特開2023-114735信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023114735
(43)【公開日】2023-08-18
(54)【発明の名称】信号発生装置、レベル補正値算出システム、レベル補正値算出方法
(51)【国際特許分類】
H03G 3/12 20060101AFI20230810BHJP
H04B 17/00 20150101ALI20230810BHJP
【ＦＩ】
H03G3/12 D
H04B17/00 Z
【審査請求】有
【請求項の数】7
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022017216
(22)【出願日】2022-02-07
(71)【出願人】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001520
【氏名又は名称】弁理士法人日誠国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】小野 浩史
(72)【発明者】
【氏名】山下 紘司
(72)【発明者】
【氏名】伊藤 伸一
【テーマコード（参考）】
5J100
【Ｆターム（参考）】
5J100AA02
5J100AA14
5J100BA10
5J100CA29
5J100FA01
(57)【要約】
【課題】信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる信号発生装置を提供すること。
【解決手段】所定のデジタル信号を発生させる信号発生部２と、信号発生部２で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するＤＡコンバータ３と、ＤＡコンバータ３で変換されたアナログ信号を減衰させる可変減衰器４０、４２、４４、４６と、可変減衰器４０、４２、４４、４６で減衰され１つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部６と、可変減衰器４０、４２、４４、４６で減衰された信号を測定部６に伝達するInternal経路と、出力端子１０から出力させるExternal経路とを切り替えるスイッチ４８と、Internal経路で可変減衰器４０、４２、４４の減衰量の補正値を求め、External経路で可変減衰器４６の減衰量の補正値を求める制御部７と、を備える。
【選択図】図１
【解決手段】所定のデジタル信号を発生させる信号発生部２と、信号発生部２で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するＤＡコンバータ３と、ＤＡコンバータ３で変換されたアナログ信号を減衰させる可変減衰器４０、４２、４４、４６と、可変減衰器４０、４２、４４、４６で減衰され１つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部６と、可変減衰器４０、４２、４４、４６で減衰された信号を測定部６に伝達するInternal経路と、出力端子１０から出力させるExternal経路とを切り替えるスイッチ４８と、Internal経路で可変減衰器４０、４２、４４の減衰量の補正値を求め、External経路で可変減衰器４６の減衰量の補正値を求める制御部７と、を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
所定のデジタル信号を発生させる信号発生部（２）と、
前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するＤＡコンバータ（３）と、
前記ＤＡコンバータで変換された前記アナログ信号を減衰させる複数の可変減衰器（４０、４２、４４、４６）と、
前記可変減衰器で減衰され、１つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部（６）と、
前記可変減衰器で減衰された信号を前記測定部に伝達するInternal経路と、前記可変減衰器で減衰された信号を出力端子（１０）から出力させるExternal経路とを切り替えるスイッチ（４８）と、
前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部（７）と、を備え、
前記制御部は、前記複数の可変減衰器のうち、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器（４０、４２、４４）のステップエラー値は前記Internal経路により算出し、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器（４６）のステップエラー値は前記External経路により算出する信号発生装置。
前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するＤＡコンバータ（３）と、
前記ＤＡコンバータで変換された前記アナログ信号を減衰させる複数の可変減衰器（４０、４２、４４、４６）と、
前記可変減衰器で減衰され、１つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部（６）と、
前記可変減衰器で減衰された信号を前記測定部に伝達するInternal経路と、前記可変減衰器で減衰された信号を出力端子（１０）から出力させるExternal経路とを切り替えるスイッチ（４８）と、
前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部（７）と、を備え、
前記制御部は、前記複数の可変減衰器のうち、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器（４０、４２、４４）のステップエラー値は前記Internal経路により算出し、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器（４６）のステップエラー値は前記External経路により算出する信号発生装置。
【請求項2】
前記制御部は、前記Internal経路でのステップエラー値の算出では、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定部での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定部での測定値を第１の基準値とし、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を、前記第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とし、前記第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、前記信号発生部のゲインをプラスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を第２の基準値とし、前の測定値から前記第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とし、前記第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返して前記第１の可変減衰器の補正値を算出する請求項１に記載の信号発生装置。
【請求項3】
前記制御部は、前記External経路でのステップエラー値の算出では、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第２の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、前の測定時の測定値から前記変動量を減算した値を基準値とし、前記第２の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とし、前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返して前記第２の可変減衰器の補正値を算出する請求項１または請求項２に記載の信号発生装置。
【請求項4】
請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の信号発生装置（１）と、前記信号発生装置の出力する信号のレベルを検出して前記制御部に送信する測定装置と、を備えるレベル補正値算出システム。
【請求項5】
所定のデジタル信号を発生させる信号発生部（２）と、前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するＤＡコンバータ（３）と、前記ＤＡコンバータで変換された前記アナログ信号を減衰させる可変減衰器（４０、４２、４４、４６）と、前記可変減衰器で減衰され、１つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部（６）と、前記可変減衰器で減衰された信号を前記測定部に伝達するInternal経路と、前記可変減衰器で減衰された信号を出力端子（１０）から出力させるExternal経路とを切り替えるスイッチ（４８）と、前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部（７）と、を備える信号発生装置（１）のレベル補正値算出方法であって、
前記複数の可変減衰器のうち、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器（４０、４２、４４）のステップエラー値を前記Internal経路により算出するステップと、
前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器（４６）のステップエラー値を前記External経路により算出するステップと、を備えるレベル補正値算出方法。
前記複数の可変減衰器のうち、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器（４０、４２、４４）のステップエラー値を前記Internal経路により算出するステップと、
前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器（４６）のステップエラー値を前記External経路により算出するステップと、を備えるレベル補正値算出方法。
【請求項6】
前記Internal経路により算出するステップは、
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定部での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定部での測定値を第１の基準値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を、前記第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とするステップと、
前記第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをプラスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を第２の基準値とするステップと、
前の測定値から前記第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とするステップと、
前記第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、
これらのステップを繰り返して前記第１の可変減衰器の補正値を算出する請求項５に記載のレベル補正値算出方法。
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定部での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定部での測定値を第１の基準値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を、前記第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とするステップと、
前記第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、
前記信号発生部のゲインをプラスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を第２の基準値とするステップと、
前の測定値から前記第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とするステップと、
前記第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、
これらのステップを繰り返して前記第１の可変減衰器の補正値を算出する請求項５に記載のレベル補正値算出方法。
【請求項7】
前記External経路により算出するステップは、
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第２の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とするステップと、
前の測定時の測定値から前記変動量を減算した値を基準値とするステップと、
前記第２の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とするステップと、
前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、
これらのステップを繰り返して前記第２の可変減衰器の補正値を算出する請求項５または請求項６に記載のレベル補正値算出方法。
前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第２の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とするステップと、
前の測定時の測定値から前記変動量を減算した値を基準値とするステップと、
前記第２の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とするステップと、
前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、
これらのステップを繰り返して前記第２の可変減衰器の補正値を算出する請求項５または請求項６に記載のレベル補正値算出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、所望の周波数帯のアナログ信号を生成する信号発生装置に関する。
【背景技術】
【0002】
所望の周波数帯のアナログ信号を生成する信号発生装置として、例えば、信号発生器で発生されたデジタル信号を、ＤＡコンバータでアナログ信号に変換し、所望の周波数帯のアナログ信号を生成する信号発生装置が知られている。
【0003】
このような信号発生装置は、例えば、移動体通信端末の試験を行なう移動端末試験装置などに組み込まれ、試験用の信号を生成し、出力するようになっている。
【0004】
特許文献１には、ベースバンド信号発生部の出力信号に従ってローカル信号を変調する直交変調手段と、直交変調手段からの信号のレベルをステップで減衰させる可変ＡＴＴとを備え、直交変調手段から可変ＡＴＴの入力までの周波数応答特性を補正するための第１の補正値と、可変ＡＴＴの各ステップでの減衰量エラーを補正するための第２の補正値を記憶しておき、変調信号出力時にその周波数に対応した第１の補正値及び第２の補正値を基にベースバンド信号発生部に対して出力信号の大きさを可変させることにより補正する信号発生装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開２００８－２０５８１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
このように、可変減衰器の各ステップでの減衰量の補正値を求める場合、信号発生部のゲインと可変減衰器の減衰量を変えて測定を行なうが、信号発生部のゲインを大きく変えると、信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性が影響して、精度良く補正値を求めることができない。
【0007】
そこで、本発明は、信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる信号発生装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の信号発生装置は、所定のデジタル信号を発生させる信号発生部と、前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するＤＡコンバータと、前記ＤＡコンバータで変換された前記アナログ信号を減衰させる複数の可変減衰器と、前記可変減衰器で減衰され、１つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部と、前記可変減衰器で減衰された信号を前記測定部に伝達するInternal経路と、前記可変減衰器で減衰された信号を出力端子から出力させるExternal経路とを切り替えるスイッチと、前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部と、を備え、前記制御部は、前記複数の可変減衰器のうち、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器のステップエラー値は前記Internal経路により算出し、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器のステップエラー値は前記External経路により算出するものである。
【0009】
この構成により、スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器のステップエラー値はInternal経路で算出され、スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器のステップエラー値はExternal経路で算出され、スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響と、信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる。
【0010】
また、本発明の信号発生装置において、前記制御部は、前記Internal経路でのステップエラー値の算出では、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定部での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定部での測定値を第１の基準値とし、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を、前記第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とし、前記第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、前記信号発生部のゲインをプラスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を第２の基準値とし、前の測定値から前記第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とし、前記第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返して前記第１の可変減衰器の補正値を算出するものである。
【0011】
この構成により、第１の可変減衰器の補正値が所定の変動量ごとに算出され、信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる。
【0012】
また、本発明の信号発生装置において、前記制御部は、前記External経路でのステップエラー値の算出では、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第２の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、前の測定時の測定値から前記変動量を減算した値を基準値とし、前記第２の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とし、前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返して前記第２の可変減衰器の補正値を算出するものである。
【0013】
この構成により、第２の可変減衰器の補正値が所定の変動量ごとに算出され、信号発生部から出力端子までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる。
【0014】
また、本発明のレベル補正値算出システムは、前述したいずれかの信号発生装置と、前記信号発生装置の出力する信号のレベルを検出して前記制御部に送信する測定装置と、を備えるものである。
【0015】
この構成により、可変減衰器の補正値が所定の変動量ごとに算出され、信号発生部から出力端子までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる。
【0016】
また、本発明のレベル補正値算出方法は、所定のデジタル信号を発生させる信号発生部と、前記信号発生部で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数のアナログ信号に変換するＤＡコンバータと、前記ＤＡコンバータで変換された前記アナログ信号を減衰させる可変減衰器と、前記可変減衰器で減衰され、１つ以上の半導体部品を通過した信号のレベルを検出する測定部と、前記可変減衰器で減衰された信号を前記測定部に伝達するInternal経路と、前記可変減衰器で減衰された信号を出力端子から出力させるExternal経路とを切り替えるスイッチと、前記可変減衰器の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割した複数のステップそれぞれでの前記可変減衰器の減衰量の補正値であるステップエラー値を求める制御部と、を備える信号発生装置のレベル補正値算出方法であって、前記複数の可変減衰器のうち、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器のステップエラー値を前記Internal経路により算出するステップと、前記スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器のステップエラー値を前記External経路により算出するステップと、を備えるものである。
【0017】
この構成により、スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器のステップエラー値はInternal経路で算出され、スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器のステップエラー値はExternal経路で算出され、スイッチの切り替えによるインピーダンスの変化の影響と、信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる。
【0018】
また、本発明のレベル補正値算出方法において、前記Internal経路により算出するステップは、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの前記測定部での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とするステップと、前記信号発生部のゲインをマイナスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの前記測定部での測定値を第１の基準値とするステップと、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を、前記第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とするステップと、前記第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、前記信号発生部のゲインをプラスの前記変動量とし、前記第１の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの前記測定部での測定値を第２の基準値とするステップと、前の測定値から前記第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とするステップと、前記第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、これらのステップを繰り返して前記第１の可変減衰器の補正値を算出するものである。
【0019】
この構成により、第１の可変減衰器の補正値が所定の変動量ごとに算出され、信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる。
【0020】
また、本発明のレベル補正値算出方法において、前記External経路により算出するステップは、前記信号発生部のゲインをゼロとし、前記第２の可変減衰器での減衰量をゼロとしたときの測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とするステップと、前の測定時の測定値から前記変動量を減算した値を基準値とするステップと、前記第２の可変減衰器での減衰量を前の測定時の減衰量に前記変動量を加えた減衰量としたときの測定値を、前記基準値から減算した値を誤差値とするステップと、前記誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とするステップと、これらのステップを繰り返して前記第２の可変減衰器の補正値を算出するものである。
【0021】
この構成により、第２の可変減衰器の補正値が所定の変動量ごとに算出され、信号発生部から出力端子までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる。
【発明の効果】
【0022】
本発明は、信号発生部から測定部までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器の補正値を求めることができる信号発生装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0023】
【発明を実施するための形態】
【0024】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る信号発生装置について詳細に説明する。
【0025】
図１において、本発明の一実施形態に係る信号発生装置１は、信号発生部２と、ＤＡコンバータ（ＤＡＣ：Digital to Analog Converter）３と、ＲＦモジュール４と、ＡＤコンバータ（ＡＤＣ：Analog to Digital Converter）５と、測定部６と、制御部７とを含んで構成される。
【0026】
信号発生部２は、所定のデジタル信号を発生させて出力する。信号発生部２は、出力するデジタル信号のデジタルゲインを調整することができる。信号発生部２の出力するデジタル信号のデジタルゲインは、制御部７の制御により調整される。
【0027】
ＤＡコンバータ３は、信号発生部２で発生されたデジタル信号を所定の無線周波数（Radio Frequency）のアナログ信号に変換する。
【0028】
ＲＦモジュール４は、ＤＡコンバータ３が出力するアナログ信号のレベルを調整して出力端子１０から出力する。
【0029】
ＲＦモジュール４は、入力された信号のレベルを調整する可変減衰器４０、４２、４４、４６と、入力された信号を増幅するアンプ４１、４３、４５、４９と、可変減衰器４６が出力するアナログ信号を出力端子１０またはスイッチ４８に分配する分配器（Divider）４７と、分配器４７が出力するアナログ信号と入力端子１１に入力されるアナログ信号のいずれかを選択してアンプ４９に出力するスイッチ４８とを含んで構成される。
【0030】
可変減衰器４０、４２、４４、４６は、制御部７の制御により減衰量を変化させる。スイッチ４８は、制御部７の制御によりアンプ４９に出力する信号を切り替える。
【0031】
ＡＤコンバータ５は、入力端子１１に入力されたアナログ信号、またはＲＦモジュール４内で折り返したアナログ信号をデジタル信号に変換する。
【0032】
測定部６は、ＡＤコンバータ５が出力するデジタル信号のレベルなどを測定する。測定部６は、制御部７の制御により測定を行ない、測定結果を制御部７に送信する。
【0033】
制御部７は、例えば、コンピュータ装置によって構成される。このコンピュータ装置は、それぞれ図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＲＯＭ（Read Only Memory）と、ＲＡＭ（Random Access Memory）と、ハードディスク装置などの不揮発性の記憶媒体と、各種入出力ポートと、表示装置と、ポインティングデバイスやキーボード装置などの入力装置とを有する。
【0034】
このコンピュータ装置のＲＯＭ及びハードディスク装置には、コンピュータ装置を制御部７として機能させるためのプログラムが格納されている。すなわち、ＣＰＵがＲＡＭを作業領域としてＲＯＭに格納されたプログラムを実行することにより、当該コンピュータ装置は、制御部７として機能する。
【0035】
信号発生装置１は、図中Ａの点線で示す、信号発生部２が発生した信号を、ＲＦモジュール４でレベルを調整して出力端子１０から出力するExternal経路と、図中Ｂの点線で示す、信号発生部２が発生し、ＲＦモジュール４でレベル調整した信号を、ＲＦモジュール４で折り返してＡＤコンバータ５を介して測定部６に入力するInternal経路と、をスイッチ４８で切り替えることができるようになっている。
【0036】
本実施形態の可変減衰器４０、４２、４４、４６は、非線形の特性を有している。この非線形性を補正する必要があるが、信号発生部２のゲインを大きく変えると、信号発生部２から測定部６までの経路上にある半導体部品の非線形性が影響して、精度良く補正値を求めることができない。
【0037】
このため、本実施形態においては、可変減衰器４０、４２、４４、４６の減衰量の最大値を所定の減衰量である変動量で分割し、減衰量を変動量でステップ的に変化させたときの誤差をステップエラー値として算出し、減衰量の補正を行なう。
【0038】
例えば、可変減衰器４０、４２、４４、４６の設定可能な減衰量がゼロから３０ｄＢであり、最小分解能が１ｄＢである場合、可変減衰器４０、４２、４４、４６の減衰量を１ｄＢで分割し、減衰量を１ｄＢでステップ的に変化させたときの誤差をステップエラー値として算出する。
【0039】
また、本実施形態においては、出力端子１０に近い可変減衰器４６では、Internal経路とExternal経路を切り替えるスイッチ４８の切り替えによるインピーダンス変化が無視できない。このため、全ての可変減衰器４０、４２、４４、４６のステップエラー値をInternal経路で算出した場合、信号発生装置１全体としてのステップエラー値に誤差が生じてしまう。
【0040】
このため、本実施形態においては、出力端子１０から離れていて、スイッチ４８の切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい第１の可変減衰器のステップエラー値をInternal経路で算出し、出力端子１０に近く、スイッチ４８の切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい第２の可変減衰器のステップエラー値はExternal経路で算出することで、信号発生装置１全体としてのステップエラー値を期待値に近づける。
【0041】
本実施形態においては、例えば、可変減衰器４０、４２、４４を第１の可変減衰器とし、可変減衰器４６を第２の可変減衰器とする。
【0042】
制御部７は、信号発生部２が発生し、ＲＦモジュール４でレベル調整した信号を、ＲＦモジュール４で折り返すInternal経路を設定し、信号発生部２が発生する信号のゲインと、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を変化させ、ステップエラー値を算出する。
【0043】
制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量をゼロとしたときの測定部６での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とする。
【0044】
制御部７は、例えば、信号発生部２のゲインをマイナスの変動量とし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの測定部６での測定値を第１の基準値とする。
【0045】
制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定部６での測定値を、第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とする。
【0046】
制御部７は、第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とする。
【0047】
次に制御部７は、信号発生部２のゲインをプラスの変動量とし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定部６での測定値を第２の基準値とする。
【0048】
制御部７は、前の測定値から第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とする。
制御部７は、第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とする。
制御部７は、第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とする。
【0049】
次に制御部７は、信号発生部２のゲインをマイナスの変動量とし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの測定部６での測定値を第１の基準値とし、これらを繰り返し、各ステップでのステップエラー値を算出する。
【0050】
図２は、可変減衰器４０、４２、４４の設定可能な減衰量がゼロから３０ｄＢであり、最小分解能が１ｄＢである場合、可変減衰器４０、４２、４４の減衰量を１ｄＢで分割し、減衰量を１ｄＢでステップ的に変化させたときのステップエラー値の算出方法を示している。なお、ステップエラー値は、可変減衰器４０、４２、４４のそれぞれについて算出する。
【0051】
図２において、制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量をゼロとしたときの測定部６での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とする。
【0052】
制御部７は、信号発生部２のゲインを－１ｄＢとし、対象の可変減衰器の減衰量をゼロとしたときの測定部６での測定値を第１の基準値とする。
【0053】
制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた１ｄＢとしたときの測定部６での測定値を測定する。
【0054】
制御部７は、減衰量ゼロでのステップエラー値と、第１の基準値から今回の測定値を減算した値と、を加算した値を次のステップである減衰量１ｄＢでのステップエラー値とする。
【0055】
制御部７は、信号発生部２のゲインを１ｄＢとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた２ｄＢとしたときの測定部６での測定値を第２の基準値とする。
【0056】
制御部７は、前の測定値から、第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とし、第２の誤差値と、前のステップの減衰量１ｄＢでのステップエラーの値と、を加算した値を次のステップである減衰量２ｄＢでのステップエラー値とする。
【0057】
制御部７は、信号発生部２のゲインを－１ｄＢとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量である２ｄＢとしたときの測定部６での測定値を第１の基準値とする。
【0058】
制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた３ｄＢとしたときの測定部６での測定値を測定する。
【0059】
制御部７は、減衰量２ｄＢでのステップエラー値と、第１の基準値から今回の測定値を減算した値と、を加算した値を次のステップである減衰量３ｄＢでのステップエラー値とする。
【0060】
制御部７は、信号発生部２のゲインを１ｄＢとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた４ｄＢとしたときの測定部６での測定値を第２の基準値とする。
【0061】
制御部７は、前の測定値から、第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とし、第２の誤差値と、前のステップの減衰量３ｄＢでのステップエラー値と、を加算した値を次のステップである減衰量４ｄＢでのステップエラー値とする。
【0062】
制御部７は、このような処理を繰り返し、信号発生部２のゲインを－１ｄＢとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量である２８ｄＢとしたときの測定部６での測定値を第１の基準値とする。
【0063】
制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた２９ｄＢとしたときの測定部６での測定値を測定する。
【0064】
制御部７は、減衰量２８ｄＢでのステップエラー値と、第１の基準値から今回の測定値を減算した値と、を加算した値を次のステップである減衰量２９ｄＢでのステップエラー値とする。
【0065】
制御部７は、信号発生部２のゲインを１ｄＢとし、対象の可変減衰器の減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた３０ｄＢとしたときの測定部６での測定値を第２の基準値とする。
【0066】
制御部７は、前の測定値から、第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とし、第２の誤差値と、前のステップの減衰量２９ｄＢでのステップエラー値と、を加算した値を次のステップである減衰量３０ｄＢでのステップエラー値として、３０ｄＢまでのステップエラー値を算出する。
【0067】
制御部７は、信号発生部２が発生し、ＲＦモジュール４でレベル調整した信号を、出力端子１０から出力するExternal経路を設定し、出力端子１０に接続された外部の測定装置から測定値を取得し、可変減衰器４６での減衰量を変化させ、ステップエラー値を算出する。
【0068】
制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４６での減衰量をゼロとしたときの測定部６での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とする。
【0069】
制御部７は、例えば、前の測定時の測定値から変動量を減算した値を基準値とする。
制御部７は、可変減衰器４６での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定装置での測定値を、基準値から減算した値を誤差値とする。
制御部７は、可変減衰器４６での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定装置での測定値を、基準値から減算した値を誤差値とする。
【0070】
制御部７は、誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とする。
【0071】
次に制御部７は、前の測定時の測定値から１を減算した値を基準値とし、これらを繰り返し、各ステップでのステップエラー値を算出する。
【0072】
制御部７は、このようにして求めた可変減衰器４０、４２、４４のステップエラー値と、可変減衰器４６のステップエラー値を、各ステップで合計して信号発生装置１全体での各ステップのステップエラー値とする。
【0073】
以上のように構成された本実施形態に係る信号発生装置１によるInternal経路でのステップエラー算出処理について、図３を参照して説明する。なお、以下に説明するInternal経路でのステップエラー算出処理は、制御部７の入力装置への操作により、Internal経路でのステップエラー算出が選択されると開始される。
【0074】
ステップＳ１において、制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量をゼロとしたときの測定部６での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とする。ステップＳ１の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ２の処理を実行する。
【0075】
ステップＳ２において、制御部７は、信号発生部２のゲインをマイナスの変動量とし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの測定部６での測定値を第１の基準値とする。ステップＳ２の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ３の処理を実行する。
【0076】
ステップＳ３において、制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定部６での測定値を、第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とする。ステップＳ３の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ４の処理を実行する。
【0077】
ステップＳ４において、制御部７は、第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とする。ステップＳ４の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ５の処理を実行する。
【0078】
ステップＳ５において、制御部７は、信号発生部２のゲインをプラスの変動量とし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定部６での測定値を第２の基準値とする。ステップＳ５の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ６の処理を実行する。
【0079】
ステップＳ６において、制御部７は、前の測定値から第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とする。ステップＳ６の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ７の処理を実行する。
【0080】
ステップＳ７において、制御部７は、第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とする。ステップＳ７の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ８の処理を実行する。
【0081】
ステップＳ８において、制御部７は、可変減衰器４０、４２、４４の上限の減衰量までステップエラー値の算出を実施したか否かを判定する。
【0082】
上限の減衰量までステップエラー値の算出を実施したと判定した場合には、制御部７は、Internal経路でのステップエラー算出処理を終了する。上限の減衰量までステップエラー値の算出を実施していないと判定した場合には、制御部７は、ステップＳ２の処理を実行する。
【0083】
次に、本実施形態に係る信号発生装置１によるExternal経路でのステップエラー算出処理について、図４を参照して説明する。なお、以下に説明するExternal経路でのステップエラー算出処理は、制御部７の入力装置への操作により、External経路でのステップエラー算出が選択されると開始される。
【0084】
ステップＳ１１において、制御部７は、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４６での減衰量をゼロとしたときの測定装置での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とする。ステップＳ１１の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ１２の処理を実行する。
【0085】
ステップＳ１２において、制御部７は、前の測定時の測定値から変動量を減算した値を基準値とする。ステップＳ１２の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ１３の処理を実行する。
【0086】
ステップＳ１３において、制御部７は、可変減衰器４６での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定装置での測定値を、基準値から減算した値を誤差値とする。ステップＳ１３の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ１４の処理を実行する。
【0087】
ステップＳ１４において、制御部７は、誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とする。ステップＳ１４の処理を実行した後、制御部７は、ステップＳ１５の処理を実行する。
【0088】
ステップＳ１５において、制御部７は、可変減衰器４６の上限の減衰量までステップエラー値の算出を実施したか否かを判定する。
【0089】
上限の減衰量までステップエラー値の算出を実施したと判定した場合には、制御部７は、External経路でのステップエラー算出処理を終了する。上限の減衰量までステップエラー値の算出を実施していないと判定した場合には、制御部７は、ステップＳ１２の処理を実行する。
【0090】
このように、上述の実施形態では、制御部７は、スイッチ４８の切り替えによるインピーダンスの変化の影響が小さい可変減衰器４０、４２、４４のステップエラー値をInternal経路で算出し、スイッチ４８の切り替えによるインピーダンスの変化の影響が大きい可変減衰器４６のステップエラー値をExternal経路で算出する。
【0091】
これにより、スイッチ４８の切り替えによるインピーダンスの変化の影響と、信号発生部２から測定部６までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器４０、４２、４４、４６の補正値を求めることができる。
【0092】
また、制御部７は、Internal経路でのステップエラー値の算出では、可変減衰器４０、４２、４４の減衰量を所定の減衰量である変動量で分割し、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量をゼロとしたときの測定部６での測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、信号発生部２のゲインをマイナスの変動量とし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量としたときの測定部６での測定値を第１の基準値とし、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定部６での測定値を、第１の基準値から減算した値を第１の誤差値とし、第１の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、信号発生部２のゲインをプラスの変動量とし、可変減衰器４０、４２、４４での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定部６での測定値を第２の基準値とし、前の測定値から第２の基準値を減算した値を第２の誤差値とし、第２の誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返す。
【0093】
これにより、可変減衰器４０、４２、４４の補正値が所定の変動量ごとに算出され、信号発生部２から測定部６までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器４０、４２、４４の補正値を求めることができる。
【0094】
また、制御部７は、External経路でのステップエラー値の算出では、可変減衰器４６の減衰量を所定の減衰量である変動量で分割し、信号発生部２のゲインをゼロとし、可変減衰器４６での減衰量をゼロとしたときの測定値を減衰量ゼロでのステップエラー値とし、前の測定時の測定値から変動量を減算した値を基準値とし、可変減衰器４６での減衰量を前の測定時の減衰量に変動量を加えた減衰量としたときの測定値を、基準値から減算した値を誤差値とし、誤差値と、前のステップのステップエラー値と、を加算した値を次のステップのステップエラー値とし、これを繰り返す。
【0095】
これにより、可変減衰器４６の補正値が所定の変動量ごとに算出され、信号発生部２から出力端子１０までの経路上にある半導体部品の非線形性の影響を抑えて、精度良く可変減衰器４６の補正値を求めることができる。
【0096】
本発明の実施形態を開示したが、当業者によっては本発明の範囲を逸脱することなく変更が加えられうることは明白である。すべてのこのような修正及び等価物が次の請求項に含まれることが意図されている。
【符号の説明】
【0097】
１ 信号発生装置
２ 信号発生部
３ ＤＡコンバータ
４ ＲＦモジュール
５ ＡＤコンバータ
６ 測定部
７ 制御部
４０、４２、４４ 可変減衰器（第１の可変減衰器）
４６ 可変減衰器（第２の可変減衰器）
２ 信号発生部
３ ＤＡコンバータ
４ ＲＦモジュール
５ ＡＤコンバータ
６ 測定部
７ 制御部
４０、４２、４４ 可変減衰器（第１の可変減衰器）
４６ 可変減衰器（第２の可変減衰器）
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】