特開 2023-121745 送信機、チャネル及び受信機を含む、データ転送構成を試験するための方法、コンピュータ・プログラム製品、試験信号並びに試験装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023121745

(43)【公開日】2023-08-31

(54)【発明の名称】送信機、チャネル及び受信機を含む、データ転送構成を試験するための方法、コンピュータ・プログラム製品、試験信号並びに試験装置

(51)【国際特許分類】

   H04L 43/0823 20220101AFI20230824BHJP

   H04B 3/46 20150101ALI20230824BHJP

   H04L 43/16 20220101ALI20230824BHJP

   H04L 43/04 20220101ALI20230824BHJP

【ＦＩ】

H04L43/0823

H04B3/46

H04L43/16

H04L43/04

【審査請求】未請求

【請求項の数】14

【出願形態】ＯＬ

【外国語出願】

(21)【出願番号】P 2023024616

(22)【出願日】2023-02-20

(31)【優先権主張番号】10 2022 104 032.1

(32)【優先日】2022-02-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】DE

(31)【優先権主張番号】63/312,149

(32)【優先日】2022-02-21

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(71)【出願人】

【識別番号】522434967

【氏名又は名称】ビティフアイ ディジタル テスト ソリューションズ ゲー・エム・ベー・ハー

【氏名又は名称原語表記】ＢｉｔｉｆＥｙｅ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｔｅｓｔ Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ ＧｍｂＨ

【住所又は居所原語表記】Ｈｅｒｒｅｎｂｅｒｇｅｒ Ｓｔｒ． １３０， ７１０３４ Ｂｏｅｂｌｉｎｇｅｎ， Ｇｅｒｍａｎｙ

(74)【代理人】

【識別番号】100114890

【弁理士】

【氏名又は名称】アインゼル・フェリックス＝ラインハルト

(74)【代理人】

【識別番号】100098501

【弁理士】

【氏名又は名称】森田 拓

(74)【代理人】

【識別番号】100116403

【弁理士】

【氏名又は名称】前川 純一

(74)【代理人】

【識別番号】100134315

【弁理士】

【氏名又は名称】永島 秀郎

(74)【代理人】

【識別番号】100162880

【弁理士】

【氏名又は名称】上島 類

(72)【発明者】

【氏名】アントン ウナカフォフ

(72)【発明者】

【氏名】ヴォルフガング ケーベレ

(72)【発明者】

【氏名】ヴァレンティーナ ウナカフォワ

(72)【発明者】

【氏名】ヴィクトル－リコ サンチェス－ゲラ

(72)【発明者】

【氏名】ランサム スティーブンス

(72)【発明者】

【氏名】ヘルマン シュテーリング

(57)【要約】      （修正有）

【課題】送信機、チャネル及び受信機を含む、データ転送構成を試験するための方法、コンピュータ・プログラム製品、試験信号並びに試験装置を提供する。
【解決手段】データ転送構成４を試験する方法は、初期試験データセット（ＩＳＴ）に基づいてチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を取得するステップ、ＫＡＤ内のエラー分布（ＦＶ）及びビットエラー率（ＢＥＲ）を決定するために、ＫＡＤを評価するステップ、ＦＶを評価することにより、試験部分列（ＰＳＳ）を決定するステップ、ＰＳＳを備えた更なる試験データセット（ＣＰＳ）を形成するステップ、ＣＰＳを適用するステップ、ＣＰＳに基づいて現在のＫＡＤを取得するステップ、現在のＫＡＤ内のＦＶ及び現在のＢＥＲを決定するために、現在のＫＡＤを評価するステップ及び現在のＢＥＲを所定の閾値（ＳＷ）と比較し、ＢＥＲがＳＷより大きいことを示す場合、処理を反復実行するステップとを含む。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

データ転送構成（４）を試験するための方法であって、以下のステップ、すなわち
所定の最低数の反復で初期試験データセット（ＩＳＴ）を発生するステップ（Ｓ２００）と、
前記初期試験データセット（ＩＳＴ）を前記データ転送構成（４）に適用するステップ（Ｓ３００）と、
前記初期試験データセット（ＩＳＴ）に基づいてチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を取得するステップ（Ｓ４００）と、
前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内のエラー分布（ＦＶ）を決定するために、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価するステップ（Ｓ５００）と、
前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内のビットエラー率（ＢＥＲ）を決定するために、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価するステップ（Ｓ６００）と、
前記エラー分布（ＦＶ）を評価することにより、少なくとも１つの試験部分列（ＰＳＳ）を決定するステップ（Ｓ７００）と、
少なくとも前記決定された試験部分列（ＰＳＳ）を備えた更なる試験データセット（ＣＰＳ）を形成するステップ（Ｓ８００）と、
前記更なる試験データセット（ＣＰＳ）を前記データ転送構成（４）に適用するステップ（Ｓ９００）と、
前記更なる試験データセット（ＣＰＳ）に基づいて現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を取得するステップ（Ｓ１０００）と、
前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内の現在のエラー分布（ＦＶ）を決定するために、前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価するステップ（Ｓ１１００）と、
前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内の現在のビットエラー率（ＢＥＲ）を決定するために、前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価するステップ（Ｓ１２００）と、
前記現在のビットエラー率（ＢＥＲ）を所定の閾値（ＳＷ）と比較し、前記比較が、前記ビットエラー率（ＢＥＲ）が前記所定の閾値（ＳＷ）より大きいことを示す場合、ステップ（Ｓ７００）～（Ｓ１２００）を実行する、具体的には反復して実行するステップ（Ｓ１３００）と、
前記比較が、前記現在のビットエラー率（ＢＥＲ）が前記所定の閾値（ＳＷ）より小さいことを示す場合、エラー分析のために前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価するステップ（Ｓ１４００）とを含む、方法。

【請求項2】

前記データ転送構成（４）のチャネル・パラメータは、更なるステップ（Ｓ１００）で決定される、請求項１に記載の方法。

【請求項3】

前記エラー分布（ＦＶ）を評価することにより、少なくとも１つの試験部分列（ＰＳＳ）を決定する前記ステップ（Ｓ７００）は、少なくとも以下のステップ、すなわち
前記決定されたビットエラー率（ＢＥＲ）が所定の限界値（ＧＷ）より小さいかどうかを確認し、前記ビットエラー率（ＢＥＲ）が前記所定の限界値（ＧＷ）より小さい場合に、以下のステップを行うステップ（Ｓ７４０）と、
前記決定された試験部分列（ＰＳＳ）に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列（ＰＳＳ）を決定するステップ（Ｓ７６０）と、
前記更なる試験部分列（ＰＳＳ）を前記更なる試験データセット（ＣＰＳ）に追加するステップ（Ｓ７８０）とを有する、請求項１又は２に記載の方法。

【請求項4】

前記決定された試験部分列（ＰＳＳ）に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列（ＰＳＳ）を決定する前記ステップ（Ｓ７６０）は、
更なる試験部分列（ＰＳＳ）として試験部分列（ＰＳＳ）の逆数（ＩＮＶ）を決定するステップ（Ｓ７６２）を含む、請求項３に記載の方法。

【請求項5】

前記決定された試験部分列（ＰＳＳ）に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列（ＰＳＳ）を決定する前記ステップ（Ｓ７６０）は、
パルス応答、具体的には最高パルス応答の所定の点において同一記号を備えた試験部分列（ＰＳＳ）の群（Ｇ）を形成するステップ（Ｓ７６４）を含む、請求項３又は４に記載の方法。

【請求項6】

前記決定された試験部分列（ＰＳＳ）に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列（ＰＳＳ）を決定する前記ステップ（Ｓ７６０）は、
試験部分列（ＰＳＳ）を選択するために、試験部分列（ＰＳＳ）に関して所定の類似基準（ＭＥＴ）を決定して評価するステップ（Ｓ７６６）を含む、請求項３、４又は５に記載の方法。

【請求項7】

請求項１～６のいずれか一項に記載の方法を行うように構成された、コンピュータ・プログラム製品。

【請求項8】

請求項１～６のいずれか一項に記載の方法に従って決定された、試験データセット（ＣＰＳ）。

【請求項9】

データ転送構成（４）を試験するための試験装置（２）であって、前記試験装置（２）は、所定の最低数の反復で初期試験データセット（ＩＳＴ）を発生し、前記初期試験データセット（ＩＳＴ）を前記データ転送構成（４）に適用し、前記初期試験データセット（ＩＳＴ）に基づいてチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を取得し、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内のエラー分布（ＦＶ）を決定するために、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価し、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内のビットエラー率（ＢＥＲ）を決定するために、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価し、少なくとも決定された試験部分列（ＰＳＳ）を備えた更なる試験データセット（ＣＰＳ）を決定し、前記更なる試験データセット（ＣＰＳ）を前記データ転送構成（４）に適用し、前記更なる試験データセット（ＣＰＳ）に基づいて現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を決定し、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内の現在のエラー分布（ＦＶ）を決定するために、前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価し、前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）内の現在のビットエラー率（ＢＥＲ）を決定するために、前記現在のチャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価し、前記現在のビットエラー率（ＢＥＲ）を所定の閾値（ＳＷ）と比較し、前記比較が、前記ビットエラー率（ＢＥＲ）が前記所定の閾値（ＳＷ）より大きいことを示す場合、前記更なるエラー分布（ＦＶ）を評価することにより、少なくとも１つの更なる試験部分列（ＰＳＳ）を決定する少なくとも１つの過程を実行し、具体的には反復して実行し、前記比較が、前記現在のビットエラー率（ＢＥＲ）が前記所定の閾値（ＳＷ）より小さいことを示す場合、エラー分析のために前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価するように構成される、試験装置（２）。

【請求項10】

前記試験装置（２）は、前記データ転送構成（４）のチャネル・パラメータを決定するように構成される、請求項９に記載の試験装置（２）。

【請求項11】

前記試験装置（２）は、前記チャネル出力側データセット（ＫＡＤ）を評価することによって決定された前記ビットエラー率（ＢＥＲ）が、所定の限界値（ＧＷ）より小さいかどうかを確認し、前記ビットエラー率（ＢＥＲ）が前記限界値（ＧＷ）より小さい場合、前記決定された試験部分列（ＰＳＳ）に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列（ＰＳＳ）を決定し、前記更なる試験部分列（ＰＳＳ）を前記更なる試験データセット（ＣＰＳ）に追加するように構成される、請求項９又は１０に記載の試験装置（２）。

【請求項12】

前記試験装置（２）は、更なる試験部分列（ＰＳＳ）として試験部分列（ＰＳＳ）の逆数を決定するように構成される、請求項１１に記載の試験装置（２）。

【請求項13】

前記試験装置（２）は、パルス応答、具体的には最高パルス応答の所定の点に同一記号を備えた試験部分列（ＰＳＳ）の群を形成するように構成される、請求項１１又は１２に記載の試験装置（２）。

【請求項14】

前記試験装置（２）は、試験部分列（ＰＳＳ）を選択するために、試験部分列（ＰＳＳ）に関連した所定の類似基準（ＭＥＴ）を決定して評価するように構成される、請求項１１、１２又は１３に記載の試験装置（２）。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、送信機、チャネル及び受信機を含む、データ転送構成を試験するための方法、コンピュータ・プログラム製品、試験信号並びに試験装置に関する。

【0002】

情報理論では、チャネル（情報チャネル、転送チャネル、転送経路とも呼ばれる）は、転送中の障害の結果として、情報の損失をモデル化するための概念と理解されている。この場合、チャネルは、それを介して転送を行う媒体だけに制限されるのではなく、むしろ送信機から受信機への転送経路全体について記載する。データ送信機及びデータ受信機並びに恐らく介入した構成要素も支障をきたす可能性がある。

【背景技術】

【0003】

現時点で、データ受信機は、前に画定された試験信号とのいわゆる適合試験を用いて試験される。試験信号は、画定された試験パターン及び導入された「障害」、すなわちノイズ、ジッタ、その他など、できる限り的を絞った正確な手法で導入される理想的な信号からの偏差を有する。追加された障害の型、強度及び「混合」は、それぞれの仕様、例えば（非特許文献１）によって規定される。

【0004】

このような「準拠障害」は、それぞれのデータ通信規格によって定義され、具体的なパラメータ及びそれらの値は異なる可能性がある。障害の例は、以下の通りである、すなわち
ランダムノイズ：（疑似）ランダム値は信号に追加される、
周期的ノイズ、
ランダムジッタ：レベル遷移は、本来あるべきより若干早く又は若干遅く起き、偏差はランダムである、
決定論的（具体的には周期的）ジッタ：レベル遷移は、本来あるべきより若干早く又は若干遅く起き、偏差は、周期律又は何らかの他のアルゴリズムによって画定される、
クロストーク（決定論的）、及び
チャネル損失による符号間干渉（決定論的、（非特許文献２）も参照）。

【0005】

障害は、実際の作業環境における信号に影響を及ぼす実際の歪みを模倣する。換言すると、試験信号は、妨害信号によって歪められた実際のペイロード信号をシミュレーションするために、障害の形の妨害信号と組み合わせられるペイロード信号とみなされる可能性がある。

【0006】

最近のデータ通信規格では、これらの歪みは、高いデータ速度のために非常に大きく、エラーのない信号を受信することができるデータ受信機はない。従って仕様書により、データ受信機が「読取エラー」を比較的頻繁に有する可能性がある。これは、信号が例えばビット列の形のデジタルデータを含有する場合、受信したビットの総数の最大許容割合、ビットエラー率（ＢＥＲ）として表された、誤って解釈されたビットの数によって画定される。

【0007】

これらのエラーを訂正するために、いわゆる「前方エラー訂正」（ＦＥＣ）が使用される。これは、例えばデータセットの形のデータの特定の符号化である。信号の歪みを低減するために使用する更なる技法はスクランブルである。従ってデータ受信機に届くデータは、通常スクランブルされてＦＥＣにプリコードされる。

【0008】

ＦＥＣは物理層の一部ではないので、物理層の性能はｐｒｅ－ＦＥＣ ＢＥＲを特徴とする。物理層を試験する時に、疑似ランダムデータ列（ＰＲＢＳ）は、典型的には試験信号として使用される。ＰＲＢＳは、同じ長さの実際の試験信号より平均的に大きくデータ受信機に負荷するので、試験目的に適する。一般の試験信号と対照的に、これらのデータ列はスクランブルされず、ＦＥＣにコード化されないので、ｐｏｓｔ－ＦＥＣ ＢＥＲはこれらのデータ列に対して決定することができない。

【0009】

適合試験は、データ受信機の最低の検証を可能にするために必要であるが、これは設計の問題を最悪の場合（すなわち最悪の可能性の信号又は最大の障害）の被試験装置（ＤＵＴ）について同定して確認することはできない。この主な理由は、ＰＲＢＳが実際の作動中に送信できる全ての可能なデータセットを完全には表さないことである。ＰＲＢＳは、同じ長さの実際のデータより平均的に大きく受信機に負荷するが、より大きく受信機に負荷する実際のデータセットが存在することがある。

【先行技術文献】

【非特許文献】

【0010】

【非特許文献1】ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ

【非特許文献2】ｈｔｔｐｓ：／／ｔｅｌｅｄｙｎｅｌｅｃｒｏｙ．ｃｏｍ／ｄｏｃ／ｕｎｄｅｒｓｔａｎｄｉｎｇ－ｄｊ－ｄｄｊ－ｐｊ－ｊｉｔｔｅｒ－ｃａｌｃｕｌａｔｉｏｎｓ

【非特許文献3】ＩＢＩＳ（Ｂｕｆｆｅｒ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ）

【非特許文献4】ＡＭＩ（Ａｌｇｏｒｉｔｈｍｉｃ Ｍｏｄｅｌｉｎｇ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）

【非特許文献5】ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６ ｓｔａｎｄａｒｄ

【非特許文献6】ＩＥＥＥ８０２．３ｂｓ／ｃｄ（５０ＧＡＵＩ Ｃ２Ｍ／Ｃ２Ｃ，ＫＲ－ｎ，ＣＲ－ｎ）

【非特許文献7】ＩＥＥＥ８０２．３ｃｋ（１００ＧＡＵＩ Ｃ２Ｍ／Ｃ２Ｃ，ＫＲ－ｎ，ＣＲ－ｎ）

【非特許文献8】ＯＩＦ ＣＥＩ－５６Ｇ

【非特許文献9】ＯＩＦ ＣＥＩ－１１２Ｇ

【非特許文献10】ＰＡＭ－Ｎ ｓｔａｎｄａｒｄ

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0011】

従って本発明の目的は、例えばデータ受信機の設計における重大な要素をより容易に決定できるために、このような適合試験を拡大及び／又は補完する方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0012】

本発明の目的は、データ転送構成を試験するための方法であって、以下のステップ、すなわち
所定の最低数の反復で初期試験データセットを発生するステップと、
初期試験データセットをデータ転送構成に適用するステップと、
初期試験データセットに基づいてチャネル出力側データセットを獲得するステップと、
チャネル出力側データセット内のエラー分布を決定するために、チャネル出力側データセットを評価するステップと、
チャネル出力側データセット内のビットエラー率を決定するために、チャネル出力側データセットを評価するステップと、
エラー分布を評価することにより、少なくとも１つの試験部分列を決定するステップと、
少なくとも決定された試験部分列を備えた更なる試験データセットを形成するステップと、
更なる試験データセットをデータ転送構成に適用するステップと、
更なる試験データセットに基づいて現在のチャネル出力側データセットを取得するステップと、
現在のチャネル出力側データセット内の現在のエラー分布を決定するために、現在のチャネル出力側データセットを評価するステップと、
現在のチャネル出力側データセット内の現在のビットエラー率を決定するために、現在のチャネル出力側データセットを評価するステップと、
現在のビットエラー率を所定の閾値と比較し、比較が、ビットエラー率が所定の閾値より大きいことを示す場合、エラー分布を評価することにより、少なくとも１つのエラーを起こす試験部分列を決定するステップから開始するステップを実行する、具体的には反復して実行するステップと、
比較が、現在のビットエラー率が所定の閾値より小さいことを示す場合、エラー分析のために現在のチャネル出力側データセットを評価するステップとを含む、方法を用いて達成される。

【0013】

換言すると、２段階手順が提案され、初期試験データセットを使用することによって獲得された結果は、試験データセットの特定のエラーを起こしやすい部分列を発見するために検証され、次いで特に求められる又は重大な更なる第２の試験データセットを形成するために使用される。この試験データセットは、試験を改良してより重要にすることができる。その上、特定のエラーを起こしやすい部分列を比較又は要約することにより、このような試験に必要な時間を低減することができる。

【0014】

試験部分列は、例えば少なくとも１つの単一エラーを起こす可能性がある。こうして試験部分列及びそれぞれのエラーの独特の任務がある。それと異なり、試験部分列は複数のエラーを起こす可能性もある。そのために反復工程で、更なる試験部分列は、試験データセットを尚一層段階的手法で最適化するために、確認されて試験データセットに追加され、これは、試験パターンが、最も複雑である（これは最大限に受信機に負荷する）が適合する、すなわち実際の作動中に可能な信号列を有することを意味する。

【0015】

一実施形態によれば、データ転送構成のチャネル・パラメータは、更なるステップで決定される。決定されたチャネル・パラメータは、データ転送構成のチャネルを介して転送される信号の単一ビット応答（ＳＢＲ（ｔ））、遅延及び／又は長さである可能性がある。

【0016】

更なる実施形態によれば、エラー分布を評価することにより、少なくとも１つのエラーを起こす試験部分列を決定するステップは、少なくとも以下のステップ、すなわち
決定されたビットエラー率が所定の限界値より小さいかどうかを確認し、決定されたビットエラー率が所定の限界値より小さい場合に、更なるステップを行うステップと、
決定された試験部分列に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列を決定するステップと、
更なる試験部分列を更なる試験データセットに追加するステップとを有する。

【0017】

従ってチャネル出力側試験データセットが有意な評価に対してエラーの発生が少な過ぎる、すなわちビットエラー率が低過ぎる場合、更なる試験部分列は、前に決定された試験部分列に基づいて、例えば前に決定された試験部分列を変えることによって決定される。換言すると、「人工」試験部分列が発生され、これらは前に決定された試験部分列に類似しており、従ってエラーももたらすべきである。これらの試験部分列は、次いで試験データセットに追加され、その結果、試験データセットは、試験部分列の数が増加する。

【0018】

更なる実施形態によれば、決定された試験部分列に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列を決定するステップは、
更なる試験部分列としてエラーを起こす試験部分列の逆数を決定することを含む。

【0019】

そのために、例えばＰＡＭ－４信号などの４値信号の場合、補完的４値信号が発生される。例えば４値信号が０、１、２及び３の値と仮定することができる場合、例えば信号列１３０３２の逆数は、信号列２０３０１である。この場合、それぞれの逆数は、単一試験部分列から、又は試験部分列の全てに対しても決定することができる。

【0020】

更なる実施形態によれば、決定された試験部分列に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列を決定するステップは、
パルス応答の所定の点において同一記号を備えた試験部分列の群を形成することを含む。

【0021】

換言すると、所定の点における少なくとも１つの記号が同一である試験部分列のみが、選択される。所定の点は、パルス応答の最高値である可能性がある。

【0022】

更なる実施形態によれば、決定された試験部分列に基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列を決定するステップは、
試験部分列を選択するために、試験部分列に関する所定の類似基準を決定して評価することを含む。

【0023】

好ましい試験部分列は、こうして特に単純に決定することができる。

【0024】

その上、本発明は、このような方法を行うように構成されたコンピュータ・プログラム製品、このような方法に従って決定された試験データセット、及び試験装置を含む。

【0025】

本発明は、添付の概略図を参照して以下により詳細に説明される。

【図面の簡単な説明】

【0026】

【図1】本発明による試験装置の概観を示す。

【図2】パルス応答の概略図を示す。

【図3】第１のアイ・ダイアグラムの概略図を示す。

【図4】第２のアイ・ダイアグラムの概略図を示す。

【図5】第３のアイ・ダイアグラムの概略図を示す。

【図6】図１に示された試験装置を作動するための方法列の概略図を示す。

【図7】図１に示された方法列の更なる詳細の概略図を示す。

【発明を実施するための形態】

【0027】

まず図１を参照する。

【0028】

図は、少なくとも１つのデータ転送チャネル２８を備え、被試験装置６（ＤＵＴ）を備えた、データ転送構成４を試験するための試験装置２を示す。本例示的実施形態では、例えば試験装置２は、（非特許文献３）に準拠する、又は（非特許文献４）に準拠するように構成することができる。

【0029】

本例示的実施形態では、チャネル２８は、有線チャネルとして構成される。本例示的実施形態と異なり、チャネル４は無線様式、すなわち例えば無線リンクに構成することもできる。

【0030】

チャネル２８は、高い許容可能なビットエラー率（＞１０^－６）をもつシリアル高速インターフェースとみなすことができる。このようなシリアル高速インターフェースは、マルチギガビット・データ速度（５Ｇｂｉｔ／ｓ以上）で作動される。最近のシリアル高速インターフェースは、高いデータ速度で信号から受ける歪みが大きいため、具体的には２レベルを超す振幅変調を使用する典型的な最近のインターフェースである、低い信号ノイズ比のために、比較的高いビットエラー率が可能である。これらの変調はＰＡＭ－Ｎと呼ばれ、この場合Ｎはレベルの数である。

【0031】

初期の型の通信規格は、非常に頻繁なエラー、例えばビットエラー率ＢＥＲ＜１０^－１２に達することを目指すことが多かった。これは、１０^１２ビット受信する毎に１つのエラーが起きることを意味する。ビットエラー率ＢＥＲの真の確認は、従って事実上不可能であった、すなわち約１Ｇｂｉｔ／ｓのデータ転送速度で、１０^１２のビットエラー率は、エラーが平均１０００秒毎に１回起きることを意味するはずである。実際のＢＥＲの統計的に信頼できる測定値は、数時間試験を続ける必要があるはずである。

【0032】

新しい高速インターフェースに対する前述の規格によれば、許容可能なビットエラー率は、はるかに高い（ＢＥＲ約１０^－６）。これは、実際のビットエラー率測定が可能であり、その結果、提案した本発明が実現可能になる。

【0033】

本例示的実施形態では、４つの可能な状態又は記号（０、１、２及び３）を備えたＰＡＭ－４信号は、チャネル２８を介して転送することができる。本例示的実施形態と異なり、例えばＰＡＭ－２、ＰＡＭ－３、ＰＡＭ－８、ＰＡＭ－１６、ＥＮＲＺ又はＣＮＲＺ－５などの他の符号化方式を備えたデータセットも、チャネル２８を介して転送することができる。

【0034】

その上、本例示的実施形態では、振幅変調した信号は、チャネル２８を介して転送することができる。

【0035】

（非特許文献５）によるチャネル２８は、複数の線、典型的には８本、１６本又は３２本を含むことができる。これらの線は、平行に経路を定めて作動されるが、個々の線自体はシリアルデータラインである。この構築は、「マルチシリアル」とも呼ばれる。本例示的実施形態では、各線は、別個に順次試験される。本例示的実施形態と異なり、試験装置２は、（同時に複数の線に対して）マルチレーン試験のために構成することができる。

【0036】

他のデータ通信規格は、（非特許文献６）、（非特許文献７）、（非特許文献８）、（非特許文献９）又は他の（非特許文献１０）であってもよい。

【0037】

その上、本例示的実施形態では、チャネル２８は、異なる信号を転送するように構成される。

【0038】

異なる信号転送は、本例示的実施形態で使用することができる。異なる信号転送の概念では、ノイズを低減するために、信号Ｓ（ｔ）は、２つの物理的副信号の形で転送される、つまりｓ＋（ｔ）＝Ｓ（ｔ）／２及びｓ－（ｔ）＝－Ｓ（ｔ）／２である。これらの２つの副信号ｓ＋（ｔ）及びｓ－（ｔ）は、チャネル４の別個の線に転送され、受信機に同期して届くので、元の信号は以下のように計算することができる。
Ｓ（ｔ）＝ｓ＋（ｔ）－ｓ－（ｔ）

【0039】

本例示的実施形態と異なり、他の信号方式、例えばＣｈｏｒｄ信号も使用することができる。

【0040】

本例示的実施形態では、試験装置２は、ＣＰＳ発生器８、ＰＳＳ検出器１０、信号発生器１２、エラー検出器１４、ＣＰＳアイ・ビジュアライザ１６、ＰＳＳ分類器１８及びｐｏｓｔ－ＦＥＣ決定ユニット２０を構成要素として含む一方で、本例示的実施形態では、データ転送構成４は、被試験装置６を備えたデータ転送チャネル４を含む。

【0041】

信号発生器１２は、データ転送構成４の送信機とみなすことができる一方で、被試験装置６は、データ転送構成４の受信機とみなすことができる。

【0042】

本例示的実施形態では、信号発生器１２は、試験装置２に割り当てられているので、チャネル２８及び被試験装置６は、本例示的実施形態で試験される。本例示的実施形態と異なり、試験装置２は、チャネル２８又は追加として信号発生器１２を割り当てられることも可能である。その場合、被試験装置６のみ、又は信号発生器１２（送信機）、チャネル１８及び被試験装置６（受信機）から構成される全ての組み合わせのいずれかが試験される。

【0043】

試験装置２及び記載されたその構成要素は、以下に記載されたその課題及び／若しくは関数のそれぞれに対して対応して構成された、ハードウェア並びに／又はソフトウェア構成要素を含むことができる。

【0044】

データ転送チャネル２８を試験する目的で、例えば試験装置２の信号発生器１２は、所定の最低数の反復で初期試験データセットＩＳＴを発生し、初期試験データセットＩＳＴをチャネル４に適用するように構成される。本例示的実施形態では、信号発生器１２は、少なくとも６４Ｇサンプル／ｓのサンプリング速度、及び少なくとも８ビットの垂直解像度を有する。

【0045】

試験装置２は、初期試験データセットＩＳＴに基づいてチャネル出力側データセットＫＡＤを取得し、チャネル出力側信号ＫＡＳ内のエラー分布ＦＶを決定するために、前記チャネル出力側データセットを評価するように構成される。

【0046】

この目的で、本例示的実施形態では、被試験装置６は、チャネル出力側信号ＫＡＳからチャネル出力側データセットＫＡＤを決定し、チャネル出力側信号ＫＡＳを再度符号化し、それをエラー検出器１４に前進させるように構成される。

【0047】

換言すると、本例示的実施形態では、送信機として関数発生器１２は、初期試験データセットＩＳＴに基づいてチャネル入力側信号ＫＥＳを提供し、このチャネル入力側信号は、チャネル２８を介して転送され、受信機として被試験装置６によりチャネル出力側信号ＫＡＳの形で受信され、再度チャネル出力側データセットＫＡＤに変換される。

【0048】

この場合、データセットは、物体（実体）に関連した情報／値を組み合わせ、画定された開始及び終了のないデータストリームと対照的に、画定された開始及び画定された終了を有する。類似用語は、タプル、群、データ記録、記録セットである。それに反して、信号はそれに配分された意味を持つ記号である。

【0049】

初期試験データセットＩＳＴは、適合試験パターン（＝「固定パターン」、例えばＰＲＢＳ３１Ｑ又はＳＳＰＲＱ）及び導入された「障害」（例えばノイズ、ジッタ、その他）から構成することができる。典型的な最近のインターフェースであるような、２０ギガシンボル／秒を超える転送速度では、初期試験セットＩＳＴの送信は、（２＊１０^１２／２０＊１０^９）＝１００秒未満、すなわち２分未満かかり、これにより、パターン全体にエラー統計を経験的に取得することが実施可能になる。

【0050】

この場合、エラー分布ＦＶは、チャネル出力側信号ＫＡＳのエラーのどの点で起きたかを、例えば初期試験データセットＩＳＴとの比較により示す。

【0051】

ＰＳＳ検出器１０は、試験部分列ＰＳＳ（問題のある部分列）を決定するためにエラー分布ＦＶを評価する。

【0052】

ここでは受信機によって受信されたデータ、すなわちチャネル出力側データセットＫＡＤは、初期試験データセットＩＳＴからの本来送信されたデータと比較され、これは、例えば４つの記号だけ異なっている（４つのエラーが存在する）ことが確立される。単純化するために、エラーは、一般に信号全体にわたって分布されるが、信号の一部に集中すると仮定する。

【0053】

初期試験データセットＩＳＴの元のデータは以下のように読み取られる。
…１００００２３２１０２０１２０３０２０００００２０２１０１００００３１０２１０３１０２３０１２３３３３０２３…

【0054】

受信したチャネル出力側データセットＫＡＤは以下のように読み取られる。
…１０１００２３２１０２０１２０３０２０００００２０２１０１０１００３１１２１０３１０２３０１２３２３３０２３…

【0055】

４つのエラーは以下の部分列に起きる（長さＮ＝５、遅延ｍ＝２と仮定する）、
１００００（１０１００と受信された）－このエラーがここでは２度起きる、
３１０２１（３１１２１と受信された）、及び
２３３３３（２３２３３と受信された）。

【0056】

その結果、長さＮ＝５を備えた４^５＝１０２４の部分列から、３つの部分列のみがそれぞれエラーを生じ、部分列１００００さえもエラーを２回生じる。３つ全ての部分列は、その他より高い可能性をもつ部分列（１００００）の１つ、ＰＳＳとして分類される。

【0057】

本例示的実施形態では、試験部分列ＰＳＳは、エラー分布ＦＶによるエラーを含有する初期試験セットＩＳＴの一部を含有する。

【0058】

ＣＰＳ発生器８は、少なくとも決定された試験部分列ＰＳＳを備えた更なる試験データセットＣＰＳ（準拠する問題のある列）を決定し、試験データセットＣＰＳに基づいて更なる試験信号をチャネル２８に適用するように構成される。

【0059】

この目的で、ＣＰＳ発生器８は、例えば進化的アルゴリズムの形の人工知能（ＡＩ）構成要素を含むことができる、すなわち、規則を発生する複数のＣＰＳは自動的に進化し、ｐｏｓｔ－ＦＥＣエラー及び／又はＣＰＳ当たりのＰＳＳの周波数に関して互いに常に比較される。最適でない規則は廃棄される一方で、最適な発生規則が見出されるまで、最良の規則が存続し、更なる変異を受ける。別法として、獲得した応報を最大化するための戦略は、強化学習を用いて独立して学習することができる。ＰＳＳ又はｐｏｓｔ－ＦＥＣ ＢＥＲの数は、ここでは「応報」として使用される。

【0060】

どちらの方法もデータの訓練が必要なく、どちらの方法も、問題を解決する過程でそれら自体が学習する。

【0061】

加えて学習を監視されない方法も使用することができる。その上、ＣＰＳ発生器８も、ＡＩ構成要素がないように構成することができる。

【0062】

その上、試験装置２のｐｏｓｔ－ＦＥＣを決定するユニット２０は、ビットエラー率ＢＥＲを決定するために、チャネル出力側データセットＫＡＤを評価するように構成される。

【0063】

その結果、本例示的実施形態では、試験装置２は、エラー分布ＦＶを評価することにより少なくとも１つの試験部分列ＰＳＳを決定し、少なくとも決定された試験部分列ＰＳＳを備えた更なる試験データセットＣＰＳを決定するように構成される。

【0064】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、試験データセットＣＰＳに基づいて更なる試験信号をチャネル２８に適用し、更なる試験データセットＣＰＳに基づいて現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを取得するように構成される。

【0065】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、チャネル出力側データセットＫＡＤ内の現在のエラー分布ＦＶを決定するため、及び現在のチャネル出力側データセットＫＡＤ内の現在のビットエラー率ＢＥＲを決定するために、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを評価するように構成される。

【0066】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、現在のビットエラー率ＢＥＲを所定の閾値ＳＷと比較するように構成される。比較が、ビットエラー率ＢＥＲが所定の閾値ＳＷより大きいことを示す場合、少なくとも１つの更なる試験部分列ＰＳＳは、エラー分布ＦＶを評価することによって決定される。

【0067】

決定されたビットエラー率ＢＥＲが所定の閾値ＳＷより大きい場合、本例示的実施形態では、試験装置２は、エラー分布ＦＶを評価することにより、少なくとも１つの更なる試験部分列ＰＳＳを決定し、少なくとも決定された試験部分列ＰＳＳを備えた更なる試験信号ＣＰＳを決定し、試験データセットＣＰＳに基づいて更なる試験信号をチャネル４に適用し、更なる試験データセットＣＰＳに基づいて現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを決定し、チャネル出力側データセットＫＡＤ内の現在のエラー分布ＦＶを決定するために、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを評価し、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤ内の現在のビットエラー率ＢＥＲを決定するために、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを再度評価するように構成される。

【0068】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、比較が、現在のビットエラー率ＢＥＲが所定の閾値ＳＷより小さいことを示す場合、エラー分析のためにチャネル出力側データセットＫＡＤを評価するように構成される。

【0069】

反覆手法で、記載されたその構成要素を備えた試験装置２は、次いで更なる試験部分列ＰＳＳを確認し、こうして段階的な手法で試験データセットを一層更に最適化するために、更なる試験データセットＣＰＳに更なる試験部分列ＰＳＳを追加する。換言すると、ビットエラー率ＢＥＲは、各反復パスの過程で上昇する。例えばビットエラー率ＢＥＲの上昇が、３つの連続したパスのそれぞれの過程で閾値ＳＷより小さい場合に終了することができる。閾値ＳＷは、例えば０．１％、０．０５％、又はユーザが画定することができる。

【0070】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、チャネル出力側データセットＫＡＤを評価することによって決定されたビットエラー率ＢＥＲが、所定の限界値ＧＷより小さいかどうかを確認するように構成される。ビットエラー率ＢＥＲが限界値ＧＷより小さい場合、決定された試験部分列ＰＳＳに基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列ＰＳＳを決定する過程は影響を及ぼされ、更なる試験部分列ＰＳＳは更なる試験信号ＣＰＳに追加される。

【0071】

この場合、試験装置２は、更なる試験部分列ＰＳＳとして試験部分列ＰＳＳの逆数を決定し、及び／又はパルス応答、具体的には最高パルス応答の所定の点に同一記号を備えた試験部分列ＰＳＳの群を形成し、及び／又は試験部分列ＰＳＳに関連した所定の類似基準ＭＥＴを評価するように構成することができる。

【0072】

エラー分析のためにチャネル出力側データセットＫＡＤを評価することは、以下の試験を含むことができる。

【0073】

妨害耐性試験：受信機は、ノイズの場合であっても、規格によって許容された最高値より低いビットエラー率ＢＥＲを備えた信号を解釈する。この試験のために、特定量（仕様に定義された）のノイズが信号に追加される。

【0074】

ジッタ耐性試験も同じであるが、ジッタがノイズの代わりに追加される。

【0075】

一部の規格は、信号障害よりむしろ異なる障害の組み合わせについて記載している。

【0076】

その上、ｐｏｓｔ－ＦＥＣエラーを決定することができる。

【0077】

更なる評価方法については後に説明する。

【0078】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、反復パスの前にチャネル４のチャネル・パラメータＳＢＲ（ｔ）、Ｎ及びｍを決定するように構成される。

【0079】

これに関連して、次に追加として図２を参照する。

【0080】

本例示的実施形態では、決定されたチャネル・パラメータは、ＳＢＲ単一ビット応答（ｓｉｎｇｌｅ ｂｉｔ ｒｅｓｐｏｎｓｅ ＳＢＲ（ｔ））、遅延ｍ（Ｄｅｌａｙ）及び／又は信号Ｓ（ｔ）の長さＮである。

【0081】

図は、可能な記号０、１、２及び３を備えたＰＡＭ－４信号Ｓ（ｔ）の理想的な単一パルス２２及び対応するパルス応答２４であり、単一ビット応答又はＳＢＲ（ｓｉｎｇｌｅ ｂｉｔ ｒｅｓｐｏｎｓｅ ＳＢＲ（ｔ））とも呼ばれる。

【0082】

理想的なチャネル４の場合、理想的な単一パルス２２が、理想的なパルス応答に対応する、すなわち理想的な単一パルスは、第０の記号におけるパルスのみに影響を及ぼし、他の記号には影響を及ぼさない。

【0083】

しかし実際には、パルス応答２４は、チャネル効果のためにはるかに鋭くなく、遅延若しくは遅延ｍを有し、複数の記号Ｎにわたって延在し、又は対応する長さの信号Ｓ（ｔ）を有する。

【0084】

この例では、記号Ｎの数又は信号の長さはＮ＝５であり、遅延ｍ又は遅延はｍ＝２である。換言すると、受信機は、単一パルスをそれが起きた時の時間０の点ではなく、むしろ時間２の点のみで「見る」はずである。ここでは、信号レベルは、理想的な単一パルス２２の最高値にほぼ対応する。

【0085】

その上、評価目的で、アイ・ダイアグラムを発生して評価することができる。

【0086】

これに関連して、追加として図３～５を参照する。

【0087】

この場合、図３は、１つのアイ２６を備えた単純なアイ・ダイアグラムを示し、図４は、４つのレベル及び３つのアイ２６を備えたＰＡＭ－４アイ・ダイアグラムを示し、図５は、閉じたアイ２６を備えたアイ・ダイアグラムを示す。

【0088】

アイ・ダイアグラムは、デジタルデータ転送の信号品質を評価するために使用することができる、電気信号プロファイルの図形表示である。アイ・ダイアグラムは、一連の数的特徴によって置換することができるが、非常に単純でもあるので、非常に単純なアルゴリズムによって評価することができ、つまり評価は完全に自動化することができ、ユーザは評価する必要がない。

【0089】

アイ・ダイアグラムは、統計的に分布された可能性のある信号プロファイルの一種の要約である。適切な場合、ここにカラーコーディングが使用されるので、信号プロファイルの可能性が色彩から明らかになる。信号が受ける影響の結果、理論的には無限の急激な遷移は０から１に進み、逆も同様であり、ここでは数学的に同じ点で長方形又は一定に進むのではなく、むしろ多かれ少なかれ曖昧な幅で遷移し、その結果、アイの典型的な形状は「小さい障害」の場合に中心で上昇する（図３参照）。

【0090】

換言すると、アイ・ダイアグラムは、信号転送の問題を可視化する。問題がない、又はわずかな問題しかない場合、アイ２６は大きく開き、信号遷移がないことが必要である。

【0091】

転送妨害が原因で決定的であるために転送妨害が予想できる場合、信号は依然として等化を用いて受信することができる。アイ２６に遷移が起きる部分列を正確に認識することにより、開発者が設計の最適化及び特に等化するのに役立つ。

【0092】

アイ２６が閉じている（図５参照）場合に、単純な閾値検出器を用いて信号を再構築することは不可能である。アイ２６が開いていても、レベルが、それに続く段階を駆動するために必要な大きさを持たない場合は、識別ができないことがある。水平にアイが開いていることは、論理的瞬間状態の評価が可能である時間的範囲を示す。位相関係が明確ではない、又はジッタのために変化が多すぎる場合、アイ２６は閉じる。

【0093】

その上、評価は、以下の方式に基づいて影響を及ぼされる可能性がある。

【0094】

問題は、試験部分列ＰＳＳの分類によって診断される。試験部分列ＰＳＳが属するクラスを画定するために、それぞれの試験部分列ＰＳＳが、以下のクラス画定特性の１つを有するかどうかを確立するために確認が行われる。

【0095】

１．複合試験部分列ＰＳＳ（異なる組み合わせに異なる記号があり、部分組み合わせに反復する信号がない、例えば２３０１３１２０１１３２は、等化問題を示す、
２．不均等なマーク密度を備えた試験部分列ＰＳＳ（すなわち試験部分列ＰＳＳの平均値は、信号の平均値より明らかに低い、又は明らかに高い、例えばＰＡＭ－４試験部分列ＰＳＳ３２３２２２３３３２は、平均値２．５を有するが、ＰＡＭ－４信号の平均レベルは、（０＋１＋２＋３）／４＝１．５である。これは、受信機内の基線変動又は受信機のフロントエンドの交流結合における問題を示す、
３．連続した同一記号（例えば００００００１）又は小さい電圧振幅を備えた記号（例えばＰＡＭ－４信号ＰＳＳ１２２１２２１１１２）の長い区分を備えた試験部分列ＰＳＳは、クロック修復の問題を示す。

【0096】

試験部分列ＰＳＳは、複数のクラスに同時に属する複数の特性も有することがある。例えば列１００００１００１を備えた試験部分列ＰＳＳは、クラス２及び３に属する。

【0097】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、ビットエラー率ＢＥＲが所定の限界値より小さい場合、現在の更なる試験部分列ＰＳＳとして試験部分列ＰＳＳの逆数ＩＮＶ（図７参照）を決定するように構成される。

【0098】

例えばＰＡＭ－４信号２０３０１の場合、逆数ＩＮＶは１３０３２と読み取る。

【0099】

本例示的実施形態では、異なる転送を用いた信号転送のために、チャネル４への全ての影響は垂直に対称であると仮定することができる。

【0100】

部分列ｓ＋（ｔ）及びｓ－（ｔ）を転送するための条件は、一般に同一であり、従ってｓ＋の増加（これは受信機が誤って０を１と解釈する可能性がある）は、ｓ－の増加（これは受信機が誤って３を２と解釈する可能性がある）と丁度同程度である。

【0101】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、パルス応答、具体的には最高パルス応答の所定の点に同一記号を備えた試験部分列ＰＳＳの群を形成するように構成される。この場合、同一記号は、エラーが実際に起きる列における記号を意味すると理解される。

【0102】

その上、本例示的実施形態では、試験装置２は、試験部分列ＰＳＳを選択するために、試験部分列ＰＳＳに関連した所定の類似基準を決定して評価するように構成される。

【0103】

類似基準ＭＥＴの一例は、以下の通りである。

【数1】

【0104】

２つの列ｓ１、ｓ２は、類似性メトリック（ｓ１，ｓ２）＝０である場合、全体的に類似している。類似性メトリック（ｓ１，ｓ２）の値が大きいほど、２つの列ｓ１、ｓ２は類似性が小さい。

【0105】

図２に示されたチャネル４のＳＢＲ単一ビット応答（ｓｉｎｇｌｅ ｂｉｔ ｒｅｓｐｏｎｓｅ ＳＢＲ（ｔ））に対して、それぞれのＳＢＲ値は、例えばＳＢＲ（０）＝０．０５、ＳＢＲ（１）＝０．１５、ＳＢＲ（２）＝０．４、ＳＢＲ（３）＝０．３、ＳＢＲ（４）＝０．１と読み取る。

【0106】

２つの列ｓ１＝０１３００及びｓ２＝１０３００に対する類似性基準ＭＥＴは、次いで以下のように与えられる。
類似性メトリック（０１３００，１０３００）＝（０－１）^２・０．０５＋（１－０）^２・０．１５＋０＋０＋０＝０．２

【0107】

この値は０に近く、列ｓ１、ｓ２は実際に類似している。

【0108】

対照的に、列ｓ１＝０１３００及びｓ２＝１２２１１に対する類似性基準ＭＥＴは、値１を有し、これは、これらの列ｓ１、ｓ２が全く異なることを意味する。

【0109】

試験装置２を作動するための具体的な方法列について、次に追加として図６及び７を参照して説明する。

【0110】

第１のステップＳ１００は、チャネル４のチャネル・パラメータ（ＳＢＲ（ｔ），Ｎ，ｍ）を決定することに関与する。

【0111】

更なるステップＳ２００は、所定の最低数の反復で初期試験データセットＩＳＴを発生することに関与する。

【0112】

更なるステップＳ３００は、初期試験データセットＩＳＴをチャネル２８に適用することに関与する。

【0113】

更なるステップＳ４００は、初期試験データセットＩＳＴに基づいてチャネル出力側データセットＫＡＤを取得することに関与する。

【0114】

更なるステップＳ５００は、チャネル出力側試験データセットＫＡＤ内のエラー分布ＦＶを決定するために、チャネル出力側データセットＫＡＤを評価することに関与する。

【0115】

更なるステップＳ６００は、チャネル出力側データセットＫＡＤ内のビットエラー率ＢＥＲを決定するために、チャネル出力側データセットＫＡＤを評価することに関与する。

【0116】

更なるステップＳ７００は、エラー分布ＦＶを評価することにより、試験部分列ＰＳＳを決定することに関与する。

【0117】

この目的で、更なるステップＳ７４０は、ステップＳ６００においてチャネル出力側データセットＫＡＤを評価することによって決定されたビットエラー率ＢＥＲが、所定の限界値ＧＷより小さいかどうかを確認することに関与する。

【0118】

ビットエラー率ＢＥＲが所定の限界値ＧＷ以上である場合、方法は、更なるステップＳ８００に続けられる。本例示的実施形態と異なり、ビットエラー率ＢＥＲが所定の限界値ＧＷに等しくない場合に、方法は、更なるステップＳ８００に続けるようにすることもできる。

【0119】

対照的に、ビットエラー率ＢＥＲが所定の限界値ＧＷより小さい場合、以下のステップが行われる。

【0120】

更なるステップＳ７６０は、決定された試験部分列ＰＳＳに基づいて少なくとも１つの更なる試験部分列ＰＳＳを決定することに関与する。

【0121】

この目的で、更なるステップＳ７６２は、更なる試験部分列ＰＳＳとして試験部分列ＰＳＳの逆数ＩＮＶを決定することに関与する。

【0122】

その上、この目的で、更なるステップＳ７６４は、パルス応答、具体的には最高パルス応答の所定の点に同一記号を備えた試験部分列ＰＳＳの群Ｇを形成することに関与する。

【0123】

その上、この目的で、更なるステップＳ７６６は、試験部分列ＰＳＳに関して所定の類似基準ＭＥＴを決定し、試験部分列ＰＳＳを選択するために、それを評価することに関与する。

【0124】

更なるステップＳ７８０は、更なる試験部分列ＰＳＳを更なる試験データセットＣＰＳに追加することに関与する。

【0125】

更なるステップＳ８００は、少なくとも決定された試験部分列ＰＳＳを備えた更なる試験データセットＣＰＳを決定することに関与する。

【0126】

第１のステップＳ９００は、更なる試験データセットＣＰＳをチャネル２８に適用することに関与する。

【0127】

更なるステップＳ１０００は、更なる試験データセットＣＰＳに基づいて現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを決定することに関与する。

【0128】

更なるステップＳ１１００は、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤ内の現在のエラー分布ＦＶを決定するために、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを評価することに関与する。

【0129】

更なるステップＳ１２００は、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤ内の現在のビットエラー率ＢＥＲを決定するために、現在のチャネル出力側データセットＫＡＤを評価することに関与する。

【0130】

更なるステップＳ１３００は、ビットエラー率ＢＥＲを閾値ＳＷと比較することに関与する。

【0131】

ステップＳ１３００における比較が、ビットエラー率ＢＥＲが所定の閾値ＳＷより小さいことを示す場合、方法は更なるステップＳ１４００に続けられる。

【0132】

対照的に、ステップＳ１３００における比較が、ビットエラー率ＢＥＲが所定の閾値ＳＷより大きいことを示す場合、本例示的実施形態では、ステップＳ７４０及びＳ７６０を含み、ステップＳ７６２、Ｓ７６４及びＳ７６６、並びにＳ７８０も含む、以下のステップＳ７００～Ｓ１２００は、具体的には反復して実行される。

【0133】

この目的で、更なるステップＳ７４０は、次いでステップＳ１１００においてチャネル出力側データセットＫＡＤを評価することによって決定された現在のビットエラー率ＢＥＲが、所定の限界値ＧＷより小さいかどうかを確認することに関与する。

【0134】

本例示的実施形態と異なり、現在のビットエラー率ＢＥＲが所定の限界値ＧＷに等しい場合、方法は、更なるステップＳ１３００に続けるようにすることもできる。

【0135】

本例示的実施形態では、方法は、ステップＳ１００～Ｓ６００の初期段階、及びステップＳ７００～Ｓ１２００の下部で制御されるループ（ｆｏｏｔ－ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ ｌｏｏｐ）を含む。本例示的実施形態と異なり、方法は、上部で制御されるループ（ｈｅａｄ－ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ ｌｏｏｐ）を含むこともできる。

【0136】

更なるステップＳ１４００は、ビットエラー率ＢＥＲが所定の閾値ＳＷに対応する場合、エラー分析のためにチャネル出力側信号ＫＡＳを評価することに関与する。

【0137】

本例示的実施形態と異なり、ステップの順番は、異なる順番であることも可能である。その上、複数のステップは、同時に又は一斉に行うこともできる。その上、本例示的実施形態と異なり、個々のステップは飛ばす又は省くこともできる。

【0138】

その結果、反復する過程で、試験パターンが最も複雑（これは最大限に受信機に負荷する）だが適合する、すなわち実際の作動中に可能である、信号列を有するという意味で、テスト信号を段階的に尚一層最適化するために、更なる試験部分列が確認されて試験信号に追加される。

【符号の説明】

【0139】

２ 試験装置
４ 構成
６ 被試験装置
８ ＣＰＳ発生器
１０ ＰＳＳ検出器
１２ 信号発生器
１４ エラー検出器
１６ ＣＰＳアイ・ビジュアライザ
１８ ＰＳＳ分類器
２０ ｐｏｓｔ－ＦＥＣ決定ユニット
２２ 単一パルス
２４ パルス応答
２６ アイ
２８ チャネル
ＢＥＲ ビットエラー率
ＣＰＳ 試験データセット
ＦＶ エラー分布
Ｇ 群
ＧＷ 限界値
ＩＮＶ 逆数
ＩＳＴ 初期試験データセット
ＫＡＤ チャネル出力側データセット
ＫＡＳ チャネル出力側信号
ＫＥＳ チャネル入力側信号
ｍ 遅延
ＭＥＴ 類似基準
ｎ 信号の長さ
ｓ１ 列
ｓ２ 列
Ｓ（ｔ） 信号
ｓ＋（ｔ） 副信号
ｓ－（ｔ） 副信号
ＳＢＲ 単一ビット応答
ＳＷ 閾値
ＰＳＳ 試験部分列
Ｓ１００ ステップ
Ｓ２００ ステップ
Ｓ３００ ステップ
Ｓ４００ ステップ
Ｓ５００ ステップ
Ｓ６００ ステップ
Ｓ７００ ステップ
Ｓ７４０ ステップ
Ｓ７６０ ステップ
Ｓ７６２ ステップ
Ｓ７６４ ステップ
Ｓ７６６ ステップ
Ｓ７８０ ステップ
Ｓ８００ ステップ
Ｓ９００ ステップ
Ｓ１０００ ステップ
Ｓ１１００ ステップ
Ｓ１２００ ステップ
Ｓ１３００ ステップ
Ｓ１４００ ステップ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【外国語明細書】