特開 2023-12683 地盤調査用計測装置の校正方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023012683

(43)【公開日】2023-01-26

(54)【発明の名称】地盤調査用計測装置の校正方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 3/40 20060101AFI20230119BHJP

   E02D 1/00 20060101ALI20230119BHJP

【ＦＩ】

G01N3/40 B

E02D1/00

【審査請求】未請求

【請求項の数】2

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021116269

(22)【出願日】2021-07-14

(71)【出願人】

【識別番号】000002174

【氏名又は名称】積水化学工業株式会社

(71)【出願人】

【識別番号】591223404

【氏名又は名称】株式会社トラバース

(74)【代理人】

【識別番号】240000327

【弁護士】

【氏名又は名称】弁護士法人クレオ国際法律特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】二川 和貴

(72)【発明者】

【氏名】仁科 勇輝

(72)【発明者】

【氏名】相沢 彰彦

(72)【発明者】

【氏名】渡邊 佳勝

(72)【発明者】

【氏名】大野 真幸

【テーマコード（参考）】

2D043

【Ｆターム（参考）】

2D043AA01

2D043AB03

2D043AB04

2D043BA10

2D043BB01

(57)【要約】

【課題】地盤調査に使用する部品や簡便な治具を利用することで、容易に校正を行うことができる地盤調査用計測装置の校正方法を提供する。
【解決手段】対象地盤を調査する際に地盤にロッドを貫入させる貫入試験機に装着される地盤調査用計測装置の校正方法である。
そして、ロッドが通過する経路を塞ぐように台座部に第１校正用プレートを設置する工程（ステップＳ２）と、第１校正用プレートに対してロッドの先端を接触させる工程（ステップＳ４）と、ロッドに錘部及び起振機に基づく既知の荷重を載荷させて、地盤調査用計測装置の荷重計測部によって計測を行う工程（ステップＳ５，Ｓ６）と、荷重計測部の計測結果と既知の荷重とに基づいて校正を行う工程（ステップＳ７）とを備えている。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

対象地盤を調査する際に地盤にロッドを貫入させる貫入試験機に装着される地盤調査用計測装置の校正方法であって、
前記貫入試験機は、前記ロッドを前記対象地盤に貫入させるための開放部を有する台座部と、前記ロッドの上端に荷重を作用させる錘部及び起振機とを備えており、
前記開放部の少なくとも前記ロッドが通過する経路を塞ぐように前記台座部に第１校正用プレートを設置する工程と、
前記第１校正用プレートに対して前記ロッドの先端を接触させる工程と、
前記ロッドに前記錘部及び起振機に基づく既知の荷重を載荷させて、前記地盤調査用計測装置の荷重計測部によって計測を行う工程と、
前記荷重計測部の計測結果と前記既知の荷重とに基づいて校正を行う工程とを備えたことを特徴とする地盤調査用計測装置の校正方法。

【請求項2】

対象地盤を調査する際に地盤にロッドを貫入させる貫入試験機に装着される地盤調査用計測装置の校正方法であって、
前記貫入試験機は、前記ロッドを前記対象地盤に貫入させるための開放部を有する台座部を備えており、
前記開放部の少なくとも前記ロッドが通過する経路を塞ぐように前記台座部に第１校正用プレートを設置する工程と、
前記第１校正用プレートに対して前記ロッドの先端を接触させる工程と、
前記地盤調査用計測装置の変位計測部によって前記第１校正用プレートの上面を基準とする計測を行う工程と、
前記第１校正用プレートの上に厚さが既知の第２校正用プレートを設置する工程と、
前記変位計測部によって前記第２校正用プレートの上面を基準とする計測を行う工程と、
前記変位計測部の計測結果と前記第２校正用プレートの厚さとに基づいて校正を行う工程とを備えたことを特徴とする地盤調査用計測装置の校正方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、対象地盤を調査する際に地盤にロッドを貫入させる貫入試験機に装着される地盤調査用計測装置の校正方法に関するものである。

【背景技術】

【0002】

従来の一般的な地盤調査では、小規模建築物の場合であればスウェーデン式サウンディング（ＳＷＳ）試験などの原位置試験によって、地盤の強度に関する地盤定数を得ている。そして、長期の荷重に対する地盤の支持性能の検討は、この地盤定数に基づいて行われる。

【0003】

ＳＷＳ試験は、錘をつけたロッドの貫入抵抗で地盤の硬軟を評価する調査法で、それに使用される地盤調査装置は近年自動化されており、錘の載荷や除荷、回転制御や計測までもが自動化された機器も普及している。

【0004】

他方において、ＳＷＳ試験で判るのは貫入抵抗であって、その精度には課題も多く、特許文献１では、貫入試験機を利用してそれに振動を与えることによって精度の高い情報を得る方法を提案している。

【0005】

ここで、特許文献１に開示されている手法のように、ＳＷＳ試験の貫入試験機をそのまま利用して起振機により振動を付与し、動的な貫入量と荷重を確認しようとした場合に、装置本体に直接的に変位計や荷重計を取り付けると、振動が大きく精度や耐久性にも影響を与えかねない課題がある。

【0006】

そこで、特許文献２では、ロッドの中間に簡易なアタッチメントとして変位計等を付けることで、多種多様な調査装置に対応するとともに、簡便かつ高精度で計測を行うことができる地盤調査用計測装置を提案している。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0007】

【特許文献1】特開２０１８－１７１１２号公報

【特許文献2】特開２０１９－１７８４９０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0008】

ところで、地盤調査用計測装置の荷重計測部としては、たとえば打撃部分にロードセルやひずみゲージを取り付けた治具を設けて計測する荷重計を用いることがある。また、地盤調査用計測装置の変位計測部としては、精密機械であるポテンショメータ式やレーザ式の変位計を用いることがある。

【0009】

このような地盤調査方法で使用される地盤調査用計測装置は、いずれも振動による負荷が大きくなるため、繰り返し使用する場合には、その精度を確保するために、定期的な校正が必要となる。しかしながらその作業は、一般的には煩雑である。

【0010】

そこで、本発明は、地盤調査に使用する部品や簡便な治具を利用することで、容易に校正を行うことができる地盤調査用計測装置の校正方法を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0011】

前記目的を達成するために、本発明の地盤調査用計測装置の校正方法は、対象地盤を調査する際に地盤にロッドを貫入させる貫入試験機に装着される地盤調査用計測装置の校正方法であって、前記貫入試験機は、前記ロッドを前記対象地盤に貫入させるための開放部を有する台座部と、前記ロッドの上端に荷重を作用させる錘部及び起振機とを備えており、前記開放部の少なくとも前記ロッドが通過する経路を塞ぐように前記台座部に第１校正用プレートを設置する工程と、前記第１校正用プレートに対して前記ロッドの先端を接触させる工程と、前記ロッドに前記錘部及び起振機に基づく既知の荷重を載荷させて、前記地盤調査用計測装置の荷重計測部によって計測を行う工程と、前記荷重計測部の計測結果と前記既知の荷重とに基づいて校正を行う工程とを備えたことを特徴とする。

【0012】

また、別の地盤調査用計測装置の校正方法の発明は、対象地盤を調査する際に地盤にロッドを貫入させる貫入試験機に装着される地盤調査用計測装置の校正方法であって、前記貫入試験機は、前記ロッドを前記対象地盤に貫入させるための開放部を有する台座部を備えており、前記開放部の少なくとも前記ロッドが通過する経路を塞ぐように前記台座部に第１校正用プレートを設置する工程と、前記第１校正用プレートに対して前記ロッドの先端を接触させる工程と、前記地盤調査用計測装置の変位計測部によって前記第１校正用プレートの上面を基準とする計測を行う工程と、前記第１校正用プレートの上に厚さが既知の第２校正用プレートを設置する工程と、前記変位計測部によって前記第２校正用プレートの上面を基準とする計測を行う工程と、前記変位計測部の計測結果と前記第２校正用プレートの厚さとに基づいて校正を行う工程とを備えたことを特徴とする。

【発明の効果】

【0013】

このように構成された本発明の地盤調査用計測装置の校正方法では、ロッドに貫入試験機の錘部及び起振機に基づく既知の荷重を載荷させ、そのときの荷重計測部の計測結果に基づいて、荷重計測部の校正を行う。

【0014】

このように、地盤調査に使用する貫入試験機の錘部や起振機などの部品や、貫入試験機の台座部に設置するだけの板状の簡便な治具を利用するだけで、容易に校正を行うことができる。

【0015】

また、別の本発明の地盤調査用計測装置の校正方法では、貫入試験機の台座部に第１校正用プレートを設置して、最初の変位計測部による計測を行った後に、厚さが既知の第２校正用プレートを第１校正用プレートに重ねて、再度、変位計測部による計測を行う。そして、２回の変位計測部の計測結果に基づいて、変位計測部の校正を行う。

【0016】

このように、貫入試験機の台座部に、板状の簡便な第１校正用プレート及び第２校正用プレートを設置して変位計測部による計測を実施するだけで、容易に校正を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0017】

【図1】本実施の形態の地盤調査用計測装置の校正方法の処理の流れを説明するフローチャートである。

【図2】地盤調査用計測装置の荷重計測部の校正方法を説明するための概要図である。

【図3】地盤調査用計測装置の構成の一例を説明する斜視図である。

【図4】実施例１の地盤調査用計測装置の校正方法の処理の流れを説明するフローチャートである。

【図5】地盤調査用計測装置の変位計測部の校正方法における第１校正用プレートを計測する工程を示した説明図である。

【図6】地盤調査用計測装置の変位計測部の校正方法における第２校正用プレートを計測する工程を示した説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0018】

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
図１は、本実施の形態の地盤調査用計測装置の校正方法の処理の流れを説明するフローチャートである。また、図２は、地盤調査用計測装置の荷重計測部の校正方法を説明するための図である。

【0019】

本実施の形態で説明する地盤調査装置１を使用した地盤調査は、住宅などの建物を建設する調査の対象地盤Ｇに対して実施される。調査の対象地盤Ｇに対しては、通常は、１地点又は複数地点において、直接、貫入試験などの地盤調査が行われる。

【0020】

例えば小規模建築物の場合、一般的に調査の対象地盤Ｇの１地点又は複数地点において、スウェーデン式サウンディング試験（ＳＷＳ試験）が行われる。スウェーデン式サウンディング試験とは、JIS A 1221にも規定される静的貫入試験の一種であり、地盤にスクリューポイントをねじ込む際のロッドの貫入抵抗から地盤の硬軟を推定する地盤調査法である。

【0021】

貫入試験機２は、図２に示すように、ベースマシン２１と、ロッド２２と、ロッド２２の先端（下端）に取り付けられるスクリューポイント（図示省略）と、台座部２４と、錘部２５とによって主に構成される。ベースマシン２１は、小規模建築物の地盤調査で実績があるスウェーデン式サウンディング試験機である。

【0022】

一方、錘部２５は、スウェーデン式サウンディング（ＳＷＳ）試験の際に使用されるスクリューポイントに段階的に荷重を載荷させるために使用される。規格に従った合計重量100kgの錘部２５を備えている。

【0023】

ＳＷＳ試験は、基本的に25cm単位で調査結果を評価することになる。ロッド２２は、1mや50cmの単位ロッド２２１を連結して構成される。すなわち測定は、単位ロッド２２１を継ぎ足しながら進められる。

【0024】

貫入試験機２に起振機３を取り付けて振動や打撃を加えることで、スウェーデン式サウンディング試験よりも精度良く地盤の支持性能や剛性を評価することができるようになる。そして、地盤の支持性能等を評価するためには、作用荷重と貫入量との正確な計測データが必要になる。

【0025】

すなわち、起振機３による打撃が行われる状況の中で、動的な貫入量と荷重を正確に計測する必要がある。この計測は、もともと貫入試験機２に備わっている変位計や荷重計などの地盤調査用計測装置を利用して行うことができる。

【0026】

また、以下で説明するように、ロッド２２に介在させる短尺ロッドや治具に、ひずみ量検出器や変位計を取り付けることで、荷重計測部や変位計測部を備えた地盤調査用計測装置とすることもできる。

【0027】

例えば地盤調査装置１には、図２に示すように、ロッド２２を構成する単位ロッド２２１，２２１間に、地盤調査用計測装置となる計測装置４が組み込まれる。計測装置４の一例を図３に示した。

【0028】

この計測装置４は、ロッド２２に介在させる短尺ロッド４１と、短尺ロッド４１に取り付けられる荷重計測部のひずみ量検出器となるひずみゲージ４２と、変位計測部となる非接触変位計４３とによって主に構成される。

【0029】

短尺ロッド４１は、ロッド２２と同程度の直径の円筒管によって形成されており、上端に上接続ネジ４１１を備えるとともに、下端に下接続ネジ４１２を備えている。すなわち、単位ロッド２２１，２２１間に介在させる短尺ロッド４１には、上方の単位ロッド２２１の下端に接続させるための上接続ネジ４１１と、下方の単位ロッド２２１の上端に接続させるための下接続ネジ４１２とが設けられる。

【0030】

ひずみゲージ４２は、短尺ロッド４１の外周面４１３に貼り付けられる。このひずみゲージ４２の伸縮方向（計測方向）は、短尺ロッド４１の軸方向と一致する。短尺ロッド４１の外周面４１３には、複数のひずみゲージ４２が貼り付けられる。例えば周方向に１８０°ごとに一対のひずみゲージ４２を貼り付けることができる。また、周方向に９０°ごとに４つのひずみゲージ４２を貼り付けることもできる。

【0031】

ひずみゲージ４２は、計器として汎用的に使用され、非常に安価に入手することができる。また、短尺ロッド４１の外周面４１３に貼り付けるだけで設置できるので、非常にコンパクトな構成にすることができる。

【0032】

そして、短尺ロッド４１の材質（ヤング係数Ｅ）及び断面積Ａは規定されているので、ひずみεとの関係式（ε＝σ／Ｅ）から、短尺ロッド４１に生じている軸方向の荷重Ｎは容易に求めることができる。ここで、σは軸方向の応力度（σ＝Ｎ／Ａ）である。ひずみεは、ひずみゲージ４２によって計測される値で、全長Ｌに占める荷重Ｎの作用時の変位量ΔＬの割合（ε＝ΔＬ／Ｌ）に相当する。

【0033】

一方、非接触変位計４３は、短尺ロッド４１の所定の位置とそれに対応する鉛直方向に存在する基準点との間の変位が計測できるように設けられる。具体的には、短尺ロッド４１の外周面４１３から張り出された張出部４４と、貫入試験機２の台座部２４の上面２４１（基準点）などとの間の相対的な変位を計測する。

【0034】

短尺ロッド４１の外周面４１３に直交するように張り出された張出部４４の下面に取り付けられる非接触変位計４３は、レーザＳの照射部と受光部とを備えたレーザ式の変位計である。そして、鉛直下方を向けた非接触変位計４３の照射部から照射されたレーザＳは、貫入試験機２の台座部２４の上面２４１を反射点として反射されて受光部で検出される。

【0035】

計測装置４は、ひずみゲージ４２から検出されるひずみ量（ε）から荷重Ｎを算出する演算処理部を備えている。また、非接触変位計４３から検出された検出信号から、荷重Ｎの作用時の変位（貫入量）を算出することができる。そして、このようにして計測された荷重と貫入量から許容支持力度や推定沈下量が算出できるようになるので、地盤の支持性能を評価することが可能になる。

【0036】

そして、このように構成される計測装置４は、起振機３によって振動が加えられる状況が続く中で使用されるため、振動による負荷が大きく、繰り返し使用する場合には、その精度を確保するために、定期的な校正が必要となる。

【0037】

そこで、本実施の形態の地盤調査用計測装置の校正方法の処理の流れについて、図１に示したフローチャートを参照しながら説明する。
まずステップＳ１では、図２に示すように、貫入試験機２を設置する。この設置場所については、必ずしも対象地盤Ｇ上でなくてもよい。

【0038】

続いてステップＳ２では、貫入試験機２の台座部２４の上面２４１に、第１校正用プレート５を設置する。貫入試験機２の台座部２４には、ロッド２２を通過させて対象地盤Ｇに貫入させるための穴や隙間などの開放部が設けられている。

【0039】

このため、試験時と同様にロッド２２を降下させると、この開放部をロッド２２の先端が通過してしまうので、開放部の少なくともロッド２２が通過する経路を塞ぐように、第１校正用プレート５を台座部２４の上面２４１に設置する。

【0040】

第１校正用プレート５は、起振機３及び錘部２５の合計重量による載荷に耐えうる素材及び厚さに形成される。ＳＷＳ試験を行う貫入試験機２は、規格に従った合計重量100kgの錘部２５を備えている。また、起振機３の重量も既知である。そして、これらの錘部２５や起振機３の重量を校正用の荷重として利用するため、第１校正用プレート５には、その荷重に耐えうる板状の部材が使用される。

【0041】

ステップＳ３では、単位ロッド２２１，２２１間に計測装置４が介在されたロッド２２を、貫入試験機２にセットする。これによって、荷重計測部となるひずみゲージ４２が、ロッド２２に接続されたことになる。

【0042】

そしてステップＳ４では、ロッド２２の先端を降下させて、第１校正用プレート５の上面５１に接触させる。図２は、この状態を示している。要するに、第１校正用プレート５によってロッド２２を支持できる状態にする。なお、貫入試験機２のチャックによってロッド２２を固定している間は、ロッド２２に荷重は作用せず、荷重計測部でも荷重は計測されない。

【0043】

この状態でステップＳ５では、ロッド２２の上端に錘部２５及び起振機３の重量を、貫入試験機２のチャックを解放することで荷重として載荷させる。ここで、錘部２５と起振機３の重量は予め分かっているので、既知の荷重と言える。

【0044】

錘部２５の重量（合計100kg）と起振機３の重量は、すべてをロッド２２に作用させることもできるし、任意の既知の重量分だけを作用させることもできる。要するに、貫入試験機２にもともと備わっている部品の重量の中で、載荷する大きさが判明している部品を荷重として利用する。

【0045】

ステップＳ６では、無負荷の状態から、錘部２５及び起振機３の重量によって設定された既知の荷重を載荷させたときまでの荷重値を、ひずみゲージ４２の検出値（ひずみε）によって計測する。このようにして検出されるひずみ量が、錘部２５及び起振機３に基づく荷重の荷重計測部による計測結果となる。

【0046】

そこで、ステップＳ７では、ひずみゲージ４２によって検出されたひずみ量から演算処理部によって算出される荷重Ｎが、錘部２５及び起振機３に基づく既知の荷重と同じ大きさになるように、荷重計測部の校正を行う。

【0047】

次に、本実施の形態の地盤調査用計測装置の校正方法の作用について説明する。
このように構成された本実施の形態の地盤調査用計測装置の校正方法では、ロッド２２に貫入試験機２の錘部２５及び起振機３に基づく既知の荷重を載荷させ、そのときの荷重計測部のひずみ量検出器となるひずみゲージ４２の計測結果に基づいて、荷重計測部の校正を行う。

【0048】

このように、地盤調査に使用する貫入試験機２の錘部２５や起振機３などの部品や、貫入試験機２の台座部２４に設置するだけの板状の簡便な第１校正用プレート５を利用するだけで、容易に校正を行うことができる。このため、試験前や試験中など、任意のタイミングで繰り返し校正を行うこともできるので、効率的に高い精度の計測が行えるようになる。

【実施例0049】

以下、前記した実施の形態とは別の形態の実施例１について、図４－図６を参照しながら説明する。なお、前記実施の形態で説明した内容と同一乃至均等な部分の説明については、同一用語又は同一符号を付して説明する。

【0050】

前記実施の形態では、地盤調査用計測装置の荷重計測部の校正方法について説明した。本実施例１では、地盤調査用計測装置の変位計測部の校正方法について説明する。具体的には、前記実施の形態で説明した計測装置４の非接触変位計４３を使って説明を行う。

【0051】

本実施例１の非接触変位計４３の校正方法では、２枚の板状部材を使用する。１枚目は、前記実施の形態で説明した第１校正用プレート５を利用することができる。ただし、非接触変位計４３の校正方法では、板状部材に荷重をかけないので、別の板状部材を使用することもできる。

【0052】

２枚目の板状部材を、第２校正用プレート６とする。第２校正用プレート６は、厚さが既知の板状部材である。第１校正用プレート５及び第２校正用プレート６は、いずれも台座部２４の開放部の少なくともロッド２２が通過する経路を塞ぐように設置される。

【0053】

また、第１校正用プレート５及び第２校正用プレート６は、少なくともロッド２２が通過する箇所から非接触変位計４３のレーザＳの反射点までをカバーすることができる広さに形成される。さらに、第１校正用プレート５及び第２校正用プレート６は、全域において一定の厚さに形成される。

【0054】

そして、第２校正用プレート６には、ロッド２２が通過する経路に該当する位置に、図６に示すように、穴６２が穿孔される。この穴６２は、例えばロッド２２の直径より一回り大きく形成されて、容易に降下させたロッド２２の先端が通過できるようにする。

【0055】

続いて、実施例１の地盤調査用計測装置の校正方法の処理の流れについて、図４に示したフローチャートを参照しながら説明する。
まずステップＳ１１では、図５に示すように、貫入試験機２を設置する。この設置場所については、必ずしも対象地盤Ｇ上でなくてもよい。

【0056】

続いてステップＳ１２では、貫入試験機２の台座部２４の上面２４１に、第１校正用プレート５を設置する。そして、試験時と同様にロッド２２を降下させて、ロッド２２の先端を第１校正用プレート５の上面５１に接触させる（ステップＳ１３）。

【0057】

続いてステップＳ１４では、非接触変位計４３によって、第１校正用プレート５の上面５１に向けてレーザＳを照射させる。図５は、この状態を示している。要するに、非接触変位計４３の検出信号によって、第１校正用プレート５の上面５１と非接触変位計４３との距離を計測する。

【0058】

このようにして第１校正用プレート５の上面５１の位置を表す距離を非接触変位計４３によって計測した後に、一旦、ロッド２２の先端を、第２校正用プレート６の厚さ以上の高さまで持ち上げる。

【0059】

続いてステップＳ１５では、第１校正用プレート５の上面５１の上に、第２校正用プレート６を設置する。そして、ロッド２２の先端を降下させて、第２校正用プレート６の穴６２に通して、ロッド２２の先端を第１校正用プレート５の上面５１に接触させる。

【0060】

ステップＳ１６では、非接触変位計４３によって、第２校正用プレート６の上面６１に向けてレーザＳを照射させる。図６は、この状態を示している。要するに、非接触変位計４３の検出信号によって、第２校正用プレート６の上面６１と非接触変位計４３との距離を計測する。

【0061】

このようにして第２校正用プレート６の上面６１の位置を表す距離を非接触変位計４３によって計測すると、ステップＳ１４で計測した第１校正用プレート５の上面５１の位置との差から、変位が算出される。この変位が、変位計測部による計測結果となる。

【0062】

そこで、ステップＳ１７では、非接触変位計４３の計測結果から算出された変位が、第２校正用プレート６の既知の厚さと同じ大きさになるように、変位計測部の校正を行う。

【0063】

このように構成された実施例１の地盤調査用計測装置の校正方法では、貫入試験機２の台座部２４に第１校正用プレート５を設置して、最初の変位計測部（非接触変位計４３）による計測を行った後に、厚さが既知の第２校正用プレート６を第１校正用プレート５に重ねて、再度、非接触変位計４３による計測を行う。そして、２回の非接触変位計４３の計測結果に基づいて、変位計測部の校正を行う。

【0064】

このように、貫入試験機２の台座部２４に、板状の簡便な第１校正用プレート５と第２校正用プレート６を順番に設置して、それぞれ非接触変位計４３による計測を実施するだけで、容易に校正を行うことができる。

【0065】

このため、試験前や試験中など、任意のタイミングで繰り返し校正を行うこともできるので、効率的に高い精度の計測が行えるようになる。
なお、他の構成及び作用効果については、前記実施の形態と略同様であるので説明を省略する。

【0066】

以上、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳述してきたが、具体的な構成は、この実施の形態又は実施例に限らず、本発明の要旨を逸脱しない程度の設計的変更は、本発明に含まれる。

【0067】

例えば、前記実施の形態及び実施例１では、ひずみゲージ４２で構成される荷重計測部と非接触変位計４３で構成される変位計測部とを備えた計測装置４を例に地盤調査用計測装置について説明したが、これに限定されるものではない。荷重計測部はロードセルによって構成されるものであってもよいし、変位計測部はポテンショメータ式変位計で構成されるものであってもよい。

【0068】

また、前記実施例１では、ロッド２２を通過させる穴６２が穿孔された第２校正用プレート６を例に説明したが、これに限定されるものではなく、第２校正用プレートは、非接触変位計４３のレーザＳの反射点にだけ設置される広さのものであってもよい。この場合は、第１校正用プレート５の上面５１を計測した後に、ロッド２２を一旦、上昇させる工程を省くことができる。

【0069】

また、前記実施例１では、ロッド２２に取り付けられたレーザ式の変位計測部の校正方法について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、ロッド２２の降下量を直接、計測するポテンショメータ式変位計を変位計測部とする場合は、第１校正用プレート５の上面５１にロッド２２の先端を接触させて計測を行った後に、第１校正用プレート５の上に重ねた第２校正用プレート６の上面６１にロッド２２の先端を接触させて計測を行うことで、第２校正用プレート６の厚さに相当する変位を計測したことになる。

【符号の説明】

【0070】

２ ：貫入試験機
２２ ：ロッド
２４ ：台座部
２５ ：錘部
３ ：起振機
４ ：計測装置（地盤調査用計測装置）
４２ ：ひずみゲージ（荷重計測部）
４３ ：非接触変位計（変位計測部）
５ ：第１校正用プレート
５１ ：上面
６ ：第２校正用プレート
６１ ：上面
Ｇ ：対象地盤

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】