特開 2023-127099 試験装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023127099

(43)【公開日】2023-09-13

(54)【発明の名称】試験装置

(51)【国際特許分類】

   E05B 41/00 20060101AFI20230906BHJP

   E05B 47/00 20060101ALI20230906BHJP

   G01R 31/54 20200101ALI20230906BHJP

【ＦＩ】

E05B41/00 F

E05B47/00 R

G01R31/54

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022030667

(22)【出願日】2022-03-01

(71)【出願人】

【識別番号】000236056

【氏名又は名称】三菱電機ビルソリューションズ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110003199

【氏名又は名称】弁理士法人高田・高橋国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】濱野 淳基

【テーマコード（参考）】

2G014

【Ｆターム（参考）】

2G014AA02

2G014AA13

2G014AB00

2G014AC02

(57)【要約】

【課題】少ない人員で導通の試験を実施できる試験装置を提供する。
【解決手段】試験装置は、扉に設けられた電気錠と信号線を介して接続された入退管理装置によって電気錠の施解錠が制御される電気錠システムにおいて、電気錠の代わりに入退管理装置と信号線を介して接続される試験装置であって、入退管理装置から電気錠を動作させる電圧を受け付ける電圧試験部と、電気錠の施解錠状態を疑似的に示す信号を入退管理装置に発信する施解錠試験部と、扉の開閉状態を疑似的に示す信号を入退管理装置に発信する扉開閉試験部と、電圧試験部が入退管理装置からの電圧を受け付けた場合に、試験手順に基づいて施解錠試験部の施解錠状態および扉開閉試験部の扉開閉状態を制御する試験制御部と、を備えた。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

扉に設けられた電気錠と信号線を介して接続された入退管理装置によって前記電気錠の施解錠が制御される電気錠システムにおいて、前記電気錠の代わりに前記入退管理装置と前記信号線を介して接続される試験装置であって、
前記入退管理装置から前記電気錠を動作させる電圧を受け付ける電圧試験部と、
前記電気錠の施解錠状態を疑似的に示す信号を前記入退管理装置に発信する施解錠試験部と、
前記扉の開閉状態を疑似的に示す信号を前記入退管理装置に発信する扉開閉試験部と、
前記電圧試験部が前記入退管理装置からの電圧を受け付けた場合に、試験手順に基づいて前記施解錠試験部の施解錠状態および前記扉開閉試験部の扉開閉状態を制御する試験制御部と、
を備えた試験装置。

【請求項2】

前記試験制御部は、試験手順として、
前記電圧試験部が電圧を受け付けた場合に、前記施解錠試験部を解錠状態にさせ、
前記施解錠試験部を解錠状態にさせてから規定の時間が経過した場合に、前記扉開閉試験部を扉開状態にさせ、
前記扉開閉試験部を扉開状態にさせてから規定の時間が経過した場合に、前記扉開閉試験部を扉閉状態にさせ、
前記扉開閉試験部を扉閉状態にさせてから規定の時間が経過した場合に、前記施解錠試験部を施錠状態にさせる、
請求項１に記載の試験装置。

【請求項3】

前記電圧試験部は、前記入退管理装置からの電圧値が閾値以上である場合に、印加された電圧の状態を示す電圧ランプを点灯させる請求項１または請求項２に記載の試験装置。

【請求項4】

前記施解錠試験部は、
施錠状態である場合に、施錠状態であることを示す施錠ランプを点灯させて前記電気錠が施錠状態であることを疑似的に示す信号を発信し、
解錠状態である場合に、解錠状態であることを示す解錠ランプを点灯させて前記電気錠が解錠状態であることを疑似的に示す信号を発信する、
請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の試験装置。

【請求項5】

前記扉開閉試験部は、
扉開状態である場合に、扉開状態であることを示す扉開ランプを点灯させて前記扉が開状態であることを疑似的に示す信号を発信し、
扉閉状態である場合に、扉閉状態であることを示す扉閉ランプを点灯させて前記扉が閉状態であることを疑似的に示す信号を発信する、
請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の試験装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、試験装置に関する。

【背景技術】

【0002】

特許文献１は、電気錠システムにおける電気錠の試験装置を開示する。当該電気錠の試験装置は、電気錠と接続される。電気錠の試験装置は、電気錠を制御する入退管理装置の動作を模擬する。作業員は、試験装置の動作を確認することで、電気錠に異常があるかを判断し得る。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開平１１－２１７９６３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

特許文献１に記載の試験装置を用いることで、電気錠の異常が判断される。また、入退管理装置と電気錠との間に異常が発生しているか否かは、入退管理装置と電気錠との間の信号線の導通試験によって判断される。通常、入退管理装置と電気錠との間は数メートル離れている。このため、当該試験は、電気錠の側に配置される作業員と、入退管理装置の側に配置される作業員との２人の作業員で実施される。しかしながら、電気錠システムの故障発生時に、作業員を２人確保することが難しいことがある。

【0005】

本開示は、上述の課題を解決するためになされた。本開示の目的は、少ない人員で導通の試験を実施できる試験装置を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本開示に係る試験装置は、扉に設けられた電気錠と信号線を介して接続された入退管理装置によって電気錠の施解錠が制御される電気錠システムにおいて、電気錠の代わりに入退管理装置と信号線を介して接続される試験装置であって、入退管理装置から電気錠を動作させる電圧を受け付ける電圧試験部と、電気錠の施解錠状態を疑似的に示す信号を入退管理装置に発信する施解錠試験部と、扉の開閉状態を疑似的に示す信号を入退管理装置に発信する扉開閉試験部と、電圧試験部が入退管理装置からの電圧を受け付けた場合に、試験手順に基づいて施解錠試験部の施解錠状態および扉開閉試験部の扉開閉状態を制御する試験制御部と、を備えた。

【発明の効果】

【0007】

本開示によれば、試験制御部は、試験手順に基づいて施解錠状態および扉開閉状態を制御する。このため、少ない人員で導通の試験を実施できる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】実施の形態１における試験装置が適用される電気錠システムの構成図である。

【図2】実施の形態１における試験装置のブロック図である。

【図3】実施の形態１における試験装置が行う動作の概要を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0009】

本開示を実施するための形態について添付の図面に従って説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には同一の符号が付される。当該部分の重複説明は適宜に簡略化ないし省略される。

【0010】

実施の形態１．
図１は実施の形態１における試験装置が適用される電気錠システムの構成図である。

【0011】

図１には、電気錠システム１が示される。電気錠システム１は、図示されない建築物に設けられる。電気錠システム１は、扉２と電気錠３と通電金具４と読取装置５と入退管理装置６と配線パイプ７と信号線８とを備える。

【0012】

扉２は、建築物において部屋の出入口に設けられる。例えば、電気錠３は、通電時解錠方式の錠である。電気錠３は、扉２に設けられる。通電金具４の一部は、扉２に設けられる。通電金具４の他部は、扉２が設けられた壁に設けられる。通電金具４は、内部において、一部から他部にわたって配線を通し得る。例えば、通電金具４の内部には、コネクタ４ａが設けられる。図示されないが、通常状態において、コネクタ４ａは、電気錠３と電気的に接続される。

【0013】

例えば、読取装置５は、カードリーダである。読取装置５は、扉２の横に設けられる。例えば、入退管理装置６は、ＩＤＣ：ＩＤ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒである。入退管理装置６は、扉２が設けられた階と同じ階に設けられる。例えば、入退管理装置６は、扉２から数ｍ以上離れた位置に設けられる。入退管理装置６は、配線を介して読取装置５と電気的に接続される。

【0014】

例えば、配線パイプ７は、配線用の配管である。配線パイプ７は、入退管理装置６が設けられた階に設けられる。配線パイプ７は、扉２から入退管理装置６まで繋がる。具体的には、配線パイプ７は、扉２から入退管理装置６までの間の当該階の壁の内部、天井の内部、等に設置される。信号線８は、配線パイプ７の内部を通される。信号線８は、電気錠３と入退管理装置６とを電気的に接続する。具体的には、信号線８は、入退管理装置６から配線パイプ７および通電金具４を通って、コネクタ４ａにおいて電気錠３と電気的に接続される。

【0015】

図示されないが、通常状態において、入退管理装置６は、電気錠３の解錠状態および施錠状態を制御する。読取装置５は、扉２の通行者のＩＤカードから認証情報を読み取り、通行者を認証する。入退管理装置６は、読取装置５から通行者を認証したことを示す情報を受信した場合、電気錠３を解錠する。具体的には、入退管理装置６は、電気錠３のソレノイドを励起するためのソレノイド電圧を信号線８を介して電気錠３に印加する。例えば、入退管理装置６は、電気錠３にソレノイド電圧として２４Ｖの電圧を印加する。

【0016】

電気錠３は、当該電圧に応じて解錠する。また、電気錠３は、施錠状態または解錠状態のいずれであるかを示す施解錠信号と、扉２が開状態または閉状態のいずれであるかを示す扉開閉信号と、を信号線８を介して入退管理装置６に送信する。なお、入退管理装置６は、電気錠３から施解錠信号を受信しないことで電気錠３が施錠状態であることを認識してもよい。入退管理装置６は、電気錠３から扉開閉信号を受信しないことで扉２が開状態であることを認識してもよい。

【0017】

電気錠３が解錠した後、扉２が開けられる。その後、扉２が閉められる。電気錠３は、施錠状態になる。入退管理装置６は、施解錠信号および扉開閉信号に基づいて、扉２が閉状態であり電気錠３が施錠状態であることを認識する。入退管理装置６は、電気錠３に印加していたソレノイド電圧を０Ｖにする。

【0018】

例えば、電気錠３が故障した場合、入退管理装置６は、電気錠３からの信号の状態に基づいて、異常を検出する。図示されないが、入退管理装置６は、電気錠システム１の保守管理会社のセンター装置に対して、異常を検出した旨を通知する。この場合、保守管理会社は、作業員を派遣する。

【0019】

作業員は、まず、信号線８が正常に信号を導通するかの試験を行う。この際、作業員は、試験装置１０をコネクタ４ａに接続する。試験装置１０は、入退管理装置６からの制御電圧に対応する電気錠３の動作を模擬する。具体的には、試験装置１０は、入退管理装置６からソレノイド電圧が印加された後、電気錠３が発信する施解錠信号および扉開閉信号を模擬した信号を、試験手順に基づいて自動で発信する。また、試験装置１０は、電圧ランプ１１と施解錠ランプと扉開閉ランプとを備える。本実施の形態において、試験装置１０は、施解錠ランプとして施錠ランプ１２と解錠ランプ１３とを備える。試験装置１０は、扉開閉ランプとして扉開ランプ１４と扉閉ランプ１５とを備える。例えば、電圧ランプ１１と施錠ランプ１２と解錠ランプ１３と扉開ランプ１４と扉閉ランプ１５とは、いずれもＬＥＤである。試験装置１０は、信号の発信状態に対応するランプを点灯させる。

【0020】

例えば、作業員は、扉２の側のコネクタ４ａに試験装置１０を接続した後、入退管理装置６の側において当該導通の試験を行う。そのため、従来は、扉２の側の作業員と入退管理装置６の側の作業員との２人で行われていた信号線８の導通の試験が、１人の作業員で実行され得る。

【0021】

次に、信号線８と試験装置１０とを説明する。
図２は実施の形態１における試験装置のブロック図である。なお、図２において、扉２の図示は省略される。

【0022】

図２に示されるように、信号線８は、電圧線８ａと施解錠信号線８ｂと扉開閉信号線８ｃとを含む。電圧線８ａと施解錠信号線８ｂと扉開閉信号線８ｃとは、それぞれ一対の導線から構成される。電圧線８ａと施解錠信号線８ｂと扉開閉信号線８ｃとは、それぞれ入退管理装置６と試験装置１０とに接続される。

【0023】

試験装置１０は、電圧試験部１６と施解錠試験部１７と扉開閉試験部１８と試験制御部１９とを備える。

【0024】

試験装置１０は、電圧試験部１６と施解錠試験部１７と扉開閉試験部１８と試験制御部１９との各機能を実現する電気回路によって構成される。なお、試験装置１０は、電圧試験部１６と施解錠試験部１７と扉開閉試験部１８と試験制御部１９との各機能を実現する処理回路によって構成されてもよい。この場合、処理回路は、少なくとも１つのプロセッサと少なくとも１つのメモリとを備える。メモリは、各機能を示すプログラムを格納する。プロセッサは、メモリに格納されたプログラムを読みだして実行することで、試験装置１０の各機能を実現する。

【0025】

電圧試験部１６は、電圧線８ａを介して入退管理装置６と接続される。電圧試験部１６は、ソレノイド電圧を受け付ける。電圧試験部１６は、ソレノイド電圧に基づいて、電圧ランプ１１を点灯または消灯させる。具体的には、電圧試験部１６は、ソレノイド電圧値が規定の閾値以上である２４Ｖである場合、電圧ランプ１１を点灯させる。

【0026】

施解錠試験部１７は、施解錠信号線８ｂを介して入退管理装置６と接続される。施解錠試験部１７は、施解錠状態として疑似的な施錠状態と疑似的な解錠状態とを設定する。施解錠試験部１７は、施解錠状態に応じて、図１には図示されない電気錠３の施解錠信号を模擬する信号を入退管理装置６に発信する。施解錠試験部１７は、施解錠状態に応じて施錠ランプ１２および解錠ランプ１３を点灯または消灯させる。なお、入退管理装置６との間で施解錠信号を模擬する信号が正常に伝達されないことを検出した場合、施解錠試験部１７は、施錠ランプ１２および解錠ランプ１３の少なくとも１つを点灯または消灯させない。

【0027】

扉開閉試験部１８は、扉開閉信号線８ｃを介して入退管理装置６と接続される。扉開閉試験部１８は、扉開閉状態として疑似的な扉開状態と疑似的な扉閉状態とを設定する。扉開閉試験部１８は、扉開閉状態に応じて、電気錠３の扉開閉信号を模擬する信号を入退管理装置６に発信する。扉開閉試験部１８は、扉開閉状態に応じて扉開ランプ１４および扉閉ランプ１５を点灯または消灯させる。なお、入退管理装置６との間で扉開閉信号を模擬する信号が正常に伝達されないことを検出した場合、扉開閉試験部１８は、扉開ランプ１４および扉閉ランプ１５の少なくとも１つを点灯または消灯させない。

【0028】

試験制御部１９は、試験手順の情報を記憶する。試験制御部１９は、試験手順に基づいて、施解錠試験部１７の施解錠状態および扉開閉試験部１８の扉開閉状態を制御する。

【0029】

具体的には、試験制御部１９は、電圧試験部１６に規定の閾値以上の電圧が印加された場合、試験手順を開始する。試験手順は、電気錠３が解錠されてから施錠されるまでの電気錠３の状態が模擬された手順である。試験手順が開始する時点で、施解錠試験部１７は、施錠状態である。扉開閉試験部１８は、扉閉状態である。

【0030】

まず、試験制御部１９は、施解錠試験部１７の設定を施錠状態から解錠状態に変更する。施解錠試験部１７が解錠状態になってから規定の時間が経過した場合、試験制御部１９は、扉開閉試験部１８の設定を扉閉状態から扉開状態に変更する。扉開閉試験部１８が扉開状態になってから規定の時間が経過した場合、試験制御部１９は、扉開閉試験部１８の設定を扉開状態から扉閉状態に変更する。扉開閉試験部１８が扉閉状態になってから規定の時間が経過した場合、試験制御部１９は、施解錠試験部１７の設定を解錠状態から施錠状態に変更する。その後、試験制御部１９は、試験手順を終了する。

【0031】

次に、図３を用いて、導通試験において作業員と電気錠システム１とが行う動作を説明する。
図３は実施の形態１における試験装置が行う動作の概要を示す図である。なお、図３には電気錠３の図示が省略される。

【0032】

図３に示されるように、導通試験は、試験装置１０が電気錠３の代わりに入退管理装置６に接続された状態で開始される。試験装置１０において、電圧ランプ１１が消灯し、施錠ランプ１２が点灯し、解錠ランプ１３が消灯し、扉開ランプ１４が消灯し、扉閉ランプ１５が点灯している。導通試験では、動作Ｏ１から動作Ｏ１８が行われる。なお、以下で説明する導通試験では、電圧線８ａ、施解錠信号線８ｂ、および扉開閉信号線８ｃは、いずれも正常であるとする。

【0033】

まず、動作Ｏ１として、作業員は、読取装置５に認証情報を読み取らせる。動作Ｏ２として、読取装置５は、認証情報に基づいて、通行者を認証したことを示す情報を入退管理装置６に送信する。

【0034】

通行者を認証したことを示す情報を受信した場合、動作Ｏ３として、入退管理装置６は、電圧線８ａを介して試験装置１０に２４Ｖのソレノイド電圧を印加する。即ち、試験装置１０に印加される電圧は、０Ｖから２４Ｖに変化する。この場合、動作Ｏ４として、試験装置１０は、電圧ランプ１１を点灯させる。

【0035】

その後、試験装置１０は、施解錠状態の設定を施錠状態から解錠状態に変更する。この場合、動作Ｏ５として、施錠ランプ１２が消灯する。動作Ｏ６として、解錠ランプ１３が点灯する。動作Ｏ７として、入退管理装置６と試験装置１０との間で、解錠信号がｍａｋｅする。このため、入退管理装置６は、電気錠３が解錠されたと認識する。

【0036】

その後、試験装置１０は、規定の時間として３秒間待機する。３秒が経過した場合、試験装置１０は、扉開閉状態の設定を扉閉状態から扉開状態に変更する。この場合、動作Ｏ８として、扉閉ランプ１５が消灯する。動作Ｏ９として扉開ランプ１４が点灯する。動作Ｏ１０として、入退管理装置６と試験装置１０との間で、戸閉信号がｂｒｅａｋする。このため、入退管理装置６は、扉２が開いていると認識する。

【0037】

その後、試験装置１０は、規定の時間として３秒間待機する。３秒が経過した場合、試験装置は、扉開閉状態の設定を扉開状態から扉閉状態に変更する。この場合、動作Ｏ１１として、扉開ランプ１４が消灯する。動作Ｏ１２として、扉閉ランプ１５が点灯する。動作Ｏ１３として、入退管理装置６と試験装置１０との間で、扉閉信号がｍａｋｅする。このため、入退管理装置６は、扉２が閉じていると認識する。

【0038】

その後、試験装置１０は、規定の時間として３秒間待機する。３秒が経過した場合、試験装置１０は、施解錠状態の設定を解錠状態から施錠状態に変更する。この場合、動作Ｏ１４として、解錠ランプ１３が消灯する。動作Ｏ１５として、施錠ランプ１２が点灯する。動作Ｏ１６として、入退管理装置６と試験装置１０との間で、解錠信号がｂｒｅａｋする。このため、入退管理装置６は、電気錠３が施錠されたと認識する。

【0039】

電気錠３が施錠されたと認識した場合、動作Ｏ１７として、入退管理装置６は、ソレノイド電圧の印加を終了する。即ち、試験装置１０に印加される電圧は、２４Ｖから０Ｖに変化する。この場合、動作Ｏ１８として、電圧ランプ１１が消灯する。

【0040】

試験装置１０を目視できる場合、作業員は、導通試験における試験装置１０の各ランプの点灯および消灯を確認することで、電圧線８ａ、施解錠信号線８ｂ、および扉開閉信号線８ｃが正常であると判断してもよい。

【0041】

なお、例えば、施解錠信号線８ｂが断線している場合、動作Ｏ７において、入退管理装置６と試験装置１０との間で解錠信号がｍａｋｅしない。この場合、例えば、動作Ｏ６において解錠ランプ１３が点灯しない。このため、作業員は、施解錠信号線８ｂに異常があると判断する。

【0042】

なお、例えば、扉開閉信号線８ｃが断線している場合、導通の試験を開始する際に、入退管理装置６と試験装置１０との間で扉閉信号がｍａｋｅしない。この場合、例えば、導通の試験を開始する際に扉閉ランプ１５が点灯しない。このため、作業員は、扉開閉信号線８ｃに異常があると判断する。

【0043】

試験装置１０を目視できない場合、作業員は、入退管理装置６の挙動を確認することで、電圧線８ａ、施解錠信号線８ｂ、および扉開閉信号線８ｃが正常であると判断してもよい。例えば、作業員は、入退管理装置６に接続した保守端末の表示に基づいて、入退管理装置６の挙動を確認してもよい。

【0044】

以上で説明した実施の形態１によれば、試験装置１０は、電圧試験部１６と施解錠試験部１７と扉開閉試験部１８と試験制御部１９とを備える。試験装置１０は、試験手順に基づいて、電気錠３の状態を模擬する信号を制御する。即ち、信号線８の導通の試験において、試験装置１０は、従来では扉２の側にいる作業員が行っていた作業と同様の動作を自動で行う。このため、当該試験における作業員の数を減らすことができる。このため、少ない人員で導通の試験を行うことができる。

【0045】

また、試験装置１０は、試験手順に応じて、電圧ランプ１１、施錠ランプ１２、解錠ランプ１３、扉開ランプ１４、および扉閉ランプ１５の少なくとも１つを消灯または点灯させる。このため、作業員は、導通の試験の状態を目視で確認することができる。

【0046】

なお、試験制御部１９は、試験手順とは別に、施解錠試験部１７の設定および扉開閉試験部１８の設定を変更してもよい。例えば、試験装置１０に設けられた図示されないスイッチの操作に基づいて、試験制御部１９は、施解錠試験部１７の設定および扉開閉試験部１８の設定を変更してもよい。

【符号の説明】

【0047】

１ 電気錠システム、 ２ 扉、 ３ 電気錠、 ４ 通電金具、 ４ａ コネクタ、 ５ 読取装置、 ６ 入退管理装置、 ７ 配線パイプ、 ８ 信号線、 ８ａ 電圧線、 ８ｂ 施解錠信号線、 ８ｃ 扉開閉信号線、 １０ 試験装置、 １１ 電圧ランプ、 １２ 施錠ランプ、 １３ 解錠ランプ、 １４ 扉開ランプ、 １５ 扉閉ランプ、 １６ 電圧試験部、 １７ 施解錠試験部、 １８ 扉開閉試験部、 １９ 試験制御部

【図1】

【図2】

【図3】