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公報発行日 2022年5月10
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-68595 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】製造プロセスで取得した大量の計測値から異常状態を検知し、一対一に対応しない多数の異常の原因の候補を分類、選別することにより、異常の原因を早期に究明することができる異常診断モデルの構築方法、異常診断方法、異常診断モデルの構築装置および異常診断装置を提供すること。
【解決手段】異常診断モデルの構築方法は、金属材料を複数の設備で順次処理するプロセスの異常診断モデルの構築方法であって、複数の設備について、予め定めた所定の計測周期で同時刻に計測された計測値を利用して、同時刻の計測値と異常との関係を学習させた第一の異常診断モデルを作成する第一のモデル作成ステップと、複数の設備について計測された計測値が金属材料の位置ごとに編集された、金属材料の同じ位置ごとの計測値を利用して、同位置の計測値と異常との関係を学習させた第二の異常診断モデルを作成する第二のモデル作成ステップと、を含む。
【選択図】図1
本発明に係る異常診断モデルの構築方法、異常診断方法、異常診断モデルの構築装置および異常診断装置によれば、二種類の異常診断モデルを構築することにより、例えば設備の機械・制御系の異常と、製品の品質・形状起因の異常とを、それぞれ区別して診断することができる。従って、異常の原因を早期に究明することができ、設備の停止時間を低減することができるとともに、効率的かつ効果的な異常対策に繋げることができる。
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