特開 2023-118113 試験測定装置及び試験測定装置における方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023118113

(43)【公開日】2023-08-24

(54)【発明の名称】試験測定装置及び試験測定装置における方法

(51)【国際特許分類】

   G01R 23/16 20060101AFI20230817BHJP

   G01R 13/28 20060101ALI20230817BHJP

【ＦＩ】

G01R23/16 E

G01R13/28 A

G01R23/16 D

【審査請求】未請求

【請求項の数】12

【出願形態】ＯＬ

【外国語出願】

(21)【出願番号】P 2023019867

(22)【出願日】2023-02-13

(31)【優先権主張番号】63/309,477

(32)【優先日】2022-02-11

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(31)【優先権主張番号】18/108,483

(32)【優先日】2023-02-10

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(71)【出願人】

【識別番号】391002340

【氏名又は名称】テクトロニクス・インコーポレイテッド

【氏名又は名称原語表記】ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．

(74)【代理人】

【識別番号】100090033

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 博司

(74)【代理人】

【識別番号】100093045

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 良男

(72)【発明者】

【氏名】グレイ・ジェイ・ワルド

(57)【要約】

【課題】従来の装置では捕捉できなかった入力信号の時間ギャップを捉える。
【解決手段】試験測定装置１３００は、第１入力信号を受ける第１チャンネル入力部と、第２入力信号を受ける第２チャンネル入力部と、第１入力信号から第１スペクトログラムを生成すると共に第２入力信号から第２スペクトログラムを生成するためのスペクトログラム・プロセッサ１３２０と、第１スペクトログラムと第２スペクトログラムとを同時に表示する表示部１３１３とを有する。
【選択図】図１３

【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１入力信号を受け付ける第１チャンネル入力部と、
第２入力信号を受け付ける第２チャンネル入力部と、
上記第１入力信号から第１スペクトログラムを生成すると共に上記第２入力信号から第２スペクトログラムを生成するスペクトログラム・プロセッサと、
上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムとを同時に表示するディスプレイと
を具える試験測定装置。

【請求項2】

上記第１スペクトログラム及び上記第２スペクトログラムが、同じ周波数スパン又は異なる中心周波数を有する請求項１の試験測定装置。

【請求項3】

上記第１スペクトログラム及び上記第２スペクトログラムが、連続スペクトログラムである請求項１の試験測定装置。

【請求項4】

上記第１入力信号の一部から生成された第１スペクトル表示と、
上記第２入力信号の一部から生成された第２スペクトル表示と
を更に具え、
上記第１スペクトル表示が上記ディスプレイ上で上記第１スペクトログラムに隣接して表示され、上記第２スペクトル表示が上記ディスプレイ上で上記第２スペクトログラムに隣接して表示される請求項１の試験測定装置。

【請求項5】

第３入力信号を受ける第３チャンネル入力を更に具え、上記スペクトログラム・プロセッサは、上記第３入力信号から第３スペクトログラムを生成するように構成される請求項１の試験測定装置。

【請求項6】

上記ディスプレイが、第１入力信号からの個々のスペクトルを含まずに、上記第２入力信号と上記第３入力信号に基づく個別のスペクトルの組み合わせから生成されたスペクトル表示を表示するように構成される請求項５の試験測定装置。

【請求項7】

試験測定装置における方法であって、
第１入力チャンネルから第１入力信号を受ける処理と、
第２入力チャンネルから第２入力信号を受ける処理と、
上記第１入力信号から第１スペクトログラムを生成すると共に上記第２入力信号から第２スペクトログラムを生成する処理と、
上記第１スペクトログラム及び上記第２スペクトログラムを同時にディスプレイ上に表示する処理と
を具える方法。

【請求項8】

上記第１スペクトログラム及び上記第２スペクトログラムが、同じ周波数スパン又は異なる中心周波数を有する請求項７の試験測定装置における方法。

【請求項9】

上記第１スペクトログラム及び上記第２スペクトログラムが、連続スペクトログラムである請求項７の試験測定装置における方法。

【請求項10】

上記第１入力信号の一部から第１スペクトル表示を生成する処理と、
上記第２入力信号の一部から第２スペクトル表示を生成する処理と、
上記第１スペクトル表示を上記第１スペクトログラムに隣接して上記ディスプレイ上で表示する処理と、
上記第２スペクトル表示を上記第２スペクトログラムに隣接して上記ディスプレイ上で表示する処理と
を更に具える請求項７の試験測定装置における方法。

【請求項11】

第３入力チャンネルから第３入力信号を受ける処理と、
上記第３入力信号から第３スペクトログラムを生成する処理と
を更に具える請求項７の試験測定装置における方法。

【請求項12】

上記第１入力信号に基づく個別のスペクトルを含まずに、上記第２入力信号と上記第３入力信号に基づく個別のスペクトルの組み合わせからオーバーレイ・スペクトル表示を生成する処理と、
上記オーバーレイ・スペクトル表示をディスプレイ上に表示する処理と
を更に具える請求項１１の試験測定装置における方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、試験測定装置に関し、より詳細には、装置に入力された信号の様々なスペクトログラムを表示するためのディスプレイを有する試験測定装置に関する。

【背景技術】

【0002】

オシロスコープやスペクトル・アナライザなどの試験測定装置は、試験又は測定対象の入力信号の特性を測定してユーザに表示するので、ユーザは、目的の信号の特性を視覚化して検査できる。測定値には、電圧や電流などの時間領域の信号特性と、スペクトル・エネルギーやスペクトル・パワーなどの周波数領域の信号特性が含まれる。スペクトログラムは、時間の経過とともに変化する信号の特定の形式の周波数成分、即ち、スペクトル成分を示すグラフィック表示である。概して、スペクトログラムは、時間の経過とともに収集及び処理される、波形サンプルに由来する個々のスペクトル・トレースの集まりであり、互いに連結されて単一の画像が生成され、元のスペクトル・トレースから直交角度で表示されて、時間の経過とともに変化する入力波形の特定の特性又は品質をユーザが視覚化できるようにする。スペクトログラムの生成は、以下で更に詳細に説明される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特許第５０８５１０５号公報

【非特許文献】

【0004】

【非特許文献1】「6シリーズ B MSOミックスド・シグナル・オシロスコープ」の紹介サイト、テクトロニクス、［online］、［２０２３年２月１１日検索］、インターネット<https://www.tek.com/ja/products/oscilloscopes/6-series-mso>

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

従来、オシロスコープに見られるスペクトログラムは、多数の異なるアクイジション（信号データ取得）から組み立てられている。しかし、このアプローチには問題がある。第１に、スペクトログラムの各スライス間には時間ギャップ（gap：間隙）があり、この時間ギャップにおいて、ユーザは入力信号で何が起こっていたのかわからない。これは、各アクイジションの間に、オシロスコープには、常に「ブラインド（Blind：見えない）」時間があり、このとき、入力信号を全くアクイジションしていないからである。第２に、各スペクトルによって表される時間の量は、典型的には、各オシロスコープのアクイジションで取り込まれる時間全体のごく一部である。この時間スライスは、スペクトル時間と呼ばれる。

【0006】

単一のスペクトルは、アクイジション中にスペクトル時間を配置すれば、どこででも生成される。これら２つの制約のために、従来のスペクトログラムで表される実際の時間の量は、全体的な入力信号の挙動（activity）のごくわずかな割合に過ぎないことがある。多くのデバッグ・プロセスは、ユーザが指定した期間にわたって、信号の全ての挙動を表示できるが、これは、上記のアクイジション間の時間ギャップのために、現在の装置では不可能である。

【0007】

スペクトログラムを提供する既存のツールの別の制約は、現在の装置は、単一の入力チャンネルに関するスペクトログラムを提供するだけで、複数の入力信号から生成されたスペクトログラムを同時に表示できないことである。

【0008】

本開示による実施形態は、試験測定装置の分野におけるこれら及び他の制約に取り組むものである。

【課題を解決するための手段】

【0009】

以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

【0010】

実施例１は、試験測定装置であって、第１入力信号を受け付ける第１チャンネル入力部と、第２入力信号を受け付ける第２チャンネル入力部と、上記第１入力信号から第１スペクトログラムを生成すると共に上記第２入力信号から第２スペクトログラムを生成するスペクトログラム・プロセッサと、上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムとを同時に表示するディスプレイとを具える。

【0011】

実施例２は、実施例１による試験測定装置であって、上記ディスプレイ上で上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムとが垂直に揃っている。

【0012】

実施例３は、先行する実施例のいずれかに記載の試験測定装置であって、上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムが、同じ周波数スパンを有する。

【0013】

実施例４は、先行する実施例のいずれかに記載の試験測定装置であって、上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムが、異なる中心周波数を有する。

【0014】

実施例５は、先行する実施例のいずれかに記載の試験測定装置であって、上記第１スペクトログラム及び上記第２スペクトログラムは、連続スペクトログラムである。

【0015】

実施例６は、先行する実施例のいずれかに記載の試験測定装置であって、上記ディスプレイ上で上記第１スペクトログラムに隣接して表示される、上記第１入力信号の一部から生成されたスペクトル表示を更に具える。

【0016】

実施例７は、先行する実施例のいずれかに記載の試験測定装置であって、上記第１入力信号の一部から生成された第１スペクトル表示と、上記第２入力信号の一部から生成された第２スペクトル表示とを更に具え、上記第１スペクトル表示が上記ディスプレイ上で上記第１スペクトログラムに隣接して表示され、上記第２スペクトル表示が上記ディスプレイ上で上記第２スペクトログラムに隣接して表示される。

【0017】

実施例８は、実施例７による試験測定装置であって、上記第１スペクトログラム、上記第２スペクトログラム、上記第１スペクトル表示及び上記第２スペクトル表示の位置は、ユーザがディスプレイ上で独立して位置決め可能である。

【0018】

実施例９は、先行する実施例のいずれかに記載の試験測定装置であって、第３入力信号を受ける第３チャンネル入力を更に具え、上記スペクトログラム・プロセッサは、上記第３入力信号から第３スペクトログラムを生成するように構成される。

【0019】

実施例１０は、実施例９による試験測定装置であって、上記ディスプレイが、第１入力信号からの個々のスペクトルを含まずに、上記第２入力信号と上記第３入力信号に基づく個別のスペクトルの組み合わせから生成されたスペクトル表示を表示するように構成される。

【0020】

実施例１１は、試験測定装置における方法であって、この方法は、第１入力チャンネルから第１入力信号を受ける処理と、第２入力チャンネルから第２入力信号を受ける処理と、上記第１入力信号から第１スペクトログラムを生成すると共に上記第２入力信号から第２スペクトログラムを生成する処理と、上記第１スペクトログラム及び上記第２スペクトログラムを同時にディスプレイ上に表示する処理とを具える。

【0021】

実施例１２は、実施例１１による方法であって、上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムとを上記ディスプレイ上で垂直に揃える。

【0022】

実施例１３は、先行する実施例の方法のいずれかに記載の方法であって、上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムが同じ周波数スパンを有する。

【0023】

実施例１４は、先行する実施例の方法のいずれかによる方法であって、上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムが異なる中心周波数を有する。

【0024】

実施例１５は、先行する実施例の方法のいずれかによる方法であって、上記第１スペクトログラムと上記第２スペクトログラムが連続スペクトログラムである。

【0025】

実施例１６は、先行する実施例の方法のいずれかによる方法であって、上記第１入力信号の一部からスペクトル表示を生成する処理と、上記スペクトル表示を上記第１スペクトログラムに隣接して上記ディスプレイ上で表示する処理とを更に具える。

【0026】

実施例１７は、先行する実施例の方法のいずれかによる方法であって、上記第１入力信号の一部から第１スペクトル表示を生成する処理と、上記第２入力信号の一部から第２スペクトル表示を生成する処理と、上記第１スペクトル表示を上記第１スペクトログラムに隣接して上記ディスプレイ上で表示する処理と、上記第２スペクトル表示を上記第２スペクトログラムに隣接して上記ディスプレイ上で表示する処理とを更に具える。

【0027】

実施例１８は、実施例１７による方法であって、試験測定装置のユーザからの入力を受けて、上記第１スペクトログラム、上記第２スペクトログラム、上記第１スペクトル表示及び上記第２スペクトル表示のいずれかを上記ディスプレイ上で再配置する処理を更に具える。

【0028】

実施例１９は、先行する実施例の方法のいずれかによる方法であって、第３入力チャンネルから第３入力信号を受ける処理と、上記第３入力信号から第３スペクトログラムを生成する処理とを更に具える。

【0029】

実施例２０は、実施例１９による方法であって、上記第１入力信号に基づく個別のスペクトルを含まずに、上記第２入力信号と上記第３入力信号に基づく個別のスペクトルの組み合わせからオーバーレイ・スペクトル表示を生成する処理と、上記オーバーレイ・スペクトル表示をディスプレイ上に表示する処理とを更に具える。

【図面の簡単な説明】

【0030】

【図1】図１は、従来の試験測定装置で取り込まれたアクイジション（acquisitions：取得データ）のタイミングの一例を示す時間図である。

【図2】図２は、本開示技術の実施形態によって操作されるタイプのスペクトログラムがどのように生成されるかの説明図である。

【図3】図３は、本開示技術の実施形態に従って、サンプリングされた入力波形アクイジション（取得データ）が個々のスペクトル・トレースにどのように処理されるかを示すブロック図である。

【図4】図４は、本開示技術の実施形態による、複数のスペクトル・トレース・ブロックがスペクトログラムとなるように組み立てられる方法を示すブロック図である。

【図5】図５は、本開示技術の実施形態による、図３に概説されたプロセスによって生成されるスペクトログラムの例を示す。

【図6】図６は、本開示技術の実施形態によるスペクトログラム及びスペクトル表示を示す表示出力画面の例である。

【図7】図７は、本開示技術の実施形態による、相対的な出力サイズを変更するユーザ・インタフェースを示す図６の表示出力画面例のブロック図である。

【図8】図８は、本開示技術の実施形態による、ブロック時間より短いスペクトル時間を選択する効果を示す。

【図9】図９は、本開示技術の実施形態による、重複（オーバーラップ）のあるスペクトログラムを作成する例を示す。

【図10】図１０は、本開示技術の実施形態による、複数のチャンネルについてのスペクトログラム及びスペクトル表示を示す出力画面例を示す。

【図11】図１１は、本開示技術の実施形態による、複数のチャンネルについてのスペクトログラム及びスペクトル表示を示す別の出力画面例を示す。

【図12】図１２は、本開示技術の実施形態による、複数のチャンネルに関するスペクトログラム及びスペクトル表示がどのように配置できるかの一例を示すブロック図である。

【図13】図１３は、本開示技術の実施形態による、スペクトル及びスペクトログラムの特性を自動決定する機能を有する測定装置のブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0031】

上述したように、スペクトログラムは、試験測定装置によって生成されるグラフィック表示であり、時間と共に変化する信号のスペクトル成分を示す。また、上述のように、オシロスコープに見られるスペクトログラムは、概して、図１に示されるように、多数の異なるアクイジション（取得データ）から組み立てられる。この図は、試験測定装置の１つの入力チャンネルをグラフィカルに示している。試験測定装置は、この入力チャンネルに接続された被試験デバイス（ＤＵＴ）からの入力信号を、図１において、アクイジションｘ（ｘ＝１、２、・・・Ｎ）とラベルを付けた複数のアクイジション時間中に受ける。

【0032】

アクイジションとアクイジションの間には、ブラインド時間と呼ぶ時間ギャップがあることに注意されたい。これらブラインド時間は、ＤＵＴがこれらブラインド時間中に信号を生成していても、試験測定装置は、ブラインド時間中には入力信号を取得しないことを示している。試験測定装置が入力信号を全く記録していない、アクイジションとアクイジションの間の時間が長い可能性があるという点で、ブラインド時間が重要な意味を持つことがある。

【0033】

図１には、各アクイジション中に、スペクトル時間としてラベル付けされた時間スライスも図示されており、これは、試験測定装置が、アクイジション中のスペクトル時間としてラベル付けされた期間にのみ、スペクトルｘ（ｘ＝１、２、・・・Ｎ）とラベルを付けたスペクトル表示を生成することを示す。よって、ブラインド時間のために、そして、アクイジションの比較的小さな部分であるスペクトル時間内であるために、スペクトログラム表示に実際に表示されるＤＵＴからの信号の量は、非常に少なく、ＤＵＴの性能について不正確な結論につながる可能性がある。

【0034】

図２は、本開示技術の実施形態に従って生成されるスペクトログラムをより詳細に描いている。図２において、図示したスペクトログラム２００は、一連の個々のスペクトル・トレース２０２を生成し、これらスペクトル・トレースを連結し、次いで連結されたスペクトル・トレースを元のスペクトル・トレースから直交角度で表示することによって生成されるグラフィック画像であり、ユーザは、時間とともに変化する入力波形の特定の特性又は品質を視覚化できる。

【0035】

図２に示すように、スペクトル・トレース２０２の各系列は、事前に定義された周波数スパンに広がっており、トレースの振幅は、スパンでカバーされる個々の周波数のそれぞれの受信信号の強度、即ち、パワー（電力）を示す。個々のスペクトル・トレースは、アクイジションの期間にわたって捕捉された入力信号の強度を表す。最初のスペクトル・トレースが生成された後、後続のトレースが生成される。第１スペクトル・トレースと第２スペクトル・トレースが生成される間で入力信号が変化した場合、第２スペクトル・トレースは、第１スペクトル・トレースから変化することになる。スペクトログラム２００は、生成されたスペクトル・トレース２０２の全てを、経時的に生成しながら互いに結合する。このとき、時間は、スペクトログラムのＹ軸で表され、周波数は、スペクトログラムのＸ軸で表される。

【0036】

スペクトログラム画像の上部に最新のスペクトル・トレースが表示される場合、ウォーターフォール（滝状）表示スペクトログラムと呼ばれる。そうではなくて、最も古いスペクトル・トレースがスペクトログラム画像の上部に表示される場合、それは逆ウォーターフォール構成と呼ばれる。スペクトログラム自体は、この生成された画像の「上」からの表示であり、図２ではスペクトログラムの視点として言及している。スペクトログラムは、スペクトル・トレースの周波数スパンに広がる振幅又は大きさの変動を表すために色分けされても良い。このようなスペクトログラム画像を用いて、ユーザは、分析対象の信号のスペクトルの挙動の静的、動的及び過渡的性質を観察できる。測定装置で生成されたスペクトログラムは、典型的にはカラーで示されるが、図２のスペクトログラムはグレースケールであり、スペクトログラムの暗い部分はより高い振幅又は大きさを表する。

【0037】

図１を参照して説明した不連続なスペクトログラムとは異なり、本開示による実施形態は、連続的なスペクトログラムを生成する。この連続スペクトログラムは、測定装置において、入力信号の単一で連続する波形アクイジションから構築されるが、このとき、入力信号の１つのアクイジションの長さが、スペクトル時間で分析されるスペクトルの量を超えている。

【0038】

図３は、測定装置によって試験対象のデバイス（つまり、被試験デバイス（ＤＵＴ））で生成された入力信号波形を取り込むことに基づいて連続スペクトログラム画像を生成する工程の第１シリーズを示す。測定装置によって取得された入力信号の時間の合計量をアクイジション（取得データ）時間と呼び、図３では、アクイジション（取得データ）３００の個々の時間区間１～Ｎの全体の合計として表される。スペクトログラムは、入力信号のアクイジション３００の時間で区切られた部分の高速フーリエ変換（ＦＦＴ）又はチャープＺ変換（Chirp-Z Transform：ＣＺＴ）のような時間周波数変換３１０を実行してスペクトル・トレース３２０のシリーズを作成することによって生成される。スペクトル・トレース３２０のシリーズは、Ｎ個の個々のスペクトル・ブロックＳＢ１、ＳＢ２、...、ＳＢＮから形成される。連続スペクトログラムは、入力信号のアクイジションの全ての部分のスペクトル・トレースを有する。以下では、複数の変形形態を説明するが、図３では、スペクトル・ブロックＳＢ１、ＳＢ２等の夫々の幅は、周波数変換３１０によって生成されるスペクトル幅と同じであると想定しており、これは、以下に説明するように、ユーザが分解能帯域幅を設定することによって制御されても良い。

【0039】

図４は、スペクトル・トレース３２０において、スペクトル・ブロックＳＢ１、ＳＢ２等の夫々が、どのような向きで配置されているかを示す。スペクトル・ブロックＳＢ１、ＳＢ２等の夫々は、得られるスペクトログラムの１画素行（one pixel row）になる。そして、図４及び図５は、図５のスペクトログラム５００のようなスペクトログラムを作成するために、スペクトル・ブロックがどのように組み立てられるかを示す。なお、図５のスペクトログラム５００は、ウォーターフォール・スペクトログラムなので、図４及び５では、最も古いスペクトル・ブロックＳＢ１、即ち、生成された最初のスペクトル・ブロックは、スペクトログラムの一番下の行に配置されることに留意されたい。スペクトログラム５００が逆ウォーターフォール・スペクトログラムであった場合、最も古いスペクトル・ブロックであるＳＢ１は、スペクトログラムの一番上の行に配置される。図５に示すように、スペクトログラム５００には、Ｎ個の画素行があり、これらの各々は、特定の、個別のスペクトル・ブロックＳＢ１、ＳＢ２等に対応する。また、上述したように、得られるスペクトログラム５００のＸ軸は、周波数を示し、一方、スペクトログラムのＹ軸は、時間を示す。

【0040】

多くの場合、図５のスペクトログラム５００のようなスペクトログラムは、このスペクトログラムを生成するために使用された複数の時間スライスの中の１つのスペクトル表示と併せて示される。図６は、スペクトログラム６１０に加えて、スペクトル表示又はスペクトル６２０を示す表示出力画面６００の例である。スペクトログラム６１０及びスペクトル６２０の両方は、これらのｘ軸として周波数を有し、同じ量の周波数スペクトルに広がっている。上述したように、スペクトル６２０は、そのｙ軸として振幅を有し、一方、スペクトログラムは、そのｙ軸として時間を有する。タイム・スタンプ６１２は、スペクトログラム６００が、過去３２.２秒間に取得された全てのスペクトルから構築され、最も古いものがスペクトログラムの上部にあり、最新のものが下部にあることを知らせている。このようにして、スペクトログラム６００は、時間とともに変化する入力信号のパワー又は強度のグラフィック表示を示す。

【0041】

図７は、開示技術の実施形態による、表示画面の相対的な出力サイズを変更するユーザ・インタフェースを示す表示出力画面７００の例のブロック図である。図６に示す表示画面と同様に、例示的な表示出力画面７００は、画面の上部にスペクトログラム７１０を含み、下部にスペクトル表示又はスペクトル７２０を含む。表示例７００には、ユーザがスペクトログラム７１０及びスペクトル７２０の相対的なサイズを制御することを可能にするユーザ・インタフェースがある。

【0042】

具体的には、水平インジケータ７１４は、参照番号７１５によって示されるように、ユーザによって制御可能であり、参照番号７１５は、ユーザが水平インジケータ７１４の相対的な位置をシフトしても良いことを示す。それに応じて、表示画面７００を生成する試験測定装置は、スペクトログラム７１０及びスペクトル７２０のサイズを変更する。マウスをドラッグするか、キーボードによって動きを制御することなどによって、水平インジケータ７１４を上方に移動すれば、スペクトログラム７１０の垂直サイズを減少させながら、スペクトル７２０の垂直サイズを増加させる。水平インジケータ７１４を下方に移動すると、逆の効果が生じる。以下に説明する複数のスペクトログラム及びスペクトルを含む実施形態は、ユーザが表示画面をカスタマイズしても良いように、同一又は類似のユーザ操作手段を有しても良い。

【0043】

図４において、図３の個々のスペクトル・ブロックＳＢ１、ＳＢ２は、変換３１０によって生成される幅と同じブロック幅を有すると仮定したが、これは、いつも当てはまるわけではない。代わりに、変換３１０によって生成される幅は、個々のスペクトル・ブロックの幅よりも大きくても小さくても良い。図８は、スペクトル時間の幅が、スペクトログラムの作成に使用された個々のスペクトル・ブロックの幅よりも小さい場合を示している。

【0044】

図８を参照すると、そのスペクトル時間は、図３のような１０％ではなく、入力信号のアクイジション８００の全幅の２％である。そのため、これは、入力信号のアクイジション８００に含まれる合計５０個のスペクトル時間があることを意味する。しかし、最終的に生成されるスペクトログラムにはやはり１０行の画素があり、各行が１０個のスペクトル・ブロックＳＢ１～ＳＢ１０の１個によって生成されると仮定すると、これは、５個のスペクトル時間が１個のスペクトル・ブロックに結合されることを意味する。

【0045】

概して、変換８１０によって生成されるスペクトル時間は、周波数分解能、つまり、分解能帯域幅（ＲＢＷ）と、変換８１０によって生成される個々のスペクトル・トレースの選択されたウィンドウ形式に反比例する。ＲＢＷ設定の幅を狭くするとスペクトル時間が長くなり、ＲＢＷ設定を広くするとスペクトル時間が短くなる。一例では、１００ｋＨｚのＲＢＷのスペクトル時間は２２.３μ秒であり、１０ｋＨｚのＲＢＷのスペクトル時間は２２３μ秒である。従って、スペクトル時間は、単一のスペクトル・ブロックを作成するために使用される個々のスペクトル・トレースを生成するために使用される、最初に取り込まれた入力信号波形の区間の時間的な長さを表す。

【0046】

図８に示すように、変換８１０によって生成された５個のスペクトル・トレースＳＴ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ４及びＳＴ５を組み合わせて、スペクトル・ブロックＳＢ１が作成され、これは、上述のように、結果として得られるスペクトログラムの１画素行となる。次いで、プロセスは、第２スペクトル・ブロックＳＢ２の処理に進み、ここでは、変換８１０によって生成された別の５個のスペクトル・トレースＳＴ６、ＳＴ７、ＳＴ８、ＳＴ９及びＳＴ１０を組み合わせて、スペクトル・ブロックＳＢ２を形成する。図示していないが、このプロセスは、１０個のスペクトル・ブロックＳＢ１～ＳＢ１０の全てを生成し、組み立ててスペクトログラム画像になるまで、取得した入力信号のアクイジション８００中の残りのスペクトル時間について継続する。

【0047】

ＳＴ１～ＳＴ５のような複数のスペクトル・トレースを、ＳＢ１のような単一のスペクトル・ブロックに合成するのに利用できる手法は、複数ある。そのような合成技術の１つは、例えば、最大ホールド検出を用いてスペクトル・トレースを処理することであり、これは、スペクトル処理において公知の技術である。また、スペクトル時間がスペクトル・ブロック時間の正確な整数倍である必要はなく、むしろ、本発明の実施形態は、ブロックの最終的なスペクトル時間を後続のスペクトル・ブロックと重複（オーバーラップ）させることよって、これを解決しようとする。そのような技術の例は、以下でより詳細に説明する。

【0048】

図４、５及び８を参照して説明した例は、いずれもスペクトル・ブロックの幅が、スペクトル時間と同じか、スペクトル時間より大きいことを想定しているが、特に生成されるスペクトログラムの行数が多くなると、このスペクトログラムを生成する複数のスペクトル・ブロック夫々の幅が、スペクトル時間よりも小さくなる場合がある。このような条件でスペクトログラム画像を作成するために、以下に説明する「重複（オーバーラップ）」の概念を取り入れる。

【0049】

図９は、入力信号波形アクイジション９００のスペクトル時間が、合計アクイジション時間の１０％であり、スペクトログラムを生成するのに利用可能な２０個の画素行がある例を示す。そこで、アクイジション９００を利用可能な行の数で除算して、スペクトル・スライス間隔を設定する。もしスペクトル・スライス間隔が、スペクトル時間（この場合では、スペクトル時間は、時間区間１～時間区間１０と関連する）よりも小さい場合には、各スペクトル・ブロックＳＢ１～ＳＢ２０の処理は、重複するスペクトル時間に由来する時間を含む。例えば、図９のスペクトル・ブロックＳＢ２は、元のアクイジション９００の時間区間１と時間区間２の両方にまたがっている。最終的に、２０個のスペクトル・ブロックＳＢ１～ＳＢ２０が、アクイジション９００の１０個の時間区間から生成され、２０個のスペクトル・ブロックＳＢ１～ＳＢ２０の夫々が、最終的なスペクトログラム画像の１画素行を構成する。

【0050】

図９の例では、時間区間の元々のスペクトル時間と比較して、スペクトル・ブロックに５０％の重複がある。実際には、重複（オーバーラップ）は、０％強からほぼ１００％の重複まで、広く変化して良い。スペクトル・ブロックの０％重複（オーバーラップ）は、図４、５及び８を参照して説明した例のように、隣接するスペクトル・ブロック間でスペクトル時間の重複がないシステムである。可能性は低いかもしれないが、スペクトル表示の表示を生成するために必要な時間よりもはるかに短い時間スライスを必要とする波形表示の時間領域設定をユーザが選択することも可能ではある。この場合、スペクトログラムは、その結果として得られる画像に１行のみを含む。本発明の実施形態は、この状態をユーザに警告する表示画面上での色による警告又はテキスト・メッセージなどで、この状態を示す表示を行って、このような状態についてユーザに注意を促しても良い。

【0051】

スペクトログラムの画素行を形成する隣接するブロックに重複を生じさせることで、取得した波形を反映した、入力信号の信号の挙動（activity）を連続的に表示できる。つまり、上述のシステムとは異なり、このスペクトログラムにはギャップ（ここは、取得した波形から作成されたスペクトログラムから入力信号の一部が欠落している）がない。

【0052】

更に、本開示による実施形態は、スペクトログラム・ウィンドウ・サイズがユーザによって操作されると、スペクトログラム・ウィンドウを満たすようにスペクトログラムのサイズを自動的に最大化しても良い。例えば、ユーザがスペクトログラム・ウィンドウを含むウィンドウの垂直サイズを大きくすると、測定装置は、ユーザが指定したウィンドウの垂直サイズに一致するようにスペクトログラム内の画素の行数を増やすことによって、新しいスペクトログラムを自動的に生成する。例えば、図９を参照すると、５０％の重複（オーバーラップ）値について、１０個のスペクトル時間に対し、２０個の画素行でスペクトログラムを生成している。もしユーザがスペクトログラムを含むウィンドウのサイズを、例えば、３０画素行のスペクトログラムを含むことができるウィンドウに増加させる場合、本発明の実施形態は、増加したウィンドウ・サイズに応答して、３０画素行を有する新しいスペクトログラムを自動的に生成する。

【0053】

このような場合、測定装置、より具体的には、測定装置内のプロセッサは、最初に、増加したウィンドウ・サイズに収まる画素の行の数を求める。この例では、プロセッサは、スペクトログラムが、３０画素行を有するスペクトログラムを含むウィンドウ内で最大化されると判断し、そして、各画素行が１つのスペクトル・ブロックから作成されるので、この最大化を実行するのに３０個のスペクトル・ブロックが必要であると判断する。

【0054】

次に、プロセッサは、スペクトログラム内のスペクトル・ブロックの数が増加したために、個々のスペクトル・ブロックのそれぞれが隣接するスペクトル・ブロックとどの程度重複するかを求める。例えば、３０個の画素ブロック、ＳＢ１～ＳＢ３０では、隣接する各ブロックは、隣接するブロックと６６％重複し、これは、図９のスペクトログラムを生成するために使用された５０％の重複よりも大きい。プロセッサは、これを求めるのに、取得した入力信号サンプルのスペクトル時間の個数に対してスペクトル・ブロックの総数の幅を均等に分配し、次いで、特定のブロックが隣接するブロックと、どの程度重複するかを求める。

【0055】

この例では、スペクトログラムの作成に使用される各スペクトル・ブロックは、隣接するブロックと６６％重複する。このような決定を行った後、プロセッサは、上述のように、各スペクトル時間についての個々の変換に基づくスペクトルを合成することによって個々のスペクトル・ブロックを生成する。最後に、プロセッサは、個々のスペクトル・ブロックのそれぞれによって作成されたスペクトルを互いに連結することによって、新しい個々のスペクトル・ブロックを新しいスペクトログラムに組み立て、各スペクトル・ブロックを新しいスペクトログラムの１行にする。次に、プロセッサは、ユーザが指定したウィンドウのサイズに一致するように新しいスペクトログラムを表示する。ユーザがスペクトログラム・ウィンドウのサイズを縮小すると、プロセッサは同じ動作を実行し、最初に小さいウィンドウを完全に満たす画素行の個数を求め、次に各画素行の作成に使用される多数のスペクトル・ブロック間の重複を減少方向に調整する。

【0056】

これまでのこの説明では、試験測定装置への単一の入力チャンネルからスペクトログラムを作成することについて説明してきたが、本開示による実施形態は、複数のスペクトログラム及びスペクトルを生成し、このとき、スペクトログラム及びスペクトルの夫々を、試験測定装置の別々の入力チャンネルで取得した入力波形サンプルから生成するように制御しても良い。

【0057】

図１０は、開示技術の実施形態による、複数のチャンネルを含むスペクトル表示１０１０を示す出力画面１０００の例を示す。上述したように、典型的にはスペクトログラムはスペクトルと併せて表示され、概してスペクトログラムはディスプレイの上部に、スペクトルはディスプレイの下部に併せて表示される。表示出力画面１０００は、試験測定装置の８つの別々のチャンネルについてのスペクトログラム及びスペクトル表示を同時に表示するスペクトル表示１０１０を示す。別々のチャンネルの夫々が、ＤＵＴから異なる信号をサンプリングしていても良い。これら別々のチャンネルは、同じイベントでトリガされて、別々のチャンネル夫々のアクイジションが、互いに時間的な位置を揃えるようにしても良い。

【0058】

波形図１０２０は、更に、各チャンネルの入力信号の一部を時間領域で示す。出力画面１０００の例では、ユーザは、試験測定装置が有する８つの別々のチャンネル（又は、非常に多数の入力チャンネル）の全てのスペクトル及びスペクトログラム表示を同時に見ることができる。例えば、スペクトル表示１０１０は、８つの別々のチャンネルを示し、各チャンネルは、スペクトル表示の上に生成されたスペクトログラムがある。出力画面１０００のチャンネルのバッジ（badge：名札）部分１０３０により、ユーザは、どの入力チャンネルをスペクトル表示１０１０に表示するかと、入力チャンネルを表示する順序を選択又はカスタマイズすることができる。ユーザは、任意の数の入力チャンネルをスペクトログラムとして任意の順序で表示するよう選択できる。

【0059】

図１０のスペクトル表示は、スペクトル表示を積み重ねた図を示す。また、図７を参照して上述したように、ユーザは、いずれかの表示の境界を変更することによって、又は、それらの間の水平インジケータを操作することによって、特定のチャンネルのスペクトログラムとスペクトルとの間の分割を変更できる。

【0060】

また、特定のチャンネルの信号を他のチャンネルへとアップ・コンバート又はダウン・コンバートし、両方のチャンネルを同時に表示して、追加の試験と測定を行うこともできる。このような実施形態では、２つのチャンネル、例えば、チャンネル１及びチャンネル２についてのスペクトログラムは、他の表示品質が異なるものの、同じ周波数に広がる。

【0061】

例えば、チャンネル１のスペクトログラムが２.３５ＧＨｚから２.４５ＧＨｚの範囲で、中心周波数が２.４ＧＨｚであると仮定する。また、チャンネル２は、チャンネル１で取り込まれたものと同じ信号であるが、８００ＭＨｚにダウン・コンバートされているとする。次いで、８００ＭＨｚを中心とするチャンネル２のスペクトログラムを生成すると、７５０ＭＨｚから８５０ＭＨｚ、つまり、チャンネル１の周波数スパンと同じ幅になる。このような表示を生成することにより、本発明の実施形態は、ＤＵＴによって同時に生成される多数の信号に関わることがある複雑な問題をデバッグできる。

【0062】

いくつかの実施形態では、ユーザは、表示画面１０００のチャンネル・バッジ部分１０３０のチャンネル・バッジの順序を変更することによって、スペクトル表示１０１０に表示されるチャンネルの順序を変更しても良い。また、以下で図１２を参照して説明するチャンネルのグループを作成することもできる。

【0063】

図１１は、開示技術の実施形態による、別のスペクトル表示１１１０を示す別の出力画面１１００の例を示し、これは、スペクトログラム及びスペクトル表示が、複数のチャンネルに関して、どのように配置できるかを示す。図１のスペクトル表示１０１０とは異なり、スペクトル表示１１１０は、チャンネル１～８のスペクトログラムの夫々を互いに隣接して配置し、同じチャンネルのスペクトル表示とは隣接していない。その代わりに、この例では、チャンネル１～８の全てのスペクトルが組み合わされて、チャンネル１～８の全てを含む１つのオーバーレイ（overlaid：重ね合わせ）スペクトル表示１１１５になっている。

【0064】

図１１では、オーバーレイ・スペクトル表示１１１５は、スペクトル表示１１１０の中の下部に位置するが、ユーザは、このオーバーレイ・スペクトル表示を、スペクトル表示内の所望の場所に配置しても良い。更に、上述したように、ユーザは、例えば出力画面１１００のチャンネル・バッジ部分１１３０を使用して、どのチャンネルかとその順序を選択し、選択されたチャンネルのスペクトログラムをスペクトル表示１１１０に示すことができる。

【0065】

図１２は、本開示技術の実施形態による、例示的な表示画面のスペクトル表示部分１２１０のみのブロック図であり、これは、複数のチャンネルに関する様々なスペクトグラム及びスペクトル表示を、どのようにグループ化できるかを示す。ユーザは、１つ以上の入力チャンネルを含むグループを作成できる。例えば、図１２では、チャンネル１は、他のチャンネルとグループ化されていないが、チャンネル２、３及び４はグループ化されている。ユーザは、例えば、図１１のチャンネル・バッジ部分１１３０を用いてグループを作成しても良い。

【0066】

図示の例では、グループのスペクトログラムは互いに隣接して表示されるが、ユーザは、チャンネル４のスペクトログラムが、チャンネル２と３のスペクトログラムの間に位置するように指示している。チャンネル１は、このグループの一部ではないため、そのスペクトログラムとスペクトルが互いに隣接して表示される。同様に、チャンネル２、３、４は、グループ化されているので、チャンネル２、３、４の夫々から作られたオーバーレイ・スペクトルが作成され、スペクトル表示部分１２１０の下部に現れる。実施形態は、このように、試験測定装置で利用できる任意のチャンネルのスペクトログラム及びスペクトル表示の便利なグループ化及び順序付けを可能にする。

【0067】

本開示技術の実施形態は、上述の動作を実施するために特定のハードウェアやソフトウェア上で動作する。図１３は、本願に開示される開示技術の実施形態を実施するためのオシロスコープやスペクトル・アナライザなどの例示的な試験測定装置１３００のブロック図である。試験測定装置１３００には、１つ以上のポート１３０２があり、これらは、任意の電気信号伝送媒体であっても良い。これらポート１３０２は、レシーバ、トランスミッタ又はトランシーバを有していても良い。各ポート１３０２は、試験測定装置１３００のチャンネルである。ポート１３０２は、１つ以上の被試験デバイス（ＤＵＴ）１３９０からポート１３０２で受信された信号や波形を処理するために、１つ以上のプロセッサ１３１６と結合される。図１３では、説明を簡単にするため、１つのプロセッサ１３１６だけを示しているが、当業者であればわかるように、単一のプロセッサ１３１６ではなく、様々なタイプの複数のプロセッサ１３１６を測定装置１３００において組み合わせて使用しても良い。

【0068】

ポート１３０２は、また、測定装置１３００内の測定ユニット１３０８に接続されても良い。測定ユニット１３０８は、ポート１３０２を介して受信された信号の特性（例えば、電圧、アンペア数、振幅、パワー、エネルギーなど）を測定できる任意のコンポーネントを含むことができる。試験測定装置１３００は、更なる分析のために、任意のチャンネルで受信した信号を波形に変換するための調整（コンディショニング）回路、アナログ・デジタル・コンバータ、高速フーリエ変換回路、チャープＺ変換回路、その他の回路又は機能などの追加のハードウェアやプロセッサを有していても良い。各チャンネルから得られた波形又は波形の様々な測定値は、次いで、メモリ１３１０、アクイジション・メモリ（図示せず）に記憶することができ、また、表示部（ディスプレイ）１３１２上に表示できる。

【0069】

１つ以上のプロセッサ１３１６は、メモリ１３１０からの命令を実行するように構成されてもよく、測定装置によって受信された入力信号を表示及び変更するなど、そのような命令によって示される任意の方法や関連するステップを実行しても良い。メモリ１３１０は、プロセッサ・キャッシュ、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）、ソリッド・ステート・メモリ、ハード・ディスク・ドライブ、その他の任意のメモリ形式として実装されても良い。メモリ１３１０は、データ、コンピュータ・プログラム・プロダクト及びその他の命令を格納するための媒体として機能する。

【0070】

ユーザ入力部１３１４は、プロセッサ１３１６に結合される。ユーザ入力部１３１４は、測定装置１３００をセットアップし、操作するためにユーザが利用できるキーボード、マウス、タッチスクリーン、その他の任意の操作装置を有していても良い。ユーザ入力部１３１４は、表示部１３１２と連動して動作するグラフィカル・ユーザ・インタフェース又はテキスト/文字インタフェースを有していても良い。ユーザ入力部１３１４は、測定装置１３００上のユーザからの又はリモート・デバイスからのプログラム入力を更に有していても良い。表示部１３１２は、波形、測定値及び他のデータをユーザに表示するためのデジタル・スクリーン、ブラウン管ベースのディスプレイ、その他の任意のモニタであっても良い。

【0071】

試験装置１３００の構成要素は、試験測定装置１３００内に統合されているものとして描かれているが、これらの構成要素のいずれかが試験装置１３００の外部にあっても良く、当業者ならば、従来の任意の方法（例えば、有線や無線の通信メディアやメカニズム）で試験装置１３００に結合されても良いことが理解できよう。例えば、いくつかの実施形態では、表示部１３１２は、試験測定装置１３００から遠隔にあってもよく、又は、測定装置１３００上で表示することに加えて、リモート・デバイスに出力を送信するように測定装置が構成されても良い。更なる実施形態では、測定装置１３００からの出力が、クラウド装置などのリモートデバイスに送信されるか又は格納されて、クラウド装置に結合された他のマシンからアクセス可能としても良い。

【0072】

測定装置１３００には、スペクトログラム・プロセッサ１３２０があっても良く、スペクトログラム・プロセッサ１３２０は、上述した１つ以上のプロセッサ１３１６とは別々のプロセッサであっても良いし、スペクトログラム・プロセッサ１３２０の機能が、１つ以上のプロセッサ１３１６に統合されても良い。更に、スペクトログラム・プロセッサ１３２０は、別々のメモリを有しても良いし、上述のメモリ１３１０を使用しても良いし、又は、測定装置１３００によってアクセス可能な他の任意のメモリを有していても良い。

【0073】

スペクトログラム・プロセッサ１３２０は、上述の機能を実装するための専用プロセッサを有していても良い。例えば、スペクトログラム・プロセッサ１３２０は、スペクトログラムの生成を実装するために、上述した手順及び動作を使用してスペクトログラムを生成するために使用されるスペクトログラム生成部１３２２を有していても良い。スペクトログラム表示プロセッサ１３２４は、表示部１３１２で表示されるスペクトログラム表示を生成しても良く、表示の要素がユーザによって操作されたとき又はＤＵＴ１３９０からの入力信号が変化したときに、スペクトログラム表示のアップデートをリアルタイム又はほぼリアルタイムで制御しても良い。

【0074】

スペクトログラム・チャンネル・セレクタ１３２６は、ユーザが選択したチャンネルのうち、どのチャンネルについて、表示部１３１３又はリモート・ディスプレイ上でスペクトログラムを表示するかと、その順番を制御する。スペクトログラム・グループ・プロセッサ１３２８は、上述の様々なスペクトログラム、スペクトル及び他の表示のグループ化及び順序付けを制御し、スペクトログラム・チャンネル・セレクタ１３２８及びスペクトログラム・グループ・プロセッサ１３２８の両方が、スペクトログラム生成部１３２２と連携して、表示部１３１３上のスペクトログラムをリアルタイム又はほぼリアルタイムでアップデートしても良い。

【0075】

スペクトログラム生成部１３２２、スペクトログラム表示プロセッサ１３２４、スペクトログラム・チャンネル・セレクタ１３２６又はスペクトログラム・グループ・プロセッサ１３２８を含むスペクトログラム・プロセッサ１３２０の構成要素のいずれか又は全ては、１つ以上の別々のプロセッサで実現されても良く、本願に記載される個別の機能は、専用又は汎用プロセッサの専用の事前プログラムされた動作として実装されても良い。更に、上述したように、スペクトログラム・プロセッサ１３２０の構成要素又は機能のいずれか又は全ては、測定装置１３００を動作させる１つ以上のプロセッサ１３１６に統合されても良い。

【0076】

更に、本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。

【0077】

概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、ＦＰＧＡなどのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

【0078】

コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。

【0079】

通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含んでも良い。

【0080】

開示された本件の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

【0081】

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

【0082】

加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書での開示技術は、これら特定の特徴のあり得る全ての組み合わせを含むと理解すべきである。ある特定の特徴が特定の形態又は実施例に関連して開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の形態及び実施例との関連においても利用できる。

【0083】

明細書、特許請求の範囲、要約書及び図面に開示される全ての機能、並びに開示される任意の方法又はプロセスにおける全てのステップは、そのような機能やステップの少なくとも一部が相互に排他的な組み合わせである場合を除いて、任意の組み合わせで組み合わせることができる。明細書、要約書、特許請求の範囲及び図面に開示される機能の夫々は、特に明記されない限り、同じ、等価、又は類似の目的を果たす代替の機能によって置き換えることができる。

【0084】

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。

【符号の説明】

【0085】

１３００ 試験測定装置
１３０２ ポート
１３０８ 測定ユニット
１３１０ メモリ
１３１３ 表示部（ディスプレイ）
１３１４ ユーザ入力
１３１６ プロセッサ
１３２０ スペクトログラム・プロセッサ
１３２２ スペクトログラム生成部
１３２４ スペクトログラム表示プロセッサ
１３２６ スペクトログラム・チャンネル・セレクタ
１３２８ スペクトログラム・グループ・プロセッサ
１３９０ 被試験デバイス（ＤＵＴ）

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【外国語明細書】