発明の名称 外観検査方法および外観検査装置
出願人 パナソニックIPマネジメント株式会社 (識別番号 314012076)
特許公開件数ランキング 4 位(2332件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 3 位(2414件)(共同出願を含む)
出願人 リンクウィズ株式会社 (識別番号 517425446)
特許公開件数ランキング 3282 位(5件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 9371 位(1件)(共同出願を含む)
公報番号 特開-2022-71596
公報発行日 2022年5月16
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-71596
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