特開 2022-48470 点検装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022048470

(43)【公開日】2022-03-28

(54)【発明の名称】点検装置

(51)【国際特許分類】

   G01J 1/42 20060101AFI20220318BHJP

   F41G 3/26 20060101ALI20220318BHJP

【ＦＩ】

G01J1/42 D

F41G3/26 A

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020154303

(22)【出願日】2020-09-15

(71)【出願人】

【識別番号】000001122

【氏名又は名称】株式会社日立国際電気

(74)【代理人】

【識別番号】110000350

【氏名又は名称】ポレール特許業務法人

(72)【発明者】

【氏名】牧野 晋也

(72)【発明者】

【氏名】関 太樹

(72)【発明者】

【氏名】福嶋 一茂

(72)【発明者】

【氏名】大川 竜也

(72)【発明者】

【氏名】桐田 茂次

【テーマコード（参考）】

2C014

2G065

【Ｆターム（参考）】

2C014CA01

2C014CA06

2G065AA04

2G065AB09

2G065AB14

2G065BC14

2G065BD01

2G065CA05

2G065DA05

(57)【要約】

【課題】レーザ射撃訓練システムにおけるレーザ発光装置の出力低下を判別可能な点検装置を提供することにある。
【解決手段】点検装置は、レーザ発光装置から照射されたレーザ光線を受光する受光部を有する光パルスメータと、前記光パルスメータに接続され入出力処理装置と、を含む。前記入出力処理装置は、前記受光部によって受光された前記レーザ光線の測定値を表示する表示部を有する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

レーザ発光装置から照射されたレーザ光線を受光する受光部を有する光パルスメータと、
前記光パルスメータに接続され入出力処理装置と、を含み、
前記入出力処理装置は、前記受光部によって受光された前記レーザ光線の測定値を表示する表示部を有する、点検装置。

【請求項2】

請求項１において、
前記光パルスメータと前記レーザ発光装置との間に設けられたアダプタを含み、
前記アダプタは、前記レーザ発光装置の種類に対応して変更される、点検装置。

【請求項3】

請求項１において、
前記入出力処理装置は、前記測定値を経年劣化閾値を用いて判別する、点検装置。

【請求項4】

請求項３において、
前記入出力処理装置は、前記レーザ光線の光出力が経年劣化により低下した際に、前記レーザ発光装置の前記レーザ光線の出力を規格値の範囲内で増加させるための外部制御信号を前記レーザ発光装置へ出力する、点検装置。

【請求項5】

請求項１において、
前記入出力処理装置は、鋸波パルス、三角波パルスおよび矩形パルスに対応するように検出方法を変更する、点検装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、点検装置に関し、特に、自衛官や警察官のレーザ射撃訓練システムに用いられるレーザ送信装置の点検装置に関する。

【背景技術】

【0002】

自衛官や警察官のレーザ射撃訓練システムにおいて、レーザ光線を発射するレーザ送信装置（プロジェクタ）を備えるものが知られている。このようなレーザ射撃訓練システムの提案として、たとえば、特開２０１０－７８２１２号公報、特開２０１８－５４１８２号公報、特開平１０－２３２１００号公報等が有る。

【0003】

また、レーザ光出力装置の劣化検出装置として、特開平４－２５０３２５号公報がある。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１０－７８２１２号公報

【特許文献2】特開２０１８－５４１８２号公報

【特許文献3】特開平１０－２３２１００号公報

【特許文献4】特開平４－２５０３２５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

レーザ射撃訓練システムに用いられるレーザ送信装置の点検装置は以下の３つの点検のみが可能であった。

【0006】

１）プロジェクタから送信されるレーザは、正常な照射が出来ているか。
２）プロジェクタからのレーザ光量は、受光側にて必要な光量の閾値を超えているか。
３）プロジェクタから送信されるレーザの点滅データは、正常にデータとして送信出来ているか。

【0007】

レーザ送信装置内のレーザ光源は、レンズの曇り・使用時間・使用環境（温度・湿度等）によるレーザ光自体が減衰する事で、レーザ光出力が低下する。この点検装置は、どの程度、レーザ光源の光出力が低下したか判別が出来なかった。また、この点検装置は、レーザ発光装置の経年劣化判別とレーザ出力補正とに対応することも出来なかった。

【0008】

本開示の課題は、レーザ射撃訓練システムにおけるレーザ発光装置の出力低下を判別可能な点検装置を提供することにある。

【0009】

その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。

【課題を解決するための手段】

【0010】

本開示のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。

【0011】

一実施の形態に係る点検装置は、レーザ発光装置から照射されたレーザ光線を受光する受光部を有する光パルスメータと、前記光パルスメータに接続され入出力処理装置と、を含む。前記入出力処理装置は、前記受光部によって受光された前記レーザ光線の測定値を表示する表示部を有する。

【発明の効果】

【0012】

上記一実施の形態に係る点検装置によれば、レーザ発光装置の出力低下を判別することが出来る。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】図１は、実施例に係る点検装置の全体構成を説明する図である。

【図2】図２は、光パルスメータを説明する図である。

【図3】図３は、入出力処理装置を説明する図である。

【図4】図４は、点検装置の構成例を説明する概念図である。

【図5】図５は、鋸波パルスの検出方法を説明する図である。

【図6】図６は、矩形パルスの検出方法を説明する図である。

【図7】図７は、三角波パルスの検出方法を説明する図である。

【図8】図８は、レーザーダイオードの経年劣化の例を示すグラフである。

【図9】図９は、レーザーダイオードの異常温度上昇によるレーザ出力低下例を示すグラフである。

【図10】図１０は、レーザ送信装置のハードウェア上にレーザ出力調節用のダイヤルを設ける回路構成例を示す図である。

【図11】図１１は、入出力処理装置にて外部制御を与えることにより、光出力の調整を行う回路構成例を示す図である。

【図12】図１２は、実施例の点検装置の機能を説明する図である。

【発明を実施するための形態】

【0014】

以下、実施の形態および実施例について、図面を用いて説明する。ただし、以下の説明において、同一構成要素には同一符号を付し繰り返しの説明を省略することがある。なお、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。

【0015】

（実施の形態）
本発明において、点検装置は、光パルスメータ１、入出力処理装置２、プロジェクタ用アダプタ３を含み、レーザ送信装置（プロジェクタとも言う）４の発光するレーザ光の出力を測定する。

【0016】

外的環境によりレーザ光源の光出力が減衰した値が判別可能とするため、光パルスメータ１にて光出力値を測定し、入出力処理装置２において測定値を表示させる。

【0017】

入出力処理装置２において、パルス発光検出処理方法を更新する事で種々のパルス発光に対応可能として、入出力処理装置２の拡張性を広げる。

【0018】

経年劣化によりレーザ光源の光出力が低下した値なのか判別可能とするため、光パルスメータ１にて光出力値を測定し、測定値を表示させる。また、測定結果と一緒に出荷時のレーザ光源の出力値も表示させることで、どの程度低下しているか比較可能とする。

【0019】

レーザ光源の光出力が外的要因（振動、衝撃、異物混入等）の劣化か経年劣化かを判別可能とするため、入出力処理装置２において、測定結果を経年劣化閾値（出荷時の光出力値×経年劣化係数）にて判別する。

【0020】

レーザ光源の光出力が、劣化した際、補正としてのレーザ出力の増加を可能とするためが、レーザ送信装置４の出力を規格値内での増加を行う事で対応可能とする。

【0021】

専用のレーザ光源に対するレンズ径での焦点において対応しているが、拡張対応を可能とするため、アダプタ３を対応するレーザ送信装置４のレンズ径並びに焦点距離に合わせることで、対応する。

【0022】

太陽光によるノイズ増加する屋外での運用を可能とするため、光パルスメータ１に太陽光を阻害するフィルタ並びにカバーを設ける。

【0023】

実施例について、図面を用いて説明する。

【実施例0024】

図１は、実施例に係る点検装置の全体構成を説明する図である。点検装置１０は、光パルスメータ１、入出力処理装置２、および、プロジェクタ用のアダプタ３を含み、レーザ射撃訓練システムに用いられるレーザ送信装置（プロジェクタとも言う）４を点検する。レーザ送信装置４は、レーザ発光装置と言うこともできる。レーザ送信装置４は、筐体４１と、筐体４１に取り付けられた光学レンズ４２と、筐体４１内に設けられ、光学レンズ４２からレーザ光線を発光するレーザーダイオード（不図示）を含む。プロジェクタ４用のアダプタ３は第１端部３１と第２端部３２とを含み、第１端部３１が光学レンズ４２に取り付け可能にされ、第２端部３２が光パルスメータ１に取り付け可能にされている、これにより、レーザ送信装置４内のレーザーダイオードから発生したレーザ光線が、アダプタ３を介して、光パルスメータ１へ入力可能にされている。光パルスメータ１は、入出力処理装置２に、ケーブル配線によって電気的に接続されており、光パルスメータ１の検出信号が入出力処理装置２へ入力可能にされている。以下、光パルスメータ１、入出力処理装置２、および、アダプタ３について、説明する。

【0025】

図２は、光パルスメータ１を説明する図である。光パルスメータ１は、入出力処理装置２と接続可能な接続ケーブル１１と、レーザ光線を受光するための円形状の受光部１２と、アダプタ３の第２端部３２への取り付けるための円形状の取り付け部分１３と、を含む。光パルスメータ１の取り付け部分１３は、太陽光を除外する光学フィルタ１４を取り付けることができるように構成されている。

【0026】

レーザ光線を受光部１２で受光する事で、レーザ光線の照射発光量が測定可能にされている。光パルスメータ１は、接続ケーブル１１を用いて入出力処理装置２に接続する。光パルスメータ１とアダプタ３とを組みあわせる事で、レーザ送信装置４が取り付け可能になっている。レーザ送信装置４から照射されたレーザ光線は、アダプタ３により、光パルスメータ１の受光部１２にレーザ光線の焦点が絞られる。これにより、レーザ送信装置４から出力されるレーザ光線の光出力が受光部１２により測定可能になっている。

【0027】

図３は、入出力処理装置２を説明する図である。入出力処理装置２は、コネクタ２１と、表示部２２と、半導体装置（不図示）と、を含む。コネクタ２１には、接続ケーブル１１が接続可能とされている。表示部２２には、接続ケーブル１１から受信した光出力の測定結果を表示することができる。入出力処理装置２は、光パルスメータ１からレーザ光線の受光値を取得し、ソフトウエア上で受光処理を行うことにより、レーザ光線の照射の発光量を測定可能である。光パルスメータ１と入出力処理装置２とは接続ケーブル１１で接続される。光パルスメータ１が取得したレーザ光線の光測定値は、接続ケーブル１１を経由して、入出力処理装置２に入力され、光出力測定結果を表示部２２に表示する。

【0028】

半導体装置は、受光処理用のソフトウエアを格納する記憶部と、受光処理用のソフトウエアを実行する中央処理装置（ＣＰＵ）の様な制御部と、受光処理用のソフトウエアを実行する制御部から光出力の測定結果を示す表示データを受信し、表示部２２へ表示データを供給する表示制御部と、を含む。これにより、光出力測定結果を表示部２２に表示することができる。

【0029】

表示部２２の表示例は、たとえば、「光出力測定結果: ピーク出力1.00W」と言う様なテキストによる表示や、図３に拡大して示す様に、光出力測定結果を示す画像（グラフ）による表示を行うことができる。図３に拡大して示す表示例では、レーザ光線の照射の発光量のピーク値ＰＰと、レーザ光線の閾値ＰＶと、光パルスメータ１が取得したレーザ光線の光測定値ＰＯとが表示されている。この例は、レーザ送信装置４からパルス波形のレーザ光線を発光させた場合のレーザ光線の光測定値の例である。

【0030】

図１に示すアダプタ３は、レーザ送信装置４のレンズ４２のサイズ径並びに焦点距離に対応するように構成されている。レーザ送信装置４のレーザ光線の照射の発光量は、アダプタ３を経由する事で、光パルスメータ１が測定出来る。レーザ送信装置４の照射するレーザ光線は、アダプタ３により、光パルスメータ１の受光部１２にレーザ光線の焦点が絞られ、これにより、光パルスメータ１はレーザ光線の光出力値を測定出来る。アダプタ３の第１端部３１は、アダプタ３の入光部を構成しており、光パルスメータ１の受光部１２に向けて、レーザ照射を集光レンズ（３３：図４参照）によって絞る。アダプタ３の第２端部３２は、アダプタ３の光パルスメータ１への取付け部を構成しており、光パルスメータ１へ取付けて、入光部３１で絞ったレーザ光線を受光部１２に受光させる。

【0031】

レーザ送信装置４は、レーザ出力の補正機能を含むものとする。レーザ送信装置４がレーザ光線を照射する事で、光パルスメータ１は光出力値が測定でき、入出力処理装置２は測定結果を表示できる。レーザ送信装置４において、送信されるレーザ光線を一定周期毎の間欠的な照射によるデータを付与するようにレーザ光線の発光設定を行う。この発光設定で、レーザ送信装置４からレーザ光線を発光させる。データが付与されたレーザ光線は、アダプタ３を経由して、光パルスメータ１へ照射されることになる。レーザ送信装置４は、レーザ出力、レンズ径、焦点等にて種類が分かれるが、プロジェクタ用のアダプタ３を変更する事で対応することができる。光パルスメータ１は、レーザ送信装置４の種類が変更されても、同じ光パルスメータを利用する。つまり、光パルスメータ１は、レーザ送信装置４の種類が変更されても、共通に利用することができる。

【0032】

図４は、点検装置の構成例を説明する概念図である。

【0033】

レーザ送信装置４は、レーザーダイオードの様な光源４３と、レーザ照射部４４と、を有し、レーザ照射部４４には、拡散レンズの様な光学レンズ４２が取り付けられている。

【0034】

アダプタ３の入光部である第１端部３１には、集光レンズ３３が取り付けられており、第１端部３１にはレーザ照射部４４が取り付けられている。アダプタ３の第２端部３２には、光パルスメータ１が取り付けられている。図４に示す様に、アダプタ３は、第１端部３１と第２端部３２との間に、第１端部３１と第２端部３２とを覆う様に、または、第１端部３１と第２端部３２とを連結する様に設けられたカバー部３４を有する。つまり、アダプタ３は、この例では、第１端部３１と第２端部３２とカバー部３４とで構成された円錐台の様な形状とされている。第１端部３１と第２端部３２のおのおのは円形形状とされ、第１端部３１の直径は、第２端部３２の直径より長くされている。

【0035】

レーザ送信装置４内のレーザーダイオードの様な光源４３から、レーザ照射部４４に設けられた光学レンズ４２にて照射されたレーザ光線は、通常運用では拡散するが、アダプタ３の入光部（第１端部３１）に設けられた集光レンズ３３を介することにより、光パルスメータ１の受光部１２へ到達するように構成されている。

【0036】

（点検装置の操作）
以下、点検装置１０の操作について説明する。

【0037】

（点検装置１０の準備）
（１）測定するレーザ送信装置４に対応したアダプタ３を用意する。
（２）光パルスメータ１、入出力処理装置２、アダプタ３、レーザ送信装置４を全て取り付ける。
（３）入出力処理装置２に電源を供給し、入出力処理装置２の受光処理用のソフトウエアを起動させる。
（４）入出力処理装置２から光パルスメータ１へ電源を供給し、入出力処理装置２と光パルスメータ１の間の通信を確立する。

【0038】

（レーザ光線の測定）
（５）レーザ送信装置４からレーザ光線を照射させる。
（６）アダプタ３を経由し、集光したレーザ照射を光パルスメータ１の受光部１２により受光する。
（７）光パルスメータ１は受光したレーザ照射を測定し、通信ケーブル１１を経由し、入出力処理装置２へ測定データを送信する。

【0039】

（８）測定データを入出力処理装置２のソフトウエアにて光出力におけるピーク出力値の検出処理並びに光出力の換算を行い、表示部２２に測定結果を表示する。また、測定結果と一緒に、レーザ送信装置４の出荷時のレーザ照射の出力値（ピーク出力値）も表示させる。これにより、出荷時の出力値から、現時点（測定時点）において、どの程度光出力のピーク出力値が低下しているかを容易に比較することが可能となる。

【0040】

（９）入出力処理装置２のソフトウエアにて、測定結果と経年劣化閾値（出荷時の光出力値×経年劣化係数）を比較する事で、以下のＡ）又はＢ）の結果が表示される。
Ａ）測定結果が経年劣化閾値内の場合、入出力処理装置２は経年劣化と判定し、入出力処理装置２からレーザ送信装置４へレーザ出力調整指示を出力し、レーザ送信装置４の光出力が調整ないし補正される。
Ｂ）測定結果が経年劣化閾値外の場合、入出力処理装置２は、メーカ修理対応と判定し、修理依頼の対応方法を表示部２２に表示する。

【0041】

（１０）測定結果において、光出力が低下している場合、以下Ｃ）又はＤ）の対応指示が入出力処理装置２の表示部２２に表示される。
Ｃ）補正範囲内の場合、レーザ送信装置４にて補正を行う。
Ｄ）補正範囲外の場合、メーカへの修理手続きの方法が表示される。

【0042】

（光出力におけるピーク出力の検出処理について）
ピーク出力の検出処理、または、パルス発光検出処理方法はソフトウエアを用いたソフト処理とすることで、検出処理の方法を更新することが可能に構成する。

【0043】

レーザ出力のパルスエネルギー（単位：J）は、１つのパルスについての光強度［Ｗ］と時間［ｓ］の積分、即ち、パルスの面積（パルスエネルギー）［Ｊ］になる。レーザデータは一定周期をおいて出力される為、パルスの面積の全出力データを取得してしまうと、膨大な量のデータ蓄積により、処理に膨大な時間を要する為、ピーク出力のみ検出する処理が必要となる。

【0044】

以下にパルス波形の種類およびピーク出力の処理方法について記載する。

【0045】

図５は、鋸波パルスの検出方法を説明する図である。図５（ａ）に示す様に、レーザ光線ＬＤは、複数の鋸波パルスが間欠的に発生されている。図５（ｂ）は、図５（ａ）の間欠的に発生されたレーザ光線ＬＤの部分ＬＤＧを拡大して示している。図５（ｂ）に示す様に、鋸波パルスのレーザ光線の検出では、閾値ＰＶをノイズレベルより上に持ち上げる事で、ピーク出力ＰＰを取得する。ここで、ノイズレベルとは、レーザ光線の光測定値ＰＯの最低値の部分である。

【0046】

図６は、矩形パルスの検出方法を説明する図である。レーザ光線ＬＤは複数の矩形波パルスが間欠的に発生されている。 矩形波パルスは、ピーク出力ＰＰが一定の為、信号の立ち上がりエッジＲＥと立ち下がりエッジＦＥの両方を検出する事で、ピーク出力ＰＰを取得する。

【0047】

図７は、三角波パルスの検出方法を説明する図である。三角波パルスは、パルスの面積［Ｊ］が大きい為、検出の閾値ＰＶをノイズレベルに近くする事で、ピーク出力ＰＰを取得する。

【0048】

（光出力の換算方法について）
光パルスメータ１の種類にも依存するが、測定エネルギー密度がＪ表示の為、パルスエネルギーであるＪを光強度［Ｗ］に変換することで、測定結果の変換が可能となる。Wは、次式の様に、エネルギー密度Jを時間（パルス幅）で割ることにより、算出する。
Ｗ = Ｊ ÷ ｓ
（測定結果と経年劣化閾値（出荷時の光出力値×経年劣化係数）との比較について）
図８は、レーザーダイオードの経年劣化の例を示すグラフである。縦軸はレーザ光量％を示しており、出荷時の光出力値を１００％としている。横軸は、保管時間（Ｈ）を示している。点線Ｌ１がレーザーダイオードの経年劣化を例示的に示している。一例として、出荷時の光出力値を１Wとした際、５年間がレーザ送信装置４の製品使用期限の場合、経年劣化係数が０．０１（１年間に０．９９Ｗへ出力低下）×５年にて０．０５Ｗより、０．９５Ｗが閾値ＰＶとなる。

【0049】

ここで、測定出力結果ＰＯが０．９５Ｗ以下の場合、経年劣化閾値外と判定し、メーカ修理対応となる（（９）のＢ））。一方、測定出力結果ＰＯが１Ｗ~０．９５Ｗの範囲内の場合、経年劣化と判定される（（９）のＡ））。

【0050】

図９は、レーザーダイオードの異常温度上昇によるレーザ出力低下例を示すグラフである。縦軸はレーザ光量％を示しており、出荷時の光出力値を１００％としている。横軸は、レーザーダイオードの素子温度を示している。点線Ｌ２がレーザーダイオードの異常温度上昇によるレーザ出力低下を例示的に示している。このようなレーザーダイオードのレーザ出力低下の例は、振動、衝撃、異常温度上昇、異物混入等の外的要因の場合が考えられる。

【0051】

（補正範囲内の場合、レーザ送信装置４での補正（（１０）のＣ））
レーザーダイオード４３の光出力を上げる手段としては、レーザ光源への印可電圧並びに電流を増加させる必要が有る。実現方法は以下に示す２種の方法が有る為、組み合わせて使用する。

【0052】

方法１）：レーザ送信装置４のハードウェア上にレーザ出力調節用ダイヤルを設ける。

【0053】

方法２）：入出力処理装置２にてレーザ送信装置４に外部制御信号を与えることにより、光出力の調整を行う。

【0054】

（方法１）の説明）
レーザ送信装置４の回路上に、光出力の電圧印可部へ可変制御機能を付加する事で、実現が可能となる。例として、レーザ出力調整規格値が０．９Ｗ～１Ｗの範囲の為、０．９５Ｗの中間値にて調整する。それにより、経年劣化時は０．０５Ｗを調節出来るダイヤルを回し出力を上げる事で、レーザ送信装置４の出力を補正することが可能となる。

【0055】

図１０は、レーザ送信装置のハードウェア上にレーザ出力調節用のダイヤルを設ける回路構成例を示す図である。図１０に示す様に、電源電位が供給される電源端子ＶＣＣと接地電位が供給される接地端子ＧＮＤとの間に、分圧抵抗１００と、照射制御回路１０１と、ダイヤル式分圧抵抗１０２と、分圧抵抗１０３と、レーザ光源４３とが設けられる。照射制御回路１０１には、照射制御機能１０４が接続されている。ダイヤル式分圧抵抗１０２の抵抗値を調整することにより、レーザ光源４３は０．９５Ｗ～１Ｗの範囲で出力することができる。ダイヤル式分圧抵抗１０２のダイヤルをレーザ送信装置４の筐体４１に設けられる。

【0056】

（方法２）の説明）
レーザ送信装置４の回路上で、ソフト処理により、抵抗値を増減する制御を追加することにより、光出力の電圧印可部へ可変制御機能を付加する事で、実現が可能となる。例として、レーザ出力調整規格値が０．９Ｗ～１Ｗの範囲、０．９５Ｗの中間値にて調整する。それにより、経年劣化時は抵抗値を切り替える事により、レーザ光源４３の電流を増やすことで、０．０５Ｗの出力が上がり、レーザ送信装置４の出力を補正することが可能となる。

【0057】

図１１は、入出力処理装置にて外部制御を与えることにより、光出力の調整を行う回路構成例を示す図である。図１１に示す様に、電源電位が供給される電源端子ＶＣＣと接地電位が供給される接地端子ＧＮＤとの間に、分圧抵抗１００と、照射制御回路１０１と、可変抵抗回路１０５と、分圧抵抗１０３と、レーザ光源４３とが設けられる。照射制御回路１０１には照射制御機能１０４が接続され、可変抵抗回路１０５には抵抗値可変機能１０６が接続されている。抵抗値可変機能１０６を用いて可変抵抗回路１０５の抵抗値を調整することにより、レーザ光源４３は０．９５Ｗ～１Ｗの範囲で出力することができる。入出力処理装置２のソフトウエアから出力された外部制御信号が抵抗値可変機能１０６に与えられ、抵抗値可変機能１０６は外部制御信号に基づいて、可変抵抗回路１０５を制御し、レーザ光源４３からのレーザ出力値が調整される。

【0058】

図１２は、実施例の点検装置の機能を説明する図である。光パルスメータ１は、照射発光量の測定機能と、屋外測定機能と、を有する。入出力処理装置２は、レーザ受光エネルギーの発光量の変換機能と、経年劣化の判別機能と、故障劣化の判別機能および通知機能と、レーザ出力調整制御機能と、修理通知機能と、を有する。アダプタ３は、各レンズ径のレーザ射撃訓練装置対応機能を有する。レーザ送信装置４は、レーザ出力調整機能を有する。

【0059】

実施例によれば、以下の効果を得ることができる。

【0060】

１）レーザ射撃訓練装置のレーザ送信装置内のレーザ光源はレンズの曇り・使用時間・使用環境（温度・湿度等）によるレーザ自体が減衰する事で光出力が低下する。現行の点検装置は、どの程度、レーザ光源の光出力が低下したか判別が出来ず、正常に照射出来ているか、出力出来ていない場合の異常状態（出力が低下したか、出力していないか）の判別しか出来ない。実施例によれば、光パルスメータ１にて光出力値を測定し、入出力処理装置２にて測定値を表示させる。それにより、正常照射あるいは出力低下、出力無しの判別が可能となる。又、出力低下についてはレーザ出力の測定値により、外的要因（振動、衝撃、レンズの曇り等）で大幅な劣化と、レーザ光源の使用年数が経過する事による経年劣化が判別可能である。

【0061】

２）レーザ送信装置内のレーザ光源は、専用波形のパルス出力であるが、点検装置は専用波形のみ対応しており、他のレーザ射撃訓練装置等のパルス発光（鋸波パルス、三角波パルス並びに矩形パルス等）に対応していない。実施例によれば、光パルスメータ１にて光出力値が測定され、入出力処理装置２に測定データが入力される際、測定データに応じ、処理方法を変更することにより、他のレーザ射撃訓練装置等のパルス発光（鋸波パルス、三角波パルス並びに矩形パルス等）に対応することができる。

【0062】

３）レーザ送信装置内のレーザ光源は、年数が経過する事で経年劣化する。そのレーザ光源の光出力の低下値が、どの程度か判別出来ない。実施例によれば、光パルスメータ１にて光出力値を測定し、入出力処理装置２にて測定値を表示させることで、出荷時の出力値も表示させ、劣化値の判別が可能である。

【0063】

４）レーザ送信装置内のレーザ光源において、外的要因（振動、衝撃、レンズの曇り等）による大幅な劣化と、レーザ光源の使用年数が経過する事による経年劣化との判別が不可能であった。実施例によれば、出力低下についてはレーザ出力の測定値に対し、入出力処理装置２のソフトウエアにて、測定結果と経年劣化閾値（出荷時の光出力値×経年劣化係数）を比較する事で、外的要因（振動、衝撃、レンズの曇り等）での大幅な劣化と、レーザ光源の使用年数が経過する事による経年劣化とが判別可能である。

【0064】

５）レーザ送信装置内のレーザ光源が、劣化した際、補正としてのレーザ出力が増加出来ない。実施例によれば、レーザ送信装置４の出力を規格値内で増加を行う事で補正可能である。

【0065】

６）レーザ送信装置の点検装置は専用のレーザ光源に対するレンズ径での焦点において対応しているが、他のレーザ射撃訓練装置等のレンズ径に対応していない。実施例によれば、アダプタ３を対応するプロジェクタ４のレンズ径並びに焦点距離に合わせることで、様々なレーザ射撃訓練装置のレーザ送信装置の点検に適用可能である。

【0066】

７）レーザ送信装置の点検装置は屋内運用を想定されており、レーザ出力時、太陽光が入ってしまうことにより、正常なデータが取得出来ない問題があった。実施例によれば、光パルスメータ１に太陽光を阻害するフィルタ並びにカバーを設ける事で、点検装置１０の屋外運用可能にできる。

【0067】

以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、上記実施形態および実施例に限定されるものではなく、種々変更可能であることはいうまでもない。

【符号の説明】

【0068】

１：光パルスメータ
２：入出力処理装置
３：アダプタ
４：レーザ送信機
１０：点検装置
２２：表示部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】