特開 2022-92351 タッチパネル装置、コントローラ及びプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022092351

(43)【公開日】2022-06-22

(54)【発明の名称】タッチパネル装置、コントローラ及びプログラム

(51)【国際特許分類】

   G06F 3/041 20060101AFI20220615BHJP

   G06F 3/045 20060101ALI20220615BHJP

【ＦＩ】

G06F3/041 590

G06F3/045 F

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020205120

(22)【出願日】2020-12-10

(71)【出願人】

【識別番号】501398606

【氏名又は名称】富士通コンポーネント株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100087480

【弁理士】

【氏名又は名称】片山 修平

(72)【発明者】

【氏名】一川 大輔

(57)【要約】

【課題】接触抵抗の影響を受けずに、安定した２点の座標を算出することができるタッチパネル装置、コントローラ及びプログラムを提供する。
【解決手段】ＣＰＵ３１は、タッチされた２点における中点座標をメモリ３３に記録し、２点タッチから１点タッチの切り替わりにおいて、メモリ３３に記録された中点座標を基準として、測定される１点タッチの座標と点対称となる座標を２点目の座標として算出し、測定される１点タッチの座標と疑似的に算出された２点目の座標をコンピュータ４０に出力する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

抵抗膜方式のタッチパネルと、
前記タッチパネルにタッチされた２点における中点座標を測定する第１測定手段と、
前記タッチパネルにタッチされた２点のうち一方の押下点の座標を測定する第２測定手段と、
前記中点座標を記憶する記憶手段と、
２点タッチから１点タッチの切り替え後、前記記憶手段に記録された中点座標を基準として、前記第２測定手段により測定された押下点の座標と点対称となる座標を２点目の座標として算出し、前記第２測定手段により測定された押下点の座標及び前記算出された２点目の座標を外部装置に出力する制御手段と
を備えることを特徴とするタッチパネル装置。

【請求項2】

前記タッチパネルにタッチされた２点を結ぶ線分の傾きを判定する判定手段と、
前記タッチパネルにタッチされた２点の２点間距離を測定する第３測定手段と、を備え、
前記記憶手段は、前記２点タッチの開始時の前記２点間距離を記憶し、
前記制御手段は、前記２点タッチが継続されている場合に、前記２点を結ぶ線分の傾き、前記第１測定手段により測定された中点座標及び前記２点タッチの開始時の前記２点間距離に基づいて、前記２点の各座標を算出し、当該２点の各座標を外部装置に出力することを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル装置。

【請求項3】

抵抗膜方式のタッチパネルにタッチされた２点における中点座標を測定する第１測定手段と、
前記タッチパネルにタッチされた２点のうち一方の押下点の座標を測定する第２測定手段と、
前記中点座標を記憶する記憶手段と、
２点タッチから１点タッチの切り替え後、前記記憶手段に記録された中点座標を基準として、前記第２測定手段により測定された押下点の座標と点対称となる座標を２点目の座標として算出し、前記第２測定手段により測定された押下点の座標及び前記算出された２点目の座標を外部装置に出力する制御手段と
を備えることを特徴とするコントローラ。

【請求項4】

前記タッチパネルにタッチされた２点を結ぶ線分の傾きを判定する判定手段と、
前記タッチパネルにタッチされた２点の２点間距離を測定する第３測定手段と、を備え、
前記記憶手段は、前記２点タッチの開始時の前記２点間距離を記憶し、
前記制御手段は、前記２点タッチが継続されている場合に、前記２点を結ぶ線分の傾き、前記第１測定手段により測定された中点座標及び前記２点タッチの開始時の前記２点間距離に基づいて、前記２点の各座標を算出し、当該２点の各座標を外部装置に出力することを特徴とする請求項３に記載のコントローラ。

【請求項5】

抵抗膜方式のタッチパネルに接続されるコンピュータを、
抵抗膜方式のタッチパネルにタッチされた２点における中点座標を測定する第１測定手段、
前記タッチパネルにタッチされた２点のうち一方の押下点の座標を測定する第２測定手段、
前記中点座標を記憶する記憶手段、及び
２点タッチから１点タッチの切り替え後、前記記憶手段に記録された中点座標を基準として、前記第２測定手段により測定された押下点の座標と点対称となる座標を２点目の座標として算出し、前記第２測定手段により測定された押下点の座標及び前記算出された２点目の座標を外部装置に出力する制御手段
として機能させることを特徴とするプログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、タッチパネル装置、コントローラ及びプログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

抵抗膜方式のタッチパネルにおいても２点のタッチ位置が検出できる方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１２－１６８９７７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかし、抵抗膜方式のタッチパネルは、静電容量方式のタッチパネルと比較すると、２点検出の位置精度が低く、ジェスチャー操作を行う際に期待した動作とならない場合がある。特に、指でタッチ操作を行う際は、パネルと指の接触面積が一定では無いために接触抵抗が変わり、２点の座標に誤差が生じやすくなる。

【0005】

本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、接触抵抗の影響を受けずに、安定した２点の座標を算出することができるタッチパネル装置、コントローラ及びプログラムを提供する。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本明細書のタッチパネル装置は、抵抗膜方式のタッチパネルと、前記タッチパネルにタッチされた２点における中点座標を測定する第１測定手段と、前記タッチパネルにタッチされた２点のうち一方の押下点の座標を測定する第２測定手段と、前記中点座標を記憶する記憶手段と、２点タッチから１点タッチの切り替え後、前記記憶手段に記録された中点座標を基準として、前記第２測定手段により測定された押下点の座標と点対称となる座標を２点目の座標として算出し、前記第２測定手段により測定された押下点の座標及び前記算出された２点目の座標を外部装置に出力する制御手段とを備えることを特徴とする。

【発明の効果】

【0007】

本発明によれば、接触抵抗の影響を受けずに、安定した２点の座標位置を算出することができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】（Ａ）は、本実施の形態に係るタッチパネル装置を示す図である。（Ｂ）は、ＣＰＵの機能を示す機能ブロック図である。

【図2】（Ａ）は、２点タッチの開始時のタッチ状態を示す図である。（Ｂ）は、２点タッチが継続されている場合のタッチ状態を示す図である。

【図3】（Ａ）は、２点タッチから１点タッチに移行した場合のタッチ状態を示す図である。（Ｂ）は、中点座標がメモリに記録された場合での１点タッチ状態を示す図である。

【図4】ＣＰＵで実行される処理を示すフローチャートである。

【図5】ＣＰＵで実行される処理を示すフローチャートである。

【図6】Ｘ軸方向の２点間の距離と電圧測定部において測定される電圧との関係を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。

【0010】

図１（Ａ）は、本実施の形態に係るタッチパネル装置を示す図である。図１（Ａ）に示すように、タッチパネル装置１００は、スイッチＳＷ１～ＳＷ７、抵抗Ｒ，Ｒｘ１，Ｒｙ１、抵抗膜１０，２０、及びタッチパネルコントローラ３０（以下「コントローラ」という）を備えている。抵抗膜１０は上部抵抗膜であり、抵抗膜２０は下部抵抗膜である。抵抗膜１０及び２０は互いに対向して配置されており、例えば液晶ディスプレイなどの表示装置（不図示）上に重ねられる。抵抗膜１０（第１抵抗膜）の１つの辺にはＸＨ電極１２（第１電極）が設けられ、別の１つの辺にはＸＨ電極１２と対向するＸＬ電極１４（第２電極）が設けられている。抵抗膜２０（第２抵抗膜）の１つの辺にはＹＨ電極２２（第３電極）が設けられ、別の１つの辺にはＹＨ電極２２と対向するＹＬ電極２４（第４電極）が設けられている。ＸＨ電極１２とＸＬ電極１４との対向する方向（Ｘ軸方向）は、ＹＨ電極２２とＹＬ電極２４とが対向する方向（Ｙ軸方向）と交叉しており、図１（Ａ）では直交している。

【0011】

抵抗膜１０及び２０は、例えばＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅ）により形成された透明の導電膜である。抵抗膜１０及び２０は例えば同じ材料により形成され、電気抵抗は略均一に分布している。ＸＨ電極１２、ＸＬ電極１４、ＹＨ電極２２及びＹＬ電極２４は、例えば銅またはアルミニウムなどの金属により形成されている。

【0012】

スイッチＳＷ１～ＳＷ７は、それぞれトランジスタにより構成されている。各スイッチのトランジスタのベースはコントローラ３０に接続されている。スイッチＳＷ１及びＳＷ４のエミッタは、電源電圧Ｖｃｃに接続されている。スイッチＳＷ２のエミッタは、抵抗Ｒｘ１を介して電源電圧Ｖｃｃに接続されている。スイッチＳＷ５のエミッタは抵抗Ｒｙ１を介して電源電圧Ｖｃｃに接続されている。スイッチＳＷ３、ＳＷ６及びＳＷ７のエミッタは接地されている。電源電圧Ｖｃｃは例えば５Ｖである。

【0013】

ＸＨ電極１２は、スイッチＳＷ１及びＳＷ２のコレクタに接続され、さらに抵抗Ｒを介してスイッチＳＷ７のコレクタに接続されている。ＸＬ電極１４は、スイッチＳＷ３のコレクタに接続されている。ＹＨ電極２２は、スイッチＳＷ４及びＳＷ５のコレクタに接続されている。ＹＬ電極２４は、スイッチＳＷ６のコレクタに接続されている。

【0014】

コントローラ３０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit：中央演算処理装置）３１、ＡＤ変換器３２、メモリ３３、及び入出力インタフェース（Ｉ／Ｆ）３６を備える。ＣＰＵ３１は、判定手段、第１測定手段、第２測定手段、第３測定手段及び制御手段として機能する。ＡＤ変換器３２は、電圧測定部ＡＤＸ１、ＡＤＸ２、ＡＤＹ１及びＡＤＹ２を備える。電圧測定部ＡＤＸ１はＸＨ電極１２に接続され、電圧測定部ＡＤＸ２はＸＬ電極１４に接続されている。電圧測定部ＡＤＹ１はＹＨ電極２２に接続され、電圧測定部ＡＤＹ２はＹＬ電極２４に接続されている。メモリ３３は、記憶手段として機能し、電圧測定部ＡＤＸ１、ＡＤＸ２、ＡＤＹ１及びＡＤＹ２で測定された電圧、及び座標検出に必要なデータ（例えば、２点間距離や中点座標の測定値、各種パラメータの設定値や補正値）などを記録する。

【0015】

抵抗Ｒｘ１の電気抵抗は、ＸＨ電極１２とＸＬ電極１４との間における抵抗膜１０の電気抵抗と略同一である。抵抗Ｒｙ１の電気抵抗は、ＹＨ電極２２とＹＬ電極２４との間における抵抗膜２０の電気抵抗と略同一である。

【0016】

コントローラ３０は、外部装置としてのコンピュータ４０に接続されている。コントローラ３０で取得されたタッチ入力のデータは、入出力Ｉ／Ｆ３６を介してコンピュータ４０に送信される。入出力Ｉ／Ｆ３６は、コンピュータ４０とコントローラ３０との間でデータの送受信を行うインタフェースである。

【0017】

図１（Ｂ）は、ＣＰＵ３１の機能を示す機能ブロック図である。ＣＰＵ３１は、印加部３４及び検出部３５として機能する。印加部３４は、スイッチＳＷ１～ＳＷ７に電圧を印加しスイッチＳＷ１～ＳＷ７のオン／オフを制御することにより、各電極への電圧印加を制御する。検出部３５は、電圧測定部ＡＤＸ１、ＡＤＸ２、ＡＤＹ１及びＡＤＹ２が測定した電圧を取得し、これらの電圧に基づき、１点タッチ又は２点タッチを判断するとともに、２点タッチの場合の中点座標、２点間距離、２点を結ぶ線分の方向及び２点の座標を検出する。

【0018】

以下、コントローラ３０が実行する特徴的な処理を説明する。コントローラ３０は、２点タッチの中点座標、２点間距離及び各タッチ点の座標を測定することができるが、これらの具体的な測定方法は後述する。

【0019】

図２（Ａ）は、２点タッチの開始時のタッチ状態を示す図である。

【0020】

図２（Ａ）に示すように、１点目のタッチが点Ｐであり、２点目のタッチが点Ｑであり、点Ｐ及び点Ｑの中点が点Ｍであり、点Ｐ及び点Ｑの２点間距離が距離Ｄであるとする。例えば、１点タッチから２点タッチに切り替わった直後などのように、２点タッチが開始されると、コントローラ３０は、中点Ｍの座標および２点間距離Ｄを測定し、測定された中点Ｍの座標および２点間距離Ｄを一時的にメモリ３３に記録して、点Ｐと点Ｑを結ぶ線分の傾き、中点Ｍの座標および２点間距離Ｄから点Ｐ及び点Ｑの座標の算出し、点Ｐ及び点Ｑの座標をコンピュータ４０に出力する。

【0021】

図２（Ｂ）は、２点タッチが継続されている場合のタッチ状態を示す図である。

【0022】

２点タッチが継続されている間は、コントローラ３０は、点Ｐと点Ｑを結ぶ線分の傾き、測定された中点Ｍの座標、及びメモリ３３に一時的に記録してある２点間距離Ｄから点Ｐ及び点Ｑの座標を算出する。２点タッチが継続されている間、コントローラ３０は、中点Ｍの座標を逐次更新し、点Ｐ及び点Ｑの座標を算出し、コンピュータ４０に出力する。また、２点タッチが継続されている間、コントローラ３０は、２点間距離Ｄの測定は行わず、２点間距離Ｄの記録を更新しない。なお、２点タッチが継続されている間、２点間距離Ｄは一定であるため、「拡大」「縮小」及び「回転」などのジェスチャー操作を行うことはできない。

【0023】

図３（Ａ）は、２点タッチから１点タッチに移行した場合のタッチ状態を示す図である。

【0024】

タッチ数が２点から１点に切り替わった場合、コントローラ３０は、中点Ｍの座標のメモリ３３への記録の有無を確認する。２点タッチ時に中点Ｍの座標がメモリ３３に記録されている場合、コントローラ３０は、メモリ３３に記録された中点Ｍの座標と１点タッチで測定された点Ｐの座標とから２点目の点Ｑの座標を算出し、点Ｐ及び点Ｑの座標をコンピュータ４０に出力する。この際、コントローラ３０は、中点Ｍの座標や２点間距離Ｄを更新しない。また、コントローラ３０は、メモリ３３に記録された中点Ｍの座標を基準として、１点タッチで測定された点Ｐの座標と点対称となる座標を２点目の点Ｑの座標として算出する。

【0025】

図３（Ｂ）は、中点座標がメモリ３３に記録された場合での１点タッチ状態を示す図である。

【0026】

コントローラ３０は、メモリ３３に記録された中点Ｍの座標と、１点タッチで測定された点Ｐの座標とから２点目の点Ｑの座標を算出し、点Ｐ及び点Ｑの座標をコンピュータ４０に出力する。１点タッチの場合、測定する座標が点Ｐの１点のみであるため正確なタッチ位置を測定できる。算出する２点目の点Ｑの座標についても、基準となる中点Ｍの座標が固定されているため、安定した座標を算出することができる。ユーザがタッチ位置（点Ｐ）を中点Ｍから遠ざけることで、点Ｑの座標も中点Ｍから離れるので、２点ジェスチャー操作の「拡大」を行うことができる。また、タッチ位置（点Ｐ）を中点Ｍに近づけることで、点Ｑの座標も中点Ｍに近づくので、２点ジェスチャー操作の「縮小」を行うことができる。タッチ位置（点Ｐ）を中点Ｍを中心に時計方向又は半時計方向に回すように操作をすることで、点Ｑの座標も中点Ｍの周囲を時計方向又は半時計方向に回るので、２点ジェスチャー操作の「回転」を行うことができる。

【0027】

コントローラ３０は、タッチオフを検出した場合、メモリ３３に一時的に記録されている中点Ｍの座標及び２点間距離Ｄをクリアし、座標をコンピュータ４０に出力しない。

【0028】

図４、５は、ＣＰＵ３１で実行される処理を示すフローチャートである。

【0029】

まず、ＣＰＵ３１は、Ｘ軸方向の電圧測定を行う（Ｓ１）。具体的には、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ２及びＳＷ３をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦにして、電圧測定部ＡＤＸ１において電圧を測定する。この状態では、ＸＨ電極１２には抵抗Ｒｘ１を介しＶｃｃが印加され、ＸＬ電極１４は接地されるため、抵抗膜１０のＸ軸方向に電位分布が生じている。この状態において電圧測定部ＡＤＸ１により電圧を測定し、メモリ３３に測定した電圧を記録する。尚、電圧測定部ＡＤＸ１において測定される電圧は、ＸＨ電極１２とＸＬ電極１４との間の抵抗成分と抵抗Ｒｘ１とにより分圧された値となる。

【0030】

次に、Ｙ軸方向の電圧測定を行う（Ｓ２）。具体的には、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ５及びＳＷ６をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦにして、電圧測定部ＡＤＹ１において電圧を測定する。この状態では、ＹＨ電極２２には抵抗Ｒｙ１を介しＶｃｃが印加され、ＹＬ電極２４は接地されるため、抵抗膜２０のＹ軸方向に電位分布が生じている。この状態において電圧測定部ＡＤＹ１により電圧を測定し、メモリ３３に測定した電圧を記録する。尚、電圧測定部ＡＤＹ１において測定される電圧は、ＹＨ電極２２とＹＬ電極２４との間の抵抗成分と抵抗Ｒｙ１とにより分圧された値となる。

【0031】

次に、ＣＰＵ３１は、タッチが検出されたか否かを判定する（Ｓ３）。例えば、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ４及びＳＷ７をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦにして、電圧測定部ＡＤＸ１において電圧を測定する。電圧測定部ＡＤＸ１の電圧が閾値以上変動していれば、タッチが行われたと判断できる。この場合、未タッチ状態での電圧測定部ＡＤＸ１の電圧は０Ｖになり、タッチされれば、タッチ位置に応じた抵抗膜１０及び抵抗膜２０の合成抵抗と抵抗Ｒとで分圧された電圧が電圧測定部ＡＤＸ１で測定される。タッチが検出されない場合には（Ｓ３でＮＯ）、ＣＰＵ３１は、メモリ３３に記録された２点間距離及び中点座標をクリアし（Ｓ４）、手順はＳ１に戻る。

【0032】

タッチが検出された場合には（Ｓ３でＹＥＳ）、ＣＰＵ３１は、タッチ入力が１点タッチであるか否かを判別する（Ｓ５）。具体的には、Ｓ１において電圧測定部ＡＤＸ１で測定した電圧及びＳ２において電圧測定部ＡＤＹ１で測定した電圧が、Ｖｃｃ／２であるか又はＶｃｃ／２未満であるかを判断する。電圧測定部ＡＤＸ１で測定した電圧及び電圧測定部ＡＤＹ１で測定した電圧がともにＶｃｃ／２である場合は、ＣＰＵ３１はタッチ入力が１点タッチであると判断する。一方、電圧測定部ＡＤＸ１で測定した電圧及び電圧測定部ＡＤＹ１で測定した電圧の少なくとも一方がＶｃｃ／２未満である場合は、ＣＰＵ３１はタッチ入力が２点タッチであると判断する。

【0033】

タッチ入力が２点タッチである場合（Ｓ５でＮＯ）、ＣＰＵ３１は、現在が２点タッチの開始時であるか否かを判別する（Ｓ６）。メモリ３３に中点座標や２点間距離が記録されていなければ、ＣＰＵ３１は、現在が２点タッチの開始時であると判断する。メモリ３３に中点座標や２点間距離が記録されていれば、ＣＰＵ３１は、現在は２点タッチが継続されている状態であると判断する。

【0034】

現在が２点タッチの開始時である場合には（Ｓ６でＹＥＳ）、ＣＰＵ３１は、２点を結ぶ線分の傾きが、Ｘ軸方向あるいはＹ軸方向に平行であるか、又は斜め方向であるか否かを判定する（Ｓ７）。

【0035】

図４の処理に先立ち、初期的な処理として、タッチ点が０である又は１点である状態で、スイッチＳＷ２及びＳＷ３をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦ状態にして、抵抗膜１０のＸ軸方向に電位分布を形成した状態で、電圧測定部ＡＤＸ１により電圧をあらかじめ測定する。ＣＰＵ３１は、この状態で電圧測定部ＡＤＸ１にて測定した電圧をメモリ３３に初期電圧α１として記録する。同様に、タッチ点が０である又は１点である状態でスイッチＳＷ５及びＳＷ６をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦにして、抵抗膜２０のＹ軸方向に電位分布を形成し、電圧測定部ＡＤＹ１により電圧をあらかじめ測定する。ＣＰＵ３１は、この状態で電圧測定部ＡＤＹ１にて測定した電圧をメモリ３３に初期電圧α２として記録する。このような初期電圧の設定は、例えば装置を使用し始める際、装置の製造時など、適当なタイミングで行うことができる。

【0036】

Ｓ７において、ＣＰＵ３１は、Ｓ１及びＳ２において測定された電圧と記録されている初期電圧α１、α２とを比較することにより、２点を結ぶ線分が、Ｘ軸方向に平行であるか、Ｙ軸方向に平行であるか、あるいはＸ軸方向・Ｙ軸方向に対して斜め方向であるのかを判断する。

【0037】

Ｓ１において測定された電圧が初期電圧α１よりも低く、Ｓ２において測定された電圧が初期電圧α２と略同じである場合には、ＣＰＵ３１は２点を結ぶ線分がＸ軸方向と平行であると判断する。また、Ｓ１において測定された電圧が初期電圧α１と略同じであり、Ｓ２において測定された電圧が初期電圧α２よりも低い場合には、ＣＰＵ３１は２点を結ぶ線分がＹ軸方向に平行であると判断する。更に、Ｓ１において測定された電圧が初期電圧α１よりも低く、Ｓ２において測定された電圧が初期電圧α２よりも低い場合には、ＣＰＵ３１は２点を結ぶ線分は斜め方向であると判断する。

【0038】

また、２点を結ぶ線分の傾きが、右上がり方向であるか、あるいは図２（Ａ）に示すように左上がり方向であるかを判定するために、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ１及びＳＷ３をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦにして抵抗膜１０のＸ軸方向に電位分布を形成し、電圧測定部ＡＤＹ１及びＡＤＹ２で電圧を測定する。電圧測定部ＡＤＹ１において測定された電圧が電圧測定部ＡＤＹ２において測定された電圧よりも低い場合、ＣＰＵ３１は２点を結ぶ線分の傾きは右上がりであると判断する。また、電圧測定部ＡＤＹ１において測定された電圧が電圧測定部ＡＤＹ２において測定された電圧よりも高い場合、ＣＰＵ３１は２点を結ぶ線分の傾きは左上がりであると判断する。

【0039】

次に、ＣＰＵ３１は、２点の中点座標を測定する（Ｓ８）。具体的には、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ１及びＳＷ３をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦ状態にして抵抗膜１０のＸ軸方向に電位分布を形成し、電圧測定部ＡＤＹ１及びＡＤＹ２で電圧を測定する。ＣＰＵ３１は、電圧測定部ＡＤＹ１において測定された電圧と電圧測定部ＡＤＹ２において測定された電圧との平均値を算出することによりＸ軸方向の電圧を取得し、この電圧に基づき中点のＸ座標を取得する。例えば、ＣＰＵ３１は、ＸＨ電極１２とＸＬ電極１４との間の距離に、上記算出された平均値に対するＸＨ電極１２とＸＬ電極１４との間の電位差の比率を乗算することで、ＸＨ電極１２からのＸ軸方向の距離を取得する。

【0040】

同様に、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ４及びＳＷ６をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦ状態にして抵抗膜２０のＹ軸方向に電位分布を形成し、電圧測定部ＡＤＸ１及びＡＤＸ２で電圧を測定する。ＣＰＵ３１は、電圧測定部ＡＤＸ１において測定された電圧と電圧測定部ＡＤＸ２において測定された電圧との平均値に基づき中点のＹ座標を取得する。例えば、ＣＰＵ３１は、ＹＨ電極２２とＹＬ電極２４との間の距離に、上記算出された平均値に対するＹＨ電極２２とＹＬ電極２４との間の電位差の比率を乗算することで、ＹＨ電極２２からのＹ軸方向の距離を取得する。

【0041】

次に、ＣＰＵ３１は、２点間の距離を測定する（Ｓ９）。具体的には、Ｓ１及びＳ２において測定された電圧に基づき２点間の距離を算出する。

【0042】

図６は、Ｘ軸方向の２点間の距離と電圧測定部ＡＤＸ１において測定される電圧との関係を示し、距離算出用データとして用いられる。この距離算出用データはメモリ３３に格納されている。曲線４１ａは２点がＸ軸に平行な直線上に存在している場合の２点間の距離と電圧測定部ＡＤＸ１との関係を示す。曲線４１ｂは２点がＸ軸に平行な直線上ではなく右上がりまたは左上がりの直線上に存在している場合の２点間の距離と電圧測定部ＡＤＸ１との関係を示す。

【0043】

図６に示されるように、２点間の距離が広がるに従い、電圧測定部ＡＤＸ１において測定される電圧の値は低下する。また、２点が電圧の印加されている方向（Ｘ軸方向）に平行な位置にある場合と、２点がＸ軸方向に平行な位置にない、右上がりまたは左上がりの場合とでは、２点間の距離と電圧測定部ＡＤＸ１において測定される電圧との関係が異なる。

【0044】

よって、ＣＰＵ３１は、Ｓ７において検出された２点の位置関係、即ち、２点を結ぶ線分の傾きに応じて、図６に示す２点間の距離と電圧測定部ＡＤＸ１において測定された電圧との関係を選択し、選択された関係に基づきＸ軸方向における２点間の距離を得る。

【0045】

具体的には、２点がＸ軸方向に平行な直線上に存在している場合には、ＣＰＵ３１は、図６における曲線４１ａと電圧測定部ＡＤＸ１において測定された電圧とに基づき、Ｘ軸方向における２点間の距離を算出する。また、２点が右上がりまたは左上がりの直線上に存在している場合には、図６における曲線４１ｂと電圧測定部ＡＤＸ１において測定された電圧に基づき、Ｘ軸方向における２点間の距離を算出する。

【0046】

尚、メモリ３３は、Ｙ軸方向の２点間の距離と電圧測定部ＡＤＹ１において測定される電圧との関係を示す距離算出用データも備えている。ＣＰＵ３１は、Ｘ軸方向と同様の方法により、Ｙ軸方向の２点間の距離と電圧測定部ＡＤＹ１において測定される電圧との関係を示す距離算出用データと、電圧測定部ＡＤＹ１において測定された電圧とに基づきＹ軸方向の２点間の距離を得る。

【0047】

次に、ＣＰＵ３１は、２点の位置関係（２点を結ぶ線分の傾き）、中点座標及び２点間距離に基づいて、２点のそれぞれの座標を算出する（Ｓ１０）。

【0048】

具体的には、２点間のＸ軸方向の距離をＬｘ、２点間のＹ軸方向の距離をＬｙとして算出し、中点座標を（Ｘｃ、Ｙｃ）とした場合、２点の座標は下記式（１）～（４）のいずれかで表わされる。尚、式（１）は、２点が右上がりの直線上に存在している場合、式（２）は、２点が左上がりの直線上に存在している場合、式（３）は、２点がＸ軸方向の直線上にある場合、式（４）は、２点がＹ軸方向の直線上にある場合を示す。

【0049】

（Ｘｃ＋Ｌｘ／２、Ｙｃ＋Ｌｙ／２）、（Ｘｃ－Ｌｘ／２、Ｙｃ－Ｌｙ／２）…（１）
（Ｘｃ＋Ｌｘ／２、Ｙｃ－Ｌｙ／２）、（Ｘｃ－Ｌｘ／２、Ｙｃ＋Ｌｙ／２）…（２）
（Ｘｃ＋Ｌｘ／２、Ｙｃ）、（Ｘｃ－Ｌｘ／２、Ｙｃ）…（３）
（Ｘｃ、Ｙｃ＋Ｌｙ／２）、（Ｘｃ、Ｙｃ－Ｌｙ／２）…（４）

【0050】

図４に戻り、ＣＰＵ３１は、Ｓ９で測定された２点間距離をメモリ３３に記録し（Ｓ１１）、Ｓ８で測定された中点座標をメモリ３３に記録する（Ｓ１２）。

【0051】

最後に、ＣＰＵ３１は、Ｓ１０で算出された２点の各座標をコンピュータ４０に出力し（Ｓ１３）、手順はＳ１に戻る。

【0052】

現在は２点タッチが継続されている状態である場合には（Ｓ６でＮＯ）、ＣＰＵ３１は、上記Ｓ７と同様の方法で、２点を結ぶ線分の傾きが、Ｘ軸方向あるいはＹ軸方向に平行であるか、又は斜め方向であるか否かを判定する（Ｓ１４）。

【0053】

次に、ＣＰＵ３１は、上記Ｓ８と同様の方法で、２点の中点座標を測定する（Ｓ１５）。ＣＰＵ３１は、Ｓ１４の２点を結ぶ線分の傾き、Ｓ１５で測定された中点座標及びＳ１１でメモリ３３に記録された２点間距離に基づいて、２点の各座標を算出する（Ｓ１６）。Ｓ１６では、測定される２点間距離を使用せずに、メモリ３３に記録された２点間距離を使用する点で上記Ｓ１０と異なるが、その他はＳ１０と同様である。その後、手順はＳ１２に進み、Ｓ１５で測定された中点座標がメモリ３３に登録される。

【0054】

タッチ入力が１点タッチである場合（Ｓ５でＹＥＳ）、ＣＰＵ３１は、メモリ３３に中点座標が記録されているか否かを判別する（図５のＳ１７）。

【0055】

メモリ３３に中点座標が記録されていない場合には（Ｓ１７でＮＯ）、ＣＰＵ３１は、１点タッチの座標を測定する（Ｓ１８）。具体的には、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ１及びＳＷ３をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦ状態にして電圧測定部ＡＤＹ１又はＡＤＹ２で測定された電圧に基づいて、タッチ点のＸ座標を検出する。この際、ＣＰＵ３１は、ＸＨ電極１２とＸＬ電極１４との間の電位差に対する電圧測定部ＡＤＹ１又はＡＤＹ２で測定された電圧の比率に、ＸＨ電極１２とＸＬ電極１４との間の距離を乗算することで、ＸＨ電極１２からタッチ点までのＸ軸方向の距離を算出する。さらに、ＣＰＵ３１は、スイッチＳＷ４及びＳＷ６をＯＮとし、これ以外のスイッチをＯＦＦ状態にして電圧測定部ＡＤＸ１又はＡＤＸ２によって測定された電圧に基づいて、タッチ点のＹ座標を検出する。ここでは、ＣＰＵ３１は、ＹＨ電極２２とＹＬ電極２４との間の電位差に対する電圧測定部ＡＤＸ１又はＡＤＸ２で測定された電圧の比率に、ＹＨ電極２２とＹＬ電極２４との間の距離を乗算することで、ＹＨ電極２２からタッチ点までのＹ軸方向の距離を算出する。

【0056】

ＣＰＵ３１は、測定された１点タッチの座標をコンピュータ４０に出力して（Ｓ１９）、手順はＳ１に戻る。

【0057】

メモリ３３に中点座標が記録されている場合には（Ｓ１７でＹＥＳ）、ＣＰＵ３１は、Ｓ１８と同様の方法で、１点タッチの座標を測定する（Ｓ２０）。次いで、ＣＰＵ３１は、メモリ３３に記録された中点座標と、Ｓ２０で測定された１点タッチの座標とから２点目の座標を算出して（Ｓ２１）、手順はＳ１３に進む。Ｓ２１では、ＣＰＵ３１は、メモリ３３に記録された中点座標を基準として、１点タッチの座標と点対称となる座標を２点目の座標として算出する。

【0058】

以上説明したように、本実施の形態によれば、２点タッチから１点タッチの切り替わりにおいて、ＣＰＵ３１は、切り替え直前の中点座標をメモリ３３に記録し（Ｓ１２）、メモリ３３に記録された中点座標を基準として、測定される１点タッチの座標と点対称となる座標を２点目の座標として算出し（Ｓ２１）、測定される１点タッチの座標と疑似的に算出された２点目の座標をコンピュータ４０に出力する（Ｓ１３）。したがって、１点タッチの測定のみのため、接触抵抗の影響を受けずに、安定した２点の座標を算出でき、拡大、縮小及び回転等のジェスチャー操作を安定的に行うことができる。

【0059】

なお、Ｓ２１では、１点タッチで２点が算出されるため、抵抗膜方式のタッチパネルで精度の高いジェスチャー操作を行うことができる。

【0060】

また、２点タッチが継続されている場合には（Ｓ６でＮＯ）、ＣＰＵ３１は、２点を結ぶ線分の傾き、測定された中点座標及び２点タッチ開始時にメモリ３３に記録された２点間距離に基づいて、２点の各座標を算出する（Ｓ１６）。このように、接触抵抗の影響が大きい２点間距離は固定して、中点座標の測定のみのため、接触抵抗の影響を受けずに、安定した２点の座標を算出することができる。

【0061】

上述したコントローラ３０の機能は、コンピュータによって実現することができる。この場合、コントローラ３０の処理内容を記述したプログラムがコンピュータに提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記コントローラ３０の機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。

【0062】

例えば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＣＤ－ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）などの可搬型記録媒体の形態で流通させてもよい。また、そのプログラムをサーバコンピュータの記憶装置に予め格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータからダウンロードさせてもよい。

【0063】

尚、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で種々変形して実施することが可能である。

【符号の説明】

【0064】

ＡＤＸ１、ＡＤＸ２、ＡＤＹ１、ＡＤＹ２ 電圧測定部
Ｒ，Ｒｘ１，Ｒｙ１ 抵抗
ＳＷ１～ＳＷ７ スイッチ
１０，２０ 抵抗膜
１２ ＸＨ電極
１４ ＸＬ電極
２２ ＹＨ電極
２４ ＹＬ電極
３０ コントローラ
３１ ＣＰＵ
３２ ＡＤ変換器
３３ メモリ
３６ 入出力Ｉ／Ｆ
１００ タッチパネル装置

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】