特開2023-113253IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

ＭＳ／ＭＳ分析が可能である質量分析装置、及び該質量分析装置における質量分析方法

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】CE値数が異なる場合でも積算マススペクトルのパターンの変化を小さくする。
【解決手段】本発明の一態様は、コリジョンセル（１７）と、プロダクトイオンを質量分析する質量分離部（２０～２３）と、を含む測定部（１）を具備し、MS/MS分析を実行可能である質量分析装置であって、CE値の範囲及びCE値の個数を含む条件に対応して、CES法における複数のCE値を決定するものであって、個数がn+1（但しnは３以上の任意の整数）であるときのn+1個のCE値を、該個数がnであるときのn個のCE値にそれらとは異なる１個のCE値を加えたものとするように、n+1個のCE値を決定するCES法条件決定部（３２１）と、CEをCES法条件決定部において決定されたn+1個のCE値に順次変化させつつ、各CE値の下でのMS/MS分析を実行するように測定部を制御する分析制御部（３０）と、各々得られた異なるCE値の下でのマススペクトルを積算して積算マススペクトルを取得するデータ処理部（３３）と、を備える。
【選択図】図１

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ＣＥＳ法では様々なＣＥ値の下でのマススペクトルを積算することが望ましいものの、その際のＣＥ値の個数（ＣＥ値の変化の段数）はマススペクトルの積算回数や測定時間等の分析条件の制約を受ける。従来の質量分析装置において、ＣＥＳ法の際のＣＥ値は、分析条件の一つとして直接的又は間接的に指定されるＣＥ値の範囲（下限値～上限値）を、スペクトル積算回数やＣＥＳ法による測定に割り当てられた時間などの制約によって決まるＣＥ値個数で除すことにより決定される。例えば、ＣＥ値範囲が20～50Ｖであって、ＣＥ値個数が5である場合、ＣＥＳ法におけるＣＥ値（Ｖ）は、20、27.5、35、42.5、50の５段階である。また、同じＣＥ値範囲でＣＥ値個数が4である場合には、ＣＥＳ法におけるＣＥ値（Ｖ）は、20、30、40、50の４段階である。なお、ＣＥ値の単位はeVを用いることもあるが、慣用的にコリジョンエネルギーを与える電圧で示されることが多いため、ここでは単位をＶで統一している。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するためになされた本発明に係る質量分析方法の一態様は、イオンを解離させるコリジョンセルと、解離により生成されたプロダクトイオンを質量分析する質量分離部と、を含む測定部を具備し、ＭＳ／ＭＳ分析を実行可能である質量分析装置を用い、コリジョンエネルギーを複数段階に変化させつつそれぞれ得られたマススペクトルを積算して積算マススペクトルを取得するコリジョンエネルギースプレッド法を実行する・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る質量分析方法及び質量分析装置の態様によれば、ＣＥＳ法を実行する際に、ＣＥ値の範囲内におけるＣＥ値個数が異なる場合であっても、共通であるＣＥ値が多いため、積算マススペクトルのスペクトルパターンの相違を小さく抑えることできる。それにより、例えば、積算マススペクトルのデータベースを利用したパターンマッチング等による化合物同定を、高い精度で以て行うことができる。また、異なる試料に対する積算マススペクトル同士の比較が行い易くなる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一実施形態であるＱ－ＴＯＦ型質量分析装置の要部の構成図。
【図2】 本実施形態の質量分析装置におけるＣＥ値個数とＣＥ値との関係の一例を示す図。
【図3】 従来の質量分析装置におけるＣＥ値個数とＣＥ値との関係の一例を示す図。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

１…測定部 １０…真空チャンバー １０１…イオン化室 １０２…第１中間真空室 １０３…第２中間真空室 １０４…第１高真空室 １０５…第２高真空室 １１…ＥＳＩプローブ １２…脱溶媒管 １３、１５、１８、１９…イオンガイド １４…スキマー １６…四重極マスフィルター １７…コリジョンセル ２０…直交加速部 ２１…飛行空間 ２２…フライトチューブ ２３…リフレクトロン ２４…イオン検出器 ３…制御・処理部 ３０…分析制御部 ３１…分析条件設定部 ３２…ＣＥＳ法実行条件決定部 ３２０…ＣＥ値個数決定部 ３２１…ＣＥ値決定部 ３３…データ処理部 ４…入力部 ５…表示部

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