特開 2023-109460 サイドイレーズ測定方法及びリフレッシュ処理方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023109460

(43)【公開日】2023-08-08

(54)【発明の名称】サイドイレーズ測定方法及びリフレッシュ処理方法

(51)【国際特許分類】

   G11B 5/09 20060101AFI20230801BHJP

   G11B 20/10 20060101ALI20230801BHJP

   G11B 20/18 20060101ALI20230801BHJP

【ＦＩ】

G11B5/09 361Z

G11B20/10 311

G11B5/09 311Z

G11B20/18 522Z

G11B20/18 512A

G11B20/18 572B

G11B20/18 572F

【審査請求】未請求

【請求項の数】8

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022010989

(22)【出願日】2022-01-27

(71)【出願人】

【識別番号】000003078

【氏名又は名称】株式会社東芝

(71)【出願人】

【識別番号】317011920

【氏名又は名称】東芝デバイス＆ストレージ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001737

【氏名又は名称】弁理士法人スズエ国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】佐藤 隆一

【テーマコード（参考）】

5D044

【Ｆターム（参考）】

5D044BC01

5D044CC04

5D044DE68

5D044FG18

5D044GK18

(57)【要約】      （修正有）

【課題】データの信頼性を向上するサイドイレーズ測定方法及びリフレッシュ処理方法を提供する。
【解決手段】中心部から半径方向に同心円状に区分される領域である複数のトラックと円周方向に区分される複数のセクタとを備えた円盤型の磁気ディスクにおけるサイドイレーズの測定方法であって、複数のトラックから１本の中央トラックと中央トラックに隣接するトラックから半径方向の外側と内側に同心円状に続く複数の周辺トラックと複数の対象セクタとを選択し、複数の周辺トラックの対象セクタから、隣接する周辺トラック間で異なるセクタとなるようにＢｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ（ＢＥＲ）を測定するためのセクタであるＢＥＲ測定セクタを選択し、中央トラックの対象セクタ全てにデータを１回書き込むごとに、書き込み回数である中央トラックライト回数をカウントし、ＢＥＲ測定セクタにおけるＢＥＲを測定する。
【選択図】図４

【特許請求の範囲】

【請求項1】

中心部から半径方向に同心円状に区分される領域である複数のトラックと円周方向に区分される複数のセクタとを備えた円盤型の磁気ディスクにおけるサイドイレーズの測定方法であって、
前記複数のトラックから１本の中央トラックと前記中央トラックに隣接するトラックから前記半径方向の外側と内側に同心円状に続く複数の周辺トラックと複数の対象セクタとを選択し、
前記複数の周辺トラックの前記対象セクタから、隣接する周辺トラック間で異なるセクタとなるようにＢｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ（ＢＥＲ）を測定するためのセクタであるＢＥＲ測定セクタを選択し、
前記中央トラックの全ての前記対象セクタにデータを１回書き込むごとに、書き込み回数である中央トラックライト回数をカウントし、
所定の前記中央トラックライト回数ごとに前記ＢＥＲ測定セクタにおけるＢＥＲを測定するサイドイレーズ測定方法。

【請求項2】

前記中央トラックの前記半径方向の外側に隣接する外側第１周辺トラックから前記外側に同心円状に続く複数の周辺トラックである外側全周辺トラックにおいては、第１セクタと前記第１セクタと異なる第２セクタとに前記第１セクタと前記第２セクタの順番で交互に前記ＢＥＲ測定セクタを割り振り、
前記中央トラックの前記半径方向の内側に隣接する内側第２周辺トラックから前記外側に同心円状に続く複数の周辺トラックである内側全周辺トラックにおいては、前記第１セクタと前記第２セクタとに前記第２セクタと前記第１セクタの順番で交互に前記ＢＥＲ測定セクタを割り振り、
前記外側全周辺トラックと前記内側全周辺トラックの前記第１セクタ及び前記第２セクタの前記ＢＥＲ測定セクタ以外の前記対象セクタは、１回以上データを書き込むライトセクタとする請求項１に記載のサイドイレーズ測定方法。

【請求項3】

前記外側全周辺トラックと前記内側全周辺トラックの前記第１セクタ及び前記第２セクタと異なる第３セクタに前記ＢＥＲ測定セクタを割り振る請求項２に記載のサイドイレーズ測定方法。

【請求項4】

請求項２記載のサイドイレーズ測定方法により得たＢＥＲを用いた磁気ディスクのリフレッシュ処理方法であって、
第１セクタと第２セクタのＢＥＲ測定セクタにおいて測定したＢＥＲと複数の周辺トラックに対して予め与えられるＢＥＲ閾値とに基づいて前記複数の周辺トラックごとに求めた前記中央トラックライト回数に対する閾値であるライト回数閾値のうちの最小値を第１ライト回数閾値とし、
Ａｄｊａｃｅｎｔ Ｔｒａｃｋ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅリフレッシュ機能（ＡＴＩリフレッシュ機能）は、前記第１ライト回数閾値に基づいて前記磁気ディスクに記憶されているデータのリフレッシュを実行するリフレッシュ処理方法。

【請求項5】

請求項３記載のサイドイレーズ測定方法により得たＢＥＲを用いた前記磁気ディスクのリフレッシュ処理方法であって、
第３セクタのＢＥＲ測定セクタにおいて測定したＢＥＲと前記ＢＥＲ閾値とに基づいて前記複数の周辺トラックごとに求めた前記ライト回数閾値のうちの最小値を第２ライト回数閾値とし、
前記ＡＴＩリフレッシュ機能は、前記第２ライト回数閾値に基づいて前記磁気ディスクに記憶されているデータのリフレッシュを実行する請求項４に記載のリフレッシュ処理方法。

【請求項6】

前記第１ライト回数閾値と前記第２ライト回数閾値とに基づいてライト回数閾値を正規化して生成した前記複数の周辺トラックごとの重みデータのデータベースであるトラックプロファイル重みテーブルに基づいて、データのリフレッシュを実行する請求項５に記載のリフレッシュ処理方法。

【請求項7】

第１トラックにデータが書き込まれた場合に、前記第１トラックの周辺トラックごとに隣接ライト回数をカウントし、前記隣接ライト回数に基づいて前記周辺トラックのデータをリフレッシュする第２のリフレッシュ処理方法において、
前記第１トラックにデータが書き込まれるごとに、前記トラックプロファイル重みテーブルの前記周辺トラックの重みデータに基づいて前記隣接ライト回数をカウントする請求項６に記載のリフレッシュ処理方法。

【請求項8】

第２トラックの周辺トラックに対してカウントされた隣接ライト回数が隣接ライト回数閾値以上のときは、前記第１ライト回数閾値に基づいて前記第２トラックの周辺トラックのデータのリフレッシュを実行し、
前記隣接ライト回数が前記隣接ライト回数閾値未満のときは、前記第２ライト回数閾値に基づいて前記第２トラックの周辺トラックのデータのリフレッシュを実行する請求項５乃至請求項７のいずれか１項に記載のリフレッシュ処理方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明の実施形態は、サイドイレーズ測定方法及びリフレッシュ処理方法に関する。

【背景技術】

【0002】

磁気ディスク装置では、ディスクにデータをライト（書き込み）した場合にヘッドからの漏れ磁束等の影響（Ａｄｊａｃｅｎｔ Ｔｒａｃｋ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ：ＡＴＩ）により、データが消去されるサイドイレーズが発生することがある。ＡＴＩは、例えば、ヘッドの特性、Ｔｒａｃｋ ｐｅｒ Ｉｎｃｈ（ＴＰＩ）設定値及びライト電流設定値などによって異なる。サイドイレーズを防止するために、磁気ディスク装置は、所定のトラックの周辺トラックにデータをライトした回数が規定回数に達した場合に、所定のトラックのデータを書き直す機能（リフレッシュ機能またはＡＴＩリフレッシュ機能と称する）を有している。リフレッシュ機能を起動するトリガとしては、サイドイレーズの影響度合いを示したトラックプロファイルが用いられる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】米国特許第９５０２０６１号明細書

【特許文献2】米国特許出願公開第２０１９／０２８７５６６号明細書

【特許文献3】米国特許第１０５４６６０１号明細書

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、トラックプロファイルの取得方法によっては、リフレッシュ機能がうまく動作せずにリライトが間に合わないことがある。

【0005】

本発明の実施形態が解決しようとする課題は、データの信頼性を向上するサイドイレーズ測定方法及びリフレッシュ処理方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本実施形態に係るサイドイレーズ測定方法は、中心部から半径方向に同心円状に区分される領域である複数のトラックと円周方向に区分される複数のセクタとを備えた円盤型の磁気ディスクにおけるサイドイレーズの測定方法であって、前記複数のトラックから１本の中央トラックと前記中央トラックに隣接するトラックから前記半径方向の外側と内側に同心円状に続く複数の周辺トラックと複数の対象セクタとを選択し、前記複数の周辺トラックの前記対象セクタから、隣接する周辺トラック間で異なるセクタとなるようにＢｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ（ＢＥＲ）を測定するためのセクタであるＢＥＲ測定セクタを選択し、前記中央トラックの前記対象セクタ全てにデータを１回書き込むごとに、書き込み回数である中央トラックライト回数をカウントし、前記ＢＥＲ測定セクタにおけるＢＥＲを測定する。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】図１は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置の構成図である。

【図2】図２は、第１の実施形態に係るディスクの領域を示す模式図である。

【図3】図３は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置が実行するリフレッシュ処理の処理動作を示すフローチャートである。

【図4】図４は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置に対するサイドイレーズ測定方法を示す概念図である。

【図5】図５は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置に対するサイドイレーズ測定方法におけるＢＥＲ測定の手順を示すフローチャートである。

【図6】図６は、第１の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたトラックごとのサイドイレーズの影響の例を示す図である。

【図7】図７は、第１の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたライト回数依存の例を示す図である。

【図8】図８は、第１の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたトラックごとのライト回数閾値の例を示す図である。

【図9】図９は、第２の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたトラックプロファイル重みテーブルの例を示す図である。

【図10】図１０は、第２の実施形態に係る磁気ディスク装置が実行するリフレッシュ処理の処理動作を示すフローチャートである。

【図11】図１１は、第３の実施形態に係る磁気ディスク装置が実行するリフレッシュ処理の処理動作を示すフローチャートである。

【図12】図１２は、変形例に係る磁気ディスク装置に対するサイドイレーズ測定方法を示す概念図である。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置の構成図である。

【0009】

磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）１００と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路であるヘッドアンプＩＣ３０と、揮発性メモリ７０と、バッファメモリ（バッファ）８０と、不揮発性メモリ９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム２と接続される。

【0010】

ホストシステム２は、例えば、パソコン本体などであり、磁気ディスク装置１に対してデータの読み書き命令などを出力する。またホストシステム２は、ＢＥＲ測定をするためのプログラムを備えていてもよく、ＢＥＲ測定において磁気ディスク装置１を制御することでもよい。

【0011】

ＨＤＡ１００は、磁気ディスク（以下、ディスクと称する）１０と、スピンドルモータ（以下、ＳＰＭと称する）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭと称する）１４とを有する。

【0012】

ディスク１０は、スピンドルモータ１２に取り付けられ、スピンドルモータ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０の目標位置まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。

【0013】

ディスク１０は、円盤型の回転ディスク記憶媒体であり、データをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の半径方向に直交する方向を円周方向と称する。

【0014】

スピンドル１２は、ディスク１０の支柱であり、磁気ディスクの筐体などに設置される。スピンドル１２が回転することによりディスク１０が回転する。

【0015】

図２は、第１の実施形態に係る磁気ディスクの構成の模式図である。

【0016】

ディスク１０は、スピンドル１２を中心とした同心円状に複数のトラックＴＲが設定され、円周方向に複数のセクタ領域ＳＣＴが設定されているものとする。トラックＴＲにはデータが書き込まれ、ヘッド１５は、トラックＴＲにおいてセクタ領域ＳＣＴごとにデータをライト（書き込み）したり、書き込まれたデータをリード（読み出し）したりする。トラックＴＲとセクタ領域ＳＣＴが交差する部分を目標データセクタＴＧＴと称する。

【0017】

トラックＴＲ（ＴＲＮ）は、トラック番号ＴＲＮのトラックＴＲを示す。例えばトラック番号０のトラックＴＲをトラックＴＲ（０）と示す。またＴＲ（ＴＲＮ）に隣接するＴＲ（ＴＲＮ＋１）、ＴＲ（ＴＲＮ－１）をＴＲ（ＴＲＮ）の隣接トラックと称する。

【0018】

図１に戻り、アーム１３は、ヘッド１５を支持するアームであり、ＶＣＭ１４からの動力をヘッド１５に伝え、ヘッド１５を目標データセクタＴＧＴに移動させる。

【0019】

ＶＣＭ１４は、アーム１３を動かすためのボイスコイルモータである。

【0020】

ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒとを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０のデータトラックに記録されているデータをリードする。

【0021】

ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。

【0022】

ヘッドアンプＩＣ３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力される信号に応じたライト電流をヘッド１５に出力する。

【0023】

揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１における処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、又はＳＤＲＡＭ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）である。

【0024】

バッファメモリ８０は、磁気ディスク装置１とホストシステム２との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ８０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ８０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ｆｅｒｒｏｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ ｍｅｍｏｒｙ）、又はＭＲＡＭ（Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等である。

【0025】

不揮発性メモリ９０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ９０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Ｆｌａｓｈ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ ：ＦＲＯＭ）である。

【0026】

システムコントローラ１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたＳｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ（ＳｏＣ）と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現されることでもよい。システムコントローラ１３０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０とを含む。システムコントローラ１３０は、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ３０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０、及びホストシステム２などに電気的に接続されている。

【0027】

Ｒ／Ｗチャネル４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスク１０からホストシステム２に転送されるリードデータ及びホストシステム２から転送されるライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル４０は、ヘッドアンプＩＣ３０、ＨＤＣ５０、及びＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。

【0028】

ＨＤＣ５０は、磁気ディスク装置１とホストシステム２とのインターフェースの役割を担い、例えば、ホストシステム２からディスク１０へのデータの書き込み命令やディスク１０のデータの読み込み命令などのコマンドを受信する。ＨＤＣ５０は、受信したコマンドに基づいて、磁気ディスク装置１の内部を制御したり、ホストシステム２とＲ／Ｗチャネル４０との間のデータ転送をしたりする。ＨＤＣ５０は、Ｒ／Ｗチャネル４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に電気的に接続されている。

【0029】

ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、リードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０、Ｒ／Ｗチャネル４０、及びＨＤＣ５０等に電気的に接続されている。

【0030】

ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１と、カウンタ６２と、リフレッシュ処理部６３とを備えている。ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１、カウンタ６２、及びリフレッシュ処理部６３等の処理をファームウェアなどのプログラムにより実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部を回路などのハードウェアとして備えていてもよい。

【0031】

リード／ライト制御部６１は、ホストシステム２からのコマンドに従って、データのリード処理及びライト処理を制御する。リード／ライト制御部６１は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０の目標位置に位置決めし、データをリード又はライトする。

【0032】

カウンタ６２は、トラックＴＲ（ＴＲＮ）にデータをライトされた回数Ｎ（ＴＲＮ）（以下、カウント回数又はライト回数と称する）をトラックＴＲ（ＴＲＮ）ごとにカウントする。カウンタ６２は、トラックＴＲ（ＴＲＮ）かつセクタＳＣＴごとにライト回数Ｎ（ＴＲＮ、ＳＣＴＮ）をカウントすることでもよく、その場合はライト回数をＮ（ＴＲＮ、ＳＣＴＮ）のように示す（ＳＣＴＮはセクタ番号を示す）。またカウンタ６２は、トラックＴＲ（ＴＲＮ）に隣接するトラックＴＲ（ＴＲＮ＋１）やトラックＴＲ（ＴＲＮ－１）にデータが書き込まれた場合に隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントすることでもよい。

【0033】

リフレッシュ処理部６３は、リフレッシュ処理（または単にリフレッシュと称する場合もある）を実行する。リフレッシュ処理とは、ディスク１０における隣接トラック干渉によるサイドイレーズの影響を低減するための処理である。例えば、リフレッシュ処理においては、ディスク１０のおける所定の記録領域にライトされたデータを一旦リードして、リードしたデータを所定の記録領域に書き直す。ディスク１０に書きこまれたデータは、隣接するトラックなどにデータの書き込みがされると、その影響でデータが変質して読み込めなくなる現象（一般にサイドイレーズと称される）が生じることがある。リフレッシュ処理によってサイドイレーズの影響を低減できる。リフレッシュ処理部６３は、カウンタ６２によりカウントされるライト回数Ｎ（ＴＲＮ）と予め設定した閾値（リフレッシュ閾値と称する）とに基づいて、隣接トラックもしくは隣接トラックを含めた周辺トラックのデータのリフレッシュ処理を実行する。

【0034】

サイドイレーズは、ライト（データ書き込み）をしたトラック（ライトトラックと称する）から離れた場所にも影響を与えることがあるため、周辺トラックのイレーズの影響度合いを重み付けしたトラックプロファイル重みテーブルを持っている。リフレッシュ閾値は、トラックプロファイル重みテーブルに基づいて決定されるが、決定方法については後述する。

【0035】

図３は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置が実行するリフレッシュ処理の処理動作を示すフローチャートである。

【0036】

ＨＤＣ５０は、ホスト２からトラック番号ＴＲＮのトラックＴＲ（ＴＲＮ）へのデータの書き込み命令（ライト要求）を受信する（ステップＳ１０１）。ＨＤＣ５０は、リード／ライト制御部６１にデータとともにライト要求を送信するとともに、カウンタ６２にトラックＴＲへの書き込み回数であるライト回数Ｎ（ＴＲＮ）をカウントさせる（ステップＳ１０２）。

【0037】

カウンタ６２は、Ｎ（ＴＲＮ）と閾値ＴＨ＿Ｗとを比較し、Ｎ（ＴＲＮ）＞ＴＨ＿Ｗの場合（ステップＳ１０３のＹｅｓ）、リフレッシュ処理部６３にリフレッシュ処理を実行させる（ステップＳ１０４）。ステップＳ１０４においては、隣接トラックＴＲ（ＴＲＮ－１）、ＴＲ（ＴＲＮ＋１）のデータもしくは隣接トラックを含めた周辺トラックのデータをリフレッシュする。ステップＳ１０４の実行を完了すると、カウンタ６２は、Ｎ（ＴＲＮ）をクリアする（ステップＳ１０５）。ステップＳ１０３において、トラックＴＲ（ＴＲＮ）のライト回数Ｎ（ＴＲＮ）が閾値ＴＨ＿Ｗ以下の場合は、次のライト要求を待つ（ステップＳ１０３のＮｏ）。

【0038】

ステップＳ１０３における閾値ＴＨ＿Ｗは、別途評価などにより取得したサイドイレーズの影響度合いを示したトラックプロファイルなどから決定する。本実施形態においては、隣接トラックへデータライトした場合の影響を考慮してサイドイレーズを測定する。

【0039】

図４は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置に対するサイドイレーズ測定方法を示す概念図であり、サイドイレーズに対する評価基準としてＢｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ（ＢＥＲ）を用いた例を示す。

【0040】

トラックＴＲ（０）を中央トラックと称し、トラックＴＲ（０）の両サイドのトラックを周辺トラックと称する。本実施形態のサイドイレーズ測定においては、トラックＴＲ（０）に何度もデータの書き込み（上書き）を行った場合の周辺トラックへのサイドイレーズの影響を測定する。図４においては、周辺トラックとして、８つのトラックＴＲ（－４）からＴＲ（－１）、ＴＲ（１）からＴＲ（４）を示す。周辺トラックにおいてＢＥＲを測定するが、図４に示すように周辺トラックのセクタ領域（ＳＣＴ１、ＳＣＴ２、ＳＣＴ３）ごとに、ＢＥＲ測定をする場所を決定する。図４の例においては、セクタ領域ＳＣＴ１においては、周辺トラックＴＲ（－３）、ＴＲ（－１）、ＴＲ（２）、ＴＲ（４）でＢＥＲを測定し、周辺トラックＴＲ（－４）、ＴＲ（－２）、ＴＲ（１）、ＴＲ（３）においてはセクタ領域ＳＣＴ１とは異なるセクタ領域ＳＣＴ２でＢＥＲを測定し、セクタ領域ＳＣＴ１及びセクタ領域ＳＣＴ２とは異なるセクタ領域ＳＣＴ３ではＴＲ０を除いた全トラックでＢＥＲを測定する。ＢＥＲを測定する領域をＢＥＲ測定領域と称する。本実施形態においては、各周辺トラックのセクタごとにＢＥＲ測定領域を割り振りし、割り振られたセクタをＢＥＲ測定セクタと称する。すなわちセクタ領域ＳＣＴ１とＳＣＴ２とでＢＥＲ測定をするトラックが隣り合わないように、ＢＥＲ測定をするトラックをセクタ領域ＳＣＴ１とＳＣＴ２とに割り振る。これにより周辺トラックＴＲごとに固有のセクタＳＣＴに対するＢＥＲ測定ができる。

【0041】

ＢＥＲ測定時には、例えば、ＢＥＲ測定領域に予め既知データを書きこんでおき、ホストシステム２がＢＥＲ測定領域からデータを読み込んで書きこんだ既知のデータと比較することでＢＥＲ測定をすることでもよい。

【0042】

ＢＥＲを測定する周辺トラックにおいて、中央トラックであるトラックＴＲ（０）に連続ライトする前もしくはトラックＴＲ（０）に所定の回数連続ライトした後、ＢＥＲ測定の領域以外の領域に、１回以上ライトする。周辺トラックにおける１回以上ライトするセクタをライトセクタと称する。例えば図４のように、トラックＴＲ（－３）、ＴＲ（－１）、ＴＲ（２）、ＴＲ（４）に対してはセクタ領域ＳＣＴ２に１回ライトし、トラックＴＲ（－４）、ＴＲ（－２）、ＴＲ（１）、ＴＲ（３）に対してはセクタ領域ＳＣＴ１に１回ライトする。その後、各セクタ領域ＳＣＴ１、ＳＣＴ２、ＳＣＴ３に割り振られたＢＥＲ測定領域のＢＥＲを測定する。これにより、ＢＥＲ測定領域へのトラックＴＲ（０）からの影響だけでなく、ＢＥＲ測定領域の隣接トラックの影響をも考慮したＢＥＲ測定が可能となる。またセクタ領域ＳＣＴ３においては、全ての周辺トラックに対してライトをせずに、ＢＥＲ測定を実施する。これによりセクタ領域ＳＣＴ３においては、ＢＥＲ測定領域への隣接トラックからの影響がない場合のＢＥＲ測定が可能となる。すなわち本実施形態においては、ＢＥＲ測定領域への隣接トラックの影響がある場合とない場合のＢＥＲ測定を同時に実行可能となる。

【0043】

その後、トラックＴＲ（０）への連続ライトを続け、所定の回数連続ライトするごとに、ＢＥＲ測定領域に対してＢＥＲを測定する。これを所定のライト回数となるまで繰り返し、ＢＥＲのライト回数依存を求める。

【0044】

図５は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置に対するサイドイレーズ測定方法におけるＢＥＲ測定の手順を示すフローチャートであり、本フローチャートによる処理は、例えばホストシステム２に実装されたソフトウェアなどにより実行されることでもよい。

【0045】

ＢＥＲ測定の対象とするディスク１０の中央トラックＴＲと周辺トラックＴＲとを選択する（ステップＳ２００）。図４は、中央トラックＴＲにはＴＲＮ＝０が選択され、また周辺トラックにはＴＲＮ＝－４～４（ただし０を除く）が選択された例である。ＴＲステップＳ２００で選択した周辺トラックＴＲにおけるＢＥＲ測定の対象とするディスク１０のセクタ領域ＳＣＴを選択する（ステップＳ２０１）。ステップＳ２０１において選択したセクタ領域ＳＣＴを評価対象セクタＳＣＴと称する。図４においては、セクタ領域ＳＣＴ１、ＳＣＴ２、ＳＣＴ３が評価対象セクタＳＣＴに相当する。

【0046】

ステップＳ２０１で選択した評価対象セクタＳＣＴに対してＢＥＲ測定セクタを割り振る（ステップＳ２０２）。より具体的には、図４に示すように周辺トラックＴＲ（－３）、ＴＲ（－１）、ＴＲ（２）、ＴＲ（４）においてはセクタ領域ＳＣＴ１を、周辺トラックＴＲ（－４）、ＴＲ（－２）、ＴＲ（１）、ＴＲ（３）においてはセクタ領域ＳＣＴ２を、セクタ領域ＳＣＴ３においては全周辺トラックＴＲ（－４）、ＴＲ（－３）、ＴＲ（－２）、ＴＲ（－１）、ＴＲ（１）、ＴＲ（２）、ＴＲ（３）、ＴＲ（４）をそれぞれＢＥＲ測定セクタとする。

【0047】

周辺トラックのＢＥＲ測定セクタに既知のデータを入れる（ステップＳ２０３）。ステップＳ２０３における既知のデータは、ＢＥＲ測定をするためのデータである。なおステップＳ２０３においては、周辺トラックの評価対象セクタＳＣＴ全てに既知のデータを入れてもよい。

【0048】

周辺トラックのライトセクタにデータを１回ライトする（ステップＳ２０４）。より具体的には、図４に示すように周辺トラックＴＲ（－３）、ＴＲ（－１）、ＴＲ（２）、ＴＲ（４）のセクタ領域ＳＣＴ２に、周辺トラックＴＲ（－４）、ＴＲ（－２）、ＴＲ（１）、ＴＲ（３）のセクタ領域ＳＣＴ１にそれぞれデータを１回ライトする（ステップＳ２０４）。ステップＳ２０４により、周辺トラックのＢＥＲ測定セクタへの隣接トラックの影響を考慮することが可能になる。なおステップＳ２０４におけるライトセクタへのデータライトは１回以上であってもよい。

【0049】

中央トラックＴＲ（０）のセクタ領域ＳＣＴ１、ＳＣＴ２、ＳＣＴ３にデータを１回ライトする（ステップＳ２０５）。カウンタ６２は、中央トラックＴＲ（０）へのライト回数Ｎ（０）を１増加する（ステップＳ２０６）。

【0050】

図４に示したＢＥＲ測定領域に対してＢＥＲ測定を実行し、ライト回数Ｎ（０）と周辺トラックＴＲ（ＴＲＮ）ごとのＢＥＲ（ＴＲＮ、Ｎ（０））を求める（ステップＳ２０７からＳ２１１）。ステップＳ２０７、Ｓ２１１は全ての周辺トラックＴＲ（ＴＲＮ）に対して、ステップＳ２０８からＳ２１０を繰り返すことを示す。

【0051】

全ての周辺トラックＴＲ（ＴＲＮ）に対するＢＥＲの測定を実行する（ステップＳ２０８）。トラックＴＲ（ＴＲＮ）に対するＢＥＲは、隣接トラックの影響を考慮した場合のＢＥＲ１（ＴＲＮ、Ｎ（０））と隣接トラックの影響を考慮しない場合のＢＥＲ２（ＴＲＮ、Ｎ（０））との２つが求められ、２つを総称してＢＥＲ（ＴＲＮ、Ｎ（０））と称する。

【0052】

より具体的には、例えば図４において、トラックＴＲ（－３）、ＴＲ（－１）、ＴＲ（２）、ＴＲ（４）に対しては、セクタ領域ＳＣＴ１のＢＥＲ測定結果により、隣接トラックの影響を考慮した場合のＢＥＲ１（ＴＲＮ、Ｎ（０））を得る。また、トラックＴＲ（－４）、ＴＲ（－２）、ＴＲ（１）、ＴＲ（３）に対しては、セクタ領域ＳＣＴ２のＢＥＲ測定結果により、隣接トラックの影響を考慮した場合に対するＢＥＲ１（ＴＲＮ、Ｎ（０））を得る。

【0053】

またセクタ領域ＳＣＴ３のＢＥＲ測定結果により、隣接トラックの影響を考慮しない場合のＢＥＲ２（ＴＲＮ、Ｎ（０））を得る。以上の手順により、中央トラックＴＲ（０）のセクタ領域ＳＣＴ１、ＳＣＴ２、ＳＣＴ３にデータを１回ライトした場合の周辺トラックのＢＥＲ（ＴＲＮ、Ｎ（０））を得る（ステップＳ２０８）。

【0054】

ＢＥＲ（ＴＲＮ、Ｎ（０））をトラックＴＲ（ＴＲＮ）ごとに予め定めたＢＥＲ閾値ＴＨ＿Ｂ（ＴＲＮ）と比較する（ステップＳ２０９）。ＢＥＲ（ＴＲＮ、Ｎ（０））がＴＨ＿Ｂ（ＴＲＮ）を超えた場合には（ステップＳ２０９のＹｅｓ）、その時のＮ（０）をトラックＴＲ（ＴＲＮ）に対するライト回数閾値とし、メモリなどに記憶する（ステップＳ２１０）。より具体的には、ステップＳ２０９において、ＢＥＲ１（ＴＲＮ、Ｎ（０））＞ＴＨ＿Ｂ（ＴＲＮ）である場合には、ステップＳ２１０において、ライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）をＮ（０）とし、揮発性メモリ７０などに記憶する。

【0055】

またステップＳ２０９において、ＢＥＲ２（ＴＲＮ、Ｎ（０））＞ＴＨ＿Ｂ（ＴＲＮ）である場合には、ステップＳ２１０において、ライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）をＮ（０）とし、揮発性メモリ７０などに記憶する。ライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）は隣接ライトの影響を考慮した場合のライト回数閾値となり、ライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）は隣接ライトの影響を考慮しない場合のライト回数閾値となる。なおＴＨ＿Ｂ（ＴＲＮ）は、ＢＥＲ１（ＴＲＮ、Ｎ（０））とＢＥＲ２（ＴＲＮ、Ｎ（０））とに対して異なる値としてもよい。またＴＨ＿Ｂ（ＴＲＮ）は、ＴＲＮごとの値としてもよいし、全てのＴＲＮに対して同一の値としてもよい。

【0056】

全てのトラックＴＲ（ＴＲＮ）に対し、ステップＳ２０７からＳ２１１を実行したら、全てのトラックＴＲ（ＴＲＮ）について全てのライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）、ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）が求まっているかどうかを確認し、求まっていない場合は、ステップＳ２０５からの処理を繰り返す（ステップＳ２１２のＮｏ）。求まっていた場合（ステップＳ２１２のＹｅｓ）、全周辺トラックに対して求めたライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）、ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）からそれぞれ最小値を抽出し、抽出した値をライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１、ＴＨ＿Ｗ２として決定する（ステップＳ２１３）。

【0057】

図６は、第１の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたトラックごとのサイドイレーズの影響の例を示す図であり、図５のフローチャートにより得る周辺トラックごとのＢＥＲの例である。

【0058】

図６においては、中央トラックＴＲ（０）へのライト回数Ｎ（０）を０、１００、１０００、２０００、４０００、７０００、１００００とした場合について、横軸にトラック番号、縦軸にＢＥＲを示し、ＴＲＮ＝－１５から１５の周辺トラックＴＲについての取得したＢＥＲの結果例である。図６により、ライト回数Ｎ（０）が増加するほど周辺トラックのＢＥＲは増加するライト回数依存を確認できる。

【0059】

図７は、第１の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたライト回数依存の例を示す図である。

【0060】

特性Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ５は、それぞれ周辺トラックＴＲＮ＝－２、－１、＋１、＋２、＋８のトラックＴＲのＢＥＲの例を示し、それぞれ中央トラックＴＲ（０）へのライト回数Ｎ（０）を１０００回、２０００回、４０００回、７０００回、１００００回とした後に測定したＢＥＲの例である。それぞれセクタ領域ＳＣＴ１、２から取得した‘隣接ライトあり‘の場合とＳＣＴ３から取得した‘隣接ライトなし‘の場合のＢＥＲ特性を示す。特性Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ５それぞれが示すように、ライト回数の対数とＢＥＲは線形の依存性を示す。取得した本依存性のデータに基づいて、例えば許容されるＢＥＲ閾値（図５ステップＳ２０９のＴＨ＿Ｂ（ＴＲＮ）に相当）を超えない最大のライト回数をライト回数閾値としてライト回数閾値を求める。またトラック毎のライト回数閾値の求め方として、例えば本依存性のデータから求めたライト回数の対数とＢＥＲの線形近似式より、ＢＥＲ閾値を超えない最大のライト回数を求めライト回数閾値としても良い。より具体的には、１０００回、２０００回、４０００回、７０００回、１００００回でＢＥＲを測定し、ＢＥＲの線形近似式を算出しＢＥＲ閾値となるライト回数を求める。

【0061】

図８は、第１の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたトラックごとのライト回数閾値の例を示す図である。

【0062】

図８（ａ）は、図５のステップＳ２１０で決定されるライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）、ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）の例であり、ＴＲＮ＝―１５から１５の周辺トラックに対する測定結果の例である。

【0063】

図８（ｂ）は、図８（ａ）からＴＲＮ＝－２、－１、＋１、＋２、＋８の周辺トラックに対するライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）、ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）を抽出した例である。

【0064】

例えば、データＤ１は、ＴＲ（－２）のライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（－２）が３６０７、ＴＨ＿Ｗ２（－２）が１１３７であることを示す。図８（ｂ）のＤ６は、図５のステップＳ２１３で求めたライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１、ＴＨ＿Ｗ２の例を示し、ＴＲＮ＝－２、－１、＋１、＋２、＋８の周辺トラックに対するライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）、ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）から抽出した最小値であり、それぞれ１３６、９６である。ライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１、ＴＨ＿Ｗ２は、例えば図３のステップＳ１０３に示したＴＨ＿Ｗとして用いる。
ＴＨ＿Ｗ＝ＴＨ＿Ｗ１（隣接ライトを考慮する場合）
ＴＨ＿Ｗ＝ＴＨ＿Ｗ２（隣接ライトを考慮しない場合）。

【0065】

以上の手順により求めた閾値を図３のフローチャートに適用することで、隣接トラックの影響を考慮したリフレッシュ処理が可能となる。
（第２の実施形態）
本実施形態においては、トラックＴＲ（ＴＲＮ）にライトした場合に、第１の実施形態のサイドイレーズ測定方法により求めたライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）、ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）を用いて隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントする例を示す。本実施例におけるカウンタ６２は、トラック毎に隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントする隣接ライトカウンタを持つ。

【0066】

図９は、第２の実施形態に係るサイドイレーズ測定方法により求めたトラックプロファイル重みテーブルの例を示す図である。

【0067】

トラックプロファイル重みは、隣接ライトありの場合の値（ＴＰＷ１とする）と隣接ライトなしの場合の値（ＴＰＷ２とする）が求められる。ＴＰＷ１、ＴＰＷ２（総称してＴＰＷと示す）は、それぞれ図８（ａ）に示したトラックごとのライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）、ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）と図５のステップＳ２１３で求めた最小値であるライト回数閾値ＴＨ＿Ｗ１、ＴＨ＿Ｗ２とを用いて求める。トラックＴＲ（ＴＲＮ）のトラックプロファイル重みＴＰＷをＴＰＷ（ＴＲＮ）とすると、ＴＰＷ（ＴＲＮ）は次式のように求められる。
ＴＰＷ１（ＴＲＮ）＝ＴＨ＿Ｗ１／ＴＨ＿Ｗ１（ＴＲＮ）
ＴＰＷ２（ＴＲＮ）＝ＴＨ＿Ｗ２／ＴＨ＿Ｗ２（ＴＲＮ）。

【0068】

ＴＰＷは、サイドイレーズによるライト回数に対する重みを示しており、トラックプロファイル重みテーブルは、例えば予め不揮発性メモリ９０などに記憶しておき、周辺トラックへのデータの隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントに利用する。

【0069】

図１０は、第２の実施形態に係る磁気ディスク装置が実行するリフレッシュ処理の処理動作を示すフローチャートである。

【0070】

ＨＤＣ５０は、ホスト２からトラック番号ＴＲＮのトラックＴＲ（ＴＲＮ）へのデータの書き込み命令（ライト要求）を受信する（ステップＳ１５１）。ＭＰＵ６０は、ステップＳ１５３からＳ１５６について、トラックＴＲ（ＴＲＮ）の周辺トラックＴＲ（ｎ）のライト回数Ｎ（ｎ）をカウントする。ｎは、ＴＲＮ－ｎ１からＴＲＮ－ｎ２（ただし、ｎ１、ｎ２は１以上の整数）を示し、トラックＴＲ（ＴＲＮ）を中心トラックとした場合のトラックＴＲ（ＴＲＮ）の内側と外側への周辺トラック番号を示す。

【0071】

カウンタ６２は、隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ｎ）をカウントする（ステップＳ１５３）。ステップＳ１５３において、カウンタ６２は、トラックプロファイル重みテーブルから対象の周辺トラックＴＲ（ｎ）の重みＴＰＷ（ｎ）を取得し、以下のようにＴＰＷ分増加させるようにカウントする。
Ｎ＿Ａ（ｎ）＝Ｎ＿Ａ（ｎ）＋ＴＰＷ（ｎ）
Ｎ＿Ａ（ｎ）＝Ｎ＿Ａ（ｎ）＋ＴＰＷ１（ｎ）（トラック重みＴＰＷ１を用いる場合）
Ｎ＿Ａ（ｎ）＝Ｎ＿Ａ（ｎ）＋ＴＰＷ２（ｎ）（トラック重みＴＰＷ２を用いる場合）。

【0072】

リフレッシュ処理部６３は、予め設定されてある閾値ＴＨ＿ＷＡ（ｎ）とＮ＿Ａ（ｎ）とを比較する（ステップＳ１５４）。ＴＨ＿ＷＡ（ｎ）は、トラックＴＲ（ｎ）ごとに設定された閾値でもよいし、ｎによらず一定の閾値でもよい。

【0073】

Ｎ＿Ａ（ｎ）＞ＴＨ＿ＷＡ（ｎ）の場合、トラックＴＲ（ｎ）のデータをリフレッシュ処理する（ステップＳ１５４のＹｅｓ、ステップＳ１５５）。Ｎ＿Ａ（ｎ）＜ＴＨ＿ＷＡ（ｎ）の場合、次のトラックＴＲ（ｎ）について、ステップＳ１５３から処理を実施する（ステップＳ１５４のＮｏ）。ステップＳ１５５において、トラックＴＲ（ｎ）のデータをリフレッシュ処理したら、隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ｎ）を０にするなどクリアする（ステップＳ１５６）。

【0074】

以上の手順により、トラックプロファイル重みテーブルを用いて、周辺トラックへのサイドイレーズ影響を考慮したカウント処理によるリフレッシュ処理が可能となる。
（第３の実施形態）
本実施形態においては、第１の実施形態で用いる閾値ＴＨ＿Ｗを隣接ライト回数により決定する方法について示す。トラックＴＲ（ＴＲＮ）へのデータのライト回数Ｎ（ＴＲＮ）に加えて、トラックＴＲ（ＴＲＮ）の隣接トラックＴＲ（ＴＲＮ＋１）、トラックＴＲ（ＴＲＮ－１）へのデータの隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントする。

【0075】

本実施形態におけるカウンタ６２は、トラック毎にライト回数Ｎ（ＴＲＮ）をカウントするライトカウンタと、トラック毎に隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントする隣接ライトカウンタを持つ。

【0076】

図１１は、第３の実施形態に係る磁気ディスク装置が実行するリフレッシュ処理の処理動作を示すフローチャートである。

【0077】

ステップＳ３０１からＳ３０５は、第１の実施形態で説明した図３のステップＳ１０１からＳ１０５と同様であるため説明を省略する。ただし、本実施形態においては、トラックＴＲ（ＴＲＮ）以外のトラックへのライトが実施された場合には（ステップＳ３０１のＮｏの場合）、ステップＳ３２１に進む。

【0078】

ステップＳ３２１において、ＨＤＣ５０は、ホスト２からトラックＴＲ（ＴＲＮ）の隣接トラックであるトラックＴＲ（ＴＲＮ－１）、トラックＴＲ（ＴＲＮ＋１）へのライト要求を受信した場合は（Ｙｅｓの場合）、トラックＴＲ（ＴＲＮ）の隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントする（ステップＳ３２２）。例えば、ＴＲＮ＝０の場合、カウンタ６２は、図９に示したトラックプロファイル重みテーブルを用いて隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）を例えば次式のようにカウントする。

【0079】

隣接トラックＴＲ（ＴＲＮ－１）にライトされた場合：
Ｎ＿Ａ（０）＝Ｎ＿Ａ（０）＋ＴＰＷ（１）
隣接トラックＴＲ（ＴＲＮ＋１）にライトされた場合：
Ｎ＿Ａ（０）＝Ｎ＿Ａ（０）＋ＴＰＷ（－１）。

【0080】

すなわち、ステップＳ３２２においては、あるトラック（ここでは、ＴＲ（ＴＲＮ＋１）もしくはＴＲ（ＴＲＮ－１））にライトされた場合に、トラックプロファイル重みテーブルを用いて隣接トラックであるＴＲ（ＴＲＮ）の隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）をカウントする。
隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）と予め設定された閾値ＴＨ＿ＡＷとを比較し、Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）＞ＴＨ＿ＡＷの場合は（ステップＳ３２３のＹｅｓ）、閾値ＴＨ＿Ｗ＝ＴＨ＿Ｗ１とし（ステップＳ３２４）、Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）がＴＨ＿ＡＷ以下の場合は（ステップＳ３２３のＮｏ）、値ＴＨ＿Ｗ＝ＴＨ＿Ｗ２とする（ステップＳ３２５）。ＴＨ＿Ｗ１、ＴＨ＿Ｗ２は、図５のステップＳ２１３で求めた最小値であるライト回数閾値であり、閾値ＴＨ＿Ｗは、トラックＴＲ（ＴＲＮ）のライト回数Ｎ（ＴＲＮ）に対する閾値である。

【0081】

Ｎ（ＴＲＮ）とＴＨ＿Ｗとを比較し、Ｎ（ＴＲＮ）＞ＴＨ＿Ｗである場合は（ステップＳ３２６のＹｅｓ）、トラックＴＲ（ＴＲＮ）の隣接トラックＴＲ（ＴＲＮ－１）、トラックＴＲ（ＴＲＮ＋１）のデータをリフレッシュ処理し（ステップＳ３２７）、隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）を０にするなどクリアする（ステップＳ３２８）。またステップＳ３２４またはＳ３２５で設定された閾値ＴＨ＿Ｗは、ステップＳ３０３におけるトラックＴＲ（ＴＲＮ）のライト回数Ｎ（ＴＲＮ）とＴＨ＿Ｗとの比較にも用いる。

【0082】

本実施形態により、隣接トラックの隣接ライト回数Ｎ＿Ａ（ＴＲＮ）を考慮してライト回数Ｎ（ＴＲＮ）に対して求めた閾値を用いたリフレッシュ処理が可能となる。
（変形例）
本変形例においては、５つのセクタ領域にＢＥＲ測定セクタを割り振る例を示す。

【0083】

図１２は、変形例に係る磁気ディスク装置に対するサイドイレーズ測定方法を示す概念図である。

【0084】

第１の実施形態においては、図４に示した３つセクタ領域を用いた例を示したが、図１２のように５つのセクタ領域を用いることもできる。図１２のセクタ領域ＳＣＴ５は、図４のセクタ領域ＳＣＴ３に相当し、全てのトラックをＢＥＲ測定領域とする。図１２のセクタ領域ＳＣＴ１から４においては、ＢＥＲ測定領域が隣り合わないように、ＢＥＲ測定セクタを割り振る。本変形例においても第１の実施形態同様にライト回数閾値を求める。本変形例により、ＢＥＲ測定領域を割り振るセクタ領域ＳＣＴの数は、任意とすることができる。

【0085】

以上に述べた少なくとも１つの実施形態によれば、データの信頼性を向上するサイドイレーズ測定方法及びリフレッシュ処理方法を提供することができる。

【0086】

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

【符号の説明】

【0087】

１…磁気ディスク装置、２…ホストシステム、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…バッファメモリ、９０…不揮発性メモリ、１３０…システムコントローラ。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】