特開 2023-113030 Ｘ線検査装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023113030

(43)【公開日】2023-08-15

(54)【発明の名称】Ｘ線検査装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 23/087 20180101AFI20230807BHJP

   G01N 23/18 20180101ALI20230807BHJP

【ＦＩ】

G01N23/087

G01N23/18

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022015122

(22)【出願日】2022-02-02

(71)【出願人】

【識別番号】000147833

【氏名又は名称】株式会社イシダ

(74)【代理人】

【識別番号】100088155

【弁理士】

【氏名又は名称】長谷川 芳樹

(74)【代理人】

【識別番号】100113435

【弁理士】

【氏名又は名称】黒木 義樹

(74)【代理人】

【識別番号】100180851

【弁理士】

【氏名又は名称】▲高▼口 誠

(74)【代理人】

【識別番号】100156395

【弁理士】

【氏名又は名称】荒井 寿王

(72)【発明者】

【氏名】岩川 健

(72)【発明者】

【氏名】廣瀬 修

【テーマコード（参考）】

2G001

【Ｆターム（参考）】

2G001AA01

2G001AA10

2G001BA11

2G001CA01

2G001DA06

2G001DA08

2G001FA29

2G001HA13

2G001JA09

2G001KA05

2G001LA01

2G001PA11

(57)【要約】

【課題】物品よりも比重が重い異物と物品よりも比重が軽い異物との双方を検出可能なＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線検査装置１は、物品Ｇを搬送する搬送部５と、搬送部５により搬送される物品ＧにＸ線を照射するＸ線照射部６と、Ｘ線照射部６により照射されて物品Ｇを透過したＸ線を、複数のエネルギー帯毎に検出するＸ線検出部７と、Ｘ線検出部７により検出された複数のエネルギー帯毎のＸ線に基づいて複数のＸ線透過画像を生成し、複数のＸ線透過画像の差分画像に基づいて物品Ｇに含まれる異物の有無に関する検査を行うする制御部１０と、を備える。制御部１０は、第１閾値を用いて物品Ｇよりも比重が重い第１異物を検出すると共に、第１閾値とは異なる第２閾値を用いて物品Ｇよりも比重が軽い第２異物を検出する。
【選択図】図４

【特許請求の範囲】

【請求項1】

物品を搬送する搬送部と、
前記搬送部により搬送される前記物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、
前記Ｘ線照射部により照射されて前記物品を透過したＸ線を、複数のエネルギー帯毎に検出するＸ線検出部と、
前記Ｘ線検出部により検出された複数のエネルギー帯毎のＸ線に基づいて、複数のＸ線透過画像を生成するＸ線透過画像生成部と、
前記Ｘ線透過画像生成部により生成された複数の前記Ｘ線透過画像の差分画像に基づいて、前記物品に含まれる異物の有無に関する検査を行う検査部と、を備え、
前記検査部は、第１閾値を用いて前記物品よりも比重が重い第１異物を検出すると共に、前記第１閾値とは異なる第２閾値を用いて前記物品よりも比重が軽い第２異物を検出する、Ｘ線検査装置。

【請求項2】

ユーザの入力を受け付ける入力部を備え、
前記第１閾値及び前記第２閾値は、前記入力部を介して個別に設定可能である、請求項１に記載のＸ線検査装置。

【請求項3】

前記検査部は、前記差分画像における輝度分布に基づいて、異物を検出する、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。

【請求項4】

前記第１閾値は、前記物品に対応する基準輝度値よりも大きい輝度値であり、
前記第２閾値は、前記基準輝度値よりも小さい輝度値であり、
前記検査部は、
前記差分画像の輝度分布において前記第１閾値よりも大きい輝度値がある場合に、前記第１異物及び前記第２異物の何れか一方を検出すると共に、
前記差分画像の輝度分布において前記第２閾値よりも小さい輝度値がある場合に、前記第１異物及び前記第２異物の何れか他方を検出する、請求項３に記載のＸ線検査装置。

【請求項5】

前記第１閾値及び前記第２閾値は、前記物品に対応する基準輝度値よりも大きい又は小さい輝度値であり、
前記検査部は、
前記差分画像の輝度分布において前記第１閾値よりも大きい又は小さい輝度値がある場合に、前記第１異物及び前記第２異物の何れか一方を検出し、
前記差分画像の輝度分布の正負を反転させ、当該輝度分布において前記第２閾値よりも大きい又は小さい輝度値がある場合に、前記第１異物及び前記第２異物の何れか他方を検出する、請求項３に記載のＸ線検査装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、Ｘ線検査装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来のＸ線検査装置として、例えば、特許文献１に記載された装置が知られている。特許文献１に記載のＸ線検査装置は、被検査物（物品）にＸ線を照射するＸ線源と、Ｘ線源から照射される第１エネルギー帯のＸ線を検知する第１センサ及び第２エネルギー帯のＸ線を検知する第２センサを有するセンサユニットと、第１センサ及び第２センサにより検知されたＸ線データに基づいて被検査物の第１透過画像及び第２透過画像を生成する画像生成部と、画像生成部によって生成された画像に基づいて物品に含まれる異物の有無に関する検査を行う検査部と、を備えている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１２－７３０５６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

上述したようなＸ線検査装置では、例えば物品よりも比重が重い異物を検出することはできても、物品よりも比重が軽い異物を検出することは難しい場合がある。

【0005】

本発明の一側面は、物品よりも比重が重い異物と物品よりも比重が軽い異物との双方を検出可能なＸ線検査装置を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明の一側面に係るＸ線検査装置は、物品を搬送する搬送部と、搬送部により搬送される物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、Ｘ線照射部により照射されて物品を透過したＸ線を、複数のエネルギー帯毎に検出するＸ線検出部と、Ｘ線検出部により検出された複数のエネルギー帯毎のＸ線に基づいて、複数のＸ線透過画像を生成するＸ線透過画像生成部と、Ｘ線透過画像生成部により生成された複数のＸ線透過画像の差分画像に基づいて、物品に含まれる異物の有無に関する検査を行う検査部と、を備え、検査部は、第１閾値を用いて物品よりも比重が重い第１異物を検出すると共に、第１閾値とは異なる第２閾値を用いて物品よりも比重が軽い第２異物を検出する。

【0007】

例えば差分画像では、物品よりも比重が重い第１異物が明るく映る場合、物品よりも比重が軽いプラスチック等の第２異物については、それとは反対に暗く映ることが見出される。そこで、本発明の一側面に係るＸ線検査装置では、差分画像に基づく異物検査の閾値を２つ設け、そのうちの一方である第１閾値を用いて第１異物を検出すると共に、他方の第２閾値を用いて第２異物を検出することができる。すなわち、物品よりも比重が重い異物と物品よりも比重が軽い異物との双方を検出可能となる。

【0008】

本発明の一側面に係るＸ線検査装置は、ユーザの入力を受け付ける入力部を備え、第１閾値及び第２閾値は、入力部を介して個別に設定可能であってもよい。この場合、第１閾値及び第２閾値のそれぞれを所望に設定することができ、様々な第１異物及び第２異物の検出に容易に対応可能となる。

【0009】

本発明の一側面に係るＸ線検査装置では、検査部は、差分画像における輝度分布に基づいて、異物を検出してもよい。この場合、差分画像の輝度分布を利用して第１異物及び第２異物の双方を検出することができる。

【0010】

本発明の一側面に係るＸ線検査装置では、第１閾値は、物品に対応する基準輝度値よりも大きい輝度値であり、第２閾値は、基準輝度値よりも小さい輝度値であり、検査部は、差分画像の輝度分布において第１閾値よりも大きい輝度値がある場合に、第１異物及び第２異物の何れか一方を検出すると共に、差分画像の輝度分布において第２閾値よりも小さい輝度値がある場合に、第１異物及び第２異物の何れか他方を検出してもよい。この場合、差分画像の輝度分布を具体的に利用して、第１異物及び第２異物の双方を検出することができる。

【0011】

本発明の一側面に係るＸ線検査装置では、第１閾値及び第２閾値は、物品に対応する基準輝度値よりも大きい又は小さい輝度値であり、検査部は、差分画像の輝度分布において第１閾値よりも大きい又は小さい輝度値がある場合に、第１異物及び第２異物の何れか一方を検出し、差分画像の輝度分布の正負を反転させ、当該輝度分布において第２閾値よりも大きい又は小さい輝度値がある場合に、第１異物及び第２異物の何れか他方を検出してもよい。この場合、差分画像の輝度分布を具体的に利用して、第１異物及び第２異物の双方を検出することができる。

【発明の効果】

【0012】

本発明の一側面によれば、物品よりも比重が重い異物と物品よりも比重が軽い異物との双方を検出可能なＸ線検査装置を提供することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】図１は、一実施形態に係るＸ線検査装置の構成図である。

【図2】図２は、図１に示されるシールドボックスの内部の構成図である。

【図3】図３（ａ）は、第１透過画像を示す図であり、図３（ｂ）は、第２透過画像を示す図である。

【図4】図４は、差分画像の輝度分布の一例を模式的に示すグラフである。

【発明を実施するための形態】

【0014】

以下、添付図面を参照して、実施形態について詳細に説明する。図面の説明において同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。

【0015】

図１に示されるように、Ｘ線検査装置１は、装置本体２と、支持脚３と、シールドボックス４と、搬送部５と、Ｘ線照射部６と、Ｘ線検出部７と、表示操作部８と、制御部１０と、を備える。Ｘ線検査装置１は、物品Ｇを搬送しつつ物品ＧのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査を行う。物品Ｇは、特に限定されないが、本実施形態では例えば食肉（ミンチ肉）である。物品Ｇの検査は、例えば収納数検査、異物検査、欠品検査、割れ欠け検査等である。

【0016】

検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１によってＸ線検査装置１に搬入される。検査後の物品Ｇは、搬出コンベア５２によってＸ線検査装置１から搬出される。Ｘ線検査装置１によって不良品と判定された物品Ｇは、搬出コンベア５２の下流に配置された振分装置（図示省略）によって生産ライン外に振り分けられる。Ｘ線検査装置１によって良品と判定された物品Ｇは、当該振分装置をそのまま通過する。振分装置は、Ｘ線検査装置１による画像検査で不良品と判定された被検査物（物品）を搬送路上から排除する装置である。

【0017】

装置本体２は、制御部１０等を収容している。支持脚３は、装置本体２を支持している。シールドボックス４は、装置本体２に設けられている。シールドボックス４は、外部へのＸ線の漏洩を防止する。シールドボックス４の内部には、Ｘ線による物品Ｇの検査が実施される検査領域Ｒが設けられている。シールドボックス４には、搬入口４ａ及び搬出口４ｂが形成されている。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１から搬入口４ａを介して検査領域Ｒに搬入される。検査後の物品Ｇは、検査領域Ｒから搬出口４ｂを介して搬出コンベア５２に搬出される。搬入口４ａ及び搬出口４ｂのそれぞれには、Ｘ線の漏洩を防止するＸ線遮蔽カーテン（図示省略）が設けられている。

【0018】

搬送部５は、物品Ｇを搬送する。搬送部５は、シールドボックス４の中央を貫通するように配置されている。搬送部５は、搬入口４ａから検査領域Ｒを介して搬出口４ｂまで、搬送方向Ａに沿って物品Ｇを搬送する。搬送部５は、例えば、搬入口４ａと搬出口４ｂとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。

【0019】

図１及び図２に示されるように、Ｘ線照射部６は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線照射部６は、搬送部５により搬送される物品ＧにＸ線を照射する。Ｘ線照射部６は、例えば、Ｘ線を出射するＸ線管と、Ｘ線管から出射されたＸ線を搬送方向Ａに垂直な面内において扇状に広げる絞り部と、を有している。Ｘ線照射部６から照射されるＸ線には、低エネルギー（長波長）から高エネルギー（短波長）までの様々なエネルギー帯のＸ線が含まれている。なお、上述した低エネルギー帯及び高エネルギー帯における「低」及び「高」は、Ｘ線照射部６から照射される複数のエネルギー帯の中で相対的に「低い」及び「高い」ことを示すものであり、特定の範囲を示すものではない。本実施形態では、Ｘ線照射部６は、少なくとも、低エネルギー帯に相当する第１エネルギー帯のＸ線（第１電磁波）と、当該第１エネルギー帯よりも高く、高エネルギー帯に相当する第２エネルギー帯のＸ線（第２電磁波）とを照射する。

【0020】

Ｘ線検出部７は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線検出部７は、Ｘ線照射部６により照射されて物品Ｇを透過したＸ線を、複数のエネルギー帯毎に検出する。本実施形態では、Ｘ線検出部７は、低エネルギー帯のＸ線及び高エネルギー帯のＸ線を検出するように構成されている。Ｘ線検出部７は、第１ラインセンサ１１及び第２ラインセンサ１２を有している。第１ラインセンサ１１及び第２ラインセンサ１２のそれぞれは、搬送方向Ａに垂直な水平方向に沿って一次元に配列された複数のＸ線検出素子によって構成されている。第１ラインセンサ１１は、物品Ｇ及び搬送部５の搬送ベルトを透過した低エネルギー帯のＸ線を検出する。第２ラインセンサ１２は、物品Ｇ、搬送部５の搬送ベルト及び第１ラインセンサ１１を透過した高エネルギー帯のＸ線を検出する。

【0021】

図１に示されるように、表示操作部８は、装置本体２に設けられている。表示操作部８は、各種情報を表示すると共に、各種条件の入力を受け付ける。表示操作部８は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、ユーザは、表示操作部８を介して各種条件を入力することができる。表示操作部８は、ユーザの入力を受け付ける入力部を構成する。

【0022】

制御部１０は、装置本体２内に配置されている。制御部１０は、Ｘ線検査装置１の各部（本実施形態では、搬送部５、Ｘ線照射部６、Ｘ線検出部７、及び表示操作部８、並びに、Ｘ線検査装置１の下流に配置される図示しない振分装置）の動作を制御する。制御部１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等のプロセッサ、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等のメモリ、及びＳＳＤ（Solid State Drive）等のストレージを備える。ＲＯＭには、Ｘ線検査装置１を制御するためのプログラムが記録されている。

【0023】

制御部１０には、Ｘ線検出部７の検出結果が入力される。本実施形態では、制御部１０には、Ｘ線検出部７の第１ラインセンサ１１から低エネルギー帯のＸ線の検出結果が入力されると共に、Ｘ線検出部７の第２ラインセンサ１２から高エネルギー帯のＸ線の検出結果が入力される。制御部１０は、Ｘ線検出部７により検出された複数のエネルギー帯毎のＸ線に基づいて、複数のＸ線透過画像を生成する。

【0024】

図３（ａ）に示されるように、制御部１０は、第１ラインセンサ１１の低エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、Ｘ線透過画像としての第１透過画像Ｐ１を生成する。図３（ｂ）に示されるように、制御部１０は、第２ラインセンサ１２の高エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、Ｘ線透過画像としての第２透過画像Ｐ２を生成する。第１透過画像Ｐ１と第２透過画像Ｐ２とのそれぞれには、物品Ｇと当該物品Ｇ以外の背景とが少なくとも映し出されている。図３（ａ）に示す一例のように、第１透過画像Ｐ１は、第２透過画像Ｐ２と比較して全体的に暗くなっている。一方、図３（ｂ）に示す一例のように、第２透過画像Ｐ２は、第１透過画像Ｐ１と比較して全体的に明るくなっている。第１透過画像Ｐ１と第２透過画像Ｐ２との明るさの比較は、第１透過画像Ｐ１に表示される物品Ｇの明るさと第２透過画像Ｐ２に表示される物品Ｇの明るさとの比較に相当する。

【0025】

制御部１０は、第１透過画像Ｐ１及び第２透過画像Ｐ２に対して、サブトラクション処理を含む画像処理を実施することにより、第１透過画像Ｐ１と第２透過画像Ｐ２との差異を抽出した差分画像を生成する。例えば制御部１０は、第１透過画像Ｐ１と第２透過画像Ｐ２との間で物品Ｇに対応する部分の輝度値（濃淡値）を合わせ、これらの各画素の輝度値の差分を計算する差分処理を行い、異物に対応する画素の輝度値と異物に対応しない画素の輝度値との差異が大きくなるように加工された差分画像を取得する。ここでの制御部１０は、画像処理アルゴリズムを用い、第１透過画像Ｐ１及び第２透過画像Ｐ２の少なくとも一方に対して画像処理を実施してもよい。

【0026】

画像処理アルゴリズムは、１つの画像処理フィルタ、又は、複数の画像処理フィルタの組み合わせによって構成される。画像処理アルゴリズムは、インターネット等のネットワークを介して外部から取得することができる。画像処理アルゴリズムは、ＵＳＢメモリ又はリムーバブルハードディスク等の外部記憶媒体から取得することもできる。画像処理アルゴリズムは、生物界における遺伝及び進化のメカニズムを応用した手法である遺伝的アルゴリズム（GA＝Genetic Algorithms）を採用して、Ｘ線検査装置１の仕様又は検査条件等に基づき複数の画像処理フィルタから自動生成することができる。画像処理アルゴリズムは、ユーザが表示操作部８を介して適宜設定することもできる。

【0027】

図４は、差分画像の輝度分布の一例を模式的に示すグラフである。図４において、縦軸は輝度に対応し、横軸は搬送方向Ａに沿う位置（差分画像の各画素）に対応する。制御部１０は、生成された差分画像に基づいて、物品Ｇに含まれる異物の有無に関する検査を行う。制御部１０は、差分画像における輝度分布に基づいて、異物を検出する。制御部１０は、第１閾値を用いて物品Ｇよりも比重が重い第１異物を検出すると共に、第１閾値とは異なる第２閾値を用いて物品Ｇよりも比重が軽い第２異物を検出する。具体的には、制御部１０は、差分画像の輝度分布において第１閾値よりも大きい輝度値がある場合に、第１異物を検出する。制御部１０は、差分画像の輝度分布において第２閾値よりも小さい輝度値がある場合に、第２異物を検出する。

【0028】

図４に示されるように、第１閾値は、物品Ｇに対応する輝度値である基準輝度値よりも大きい輝度値である。基準輝度値は、例えば０であって、差分画像の背景にも対応する。第１閾値は、第１異物の有無の判定用の異物判定閾値である。第２閾値は、第２異物の有無の判定用の異物判定閾値である。第２閾値は、基準輝度値よりも小さい輝度値である。第１閾値及び第２閾値は、表示操作部８を介して個別に設定可能である。第１閾値及び第２閾値は、物品Ｇの性質に応じて、試験等によって適宜設定されてもよい。例えば第１閾値の絶対値は、第２閾値の絶対値よりも大きくてもよい。

【0029】

第１異物は、例えば物品Ｇに埋もれるような金属等であり、物品Ｇの元素よりも重い元素で構成される。第１異物は、例えば差分画像において明るく映る部分に対応する。第２異物は、例えば物品Ｇの外表面に貼り付くようなプラスチック等であり、物品Ｇの元素よりも軽い元素で構成される。第２異物は、例えば差分画像において暗く映る部分に対応する。制御部１０は、異物の検査結果を記憶部に記憶させる。制御部１０は、Ｘ線透過画像生成部及び検査部を構成する。

【0030】

図４に示される例では、差分画像の輝度分布において、輝度値が第１閾値よりも大きくなっており（つまり、差分画像に顕著に明るい部分が存在しており）、そこに第１異物が含まれると判定できる。また、差分画像の輝度分布において、輝度値が第２閾値よりも小さくなっており（つまり、差分画像に顕著に暗い部分が存在しており）、そこに第２異物が含まれると判定できる。なお、差分画像の輝度分布において、輝度値が第１閾値以下で第２閾値以上の場合（つまり、差分画像の明るさが背景と同様な明るさの場合）、そこには異物が無いと判定できる。

【0031】

次に、Ｘ線検査装置１により実施されるＸ線検査方法の一例について、説明する。

【0032】

第１エネルギー帯及び第２エネルギー帯のＸ線を、搬送中の物品Ｇに照射する。具体的には、搬送部５によってシールドボックス４内にて搬送中の物品Ｇに対して、Ｘ線照射部６により第１エネルギー帯及び第２エネルギー帯のＸ線を照射し、当該Ｘ線をＸ線検出部７により検出する。続いて、制御部１０により、第１エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて第１透過画像Ｐ１を生成すると共に、第２エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて第２透過画像Ｐ２を生成する。

【0033】

続いて、制御部１０により、第１透過画像Ｐ１及び第２透過画像Ｐ２に対するサブトラクション処理を含む画像処理を実施し、第１透過画像Ｐ１と第２透過画像Ｐ２との差異を抽出した差分画像を生成する。制御部１０により、差分画像の輝度分布において、第１閾値よりも大きい輝度値があるか否かを判定し、第１閾値よりも大きい輝度値が存在する場合に第１異物を検出する。これと共に、制御部１０により、差分画像の輝度分布において、第２閾値よりも小さい輝度値があるか否かを判定し、第１閾値よりも小さい輝度値が存在する場合に第２異物を検出する。そして、制御部１０により、当該判定結果を記憶させる。なお、物品Ｇに第１異物及び第２異物の少なくとも何れかが含まれると判定された場合、当該物品Ｇは、不良品と判定され、振分装置（図示省略）によって生産ライン外に振り分けられる。

【0034】

以上、Ｘ線検査装置１において、差分画像では、物品Ｇよりも比重が重い第１異物が明るく映り、物品Ｇよりも比重が軽いプラスチック等の第２異物については、それとは反対に暗く映ることが見出される。そこで、Ｘ線検査装置１では、差分画像に基づく異物検査の閾値を２つ設け、そのうちの一方である第１閾値を用いて第１異物を検出すると共に、他方の第２閾値を用いて第２異物を検出することができる。すなわち、物品Ｇよりも比重が重い異物と物品Ｇよりも比重が軽い異物との双方を検出可能となる。

【0035】

Ｘ線検査装置１は、ユーザの入力を受け付ける表示操作部８を備え、第１閾値及び第２閾値は、表示操作部８を介して個別に設定可能である。この場合、第１閾値及び第２閾値のそれぞれを所望に設定することができ、様々な第１異物及び第２異物の検出に容易に対応可能となる。

【0036】

Ｘ線検査装置１では、制御部１０は、差分画像における輝度分布に基づいて、異物を検出する。この場合、差分画像の輝度分布を利用して第１異物及び第２異物の双方を検出することができる。

【0037】

Ｘ線検査装置１では、第１閾値は、物品Ｇに対応する基準輝度値よりも大きい輝度値であり、第２閾値は、基準輝度値よりも小さい輝度値である。制御部１０は、差分画像の輝度分布において第１閾値よりも大きい輝度値がある場合に、第１異物を検出すると共に、差分画像の輝度分布において第２閾値よりも小さい輝度値がある場合に、第２異物を検出する。この場合、差分画像の輝度分布を具体的に利用して、第１異物及び第２異物の双方を検出することができる。

【0038】

以上、実施形態について説明してきたが、本発明の一態様は上記実施形態に限定されず、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。

【0039】

上記実施形態では、第１閾値及び第２閾値は特に限定されず、種々の値であってもよい。上記実施形態では、第１閾値及び第２閾値の少なくとも一方は、固定値であってもよいし、他のパラメータに応じて変動する変動値であってもよい。上記実施形態では、差分画像の輝度分布において第１閾値よりも大きい輝度値がある場合に第２異物を検出すると共に、差分画像の輝度分布において第２閾値よりも小さい輝度値がある場合に第１異物を検出してもよい。

【0040】

上記実施形態では、第１閾値及び第２閾値は、基準輝度値よりも大きい輝度値であってもよい。この場合、制御部１０は、差分画像の輝度分布において第１閾値よりも大きい輝度値がある場合に第１異物及び第２異物の何れか一方を検出し、差分画像の輝度分布の正負を反転させ、当該輝度分布において第２閾値よりも大きい輝度値がある場合に第１異物及び第２異物の何れか他方を検出してもよい。或いは、第１閾値及び第２閾値は、基準輝度値よりも小さい輝度値であってもよい。この場合、制御部１０は、差分画像の輝度分布において第１閾値よりも小さい輝度値がある場合に第１異物及び第２異物の何れか一方を検出し、差分画像の輝度分布の正負を反転させ、当該輝度分布において第２閾値よりも小さい輝度値がある場合に第１異物及び第２異物の何れか他方を検出してもよい。このような変形例においても、差分画像の輝度分布を具体的に利用して、第１異物及び第２異物の双方を検出することが可能となる。

【0041】

上記実施形態では、Ｘ線検出部７は、２つの帯域のＸ線を検出するように構成されているが、これに限られない。例えば、Ｘ線検出部７は、３つ以上の帯域のＸ線を検出するように構成されてもよい。この場合、Ｘ線検出部７は、３つ以上の帯域のＸ線を用いて物品Ｇに含まれる異物の有無を判定してもよい。

【0042】

上記実施形態では、Ｘ線検査装置１が制御部１０を有するが、これに限られない。例えば、制御部１０の少なくとも一部の機能は、Ｘ線検査装置１に対して有線通信又は有線通信可能な外部の制御装置（ラップトップＰＣ、タブレット。サーバ等）に実装されてもよい。上記実施形態又は上記変形例における各構成は、他の実施形態又は他の変形例における各構成に任意に適用することができる。

【符号の説明】

【0043】

１…Ｘ線検査装置、３…支持脚、４…シールドボックス、４ａ…搬入口、４ｂ…搬出口、５…搬送部、６…Ｘ線照射部、７…Ｘ線検出部、８…表示操作部（入力部）、１０…制御部（Ｘ線透過画像生成部，検査部）、１１…第１ラインセンサ、１２…第２ラインセンサ、Ａ…搬送方向、Ｇ…物品、Ｐ１…第１透過画像、Ｐ２…第２透過画像。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】