特開 2023-116855 測量用ターゲット及び測量方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023116855

(43)【公開日】2023-08-23

(54)【発明の名称】測量用ターゲット及び測量方法

(51)【国際特許分類】

   G01C 15/06 20060101AFI20230816BHJP

   G01C 15/00 20060101ALI20230816BHJP

【ＦＩ】

G01C15/06 T

G01C15/00 103Z

【審査請求】未請求

【請求項の数】6

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022019189

(22)【出願日】2022-02-10

(71)【出願人】

【識別番号】596118530

【氏名又は名称】テクノス株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100141243

【弁理士】

【氏名又は名称】宮園 靖夫

(72)【発明者】

【氏名】森田 栄治

(72)【発明者】

【氏名】齋藤 孝志

(72)【発明者】

【氏名】金田 潤太

(57)【要約】

【課題】測量機の自動視準の視準光束を満たす状態を可能とし、測定対象物を連続的に捕捉を可能とする測量用ターゲットを提供する。
【解決手段】測量対象物に設けられ、測量機からの光が照射され、該光を反射する反射面を有する測量用ターゲットであって、前記反射面は、再帰性反射構造体により構成された第１反射部と、再帰性反射構造体により構成され、前記第１反射部よりも反射率が低く、かつ、測量精度が高い第２反射部とを備え、前記第１反射部と、前記第２反射部とが同一方向に面するように、前記第１反射部の中央部に前記第２反射部、又は、前記第２反射部の中央部に前記第１反射部を備えた構成とした。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

測量対象物に設けられ、測量機からの光が照射され、該光を反射する反射面を有する測量用ターゲットであって、
前記反射面は、
再帰性反射構造体により構成された第１反射部と、
再帰性反射構造体により構成され、前記第１反射部よりも反射率が低く、かつ、測量精度が高い第２反射部と、を備え、
前記第１反射部と、前記第２反射部とが同一方向に面するように、
前記第１反射部の中央部に前記第２反射部、又は、前記第２反射部の中央部に前記第１反射部を備えた測量用ターゲット。

【請求項2】

前記第１反射部の輪郭形状及び前記第２反射部の輪郭形状は、点対称又は線対称の形状で構成された請求項１に記載の測量用ターゲット。

【請求項3】

前記反射面の裏面側に該測量用ターゲットを取り付けるための取付手段を備えた請求項１又は請求項２に記載の測量用ターゲット。

【請求項4】

前記取付手段がマグネットとされた請求項３に記載の測量用ターゲット。

【請求項5】

前記請求項１乃至請求項４いずれかに記載の測量用ターゲットを測量対象物に取り付け、撮像装置を備えた自動視準機能を有する測量機を用いて測量する測量方法であって、
前記測量機から前記測量用ターゲットに光を照射し、前記第１反射部から反射された光を受光して自動視準機能により測量機を前記測量用ターゲットに視準させる第１ステップと、
前記第１計測ステップにおいて獲得した光を前記撮像装置で取得し、画像診断により前記第２反射部の位置を特定し、自動視準機能により測量機を前記測量用ターゲットの前記第２反射部に視準させる第２ステップと、を含み、
前記第２ステップにおける視準により、前記第２反射部から反射された光に基づいて測量することを特徴とする測量方法。

【請求項6】

前記請求項１乃至請求項４いずれかに記載の測量用ターゲットを測量対象物に取り付け、自動視準機能を有する測量機を用いて測量する測量方法であって、
前記測量機から前記測量用ターゲットに光を照射し、前記第１反射部から反射された光を受光し、自動視準機能により測量機を前記測量用ターゲットに視準させる第１ステップと、
前記第１計測ステップにおいて獲得した光を前記第１反射部及び前記第２反射部から反射された反射光とし、当該反射光から前記第１反射部及び前記第２反射部による反射光の量の違いを計測することで第２反射部の位置を特定し、自動視準機能により測量機を前記第２反射部に視準させる第２ステップと、を含み、
前記第２ステップにおける視準により、前記第２反射部から反射された光に基づいて測量することを特徴とする測量方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、測量用ターゲット及び測量方法に関し、特に、自動視準機能を有する測量機による測量に好適な測量用ターゲット等に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、測地測量、土木工事測量および建築測量において、測定対象物の目標位置を測定者がトータルステーションおよびトランシットの望遠鏡を視準して捕捉していたが、自動視準機能の付いた測量機の出現により測定者の熟練度に関係がなく、目標位置を捕捉することが容易にできるようになった。測地測量、土木工事測量及び建築測量では、測定対象物の目標位置に、反射度の大きい反射シートや三角プリズム等の標的（ターゲット）を配置し、自動視準機能を有する測量機によりターゲットから反射された光を自動的に捕捉することでなされている。反射された光の強度は、目標物に対する視準線と、反射シートの反射面又はプリズム面とのなす角度により左右される。例えば、自動視準可能な角度は、反射シートでは約±２０°、三角プリズムで約±４５°の範囲がそれぞれ限界とされている。このため、近年では、特許文献１に開示されるような、全方向、３６０°の角度において自動視準可能な三角プリズムを主体とするターゲット装置が開発されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０２０－９８１７５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、自動視準可能な三角プリズムを主体とするターゲット装置は、非常に高価であり、破損しやすい構造となっており、取り扱いに注意が必要とされる。また、反射シートや三角プリズムは、前述のように自動視準可能な範囲に制限があるため、自動視準機能を生かすには、測量機械の位置を都度変更する必要が生じていた。測量機械の位置を変更する都度、測量機械の運搬、組み立て、整準操作などの作業が発生し、測定対象物の連続的な捕捉を阻害している。
本発明は、上記問題を解決するために、仰角及び伏角について従来よりも広い範囲に設置しても測量機の自動視準の視準光束を満たす状態を可能とし、測定対象物を連続的に捕捉を可能とする測量用ターゲットを提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0005】

上記課題を解決するための測量用ターゲットの構成として、測量対象物に設けられ、測量機からの光が照射され、該光を反射する反射面を有する平板状の測量用ターゲットであって、反射面は、再帰性反射構造体により構成された第１反射部と、再帰性反射構造体により構成され、第１反射部よりも反射率が低く、かつ、測量精度が高い第２反射部とを備え、第１反射部と第２反射部とが同一方向に面し、第２反射部が第１反射部の中央部、又は、第１反射部が第２反射部の中央部に備えた構成とした。
本構成によれば、仰角及び伏角について従来よりも広い範囲に測量用ターゲットを設置しても、測量機の自動視準の視準拘束を満たす状態とすることができ、広範囲に設置した測定対象物を連続的な補足を可能とすることができる。
また、測量用ターゲットの構成として、第１反射部の輪郭形状及び前記第２反射部の輪郭形状を点対称又は線対称の形状とすると良い。
また、測量用ターゲットの他の構成として、反射面の裏面側に該測量用ターゲットを取り付けるための取付手段を備える構成とすることにより、測量用ターゲットの設置作業を容易にすることができる。例えば、取付手段は、マグネットとすることで、測量用ターゲットの設置や移設を容易にすることができる。
また、請求項１乃至請求項４いずれかに記載の測量用ターゲットを測量対象物に取り付け、自動視準機能と撮像装置を有する測量機を用いて測量する測量方法として、測量機から測量用ターゲットに光を照射し、第１反射部から反射された光を獲得することによって自動視準機能により測量機を前記測量用ターゲットに視準させる第１ステップと、第１計測ステップにおいて獲得した光を前記撮像装置で取得し、画像診断により前記第２反射部の位置を特定し、自動視準機能により測量機を前記測量用ターゲットの前記第２反射部に視準させる第２ステップと、を含み、第２ステップにおける視準により、前記第２反射部から反射された光に基づいて測量するようにすると良い。
また、請求項１乃至請求項４いずれかに記載の測量用ターゲットを測量対象物に取り付け、自動視準機能を有する測量機を用いて測量する測量方法として、測量機から測量用ターゲットに光を照射し、前記第１反射部から反射された光を獲得し、自動視準機能により測量機を前記測量用ターゲットに視準させる第１ステップと、第１計測ステップにおいて獲得した光を前記第１反射部及び第２反射部から反射された反射光とし、当該反射光から第１反射部及び第２反射部による反射光の量の違いを計測することで第２反射部の位置を特定し、自動視準機能により測量機を前記第２反射部に視準させる第２ステップと、を含み、第２ステップにおける視準により、第２反射部から反射された光に基づいて測量すると良い。
このように測量することにより、仰角及び伏角について従来よりも広い範囲に測量用ターゲットを設置しても、測量機の自動視準の視準拘束を満たす状態とすることができ、広範囲に設置した測定対象物を連続的に補足できる。

【図面の簡単な説明】

【0006】

【図1】本実施形態に係る測量用ターゲットの一例を示す概略図である。

【図2】プリズム構造を有する再帰性反射構造体の一例を示す断面模式図である。

【図3】測量用ターゲットの他の形態を示す概略図である。

【発明を実施するための形態】

【0007】

以下、発明の実施形態を通じて本発明を詳説するが、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明される特徴の組み合わせのすべてが発明の解決手段に必須であるとは限らず、選択的に採用される構成を含むものである。

【0008】

図１は、本実施形態に係る測量用ターゲットの概略図である。測量用ターゲット（以下、単にターゲットという）１は、測定対象物とされる柱や、鉄骨等の構造物に取り付けられる。なお、測定対象物は、柱や鉄骨等の構造物に限定されない。

【0009】

図１に示すように、本実施形態に係る測量用ターゲット（以下、単にターゲットという）１は、平板状とされ、例えば、平面視において矩形（長方形）状に形成される。ターゲット１は、一方の面が測量機から発光された視準光を反射するための反射面部１ａ、他方の面が該ターゲット１を測定対象物に取り付けるための取付面部１ｂとして機能する。反射面部１ａ及び取付面部１ｂは、互いに平行な平面状とされている。

【0010】

反射面部１ａは、反射率の異なる２つの反射部２；４を有するように構成される。なお、以下の説明では、反射部２を第１反射部２、反射部４を第２反射部４という。図１（ａ）に示すように、本実施形態では、第２反射部４は、正方形状とされ、第１反射部２の中央部に設けられる。第２反射部４が第１反射部２の中央部に設けられるとは、例えば、第１反射部２の図心を視準点としたときに、第２反射部４の図心が第１反射部２の図心に一致するように配置されていることを言う。

【0011】

第１反射部２及び第２反射部４は、それぞれ再帰性反射構造体により構成される。再帰性反射構造体とは、入射した光を入射方向に反射可能に構成されたものを言う。即ち、第１，第２反射部２；４は、光源から受けた光をそのまま光源にはね返すように構成される。再帰性反射構造は、複数あるが、例えば、プリズム構造やビーズ構造等を挙げることができる。

【0012】

図２は、プリズム構造を有する再帰性反射構造体の一例を示す断面模式図である。例えば、プリズム構造で構成された再帰性反射構造体は、ベース層２０に透明な三角錐（プリズム）を底面が上になるようにして、緻密な配列したプリズム層２２を備え、このプリズム層２２の下面に形成されたプリズム形状の再帰性反射面２２ａに、ハーフミラー層２４を形成することで、三角錐の底面側から入射した光をプリズムの３面を使って反射させることで、光源に向けて反射させるように構成されている。

【0013】

第１反射部２及び第２反射部４は、それぞれ反射面部１ａに対して入射した視準光を同一の入射方向に反射するように構成される。また、第１反射部２は、第２反射部４を構成する再帰性反射構造体よりも反射率が高く、かつ、測量精度が低い再帰性反射構造体で構成される。換言すれば、第２反射部４は、第１反射部２を構成する再帰性反射構造体よりも反射率が低く、かつ、測量精度が高い再帰性反射構造体で構成されているとも言うことができる。

【0014】

第１反射部２が第２反射部４よりも反射率が高い、或いは、第２反射部４が第１反射部２よりも反射率が低いとは、第１反射部２及び第２反射部４における視準光の反射に関する特性の相対的な違いを意味する。ここでいう第１反射部２が第２反射部４よりも反射率が高いとは、例えば、ターゲット１に対して、測量機から発光する視準光の入射角θ（図２参照）を徐々に大きく変化させたときに、第２反射部４を構成する再帰反射構造体よりも第１反射部２を構成する再帰性反射構造体の方が大きな角度で入射しても測量機の自動視準を満たす輝度で反射可能な特性を有することを言う。

【0015】

また、第２反射部４が第１反射部２よりも測量精度が高い、或いは、第１反射部２が第２反射部４よりも測量精度が低いとは、第１反射部２と第２反射部４とにおける反射特性の違いを相対的な関係として言うものである。即ち、第２反射部４が第１反射部２よりも測量精度が高いとは、例えば、同一面積で形成された第１反射部２を構成する再帰反射構造体と、第２反射部４を構成する再帰反射構造体に対して、測量機から視準光を発光させたときの、入射光に対する反射光のずれ、即ち、経路のずれδが小さいことを言う。

【0016】

例えば、図２に示すようなプリズム構造の再帰反射構造体では、プリズム層２２を構成するプリズムの大きさが大きくなると経路のずれδが大きくなり、小さければ経路のずれδが小さくなると言える。つまり、プリズムの大きさが大きくなると測量精度が低くなり、プリズムの大きさが小さくなると測量精度が高くなるということができる。なお、ここで説明した測量精度の高低については、図２に示した構造の再帰反射構造体の場合であって、再帰反射構造体が他の構造で構成されたいる場合にはこの限りではない。

【0017】

図１（ｂ）に示すように、ターゲット１は、例えば、ベース部６の一面側に再帰性反射構造を有する第１反射部２及び第２反射部４を構成する反射シートを貼り付けることで構成することができる。ベース部６は、例えば、樹脂材、ポリエチレン材等を素材とする板材を利用することができる。
そして、ベース部６の一方の面の全体に第１反射部２として機能する反射シートを貼り付け、さらにこの第１反射部２の反射シートの上に、第２反射部４として機能する反射シートを重ねるように貼り付けることでターゲット１における反射面部１ａを構成することができる。
このように、ターゲット１は、簡単な構造で構成することができ、安価に作成することができる。

【0018】

図１（ｂ），（ｃ）に示すように、ターゲット１は、第１反射部２として機能する反射シートの上に、第２反射部４として機能する反射シートを貼り付けるものとして説明したが、これに限定されない。
例えば、図３に示すように、第２反射部４の図心が第１反射部２の図心に一致するように、第１反射部２に第２反射部４を収容可能とする収容部１０を設け、第２反射部４と第１反射部２とを一体的にしても良い。この場合、例えば、第１反射部２を構成する再帰性反射構造体の入射面と、第２反射部４を構成する再帰性反射構造体の入射面とが面一となるようにすると良い。

【0019】

ターゲット１（第１反射部２）の平面視における輪郭形状は、上記長方形状に限定されず、他の矩形、円形、三角形、ひし形等の点対称若しくは線対称の形状であればいずれの形状であっても良い。また、第２反射部４の平面視における輪郭形状は、上記正方形状に限定されず、他の矩形、円形、三角形、ひし形等の点対称若しくは線対称の形状であればいずれの形状であっても良い。

【0020】

取付面部１ｂには、ターゲット１を測定対象物に取り付け可能とするための図外の取付手段を予め設けておくと良い。取付手段は、例えば、接着剤、粘着テープ、マグネット等が挙げられ、測定対象物に応じて変更すれば良い。例えば、測定対象物が、コンクリート部材、木製部材、樹脂部材等の非鉄のものの場合には、接着剤や粘着テープが好適である。例えば、測定対象物が、鋼製構造部材等のように磁性体である場合にはマグネットが好適であり、ターゲット１の設置や取り外し、転用を容易にすることができる。

【0021】

［ターゲット１の使用方法］
ターゲット１を用いた測量方法について説明する。本実施形態に係るターゲット１は、例えば、自動視準機能を有する測量機を用いた測量に好適とされる。以下の説明では、測量機の一例として、撮像装置を備えた自動視準機能を有する測量機を用いたときの測量方法について説明する。

【0022】

測量機は、例えば、測量装置と、撮像装置と、姿勢調整装置と、測量制御装置と、表示装置とを備えた所謂トータルステーション等を利用することができる。

【0023】

測量部は、水準器を備え、角度を計測するセオドライトに光波測距儀を組み合わせて構成されたものであり、測量対象物に設けられたターゲット１を視準したときに、光波測距儀により得られる距離とセオドライトで得られる角度に基づいて算出した視準点の方位（水平角、鉛直角）とを含む測量データを出力する。測量データは、例えば、測量制御装置に出力可能とされる。

【0024】

撮像装置は、例えば、ＣＣＤ等の受光部を備え、測量部の視準方向と撮像装置の光軸方向を平行とし、測量部の視準方向と撮像装置による撮像画像の画像中心が所定の関係となるように測量部に固定されている。本実施形態では、視準方向が画像中心と一致するように調整され、撮像装置によって得られた画像の中心が視準方向に対応した画像が得られるように設定される。撮像装置により得られる画像は、例えば、測量部による測量処理と同期して測量制御装置に出力可能とされる。

【0025】

姿勢調整装置は、測量部及び撮像装置を水平軸周りに回転させる第１モータ及び垂直軸芯周りに回転させる第２モータと、各モータの駆動を制御するモータ制御部を備えて構成される。モータ制御部は、測量制御装置から入力される指令（信号）に基づいて、測量部の視準方向がターゲット１の中心と一致するように測量部の向きを調整する。姿勢調整装置は、例えば、ターゲット１に対する視準方向を自動追尾する自動追尾機能を備えているものであっても良い。

【0026】

測量制御装置は、ＣＰＵ、メモリ及び入出力手段などを備えた所謂コンピュータであって、自動視準機能を可能とするための処理を実行するとともに、測量部をターゲットに視準させるための処理を実行し、姿勢調整装置が測量部の向きを調整するための指令を信号として姿勢調整装置に出力する。測量制御装置は、測量部と一体に設けられていても良く、測量部と無線や有線の通信手段を介して別体に設けられていても良い。

【0027】

例えば、測量機の自動視準機能が、測量部における光波測距儀から発光され、ターゲット１で反射した視準光を光波測距儀の受光部により受光し、受光部において受光した視準光に基づいて構成されている場合、以下のように測量制御装置によって処理するように構成すると良い。以下の説明では、視準光の発光に際し、第１反射部２からの反射光は測量機の自動視準を可能とするものの、第２反射部４からの反射光では測量機の自動視準を不可能とされる位置にターゲット１が設けられているときの処理として説明する。

【0028】

まず、測量制御装置は、自動視準機能により測量部から視準光をターゲット１に向けて発光し、ターゲット１（第１反射部２）から反射した反射光に基づいて測量部をターゲット１に視準させる（ステップ１）。このときに視準した視準点を仮の視準点という。また、仮の視準点がターゲット１に設定された視準点に一致している必要はない。
次に、ステップ１においての視準したときに、ターゲット１から反射した反射光を撮像装置で受光し、取得した画像を、測量制御装置において画像解析することにより、当該画像における第２反射部４の視準点の位置を特定する（ステップ２）。
次に、ステップ１においてターゲット１を視準したときの仮の視準点の位置（座標）と、ステップ２において特定された第２反射部４の視準点の位置（座標）とのずれを算出する（ステップ３）。
次に、ステップ３において算出された位置のずれを補正すべく、測量部が第２反射部４の視準点を視準するように修正するための指令を姿勢調整装置に出力して、視準位置を補正する（ステップ４）。
次に、ステップ４において測量部が視準を補正した位置からターゲット１に向けて視準光を発光し、第２反射部４に基づく視準位置を計測する（ステップ５）。
これにより、視準点までの正確な距離と方位（水平角、鉛直角）とを測定することができる。
そして、ステップ５において計測された視準点までの距離と方位（水平角、鉛直角）とを測量結果として表示装置に表示すれば良い。

【0029】

ここで、ステップ２における画像解析は、例えば、撮像装置で得られた画像に対し、パターンマッチング等の画像処理を行うことで、ターゲット１の輪郭形状（長方形）の４つの角の位置を特定し、対角線の交点を視準点として算出すれば良い。また、ステップ１乃至ステップ２の処理の実現には、記憶手段に予めターゲット１の輪郭形状、即ち、第１反射部２の輪郭形状が長方形であること、第２反射部４の輪郭形状が正方形であること、さらにそれらの寸法や、第１反射部２に対する第２反射部４の位置関係などの情報を記憶させておけば良い。

【0030】

また、ステップ２における画像解析は、上記パターンマッチングに限定されず、他の方法であっても良い。例えば、機械学習に基づいてターゲット１の輪郭形状を取得するプログラムを記憶手段に記憶させて、ターゲット１の輪郭形状を取得するようにしても良い。

【0031】

なお、測量制御装置によって実行される自動視準機能が、測量部における光波測距儀から発光され、ターゲット１で反射してきた視準光を撮像装置により受光して取得した画像を、測量制御装置が画像処理することにより、視準光と撮像装置の光軸とを一致させるように姿勢調整装置を制御するものとして構成された測量機であっても良い。

【0032】

また、測量機が、撮像装置を備えていない場合には、測量制御装置において、次のように処理するように構成すると良い。
まず、測量制御装置は、自動視準機能により測量部から視準光を発光し、ターゲット１（主として第１反射部４）から反射した反射光として測量部をターゲット１に視準させる（ステップ１）。
次に、ステップ１において視準したときの反射光を、第１反射部２及び第２反射部４から反射された反射光と仮定し、この反射光について第１反射部２から反射されたものと第２反射部４から反射されたものとを光量の違いに基づいて第２反射部４の視準点の位置を特定する（ステップ２）。
次に、ステップ１においてターゲット１を視準したときの仮の視準点の位置（座標）と、ステップ２において特定された第２反射部４の視準点の位置（座標）とのずれを算出する（ステップ３）。
次に、ステップ３において算出された位置のずれを修正するための指令を姿勢調整装置に出力して、測量部の視準方向を補正する（ステップ４）。
次に、ステップ４において測量部が視準を補正した位置からターゲット１に向けて視準光を発光し、第２反射部４に基づく視準位置を計測する（ステップ５）。
これにより、視準点までの正確な距離と方位（水平角、鉛直角）とを測定することができる。
そして、ステップ５において計測された視準点までの距離と方位（水平角、鉛直角）とを測量結果として表示装置に表示すれば良い。

【0033】

なお、ステップ２の、第１反射部２から反射されたものと第２反射部４から反射されたものとを光量の違いに基づいて第２反射部４の視準点の位置を特定する処理は、例えば、自動視準機能の実行において測量部から発光し、ターゲット１で反射した視準光（反射光）を受光する受光部で受光した光の分布を、例えば、所定の光度を閾値として第１反射部２から反射されたものとされる領域と、第２反射部４から反射されたものとされる領域とに区分し、閾値よりも低い光量の領域を第２反射部４から反射されたものとし、さらにその領域の図心を求めるように測量制御装置において処理すれば良い。

【0034】

以上説明したように、測量用ターゲットにおいて、測量機からの光が照射され、該光を反射する反射面を再帰性反射構造体により構成された第１反射部と、再帰性反射構造体により構成され、前記第１反射部よりも反射率が低く、かつ、測量精度が高い第２反射部とを備え、第１反射部と第２反射部とが同一方向に面するように、第１反射部の中央部に第２反射部が位置するように設けることにより、測量時において、まず、第１反射部に基づいて測量機をターゲット１に対して大体の位置に視準させ、さらに第２反射部の図心（視準点）の位置を特定して、測量機の視準方向を補正することにより、仰角及び伏角について従来よりも広い範囲にターゲット１を設置しても測量機の自動視準の視準光束を満たす状態を可能とし、測定対象物の連続的な捕捉を可能とすることができる。

【0035】

なお、上記実施形態では、第２反射部４が、第１反射部２よりも反射率が低く、かつ、測量精度が高いとして説明したが、第１反射部２が、第２反射部４よりも反射率が低く、かつ、測量精度が高くても良い。

【0036】

また、本実施形態では、ターゲット１を平板状としたが、形状はこれに限定されず、例えば、半円筒状としたり適宜変更しても良い。

【0037】

本発明において肝要とされる点は、ターゲット１が測量機から照射される視準光を反射する反射面部１ａに複数の反射率が異なる反射部を備え、反射率が低い部分ほど、測量精度が高くなるように構成されていれば良い。

【符号の説明】

【0038】

１ 測量用ターゲット、１ａ 反射面部、１ｂ 取付面部、２；４ 反射部。

【図1】

【図2】

【図3】