特開 2022-72802 高周波誘導加熱装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022072802

(43)【公開日】2022-05-17

(54)【発明の名称】高周波誘導加熱装置

(51)【国際特許分類】

   H05B 6/06 20060101AFI20220510BHJP

【ＦＩ】

H05B6/06 393

【審査請求】未請求

【請求項の数】6

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020182446

(22)【出願日】2020-10-30

(71)【出願人】

【識別番号】000227836

【氏名又は名称】日本アビオニクス株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100098394

【弁理士】

【氏名又は名称】山川 茂樹

(74)【代理人】

【識別番号】100064621

【弁理士】

【氏名又は名称】山川 政樹

(72)【発明者】

【氏名】保坂 儒人

【テーマコード（参考）】

3K059

【Ｆターム（参考）】

3K059AA08

3K059AC07

3K059AD04

3K059AD13

3K059CD73

(57)【要約】

【課題】被加熱物の温度を従来よりも小さい誤差で計測する。
【解決手段】高周波誘導加熱装置は、高周波電流の供給を受けて高周波誘導によって被加熱物１１に誘導電流を発生させる加熱コイル１と、直流電圧を交流電圧に変換して、加熱コイル１に高周波電流を供給する発振器２と、発振器２の一次側に供給される電流を計測する電流センサ５と、電流センサ５によって計測された電流の積算値を、積算値と被加熱物１１の温度との関係を示す回帰直線の式に入力することにより、被加熱物１１の温度の推定値を算出する温度算出部６とを備える。
【選択図】 図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

高周波電流の供給を受けて高周波誘導によって被加熱物に誘導電流を発生させるように構成された加熱コイルと、
直流電圧を交流電圧に変換して、前記加熱コイルに高周波電流を供給するように構成された発振器と、
前記発振器の一次側に供給される電流を計測するように構成された電流センサと、
前記電流センサによって計測された電流の積算値を、積算値と前記被加熱物の温度との関係を示す回帰直線の式に入力することにより、前記被加熱物の温度の推定値を算出するように構成された温度算出部とを備えることを特徴とする高周波誘導加熱装置。

【請求項2】

請求項１記載の高周波誘導加熱装置において、
前記被加熱物の温度の推定値が予め規定された温度閾値を超えているかどうかを判定するように構成された判定部をさらに備えることを特徴とする高周波誘導加熱装置。

【請求項3】

請求項１または２記載の高周波誘導加熱装置において、
前記被加熱物の温度の推定値を算出する前に行われる複数回の加熱試験時に、前記電流センサによって計測された加熱試験毎の電流の積算値のデータと前記被加熱物に取り付けられた温度センサによって計測された加熱試験毎の被加熱物の温度のデータとを取得して、取得したデータに基づいて前記回帰直線の式を求めるように構成された単回帰分析部をさらに備えることを特徴とする高周波誘導加熱装置。

【請求項4】

高周波電流の供給を受けて高周波誘導によって被加熱物に誘導電流を発生させるように構成された加熱コイルと、
直流電圧を交流電圧に変換して、前記加熱コイルに高周波電流を供給するように構成された発振器と、
前記発振器の二次側に供給される交流電流を計測するように構成された電流センサと、
前記発振器の二次側に供給される交流電圧を計測するように構成された電圧センサと、
前記電流センサによって計測された交流電流と前記電圧センサによって計測された交流電圧の積の積算値を、積算値と前記被加熱物の温度との関係を示す回帰直線の式に入力することにより、前記被加熱物の温度の推定値を算出するように構成された温度算出部とを備えることを特徴とする高周波誘導加熱装置。

【請求項5】

請求項４記載の高周波誘導加熱装置において、
前記被加熱物の温度の推定値が予め規定された温度閾値を超えているかどうかを判定するように構成された判定部をさらに備えることを特徴とする高周波誘導加熱装置。

【請求項6】

請求項４または５記載の高周波誘導加熱装置において、
前記被加熱物の温度の推定値を算出する前に行われる複数回の加熱試験時に、前記電流センサと前記電圧センサによって計測された加熱試験毎の交流電流と交流電圧の積の積算値のデータと、前記被加熱物に取り付けられた温度センサによって計測された加熱試験毎の被加熱物の温度のデータとを取得して、取得したデータに基づいて前記回帰直線の式を求めるように構成された単回帰分析部をさらに備えることを特徴とする高周波誘導加熱装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、電磁誘導の原理を利用して金属などを加熱する高周波誘導加熱装置に関するものである。

【背景技術】

【0002】

高周波誘導加熱装置は、加熱コイルに高周波電流を流して磁界を発生させ、加熱コイルの中あるいは加熱コイルの近傍に配置された金属製の被加熱物に誘導電流を発生させて、この誘導電流により被加熱物にジュール熱を発生させることにより、被加熱物を加熱するものである（特許文献１参照）。

【0003】

例えば金属製の被加熱物を樹脂部品に圧入する製造工程に高周波誘導加熱装置を利用する場合、被加熱物の温度を適切に管理することは高品質な製品を生産する上で重要な事項であるが、例えばナットやスリーブなどの個々の被加熱物に温度センサを取り付けることはできない。そこで、従来は放射温度計などによる温度管理が行われていた。
しかしながら、放射温度計による温度計測は外乱の影響を受け易く、例えば５０℃～１００℃の大きな計測誤差があるという課題があった。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０２０－８７８０７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、温度センサを取り付けることが難しい被加熱物の温度を従来よりも小さい誤差で計測することができる高周波誘導加熱装置を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明の高周波誘導加熱装置は、高周波電流の供給を受けて高周波誘導によって被加熱物に誘導電流を発生させるように構成された加熱コイルと、直流電圧を交流電圧に変換して、前記加熱コイルに高周波電流を供給するように構成された発振器と、前記発振器の一次側に供給される電流を計測するように構成された電流センサと、前記電流センサによって計測された電流の積算値を、積算値と前記被加熱物の温度との関係を示す回帰直線の式に入力することにより、前記被加熱物の温度の推定値を算出するように構成された温度算出部とを備えることを特徴とするものである。

【0007】

また、本発明の高周波誘導加熱装置の１構成例は、前記被加熱物の温度の推定値が予め規定された温度閾値を超えているかどうかを判定するように構成された判定部をさらに備えることを特徴とするものである。
また、本発明の高周波誘導加熱装置の１構成例は、前記被加熱物の温度の推定値を算出する前に行われる複数回の加熱試験時に、前記電流センサによって計測された加熱試験毎の電流の積算値のデータと前記被加熱物に取り付けられた温度センサによって計測された加熱試験毎の被加熱物の温度のデータとを取得して、取得したデータに基づいて前記回帰直線の式を求めるように構成された単回帰分析部をさらに備えることを特徴とするものである。

【0008】

本発明の高周波誘導加熱装置は、高周波電流の供給を受けて高周波誘導によって被加熱物に誘導電流を発生させるように構成された加熱コイルと、直流電圧を交流電圧に変換して、前記加熱コイルに高周波電流を供給するように構成された発振器と、前記発振器の二次側に供給される交流電流を計測するように構成された電流センサと、前記発振器の二次側に供給される交流電圧を計測するように構成された電圧センサと、前記電流センサによって計測された交流電流と前記電圧センサによって計測された交流電圧の積の積算値を、積算値と前記被加熱物の温度との関係を示す回帰直線の式に入力することにより、前記被加熱物の温度の推定値を算出するように構成された温度算出部とを備えることを特徴とするものである。

【0009】

また、本発明の高周波誘導加熱装置の１構成例は、前記被加熱物の温度の推定値が予め規定された温度閾値を超えているかどうかを判定するように構成された判定部をさらに備えることを特徴とするものである。
また、本発明の高周波誘導加熱装置の１構成例は、前記被加熱物の温度の推定値を算出する前に行われる複数回の加熱試験時に、前記電流センサと前記電圧センサによって計測された加熱試験毎の交流電流と交流電圧の積の積算値のデータと、前記被加熱物に取り付けられた温度センサによって計測された加熱試験毎の被加熱物の温度のデータとを取得して、取得したデータに基づいて前記回帰直線の式を求めるように構成された単回帰分析部をさらに備えることを特徴とするものである。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、電流センサと温度算出部とを設けるか、または電流センサと電圧センサと温度算出部とを設けることにより、高周波誘導加熱装置を利用して被加熱物を加熱する工程において温度センサを取り付けることが難しい被加熱物の温度を従来の放射温度計よりも小さい誤差で計測することができる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】図１は、本発明の第１の実施例に係る高周波誘導加熱装置の構成を示すブロック図である。

【図2】図２は、本発明の第１の実施例に係る高周波誘導加熱装置の動作を説明するフローチャートである。

【図3】図３は、本発明の第１の実施例に係る回帰直線の導出方法を説明するフローチャートである。

【図4】図４は、１回の加熱試験中の電流と温度の変化の例を示す図である。

【図5】図５は、本発明の第１の実施例に係る回帰直線の導出方法を説明する図である。

【図6】図６は、本発明の第２の実施例に係る高周波誘導加熱装置の構成を示すブロック図である。

【図7】図７は、本発明の第２の実施例に係る高周波誘導加熱装置の動作を説明するフローチャートである。

【図8】図８は、本発明の第２の実施例に係る回帰直線の導出方法を説明するフローチャートである。

【図9】図９は、本発明の第２の実施例に係る回帰直線の導出方法を説明する図である。

【図10】図１０は、本発明の第１、第２の実施例に係る高周波誘導加熱装置を実現するコンピュータの構成例を示すブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0012】

［発明の原理］
高周波誘導加熱装置の加熱中の一次側の電圧Ｖと一次側の電流Ｉとの乗算値の積算値が被加熱物の温度と一次関数の関係になることが実験的に分かっている。
発明者は、加熱中の一次側の電圧Ｖが一定の場合、一次側の電流Ｉのみが変化するので、加熱中の電流Ｉの積算値から被加熱物の温度を求めることができることに想到した。

【0013】

［第１の実施例］
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。図１は本発明の第１の実施例に係る高周波誘導加熱装置の構成を示すブロック図である。高周波誘導加熱装置は、高周波電流の供給を受けて高周波誘導によって被加熱物１１に誘導電流を発生させる加熱コイル１と、直流電圧Ｖを交流電圧に変換して、加熱コイル１に高周波電流を供給する発振器２と、発振器２と加熱コイル１との間に設けられたマッチングボックス３と、発振器２を制御する制御部４と、発振器２の一次側に供給される直流電流Ｉを計測する電流センサ５と、加熱中に計測された電流Ｉの積算値を、積算値と被加熱物１１の温度との関係を示す回帰直線の式に入力することにより、被加熱物１１の温度の推定値を算出する温度算出部６と、温度を表示する表示部７と、被加熱物１１の温度の推定値が予め規定された温度閾値を超えているかどうかを判定する判定部８と、判定結果を出力する判定結果出力部９と、被加熱物１１の温度の推定値を算出する前に行われる複数回の加熱試験時に得られたデータに基づいて回帰直線の式を求める単回帰分析部１０とを備えている。

【0014】

図１に示すように、被加熱物１１は、加熱コイル１の中（あるいは加熱コイル１の近傍）に配置される。被加熱物１１の例としては、例えば加熱された状態で樹脂部品に圧入されるナットやスリーブなどがある。加熱コイル１と被加熱物１１とは、機械的に固定されていることが必要となる。

【0015】

次に、本実施例の高周波誘導加熱装置の動作を図２を参照して説明する。制御部４は、例えばユーザからの加熱開始の指示に応じて（図２ステップＳ１００においてＹＥＳ）、発振器２に対して加熱制御信号を出力する。発振器２は、制御部４から加熱制御信号が入力されると、マッチングボックス３を介して加熱コイル１に高周波電流の供給を開始する（図２ステップＳ１０１）。マッチングボックス３は、発振器２と加熱コイル１のインピーダンスを整合させて、発振器２から加熱コイル１への高周波電流の供給効率を向上させるものである。加熱コイル１に高周波電流を供給することにより、加熱コイル１の中に配置された金属製の被加熱物１１に誘導電流が発生し、この誘導電流により被加熱物１１にジュール熱が発生する。

【0016】

発振器２は、外部から供給される直流電圧Ｖを交流電圧に変換して、加熱コイル１に高周波電流を供給する。電流センサ５は、この発振器２の一次側に供給される電流Ｉを計測する。
温度算出部６は、電流センサ５によって計測された電流Ｉのデータを取得する（図２ステップＳ１０２）。温度算出部６は、加熱開始（発振開始）時点からの加熱時間が設定値に達するまで（図２ステップＳ１０３においてＹＥＳ）、電流Ｉのデータの取得を一定時間毎に行う。これにより、温度算出部６には、電流Ｉの時系列データが記録される。

【0017】

制御部４は、加熱時間が設定値に達すると、加熱制御信号の出力を停止する。これにより、発振器２は、加熱コイル１への高周波電流の供給を停止する（図２ステップＳ１０４）。これにより、被加熱物１１の加熱が停止する。

【0018】

温度算出部６は、加熱時間が設定値に達して加熱が停止すると、加熱開始から加熱停止までの間に取得した電流Ｉの時系列データの積算値を、積算値と温度との関係を示す所定の回帰直線の式に入力することにより、被加熱物１１の温度の推定値を算出する（図２ステップＳ１０５）。被加熱物１１の温度Ｔの推定値をＴ_E、電流Ｉの積算値をＩ_INTEGRAL、積算値Ｉ_INTEGRALと温度Ｔの推定値Ｔ_Eとの関係を示す回帰直線の傾きをａ、回帰直線の切片をｂとすると、回帰直線の式は以下のようになる。回帰直線の導出方法については後述する。
Ｔ_E＝ａ×Ｉ_INTEGRAL＋ｂ ・・・（１）

【0019】

表示部７は、温度算出部６によって算出された被加熱物１１の温度Ｔの推定値Ｔ_Eを表示する（図２ステップＳ１０６）。なお、本実施例では、推定値Ｔ_Eを表示しているが、推定値Ｔ_Eのデータを外部に送信するようにしてもよい。

【0020】

判定部８は、温度算出部６によって算出された被加熱物１１の温度Ｔの推定値Ｔ_Eが予め規定された温度閾値を超えているかどうかを判定する（図２ステップＳ１０７）。具体的には、判定部８は、推定値Ｔ_Eが温度下限値Ｔ_LOWER未満あるいは温度上限値Ｔ_UPPERを超過している場合、異常と判定し、推定値Ｔ_Eが温度下限値Ｔ_LOWER以上で温度上限値Ｔ_UPPER以下であれば、正常と判定する。

【0021】

判定結果出力部９は、判定部８の判定結果を出力する（図２ステップＳ１０８）。判定結果の出力方法としては、例えば判定結果を知らせる内容を表示したり、判定結果を知らせる情報を外部に送信したりする等の方法がある。

【0022】

こうして、高周波誘導加熱装置の動作が終了する。本実施例では、電流Ｉの積算値Ｉ_INTEGRALと被加熱物１１の温度Ｔとの関係を利用することにより、温度センサを取り付けることが難しい被加熱物１１の温度を従来の放射温度計よりも小さい誤差で計測することができる。

【0023】

次に、電流Ｉの積算値Ｉ_INTEGRALと被加熱物１１の温度Ｔの推定値Ｔ_Eとの関係を示す回帰直線の導出方法について説明する。本実施例では、実際に被加熱物１１を加熱して製品の製造を行う前に、製造時と同じ加熱コイル１および被加熱物１１を使用して、事前の加熱試験を複数回行い、電流Ｉの積算値Ｉ_INTEGRALのデータと被加熱物１１の温度のデータとを取得して、回帰直線を求める。

【0024】

図３は回帰直線の導出方法を説明するフローチャートである。まず、高周波誘導加熱装置を使用するユーザは、加熱コイル１の中（あるいは加熱コイル１の近傍）に配置される被加熱物１１に熱電対などの温度センサを取り付ける。

【0025】

制御部４は、例えばユーザからの試験開始の指示に応じて（図３ステップＳ２００においてＹＥＳ）、発振器２に対して加熱制御信号を出力する。発振器２は、制御部４から加熱制御信号が入力されると、マッチングボックス３を介して加熱コイル１に高周波電流の供給を開始する（図３ステップＳ２０１）。

【0026】

単回帰分析部１０は、電流センサ５によって計測された電流Ｉのデータを取得する（図３ステップＳ２０２）。
被加熱物１１に取り付けられた温度センサは、被加熱物１１の温度Ｔを計測する。単回帰分析部１０は、温度センサによって計測された温度Ｔのデータを取得する（図３ステップＳ２０３）。単回帰分析部１０は、加熱開始時点からの加熱時間が設定値に達するまで（図３ステップＳ２０４においてＹＥＳ）、電流Ｉと温度Ｔのデータの取得を一定時間毎に行う。これにより、単回帰分析部１０には、電流Ｉの時系列データと温度Ｔの時系列データとが記録される。

【0027】

制御部４は、加熱時間が設定値に達すると、加熱制御信号の出力を停止する。これにより、発振器２は、加熱コイル１への高周波電流の供給を停止する（図３ステップＳ２０５）。

【0028】

次に、高周波誘導加熱装置は、被加熱物１１を冷却する（図３ステップＳ２０６）。被加熱物１１を強制的に冷やすために冷却装置（不図示）を用いる。ここでは、予め規定された時間だけ待つようにしてもよいし、温度センサによって計測された温度Ｔが規定値以下になるまで待つようにしてもよい。

【0029】

単回帰分析部１０は、被加熱物１１が冷えるまで待った後に、加熱条件を変更する（図３ステップＳ２０７）。加熱条件としては、加熱時間の設定値、加熱効率（マッチングボックス３のインピーダンス）がある。マッチングボックス３は、マッチングトランス（不図示）を備えており、このマッチングトランスのタップを変えることでインピーダンスを変更し、加熱効率を変更することができるようになっている。
単回帰分析部１０は、加熱時間の設定値と加熱効率のうち少なくとも一方を変更する。

【0030】

制御部４は、加熱試験の回数が所定回数（例えば２回）に達したかどうかを判定し（図３ステップＳ２０８）、加熱試験の回数が所定回数に達していない場合、ステップＳ２０１に戻って、発振器２に対して加熱制御信号を出力する。
こうして、所定回数の加熱試験が終わるまで、ステップＳ２０１～Ｓ２０７の処理が繰り返し実施される。図４は１回の加熱試験中の電流Ｉと温度Ｔの変化の例を示す図である。

【0031】

単回帰分析部１０は、所定回数の加熱試験の終了後、記録した電流Ｉの時系列データと温度Ｔの時系列データとに基づいて単回帰分析を行い、回帰直線の傾きａと切片ｂとを算出する（図３ステップＳ２０９）。
具体的には、単回帰分析部１０は、加熱試験毎の電流Ｉの積算値Ｉ_INTEGRALと、加熱試験毎の温度Ｔの最高値とが例えば図５のように得られたとき、最小二乗法により回帰直線Ｌの傾きａと切片ｂとを算出する。図５の例におけるＩ１は１回目の加熱試験における電流Ｉの積算値、Ｔ１は１回目の加熱試験における温度Ｔの最高値、Ｉ２は２回目の加熱試験における電流Ｉの積算値、Ｔ２は２回目の加熱試験における温度Ｔの最高値である。

【0032】

そして、単回帰分析部１０は、算出した傾きａと切片ｂの値を温度算出部６に設定する（図３ステップＳ２１０）。
以上で、図３の処理が終了する。図３の処理は実際に被加熱物１１を加熱して製品の製造を行う前に行われるが、加熱コイル１と被加熱物１１のうち少なくとも一方の種類が変更された場合には図３の処理を再度行う必要がある。

【0033】

本実施例によれば、事前の加熱試験により回帰直線を導出して温度算出部６の設定を自動的に行うことができ、設備立ち上げの際の効率化を実現することができる。

【0034】

［第２の実施例］
次に、本発明の第２の実施例について説明する。図６は本発明の第２の実施例に係る高周波誘導加熱装置の構成を示すブロック図である。高周波誘導加熱装置は、加熱コイル１と、発振器２と、マッチングボックス３と、制御部４と、発振器２の二次側に供給される交流電流Ｉａを計測する電流センサ５ａと、温度算出部６ａと、表示部７と、判定部８と、判定結果出力部９と、単回帰分析部１０ａと、発振器２の二次側に供給される交流電圧Ｖａを計測する電圧センサ１２とを備えている。

【0035】

次に、本実施例の高周波誘導加熱装置の動作を図７を参照して説明する。図７のステップＳ３００，Ｓ３０１は、図２のステップＳ１００，Ｓ１０１と同じである。
電流センサ５ａは、発振器２の二次側に供給される交流電流Ｉａを計測する。電圧センサ１２は、発振器２の二次側に供給される交流電圧Ｖａを計測する。

【0036】

温度算出部６ａは、電流センサ５ａによって計測された交流電流Ｉａのデータと電圧センサ１２によって計測された交流電圧Ｖａのデータとを取得する（図７ステップＳ３０２）。温度算出部６ａは、加熱開始（発振開始）時点からの加熱時間が設定値に達するまで（図７ステップＳ３０３においてＹＥＳ）、交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａのデータの取得を一定時間毎に行う。これにより、温度算出部６ａには、交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａの時系列データが記録される。

【0037】

温度算出部６ａは、加熱時間が設定値に達して加熱が停止すると（図７ステップＳ３０４）、加熱開始から加熱停止までの間に取得した交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａの積の時系列データの積算値を、積算値と温度との関係を示す所定の回帰直線の式に入力することにより、被加熱物１１の温度の推定値を算出する（図７ステップＳ３０５）。被加熱物１１の温度Ｔの推定値をＴ_E、交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａの積の積算値をＷ_INTEGRAL、積算値Ｗ_INTEGRALと温度Ｔの推定値Ｔ_Eとの関係を示す回帰直線の傾きをａ、回帰直線の切片をｂとすると、回帰直線の式は以下のようになる。回帰直線の導出方法については後述する。
Ｔ_E＝ａ×Ｗ_INTEGRAL＋ｂ ・・・（２）

【0038】

図７のステップＳ３０６～Ｓ２０８は、図２のステップＳ１０６～Ｓ１０８と同じである。

【0039】

次に、積算値Ｗ_INTEGRALと被加熱物１１の温度Ｔの推定値Ｔ_Eとの関係を示す回帰直線の導出方法について説明する。本実施例では、実際に被加熱物１１を加熱して製品の製造を行う前に、製造時と同じ加熱コイル１および被加熱物１１を使用して、事前の加熱試験を複数回行い、積算値Ｗ_INTEGRALのデータと被加熱物１１の温度のデータとを取得して、回帰直線を求める。

【0040】

図８は回帰直線の導出方法を説明するフローチャートである。図８のステップＳ４００，Ｓ４０１は、図３のステップＳ２００，Ｓ２０１と同じである。

【0041】

単回帰分析部１０ａは、電流センサ５ａによって計測された交流電流Ｉａのデータと電圧センサ１２によって計測された交流電圧Ｖａのデータとを取得する（図８ステップＳ４０２）。
第１の実施例と同様に被加熱物１１に取り付けられた温度センサは、被加熱物１１の温度Ｔを計測する。単回帰分析部１０ａは、温度センサによって計測された温度Ｔのデータを取得する（図８ステップＳ４０３）。単回帰分析部１０ａは、加熱開始時点からの加熱時間が設定値に達するまで（図８ステップＳ４０４においてＹＥＳ）、交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａと温度Ｔのデータの取得を一定時間毎に行う。これにより、単回帰分析部１０ａには、交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａと温度Ｔの時系列データが記録される。

【0042】

加熱時間が設定値に達して加熱が停止すると（図８ステップＳ４０５）、高周波誘導加熱装置は、被加熱物１１を冷却する（図８ステップＳ４０６）。
第１の実施例と同様に、単回帰分析部１０ａは、被加熱物１１が冷えるまで待った後に、加熱条件を変更する（図８ステップＳ４０７）。

【0043】

単回帰分析部１０ａは、所定回数の加熱試験の終了後、交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａの積の時系列データと、温度Ｔの時系列データとに基づいて単回帰分析を行い、回帰直線の傾きａと切片ｂとを算出する（図８ステップＳ４０９）。
具体的には、単回帰分析部１０ａは、加熱試験毎の交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａの積の積算値Ｗ_INTEGRALと、加熱試験毎の温度Ｔの最高値とが例えば図９のように得られたとき、最小二乗法により回帰直線Ｌの傾きａと切片ｂとを算出する。図９の例におけるＷ１は１回目の加熱試験における交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａの積の積算値、Ｔ１は１回目の加熱試験における温度Ｔの最高値、Ｗ２は２回目の加熱試験における交流電流Ｉａと交流電圧Ｖａの積の積算値、Ｔ２は２回目の加熱試験における温度Ｔの最高値である。

【0044】

そして、単回帰分析部１０ａは、算出した傾きａと切片ｂの値を温度算出部６ａに設定する（図８ステップＳ４１０）。
こうして、本実施例では、第１の実施例と同様の効果を得ることができる。なお、本実施例では、電流センサ５ａと電圧センサ１２を発振器２とマッチングボックス３の間に設けているが、マッチングボックス３と加熱コイル１の間に設けるようにしてもよい。

【0045】

第１、第２の実施例で説明した高周波誘導加熱装置の制御部４と温度算出部６，６ａと表示部７と判定部８と判定結果出力部９と単回帰分析部１０，１０ａは、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、記憶装置及びインターフェースを備えたコンピュータと、これらのハードウェア資源を制御するプログラムによって実現することができる。このコンピュータの構成例を図１０に示す。

【0046】

コンピュータは、ＣＰＵ１００と、記憶装置１０１と、インタフェース装置（以下、Ｉ／Ｆと略する）１０２とを備えている。Ｉ／Ｆ１０２には、発振器２と電流センサ５，５ａと電圧センサ１２と表示部７のハードウェアと判定結果出力部９のハードウェアと温度センサ等が接続される。このようなコンピュータにおいて、本発明の方法を実現させるためのプログラムは記憶装置１０１に格納される。ＣＰＵ１００は、記憶装置１０１に格納されたプログラムに従って第１、第２の実施例で説明した処理を実行する。

【産業上の利用可能性】

【0047】

本発明は、高周波誘導加熱装置に適用することができる。

【符号の説明】

【0048】

１…加熱コイル、２…発振器、３…マッチングボックス、４…制御部、５，５ａ…電流センサ、６，６ａ…温度算出部、７…表示部、８…判定部、９…判定結果出力部、１０，１０ａ…単回帰分析部、１１…被加熱物、１２…電圧センサ。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】