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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022056158
(43)【公開日】2022-04-08
(54)【発明の名称】金属帯の処理方法、マーク付与方法、及びマーク印字装置
(51)【国際特許分類】
B21B 37/00 20060101AFI20220401BHJP
B21C 51/00 20060101ALI20220401BHJP
B21B 38/00 20060101ALN20220401BHJP
【ＦＩ】
B21B37/00 241
B21C51/00 B
B21B38/00 F
【審査請求】有
【請求項の数】14
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2020164011
(22)【出願日】2020-09-29
(11)【特許番号】
(45)【特許公報発行日】2022-03-02
(71)【出願人】
【識別番号】000001258
【氏名又は名称】ＪＦＥスチール株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100103850
【弁理士】
【氏名又は名称】田中 秀▲てつ▼
(74)【代理人】
【識別番号】100105854
【弁理士】
【氏名又は名称】廣瀬 一
(74)【代理人】
【識別番号】100116012
【弁理士】
【氏名又は名称】宮坂 徹
(74)【代理人】
【識別番号】100066980
【弁理士】
【氏名又は名称】森 哲也
(72)【発明者】
【氏名】牧 善太
【テーマコード（参考）】
4E124
【Ｆターム（参考）】
4E124AA01
4E124FF01
4E124FF10
(57)【要約】
【課題】印字した処理ラインとは別の処理ラインでのマークの再印字を精度良く実行する。
【解決手段】金属帯に対し複数の処理ラインで処理を施す。第１の処理ラインで、金属帯に対し欠陥マークＫを印字する工程と、第１の処理ライン又は第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、金属帯に対し長手方向に沿って等間隔に並ぶ複数の参照マークＳを印字する工程と、下流の第２の処理ラインで、第１の位置特定マークを付与した金属帯部分を切除する工程と、切除する工程の後に、金属帯に対し欠陥マークＫと長手方向の位置が同じ位置に欠陥マークＫを再印字する工程と、第２の処理ラインで、欠陥マークＫを付与する前に、複数の参照マークＳの少なくとも１つを検出し、検出した参照マークの位置情報に基づき、欠陥マークＫを付与するためのトラッキング情報を校正する工程と、を備える。
【選択図】図５
【解決手段】金属帯に対し複数の処理ラインで処理を施す。第１の処理ラインで、金属帯に対し欠陥マークＫを印字する工程と、第１の処理ライン又は第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、金属帯に対し長手方向に沿って等間隔に並ぶ複数の参照マークＳを印字する工程と、下流の第２の処理ラインで、第１の位置特定マークを付与した金属帯部分を切除する工程と、切除する工程の後に、金属帯に対し欠陥マークＫと長手方向の位置が同じ位置に欠陥マークＫを再印字する工程と、第２の処理ラインで、欠陥マークＫを付与する前に、複数の参照マークＳの少なくとも１つを検出し、検出した参照マークの位置情報に基づき、欠陥マークＫを付与するためのトラッキング情報を校正する工程と、を備える。
【選択図】図５
【特許請求の範囲】
【請求項1】
同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す金属帯の処理方法であって、
上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、
上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、
上記第２の処理ラインで、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与する工程と、
上記第２の処理ラインで、上記第２の位置特定マークを付与する前に、上記複数の参照マークの少なくとも１つを検出し、検出した参照マークの位置情報に基づき、上記第２の位置特定マークを付与するためのトラッキング情報を校正する工程と、
を備えることを特徴とする金属帯の処理方法。
上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、
上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、
上記第２の処理ラインで、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与する工程と、
上記第２の処理ラインで、上記第２の位置特定マークを付与する前に、上記複数の参照マークの少なくとも１つを検出し、検出した参照マークの位置情報に基づき、上記第２の位置特定マークを付与するためのトラッキング情報を校正する工程と、
を備えることを特徴とする金属帯の処理方法。
【請求項2】
同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す金属帯の処理方法であって、
上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、
上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、
上記第２の処理ラインで、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付する工程と、
を備え、
上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記複数の参照マークから選択した参照マークに関連付け、
上記第２の処理ラインにおいて、上記選択した参照マークの位置情報に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定して、上記第２の位置特定マークの付与位置を決定する、
ことを特徴とする金属帯の処理方法。
上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、
上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、
上記第２の処理ラインで、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付する工程と、
を備え、
上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記複数の参照マークから選択した参照マークに関連付け、
上記第２の処理ラインにおいて、上記選択した参照マークの位置情報に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定して、上記第２の位置特定マークの付与位置を決定する、
ことを特徴とする金属帯の処理方法。
【請求項3】
上記複数の参照マークに、各参照マークを識別する識別情報を付与することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載した金属帯の処理方法。
【請求項4】
上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記選択した参照マークからの金属帯長手方向の離隔距離で特定する、ことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載した金属帯の処理方法。
【請求項5】
上記第２の処理ラインにおいて、上記複数の参照マークを付与した上記金属帯部分を切除する処理を行うことを特徴とする請求項１～請求項４のいずれか１項に記載した金属帯の処理方法。
【請求項6】
上記複数の参照マークを付与した上記金属帯部分を切除する処理は、上記第２の位置特定マークを付与する前に実行されることを特徴とする請求項５に記載した金属帯の処理方法。
【請求項7】
上記第１の位置特定マーク及び上記第２の位置特定マークは、金属帯が有する欠陥の長手方向位置を示す欠陥マークであることを特徴とする請求項１～請求項６のいずれか１項に記載した金属帯の処理方法。
【請求項8】
請求項１～請求項７のいずれか１項に記載した金属帯の処理方法を備える、金属帯の製造方法。
【請求項9】
冷延鋼板を製造することを特徴とする請求項８に記載した金属帯の製造方法。
【請求項10】
同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す際における、上記金属帯にマークを付与するマーク付与方法であって、
上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し位置を特定する第１の位置特定マークを付し、
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて上記金属帯に付された長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与し、
上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与し、
上記第２の位置特定マークを付与する際に、上記複数の参照マークから選択した参照マークの位置に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定することで、上記第２の位置特定マークを付する位置を決定する、
ことを特徴とするマーク付与方法。
上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し位置を特定する第１の位置特定マークを付し、
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて上記金属帯に付された長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与し、
上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与し、
上記第２の位置特定マークを付与する際に、上記複数の参照マークから選択した参照マークの位置に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定することで、上記第２の位置特定マークを付する位置を決定する、
ことを特徴とするマーク付与方法。
【請求項11】
同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す際における、上記複数の処理ラインから選択した第２の処理ラインにおいて、上記第２の処理ラインよりも上流の第１の処理ラインで付与された第１の位置特定マークと金属帯長手方向の位置が同じ位置に、第２の位置特定マークを付与するためのマーク付与装置であって、
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインに配置されて、金属帯に参照マークを印字する参照マーク用印字装置と、
上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを、上記参照マーク用印字装置を介して印字する処理を実行する参照マーク印字処理部と、
上記複数の参照マークから選択した参照マークと上記第１の位置特定マークとを関連付けた関連情報を求める関連情報取得部と、
上記第２の処理ラインに設けられ、上記参照マークを検出するマーク検出部と、
上記第２の処理ラインに配置されて、金属帯に第２の位置特定マークを付与する再印字装置と、
上記関連情報取得部が求めた関連情報と上記マーク検出部か検出した参照マークの位置情報とから、上記第１の位置特定マークの金属帯長手方向位置を特定し、上記特定した長手方向位置に基づき、上記第２の位置特定マークを、上記再印字装置を介して印字する処理を実行する再印字処理部と、
を備えることを特徴とするマーク印字装置。
上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインに配置されて、金属帯に参照マークを印字する参照マーク用印字装置と、
上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを、上記参照マーク用印字装置を介して印字する処理を実行する参照マーク印字処理部と、
上記複数の参照マークから選択した参照マークと上記第１の位置特定マークとを関連付けた関連情報を求める関連情報取得部と、
上記第２の処理ラインに設けられ、上記参照マークを検出するマーク検出部と、
上記第２の処理ラインに配置されて、金属帯に第２の位置特定マークを付与する再印字装置と、
上記関連情報取得部が求めた関連情報と上記マーク検出部か検出した参照マークの位置情報とから、上記第１の位置特定マークの金属帯長手方向位置を特定し、上記特定した長手方向位置に基づき、上記第２の位置特定マークを、上記再印字装置を介して印字する処理を実行する再印字処理部と、
を備えることを特徴とするマーク印字装置。
【請求項12】
上記複数の参照マークは、各参照マークを識別する識別情報が付与されていることを特徴とする請求項１１に記載したマーク印字装置。
【請求項13】
上記関連情報は、上記第１の位置特定マークの長手方向位置と、上記複数の参照マークから選択した参照マークの長手方向位置との、金属帯長手方向の離隔距離の情報を含むことを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載したマーク印字装置。
【請求項14】
上記第１の位置特定マーク及び上記第２の位置特定マークは、金属帯が有する欠陥の長手方向位置を示す欠陥マークであることを特徴とする請求項１１～請求項１３のいずれか１項に記載したマーク印字装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、冷延鋼板の製造処理ラインなど、金属帯を複数の処理ラインにて順次処理を施す技術に関する。本発明は、特に、複数の処理ライン間での位置トラッキング方法に特徴を有する技術である。
【背景技術】
【0002】
従来の位置トラッキング処理としては、例えば特許文献１に記載の技術がある。
特許文献１では、鉄鋼薄板連続処理ラインにおいて、溶接点を用いたポイントトラッキングシステムと、ＰＬＧ（パルスジェネレータ）を用いたロール回転数の検出値に基づき搬送位置やコイル長を算出する方法とを用いている。
特許文献１では、鉄鋼薄板連続処理ラインにおいて、溶接点を用いたポイントトラッキングシステムと、ＰＬＧ（パルスジェネレータ）を用いたロール回転数の検出値に基づき搬送位置やコイル長を算出する方法とを用いている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開平７－３２０１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
ＰＬＧによるトラッキングでは、搬送される鋼板と検出ロールとの間の滑り等に起因するずれ（誤差）が発生するおそれがあり、１の処理ラインによる計測値と、他の処理ラインでの計測値にずれ、すなわちトラッキング位置にずれが生じるおそれがある。
特許文献１では、金属帯の滑りに起因するずれを溶接点で補正する。しかし、コイル長ずれが発生すると、次コイルとの溶接点までずれが残存する。そのため、特許文献１では、１つ１つのずれ量が小さかったとしても滑りが複数回起こるとトラッキング位置のずれが大きくなり、次の処理ラインにおいて、トラッキング位置に、許容長を超える長手方向誤差が発生するおそれがあるという課題がある。
特許文献１では、金属帯の滑りに起因するずれを溶接点で補正する。しかし、コイル長ずれが発生すると、次コイルとの溶接点までずれが残存する。そのため、特許文献１では、１つ１つのずれ量が小さかったとしても滑りが複数回起こるとトラッキング位置のずれが大きくなり、次の処理ラインにおいて、トラッキング位置に、許容長を超える長手方向誤差が発生するおそれがあるという課題がある。
【0005】
ここで、欠陥マークを付与した鋼板に電気メッキを付与する処理ラインでは、電流の集中により鋼板エッジ部に対しめっき付着量が多くなる傾向がある。そのため、品質向上のために、エッジ部のトリムが必要となる。しかし、客先では欠陥マークのある金属帯の部分も欠陥部以外の部分を使用する可能性があるため、欠陥マークは、可能な限りエッジ部付近に印字することが好ましい。したがって、めっき付着量過多となったエッジ部を切除する際に、既にエッジに印字されている欠陥マーク（位置特定マーク）も同時に切除される。そのため、エッジ部を切除する処理ラインにて、欠陥マークの再印字を、金属帯に行う必要がある。
【0006】
しかしながら、従来にあっては、処理ライン間におけるトラッキング位置に所定以上のずれが発生しているおそれがある。このため、１の処理ラインでのトラッキング位置によるコイル長手位置の印字実績に基づいて他の処理ラインで印字を実行すると、上記の滑り等に起因するずれ量により印字位置のずれが大きく出ることになる。
このため、欠陥印字等の精度の求められるマークを再印字する場合には、従来、人手で行う必要があった。
このため、欠陥印字等の精度の求められるマークを再印字する場合には、従来、人手で行う必要があった。
【0007】
ここで、トリム予定の幅方向内側に対し欠陥マークの印字を行えば再印字の必要性がないと考えられる。しかし、一般に、エッジ印字要求精度が例えば２ｍｍと、処理ラインでの蛇行量よりも厳しい。金属帯の蛇行に対し、エッジへの印字は、エッジ追従装置を用い、マーク印字機器本体を動かすことにより、金属帯のエッジに精度２ｍｍ以内で常時待機させることが可能である。しかしながら、トリマーは、本体を移動することができない。そのため、トリマーでエッジを切除後に、エッジへの再印字は可能であると考えられるが、トリム前での欠陥印字を残す方法は現実的ではない。このため、現状、エッジの切除後に再印字が実行される。
【0008】
本発明は、上記のような点に着目してなされたもので、印字した処理ラインとは別の処理ラインでのマークの再印字を精度良く実行することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
課題解決のために、本発明の一態様は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す金属帯の処理方法であって、上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与する工程と、上記第２の処理ラインで、上記第２の位置特定マークを付与する前に、上記複数の参照マークの少なくとも１つを検出し、検出した参照マークの位置情報に基づき、上記第２の位置特定マークを付与するためのトラッキング情報を校正する工程と、を備えることを要旨とする。
【0010】
また、本発明の態様は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す金属帯の処理方法であって、上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付する工程と、を備え、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記複数の参照マークから選択した参照マークに関連付け、上記第２の処理ラインにおいて、上記選択した参照マークの位置情報に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定して、上記第２の位置特定マークの付与位置を決定する、ことを要旨とする。
【0011】
また、本発明の態様は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す際における、上記金属帯にマークを付与するマーク付与方法であって、上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し位置を特定する第１の位置特定マークを付し、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて上記金属帯に付された長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与し、上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与し、上記第２の位置特定マークを付与する際に、上記複数の参照マークから選択した参照マークの位置に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定することで、上記第２の位置特定マークを付する位置を決定する、ことを要旨とする。
【0012】
また、本発明の態様は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す際における、上記複数の処理ラインから選択した第２の処理ラインにおいて、上記第２の処理ラインよりも上流の第１の処理ラインで付与された第１の位置特定マークと金属帯長手方向の位置が同じ位置に、第２の位置特定マークを付与するためのマーク付与装置であって、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインに配置されて、金属帯に参照マークを印字する参照マーク用印字装置と、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを、上記参照マーク用印字装置を介して印字する処理を実行する参照マーク印字処理部と、上記複数の参照マークから選択した参照マークと上記第１の位置特定マークとを関連付けた関連情報を求める関連情報取得部と、上記第２の処理ラインに設けられ、上記参照マークを検出するマーク検出部と、上記第２の処理ラインに配置されて、金属帯に第２の位置特定マークを付与する再印字装置と、上記関連情報取得部が求めた関連情報と上記マーク検出部か検出した参照マークの位置情報とから、上記第１の位置特定マークの金属帯長手方向位置を特定し、上記特定した長手方向位置に基づき、上記第２の位置特定マークを、上記再印字装置を介して印字する処理を実行する再印字処理部と、を備えることを要旨とする。
【発明の効果】
【0013】
本発明の態様によれば、一定の法則で長手方向に並ぶ参照マークによって、位置トラッキングずれが補償（校正）される結果、異なる処理ラインにおいて、長手方向の同位置に精度良く印字することを可能となる。すなわち、本発明の態様によれば、トラッキングずれを小さく抑えることができる。そのため、本発明によれば、これまで同じ位置に再印字する際に手動で行っていた印字処理を自動ですることを可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0014】
【図1】本発明に基づく実施形態に係る第１の処理ラインの設備構成を説明する図である。
【図2】印字装置の配置を説明する平面図である。
【図3】第１の処理制御部の構成を説明する図である。
【図4】印字実績データ１１群を例示する図である。
【図6】印字実績データ１１群を例示する図である。
【図7】本発明に基づく実施形態に係る第２の処理ラインの設備構成を説明する図である。
【図8】第２の処理制御部の構成を説明する図である。
【図10】再印字の例を示す図である。
【図11】比較例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【0015】
次に、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
本実施形態は、同じ金属帯（鋼板など）に対し複数の処理ラインで順次、当該金属帯に処理を施す金属帯の処理方法及び処理設備に関する。本実施形態では、金属帯の製造処理ライン、特に冷延鋼板を製造する処理ラインを想定して説明する。
ただし、本発明は、金属帯の製造の処理ラインに限定されない。複数の処理ラインで順番に同一の金属帯を処理する処理設備であれば適用可能である。
本実施形態は、同じ金属帯（鋼板など）に対し複数の処理ラインで順次、当該金属帯に処理を施す金属帯の処理方法及び処理設備に関する。本実施形態では、金属帯の製造処理ライン、特に冷延鋼板を製造する処理ラインを想定して説明する。
ただし、本発明は、金属帯の製造の処理ラインに限定されない。複数の処理ラインで順番に同一の金属帯を処理する処理設備であれば適用可能である。
【0016】
本実施形態では、各処理ラインにおいて、コイル状の金属帯を巻き戻しながら金属帯に処理を行い、再度、金属帯を巻き取る処理を行う場合を例に挙げて説明する。このため、金属帯をコイルと表現する場合がある。本発明は、各処理ラインで金属帯を巻き取らない場合であっても、適用可能である。
また、本明細書で長手方向とは、処理する金属帯の長手方向（搬送方向）を指す。
本実施形態では、少なくとも、複数の処理ラインとして、第１の処理ラインと、第２の処理ラインを備える。
また、本明細書で長手方向とは、処理する金属帯の長手方向（搬送方向）を指す。
本実施形態では、少なくとも、複数の処理ラインとして、第１の処理ラインと、第２の処理ラインを備える。
【0017】
第１の処理ラインは、金属帯に対し第１の位置特定マークを付する処理を行う処理ラインである。第２の処理ラインは、第１の処理ラインよりも下流の処理ラインであって、第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付する処理を行う処理ラインである。本実施形態では、第１の位置特定マークを、金属帯に有する欠陥の長手方向位置を示す欠陥マークとし、第２の位置特定マークは、その欠陥マークを再印字したマークとする。第１の位置特定マークと第２の位置特定マークとは同じ形状のマークでなくても良い。
第１の処理ラインと第２の処理ラインの間に、１又は２以上の他の処理ラインを有していても良い。本実施形態では、第１の処理ラインを、電気めっき処理の処理ラインとする。
第１の処理ラインは、電気めっき処理の処理ラインでなくても構わない。
第１の処理ラインと第２の処理ラインの間に、１又は２以上の他の処理ラインを有していても良い。本実施形態では、第１の処理ラインを、電気めっき処理の処理ラインとする。
第１の処理ラインは、電気めっき処理の処理ラインでなくても構わない。
【0018】
（第１の処理ライン）
図１に示すように、第１の処理ラインの設備構成として、ペイオフリール１、テンションリール２、ＰＬＧ３、めっき処理部４、欠陥検査装置５、印字装置６、第１のライン制御部７を備える。
図１に示すように、第１の処理ラインの設備構成として、ペイオフリール１、テンションリール２、ＰＬＧ３、めっき処理部４、欠陥検査装置５、印字装置６、第１のライン制御部７を備える。
【0019】
＜ペイオフリール１とテンションリール２＞
ペイオフリール１とテンションリール２によって、コイルとなっている金属帯１０の巻き戻し・巻き取り処理が実行され、金属帯１０は、ペイオフリール１からテンションリール２に向けて搬送される構成となっている。
ペイオフリール１とテンションリール２によって、コイルとなっている金属帯１０の巻き戻し・巻き取り処理が実行され、金属帯１０は、ペイオフリール１からテンションリール２に向けて搬送される構成となっている。
【0020】
＜めっき処理部４＞
めっき処理部４は、欠陥検査装置５の上流側に配置されて、金属帯１０の表面にめっきを付着する処理を実行する。
めっき処理部４は、欠陥検査装置５の上流側に配置されて、金属帯１０の表面にめっきを付着する処理を実行する。
【0021】
＜ＰＬＧ３＞
エンコーダその他からなるＰＬＧ３は、金属帯１０の搬送に伴って回転するローラの回転数を検知し、検出信号を第１のライン制御部７に供給する。
エンコーダその他からなるＰＬＧ３は、金属帯１０の搬送に伴って回転するローラの回転数を検知し、検出信号を第１のライン制御部７に供給する。
【0022】
＜欠陥検査装置５＞
欠陥検査装置５は、搬送されてくる金属帯１０の表面や内部の欠陥を検出する装置であって、欠陥を検出すると、その欠陥検出信号を第１のライン制御部７に供給する。
欠陥検査装置５は、搬送されてくる金属帯１０の表面や内部の欠陥を検出する装置であって、欠陥を検出すると、その欠陥検出信号を第１のライン制御部７に供給する。
【0023】
＜印字装置６＞
印字装置６は、欠陥検査装置５の下流側に配置されている。印字装置６は、図２に示すように、欠陥マーク用印字装置６Ａと、参照マーク用印字装置６Ｂとを備える。
印字装置６は、欠陥検査装置５の下流側に配置されている。印字装置６は、図２に示すように、欠陥マーク用印字装置６Ａと、参照マーク用印字装置６Ｂとを備える。
【0024】
［欠陥マーク用印字装置６Ａ］
本実施形態の欠陥マーク用印字装置６Ａは、例えば、金属帯１０のオペレータ側（以下、ＯＰ側とも記載する）に配置されて、第１のライン制御部７からの印字信号に基づき、金属帯１０のＯＰ側端部にインクを噴射して欠陥マークＫを印字する。
本実施形態の欠陥マーク用印字装置６Ａは、例えば、金属帯１０のオペレータ側（以下、ＯＰ側とも記載する）に配置されて、第１のライン制御部７からの印字信号に基づき、金属帯１０のＯＰ側端部にインクを噴射して欠陥マークＫを印字する。
【0025】
［参照マーク用印字装置６Ｂ］
本実施形態の参照マーク用印字装置６Ｂは、例えば、金属帯１０のドライブ側（以下、ＤＲ側とも記載する）に配置されて、第１のライン制御部７からの印字信号に基づき、金属帯１０のＤＲ側端部にインクを噴射して参照マークＳを順次、印字する。すなわち本実施形態では、金属帯１０の幅方向の一方の端部に欠陥マークＫを印字し、他方の端部に参照マークＳを印字する。
ここで、ＯＰ側とは、金属帯１０の幅方向の操作者側である。ＤＲ側はＯＰ側とは反対側を指し、金属帯１０の幅方向の設備側を指す。
本実施形態の参照マーク用印字装置６Ｂは、例えば、金属帯１０のドライブ側（以下、ＤＲ側とも記載する）に配置されて、第１のライン制御部７からの印字信号に基づき、金属帯１０のＤＲ側端部にインクを噴射して参照マークＳを順次、印字する。すなわち本実施形態では、金属帯１０の幅方向の一方の端部に欠陥マークＫを印字し、他方の端部に参照マークＳを印字する。
ここで、ＯＰ側とは、金属帯１０の幅方向の操作者側である。ＤＲ側はＯＰ側とは反対側を指し、金属帯１０の幅方向の設備側を指す。
【0026】
＜第１のライン制御部７＞
第１のライン制御部７は、ＰＬＣ（プログラムロジックコントローラ）などから構成される。第１のライン制御部７は、図３に示すように、第１の位置トラッキング部７Ａと、欠陥マーク印字処理部７Ｂと、参照マーク印字処理部７Ｃとを備える。
第１のライン制御部７は、ＰＬＣ（プログラムロジックコントローラ）などから構成される。第１のライン制御部７は、図３に示すように、第１の位置トラッキング部７Ａと、欠陥マーク印字処理部７Ｂと、参照マーク印字処理部７Ｃとを備える。
【0027】
＜第１の位置トラッキング部７Ａ＞
第１の位置トラッキング部７Ａは、ＰＬＧ３からの検出信号に基づき、金属帯１０のライン速度の検出と、金属帯１０の先端部からの長手方向位置について、公知のトラッキング処理を実行して、位置トラッキングの情報を演算する。
第１の位置トラッキング部７Ａは、ＰＬＧ３からの検出信号に基づき、金属帯１０のライン速度の検出と、金属帯１０の先端部からの長手方向位置について、公知のトラッキング処理を実行して、位置トラッキングの情報を演算する。
【0028】
＜欠陥マーク印字処理部７Ｂ＞
欠陥マーク印字処理部７Ｂは、欠陥検査装置５からの欠陥検出信号を入力すると、第１の位置トラッキング部７Ａによる位置トラッキングの情報に基づき、欠陥検出位置の長手方向位置を取得すると共に、ライン速度に基づき、長手方向における欠陥検出位置が欠陥マーク用印字装置６Ａによる印字位置に来たら、欠陥マーク用印字装置に印字信号を供給する。なお、動作遅れ分を考慮して印字信号を供給する。これによって、金属帯１０のＯＰ側端部に欠陥マークＫが印字される。
欠陥マーク印字処理部７Ｂは、欠陥マーク用印字装置６Ａを介した欠陥マークＫの印字の印字実績データ１１をデータベース８に出力する。各印字実績データ１１は、例えばマーク種別と金属帯１０の長手方向位置情報である印字位置とのデータを含む。
欠陥マーク印字処理部７Ｂは、欠陥検査装置５からの欠陥検出信号を入力すると、第１の位置トラッキング部７Ａによる位置トラッキングの情報に基づき、欠陥検出位置の長手方向位置を取得すると共に、ライン速度に基づき、長手方向における欠陥検出位置が欠陥マーク用印字装置６Ａによる印字位置に来たら、欠陥マーク用印字装置に印字信号を供給する。なお、動作遅れ分を考慮して印字信号を供給する。これによって、金属帯１０のＯＰ側端部に欠陥マークＫが印字される。
欠陥マーク印字処理部７Ｂは、欠陥マーク用印字装置６Ａを介した欠陥マークＫの印字の印字実績データ１１をデータベース８に出力する。各印字実績データ１１は、例えばマーク種別と金属帯１０の長手方向位置情報である印字位置とのデータを含む。
【0029】
＜参照マーク印字処理部７Ｃ＞
また、参照マーク印字処理部７Ｃは、第１の位置トラッキング部７Ａからのトラッキング情報と金属帯１０のライン速度に基づき、金属帯１０の巻き戻しの先端から予め設定した距離だけ離れた長手方向の基準位置から、長手方向に沿って等間隔に参照マークＳが印字されるように、参照マーク用印字装置６Ｂに対し順次、印字信号を出力する。これによって、金属帯１０のＤＲ側端部には、長手方向に沿って等間隔（例えば１０ｍ毎）に参照マークＳが順次付与される。複数の参照マークＳは、等間隔に印字されていなくてもよく。長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶように印字されていればよい。
また、参照マーク印字処理部７Ｃは、第１の位置トラッキング部７Ａからのトラッキング情報と金属帯１０のライン速度に基づき、金属帯１０の巻き戻しの先端から予め設定した距離だけ離れた長手方向の基準位置から、長手方向に沿って等間隔に参照マークＳが印字されるように、参照マーク用印字装置６Ｂに対し順次、印字信号を出力する。これによって、金属帯１０のＤＲ側端部には、長手方向に沿って等間隔（例えば１０ｍ毎）に参照マークＳが順次付与される。複数の参照マークＳは、等間隔に印字されていなくてもよく。長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶように印字されていればよい。
【0030】
参照マーク印字処理部７Ｃは、参照マーク用印字装置６Ｂを介した参照マークＳの印字の印字実績データ１１をデータベース８に出力する。各印字実績データ１１は、例えばマーク種別と長手方向位置情報である印字位置とのデータを含む。
ここで、複数の参照マークＳに、各参照マークＳを識別する識別情報を付与しておくことが好ましい。識別情報として、印字した順に昇順の番号が例示できる。
ここで、複数の参照マークＳに、各参照マークＳを識別する識別情報を付与しておくことが好ましい。識別情報として、印字した順に昇順の番号が例示できる。
【0031】
ここで、複数の参照マークＳを印字する処理ラインは、第１の処理ラインよりも上流側のラインでも構わない。複数の参照マークＳを印字する処理ラインと欠陥マークＫを印字する処理ラインが同一のライン（第１の処理ライン）の場合、好ましくは、図２に示すように、欠陥マーク用印字装置６Ａと参照マーク用印字装置６Ｂとが、金属帯１０の搬送方向を挟んで金属帯１０の幅方向で対向していることが好ましい。もっとも、複数の参照マークＳを印字する処理ラインと欠陥マークＫを印字する処理ラインが同一のラインの場合に、欠陥マーク用印字装置６Ａによる欠陥マークの印字の処理と参照マーク用印字装置６Ｂによる参照マークの印字の処理は、同時に行う必要は無く、同一のライン（第１の処理ライン）内であれば、どちらを先に実行しても構わない。同一の処理ライン内であれば、長手方向位置について、欠陥マークの位置情報と参照マークの位置情報とに相対的なズレが発生しないかずれが僅かであるからである。
【0032】
なお、ライン間では、滑りなどの影響によって、各ラインでのトラッキング情報に例えば３％程度のずれが生じる。これは例えば１０００ｍで３０ｍ程度のずれに繋がる。
なお、複数の参照マークＳは、金属帯１０の長手方向に沿って例えば等間隔に配置されているため、例えば、最初又は最後の参照マークＳは、金属帯１０の長手方向端部に近づけて印字可能であることから、トラッキング位置の情報精度が高い。このため、参照マークＳを付与した処理ライン以降の処理ラインで欠陥マークＫを付与する際に、参照マークＳの位置でトラッキング位置の校正をしつつ、欠陥マークＫの印字位置を特定すれば、参照マークＳと各欠陥マークＫとの長手方向位置の相対的関係は精度良い状態となる。
なお、複数の参照マークＳは、金属帯１０の長手方向に沿って例えば等間隔に配置されているため、例えば、最初又は最後の参照マークＳは、金属帯１０の長手方向端部に近づけて印字可能であることから、トラッキング位置の情報精度が高い。このため、参照マークＳを付与した処理ライン以降の処理ラインで欠陥マークＫを付与する際に、参照マークＳの位置でトラッキング位置の校正をしつつ、欠陥マークＫの印字位置を特定すれば、参照マークＳと各欠陥マークＫとの長手方向位置の相対的関係は精度良い状態となる。
【0033】
（上位コンピュータ９）
上位コンピュータ９は、第１のライン制御部７及び後述の第２のライン制御部２６に対し上位のコンピュータである。上位コンピュータ９には、関連情報取得部９Ａを備える。
上位コンピュータ９は、第１のライン制御部７及び後述の第２のライン制御部２６に対し上位のコンピュータである。上位コンピュータ９には、関連情報取得部９Ａを備える。
【0034】
＜関連情報取得部９Ａ＞
関連情報取得部９Ａは、第１の処理ラインでの処理が終了した後に起動されて、データベース８中の印字実績データ１１を、図４に示すように、長手方向位置をキーとして昇順に並べる処理を実行し、印字実績データ群１２を作成する。図４では、コイルの最終端を切除装置（不図示）で切除する場合であり、その切除位置の処理実績データも印字実績データ１１の一部として求めている。ここで、図４に示す印字実績データ群１２は、図５のような欠陥マークＫと参照マークＳとが金属帯１０に付与された場合の例である。
関連情報取得部９Ａは、第１の処理ラインでの処理が終了した後に起動されて、データベース８中の印字実績データ１１を、図４に示すように、長手方向位置をキーとして昇順に並べる処理を実行し、印字実績データ群１２を作成する。図４では、コイルの最終端を切除装置（不図示）で切除する場合であり、その切除位置の処理実績データも印字実績データ１１の一部として求めている。ここで、図４に示す印字実績データ群１２は、図５のような欠陥マークＫと参照マークＳとが金属帯１０に付与された場合の例である。
【0035】
これによって、各欠陥マークＫを、複数の参照マークＳから選択した１又は２以上の参照マークＳと関連付け可能となる。
このとき、例えば、参照マークＳに識別情報を付与した場合、印字実績データ群１２に対し、欠陥マークＫの位置を特定するための参照マークＳにその旨の記号を持たせても良い。例えば、参照マークＳとして、マーク自体と共に識別用の数字を印字してもよい。印字する数字は、例えばカウンタを用いて、印字の度に昇順若しくは降順で変更した数字を用いる。
このとき、例えば、参照マークＳに識別情報を付与した場合、印字実績データ群１２に対し、欠陥マークＫの位置を特定するための参照マークＳにその旨の記号を持たせても良い。例えば、参照マークＳとして、マーク自体と共に識別用の数字を印字してもよい。印字する数字は、例えばカウンタを用いて、印字の度に昇順若しくは降順で変更した数字を用いる。
【0036】
また、別途、欠陥マークＫの位置を特定するための参照マークＳの情報と、その参照マークＳから対象とする欠陥マークＫまでの離隔距離の情報のデータ群を有していても良い。
なお、欠陥マークＫの位置を特定するための参照マークＳは、欠陥マークＫに直近の参照マークＳでなくても良い。
ここで、第１の処理ラインと第２の処理ラインとの間に、奇数個の他の処理ラインが介在する場合には、第１の処理ラインと第２の処理ラインでは、金属帯１０を構成するコイルの巻き戻し方向が同じである。
なお、欠陥マークＫの位置を特定するための参照マークＳは、欠陥マークＫに直近の参照マークＳでなくても良い。
ここで、第１の処理ラインと第２の処理ラインとの間に、奇数個の他の処理ラインが介在する場合には、第１の処理ラインと第２の処理ラインでは、金属帯１０を構成するコイルの巻き戻し方向が同じである。
【0037】
一方、第１の処理ラインと第２の処理ラインとの間に、他の処理ラインがない、若しくは偶数個の他の処理ラインが介在する場合には、第１の処理ラインと第２の処理ラインでは、処理するコイルの向きが逆方向となるため、第１の処理ラインで処理するコイルでの巻外側が、第２の処理ラインで処理するコイルの軸芯となっている。
この場合、データベース８中の印字実績データ１１を、長手方向位置をキーとして降順に並べる処理を実行し、図６のように、コイル先端側からの長手方向位置に印字位置を変換する処理を実行して、印字実績データ群１２を作成する。この場合、第１の処理ラインで尾端となったシャーカット位置が、第２の処理ラインで先端となる。
なお、この関連情報取得部９Ａの処理は、第１のライン制御部７及び後述の第２のライン制御部２６で実行してもよい。
この場合、データベース８中の印字実績データ１１を、長手方向位置をキーとして降順に並べる処理を実行し、図６のように、コイル先端側からの長手方向位置に印字位置を変換する処理を実行して、印字実績データ群１２を作成する。この場合、第１の処理ラインで尾端となったシャーカット位置が、第２の処理ラインで先端となる。
なお、この関連情報取得部９Ａの処理は、第１のライン制御部７及び後述の第２のライン制御部２６で実行してもよい。
【0038】
（第２の処理ライン）
図７に示すように、第２の処理ラインの設備構成として、ペイオフリール２０、テンションリール２１、ＰＬＧ２２、印字マーク認識装置２３、トリム装置２４、再印字装置２５、第２のライン制御部２６を備える。
図７に示すように、第２の処理ラインの設備構成として、ペイオフリール２０、テンションリール２１、ＰＬＧ２２、印字マーク認識装置２３、トリム装置２４、再印字装置２５、第２のライン制御部２６を備える。
【0039】
＜ペイオフリール２０とテンションリール２１＞
ペイオフリール２０とテンションリール２１によって、コイルとなっている金属帯１０の巻き戻し・巻き取り処理が実行され、金属帯１０は、ペイオフリール２０からテンションリール２１に向けて搬送される構成となっている。
ペイオフリール２０とテンションリール２１によって、コイルとなっている金属帯１０の巻き戻し・巻き取り処理が実行され、金属帯１０は、ペイオフリール２０からテンションリール２１に向けて搬送される構成となっている。
【0040】
＜ＰＬＧ２２＞
エンコーダその他からなるＰＬＧ２２は、金属帯１０の搬送に伴って回転するローラの回転数を検知し、検出信号を第２のライン制御部２６に供給する。
エンコーダその他からなるＰＬＧ２２は、金属帯１０の搬送に伴って回転するローラの回転数を検知し、検出信号を第２のライン制御部２６に供給する。
【0041】
＜印字マーク認識装置２３＞
印字マーク認識装置２３は、マーク検出部を構成する。印字マーク認識装置２３は、カメラなどの撮像素子から構成され、金属帯１０の表面に付された参照マークＳを検出し、検出信号を第２のライン制御部２６に出力する。このとき、認識用のカウンタを有し、参照マークＳをするたびに、カウンタを小さく又は大きくして、検知した参照マークＳの識別度を向上させるようにしてもよい。
印字マーク認識装置２３は、マーク検出部を構成する。印字マーク認識装置２３は、カメラなどの撮像素子から構成され、金属帯１０の表面に付された参照マークＳを検出し、検出信号を第２のライン制御部２６に出力する。このとき、認識用のカウンタを有し、参照マークＳをするたびに、カウンタを小さく又は大きくして、検知した参照マークＳの識別度を向上させるようにしてもよい。
【0042】
＜トリム装置２４＞
本実施形態のトリム装置２４は、金属帯１０の幅方向両側に配置され、搬送されてくる金属帯１０の両端エッジ部を連続して切除する。本実施形態のトリム装置２４は、再印字装置２５での再印字の前に行われる。
なお、欠陥マークを再印字を幅方向の一方の端部側にのみ実行する場合には、他端部側にある参照マークＳ側（ＤＲ側）の端部を切除するトリム装置を、再印字装置２５の下流側に配置して、参照マークＳ側（ＤＲ側）の端部を再印字後に切除しても良い。
本実施形態では、幅方向両端部に欠陥マークを再印字するため、両側の端部を一緒に切除している。
ここで、再印字装置２５での再印字後に、トリム装置２４での切除処理を行うことも考えられるが、この場合、第１の処理ラインでの欠陥マークの印字の内側に再印字を行うことになる。しかし、そのような処理を行う金属帯では、参照マークを打つ必要もなく、再印字も必要でない場合が多い。また、端部の切除前に再印字を行うと、切除する幅が必要以上に大きくなるといった問題もある。
本実施形態のトリム装置２４は、金属帯１０の幅方向両側に配置され、搬送されてくる金属帯１０の両端エッジ部を連続して切除する。本実施形態のトリム装置２４は、再印字装置２５での再印字の前に行われる。
なお、欠陥マークを再印字を幅方向の一方の端部側にのみ実行する場合には、他端部側にある参照マークＳ側（ＤＲ側）の端部を切除するトリム装置を、再印字装置２５の下流側に配置して、参照マークＳ側（ＤＲ側）の端部を再印字後に切除しても良い。
本実施形態では、幅方向両端部に欠陥マークを再印字するため、両側の端部を一緒に切除している。
ここで、再印字装置２５での再印字後に、トリム装置２４での切除処理を行うことも考えられるが、この場合、第１の処理ラインでの欠陥マークの印字の内側に再印字を行うことになる。しかし、そのような処理を行う金属帯では、参照マークを打つ必要もなく、再印字も必要でない場合が多い。また、端部の切除前に再印字を行うと、切除する幅が必要以上に大きくなるといった問題もある。
【0043】
＜再印字装置２５＞
本実施形態の再印字装置２５は、第２のライン制御部２６からの印字信号に基づき、金属帯１０の端部にインクを噴射して、第２の位置特定マークとなる欠陥マークＫを再印字する。
本実施形態の再印字装置２５は、第２のライン制御部２６からの印字信号に基づき、金属帯１０の端部にインクを噴射して、第２の位置特定マークとなる欠陥マークＫを再印字する。
【0044】
＜第２のライン制御部２６＞
第２のライン制御部２６は、ＰＬＣ（プログラムロジックコントローラ）などから構成される。第２のライン制御部２６は、図８に示すように、第２の位置トラッキング部２６Ａと、再印字処理部２６Ｂとを備える。
第２のライン制御部２６は、ＰＬＣ（プログラムロジックコントローラ）などから構成される。第２のライン制御部２６は、図８に示すように、第２の位置トラッキング部２６Ａと、再印字処理部２６Ｂとを備える。
【0045】
＜第２の位置トラッキング部２６Ａ＞
第２の位置トラッキング部２６Ａは、ＰＬＧ２２からの検出信号に基づき、金属帯１０のライン速度の検出と、金属帯１０の先端部からの長手方向位置について、公知のトラッキング処理を実行して、位置トラッキングの情報を演算する。
本実施形態の第２の位置トラッキング部２６Ａは、印字マーク認識装置２３からの印字の検出信号を入力する度に、作成した印字実績データ群１２を参照し、該当する参照マークＳのＰＬＧ２２の検出による長手方向の位置情報（トラッキング情報）を、印字実績データ１１の長手方向位置で校正することで、トラッキング位置の情報の精度を向上する。
第２の位置トラッキング部２６Ａは、ＰＬＧ２２からの検出信号に基づき、金属帯１０のライン速度の検出と、金属帯１０の先端部からの長手方向位置について、公知のトラッキング処理を実行して、位置トラッキングの情報を演算する。
本実施形態の第２の位置トラッキング部２６Ａは、印字マーク認識装置２３からの印字の検出信号を入力する度に、作成した印字実績データ群１２を参照し、該当する参照マークＳのＰＬＧ２２の検出による長手方向の位置情報（トラッキング情報）を、印字実績データ１１の長手方向位置で校正することで、トラッキング位置の情報の精度を向上する。
【0046】
＜再印字処理部２６Ｂ＞
再印字処理部２６Ｂは、第２の位置トラッキング部２６Ａによる位置トラッキングの情報に基づき、作成した印字実績データ群１２を参照し、次の欠陥マークＫに対する印字実績データ１１の長手方向位置が、長手方向における再印字装置２５による印字位置に来ると判定したら、再印字装置２５に印字信号を供給する。なお、動作遅れ分を考慮して印字信号を供給する。これによって、金属帯１０におけるトリムしたＯＰ側端部に欠陥マークＫが再印字される。
再印字処理部２６Ｂは、第２の位置トラッキング部２６Ａによる位置トラッキングの情報に基づき、作成した印字実績データ群１２を参照し、次の欠陥マークＫに対する印字実績データ１１の長手方向位置が、長手方向における再印字装置２５による印字位置に来ると判定したら、再印字装置２５に印字信号を供給する。なお、動作遅れ分を考慮して印字信号を供給する。これによって、金属帯１０におけるトリムしたＯＰ側端部に欠陥マークＫが再印字される。
【0047】
又は、再印字処理部２６Ｂは、印字マーク認識装置２３からの参照マークＳの検出信号を入力すると、作成した印字実績データ群１２を参照し、その検出した参照マークＳが、次の欠陥マークＫに対する印字実績データ１１の上流側で１つの前の参照マークＳであるか判定する。再印字処理部２６Ｂは、検出した参照マークＳが、次の欠陥マークＫに対する印字実績データ１１の上流側で１つの前の参照マークＳである場合、印字マーク認識装置２３が検出した参照マークＳの位置情報と印字実績データ群１２とから欠陥マークＫの長手方向位置を特定する。そして、再印字処理部２６Ｂは、ライン速度に基づき、長手方向における、判定したマーク位置の長手方向位置に対し、当該参照マークＳから欠陥マークＫまでの離隔距離分を足した位置が、再印字装置２５による印字位置に来ると判定すると、再印字装置２５に印字信号を供給する。なお、動作遅れ分を考慮して印字信号を供給する。これによって、金属帯１０における、切除されたＯＰ側端部に欠陥マークＫが再印字される。
【0048】
（動作その他）
本実施形態では、第１の処理ラインにおいて、図５に示すように、金属帯１０のＤＲ側端部に等間隔で参照マークＳが印字される共に、金属帯１０のＯＰ側に欠陥マークＫが印字される。また、第１の処理ラインにおいて、欠陥マークＫ及び複数の参照マークＳの印字実績データ１１がデータベース８に順次格納される。
データベース８に格納された複数の印字実績データ１１は、長手方向位置をキーとして昇順又は降順にソートされて印字実績データ群１２となる（図４、図６参照）。
本実施形態では、第１の処理ラインにおいて、図５に示すように、金属帯１０のＤＲ側端部に等間隔で参照マークＳが印字される共に、金属帯１０のＯＰ側に欠陥マークＫが印字される。また、第１の処理ラインにおいて、欠陥マークＫ及び複数の参照マークＳの印字実績データ１１がデータベース８に順次格納される。
データベース８に格納された複数の印字実績データ１１は、長手方向位置をキーとして昇順又は降順にソートされて印字実績データ群１２となる（図４、図６参照）。
【0049】
また、実施形態では、第２の処理ラインにおいて、参照マークＳを検出し、位置トラッキング情報を、検出した参照マークＳの印字実績データ１１中の印字位置情報で校正することで、印字ずれを校正する。これによって、第２の処理ラインにおける、欠陥マークＫ位置に対する位置トラッキング情報の精度を向上する。
また、第２の処理ラインにおいて、金属帯１０のＯＰ側端部をトリムした後に、印字されていた欠陥マークＫと長手方向における同位置に対し、欠陥マークＫを再印字する。
このとき、参照マークＳの位置を基準に再印字する長手方向位置を特定する。
ここで、第１の処理ラインと第２の処理ラインでのコイルの長手方向の向きが同じ場合には、印字実績データ群１２に基づき、図５に示すように、対象とする欠陥マークＫの上流側の参照マークＳからの長手方向の離隔距離ＬＡで、欠陥マークＫの再印字位置を特定することができる。
また、第２の処理ラインにおいて、金属帯１０のＯＰ側端部をトリムした後に、印字されていた欠陥マークＫと長手方向における同位置に対し、欠陥マークＫを再印字する。
このとき、参照マークＳの位置を基準に再印字する長手方向位置を特定する。
ここで、第１の処理ラインと第２の処理ラインでのコイルの長手方向の向きが同じ場合には、印字実績データ群１２に基づき、図５に示すように、対象とする欠陥マークＫの上流側の参照マークＳからの長手方向の離隔距離ＬＡで、欠陥マークＫの再印字位置を特定することができる。
【0050】
一方、第１の処理ラインと第２の処理ラインでのコイルの長手方向の向きが逆転している場合には、図９に示すように、対象とする欠陥マークＫの上流側の参照マークＳからの長手方向の離隔距離ＬＢで、欠陥マークＫの再印字位置を特定することができる。なお、隣り合う参照マークＳ間の距離Ｌ０は既存であるため、Ｌ０－ＬＡ＝ＬＢとして、離隔距離ＬＢを求めることができる。
このように複数の参照マークＳから選択した参照マークＳのトラッキング位置から離隔距離ＬＡ又はＬＢだけ進行させた位置に、図１０のように、第２の位置特定マークとしての欠陥マークＫを再印字する。図１０では、左右両端部に欠陥マークＫの再印字を実行しているが、片側だけに再印字を実行してもよい。なお、図１０中、符号１０Ａは、金属帯１０の端部の切除された部分を示す。
このように複数の参照マークＳから選択した参照マークＳのトラッキング位置から離隔距離ＬＡ又はＬＢだけ進行させた位置に、図１０のように、第２の位置特定マークとしての欠陥マークＫを再印字する。図１０では、左右両端部に欠陥マークＫの再印字を実行しているが、片側だけに再印字を実行してもよい。なお、図１０中、符号１０Ａは、金属帯１０の端部の切除された部分を示す。
【0051】
又は、本実施形態では、第２の処理ラインにおいて、参照マークＳでトラッキング情報を校正しつつ、欠陥マークＫの印字実績に基づき、長手方向の再印字位置を特定して再印字する。
ここで、複数の参照マークＳを印字せず、第１の処理ラインで印字した欠陥マークＫを第２の処理ラインで検出し、欠陥マークＫと同じ鋼板長手方向位置に印字することも理論上は可能であるが、欠陥マークＫの未見や過検の可能性がある。
ここで、複数の参照マークＳを印字せず、第１の処理ラインで印字した欠陥マークＫを第２の処理ラインで検出し、欠陥マークＫと同じ鋼板長手方向位置に印字することも理論上は可能であるが、欠陥マークＫの未見や過検の可能性がある。
【0052】
それは次の理由からである。ライン速度で印字マークの検出を行う場合、カメラではマークの種類までは認識できないため、印字の有無のみの検出となる。このため、図１１のように欠陥マークＫが密に連続する場合、複数マークを１つのマークと認識して、欠陥マークＫの一部を未検出する可能性がある。また、汚れ３０を欠陥マークＫと認識し過検する可能性がある。このような２つの識別異常を起こすと、例えば、欠陥マークＫが１つずつ、ずれることになるため、識別異常を起こしたマーク以降のすべての欠陥で欠陥種別と印字マークが異なることとなり、重大な品質異常を発生させることとなる。
【0053】
これに対し、本実施形態では、予め決められた法則で並ぶ複数の参照マークＳを用いることで、参照マークＳからの距離に基づいて欠陥マークＫを再印字できる。このため、欠陥マークＫが密であることに起因する未見が発生する可能性を低減できる。また、汚れ３０を欠陥マークＫと認識すること防止できる。
また、本実施形態では、参照マークＳを定長間隔等決まった間隔で印字する。このため、参照マークＳ毎の間隔のずれが小さく、マーク印字箇所周辺以外をマスクすることが可能となる。このため、汚れ等をマークと認識することによる過検が発生しないようにすることが可能である。また、参照マークＳを検出予定箇所での検出の有無で、参照マークＳの未見を確認できるため、未見の早期発見が可能である。
以上のように、本実施形態では、複数の参照マークＳを印字し、複数の参照マークＳを基準として再印字を行うことで、より精度良く欠陥マークＫの再印字が可能となる。
また、本実施形態では、参照マークＳを定長間隔等決まった間隔で印字する。このため、参照マークＳ毎の間隔のずれが小さく、マーク印字箇所周辺以外をマスクすることが可能となる。このため、汚れ等をマークと認識することによる過検が発生しないようにすることが可能である。また、参照マークＳを検出予定箇所での検出の有無で、参照マークＳの未見を確認できるため、未見の早期発見が可能である。
以上のように、本実施形態では、複数の参照マークＳを印字し、複数の参照マークＳを基準として再印字を行うことで、より精度良く欠陥マークＫの再印字が可能となる。
【0054】
（効果）
（１）本実施形態は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す金属帯の処理方法であって、上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与する工程と、上記第２の処理ラインで、上記第２の位置特定マークを付与する前に、上記複数の参照マークの少なくとも１つを検出し、検出した参照マークの位置情報に基づき、上記第２の位置特定マークを付与するためのトラッキング情報を校正する工程と、を備える。
（１）本実施形態は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す金属帯の処理方法であって、上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与する工程と、上記第２の処理ラインで、上記第２の位置特定マークを付与する前に、上記複数の参照マークの少なくとも１つを検出し、検出した参照マークの位置情報に基づき、上記第２の位置特定マークを付与するためのトラッキング情報を校正する工程と、を備える。
【0055】
上記金属帯１０の処理は、例えば金属帯１０の製造のための処理である。また、冷延鋼板を製造する金属帯１０の処理である。
この構成によれば、一定の法則で長手方向に並ぶ参照マークＳによって、第２の処理ラインにおいて、第２の位置特定マークを付与するための位置トラッキングの位置ずれが校正される。この結果、本実施形態では、異なる処理ラインにおいて、長手方向の同位置に印字することを可能となる。すなわち、この構成によれば、トラッキングずれを小さく抑えることができる。そのため、これまで同じ位置に再印字する際に手動で行っていた印字処理を自動ですることを可能となる。
この構成によれば、一定の法則で長手方向に並ぶ参照マークＳによって、第２の処理ラインにおいて、第２の位置特定マークを付与するための位置トラッキングの位置ずれが校正される。この結果、本実施形態では、異なる処理ラインにおいて、長手方向の同位置に印字することを可能となる。すなわち、この構成によれば、トラッキングずれを小さく抑えることができる。そのため、これまで同じ位置に再印字する際に手動で行っていた印字処理を自動ですることを可能となる。
【0056】
（２）本実施形態では、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す金属帯の処理方法であって、上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し第１の位置特定マークを付与する工程と、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与する工程と、上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯部分を切除する工程と、上記切除する工程の後に、上記金属帯に対し上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付する工程と、を備え、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記複数の参照マークから選択した参照マークに関連付け、上記第２の処理ラインにおいて、上記選択した参照マークの位置情報に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定して、上記第２の位置特定マークの付与位置を決定する。
【0057】
この構成によれば、一定の法則で長手方向に並ぶ参照マークＳによって、位置トラッキングずれが補償される。この結果、異なる処理ラインにおいて、長手方向の同位置に印字することを可能となる。すなわち、この構成によれば、トラッキングずれを小さく抑えることができる。そのため、これまで同じ位置に再印字する際に手動で行っていた印字処理を自動ですることを可能となる。
【0058】
（３）ここで本実施形態では、上記第２の処理ラインにおいて、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯１０の部分を切除（トリム）する処理の後に、その切除する処理で除去されていない上記金属帯１０の幅方向端部の部分に上記第２の位置特定マーク（再印字のマーク）を付与する。
この場合、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯１０の部分を切除する処理は、上記第２の位置特定マークを付与する前に実行される。
この構成によれば、金属帯１０の端部に、位置の精度良く、第２の位置特定マークを付与する可能となる。
なお、トリム前に再印字する方法は利点がない。第１の処理ラインでの印字と再印字とが同じ情報であるため、再印字の必要性がないためである。
この場合、上記第１の位置特定マークを付与した上記金属帯１０の部分を切除する処理は、上記第２の位置特定マークを付与する前に実行される。
この構成によれば、金属帯１０の端部に、位置の精度良く、第２の位置特定マークを付与する可能となる。
なお、トリム前に再印字する方法は利点がない。第１の処理ラインでの印字と再印字とが同じ情報であるため、再印字の必要性がないためである。
【0059】
（４）本実施形態では、上記複数の参照マークＳに、各参照マークＳを識別する識別情報を付与する。
この構成によれば、各参照マークＳを個別に識別可能となる。
この構成によれば、各参照マークＳを個別に識別可能となる。
【0060】
（５）本実施形態では、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記選択した参照マークＳからの金属帯１０の長手方向の離隔距離で特定する。
この構成によれば、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記選択した参照マークＳに関連付けができる。
この構成によれば、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記選択した参照マークＳに関連付けができる。
【0061】
（６）本実施形態では、上記第２の処理ラインにおいて、上記複数の参照マークＳを付与した上記金属帯１０の部分を切除する処理を行う。
例えば、上記複数の参照マークＳを付与した上記金属帯１０の部分を切除する処理は、上記第２の位置特定マークを付与する前に実行される。
この構成によれば、参照マークＳを除去できる。
例えば、上記複数の参照マークＳを付与した上記金属帯１０の部分を切除する処理は、上記第２の位置特定マークを付与する前に実行される。
この構成によれば、参照マークＳを除去できる。
【0062】
（７）本実施形態では、上記第１の位置特定マーク及び上記第２の位置特定マークは、金属帯１０が有する欠陥の長手方向位置を示す欠陥マークＫである。
この構成によれば、欠陥マークＫを精度良く再印字可能となる。
この構成によれば、欠陥マークＫを精度良く再印字可能となる。
【0063】
（８）本実施形態は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す際における、上記金属帯にマークを付与するマーク付与方法であって、上記複数の処理ラインから選択した第１の処理ラインで、上記金属帯に対し位置を特定する第１の位置特定マークを付し、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインにて上記金属帯に付された長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを付与し、上記第１の処理ラインよりも下流の処理ラインである第２の処理ラインで、上記第１の位置特定マークと長手方向の位置が同じ位置に第２の位置特定マークを付与し、上記第２の位置特定マークを付与する際に、上記複数の参照マークから選択した参照マークの位置に基づき、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を特定することで、上記第２の位置特定マークを付する位置を決定する。
【0064】
この構成によれば、一定の法則で長手方向に並ぶ参照マークＳによって、位置トラッキングずれが補償される。この結果、異なる処理ラインにおいて、長手方向の同位置に印字することを可能となる。すなわち、この構成によれば、トラッキングずれを小さく抑えることができる。そのため、これまで同じ位置に再印字する際に手動で行っていた印字処理を自動ですることを可能となる。
【0065】
（９）本実施形態は、同じ金属帯に対し複数の処理ラインで順次、処理を施す際における、上記複数の処理ラインから選択した第２の処理ラインにおいて、上記第２の処理ラインよりも上流の第１の処理ラインで付与された第１の位置特定マークと金属帯長手方向の位置が同じ位置に、第２の位置特定マークを付与するためのマーク付与装置であって、上記第１の処理ライン又は上記第１の処理ラインよりも上流の処理ラインに配置されて、金属帯に参照マークを印字する参照マーク用印字装置と、上記金属帯に対し、長手方向に沿って予め決定した法則性を持って並ぶ複数の参照マークを、上記参照マーク用印字装置を介して印字する処理を実行する参照マーク印字処理部と、上記複数の参照マークから選択した参照マークと上記第１の位置特定マークとを関連付けた関連情報を求める関連情報取得部と、上記第２の処理ラインに設けられ、上記参照マークを検出するマーク検出部と、上記第２の処理ラインに配置されて、金属帯に第２の位置特定マークを付与する再印字装置と、上記関連情報取得部が求めた関連情報と上記マーク検出部か検出した参照マークの位置情報とから、上記第１の位置特定マークの金属帯長手方向位置を特定し、上記特定した長手方向位置に基づき、上記第２の位置特定マークを、上記再印字装置を介して印字する処理を実行する再印字処理部と、を備える。
【0066】
この構成によれば、一定の法則で長手方向に並ぶ参照マークＳによって、位置トラッキングずれが補償校正される。この結果、異なる処理ラインにおいて、長手方向の同位置に印字することを可能となる。すなわち、この構成によれば、トラッキングずれを小さく抑えることができる。そのため、これまで同じ位置に再印字する際に手動で行っていた印字処理を自動ですることを可能となる。
【0067】
（１０）上記複数の参照マークＳは、各参照マークＳを識別する識別情報が付与されているとよい。
この構成によれば、各参照マークＳの識別が容易となる。
この構成によれば、各参照マークＳの識別が容易となる。
【0068】
（１１）本実施形態では、上記関連情報は、第１の位置特定マークの長手方向位置と、上記複数の参照マークＳから選択した参照マークＳの長手方向位置との、金属帯１０の長手方向の離隔距離の情報を含む。
この構成によれば、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記選択した参照マークＳに関連付けができる。
この構成によれば、上記第１の位置特定マークの長手方向位置を、上記選択した参照マークＳに関連付けができる。
【符号の説明】
【0069】
１ ペイオフリール
２ テンションリール
２、ＰＬＧ
４ めっき処理部
５ 欠陥検査装置
６ 印字装置
６Ａ 欠陥マーク用印字装置
６Ｂ 参照マーク用印字装置
７ 第１のライン制御部
７Ａ 第１の位置トラッキング部
７Ｂ 欠陥マーク印字処理部
７Ｃ 参照マーク印字処理部
８ データベース
９ 上位コンピュータ
９Ａ 関連情報取得部
１０ 金属帯
１１ 印字実績データ
１２ 印字実績データ群
２０ ペイオフリール
２１ テンションリール
２１、ＰＬＧ
２３ 印字マーク認識装置
２４ トリム装置
２５ 再印字装置
２６ 第２のライン制御部
２６Ａ 第２の位置トラッキング部
２６Ｂ 再印字処理部
Ｋ 欠陥マーク
Ｓ 参照マーク
２ テンションリール
２、ＰＬＧ
４ めっき処理部
５ 欠陥検査装置
６ 印字装置
６Ａ 欠陥マーク用印字装置
６Ｂ 参照マーク用印字装置
７ 第１のライン制御部
７Ａ 第１の位置トラッキング部
７Ｂ 欠陥マーク印字処理部
７Ｃ 参照マーク印字処理部
８ データベース
９ 上位コンピュータ
９Ａ 関連情報取得部
１０ 金属帯
１１ 印字実績データ
１２ 印字実績データ群
２０ ペイオフリール
２１ テンションリール
２１、ＰＬＧ
２３ 印字マーク認識装置
２４ トリム装置
２５ 再印字装置
２６ 第２のライン制御部
２６Ａ 第２の位置トラッキング部
２６Ｂ 再印字処理部
Ｋ 欠陥マーク
Ｓ 参照マーク
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】