特開 2023-113415 分析システム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023113415

(43)【公開日】2023-08-16

(54)【発明の名称】分析システム

(51)【国際特許分類】

   G01N 30/86 20060101AFI20230808BHJP

   G01N 30/02 20060101ALI20230808BHJP

   G01N 30/06 20060101ALI20230808BHJP

   G01N 30/04 20060101ALI20230808BHJP

【ＦＩ】

G01N30/86 J

G01N30/02 Z

G01N30/06 C

G01N30/04 P

【審査請求】未請求

【請求項の数】7

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022015772

(22)【出願日】2022-02-03

(71)【出願人】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】100108523

【弁理士】

【氏名又は名称】中川 雅博

(74)【代理人】

【識別番号】100125704

【弁理士】

【氏名又は名称】坂根 剛

(74)【代理人】

【識別番号】100187931

【弁理士】

【氏名又は名称】澤村 英幸

(72)【発明者】

【氏名】湯川 大輝

(57)【要約】

【課題】適切な条件で試料を測定することが可能な分析システムを提供する。
【解決手段】試料供給部により供給された試料が検出器により検出される。標準試料の濃度と標準試料の検出強度との関係を示す検量線が検量線取得部３により取得される。検出器により出力された試料の検出強度が設定されたしきい値より大きいか否かが判定部５により判定される。試料の検出強度がしきい値より大きい場合、当該検出強度としきい値とに基づいて試料の希釈率が決定部６により決定される。試料の検出強度がしきい値以下である場合、当該検出強度と検量線取得部３により取得された検量線とに基づいて試料の濃度が処理部により定量される。試料は、決定部６により決定された希釈率で試料供給部により希釈されて供給される。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

試料を供給する試料供給部と、
前記試料供給部により供給された試料を検出し、試料の検出強度を出力する検出部と、
標準試料の濃度と標準試料の検出強度との関係を示す検量線を取得する検量線取得部と、
前記検出部により出力された試料の検出強度が設定されたしきい値より大きいか否かを判定する判定部と、
試料の検出強度が前記しきい値より大きい場合、当該検出強度と前記しきい値とに基づいて試料の希釈率を決定する決定部と、
試料の検出強度が前記しきい値以下である場合、当該検出強度と前記検量線取得部により取得された検量線とに基づいて試料の濃度を定量する処理部とを備え、
前記試料供給部は、前記決定部により決定された前記希釈率で試料を希釈して供給する、分析システム。

【請求項2】

前記検量線取得部により取得された検量線における標準試料の検出強度の最大値に基づいて前記しきい値を設定する設定部をさらに備える、請求項１記載の分析システム。

【請求項3】

前記しきい値の指定を受け付け、受け付けられた前記しきい値を設定する設定部をさらに備える、請求項１記載の分析システム。

【請求項4】

前記決定部は、試料の検出強度に対する前記しきい値の比を前記希釈率として決定する、請求項１～３のいずれか一項に記載の分析システム。

【請求項5】

試料の第１の分析シーケンスを示す第１のバッチファイルを取得するバッチ取得部と、
前記第１の分析シーケンスに従って前記試料供給部および前記検出部の動作を制御する測定実行部とをさらに備える、請求項１～４のいずれか一項に記載の分析システム。

【請求項6】

前記測定実行部は、前記第１の分析シーケンス中に、前記判定部により試料の検出強度が前記しきい値より大きいと判定されるごとに、当該試料を前記決定部により決定された前記希釈率で希釈して供給するように前記試料供給部を制御し、前記試料供給部により希釈されて供給された試料を検出するように前記検出部を制御する、請求項５記載の分析システム。

【請求項7】

前記第１の分析シーケンスにおいて、前記判定部によりいずれかの試料の検出強度がしきい値より大きいと判定された場合、当該試料の第２の分析シーケンスを示す第２のバッチファイルを生成するバッチ生成部をさらに備え、
前記測定実行部は、前記第１の分析シーケンスの終了後に、前記第２の分析シーケンスに従って、検出強度が前記しきい値より大きいと判定された試料を、前記決定部により決定された前記希釈率で希釈して供給するように前記試料供給部を制御し、前記試料供給部により希釈されて供給された試料を検出するように前記検出部を制御する、請求項５記載の分析システム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、分析システムに関する。

【背景技術】

【0002】

クロマトグラフ等の分析装置を用いた試料の測定においては、既知の濃度を有する複数の試料（標準試料）が検出されることにより、標準試料の濃度と、標準試料の検出強度との関係を示す検量線が生成される。また、未知の濃度を有する試料（未知試料）が検出される。標準試料を用いて生成された検量線と、未知試料の検出強度とに基づいて、未知試料の濃度が定量される（例えば特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０２１－０１２１７０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

分析装置における試料の測定には比較的長い作業時間を要するので、測定担当者の負担が大きい。そのため、近年、分析業界では、アルバイトワーカ等の単純労働者に測定を担当させることが増加している。この場合、分析装置の管理者は、分析装置を操作することなく、分析担当者が取得した測定結果を検討することにより試料の分析を行うことができる。

【0005】

しかしながら、測定担当者は分析装置についての知識を十分に有していないため、分析装置において適切な条件で試料が測定された否かを判断できないことが多い。適切な条件で試料が測定されなかった場合、試料を正確に分析することができない。そこで、適切な条件で試料を測定することが可能な分析システムを開発することが求められる。

【0006】

本発明の目的は、適切な条件で試料を測定することが可能な分析システムを提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一態様は、試料を供給する試料供給部と、前記試料供給部により供給された試料を検出し、試料の検出強度を出力する検出部と、標準試料の濃度と標準試料の検出強度との関係を示す検量線を取得する検量線取得部と、前記検出部により出力された試料の検出強度が設定されたしきい値より大きいか否かを判定する判定部と、試料の検出強度が前記しきい値より大きい場合、当該検出強度と前記しきい値とに基づいて試料の希釈率を決定する決定部と、試料の検出強度が前記しきい値以下である場合、当該検出強度と前記検量線取得部により取得された検量線とに基づいて試料の濃度を定量する処理部とを備え、前記試料供給部は、前記決定部により決定された前記希釈率で試料を希釈して供給する、分析システムに関する。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、適切な条件で試料を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】本発明の実施の形態に係る分析システムの構成を示す図である。

【図2】図１の分析制御部の構成を示す図である。

【図3】検量線の一例を示す図である。

【図4】参考例における試料の定量処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。

【図5】図２の分析制御部による試料の定量処理の一例を示すフローチャートである。

【図6】図２の分析制御部による試料の定量処理の一例を示すフローチャートである。

【図7】変形例における分析制御部の構成を示す図である。

【図8】変形例における試料の定量処理の一例を示すフローチャートである。

【図9】変形例における試料の定量処理の一例を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0010】

（１）分析システムの構成
以下、本発明の一実施の形態に係る分析システムについて図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の実施の形態に係る分析システムの構成を示す図である。図１に示すように、分析システム３００は、制御装置１００および分析装置２００を備える。

【0011】

制御装置１００は、例えばパーソナルコンピュータであり、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１１０、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）１２０、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）１３０、記憶部１４０、操作部１５０、表示部１６０および入出力Ｉ／Ｆ（インターフェイス）１７０およびバス１８０により構成される。ＣＰＵ１１０、ＲＡＭ１２０、ＲＯＭ１３０、記憶部１４０、操作部１５０、表示部１６０および入出力Ｉ／Ｆ１７０はバス１８０に接続される。

【0012】

ＲＡＭ１２０は、例えば揮発性メモリからなり、ＣＰＵ１１０の作業領域として用いられる。ＲＯＭ１３０は、例えば不揮発性メモリからなる。ＲＯＭ１３０にはシステムプログラムが記憶される。ＣＰＵ１１０、ＲＡＭ１２０およびＲＯＭ１３０により分析制御部１０が構成される。分析制御部１０の詳細については後述する。

【0013】

記憶部１４０は、ハードディスクまたは半導体メモリ等の記憶媒体を含む。記憶部１４０には、試料の分析シーケンスを示すバッチファイルおよび分析装置２００の制御プログラム等が記憶される。バッチファイルまたは制御プログラム等は、記憶部１４０とは異なる記憶媒体に記憶されていてもよい。ＣＰＵ１１０が記憶部１４０等に記憶された制御プログラムをＲＡＭ１２０上で実行することにより、バッチファイルに従う試料の定量処理が行われる。

【0014】

操作部１５０は、キーボード、マウスまたはタッチパネル等の入力デバイスである。表示部１６０は、液晶表示部等の表示デバイスである。分析システム３００の使用者は、操作部１５０を操作することにより制御装置１００に各種指定を行うことができる。表示部１６０は、試料の測定により得られた検量線またはクロマトグラム等の分析結果を表示可能である。入出力Ｉ／Ｆ１７０は、分析装置２００に接続される。

【0015】

本例では、分析装置２００は液体クロマトグラフであり、移動相供給部２１０、試料供給部２２０、分離カラム２３０および検出器２４０を含む。移動相供給部２１０は、例えば送液ポンプを含み、水溶液または有機溶媒等の移動相を圧送する。移動相供給部２１０は、複数の送液ポンプおよびグラジエントミキサを含み、移動相のグラジエント送液を行ってもよい。

【0016】

試料供給部２２０は、例えばオートサンプラであり、移動相供給部２１０により供給された移動相とともに試料を分離カラム２３０に供給する。試料は、既知の濃度を有する標準試料と、未知の濃度を有する未知試料とを含む。また、試料供給部２２０に試料の希釈率が設定されている場合には、試料供給部２２０は、試料を供給する際に、移動相と同一の成分を有する希釈液を用いて、設定された希釈率で試料を希釈する。

【0017】

分離カラム２３０は、図示しないカラム恒温槽の内部に収容され、所定の一定温度に調整される。分離カラム２３０は、導入された試料を化学的性質または組成の違いにより成分ごとに分離する。検出器２４０は、例えばＰＤＡ（フォトダイオードアレイ）またはＵＶ（紫外線）検出器である。検出器２４０は、質量分析計であってもよい。検出器２４０は、分離カラム２３０により分離された試料の成分を検出し、検出強度を出力する。

【0018】

（２）制御装置の構成
図２は、図１の分析制御部１０の構成を示す図である。図２に示すように、分析制御部１０は、機能部として、バッチ取得部１、測定実行部２、検量線取得部３、設定部４、判定部５、決定部６および処理部７を含む。図１のＣＰＵ１１０が記憶部１４０等に記憶された制御プログラムを実行することにより、分析制御部１０の機能部が実現される。分析制御部１０の機能部の一部または全てが電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。

【0019】

バッチ取得部１は、操作部１５０からの指定に基づいて、記憶部１４０等に記憶されたバッチファイルを取得する。使用者は、操作部１５０を操作することにより、試料の測定に用いる所望のバッチファイルをバッチ取得部１に指定することができる。測定実行部２は、バッチ取得部１により取得されたバッチファイルに従って、分析装置２００の移動相供給部２１０、試料供給部２２０、分離カラム２３０（カラム恒温槽）および検出器２４０の動作を制御する。

【0020】

検量線取得部３は標準試料の濃度と標準試料の検出強度との関係を示す検量線を取得する。図３は、検量線の一例を示す図である。図３において、横軸は標準試料の濃度を示し、縦軸は標準試料の検出強度を示す。本例では、分析装置２００において、バッチファイルにより示される分析シーケンスに従って、複数の標準試料が検出器２４０により順次検出される。検量線取得部３は、検出器２４０から出力される各標準試料の検出強度と、各標準試料の濃度とに基づいて図３の検量線を生成する。

【0021】

設定部４は、試料の検出強度についてのしきい値を設定する。本例では、設定部４は、検量線取得部３により取得された図３の検量線における標準試料の検出強度の最大値に基づいてしきい値を設定する。この場合、試料を適切に希釈するためのしきい値を容易に設定することができる。例えば、しきい値は、標準試料の検出強度の最大値であってもよいし、標準試料の検出強度の最大値よりも所定量だけ小さい値であってもよいし、標準試料の検出強度の最大値の所定割合だけ小さい値であってもよい。

【0022】

あるいは、図２に一点鎖線で示すように、設定部４は、設定すべきしきい値の指定を操作部１５０から受け付けてもよい。この場合、使用者は、操作部１５０を操作することにより任意のしきい値を設定部４に指定することができる。この構成においては、検量線取得部３により取得された図３の検量線における標準試料の検出強度の最小値以上でかつ最大値以下の値がしきい値として指定されることが好ましい。

【0023】

分析装置２００において、バッチファイルにより示される分析シーケンスに従って、未知試料が検出器２４０により検出される。判定部５は、検出器２４０により出力された未知試料の検出強度を取得する。また、判定部５は、取得された未知試料の検出強度が設定部４により設定されたしきい値より大きいか否かを判定する。

【0024】

決定部６は、判定部５により未知試料の検出強度がしきい値より大きいと判定された場合、当該検出強度としきい値とに基づいて未知試料の希釈率を決定する。本例では、未知試料の検出強度に対するしきい値の比が希釈率として決定される。この場合、未知試料を容易にかつ適切に希釈することができる。決定部６は、決定された希釈率を分析装置２００の試料供給部２２０に設定する。これにより、試料供給部２２０は、設定された希釈率で未知試料を希釈して供給することとなる。

【0025】

処理部７は、判定部５により未知試料の検出強度がしきい値以下であると判定された場合、当該検出強度と検量線取得部３により取得された検量線とに基づいて、未知試料の濃度を定量する。また、処理部７は、分析装置２００の分離カラム２３０における未知試料の保持時間と、未知試料の検出強度とに基づいてクロマトグラムをさらに生成してもよい。

【0026】

（３）参考例
図４は、参考例における試料の定量処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。以下、図１の分析システム３００、図２の分析制御部１０および図４のフローチャートを用いて参考例における試料の定量処理の一例を説明する。

【0027】

まず、バッチ取得部１は、バッチファイルが指定されたか否かを判定する（ステップＳ１）。バッチファイルが指定されない場合、バッチ取得部１はバッチファイルが指定されるまで待機する。バッチファイルが指定された場合、バッチ取得部１は、指定されたバッチファイルを記憶部１４０等から取得する（ステップＳ２）。その後、ステップＳ２で取得されたバッチファイルが示すステップＳ３～Ｓ１５の分析シーケンスが順次実行される。

【0028】

具体的には、測定実行部２は、第１の濃度を有する第１の標準試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ３）。これにより、分析装置２００において、移動相供給部２１０は移動相を供給し、試料供給部２２０は移動相供給部２１０により供給された移動相とともに第１の標準試料を分離カラム２３０に供給する。検出器２４０は、分離カラム２３０を通過した第１の標準試料を検出し、検出強度を出力する。

【0029】

同様に、測定実行部２は、第２の濃度を有する第２の標準試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ４）。測定実行部２は、第３の濃度を有する第３の標準試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ５）。測定実行部２は、第４の濃度を有する第４の標準試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ６）。検量線取得部３は、ステップＳ３～Ｓ６で検出器２４０によりそれぞれ出力された第１～第４の標準試料の検出強度と、第１～第４の濃度とに基づいて、図３の検量線を取得する（ステップＳ７）。

【0030】

次に、測定実行部２は、第１の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ８）。この場合、分析装置２００において、移動相供給部２１０は移動相を供給し、試料供給部２２０は移動相供給部２１０により供給された移動相とともに第１の未知試料を分離カラム２３０に供給する。検出器２４０は、分離カラム２３０を通過した第１の未知試料を検出し、検出強度を出力する。続いて、処理部７は、ステップＳ７で取得された検量線と、ステップＳ８で検出器２４０により出力された第１の未知試料の検出強度とに基づいて、第１の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ９）。

【0031】

同様に、測定実行部２は、第２の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ１０）。処理部７は、検量線と、ステップＳ１０で出力された第２の未知試料の検出強度とに基づいて、第２の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ１１）。

【0032】

また、測定実行部２は、第３の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ１２）。処理部７は、検量線と、ステップＳ１２で出力された第３の未知試料の検出強度とに基づいて、第３の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ１３）。

【0033】

さらに、測定実行部２は、第４の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ１４）。処理部７は、検量線と、ステップＳ１４で出力された第４の未知試料の検出強度とに基づいて、第４の未知試料の濃度を定量し（ステップＳ１５）、試料の定量処理を終了する。

【0034】

上記の定量処理によれば、第１～第４の未知試料の濃度を定量することができる。しかしながら、ステップＳ８，Ｓ１０，Ｓ１２，Ｓ１４で出力された第１～第４の未知試料の検出強度がステップＳ７で取得された図３の検量線における標準試料の検出強度の最小値と最大値との間にあるとは限らない。第１～第４の未知試料の検出強度が標準試料の検出強度の最大値よりも大きい場合、検量線の直線性が担保されない。そのため、ステップＳ９，Ｓ１１，Ｓ１３，Ｓ１５で第１～第４の未知試料の濃度を正確に定量することができない。

【0035】

（４）定量処理
図５および図６は、図２の分析制御部１０による試料の定量処理の一例を示すフローチャートである。図５の定量処理は、図１のＣＰＵ１１０が記憶部１４０等に記憶された制御プログラムをＲＡＭ１２０上で実行することにより行われる。以下、図１の分析システム３００、図２の分析制御部１０ならびに図５および図６のフローチャートを用いて本実施の形態における試料の定量処理の一例を説明する。

【0036】

本実施の形態における定量処理では、まず、図４のステップＳ１，Ｓ２とそれぞれ同様のステップＳ１，Ｓ２が実行される。これにより、ステップＳ２で取得されたバッチファイルが示すステップＳ３～Ｓ１５の分析シーケンスが実行される。ここで、本実施の形態においては、バッチファイルが示す分析シーケンス中に以下のステップＳ７ａ、ステップＳ８ａ，８ｂ、ステップＳ１０ａ，１０ｂ、ステップＳ１２ａ，１２ｂおよびステップＳ１４ａ，１４ｂが適宜実行される。

【0037】

具体的には、ステップＳ２の後、図４のステップＳ３～Ｓ７とそれぞれ同様のステップＳ３～Ｓ７が順次実行される。ステップＳ７の後、設定部４は、ステップＳ７で取得された検量線における標準試料の検出強度の最大値に基づいて、試料の検出強度についてのしきい値を設定する（ステップＳ７ａ）。なお、設定部４は、操作部１５０を通して使用者により指定された値を試料の検出強度についてのしきい値として設定してもよい。この場合、ステップＳ７ａは、ステップＳ７より前の時点で実行されてもよい。

【0038】

次に、測定実行部２は、図４のステップＳ８と同様に、第１の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ８）。判定部５は、ステップＳ８で検出器２４０により出力された第１の未知試料の検出強度がステップＳ７ａで設定されたしきい値より大きいか否かを判定する（ステップＳ８ａ）。

【0039】

第１の未知試料の検出強度がしきい値より大きい場合、決定部６は、当該検出強度としきい値とに基づいて第１の未知試料の希釈率を決定し（ステップＳ８ｂ）、ステップＳ８に戻る。これにより、ステップＳ８ｂで決定された希釈率が分析装置２００の試料供給部２２０に設定される。また、ステップＳ８において、希釈された第１の未知試料が再度測定される。この際に測定される試料の量は、希釈前に測定される試料の量と同じである。第１の未知試料の検出強度がしきい値以下になるまで、ステップＳ８～Ｓ８ｂが繰り返される。

【0040】

ステップＳ８ａで、第１の未知試料の検出強度がしきい値以下である場合、処理部７は、図４のステップＳ９と同様に、ステップＳ７で取得された検量線と、ステップＳ８で検出器２４０により出力された第１の未知試料の検出強度とに基づいて、第１の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ９）。

【0041】

同様に、測定実行部２は、第２の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ１０）。判定部５は、ステップＳ１０で検出器２４０により出力された第２の未知試料の検出強度がステップＳ７ａで設定されたしきい値より大きいか否かを判定する（ステップＳ１０ａ）。

【0042】

第２の未知試料の検出強度がしきい値より大きい場合、決定部６は、当該検出強度としきい値とに基づいて第２の未知試料の希釈率を決定し（ステップＳ１０ｂ）、ステップＳ１０に戻る。第２の未知試料の検出強度がしきい値以下である場合、処理部７は、ステップＳ７で取得された検量線と、ステップＳ１０で検出器２４０により出力された第２の未知試料の検出強度とに基づいて、第２の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ１１）。

【0043】

測定実行部２は、第３の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ１２）。判定部５は、ステップＳ１２で検出器２４０により出力された第３の未知試料の検出強度がステップＳ７ａで設定されたしきい値より大きいか否かを判定する（ステップＳ１２ａ）。

【0044】

第３の未知試料の検出強度がしきい値より大きい場合、決定部６は、当該検出強度としきい値とに基づいて第３の未知試料の希釈率を決定し（ステップＳ１２ｂ）、ステップＳ１２に戻る。第３の未知試料の検出強度がしきい値以下である場合、処理部７は、ステップＳ７で取得された検量線と、ステップＳ１２で検出器２４０により出力された第３の未知試料の検出強度とに基づいて、第３の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ１３）。

【0045】

測定実行部２は、第４の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ１４）。判定部５は、ステップＳ１４で検出器２４０により出力された第４の未知試料の検出強度がステップＳ７ａで設定されたしきい値より大きいか否かを判定する（ステップＳ１４ａ）。

【0046】

第４の未知試料の検出強度がしきい値より大きい場合、決定部６は、当該検出強度としきい値とに基づいて第４の未知試料の希釈率を決定（ステップＳ１４ｂ）し、ステップＳ１４に戻る。第４の未知試料の検出強度がしきい値以下である場合、処理部７は、ステップＳ７で取得された検量線と、ステップＳ１４で検出器２４０により出力された第４の未知試料の検出強度とに基づいて、第４の未知試料の濃度を定量し（ステップＳ１５）、試料の定量処理を終了する。

【0047】

（５）変形例
図７は、変形例における分析制御部１０の構成を示す図である。図７に示すように、分析制御部１０は、機能部として、バッチ生成部８をさらに含む。バッチ生成部８は、バッチファイルにより示される分析シーケンスにおいて、いずれかの未知試料の検出強度がしきい値より大きいと判定部５により判定された場合、当該未知試料の分析シーケンスを示す新たなバッチファイルを生成する。バッチ生成部８により新たに生成されたバッチファイルは、バッチ取得部１により取得されたバッチファイルに紐づけされる。

【0048】

測定実行部２は、バッチ取得部１により取得されたバッチファイルが示す分析シーケンスに従って分析装置２００の動作を制御する。当該分析シーケンスの終了後、バッチ生成部８により新たなバッチファイルが生成された場合、測定実行部２は、新たに生成されたバッチファイルに従って分析装置２００の動作を制御する。

【0049】

図８および図９は、変形例における試料の定量処理の一例を示すフローチャートである。以下、図１の分析システム３００、図７の分析制御部１０ならびに図８および図９のフローチャートを用いて変形例における試料の定量処理の一例を説明する。

【0050】

変形例における定量処理では、まず、図４のステップＳ１，Ｓ２とそれぞれ同様のステップＳ１，Ｓ２が実行される。これにより、ステップＳ２で取得されたバッチファイルが示すステップＳ３～Ｓ１５の分析シーケンスが実行される。ここで、変形例においては、ステップＳ２で取得されたバッチファイルが示す分析シーケンスの終了後、以下のステップＳ１６以降の処理が実行される。

【0051】

具体的には、ステップＳ１５の後、設定部４は、ステップＳ７で取得された検量線における標準試料の検出強度の最大値に基づいて、試料の検出強度についてのしきい値を設定する（ステップＳ１６）。ステップＳ１６は、ステップＳ１５より前の時点で実行されてもよい。また、設定部４は、操作部１５０を通して使用者により指定された値を試料の検出強度についてのしきい値として設定してもよい。この場合、ステップＳ１６は、ステップＳ７より前の時点で実行されてもよい。

【0052】

次に、判定部５は、ステップＳ８，Ｓ１０，Ｓ１２，Ｓ１４で検出器２４０により出力されたいずれかの未知試料の検出強度がステップＳ１６で設定されたしきい値より大きいか否かを判定する（ステップＳ１７）。全部の未知試料の検出強度がしきい値以下である場合、判定部５は、試料の定量処理を終了する。いずれかの未知試料の検出強度がしきい値より大きい場合、バッチ生成部８は、当該未知試料の分析シーケンスを示す新たなバッチファイルを生成する（ステップＳ１８）。ステップＳ１８で生成された新たなバッチファイルは、ステップＳ２で取得されたバッチファイルと紐づけられる。

【0053】

本例では、第１および第４の未知試料の検出強度がしきい値より大きいと判定されたとする。この場合、決定部６は、ステップＳ８で出力された第１の未知試料の検出強度としきい値とに基づいて第１の未知試料の希釈率を決定する（ステップＳ１９）。これにより、ステップＳ１９で決定された希釈率が分析装置２００の試料供給部２２０に設定される。続いて、測定実行部２は、ステップＳ１８で生成された新たなバッチファイルが示す分析シーケンスに従って、第１の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ２０）。

【0054】

この場合、分析装置２００において、移動相供給部２１０は移動相を供給し、試料供給部２２０は移動相供給部２１０により供給された移動相とともに第１の未知試料を設定された希釈率で希釈して分離カラム２３０に供給する。検出器２４０は、分離カラム２３０を通過した第１の未知試料を検出し、検出強度を出力する。その後、処理部７は、ステップＳ７で取得された検量線と、ステップＳ２０で検出器２４０により出力された第１の未知試料の検出強度とに基づいて、第１の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ２１）。

【0055】

同様に、決定部６は、ステップＳ１４で出力された第４の未知試料の検出強度としきい値とに基づいて第４の未知試料の希釈率を決定する（ステップＳ２２）。続いて、測定実行部２は、ステップＳ１８で生成された新たなバッチファイルが示す分析シーケンスに従って、第４の未知試料を測定するように分析装置２００の動作を制御する（ステップＳ２３）。その後、処理部７は、検量線と、ステップＳ２３で出力された第４の未知試料の検出強度とに基づいて、第４の未知試料の濃度を定量する（ステップＳ２４）。

【0056】

次に、判定部５は、ステップＳ２０，Ｓ２３で検出器２４０により出力されたいずれかの未知試料の検出強度がステップＳ１６で設定されたしきい値より大きいか否かを判定する（ステップＳ２５）。全部の未知試料の検出強度がしきい値以下である場合、判定部５は、試料の定量処理を終了する。いずれかの未知試料の検出強度がしきい値より大きい場合、バッチ生成部８は、ステップＳ１８と同様に、当該未知試料の分析シーケンスを示す新たなバッチファイルを生成する（ステップＳ２６）。以降、全部の未知試料の検出強度がしきい値以下となるまで、ステップＳ１９～Ｓ２５と同様の処理が繰り返される。

【0057】

（６）効果
試料供給部２２０により供給された未知試料の濃度が比較的高い場合には、検出器２４０により出力される未知試料の検出強度が過剰に大きくなることがある。本実施の形態に係る分析システム３００においては、このような場合、当該検出強度としきい値とに基づいて未知試料の希釈率が決定部６により決定される。また、未知試料は、決定された希釈率で試料供給部２２０により希釈されて供給される。

【0058】

この構成によれば、検出器２４０により出力される未知試料の検出強度が低減される。したがって、検量線取得部３により取得された検量線の直線性が担保される範囲の検出強度を用いて、試料の濃度を定量することが容易になる。その結果、測定担当者が分析装置２００についての知識を十分に有していない場合でも、適切な条件で未知試料を測定することができる。

【0059】

また、本実施の形態では、試料の分析シーケンスを示すバッチファイルがバッチ取得部１により取得され、当該分析シーケンスに従って分析装置２００の動作が測定実行部２により制御される。この場合、バッチファイルに基づいて、試料を容易に測定することができる。

【0060】

ここで、図５および図６の定量処理では、分析シーケンス中に、判定部５により未知試料の検出強度がしきい値より大きいと判定されるごとに、当該未知試料を決定部６により決定された希釈率で希釈して供給するように試料供給部２２０が制御される。また、試料供給部２２０により希釈されて供給された未知試料を検出するように検出器２４０が制御される。

【0061】

この定量処理によれば、分析シーケンス中にいずれかの未知試料の検出強度が過剰に大きくなった場合、分析シーケンス中に当該未知試料の希釈が行われる。これにより、分析シーケンス中に各未知試料を適切な条件で測定することができる。

【0062】

一方、図８および図９の定量処理では、分析シーケンスにおいて、判定部５によりいずれかの未知試料の検出強度がしきい値より大きいと判定された場合、当該未知試料の分析シーケンスを示す新たなバッチファイルがバッチ生成部８により生成される。先の分析シーケンスの終了後に、新たなバッチファイルが示す分析シーケンスに従って、検出強度がしきい値より大きいと判定された試料を、決定部６により決定された希釈率で希釈して供給するように試料供給部２２０が制御される。また、試料供給部２２０により希釈されて供給された試料を検出するように検出器２４０が制御される。

【0063】

この定量処理によれば、先の分析シーケンス中にいずれかの試料の検出強度が過剰に大きくなった場合、先の分析シーケンスの終了後に当該試料の希釈が行われる。これにより、先の分析シーケンスにおいて検出強度が過剰に大きくなった試料を新たなバッチファイルが示す分析シーケンス中に適切な条件で測定することができる。

【0064】

（７）他の実施の形態
（ａ）上記実施の形態において、検量線取得部３はバッチファイルにより示される分析シーケンスに従う標準試料の測定に基づいて検量線を取得するが、実施の形態はこれに限定されない。記憶部１４０等に検量線が記憶されている場合には、検量線取得部３は、記憶部１４０等から検量線を取得してもよい。

【0065】

（ｂ）上記実施の形態において、分析制御部１０は設定部４を含むが、実施の形態はこれに限定されない。試料の検出強度についてのしきい値が予め設定されている場合には、分析制御部１０は設定部４を含まなくてもよい。

【0066】

（ｃ）上記実施の形態において、決定部６は未知試料の検出強度に対するしきい値の比を試料の希釈率として決定するが、実施の形態はこれに限定されない。決定部６は、検出強度としきい値とに基づく他の演算を行うことにより試料の希釈率を決定してもよい。

【0067】

（８）態様
上記の複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0068】

（第１項）一態様に係る分析システムは、
試料を供給する試料供給部と、
前記試料供給部により供給された試料を検出し、試料の検出強度を出力する検出部と、
標準試料の濃度と標準試料の検出強度との関係を示す検量線を取得する検量線取得部と、
前記検出部により出力された試料の検出強度が設定されたしきい値より大きいか否かを判定する判定部と、
試料の検出強度が前記しきい値より大きい場合、当該検出強度と前記しきい値とに基づいて試料の希釈率を決定する決定部と、
試料の検出強度が前記しきい値以下である場合、当該検出強度と前記検量線取得部により取得された検量線とに基づいて試料の濃度を定量する処理部とを備え、
前記試料供給部は、前記決定部により決定された前記希釈率で試料を希釈して供給してもよい。

【0069】

この分析システムにおいては、試料供給部により供給された試料の濃度が比較的高いことにより、検出器により出力される試料の検出強度が過剰に大きくなった場合、当該検出強度としきい値とに基づいて試料の希釈率が決定部により決定される。また、試料は、決定された希釈率で試料供給部により希釈されて供給される。そのため、検出器により出力される試料の検出強度が低減される。したがって、検量線取得部により取得された検量線の直線性が担保される範囲の検出強度を用いて、試料の濃度を定量することが容易になる。その結果、適切な条件で試料を測定することができる。

【0070】

（第２項）第１項に記載の分析システムは、
前記検量線取得部により取得された検量線における標準試料の検出強度の最大値に基づいて前記しきい値を設定する設定部をさらに備えてもよい。

【0071】

この場合、試料を適切に希釈するためのしきい値を容易に設定することができる。

【0072】

（第３項）第１項に記載の分析システムは、
前記しきい値の指定を受け付け、受け付けられた前記しきい値を設定する設定部をさらに備えてもよい。

【0073】

この場合、任意のしきい値を設定することができる。

【0074】

（第４項）第１項～第３項のいずれか一項に記載の分析システムにおいて、
前記決定部は、試料の検出強度に対する前記しきい値の比を前記希釈率として決定してもよい。

【0075】

この場合、試料を容易にかつ適切に希釈することができる。

【0076】

（第５項）第１項～第４項のいずれか一項に記載の分析システムは、
試料の第１の分析シーケンスを示す第１のバッチファイルを取得するバッチ取得部と、
前記第１の分析シーケンスに従って前記試料供給部および前記検出部の動作を制御する測定実行部とをさらに備えてもよい。

【0077】

この場合、第１のバッチファイルに基づいて、試料を容易に測定することができる。

【0078】

（第６項）第５項に記載の分析システムにおいて、
前記測定実行部は、前記第１の分析シーケンス中に、前記判定部により試料の検出強度が前記しきい値より大きいと判定されるごとに、当該試料を前記決定部により決定された前記希釈率で希釈して供給するように前記試料供給部を制御し、前記試料供給部により希釈されて供給された試料を検出するように前記検出部を制御してもよい。

【0079】

この構成によれば、第１の分析シーケンス中にいずれかの試料の検出強度が過剰に大きくなった場合、第１の分析シーケンス中に当該試料の希釈が行われる。これにより、第１の分析シーケンス中に各試料を適切な条件で測定することができる。

【0080】

（第７項）第５項に記載の分析システムは、
前記第１の分析シーケンスにおいて、前記判定部によりいずれかの試料の検出強度がしきい値より大きいと判定された場合、当該試料の第２の分析シーケンスを示す第２のバッチファイルを生成するバッチ生成部をさらに備え、
前記測定実行部は、前記第１の分析シーケンスの終了後に、前記第２の分析シーケンスに従って、検出強度が前記しきい値より大きいと判定された試料を、前記決定部により決定された前記希釈率で希釈して供給するように前記試料供給部を制御し、前記試料供給部により希釈されて供給された試料を検出するように前記検出部を制御してもよい。

【0081】

この構成によれば、第１の分析シーケンス中にいずれかの試料の検出強度が過剰に大きくなった場合、第１の分析シーケンスの終了後に当該試料の希釈が行われる。これにより、第１の分析シーケンスにおいて検出強度が過剰に大きくなった試料を第２の分析シーケンス中に適切な条件で測定することができる。

【符号の説明】

【0082】

１…バッチ取得部，２…測定実行部，３…検量線取得部，４…設定部，５…判定部，６…決定部，７…処理部，８…バッチ生成部，１０…分析制御部，１００…制御装置，１１０…ＣＰＵ，１２０…ＲＡＭ，１３０…ＲＯＭ，１４０…記憶部，１５０…操作部，１６０…表示部，１７０…入出力Ｉ／Ｆ，１８０…バス，２００…分析装置，２１０…移動相供給部，２２０…試料供給部，２３０…分離カラム，２４０…検出器，３００…分析システム

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】