特開 2022-94228 検査装置、検査方法および検査プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022094228

(43)【公開日】2022-06-24

(54)【発明の名称】検査装置、検査方法および検査プログラム

(51)【国際特許分類】

   G01R 31/58 20200101AFI20220617BHJP

   G01R 31/52 20200101ALI20220617BHJP

【ＦＩ】

G01R31/58

G01R31/52

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2020207147

(22)【出願日】2020-12-14

(71)【出願人】

【識別番号】517161142

【氏名又は名称】株式会社ＳｏＢｒａｉｎ

(74)【代理人】

【識別番号】100187322

【弁理士】

【氏名又は名称】前川 直輝

(72)【発明者】

【氏名】頭本 頼数

【テーマコード（参考）】

2G014

【Ｆターム（参考）】

2G014AA10

2G014AA19

2G014AB33

2G014AC15

2G014AC18

(57)【要約】

【課題】相殺現象が生じている場合も考慮してＩｏｒを算出し、単相の被測定電線路の検査または監視を行うことができる検査装置を提供する。
【解決手段】単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する漏洩電流検出部１１と、被測定電線路に印加されている電圧を検出する電圧検出部１２と、漏洩電流と電圧とに基づいて位相角を検出する位相角検出部１３と、位相角と漏洩電流とに基づいて、抵抗成分漏洩電流を算出する算出部１４と、前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する判定部１５とを備え、算出部１４は、前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する。
【選択図】図６

【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する漏洩電流検出部と、
前記被測定電線路に印加されている電圧を検出する電圧検出部と、
前記漏洩電流検出部により検出された漏洩電流と、前記電圧検出部により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する位相角検出部と、
前記位相角検出部により検出された位相角と、前記漏洩電流検出部により検出された漏洩電流とに基づいて、前記被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する算出部と、
前記算出部により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、前記算出部により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する判定部とを備え、
前記算出部は、前記判定部により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、
前記第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と前記第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、
前記第１抵抗成分漏洩電流と前記第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する検査装置。

【請求項2】

前記算出部は、
前記相殺現象が生じていると想定される場合には、前回測定抵抗成分漏洩電流から今回測定抵抗成分漏洩電流を減算し、符号をマイナスにすることにより抵抗成分漏洩電流を算出し、
前記相殺現象が生じていないと想定される場合には、前回測定抵抗成分漏洩電流から今回測定抵抗成分漏洩電流を減算することにより抵抗成分漏洩電流を算出する請求項１に記載の検査装置。

【請求項3】

前記算出部は、所定の期間毎に前記抵抗成分漏洩電流を算出しており、
前記判定部により前回の測定で算出された前記抵抗成分漏洩電流と今回の測定で算出された前記抵抗成分漏洩電流との間に差分がない、または、その差分が所定の範囲内であると判定された場合、前記所定の期間を延ばすように前記算出部を制御する制御部をさらに備える請求項１または２に記載の検査装置。

【請求項4】

第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する漏洩電流検出工程と、
前記被測定電線路に印加されている電圧を検出する電圧検出工程と、
前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流と、前記電圧検出工程により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する位相角検出工程と、
前記位相角検出工程により検出された位相角と、前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流とに基づいて、前記被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する第１算出工程と、
前記第１算出工程により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、前記第１算出工程により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、
前記第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と前記第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、
前記第１抵抗成分漏洩電流と前記第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する第２算出工程とを備える検査方法。

【請求項5】

コンピュータに、
第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する漏洩電流検出工程と、
前記被測定電線路に印加されている電圧を検出する電圧検出工程と、
前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流と、前記電圧検出工程により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する位相角検出工程と、
前記位相角検出工程により検出された位相角と、前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流とに基づいて、前記被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する第１算出工程と、
前記第１算出工程により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、前記第１算出工程により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、
前記第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と前記第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、
前記第１抵抗成分漏洩電流と前記第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する第２算出工程と、を実行させるための検査プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、単相の電線路を検査または監視する検査装置、検査方法および検査プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

電気設備の負荷機器を含む電気系統の絶縁性能は、感電、火災等の防止上、非常に重要であるが、電気設備の経年劣化や工事等により絶縁性能が損なわれ、電線路に漏洩電流（以下、「Ｉｏ」という。）が発生することがある。Ｉｏの発生を予兆したり、または、実際に発生しているＩｏを検知して、事故を未然に、または、早い段階で防止することが重要である。

【0003】

このため、受電変圧器には、二次側の回路の接地線にＩｏを検査する検査装置を設けるようにしている。ここで、Ｉｏには、対地静電容量に起因する漏洩電流（以下、「Ｉｏｃ」という。）と、絶縁抵抗に直接関与している対地絶縁抵抗に起因する漏洩電流（以下、「Ｉｏｒ」という。）とが含まれている。

【0004】

例えば、特許文献１では、充電状態にある低圧配線から、その二種アース線に流れる漏れ電流の無効分または有効分と同相または１８０°位相の検査電流をつくり、この検査電流の流れる検査線を二種アース線と一緒にクランプメータで抱き合わせて測定し、検査電流の大きさと方向を調整し、無効分と同相又は１８０°位相の検査電流を用いた場合には、上記クランプメータの最小の指示値を有効分として計測し、有効分と同相または１８０°位相の検査電流を用いた場合には、上記クランプメータの指示値が最小になった状態での検査電流を漏れ電流有効分として計測する装置が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開平４－１５１５７０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

ここで、単相三線式（Ｒ相、Ｎ相、Ｔ相）電路の二次側は、主幹部と、各種の負荷が接続される分岐部とから構成されている。分岐部の、Ｒ相側のＩｏｒ（ｒ）と、Ｔ相側のＩｏｒ（ｔ）を合成したものが、主幹部で計測されるＩｏに含まれるＩｏｒ（ｒｔ）である。しかしながら、Ｒ相側とＴ相側とは、１８０°の位相差があるため、Ｉｏｒ（ｒｔ）は、Ｉｏｒ（ｔ）とＩｏｒ（ｒ）の差分で示される。以下では、Ｉｏｒ（ｒｔ）がＩｏｒ（ｔ）とＩｏｒ（ｒ）の差分で示されることを「相殺現象が生じている」と表現する。なお、単相三線式の各相の名称は、Ｒ相、Ｎ相、Ｔ相に限られず、他の名称でもよい。

【0007】

よって、Ｉｏｒ（ｒｔ）を算出した場合、このＩｏｒ（ｒｔ）に相殺現象が生じているか否かを解析（予測）できないと、電線路の検査または監視を正しく行うことができない。

【0008】

本開示では、前回測定と今回測定の変化量の算出に加えて、相殺現象が生じている場合も考慮した結果も算出し、Ｉｏｒの発生を見逃すことなく単相の被測定電線路の検査または監視を行うことができる検査装置、検査方法および検査プログラムを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上記目的を達成するため、本発明の構成は、以下の通りである。
（１）第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する漏洩電流検出部と、前記被測定電線路に印加されている電圧を検出する電圧検出部と、前記漏洩電流検出部により検出された漏洩電流と、前記電圧検出部により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する位相角検出部と、前記位相角検出部により検出された位相角と、前記漏洩電流検出部により検出された漏洩電流とに基づいて、前記被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する算出部と、前記算出部により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、前記算出部により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する判定部とを備え、前記算出部は、前記判定部により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、前記第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と前記第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、前記第１抵抗成分漏洩電流と前記第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する検査装置。
（２）前記算出部は、前記相殺現象が生じていると想定される場合には、前回測定抵抗成分漏洩電流から今回測定抵抗成分漏洩電流を減算し、符号をマイナスにすることにより抵抗成分漏洩電流を算出し、前記相殺現象が生じていないと想定される場合には、前回測定抵抗成分漏洩電流から今回測定抵抗成分漏洩電流を減算することにより抵抗成分漏洩電流を算出する（１）に記載の検査装置。
（３）前記算出部は、所定の期間毎に前記抵抗成分漏洩電流を算出しており、前記判定部により前回の測定で算出された前記抵抗成分漏洩電流と今回の測定で算出された前記抵抗成分漏洩電流との間に差分がない、または、その差分が所定の範囲内であると判定された場合、前記所定の期間を延ばすように前記算出部を制御する制御部を備える（１）または（２）に記載の検査装置。
（４）第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する漏洩電流検出工程と、前記被測定電線路に印加されている電圧を検出する電圧検出工程と、前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流と、前記電圧検出工程により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する位相角検出工程と、前記位相角検出工程により検出された位相角と、前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流とに基づいて、前記被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する第１算出工程と、前記第１算出工程により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、前記第１算出工程により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する判定工程と、前記判定工程により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、前記第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と前記第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、前記第１抵抗成分漏洩電流と前記第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する第２算出工程とを備える検査方法。
（５）コンピュータに、第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する漏洩電流検出工程と、前記被測定電線路に印加されている電圧を検出する電圧検出工程と、前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流と、前記電圧検出工程により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する位相角検出工程と、前記位相角検出工程により検出された位相角と、前記漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流とに基づいて、前記被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する第１算出工程と、前記第１算出工程により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、前記第１算出工程により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する判定工程と、前記判定工程により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、前記第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と前記第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、前記第１抵抗成分漏洩電流と前記第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する第２算出工程と、を実行させるための検査プログラム。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、相殺現象が生じている場合も考慮してＩｏｒを算出し、単相の被測定電線路の検査または監視を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】図１は、単相三線式（Ｒ相、Ｎ相、Ｔ相）電路の二次側の構成を示す図である。

【図2】図２は、分岐部側のＲ相側において、分岐箇所ごとに計測したＩｏの値と、Ｉｏから算出したＩｏｒの値とを示す図である。

【図3】図３は、分岐部側のＴ相側において、分岐箇所ごとに計測したＩｏの値と、Ｉｏから算出したＩｏｒの値とを示す図である。

【図4】図４は、主幹部側において、計測したＩｏと、Ｉｏから算出したＩｏｒの値とを示す図である。

【図5】図５は、主幹部側と分岐部側（Ｒ相側とＴ相側）のＩｏとＩｏｒをベクトル表現したときの様子を模式的に示す図である。

【図6】図６は、検査装置の構成を示す図である。

【図7】図７は、単相の場合のＩｏｃとＩｏｒの関係についての説明に供する図である。

【図8】図８は、検査方法の手順についての説明に供するフローチャートである。

【図9】図９は、コンピュータの第１構成例を示すブロック図である。

【図10】図１０は、コンピュータの第２構成例を示すブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0012】

図１は、単相三線式（Ｒ相、Ｎ相、Ｔ相）電路の二次側の構成を示す図である。単相三線式電路の二次側は、図１に示すように、主幹部側と、各種の負荷が接続される分岐部側とから構成されている。また、分岐部側は、Ｒ相側とＴ相側とにより構成されている。

【0013】

ここで、電線路をクランプして計測される漏洩電流（以下、「Ｉｏ」と称することがある。）には、対地静電容量に起因する漏洩電流（以下、「Ｉｏｃ」と称することがある。）と、絶縁抵抗に直接関与している対地絶縁抵抗に起因する漏洩電流（以下、「Ｉｏｒ」と称することがある。）とが含まれている。また、Ｉｏｒには、分岐部側のＲ相側のＩｏｒと、Ｔ相側のＩｏｒとが含まれている。

【0014】

図２は、分岐部側のＲ相側において、分岐箇所ごとに計測したＩｏの値と、Ｉｏから算出したＩｏｒの値とを示す図である。図２に示す例では、分岐箇所が９箇所あり、Ｉｏの合算が「３０（ｍＡ）」であり、Ｉｏｒの合算が「１０（ｍＡ）」である。

【0015】

図３は、分岐部側のＴ相側において、分岐箇所ごとに計測したＩｏの値と、Ｉｏから算出したＩｏｒの値とを示す図である。図３に示す例では、分岐箇所が９箇所あり、Ｉｏの合算が「１５（ｍＡ）」であり、Ｉｏｒの合算が「５（ｍＡ）」である。

【0016】

図４は、主幹部側において、計測したＩｏと、Ｉｏから算出したＩｏｒの値とを示す図である。図４に示す例では、Ｉｏの合算が「１５（ｍＡ）」であり、Ｉｏｒの合算が「５（ｍＡ）」である。

【0017】

Ｒ相側とＴ相側とは、１８０°の位相差があるため、上述した例のように、Ｒ相側とＴ相側の双方にＩｏが生じた場合には、相殺現象が生じる。よって、主幹部側のＩｏは、分岐部側のＲ相側の各分岐箇所のＩｏを合算したものと、Ｔ相側の各分岐箇所のＩｏを合算したものとの差分で示される。また、主幹部側のＩｏｒは、分岐部側のＲ相側の各分岐箇所のＩｏｒを合算したものと、Ｔ相側の各分岐箇所のＩｏｒを合算したものとの差分で示される。

【0018】

ここで、ユーザは、主幹部側でＩｏとＩｏｒを監視する場合、Ｉｏｒが５（ｍＡ）なので、問題が生じていないと判断してしまう可能性がある。しかし、実際には、Ｒ相側では、Ｉｏｒが２倍の１０（ｍＡ）生じており、ユーザは、誤った判断をする可能性がある。

【0019】

図５は、主幹部側と分岐部側（Ｒ相側とＴ相側）のＩｏとＩｏｒをベクトル表現したときの様子を模式的に示す図である。分岐部側のＲ相側のＩｏ（図５中では、「Ｉｏ（ｒ）」で示す）は、Ｉｏｒ（ｒ）とＩｏｃ（ｒ）の合成（合成ベクトル）で示される。分岐部側のＴ相側のＩｏ（図５中では、「Ｉｏ（ｔ）」で示す）は、Ｉｏｒ（ｔ）とＩｏｃ（ｔ）の合成（合成ベクトル）で示される。Ｉｏｒ（ｒ）とＩｏｒ（ｔ）とは、１８０°の位相差で示される。また、同様に、Ｉｏｃ（ｒ）とＩｏｃ（ｔ）とは、１８０°の位相差で示される。

【0020】

一方、主幹部側で計測されるＩｏ（図５中では、「Ｉｏ（ｒｔ）」で示す）は、Ｉｏ（ｒ）とＩｏ（ｔ）の差分である。また、主幹部側のＩｏｒ（図５中では、「Ｉｏｒ（ｒｔ）」で示す）も、Ｉｏｒ（ｒ）とＩｏｒ（ｔ）の差分である。

【0021】

このようにして、主幹部側で算出されたＩｏやＩｏｒの値には、相殺現象により、分岐部側で発生している値よりも低く算出され、主幹部側で算出したＩｏやＩｏｒの値だけで判断すると、電線路の検査または監視を正しく行うことができない。

【0022】

本開示では、相殺現象が生じている場合も考慮してＩｏやＩｏｒを算出し、単相の被測定電線路の検査または監視を行うことができる検査装置、検査方法および検査プログラムを提供する。

【0023】

以下に、本実施形態について説明する。なお、本実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、本実施形態で説明される構成の全てが、本発明の必須構成要件であるとは限らない。

【0024】

（検査装置の構成について）
図６は、検査装置１の構成を示す図である。検査装置１は、漏洩電流検出部１１と、電圧検出部１２と、位相角（位相）検出部１３と、算出部１４と、判定部１５と、制御部１６とを備える。

【0025】

漏洩電流検出部１１は、第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する。以下では、第１非接地相をＲ相と称し、第２非接地相をＴ相と称し、接地相をＮ相と称するが、この称呼に限定されない。また、以下では、漏洩電流検出部１１により計測される漏洩電流を「Ｉｏ」と称するが、この称呼に限定されない。

【0026】

漏洩電流検出部１１には、零相変流器（ＺＣＴ）１０が接続されている。零相変流器１０は、電線路を一括してクランプする構成である。例えば、零相変流器１０は、ハンディータイプの貫通分割形零相変流器で構成されることにより、現場において作業者が簡易に電線路に設置することができる。

【0027】

漏洩電流検出部１１は、零相変流器１０により計測された信号から被測定電線路に流れているＩｏを検出（算出）する。ここで、Ｉｏには、対地静電容量に起因する漏洩電流（以下、「Ｉｏｃ」と称することがある。）と、絶縁抵抗に直接関与している対地絶縁抵抗に起因する漏洩電流（以下、「Ｉｏｒ」と称することがある。）とが含まれている。

【0028】

電圧検出部１２は、被測定電線路に印加されている電圧を検出する。

【0029】

位相角検出部１３は、漏洩電流検出部１１により検出された漏洩電流（Ｉｏ）と、電圧検出部１２により検出された電圧とに基づいて、位相角（θ）を検出する。具体的には、位相角検出部１３は、漏洩電流検出部１１により検出された漏洩電流（Ｉｏ）の波形と電圧検出部１２により検出された電圧（基準電圧Ｖ）の波形を演算処理して、位相角（θ）を検出する。例えば、位相角検出部１３は、基準電圧Ｖの零クロスする点と漏洩電流（Ｉｏ）の零クロスする点とに基づいて、基準電圧Ｖと漏洩電流（Ｉｏ）の位相角（θ）を検出する。また、位相角を算出する演算処理は、同期検波やＤＦＴ（離散フーリエ変換処理）を用いて行ってもよい。

【0030】

算出部１４は、位相角検出部１３により検出された位相角と、漏洩電流検出部１１により検出された漏洩電流とに基づいて、被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流（以下、「Ｉｏｒ」と称することがある。）を算出する。

【0031】

図７は、単相の場合のＩｏｃとＩｏｒの関係についての説明に供する図である。図７に示すように、Ｉｏｒが基準電圧と同軸（０°）に生じる。Ｉｏｃは、Ｉｏｒから９０°進んだ場所に生じる。

【0032】

また、Ｉｏｒは、漏洩電流検出部１１で検出されたＩｏと、位相角検出部１３で検出された位相角（θ）を下記式（１）に入力することにより算出することができる。
Ｉｏｒ＝Ｉｏ×ｃｏｓθ ・・・（１）

【0033】

判定部１５は、算出部１４により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流（以下、「前回Ｉｏｒ」と称する場合がある）と、算出部１４により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流（以下、「今回Ｉｏｒ」と称する場合がある）とを比較して、差分があるか否かを判定する。

【0034】

算出部１４は、判定部１５により前回Ｉｏｒと今回Ｉｏｒとの間に差分があると判定された場合、第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する。また、算出部１４は、第１抵抗成分漏洩電流と第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する。

【0035】

具体的には、算出部１４は、（２）式に示すように、相殺現象が生じていると想定される場合には、前回Ｉｏｒから今回Ｉｏｒを減算し、符号をマイナスにすることによりＩｏｒを算出する。
Ｉｏｒ＝－（前回Ｉｏｒ－今回Ｉｏｒ） ・・・（２）
なお、算出部１４の算出結果であるＩｏｒがディスプレイに表示されるときには、ユーザに把握されやすいように様々な表示形式が考えられる。ディスプレイには、マイナスの符号が付加された表示形式以外の表示形式（例えば、他の記号が付加された表示形式など）で表現されてもよい。

【0036】

また、算出部１４は、（３）式に示すように、相殺現象が生じていないと想定される場合には、前回Ｉｏｒから今回Ｉｏｒを減算することによりＩｏｒを算出する。
Ｉｏｒ＝前回Ｉｏｒ－今回Ｉｏｒ ・・・（３）
なお、算出部１４の算出結果であるＩｏｒがディスプレイに表示されるときには、ユーザに把握されやすいように様々な表示形式が考えられる。ディスプレイには、算出部１４で算出された結果がそのまま表示されてもよいし、その他の表示形式でもよい。

【0037】

このようにして、検査装置１は、相殺現象が生じていると想定される場合のＩｏｒと、相殺現象が生じていないと想定される場合のＩｏｒをそれぞれ算出することができる。ユーザは、この算出結果に基づいて、単相の被測定電線路の検査、監視または保守などを行うことができる。

【0038】

また、算出部１４は、所定の期間毎に抵抗成分漏洩電流を算出している。

【0039】

検査装置１は、判定部１５により前回の測定で算出されたＩｏｒと今回の測定で算出されたＩｏｒとの間に差分がない、または、その差分が所定の範囲内であると判定された場合、所定の期間を延ばすように算出部１４を制御する制御部１６を備える。

【0040】

所定の期間が、例えば、１時間の場合であって、前回算出されたＩｏｒと今回算出されたＩｏｒとの間に差分がない、または、その差分が所定の範囲内の場合には、制御部１６は、延長時間後（例えば、２時間後）に次の算出を行うように算出部１４を制御する。なお、上述した所定の期間や延長時間は例示であって、この時間に限定されない。

【0041】

このようにして、検査装置１は、前回算出されたＩｏｒと今回算出されたＩｏｒとの間に差分がない、または、その差分が所定の範囲内の場合には、算出部１４でＩｏｒを算出するタイミングを延長するので、算出部１４の処理負担を軽減することができる。なお、制御部１６は、算出部１４ではなく、漏洩電流検出部１１による検出タイミングと、電圧検出部１２による検出タイミングを延長するように制御する構成でもよい。

【0042】

（検査方法について）
ここで、検査装置１による検査方法について説明する。図８は、検査方法の手順についての説明に供するフローチャートである。

【0043】

ステップＳＴ１において、漏洩電流検出部１１は、第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する（漏洩電流検出工程）。

【0044】

ステップＳＴ２において、電圧検出部１２は、被測定電線路に印加されている電圧を検出する（電圧検出工程）。

【0045】

ステップＳＴ３において、漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流と、電圧検出工程により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する（位相角検出工程）。

【0046】

ステップＳＴ４において、算出部１４は、位相角検出工程により検出された位相角と、漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流とに基づいて、被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する（第１算出工程）。

【0047】

ステップＳＴ５において、判定部１５は、第１算出工程により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、第１算出工程により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する（判定工程）。差分があると判定される場合（Ｙｅｓ）には、ステップＳＴ６に進み、差分がないと判定される場合（Ｎｏ）には、処理を終了する。

【0048】

ステップＳＴ６において、算出部１４は、判定工程により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、第１抵抗成分漏洩電流と第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する（第２算出工程）。

【0049】

このような構成によれば、検査方法は、相殺現象が生じていると想定される場合のＩｏｒと、相殺現象が生じていないと想定される場合のＩｏｒをそれぞれ算出することができる。ユーザは、この算出結果に基づいて、単相の被測定電線路の検査、監視または保守などを行うことができる。

【0050】

（検査プログラムについて）
相殺現象が生じていると想定される場合のＩｏｒと、相殺現象が生じていないと想定される場合のＩｏｒをそれぞれ算出する検査プログラムは、主に以下の工程で構成されており、コンピュータ５００（ハードウェア）によって実行される。

【0051】

工程１：第１非接地相、第２非接地相および接地相が単相三線式で結線された被測定電線路に流れている漏洩電流を検出する工程（漏洩電流検出工程）

【0052】

工程２：被測定電線路に印加されている電圧を検出する工程（電圧検出工程）

【0053】

工程３：第1漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流と、電圧検出工程により検出された電圧とに基づいて、位相角を検出する工程（位相角検出工程）

【0054】

工程４：位相角検出工程により検出された位相角と、漏洩電流検出工程により検出された漏洩電流とに基づいて、被測定電線路に流れている漏洩電流に含まれている対地絶縁抵抗に起因する抵抗成分漏洩電流を算出する工程（第１算出工程）

【0055】

工程５：第１算出工程により前回の測定で算出された前回測定抵抗成分漏洩電流と、第１算出工程により今回の測定で算出された今回測定抵抗成分漏洩電流とを比較して、差分があるか否かを判定する工程（判定工程）。ここで、差分があると判定される場合（Ｙｅｓ）には、工程６に進み、差分がないと判定される場合（Ｎｏ）には、処理を終了する。

【0056】

工程６：判定工程により前回測定抵抗成分漏洩電流と今回測定抵抗成分漏洩電流との間に差分があると判定された場合、第１非接地相側に流れている第１抵抗成分漏洩電流と第２非接地相側に流れている第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあって相殺現象が生じていると想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出し、および、第１抵抗成分漏洩電流と第２抵抗成分漏洩電流とが互いに打ち消しあっておらず相殺現象が生じていないと想定される場合の抵抗成分漏洩電流を算出する工程（第２算出工程）。

【0057】

ここで、コンピュータ５００の構成と動作について図を用いて説明する。コンピュータ５００は、図９に示すように、プロセッサ５０１と、メモリ５０２と、ストレージ５０３と、入出力Ｉ／Ｆ５０４と、通信Ｉ／Ｆ５０５とがバスＡ上に接続されて構成されており、これらの各構成要素の協働により、本開示に記載される機能、および／または、方法を実現する。

【0058】

入出力Ｉ／Ｆ５０４には、例えば、各種の情報を表示するディスプレイ、および、ユーザの操作を受け付けるタッチパネルなどが接続される。タッチパネルは、ディスプレイの前面に配置される。よって、ユーザは、ディスプレイに表示されるアイコンを指でタッチ操作などをすることにより、直感的な操作を行うことができる。なお、タッチパネルは、ディスプレイの前面に配置されていなくてもよい。また、タッチパネルに代えて、または、タッチパネルと共に、キーボードおよびマウスなどのポインティングデバイスが入出力Ｉ／Ｆ５０４に接続される構成でもよい。また、入出力Ｉ／Ｆ５０４には、外部に音声を出力するスピーカや、外部の音声が入力されるマイクが接続されてもよい。

【0059】

ディスプレイは、液晶ディスプレイまたは有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイなどにより構成され、プロセッサ５０１による制御の下、種々の情報を表示する。

【0060】

メモリ５０２は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）で構成される。ＲＡＭは、揮発メモリまたは不揮発性メモリで構成されている。

【0061】

ストレージ５０３は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）で構成される。ＲＯＭは、不揮発性メモリで構成されており、例えば、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｃ Ｄｒｉｖｅ）またはＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）により実現される。ストレージ５０３には、上述した工程１から工程６で実現される検査プログラムなどの各種のプログラムが格納されている。

【0062】

例えば、プロセッサ５０１は、コンピュータ５００全体の動作を制御する。プロセッサ５０１は、ストレージ５０３からオペレーティングシステムや多様な機能を実現する様々なプログラムをメモリ５０２にロードし、ロードしたプログラムに含まれる命令を実行する演算装置である。

【0063】

具体的には、プロセッサ５０１は、ユーザの操作を受け付けた場合、ストレージ５０３に格納されているプログラム（例えば、検査プログラム）を読み出し、読み出したプログラムをメモリ５０２に展開し、プログラムを実行する。また、プロセッサ５０１が検査プログラムを実行することにより、漏洩電流検出部１１、電圧検出部１２、位相角検出部１３、算出部１４、判定部１５および制御部１６の各機能が実現される。

【0064】

ここで、プロセッサ５０１の構成について説明する。プロセッサ５０１は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、これら以外の各種演算装置、またはこれらの組み合わせにより実現される。

【0065】

また、本開示に記載される機能、および／または、方法を実現するために、プロセッサ５０１、メモリ５０２およびストレージ５０３などの機能の一部または全部は、図１０に示すように、専用のハードウェアである処理回路６０１で構成されてもよい。処理回路６０１は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化されたプロセッサ、並列プログラム化されたプロセッサ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ－Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、又はこれらを組み合わせたものである。

【0066】

また、プロセッサ５０１は、単一の構成要素として説明したが、これに限られず、複数の物理的に別体のプロセッサの集合により構成されてもよい。本明細書において、プロセッサ５０１によって実行されるとして説明されるプログラムまたは当該プログラムに含まれる命令は、単一のプロセッサ５０１で実行されてもよいし、複数のプロセッサにより分散して実行されてもよい。また、プロセッサ５０１によって実行されるプログラムまたは当該プログラムに含まれる命令は、複数の仮想プロセッサにより実行されてもよい。

【0067】

通信Ｉ／Ｆ５０５は、所定の通信規格に準拠したインターフェイスであり、有線または無線により外部装置と通信を行う。

【0068】

このようにして、検査プログラムは、相殺現象が生じていると想定される場合のＩｏｒと、相殺現象が生じていないと想定される場合のＩｏｒをそれぞれ算出することができる。ユーザは、この算出結果に基づいて、単相の被測定電線路の検査、監視または保守などを行うことができる。

【符号の説明】

【0069】

１ 検査装置
１０ 零相変流器
１１ 漏洩電流検出部
１２ 電圧検出部
１３ 位相角検出部
１４ 算出部
１５ 判定部
１６ 制御部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】