６を生成する。
【0068】
本実施形態では、図７に示すように、学習モデル１３６は、畳み込みニューラルネットワーク（ＣＮＮ）１３０である。畳み込みニューラルネットワーク１３０は、入力層１３１、中間層１３２及び出力層１３３を含む。
【0069】
入力層１３１では、異物無し画像データや異物混み画像データからなる教師データが入力される。入力層１３１は、Ｈ×Ｗの２次元配列を入力できるように構成する。
【0070】
中間層１３２は、畳み込み層１３２ａとプーリング層１３２ｂとを有する。畳み込み層１３２ａは、画像データの局所的な特徴を抽出する層である。プーリング層１３２ｂは、画像データの局所的な特徴をまとめる層である。畳み込み層１３２ａとプーリング層１３２ｂとは、交互に繰り返す構成を取るものであってもよい。畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂの構成は、ＲｅｓＮｅｔ（Ｒｅｓｉｄｕａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）等の代表的なモデルを用いてもよい。また、畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂの構成は、例えば、正解率が最良となるように、適宜カスタマイズされてもよい。中間層１３２の最後の層は、全結合層１３２ｃとする。畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂは、各層のノードを用いた演算によって、入力層１３１を通じて入力される異物無し画像データや異物混み画像データの特徴を抽出する。全結合層１３２ｃは、畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂを通して特徴部分が取り出された経過画像を１つのノードに結合し、活性化関数によって変換した値を特徴ベクトルとして出力する。限定するものではないが、中間層１３２では、活性化関数の一例としてＲｅＬＵ関数を用いる。全結合層１３２ｃが出力した特徴ベクトルは、出力層１３３に送出される。
【0071】
出力層１３３では、例えば、物品Ｐの異常状態の確からしさを示す異常確信度が出力される。本実施形態における異常状態とは、限定するものではないが、例えば物品Ｐに異物が含まれている状態である。出力層１３３の活性化関数は、例えば、シグモイド関数を用いる。
【0072】
畳み込みニューラルネットワーク１３０の損失関数は、例えば、交差エントロピーを用いる。畳み込みニューラルネットワーク１３０の最適化は、例えば最急降下法等を用いる。
【0073】
学習部５２ｃは、上記機械学習を実行することにより、画像生成部５２ａが生成した検査画像が入力されることで、検査画像を構成する画素ごとに、異常確信度を算出（出力）する学習モデル１３６を生成する。
【0074】
本実施形態に係る学習モデル１３６は、例えば、検査画像の輝度に基づいて異常確信度を算出するよう機械学習が行われたものであってもよい。この場合、検査画像において、画素値としての輝度が小さい領域の画素（換言すると、透過したＸ線の強度が弱い領域の画素）については、異常確信度を大きく算出するものであってもよい。また、該当画素の画素値と、近傍の画素の画素値との関係性から、異常確信度を算出するものであってもよい。
【0075】
本実施形態に係る学習モデル１３６は、画像生成部５２ａが生成した検査画像に対して自動的に異常確信度を算出する。ただし、検査画像は、画像生成部５２ａや検査部５２ｅ、その他記憶部５１に記憶された各種プログラムを制御部５２が実行することによって、学習モデル１３６に入力されるものであってもよい。この場合、学習モデル１３６は、検査画像が入力されるごとに異常確信度を算出する。
【0076】
ここでは、学習モデル１３６は、検査画像を構成する画素の異常確信度の大きさを、０～２５５の２５６段階に分類する。
【0077】
（２－６－２－４）画像処理部
画像処理部５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像であって、学習モデル１３６によって画素ごとの異常確信度が算出された検査画像に対して画像処理を行う。画像処理部５２ｄは、検査画像の画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。当該検査画像は、表示部４０に表示される。
画像処理部５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像であって、学習モデル１３６によって画素ごとの異常確信度が算出された検査画像に対して画像処理を行う。画像処理部５２ｄは、検査画像の画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。当該検査画像は、表示部４０に表示される。
【0078】
詳細には、画像処理部５２ｄは、検査画像を構成する画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。
【0079】
（ａ）例えば、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素との表示態様を異ならせる。なおかつ、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。以下、このような表示態様を、第１表示態様と呼ぶことがある。
【0080】
（ｂ）上記の（ａ）で説明した態様（第１表示態様）で検査画像を表示する場合、好ましくは、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第２表示態様と呼ぶことがある。
【0081】
以下、具体的に説明する。
【0082】
（ａ）第１表示態様
第１表示態様では、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。
第１表示態様では、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。
【0083】
例えば、本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図９Ａの（ａ）に示すような検査画像を作成し、表示部４０のＣ１で示す領域（図５参照）に表示させる。
【0084】
図９Ａの（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。上記の通り、本実施形態では、第１閾値Ｋ１は異常確信度１５０に設定されている。このため、図９Ａの（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが１５０以上の画素からなる領域であると考えられる。換言すると、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１を上回る程度に、異常状態が生じている恐れがあると考えられる領域である。より具体的には、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４には、例えば異物が混入している恐れがある。なお、図９Ａの（ａ）に示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素によって構成される領域は、表示部４０に表示されていない。
【0085】
以下、図９の（ａ）においては、領域Ａ１を構成する画素の異常確信度が最も大きく、Ａ２、Ａ３、Ａ４、の順に、異常確信度が低下しているものとして説明する。本実施形態において、検査画像を構成する各画素の画素値としての色相は、第１閾値Ｋ１の大きさに応じて変化する。より具体的には、検査画像の各画素から算出される異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているかに応じて、検査画像の各画素の表示態様は変化する。ここで、画像処理部５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい画素から順に、赤色、橙色、緑色、空色に対応させるとする。この場合、例えば、最も異常確信度が大きい画素からなるＡ１の領域が赤色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ２の領域が橙色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ３の領域が緑色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ４の領域が空色に対応しており、画像処理部５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部４０に表示させる。ただし、これらの表示の態様はあくまでも一例であって、例えば、各異常確信度に対応する色は、適宜変更可能である。詳細は以下の（ｂ）や変形例１Ｉで後述する。
【0086】
なお、図面の都合上、本願図面において色相の変化は、ハッチングの態様を変化させることで表現している。
【0087】
このように、本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素と、の表示態様を異ならせている。なおかつ、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させている。
【0088】
図９Ａの（ａ）に示すように、本実施形態に係る検査装置１０によって表示される検査画像では、異常確信度を確認することが容易である。
【0089】
また、画像生成部５２ａで生成された無彩色の検査画像（図８参照）と比較して、画像処理部５２ｄによる処理を経た有彩色の検査画像（図９Ａの（ａ）参照）は、異物の有無や異常確信度の大きさを直感的に把握することができる。
【0090】
なお、図９Ａの（ａ）に示すように、表示部４０には、異常確信度の大きさに対応したカラーバー４５が表示されていてもよい。これにより、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。図９Ａの（ａ）では、上方から下方に向けて、確信度が大きいものから順に、表示される色相を並べて表示している。検査装置１０のオペレータは、カラーバー４５を確認することで、異常確信度が、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているかを確認することができる。ここでは、カラーバー４５は、第１閾値Ｋ１に対する異常確信度の相対的な大きさを示すものである。例えば、カラーバー４５の上部４５ａに表示されている色に対応した色が表示されている領域（図９Ａの（ａ）では、領域Ａ１）は、異常確信度が第１閾値Ｋ１を大きく上回っている画素によって構成されている領域である。また、カラーバー４５の底部４５ｂの色に対応した色が表示されている領域（図９Ａの（ａ）では、領域Ａ４）は、異常確信度が第１閾値Ｋ１を僅かに上回る画素によって構成されている領域である。この構成によれば、カラーバー４５を参照することで、各領域を構成する画素の異常確信度が、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかを容易に確認することができる。
【0091】
ただし、カラーバー４５による表示は、上記の例に限定されるものではなく、カラーバー４５は、異常確信度の絶対的な大きさに対応するものであってもよい。例えば、カラーバー４５には、２５６階調の色相が表示されているものであってもよい。この場合、カラーバーの上部４５ａは、異常確信度の最大値（ここでは、２５５）に対応する色を表示し、底部４５ｂは、異常確信度の最小値（ここでは、０）に対応した色を表示する。また、この場合、第１閾値Ｋ１に対応する色相を示すマーク（矢印等）が、カラーバー４５とともに表示されるものであってもよい。
【0092】
また、第１閾値Ｋ１の変更は、カラーバー４５から受け付けるものであってもよい。換言すると、カラーバー４５は、閾値変更部９０として機能するものであってもよい。この場合、カラーバー４５は、図５に示すようなトグルスイッチ９１を有するものであってもよい。あるいは、図９Ａの（ｂ）に示すように、表示部４０には、カラーバー４５とともに、閾値変更部９０が表示されるものであってもよい。
【0093】
なお、本実施形態においては、画像生成部５２ａで生成された検査画像は、画像処理部５２ｄによる処理を経ることで、画素値としての色相を含む検査画像となる。
【0094】
（ｂ）第２表示態様
第２表示態様では、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。なおかつ、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させる。
第２表示態様では、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。なおかつ、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させる。
【0095】
例えば、本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図１０の（ａ）に示すような検査画像を作成し、表示部４０のＣ１で示す領域に表示させる。
【0096】
図１０の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ３、で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図１０の（ａ）において、領域Ａ４、Ｂ１は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。
【0097】
ここで、画像処理部５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい画素から順に、赤色、橙色、緑色、に対応させるとする。この場合、例えば、最も異常確信度が大きい画素からなるＡ１の領域が赤色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ２の領域が橙色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ３の領域が緑色に、対応しており、画像処理部５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部４０に表示させる。ただし、これらの表示はあくまでも一例であって、適宜変更可能である。
【0098】
また、図１０の（ａ）に示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域Ａ４、Ｂ１については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示されている。換言すると、制御部５２は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域については、画像生成部５２ａによって生成された状態から特に処理を加えることなく、表示部４０に表示する。なお、本願図面において、検査画像における画素値に基づいて表示される領域については、斜線のハッチングを付して表現している（図８参照）。
【0099】
このように、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については、異常確信度に応じて表示態様を変化させる一方で、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については、画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させている。このため、本実施形態に係る検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0100】
また、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、検査画像において、物品Ｐと、異常確信度が第１閾値Ｋ１を超える画素からなる領域と、の関係を確認することが容易である。例えば、物品Ｐと、異常確信度が第１閾値Ｋ１を超える画素からなる領域と、の位置関係を確認することが容易である。このように、本実施形態に係る検査装置１０では、異常確信度をより容易に確認することができる。
【0101】
（２－６－２－５）検査部
検査部５２ｅは、学習モデル１３６によって算出された異常確信度を用いて、物品Ｐに異常が生じているか否か（物品Ｐが良品であるか否か）を判断する。限定するものではないが、本実施形態における異常状態とは、物品Ｐに異物が混入されている状態である。
検査部５２ｅは、学習モデル１３６によって算出された異常確信度を用いて、物品Ｐに異常が生じているか否か（物品Ｐが良品であるか否か）を判断する。限定するものではないが、本実施形態における異常状態とは、物品Ｐに異物が混入されている状態である。
【0102】
検査部５２ｅは、学習モデル１３６に入力された検査画像に含まれる画素のうち、第１閾値Ｋ１を超える異常確信度を有する画素が所定数以上である場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がある（物品Ｐは不良品である）と判断して、振分部７０に、物品Ｐを第１方向Ｄ１に振分けさせる。なお、所定数、とは、所定割合、を意味するものとして解釈することもできる。より詳細には、本実施形態に係る検査システム１００の制御部５２の一機能としての検査部５２ｅは、学習モデル１３６に入力された検査画像に含まれる画素のうち、第１閾値Ｋ１以上の異常確信度を有する画素が所定割合以上存在する場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がある（物品Ｐは不良品である）と判断して、振分部７０に、物品Ｐを第１方向Ｄ１に振分けさせる。
【0103】
検査部５２ｅは、上記以外の場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がない（物品Ｐは良品である）と判断して、振分部７０に、物品Ｐを第２方向Ｄ２に振り分けさせる。
【0104】
本実施形態において、検査部５２ｅは、例えば検査の結果を振分部制御装置１７０に送る。振分部制御装置１７０は、検査装置１０において良品と判断された物品Ｐを、第１方向Ｄ１へ振り分けるように振分部７０を制御する。第１方向Ｄ１は、例えば良品を排出する後段コンベア８０へと向かう方向である。振分部制御装置１７０は、検査装置１０において不良品と判断された物品Ｐを、第２方向Ｄ２へ振り分けるように振分部７０を制御する。第２方向Ｄ２は、例えば不良品排出方向であり、第２方向Ｄ２に振り分けられた物品Ｐは、検査システム１００から排出される。
【0105】
なお、検査部５２ｅは、学習モデル１３６に入力された検査画像に含まれる画素のうち、第１閾値Ｋ１以上の異常確信度を有する画素が、所定数以上連続して存在する場合や、所定範囲内に所定数以上存在している場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がある（物品Ｐは不良品である）と判断するものであってもよい。
【0106】
（３）検査装置の動作
本実施形態に係る検査システム１００が行う動作について、図１１を用いて説明する。なお、図１１に示される処理の流れはあくまでも一例であり、矛盾のない範囲で適宜変更されてもよい。例えば各ステップの前後に、図示されていない他のステップが含まれていてもよく、互いに矛盾しない範囲で各ステップの順序が適宜変更されてもよい。
本実施形態に係る検査システム１００が行う動作について、図１１を用いて説明する。なお、図１１に示される処理の流れはあくまでも一例であり、矛盾のない範囲で適宜変更されてもよい。例えば各ステップの前後に、図示されていない他のステップが含まれていてもよく、互いに矛盾しない範囲で各ステップの順序が適宜変更されてもよい。
【0107】
（３－１）
まず、ステップＳ１では、検査システム１００のオペレータによって、検査装置１０の閾値変更部９０から第１閾値Ｋ１が設定（入力）される。
まず、ステップＳ１では、検査システム１００のオペレータによって、検査装置１０の閾値変更部９０から第１閾値Ｋ１が設定（入力）される。
【0108】
次に、ステップＳ２では、画像生成部５２ａが、Ｘ線検出素子３０ａから出力されたＸ線透過信号を用いて、ベルト１２ｄを流れる物品ＰのＸ線画像（検査画像）を生成する。
【0109】
次に、ステップＳ３では、学習モデル１３６によって検査画像を構成する画素の異常確信度が算出される。
【0110】
次に、ステップＳ４では、画像処理部５２ｄが、ステップＳ１で設定された第１閾値Ｋ１やステップＳ３で算出された異常確信度に基づき、検査画像に対して画像処理を行う。
【0111】
次に、ステップＳ５では、検査部５２ｅが、ステップＳ３で算出された異常確信度に基づき、異常判定を実行する。異常判定の結果は、制御装置５０や振分部制御装置１７０に信号として出力される。
【0112】
ステップＳ５で不合格（異常あり）と判定された場合には、ステップＳ６に進む。
【0113】
ステップＳ６では、表示部４０に、検査に不合格であった旨を示す表示と、ステップＳ４で作成された検査画像とが表示される。換言すると、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域とで、検査画像の表示態様が異なる検査画像が表示される。
【0114】
次に、ステップＳ７では、振分部制御装置１７０から、振分部７０に対し、検査に不合格の物品Ｐを第２方向Ｄ２へ振り分けるように命令がなされる。
【0115】
一方、ステップＳ５で合格（異常なし）と判定された場合には、ステップＳ８に進む。ステップＳ８では、表示部４０に、異常検査に合格であった旨を示す表示と、ステップＳ４で作成された検査画像とが表示される。
【0116】
次に、ステップＳ９では、異常検査に合格した物品Ｐが、第１方向Ｄ１へと搬送される。
【0117】
（４）制御部の機能
以下、本開示に係る検査装置１０の制御部５２の機能について説明する。
以下、本開示に係る検査装置１０の制御部５２の機能について説明する。
【0118】
本実施形態において、制御部５２は、記憶部５１に記憶されている所定のプログラムを実施することで、画像生成部５２ａ、教師データ取得部５２ｂ、学習部５２ｃ、画像処理部５２ｄ及び検査部５２ｅとして機能する。ここでは、特に、制御部５２が有する画像処理部５２ｄとしての機能について説明する。
【0119】
（４－１）
従来技術に係る検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。これは、異常確信度が所定の閾値よりも大きいことと対応している。また、従来技術に係る検査装置では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域に対して、着色処理（例えば、赤色に塗りつぶす処理など）を行うことがある。このため、従来技術に係る検査装置では、図２３の（ａ）に示すような検査画像が表示部に表示されることが考えられる。
従来技術に係る検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。これは、異常確信度が所定の閾値よりも大きいことと対応している。また、従来技術に係る検査装置では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域に対して、着色処理（例えば、赤色に塗りつぶす処理など）を行うことがある。このため、従来技術に係る検査装置では、図２３の（ａ）に示すような検査画像が表示部に表示されることが考えられる。
【0120】
図２３の（ａ）は、従来技術に係る検査装置によって生成された検査画像の一例である。図２３の（ａ）では、異物ありと判定された領域ａ１、ａ２、ａ３、ａ４のそれぞれを構成する画素に、着色処理が行われているものとする。図２３の（ａ）において、画素から算出される異常確信度は、領域ａ１が最も大きく、領域ａ２、領域ａ３、領域ａ４、領域ｂ１の順に異常確信度が低下するものとする。なお、領域ｂ１は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域であるものとする。しかしながら、図２３の（ａ）に示す通り、従来技術に係る検査画像には、領域ａ１、ａ２、ａ３、ａ４、の各領域を構成する画素に係る異常確信度の大きさが反映されていない。このため、例えば検査装置から誤検出が生じていることが判明した際に、適切な第１閾値Ｋ１を把握する事が困難である。以下、具体的に説明する。
【0121】
例えば、従来技術に係る検査装置において、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐの図２３の（ａ）に示される領域ａ１、ａ２、ａ３には異物が含まれているが、領域ａ４には実際には異物が含まれていない（領域ａ４の異物は誤検出である）ことが判明した場合を想定する。この場合、オペレータは、領域ａ１、ａ２、ａ３を構成する画素の異常確信度の大きさを下回り、かつ、領域ａ４の異常確信度の大きさを上回るように、第１閾値Ｋ１の設定を変更する必要がある。しかしながら、図２３の（ａ）には、領域ａ１、ａ２、ａ３及びａ４の各領域を構成する画素の異常確信度の大きさが反映されていない。換言すると、領域ａ１、ａ２、ａ３及びａ４を構成する画素の異常確信度の大きさが、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかが示されていない。このため、従来技術の検査装置に係るオペレータは、領域ａ１、ａ２、ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、かつ、領域ａ４の異常確信度を上回る第１閾値Ｋ１を見出すために、第１閾値Ｋ１の微調整を繰り返す必要があった。具体的には、第１閾値Ｋ１を実際に増減させて、異常確信度が第１閾値Ｋ１を上回る領域を確認し（異常確信度が第１閾値Ｋ１を上回らなくなる領域を確認し）、所望の結果が得られるかを試す必要があった。そのため、オペレータは、適切な第１閾値Ｋ１を設定するための調整に時間がかかっていた。
【0122】
また、例えば、従来技術に係る検査装置において、物品Ｐの図２３の（ａ）に示される領域ａ１、ａ２、ａ４には異物が含まれているが、領域ａ３には実際には異物が含まれていないことが判明した場合を想定する。この場合、領域ａ３の異物は誤検出であるが、領域ａ４の異物は正しく検出されていることになる。そのため、異物検出を確実に行うためには、領域ａ４に対応する異物が確実に検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することが必要となる。しかしながら、領域ａ３を構成する画素の異常確信度は、領域ａ４を構成する画素の異常確信度よりも大きい。そのため、領域ａ３の異物が誤検出されず、且つ領域ａ４の異物が検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することは不可能である。しかしながら、従来技術に係る検査装置において、オペレータは、領域ａ３及び領域ａ４を構成する画素の異常確信度がどの程度第１閾値Ｋ１を上回っているか、表示により即座に把握することができない。そのため、オペレータは、実際に第１閾値Ｋ１の値を増減させて、領域ａ３及び／又は領域ａ４における各々の異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えて又は下回って、領域ａ３及び領域ａ４における着色処理の有無が変化する様子を確認するまでは、領域ａ３が誤検出されず、且つ領域ａ４が検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することは不可能であるという事実を認識することができなかった。そのため、オペレータは、設定不可能な調整を試みてしまい、適切な第１閾値Ｋ１を設定するための調整に無用な時間を費やす可能性があった。なお、この場合は、例えば、領域ａ４に係る異物の検出を優先するため、領域ａ３に係る誤検出を許容して、領域ａ３の異常確信度及び領域ａ４の異常確信度がいずれも第１閾値Ｋ１を上回るように調整するのが好ましい。
【0123】
このように、従来技術に係る検査装置では、画素の異常確信度の大きさが、検査画像に反映されていない。この場合、従来技術に係る検査装置において、例えば異常の誤検出が抑制されるような最適な第１閾値Ｋ１を把握することは、非常に時間のかかる作業となる。
【0124】
（４－２）
一方で、本実施形態に係る検査装置１０では、画像処理部５２ｄによる画像処理が行われる。本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、検査画像を構成する画素から算出される異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。
一方で、本実施形態に係る検査装置１０では、画像処理部５２ｄによる画像処理が行われる。本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、検査画像を構成する画素から算出される異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。
【0125】
詳細には、画像処理部５２ｄは、大きさが異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように表示態様を変化させる。
【0126】
例えば、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。なおかつ、画像処理部５２ｄは、第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させる。
【0127】
また、例えば画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させる。
【0128】
このため、表示部４０には、例えば図１０の（ｂ）に示すような検査画像が表示される。図１０の（ｂ）に示す通り、検査画像には、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４、の各領域を構成する画素に係る異常確信度が反映されている。このため、例えば検査装置１０から誤検出が生じていることが判明した際に、適切な第１閾値Ｋ１を把握することが容易である。以下、具体的に説明する。
【0129】
例えば、検査装置１０において、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐの図１０の（ｂ）に示される領域Ａ１、Ａ２、Ａ３には異物が含まれているが、領域Ａ４には異物が含まれていない（領域Ａ４の異物は誤検出である）ことが判明した場合を想定する。この場合、オペレータは、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、かつ、領域Ａ４を構成する画素の異常確信度を上回るように、第１閾値Ｋ１を変更する必要がある。図１０の（ｂ）に示すように、検査画像には、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３及びＡ４を構成する画素の異常確信度の大きさが反映されている。換言すると、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３及びＡ４を構成する画素の異常確信度の大きさが、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかが示されている。このため、ここでは、領域Ａ３を構成する画素の異常確信度の大きさを下回り、かつ、領域Ａ４を構成する画素の異常確信度の大きさを上回るように第１閾値Ｋ１の変更を行うことで、誤検出が抑制されることがオペレータに容易に確認される。
【0130】
また、例えば、検査装置１０において、物品Ｐの図１０の（ｂ）に示される領域Ａ１、Ａ２、Ａ４には異物が含まれているが、領域Ａ３には実際には異物が含まれていないことが判明した場合を想定する。この場合、領域Ａ３の異物は誤検出であるが、領域Ａ４の異物は正しく検出されていることになる。ここで、オペレータは、検査装置１０における領域Ａ１、Ａ２、Ａ３の表示の態様（例えば、異常確信度の大きさに対応させた色）を確認すれば、即座に領域Ａ３を構成する画素の異常確信度が領域Ａ４を構成する画素の異常確信度よりも大きいことを理解できる。そのため、領域Ａ３が誤検出されず、且つ領域Ａ４が検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することは不可能であるという事実を、実際に第１閾値Ｋ１の値を増減させることなく認識することができる。したがって、オペレータは、無用な調整を試みることがなくなる。
【0131】
このように、本実施形態に係る検査装置１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。また、これにより、オペレータは、最適な第１閾値Ｋ１を設定するための調整を、従来よりも短い時間で行うことができるようになる。
【0132】
（４－３）
また、本実施形態に係る検査装置１０では、異常確信度の大きさに応じて色相を変化させることで、異常確信度の大きい領域を２次元的に表示することができる。例えば、本実施形態に係る検査装置１０の制御部５２は、図１２に示すような検査画像を表示部４０の領域Ｃ１に表示させる。図１２では、物品Ｐのベルト１２ｄにおける搬送方向をＸとして、物品Ｐの幅方向をＹとする。
また、本実施形態に係る検査装置１０では、異常確信度の大きさに応じて色相を変化させることで、異常確信度の大きい領域を２次元的に表示することができる。例えば、本実施形態に係る検査装置１０の制御部５２は、図１２に示すような検査画像を表示部４０の領域Ｃ１に表示させる。図１２では、物品Ｐのベルト１２ｄにおける搬送方向をＸとして、物品Ｐの幅方向をＹとする。
【0133】
図１２では、領域Ａ１と領域Ａ２とが、物品Ｐの搬送方向Ｘにおいて共通する座標であるＸ１に、それぞれ位置している。一方で、領域Ａ１は幅方向ＹにおいてＹ１に、領域Ａ２は幅方向ＹにおいてＹ２に、それぞれ位置することから、領域Ａ１と領域Ａ２とは明確に区別されて表示部４０に表示される。
【0134】
あるいは、図１２では、領域Ａ１と領域Ａ５とが、物品Ｐの幅方向Ｙにおいて共通する座標であるＹ１にそれぞれ位置している。しかしながら、領域Ａ１は搬送方向ＸにおいてＸ１に、領域Ａ５は搬送方向ＸにおいてＸ２に、それぞれ位置することから、領域Ａ１と領域Ａ５とは明確に区別されて表示部４０に表示される。
【0135】
このように、物品Ｐに、異常確信度が所定の閾値（基準値）を超えている画素からなる領域が複数存在する場合であって、当該複数の領域が搬送方向又は幅方向のいずれかにおいて共通する座標に位置する場合であっても、本実施形態における検査装置１０では、各領域の正確な位置と、各領域を構成する画素の異常確信度の大きさと、を同時に表示部４０に表示することができている。換言すると、本実施形態に係る検査装置１０では、異常が生じている恐れがある画素からなる領域の２次元的な表示と、異常が生じている恐れがある画素からなる領域における異常確信度の大きさの表示と、が両立されている。
【0136】
このため、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、物品Ｐの検査画像において、異常が生じている恐れがある画素からなる領域を正確に、確認することができ、かつ、当該領域における異常確信度の大きさを正確に確認することができる。
【0137】
また、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、異常が生じている恐れがある画素からなる領域を直ちに確認することができ、かつ、当該領域における異常確信度の大きさを直ちに確認することができる。
【0138】
また、本実施形態の検査装置１０に係るオペレータは、異常確信度が、閾値（基準値）をどの程度上回っているのか、直ちに把握（理解）することができる。
【0139】
（５）特徴
（５－１）
本実施形態に係る検査装置１０は、物品Ｐを検査する検査装置１０である。検査装置１０は、照射部２０と、検出部３０と、画像生成部５２ａと、表示部４０と、制御部５２と、を備える。照射部２０は、物品Ｐに電磁波を照射する。なお、限定するものではないが、本実施形態において、電磁波はＸ線である。検出部３０は、物品Ｐを透過したＸ線を検出する。画像生成部５２ａは、検出部３０の検出結果に基づいて、物品Ｐの検査画像を生成する。表示部４０は、検査画像を表示する。制御部５２は、表示部４０における検査画像の表示態様を変更させる。制御部５２は、検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出する。制御部５２は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる。
（５－１）
本実施形態に係る検査装置１０は、物品Ｐを検査する検査装置１０である。検査装置１０は、照射部２０と、検出部３０と、画像生成部５２ａと、表示部４０と、制御部５２と、を備える。照射部２０は、物品Ｐに電磁波を照射する。なお、限定するものではないが、本実施形態において、電磁波はＸ線である。検出部３０は、物品Ｐを透過したＸ線を検出する。画像生成部５２ａは、検出部３０の検出結果に基づいて、物品Ｐの検査画像を生成する。表示部４０は、検査画像を表示する。制御部５２は、表示部４０における検査画像の表示態様を変更させる。制御部５２は、検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出する。制御部５２は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる。
【0140】
この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0141】
（５－２）
本実施形態に係る検査装置１０では、画素は、画素値として色相を含む。制御部５２は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。
本実施形態に係る検査装置１０では、画素は、画素値として色相を含む。制御部５２は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。
【0142】
この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0143】
（５－３）
本実施形態に係る検査装置１０では、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部４０に表示させる。
本実施形態に係る検査装置１０では、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部４０に表示させる。
【0144】
この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0145】
また、この検査装置１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。
【0146】
また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を容易に確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを容易に確認することができる。
【0147】
また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を直ちに確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを直ちに確認することができる。
【0148】
（５－４）
本実施形態に係る検査装置１０では、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部４０に表示させる。
本実施形態に係る検査装置１０では、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部４０に表示させる。
【0149】
この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0150】
また、この検査装置１０では、検査画像において、物品Ｐと、異常確信度が第１閾値Ｋ１を超える領域と、の関係を確認することが容易である。このため、この検査装置１０では、異常確信度をより容易に確認することができる。
【0151】
また、この検査装置１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。
【0152】
また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を容易に確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを容易に確認することができる。
【0153】
また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を直ちに確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを直ちに確認することができる。
【0154】
（５－５）
本実施形態に係る検査システム１００は、検査装置１０と、振分部７０と、を備える。振分部７０は、物品Ｐを、第１方向Ｄ１と、第１方向Ｄ１とは異なる第２方向Ｄ２とに振り分ける。制御部５２は、検査画像に含まれる画素のうち、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素が所定数以上である場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常があると判断して、振分部７０に、物品Ｐを第１方向Ｄ１に振り分けさせる。制御部５２は、それ以外の場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がないと判断して、振分部７０に、物品Ｐを第２方向Ｄ２に振り分けさせる。
本実施形態に係る検査システム１００は、検査装置１０と、振分部７０と、を備える。振分部７０は、物品Ｐを、第１方向Ｄ１と、第１方向Ｄ１とは異なる第２方向Ｄ２とに振り分ける。制御部５２は、検査画像に含まれる画素のうち、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素が所定数以上である場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常があると判断して、振分部７０に、物品Ｐを第１方向Ｄ１に振り分けさせる。制御部５２は、それ以外の場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がないと判断して、振分部７０に、物品Ｐを第２方向Ｄ２に振り分けさせる。
【0155】
この検査システム１００は、異常確信度を確認することが容易な検査装置１０を備えている。このため、本実施形態に係る検査システム１００では、作業効率が向上する。
【0156】
（６）変形例
上記実施形態は、以下の変形例に示すように適宜変形が可能である。各変形例は、矛盾が生じない範囲で、本実施形態に係る変形例や他の実施形態に係る変形例と組み合わせて適用されてもよい。なお、上記の第１実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
上記実施形態は、以下の変形例に示すように適宜変形が可能である。各変形例は、矛盾が生じない範囲で、本実施形態に係る変形例や他の実施形態に係る変形例と組み合わせて適用されてもよい。なお、上記の第１実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
【0157】
（６－１）変形例１Ａ
上記実施形態では、制御部５２（画像処理部５２ｄ）が、異常確信度の大きさに基づき検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、検査画像の画素値として、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含むものであってもよい。この場合、検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる検査装置であってもよい。例えば検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異常確信度の大きさに対応して輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。
上記実施形態では、制御部５２（画像処理部５２ｄ）が、異常確信度の大きさに基づき検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、検査画像の画素値として、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含むものであってもよい。この場合、検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる検査装置であってもよい。例えば検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異常確信度の大きさに対応して輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。
【0158】
あるいは、本変形例に係る検査装置は、異なる異常確信度に対し、異なる色相とともに、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。例えば検査装置は、異常確信度の大きさに応じて、色相とともに、輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。
【0159】
本変形例に係る検査装置は、表示部４０が有する性能の制約上、表示部４０に表示可能な色相が限定される場合等に有効である。例えば、本変形例に係る検査装置は、表示部４０として安価なディスプレイ等を用いる場合であっても、異常確信度を明確に反映させることができる。このため、本変形例においては、検査装置の低コスト化が実現される。
【0160】
また、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0161】
（６－２）変形例１Ｂ
上記実施形態では、電磁波の一例としてのＸ線を物品Ｐに照射する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、赤外線を物品Ｐに照射するものであってもよい。この場合、異常確信度は、物品Ｐを透過又は反射した赤外線の量や強度に基づいて算出されるものであってもよい。
上記実施形態では、電磁波の一例としてのＸ線を物品Ｐに照射する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、赤外線を物品Ｐに照射するものであってもよい。この場合、異常確信度は、物品Ｐを透過又は反射した赤外線の量や強度に基づいて算出されるものであってもよい。
【0162】
このほか、本開示に係る検査装置は、物品の検査において一般的に用いられる光によって対象物品の検査を行う装置であれば、紫外線および可視光等を用いて物品Ｐの検査を行う装置に適用可能である。
【0163】
また、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0164】
（６－３）変形例１Ｃ
上記実施形態では、機械学習を行うことで生成された学習モデル１３６によって算出された異常確信度を用いて物品の検査を行う検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。すなわち、本開示に係る検査装置において、異常確信度の算出手段は、適宜選択されればよい。
上記実施形態では、機械学習を行うことで生成された学習モデル１３６によって算出された異常確信度を用いて物品の検査を行う検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。すなわち、本開示に係る検査装置において、異常確信度の算出手段は、適宜選択されればよい。
【0165】
本変形例における検査装置は、例えば、Ｘ線透過信号の強度を異常確信度とするものであってもよい。この場合、容易な構成で異常確信度を算出することができる。
【0166】
また、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0167】
（６－４）変形例１Ｄ
上記実施形態では、物品Ｐの検査として、異物混入検査を行う検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置が行う検査はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、割れ検査や、欠品検査や、物品内部の空洞検査や、形状検査を行うものであってもよい。また、物品Ｐは上記実施形態で説明したものに限定されず、様々な物品Ｐ（例えば袋状の物品など）を検査対象とすることができる。この場合、異常状態とは、物品Ｐに割れ（ひび割れ）が生じている状態や、物品Ｐの内容物が破損している状態や、物品Ｐの内容物の欠品状態や、物品Ｐの内部に空洞部分が存在している状態や、物品Ｐが変形している状態を指すものであってもよい。この場合に、検査装置１０は、これらの異常状態が発生している確からしさを、各画素毎に異常確信度として算出する。
上記実施形態では、物品Ｐの検査として、異物混入検査を行う検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置が行う検査はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、割れ検査や、欠品検査や、物品内部の空洞検査や、形状検査を行うものであってもよい。また、物品Ｐは上記実施形態で説明したものに限定されず、様々な物品Ｐ（例えば袋状の物品など）を検査対象とすることができる。この場合、異常状態とは、物品Ｐに割れ（ひび割れ）が生じている状態や、物品Ｐの内容物が破損している状態や、物品Ｐの内容物の欠品状態や、物品Ｐの内部に空洞部分が存在している状態や、物品Ｐが変形している状態を指すものであってもよい。この場合に、検査装置１０は、これらの異常状態が発生している確からしさを、各画素毎に異常確信度として算出する。
【0168】
また、本変形例に係る検査装置は、変形例１Ａに示す構成と組み合わせることで、噛みこみ検査を行うものであってもよい。この場合、物品は例えば内容物を含む袋状の物品であり、異常状態とは、当該物品のシール部において内容物の噛み込みが生じている状態を指すものであってもよい。
【0169】
（６－５）変形例１Ｅ
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせて、検査画像を表示部４０に表示する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置が行う表示の態様はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、閾値を考慮することなく、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させた検査画像を表示部４０に表示させるものであってもよい。
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせて、検査画像を表示部４０に表示する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置が行う表示の態様はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、閾値を考慮することなく、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させた検査画像を表示部４０に表示させるものであってもよい。
【0170】
本変形例に係る検査装置は、例えば、図１３の（ａ）に示すような検査画像を表示部４０に表示させる。ここでは、検査画像を構成する全画素の異常確信度の大きさが、検査画像に反映されている。また、ここでは、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように、検査画像の表示態様が変化している。換言すると、本変形例に係る検査装置では、異常確信度が全面的にカラーマップ化された検査画像が、表示部４０の領域Ｃ１に表示される。
【0171】
また、本変形例に係る検査装置は、例えば図１３の（ｂ）に示すように、物品Ｐの輪郭を抽出して表示するものであってもよい。この場合、異常確信度の大きさを確認することがさらに容易になる。
【0172】
なお、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態において、第１閾値Ｋ１を最小値（最小単位）に設定する事でも実現される。
【0173】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0174】
（６－６）変形例１Ｆ
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせて、検査画像を表示部４０に表示する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。例えば検査装置は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素についてマーキングを行うものであってもよい。本変形例に係るマーキングは、限定するものではないが、例えば画素の異常確信度が第１閾値Ｋ１以上であると判定された領域を、円で囲む処理である（図１４参照）。ただし、本変形例にかかるマーキングの態様はこれに限定されるものではなく、例えば異常確信度が第１閾値Ｋ１以上であると判定された領域を矩形で囲む処理であってもよい。この場合、囲まれた領域の内部が、異常確信度に応じた表示態様（例えば、色）として表示される。
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせて、検査画像を表示部４０に表示する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。例えば検査装置は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素についてマーキングを行うものであってもよい。本変形例に係るマーキングは、限定するものではないが、例えば画素の異常確信度が第１閾値Ｋ１以上であると判定された領域を、円で囲む処理である（図１４参照）。ただし、本変形例にかかるマーキングの態様はこれに限定されるものではなく、例えば異常確信度が第１閾値Ｋ１以上であると判定された領域を矩形で囲む処理であってもよい。この場合、囲まれた領域の内部が、異常確信度に応じた表示態様（例えば、色）として表示される。
【0175】
本変形例においては、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域が強調して表示されるため、異常状態の見落としが抑制される。本変形例に係る検査装置は例えば、物品Ｐに混入された異物が極小である場合等に有効である。
【0176】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0177】
（６－７）変形例１Ｇ
上記実施形態では、検査装置１０の制御部５２が、学習部５２ｃによって学習モデル１３６の機械学習を行う例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば、検査装置と学習部とはそれぞれ別体であってもよい。
上記実施形態では、検査装置１０の制御部５２が、学習部５２ｃによって学習モデル１３６の機械学習を行う例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば、検査装置と学習部とはそれぞれ別体であってもよい。
【0178】
また、本開示に係る検査装置は、検査装置とは別体の機械学習装置（図示省略）が有する学習部によって生成された学習モデルを用いるものであってもよい。この場合、検査装置は機械学習装置と有線又は無線で接続されることにより、機械学習装置によって生成された学習モデルと通信を行うものであってもよい。この場合、検査装置は、外部のクラウドサーバと通信して、このクラウドサーバから機械学習装置によって生成された学習モデルをダウンロードして用いるように構成されていても良い。
【0179】
（６－８）変形例１Ｈ
上記実施形態では、検査装置１０の制御部５２が、学習部５２ｃによって学習モデル１３６の機械学習を行う例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、予め機械学習済みの学習モデルを用いるものであってもよい。
上記実施形態では、検査装置１０の制御部５２が、学習部５２ｃによって学習モデル１３６の機械学習を行う例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、予め機械学習済みの学習モデルを用いるものであってもよい。
【0180】
例えば、検査装置１０とは別体の機械学習装置によって予め機械学習が行われた学習モデルを用いるものであってもよい。
【0181】
（６－９）変形例１Ｉ
上記実施形態では、制御部５２は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素と、の表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部４０に表示させると説明した。
上記実施形態では、制御部５２は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素と、の表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部４０に表示させると説明した。
【0182】
異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素と、の表示態様を異ならせる表示の一例として、上記実施形態では、図９Ａの（ａ）や、図１０の（ａ）に示すような表示態様を説明したが、本開示に係る検査装置による表示の例は、これらに限定されるものではない。
【0183】
本変形例に係る検査装置では、例えば図９Ｂに示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域については表示部４０に表示させず、且つ、物品Ｐの輪郭部分を示す画素については抽出して表示部４０に表示させることで、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素と、の表示態様を異ならせてもよい。
【0184】
また、本変形例に係る検査装置では、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域の輝度、明度、彩度、色相等に、補正を行うことで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、を視覚的に区分して表示部４０に表示させるものであってもよい。例えば、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域の色相を、一律に白色に変化させて表示させるものであってもよい。
【0185】
あるいは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域については、例えば輝度を小さくする等の補正を行うものであってもよい。
【0186】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、の表示態様を視覚的に区分させることができる。
【0187】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0188】
（６－１０）変形例１Ｊ
上記実施形態では説明を省略したが、画像処理部５２ｄによって処理が行われた検査画像は、処理が行われた際に設定されていた第１閾値Ｋ１とともに、記憶部５１に記憶されるものであってもよい。また、記憶部５１に記憶される検査画像は、オペレータによって確認可能な態様で、記憶部５１に記憶されるものであってもよい。これにより、オペレータは例えば、第１閾値Ｋ１の変更の履歴と、各変更に伴い表示された検査画像の履歴とを適宜確認することができる。
上記実施形態では説明を省略したが、画像処理部５２ｄによって処理が行われた検査画像は、処理が行われた際に設定されていた第１閾値Ｋ１とともに、記憶部５１に記憶されるものであってもよい。また、記憶部５１に記憶される検査画像は、オペレータによって確認可能な態様で、記憶部５１に記憶されるものであってもよい。これにより、オペレータは例えば、第１閾値Ｋ１の変更の履歴と、各変更に伴い表示された検査画像の履歴とを適宜確認することができる。
【0189】
本変形例に係る検査装置では、オペレータは、過去に行った第１閾値Ｋ１の変更の履歴と、各変更に伴い表示された検査画像の履歴とを参照することができる。このため、本変形例の検査装置に係るオペレータは、適切な第１閾値Ｋ１をより容易に把握することができる。
【0190】
（６－１１）変形例１Ｋ
上記実施形態では、表示部４０には、カラーバー４５が表示されていてもよいと説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、検査装置は例えば、カラーバー４５とともに、又はカラーバー４５に代えて、数値化された異常確信度を表示部４０に表示させるものであってもよい。
上記実施形態では、表示部４０には、カラーバー４５が表示されていてもよいと説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、検査装置は例えば、カラーバー４５とともに、又はカラーバー４５に代えて、数値化された異常確信度を表示部４０に表示させるものであってもよい。
【0191】
異常確信度が、学習モデル１３６によって、大きさに応じて２５６段階に分類されることは上記の通りである。本変形例に係る検査装置では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素が所定数又は所定割合集合している領域が検出された検査画像は、当該領域を構成する画素の異常確信度の大きさが数値として視覚的に表示される。例えば、本変形例に係る検査装置では、当該領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も大きい異常確信度の数値が表示される。あるいは、例えば、当該領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も小さい異常確信度の数値が表示される。
【0192】
あるいは、例えば、本変形例に係る検査装置では、図１５の（ａ）に示すような検査画像が表示部４０の領域Ｃ１に表示される。図１５の（ａ）では、領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も大きい異常確信度の数値が、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかが数値として表示される。これにより、例えば第１閾値Ｋ１が１５０に設定されている場合に、図１５の（ａ）の領域Ａ１を確認したオペレータは、領域Ａ１を構成する画素の異常確信度の最大値が１９９であることを把握する。
【0193】
このように、本変形例に係る検査装置では、検査画像の画素の異常確信度の大きさが数値として表示部４０に表示されるため、オペレータは、異常確信度の詳細な大きさを容易に確認することができる。
【0194】
また、本変形例に係る検査装置は、図１５の（ａ）における領域Ａ１及び領域Ａ５や、領域Ａ２及び領域Ａ６のように、異なる異常確信度の大きさを有する複数の画素からなる領域が重複している場合であっても、各領域における異常確信度の大きさの確認が容易である。
【0195】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0196】
また、本変形例に係る検査装置は、異常確信度が数値化されて検査画像に反映されるため、異常確信度の詳細な大きさが確認できる。
【0197】
（６－１２）変形例１Ｌ
変形例１Ｄで説明したように、本開示に係る検査装置は、物品Ｐとして、袋状の物品を検査するものであってもよい。検査装置が袋状の物品を検査する場合、袋状の物品におけるシール部等のように、異物として誤検出されやすい領域の画素や、当該領域の付近の領域の画素に対して、マスク処理が行われることが考えられる。
変形例１Ｄで説明したように、本開示に係る検査装置は、物品Ｐとして、袋状の物品を検査するものであってもよい。検査装置が袋状の物品を検査する場合、袋状の物品におけるシール部等のように、異物として誤検出されやすい領域の画素や、当該領域の付近の領域の画素に対して、マスク処理が行われることが考えられる。
【0198】
本変形例に係る検査装置は、マスク処理が行われた領域の画素と、異常確信度の大きさに基づき表示態様を変化させた画素と、が視覚的に区分された検査画像を表示部４０に表示するものであってもよい。
【0199】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0200】
また、本変形例に係る検査装置は、異物として誤検出されやすい領域の画素にマスク処理を行うことで、異物の誤検出を抑制することができる。
【0201】
（６－１３）変形例１Ｍ
上記実施形態では、それぞれが別体に構成された検査装置１０と振分部７０とが、通信線等によって接続されることで、検査システム１００を構成する例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査システム１００の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査システム１００は、一体に構成された検査装置１０と振分部７０とを備えるものであってもよい。
上記実施形態では、それぞれが別体に構成された検査装置１０と振分部７０とが、通信線等によって接続されることで、検査システム１００を構成する例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査システム１００の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査システム１００は、一体に構成された検査装置１０と振分部７０とを備えるものであってもよい。
【0202】
＜第２実施形態＞
（１）第２実施形態に係る検査装置
本開示の第２実施形態に係る検査システム１００及び検査システム１００に含まれる検査装置１１０について説明する。
（１）第２実施形態に係る検査装置
本開示の第２実施形態に係る検査システム１００及び検査システム１００に含まれる検査装置１１０について説明する。
【0203】
なお、第２実施形態に係る検査装置１１０は、第１実施形態に係る検査装置１０が有する機能と、第２実施形態に係る検査装置１１０が有する機能と、を切り替え可能に構成された検査装置であってもよい。換言すると、本開示は、第１実施形態に係る検査装置１０が有する機能と、第２実施形態に係る検査装置１１０が有する機能と、の両方の機能を有する検査装置によって実施されるものであってもよい。この場合、例えば検査装置１１０は、第１実施形態に係る検査装置１０が有する機能と、第２実施形態に係る検査装置１１０が有する機能と、を切り替えるボタン等を表示部１４０に有するものであってもよい。
【0204】
図１６は、検査システム１００に含まれる検査装置１１０が有する制御装置１５０のブロック構成図である。検査システム１００は、検査装置１１０の構成を除き、第１実施形態に係る検査システム１００と実質的に共通した構成を採る。また、検査装置１１０は、制御装置１５０の構成を除き、第１実施形態に係る検査装置１０と実質的に共通した構成を採る。以下では、説明の簡略化のため、第１実施形態との相違点についてのみ説明する。
【0205】
（２）表示部
表示部１４０は、タッチパネル機能付きの液晶ディスプレイである。表示部１４０は、検査装置１１０の入力部としても機能する。表示部１４０には、例えば物品Ｐの検査結果等が表示される。また、図１５に示されるように、表示部１４０には、物品Ｐの良否判断に関するパラメータの入力のための画面等が表示される。
表示部１４０は、タッチパネル機能付きの液晶ディスプレイである。表示部１４０は、検査装置１１０の入力部としても機能する。表示部１４０には、例えば物品Ｐの検査結果等が表示される。また、図１５に示されるように、表示部１４０には、物品Ｐの良否判断に関するパラメータの入力のための画面等が表示される。
【0206】
検査装置１１０のオペレータは、表示部１４０を操作して、検査パラメータ及び動作設定情報等を入力することができる。検査パラメータとは、物品Ｐの良否を判定するために必要なパラメータである。具体的には、検査パラメータは、物品Ｐに含まれる異常（異物）の有無を判定するために用いられる第１閾値Ｋ１や第２閾値Ｋ２等の閾値や、異常確信度等である。動作設定情報とは、物品Ｐの検査速度、及び、搬送ユニット１２の搬送方向等の情報である。
【0207】
第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２は、異常確信度に関する閾値である。第２閾値Ｋ２は、第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である。動作設定情報とは、物品Ｐの検査速度、及び、搬送ユニット１２の搬送方向等の情報である。
【0208】
本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、物品の異常確信度に関する閾値である。本実施形態においては、物品Ｐの検査画像を構成する画素の異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上となることで、又は第１閾値Ｋ１以下となることで、検査画像の表示態様が変化する。
【0209】
本実施形態において、第２閾値Ｋ２は、物品の異常確信度に関する閾値である。本実施形態に係る制御装置１５０は、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素は、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。詳細は後述する。
【0210】
本実施形態において、第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２は、異常確信度の上限又は下限を限度として設定することができる。限定するものではないが、本実施形態において、異常確信度の下限は０で、上限は２５５とする。本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、例えば異常確信度１５０に設定される。本実施形態において、第２閾値Ｋ２は、例えば異常確信度５に設定される。このように、第２閾値Ｋ２を異常確信度の下限に近い数値に設定することで、検査画像における異常確信度が小さい領域を画素値に基づいて表示させることができる。第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２は、閾値変更部１９０によって適宜変更可能である。
【0211】
本開示に係る検査装置１１０は、第１閾値Ｋ１の大きさの変更をオペレータ（ユーザ）から受け付ける閾値変更部１９０を備える。後述する制御部１５２は、閾値変更部１９０が受け付けた変更に応じて、画素の表示態様を変更させる。
【0212】
本実施形態において、閾値変更部１９０は、表示部１４０に表示される（図１７参照）。検査装置１１０のオペレータは、閾値変更部１９０を通じて、第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２を変更することができる。第１閾値Ｋ１は、例えば図１７に示すようなトグルスイッチ１９１で変更可能である。第２閾値Ｋ２は、例えば図１７に示すような矢印１９２で変更可能である。ただし、第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２の変更手段はこれらに限定されるものではなく、ボタンや目盛操作、手入力、その他様々な手段によって、適宜変更することが可能である。
【0213】
表示部１４０は、制御装置１５０に接続されており、制御装置１５０と信号の送受信を行う。表示部１４０によって入力された検査パラメータ及び動作設定情報は、制御装置１５０の記憶部１５１に記憶される。
【0214】
（３）制御装置
制御装置１５０は、記憶部１５１と制御部１５２とを有する。
制御装置１５０は、記憶部１５１と制御部１５２とを有する。
【0215】
制御部１５２は、記憶部１５１に記憶された各種プログラムを呼び出して実行し、検査装置１１０の各部の制御を行う。例えば、制御部１５２は、照射部２０のＸ線照射タイミングや、Ｘ線照射量を制御する。
【0216】
また、制御部１５２は、主として、画像生成部５２ａと、教師データ取得部５２ｂと、学習部５２ｃと、画像処理部１５２ｄと、と、検査部５２ｅと、を有する。これらは、記憶部１５１に記憶されているプログラムを実行することによって実現される機能である。
【0217】
以下、画像処理部１５２ｄについて説明する。
【0218】
（３－１）画像処理部
画像処理部１５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像であって、学習モデル１３６によって画素ごとの異常確信度が算出された検査画像に画像処理を行う。画像処理部１５２ｄは、検査画像の画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。当該検査画像は、表示部１４０に表示される。
画像処理部１５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像であって、学習モデル１３６によって画素ごとの異常確信度が算出された検査画像に画像処理を行う。画像処理部１５２ｄは、検査画像の画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。当該検査画像は、表示部１４０に表示される。
【0219】
詳細には、画像処理部１５２ｄは、検査画像を構成する画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。当該検査画像は、表示部１４０に表示される。
【0220】
（ａ）例えば画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第１表示態様と呼ぶことがある。
【0221】
（ｂ）上記の（ａ）で説明した態様（第１表示態様）で検査画像を表示する場合、好ましくは、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第２表示態様と呼ぶことがある。
【0222】
（ｃ）上記の（ａ）又は（ｂ）で説明した態様（第１表示態様又は第２表示態様）で検査画像を表示する場合、さらに好ましくは、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素のうち、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第３表示態様と呼ぶことがある。
【0223】
（ｄ）上記の（ａ）～（ｃ）のうちいずれかに示す態様（第１表示態様から第３表示態様のうちいずれか）で検査画像を表示する場合、さらに好ましくは、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示部１４０に表示させる。
【0224】
以下、具体的に説明する。
【0225】
（ａ）第１表示態様
第１表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。
第１表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。
【0226】
【0227】
図１８の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図１８の（ａ）において、Ａ３、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。上記の通り、本実施形態では、第１閾値Ｋ１は異常確信度１５０に設定されている。このため、図１８の（ａ）のＡ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが１５０以上の画素からなる領域であると考えられる。一方で、図１８の（ａ）のＡ３、Ｂ１で示される領域は、異常確信度の大きさが１５０未満の画素からなる領域であると考えられる。
【0228】
図１８の（ａ）においては、Ａ３、Ｂ１の順に、異常確信度が低下しているものとして説明する。ここで、画像処理部１５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい順に、空色、青色、に対応させるものとする。この場合、Ａ３の領域が空色に、Ｂ１の領域が青色に対応しており、画像処理部１５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部１４０に表示させる。ただし、これらの表示はあくまでも一例であって、適宜変更可能である。
【0229】
なお、図１８の（ａ）に示すように、ここでは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域については、表示部１４０に表示させていない。ただし、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域の表示の態様は、これに限定されるものではない。詳細は、以下の（ｂ）や変形例２Ａで後述する。
【0230】
このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせている。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させている。
【0231】
また、本実施形態に係る検査装置１１０では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１を下回る画素の表示態様が、異常確信度の大きさに応じて変化する。このため、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度が第１閾値Ｋ１を下回る画素の中で、比較的異常確信度が大きい画素について容易に確認することができる。このため、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の変更（調整）を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。
【0232】
（ｂ）第２表示態様
第２表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。
第２表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。
【0233】
【0234】
図１９の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図１９の（ａ）において、Ａ３、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。
【0235】
図１９の（ａ）では、Ａ３、Ｂ１の順に、異常確信度の大きさが低下しているものとして説明する。ここで、画像処理部１５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい順に、空色、青色、に対応させるものとする。この場合、Ａ３の領域が空色に、Ｂ１の領域が青色に対応しており、画像処理部１５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部１４０に表示させる。ただし、これらの表示はあくまでも一例であって、適宜変更可能である。
【0236】
また、図１９の（ａ）に示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域Ａ１、Ａ２、Ａ４については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示されている。
【0237】
このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させている。
【0238】
このため、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度が第１閾値Ｋ１を下回る画素の中で、比較的異常確信度が大きい画素について容易に確認することができる。
【0239】
また、本実施形態に係る検査装置１１０では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１を下回る画素の表示態様が変化し、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素は、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示される。このため、検査装置１１０のオペレータは、異物として表示されている領域が、確かに異物足り得るものであるのか、検査画像における画素値に基づいて判断することができる。より具体的には、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域について、検査画像に表示される輝度に基づいて判断することができる。また、検査装置１１０のオペレータは、学習モデル１３６の学習精度を確認することができる。
【0240】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の変更（調整）を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。
【0241】
（ｃ）第３表示態様
第３表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。
第３表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。
【0242】
【0243】
図２０の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図２０の（ａ）において、Ａ３で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。図２０の（ａ）において、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であり、かつ、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素からなる領域である。この場合、画像処理部１５２ｄは、領域Ａ３を、領域Ａ３の画素の異常確信度に対応する色（例えば空色）で表示部１４０に表示させる。
【0244】
また、図２０の（ａ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域Ａ１、Ａ２、Ａ４と、異常確信度が第２閾値Ｋ２未満である画素からなる領域Ｂ１については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示されている。
【0245】
このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させている。
【0246】
本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像の画素における異常確信度が第１閾値Ｋ１未満の領域であって、かつ、検査画像の画素における異常確信度が第２閾値Ｋ２以上である領域について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0247】
なお、本実施形態において、第２閾値Ｋ２は、異常確信度の下限に近い数値に設定されている。このため、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、明らかに異常が生じている恐れがない領域（異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である領域）については、異常確信度の表示がされていない検査画像を確認することができる。ここでは、「明らかに異常が生じている恐れがない領域」とは例えば、領域Ｂ１を指す。このため、本実施形態に係る検査装置１１０では、実際の物品Ｐの様子を確認しながら、異常の有無を確認することができる。従って、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。
【0248】
本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の変更（調整）を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。
【0249】
（ｄ）第４表示態様
第４表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。
第４表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。
【0250】
【0251】
図２１において、Ａ１、Ａ２、で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図２１において、Ａ３、Ａ４で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。図２１において、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であり、かつ、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素からなる領域である。
【0252】
ここで、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であって且つ第２閾値Ｋ２以上である画素からなる領域であるＡ３、Ａ４については、異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。画像処理部１５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい順に、空色、青色、に対応させるものとする。この場合、Ａ３の領域が空色に、Ａ４の領域が青色に対応しており、画像処理部１５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部１４０に表示させる。
【0253】
さらに、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素（ここでは、領域Ａ１、Ａ２を構成する画素）からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行っている。
【0254】
このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示部１４０に表示させている。
【0255】
本実施形態に係る検査装置１１０は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域と、を視覚的に明確に区分して表示する。このため、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。
【0256】
（４）制御部の機能
以下、本開示に係る検査装置１１０の制御部１５２の機能について説明する。
以下、本開示に係る検査装置１１０の制御部１５２の機能について説明する。
【0257】
本実施形態において、制御部１５２は、記憶部１５１に記憶されている所定のプログラムを実施することで、画像生成部５２ａ、教師データ取得部５２ｂ、学習部５２ｃ、画像処理部１５２ｄ及び検査部５２ｅとして機能する。ここでは、制御部１５２が有する画像処理部１５２ｄとしての機能について説明する。
【0258】
（４－１）
従来技術に係る検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。これは、異常確信度が所定の閾値よりも大きいことと対応している。また、従来技術に係る検査装置では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域に着色処理（例えば、赤色に塗りつぶす処理など）を行うことがある。このため、従来技術に係る検査装置では、図２３の（ｂ）に示すような検査画像が表示部に表示されることが考えられる。
従来技術に係る検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。これは、異常確信度が所定の閾値よりも大きいことと対応している。また、従来技術に係る検査装置では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域に着色処理（例えば、赤色に塗りつぶす処理など）を行うことがある。このため、従来技術に係る検査装置では、図２３の（ｂ）に示すような検査画像が表示部に表示されることが考えられる。
【0259】
図２３の（ｂ）は、従来技術に係る検査装置によって生成された検査画像の一例である。図２３の（ｂ）において、領域ａ１、ａ２のそれぞれを構成する画素には着色処理が行われているものとする。また図２３の（ｂ）において、領域ａ３、ａ４、ｂ１のそれぞれを構成する画素については、検査画像における画素値に基づいて表示されているものとする。図２３の（ｂ）において、画素の異常確信度は領域ａ１が最も大きく、領域ａ２、領域ａ３、領域ａ４、領域ｂ１の順に異常確信度が低下するものとする。なお、領域ａ３、ａ４及び領域ｂ１は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域とする。しかしながら、図２３の（ｂ）に示すように、従来技術に係る検査画像には、領域ａ１、ａ２、ａ３、ａ４、の各領域を構成する画素に係る異常確信度の大きさが反映されていない。このため、例えば検査装置から未検出が生じていることが判明した際に、適切な第１閾値Ｋ１を把握することが困難となる。以下、具体的に説明する。
【0260】
ここでは、従来技術に係る検査装置において、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐの図２３の（ｂ）に示される領域ａ１、ａ２、に加えて、実際には領域ａ３にも異物が含まれている（領域ａ３の異物は未検出である）ことが判明した場合を想定する。この場合、オペレータは、領域ａ１、ａ２を構成する画素の異常確信度だけでなく、領域ａ３を構成する画素の異常確信度をも下回るように、第１閾値Ｋ１を変更する必要がある。一方で、第１閾値Ｋ１の変更次第では、領域ａ３の異常確信度のみならず、領域ａ４の異常確信度をも下回ることで、領域ａ４の誤検出を招く恐れがある。しかしながら、図２３の（ｂ）には、領域ａ１、ａ２、ａ３及びａ４を構成する画素の異常確信度の大きさが反映されていない。このため、オペレータは、領域ａ１、ａ２、ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、かつ、領域ａ４を構成する画素の異常確信度を上回る第１閾値Ｋ１を把握するために、第１閾値Ｋ１の微調整を繰り返す必要があった。
【0261】
このように、従来技術に係る検査装置では、画素の異常確信度の大きさが、検査画像に反映されない場合がある。この場合、従来技術に係る検査装置において、異常の未検出がない最適な第１閾値Ｋ１を把握することは、非常に時間のかかる作業となっている。
【0262】
（４－２）
一方で、本実施形態における検査装置１１０では、画像処理部１５２ｄによる画像処理が行われる。
一方で、本実施形態における検査装置１１０では、画像処理部１５２ｄによる画像処理が行われる。
【0263】
本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、検査画像を構成する画素から算出される異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。
【0264】
例えば、本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、上記の第１表示態様～第４表示態様で説明した処理を行い、検査画像を表示させる。
【0265】
このため、表示部１４０には、例えば図２１に示すような検査画像が表示される。図２１では、領域Ａ１と領域Ａ２と領域Ｂ１を構成する画素については検査画像の画素値に基づいて表示されており、領域Ａ３、Ａ４の画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様が変化している。ここでは、領域Ａ１、Ａ２は異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域であり、領域Ａ３、Ａ４は異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満かつ第２閾値Ｋ２以上の画素からなる領域であり、領域Ｂ１は異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満の画素からなる領域である。また、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素であって、領域Ａ１、Ａ３からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングが行われている。
【0266】
ここでは、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐには、図２１に示される領域Ａ１、Ａ２、に加えて、領域Ａ３にも異物が含まれている（領域Ａ３の異物は未検出である）ことが判明した場合を想定する。また、領域Ａ４には異物が含まれていないことが判明した場合を想定する。本実施形態に係る検査装置１１０においては、図２１に示すように、領域Ａ３、Ａ４を構成する画素の異常確信度が反映されている。換言すると、領域Ａ３、Ａ４の異常確信度が、第１閾値Ｋ１をどの程度下回っているのかが示されている。
【0267】
このため、領域Ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、且つ、領域Ａ４を構成する画素の異常確信度を上回るように第１閾値Ｋ１を変更することで、未検出が抑制されることが、検査装置１１０のオペレータに容易に確認される。
【0268】
このように、本実施形態に係る検査装置１１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。また、本実施形態に係る検査装置１１０では、最適な第１閾値Ｋ１をただちに把握することができる。
【0269】
（５）特徴
（５－１）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部１５２は、第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。
（５－１）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部１５２は、第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。
【0270】
本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像における異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えない領域の中で、比較的異常確信度が大きい領域について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0271】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の調整を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。
【0272】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。
【0273】
（５－２）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させる。
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させる。
【0274】
本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像における異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えない領域の中で、比較的異常確信度が大きい領域について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0275】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の調整を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。
【0276】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。
【0277】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異物として表示されている領域が、確かに異物足り得るものであるのか、検査画像における画素値に基づいて判断することができる。
【0278】
（５－３）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。
【0279】
本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像における異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えない領域であって、かつ、検査画像における異常確信度が第２閾値Ｋ２異常である領域、について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。
【0280】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、明らかに異常が生じている恐れが無い領域については、異常確信度の表示がされていない検査画像を確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度の大きさをより容易に確認することができる。
【0281】
本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の調整を行うことなく検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。
【0282】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。
【0283】
（５－４）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。
【0284】
本実施形態に係る検査装置１１０は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域と、を視覚的に明確に区分して表示する。このため、この検査装置１１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。
【0285】
また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。
【0286】
（６）変形例
上記実施形態は、以下の変形例に示すように適宜変形が可能である。各変形例は、矛盾が生じない範囲で、本実施形態に係る変形例や他の実施形態に係る変形例と組み合わせて適用されてもよい。なお、上記の第２実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
上記実施形態は、以下の変形例に示すように適宜変形が可能である。各変形例は、矛盾が生じない範囲で、本実施形態に係る変形例や他の実施形態に係る変形例と組み合わせて適用されてもよい。なお、上記の第２実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
【0287】
（６－１）変形例２Ａ
上記実施形態では、制御部１５２（画像処理部１５２ｄ）が、異常確信度の大きさに基づき検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる検査装置１１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、検査画像の画素値として、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含むものであってもよい。
上記実施形態では、制御部１５２（画像処理部１５２ｄ）が、異常確信度の大きさに基づき検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる検査装置１１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、検査画像の画素値として、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含むものであってもよい。
【0288】
本変形例に係る検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる検査装置であってもよい。例えば検査装置は、異常確信度の大きさに応じて、輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。
【0289】
あるいは、本変形例に係る検査装置は、異なる異常確信度に対し、異なる色相とともに、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。例えば検査装置は、異常確信度の大きさに応じて、色相とともに、輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。
【0290】
本変形例は、例えば表示部１４０の性能の制約上、表示部１４０に表示可能な色相の数が限定される場合等に有効である。換言すると、本変形例に係る検査装置は、表示部１４０として、安価なディスプレイ等を用いる場合であっても、異常確信度を明確に反映させることができる。このため、本変形例においては、検査装置の低コスト化が実現される。
【0291】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0292】
（６－２）変形例２Ｂ
上記実施形態では、表示部１４０にカラーバー４５が表示されている例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、カラーバー４５とともに、又はカラーバー４５に代えて、数値化された異常確信度を表示部１４０に表示させるものであってもよい。
上記実施形態では、表示部１４０にカラーバー４５が表示されている例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、カラーバー４５とともに、又はカラーバー４５に代えて、数値化された異常確信度を表示部１４０に表示させるものであってもよい。
【0293】
例えば、本変形例に係る検査装置では、図１５の（ｂ）に示すような検査画像が表示部１４０の領域Ｃ１に表示される。図１５の（ｂ）では、各領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も大きい異常確信度の数値が、第１閾値Ｋ１に対してどの程度不足しているのかが数値として表示される。これにより、例えば第１閾値Ｋ１が１５０に設定されている場合に、図１５の（ｂ）の領域Ａ１を確認したオペレータは、領域Ａ１を構成する画素の異常確信度の最大値が１４０であることを把握できる。
【0294】
このように、本変形例に係る検査装置では、検査画像の画素の異常確信度の大きさが数値として表示部１４０に表示されるため、オペレータは、異常確信度の詳細な大きさを容易に確認することができる。
【0295】
また、本変形例に係る検査装置は、図１５の（ｂ）における領域Ａ１及び領域Ａ５や、領域Ａ２及び領域Ａ６のように、異なる異常確信度の大きさを有する複数の画素からなる領域が重複している場合であっても、各領域における異常確信度の大きさの確認が容易である。
【0296】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0297】
また、本変形例に係る検査装置は、異常確信度が数値化されて検査画像に反映されるため、異常確信度の詳細な大きさが確認できる。
【0298】
（６－３）変形例２Ｃ
上記実施形態では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部１４０に表示させると説明した。
上記実施形態では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部１４０に表示させると説明した。
【0299】
異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部１４０に表示させる態様の一例として、上記実施形態では図１８の（ａ）や図１９の（ａ）に示すような表示態様を説明したが、本開示に係る検査装置による表示の例は、これらに限定されるものではない。
【0300】
本変形例に係る検査装置では、例えば図１８の（ｂ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域を表示させず、且つ、物品Ｐの輪郭部分を示す画素については抽出して表示させることで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域との表示態様を異ならせてもよい。
【0301】
あるいは、本変形例に係る検査装置では、例えば図１９の（ｂ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素については画素値に基づいて表示させ、且つ、物品Ｐの輪郭部分を示す画素については抽出して表示させることで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせてもよい。
【0302】
また、本変形例に係る検査装置では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域の輝度、明度、彩度、色相等に、補正を行うことで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、を視覚的に区分して表示部１４０に表示させるものであってもよい。例えば、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域の色相を、一律に白色に変化させて表示させるものであってもよい。
【0303】
あるいは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域については、例えば輝度を小さくする等の補正を行うものであってもよい。
【0304】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、の表示態様を視覚的に区分させることができる。
【0305】
本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。
【0306】
（６－４）変形例２Ｄ
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる検査装置について説明した。例えば、上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示させる検査装置について説明した（図２０の（ａ）参照）。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる検査装置について説明した。例えば、上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示させる検査装置について説明した（図２０の（ａ）参照）。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。
【0307】
本変形例に係る検査装置は、例えば、図２０の（ｂ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素は表示せず、且つ、異常確信度が第２閾値Ｋ２未満である画素については検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示させるものであってもよい。
【0308】
（６－５）変形例２Ｅ
上記実施形態では説明を省略したが、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素を、検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させるものであってもよい。
上記実施形態では説明を省略したが、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素を、検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させるものであってもよい。
【0309】
上記の第２表示形態では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させると説明した。
【0310】
しかしながら、上記態様によって検査画像を表示した場合、異常確信度が大きい領域と、異常確信度が小さい領域との境界部分の把握が困難になる恐れがある。より具体的には、異物と思われる領域の輪郭の視認性が低下する恐れがある。
【0311】
本変形例に係る検査装置では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素を、検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させる（図２２参照）。また、本変形例に係る検査装置は、図２２に示すように、物品Ｐの輪郭を抽出して表示するものであってもよい。
【0312】
本変形例に係る検査装置では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、の表示態様の視覚的な区分がより明確になされる。このため、本変形例に係る検査装置のオペレータは、異物の全体像を直感的に把握することができる。
【0313】
＜他の実施形態＞
以上、本開示に係る実施形態を説明したが、特許請求の範囲の趣旨及び範囲から逸脱することなく、形態や詳細の多様な変更が可能なことが理解されるであろう。
以上、本開示に係る実施形態を説明したが、特許請求の範囲の趣旨及び範囲から逸脱することなく、形態や詳細の多様な変更が可能なことが理解されるであろう。
【0314】
本開示は、上記各実施形態そのままに限定されるものではない。本開示は、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、本開示は、上記各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の開示を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素は削除してもよい。さらに、異なる実施形態に構成要素を適宜組み合わせてもよい。したがって、本実施形態はあらゆる点で一例に過ぎず、限定するものではないと考えるべきであり、これにより、当業者に自明のあらゆる修正が実施形態に含まれることが意図される。
【符号の説明】
【0315】
１０、１１０ 検査装置
２０ 照射部
３０ 検出部
４０、１４０ 表示部
５２、１５２ 制御部
５２ａ 画像生成部
１００ 検査システム
Ｐ 物品
２０ 照射部
３０ 検出部
４０、１４０ 表示部
５２、１５２ 制御部
５２ａ 画像生成部
１００ 検査システム
Ｐ 物品
【先行技術文献】
【特許文献】
【0316】
【特許文献1】特開２０１４－０４８１７８号公報
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9A】
【図9B】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】