(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023136741
(43)【公開日】2023-09-29
(54)【発明の名称】電磁波試験装置、及び電磁波試験方法
(51)【国際特許分類】
G01R 29/10 20060101AFI20230922BHJP
【ＦＩ】
G01R29/10 E
【審査請求】未請求
【請求項の数】25
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022042598
(22)【出願日】2022-03-17
(71)【出願人】
【識別番号】000003067
【氏名又は名称】ＴＤＫ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100141139
【弁理士】
【氏名又は名称】及川 周
(74)【代理人】
【識別番号】100163496
【弁理士】
【氏名又は名称】荒 則彦
(74)【代理人】
【識別番号】100169694
【弁理士】
【氏名又は名称】荻野 彰広
(74)【代理人】
【識別番号】100114937
【弁理士】
【氏名又は名称】松本 裕幸
(72)【発明者】
【氏名】濱本 将太郎
(72)【発明者】
【氏名】緑 雅貴
(72)【発明者】
【氏名】栗原 弘
(57)【要約】
【課題】ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる電磁波試験装置を提供する。
【解決手段】反射箱と、反射箱内に設置され、反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、反射箱内に設置され、第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続され、第１アンテナに給電する給電装置と、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、第２アンテナから電磁波が放射されている場合における第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、第１アンテナの接続先をダミーロードと第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部を含む切替部と、を備える電磁波試験装置。
【選択図】図１
【解決手段】反射箱と、反射箱内に設置され、反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、反射箱内に設置され、第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続され、第１アンテナに給電する給電装置と、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、第２アンテナから電磁波が放射されている場合における第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、第１アンテナの接続先をダミーロードと第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部を含む切替部と、を備える電磁波試験装置。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
反射箱と、
前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、
前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、
グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、
前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、
前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、
前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部を含む切替部と、
を備える電磁波試験装置。
前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、
前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、
グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、
前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、
前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、
前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部を含む切替部と、
を備える電磁波試験装置。
【請求項2】
前記第１電力損失抑制部は、開放端である、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項3】
前記第１電力損失抑制部は、終端抵抗である、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項4】
前記第１電力損失抑制部は、前記グラウンド電位を有する部材である、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項5】
前記切替部は、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第３切替部を更に含む、
請求項１から４のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
請求項１から４のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
【請求項6】
反射箱と、
前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、
前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、
グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、
前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有し、開放端と異なる第２電力損失抑制部と、
前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部を含む切替部と、
を備える電磁波試験装置。
前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、
前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、
グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、
前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有し、開放端と異なる第２電力損失抑制部と、
前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部を含む切替部と、
を備える電磁波試験装置。
【請求項7】
前記第２電力損失抑制部は、終端抵抗である、
請求項６に記載の電磁波試験装置。
請求項６に記載の電磁波試験装置。
【請求項8】
前記第２電力損失抑制部は、前記グラウンド電位を有する部材である、
請求項６に記載の電磁波試験装置。
請求項６に記載の電磁波試験装置。
【請求項9】
前記インピーダンスは、前記許容値に応じて予め決められた第１閾値未満の第１インピーダンス、又は、前記許容値に応じて予め決められた第２閾値以上の第２インピーダンスであり、
前記第２閾値は、前記第１閾値よりも高い値である、
請求項１から８のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
前記第２閾値は、前記第１閾値よりも高い値である、
請求項１から８のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
【請求項10】
前記第１インピーダンスは、前記許容値と、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比と、前記第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第１条件を満たすインピーダンスであり、
前記第２インピーダンスは、前記許容値と、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比と、前記第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第２条件を満たすインピーダンスである、
請求項９に記載の電磁波試験装置。
前記第２インピーダンスは、前記許容値と、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比と、前記第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第２条件を満たすインピーダンスである、
請求項９に記載の電磁波試験装置。
【請求項11】
前記第１条件は、以下の式（１）により表され、
前記第２条件は、以下の式（２）により表され、
ｒＥは、前記許容値を示し、
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１０に記載の電磁波試験装置。
【数1】
【数2】
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１０に記載の電磁波試験装置。
【請求項12】
前記第１条件は、以下の式（３）により表され、
前記第２条件は、以下の式（４）により表され、
ｒＥは、前記許容値を示し、
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１０に記載の電磁波試験装置。
【数3】
【数4】
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１０に記載の電磁波試験装置。
【請求項13】
反射箱と、
前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、
前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、
グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、
前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、
予め決められたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、
予め決められたインピーダンスを有する第２電力損失抑制部と、
前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部とを含む切替部と、
を備え、
前記第１電力損失抑制部のインピーダンスと前記第２電力損失抑制部のインピーダンスとの合成インピーダンスは、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスである、
電磁波試験装置。
前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、
前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、
グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、
前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、
予め決められたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、
予め決められたインピーダンスを有する第２電力損失抑制部と、
前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部とを含む切替部と、
を備え、
前記第１電力損失抑制部のインピーダンスと前記第２電力損失抑制部のインピーダンスとの合成インピーダンスは、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスである、
電磁波試験装置。
【請求項14】
前記第１電力損失抑制部及び前記第２電力損失抑制部は、開放端である、
請求項１３に記載の電磁波試験装置。
請求項１３に記載の電磁波試験装置。
【請求項15】
前記第１電力損失抑制部及び前記第２電力損失抑制部は、終端抵抗である、
請求項１３に記載の電磁波試験装置。
請求項１３に記載の電磁波試験装置。
【請求項16】
前記第１電力損失抑制部及び前記第２電力損失抑制部は、前記グラウンド電位を有する部材である、
請求項１３に記載の電磁波試験装置。
請求項１３に記載の電磁波試験装置。
【請求項17】
前記合成インピーダンスは、前記許容値に応じて予め決められた第１閾値未満の第１インピーダンス、又は、前記許容値に応じて予め決められた第２閾値以上の第２インピーダンスであり、
前記第２閾値は、前記第１閾値よりも高い値である、
請求項１３から１６のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
前記第２閾値は、前記第１閾値よりも高い値である、
請求項１３から１６のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
【請求項18】
前記第１インピーダンスは、前記許容値と、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比と、前記第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第１条件を満たすインピーダンスであり、
前記第２インピーダンスは、前記許容値と、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比と、前記第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第２条件を満たすインピーダンスである、
請求項１７に記載の電磁波試験装置。
前記第２インピーダンスは、前記許容値と、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比と、前記第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第２条件を満たすインピーダンスである、
請求項１７に記載の電磁波試験装置。
【請求項19】
前記第１条件は、以下の式（５）により表され、
前記第２条件は、以下の式（６）により表され、
ｒＥは、前記許容値を示し、
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１８に記載の電磁波試験装置。
【数5】
【数6】
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１８に記載の電磁波試験装置。
【請求項20】
前記第１条件は、以下の式（７）により表され、
前記第２条件は、以下の式（８）により表され、
ｒＥは、前記許容値を示し、
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１８に記載の電磁波試験装置。
【数7】
【数8】
ｒＳは、前記反射箱の表面積に対する前記第１アンテナの表面積の比を示し、
Ｚ０は、前記第１アンテナの特性インピーダンスを示す、
請求項１８に記載の電磁波試験装置。
【請求項21】
前記切替部に接続を切り替えさせる操作を受け付ける操作部、
を更に備える請求項１から２０のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
を更に備える請求項１から２０のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
【請求項22】
前記切替部に接続を切り替えさせる制御装置、
を更に備える請求項１から２０のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
を更に備える請求項１から２０のうちいずれか一項に記載の電磁波試験装置。
【請求項23】
反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部を含む切替部とを備える電磁波試験装置を用いた電磁波試験方法であって、
前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードに切り替え、前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記第１電力損失抑制部に切り替える、
電磁波試験方法。
前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードに切り替え、前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記第１電力損失抑制部に切り替える、
電磁波試験方法。
【請求項24】
反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有し、開放端と異なる第２電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部を含む切替部とを備える電磁波試験装置を用いた電磁波試験方法であって、
前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置に切り替え、前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記第２電力損失抑制部に切り替える、
電磁波試験方法。
前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置に切り替え、前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記第２電力損失抑制部に切り替える、
電磁波試験方法。
【請求項25】
反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、第１電力損失抑制部と、第２電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部とを含む切替部と、を備える電磁波試験装置を用いた電磁波試験方法であって、
前記第１電力損失抑制部のインピーダンスと前記第２電力損失抑制部のインピーダンスとの合成インピーダンスは、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスであり、
前記電磁波試験方法は、
前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記第１電力損失抑制部から前記ダミーロードに切り替えるとともに、前記第２切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記第２電力損失抑制部から前記給電装置に切り替え、
前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードから前記第１電力損失抑制部に切り替えるとともに、前記第２切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記給電装置から前記第２電力損失抑制部に切り替える、
電磁波試験方法。
前記第１電力損失抑制部のインピーダンスと前記第２電力損失抑制部のインピーダンスとの合成インピーダンスは、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスであり、
前記電磁波試験方法は、
前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記第１電力損失抑制部から前記ダミーロードに切り替えるとともに、前記第２切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記第２電力損失抑制部から前記給電装置に切り替え、
前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードから前記第１電力損失抑制部に切り替えるとともに、前記第２切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記給電装置から前記第２電力損失抑制部に切り替える、
電磁波試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電磁波試験装置、及び電磁波試験方法に関する。
【背景技術】
【0002】
反射箱を用いて放射イミュニティ試験を行う電磁波試験装置についての研究、開発が行われている。放射イミュニティ試験は、供試体として反射箱内に設置された電子機器に対して均一で強度が強い電界を印加し、当該電子機器が正常に動作するか否かを確認する試験のことである。なお、本明細書において、電界は、磁界、電界のいずれかに読み替えられてもよい。
【0003】
反射箱は、金属製の空洞共振器と、空洞共振器内に電磁波を放射するアンテナ装置と、アンテナ装置から放射された電磁波を攪拌する電磁攪拌器とにより構成される。そして、反射箱は、空洞共振器内における電磁波の共振現象により、供試体に印加される電界を発生させる。このようにして発生した電界の強度の分布には、空洞共振器の寸法に起因した強度のばらつきが現れてしまう。すなわち、空洞共振器によって発生させた電界の強度の分布は、不均一な分布となってしまう。このため、電磁攪拌器は、空洞共振器内の電磁波を攪拌し、空洞共振器によって発生させた電界の強度の分布を均一な分布に近づける。これにより、反射箱は、試験品質の高い放射イミュニティ試験をユーザに行わせることができる。本明細書では、説明の便宜上、このように反射箱内における共振現象を用いて放射イミュニティ試験を行う方法を、反射箱法と称して説明する。
【0004】
反射箱法において、空洞共振器の共振周波数は、空洞共振器の寸法に反比例することが知られている。このため、反射箱法による放射イミュニティ試験では、反射箱内において共振現象を用いて発生させる電界の周波数を低くするほど、反射箱の容積を大きくしなければならなかった。
【0005】
一方、反射箱の代わりに電波暗室を用いた放射イミュニティ試験では、電波暗室内において、低周波数帯の電界が電子機器に印加される。低周波数帯は、反射箱として機能する最低周波数（Lowest Usable Frequency；ＬＵＦ）未満の周波数帯、反射箱の最低次の共振周波数（すなわち、第１共振周波数）未満の周波数帯等のことである。このような低周波数帯の電界を用いた放射イミュニティ試験を反射箱内において行おうとすると、反射箱の寸法は、１０ｋｍ程度となってしまう。このような寸法の反射箱は、設置する場所の自由度を制限してしまうため、望ましくない。このため、近年、反射箱には、低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行える装置を有し、且つ、電気機器を入れることができる程度の大きさであることが望まれてきていた。
【0006】
反射箱内において低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行える装置としては、伝送線路システム(Transmission Line System；ＴＬＳ)と呼ばれる装置が知られている。伝送線路システムとしては、ＴＥＭ（Transverse Electro-Magnetic）プレートアンテナ、ストリップライン等のアンテナから電界を電子機器へ印加する装置等が知られている。本明細書では、説明の便宜上、伝送線路システムを用いて放射イミュニティ試験を行う方法を、伝送線路システム法と称して説明する。
【0007】
ここで、伝送線路システムを反射箱内に設置し、反射箱法と伝送線路システム法とを組み合わせて行う放射イミュニティ試験では、反射箱法のみによる放射イミュニティ試験と比較して、反射箱の大きさの増大を抑制しつつ、より広い周波数帯の電界を、強度を均一にして電子機器へ印加することができる（非特許文献１参照）。このため、近年、伝送線路システムを反射箱内に設置し、反射箱法と伝送線路システム法との組み合わせにより放射イミュニティ試験が行われることが増えてきている。本明細書では、説明の便宜上、反射箱法と伝送線路システム法との組み合わせにより放射イミュニティ試験を行う方法を、ハイブリッド法と称して説明する。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【0008】
【非特許文献1】Myron L. Crawford, Mark T. Ma, John M. Ladbury, Bill F. Riddle, "Measurement and Evaluation of a TEM/Reverberating chamber", NIST Technical Note 1342, July, 1990.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
ハイブリッド法では、高周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行う場合、空洞共振器内に設置されたアンテナ装置から電磁波を放射する。高周波数帯は、反射箱として機能する最低周波数以上の周波数帯、反射箱の最低次の共振周波数（すなわち、第１共振周波数）以上の周波数帯等のことである。また、ハイブリッド法では、低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行う場合、アンテナ装置からの電磁波の放射を止め、空洞共振器内に設置された伝送線路システムから電子機器へ電界を印加する。
【0010】
しかしながら、ハイブリッド法では、高周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行う場合において、アンテナ装置から放射した電磁波の一部が、電子機器へ電界を印加していない伝送線路システムにより電力として受信されてしまうことがあった。これは、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失を増大させてしまうため望ましいことではない。
【0011】
本発明は、このような事情を考慮してなされたもので、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる電磁波試験装置、及び電磁波試験方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0012】
本発明の一態様は、反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部を含む切替部と、を備える電磁波試験装置である。
【0013】
また、本発明の一態様は、反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有し、開放端と異なる第２電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部を含む切替部と、を備える電磁波試験装置である。
【0014】
また、本発明の一態様は、反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、予め決められたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、予め決められたインピーダンスを有する第２電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部とを含む切替部と、を備え、前記第１電力損失抑制部のインピーダンスと前記第２電力損失抑制部のインピーダンスとの合成インピーダンスは、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスである、電磁波試験装置である。
【0015】
また、本発明の一態様は、反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部を含む切替部とを備える電磁波試験装置を用いた電磁波試験方法であって、前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードに切り替え、前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記第１電力損失抑制部に切り替える、電磁波試験方法である。
【0016】
また、本発明の一態様は、反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有し、開放端と異なる第２電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部を含む切替部とを備える電磁波試験装置を用いた電磁波試験方法であって、前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置に切り替え、前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１アンテナの接続先を前記第２電力損失抑制部に切り替える、電磁波試験方法である。
【0017】
また、本発明の一態様は、反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、前記反射箱内に設置され、前記第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続され、前記第１アンテナに給電する給電装置と、前記グラウンド電位を有する部材と前記第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、第１電力損失抑制部と、第２電力損失抑制部と、前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードと前記第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部と、前記第１アンテナの接続先を前記給電装置と前記第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部とを含む切替部と、を備える電磁波試験装置を用いた電磁波試験方法であって、前記第１電力損失抑制部のインピーダンスと前記第２電力損失抑制部のインピーダンスとの合成インピーダンスは、前記第２アンテナから電磁波が放射されている場合における前記第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスであり、前記電磁波試験方法は、前記第１アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記第１電力損失抑制部から前記ダミーロードに切り替えるとともに、前記第２切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記第２電力損失抑制部から前記給電装置に切り替え、前記第２アンテナから電磁波を放射する場合、前記第１切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記ダミーロードから前記第１電力損失抑制部に切り替えるとともに、前記第２切替部によって前記第１アンテナの接続先を前記給電装置から前記第２電力損失抑制部に切り替える、電磁波試験方法である。
【発明の効果】
【0018】
本発明によれば、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【0019】
【図1】実施形態に係る電磁波試験装置１の構成の一例を示す図である。
【図2】第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数の変化に対する受信電力比の変化の一例を示す図である。
【図3】第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数の変化に対する電界強度比の変化の一例を示す図である。
【図4】Ｚを変化させた場合の受信電力比の変化の一例を示す図である。
【図5】Ｚを変化させた場合の電界強度比の変化の一例を示す図である。
【図6】第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数の変化に対する電界強度比の変化の他の例を示す図である。
【図7】電磁波試験装置１を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う方法の流れの一例を示す図である。
【図8】第１アンテナ１１１と第１電力損失抑制部１１３との接続態様の変形例を示す図である。
【図9】ストリップラインに接続された第１アンテナ１１１の様子の一例を示す図である。
【図10】セプテムに接続された第１アンテナ１１１の様子の一例を示す図である。
【図11】複数の導線、複数の平板等によって構成される第１アンテナ１１１の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0020】
＜実施形態＞
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下では、説明を簡略化するため、グラウンド電位を有する複数の部材同士の電位差がない又は略ない場合について説明する。また、以下の説明において、電界は、磁界と読み替えられてもよく、電磁界と読み替えられてもよい。また、以下では、説明の便宜上、電界の強度を、単に電界強度と称して説明する。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下では、説明を簡略化するため、グラウンド電位を有する複数の部材同士の電位差がない又は略ない場合について説明する。また、以下の説明において、電界は、磁界と読み替えられてもよく、電磁界と読み替えられてもよい。また、以下では、説明の便宜上、電界の強度を、単に電界強度と称して説明する。
【0021】
【0022】
電磁波試験装置１は、放射イミュニティ試験が行われる対象となる電子機器を供試体ＴＭとして、供試体ＴＭに対する放射イミュニティ試験を行う装置である。放射イミュニティ試験は、供試体ＴＭに対して均一で強度が強い電界を印加し、供試体ＴＭが正常に動作するか否かを確認する試験のことである。以下では、一例として、供試体ＴＭが、図１に示した自動車である場合について説明する。なお、供試体ＴＭとして放射イミュニティ試験が行われる対象となる電子機器は、電気制御が行われる機器であれば、如何なる機器であってもよい。このため、供試体ＴＭは、自動車に代えて、ドライブレコーダー、多機能携帯電話端末（スマートフォン）、携帯電話端末、各種のコンピュータ等の電気制御が行われる他の機器であってもよい。
【0023】
また、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法により、放射イミュニティ試験を行う。ハイブリッド法は、反射箱法と伝送線路システム(Transmission Line System；ＴＬＳ)法との組み合わせにより放射イミュニティ試験を行う方法のことである。反射箱法は、反射箱内における共振現象を用いて放射イミュニティ試験を行う方法のことである。伝送線路システム法は、伝送線路システムを用いて放射イミュニティ試験を行う方法である。そして、伝送線路システムは、ＴＥＭ（Transverse Electro-Magnetic）プレートアンテナ、ストリップライン等のアンテナから電界を電子機器へ印加する装置のことである。
【0024】
電磁波試験装置１は、反射箱１０と、第１試験装置１１と、第２試験装置１２と、電磁攪拌器１３と、情報処理装置１４を備える。
【0025】
反射箱１０は、供試体ＴＭを収容可能な金属製の筐体として構成された空洞共振器である。以下では、一例として、反射箱１０が、図１に示したように、内部に供試体ＴＭを収容可能な直方体形状の金属製の空洞共振器である場合について説明する。なお、反射箱１０の形状は、直方体形状に代えて、供試体ＴＭを収容可能な他の形状であってもよい。ただし、反射箱１０の形状は、反射箱１０の共振周波数を算出し易くなるため、直方体形状であることが望ましい。以下では、説明の便宜上、反射箱１０の最低次の共振周波数を、第１共振周波数と称して説明する。
【0026】
第１試験装置１１は、伝送線路システムである。すなわち、電磁波試験装置１において、第１試験装置１１は、伝送線路システム法による放射イミュニティ試験を供試体ＴＭに対して行う装置である。
【0027】
第１試験装置１１は、第１アンテナ１１１と、ダミーロード１１２と、第１電力損失抑制部１１３と、第１給電装置１１４と、第２電力損失抑制部１１５と、切替部１１６と、第１制御装置１１７を備える。また、切替部１１６は、第１切替部ＳＷ１と、第２切替部ＳＷ２を備える。
【0028】
第１アンテナ１１１は、反射箱１０の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させるアンテナである。また、第１アンテナ１１１は、伝送線路システムにおいて利用可能なアンテナである。第１アンテナ１１１は、例えば、ＴＥＭプレートアンテナである。なお、第１アンテナ１１１は、ＴＥＭプレートアンテナに代えて、ストリップライン、セプテム等の伝送線路システムに利用可能な他のアンテナであってもよい。なお、ＴＥＭプレートアンテナは、平行平板の漏れ電界を使用することにより、供試体ＴＭに電界を印加する装置である。第１アンテナ１１１は、第１給電装置１１４からＲＦ（Radio Frequency）信号を取得し、取得したＲＦ信号に応じた電磁波を放射する。第１アンテナ１１１は、例えば、反射箱１０内の領域のうち供試体ＴＭが設置される作業領域の直上に位置するように、反射箱１０の天井に設置される。この場合、第１アンテナ１１１は、重力方向に向かって反射箱１０を見た場合において、作業領域の全体を含むように反射箱１０の天井に設置される。これにより、第１アンテナ１１１は、反射箱１０内において、天井から床面に向かって作業領域内の供試体ＴＭへ電界を印加することができる。なお、第１アンテナ１１１は、作業領域へ電界を印加可能な他の位置に設置される構成であってもよい。
【0029】
ダミーロード１１２は、グラウンド電位を有する第１グラウンド部材と第１アンテナ１１１との間に接続される抵抗素子である。以下では、一例として、ダミーロード１１２のインピーダンスは、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスと整合されている場合について説明する。なお、ダミーロード１１２のインピーダンスは、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスと整合されていなくてもよいが、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスと整合されている方が、電力損失が低減されるため望ましい。
【0030】
第１電力損失抑制部１１３は、第２試験装置１２によって反射箱法による放射イミュニティ試験が行われる場合において第２アンテナ１２１から放射される電磁波の一部が第１アンテナ１１１により受信されることによって電力損失が増大してしまうことを抑制する部材である。より具体的には、第１電力損失抑制部１１３は、当該場合における第１アンテナ１１１による電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する部材である。第１電力損失抑制部１１３の詳細については、後述する。なお、当該場合における第１アンテナ１１１による電力損失は、当該場合において第１アンテナ１１１が消費した電力によって表される構成であってもよく、当該場合において第１アンテナ１１１による反射箱１０内の電界強度の低下量によって表されてもよい。
【0031】
第１給電装置１１４は、第１アンテナ１１１に給電する給電装置である。より具体的には、第１給電装置１１４は、反射箱１０の第１共振周波数未満の周波数のＲＦ信号を第１アンテナ１１１に出力する。図１に示した例では、第１給電装置１１４は、情報処理装置１４により制御される。この場合、第１給電装置１１４は、情報処理装置１４からの要求に応じた当該周波数のＲＦ信号を第１アンテナ１１１に出力可能な構成であれば、如何なる構成であってもよい。なお、第１給電装置１１４は、情報処理装置１４により制御される構成に代えて、ユーザからの操作を受け付ける操作部を備え、当該操作部から受け付けた操作に応じた当該周波数のＲＦ信号を第１アンテナ１１１に出力可能な構成であってもよい。第１給電装置１１４は、グラウンド電位を有する第２グラウンド部材と第１アンテナ１１１との間に接続される。なお、第２グラウンド部材は、第１グラウンド部材と同じ部材であってもよく、第１グラウンド部材と異なる部材であってもよい。
【0032】
第２電力損失抑制部１１５は、第２試験装置１２によって反射箱法による放射イミュニティ試験が行われる場合において第２アンテナ１２１から放射される電磁波の一部が第１アンテナ１１１により受信されることによって電力損失が増大してしまうことを抑制する部材である。より具体的には、第２電力損失抑制部１１５は、当該場合における第１アンテナ１１１による電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する部材である。第２電力損失抑制部１１５の詳細については、後述する。なお、第２電力損失抑制部１１５は、第１電力損失抑制部１１３と一体に構成されてもよい。以下では、一例として、第２電力損失抑制部１１５が、第１電力損失抑制部１１３と別体である場合について説明する。
【0033】
第１切替部ＳＷ１は、第１アンテナ１１１の接続先をダミーロード１１２と第１電力損失抑制部１１３とのいずれかに切り替える装置である。第１切替部ＳＷ１は、第１アンテナ１１１の接続先をダミーロード１１２と第１電力損失抑制部１１３とのいずれかに切り替え可能な構成であれば、如何なる構成であってもよい。図１に示した例では、第１切替部ＳＷ１は、第１制御装置１１７からの要求に応じて、第１アンテナ１１１の接続先をダミーロード１１２と第１電力損失抑制部１１３とのいずれかに切り替えるスイッチング素子（例えば、リレースイッチ、電界効果トランジスタ等）である。なお、第１切替部ＳＷ１は、第１アンテナ１１１の接続先をダミーロード１１２と第１電力損失抑制部１１３とのいずれかに切り替える操作を受け付ける操作部を備え、当該操作部から受け付けた操作に応じて、第１アンテナ１１１の接続先をダミーロード１１２と第１電力損失抑制部１１３とのいずれかに切り替える構成であってもよい。この場合、当該操作部は、例えば、ボタン、レバー等であるが、これらに限られるわけではない。
【0034】
第２切替部ＳＷ２は、第１アンテナ１１１の接続先を第１給電装置１１４と第２電力損失抑制部１１５とのいずれかに切り替える装置である。第２切替部ＳＷ２は、第１アンテナ１１１の接続先を第１給電装置１１４と第２電力損失抑制部１１５とのいずれかに切り替え可能な構成であれば、如何なる構成であってもよい。図１に示した例では、第２切替部ＳＷ２は、第１制御装置１１７からの要求に応じて、第１アンテナ１１１の接続先を第１給電装置１１４と第２電力損失抑制部１１５とのいずれかに切り替えるスイッチング素子（例えば、リレースイッチ、電界効果トランジスタ等）である。なお、第２切替部ＳＷ２は、第１アンテナ１１１の接続先を第１給電装置１１４と第２電力損失抑制部１１５とのいずれかに切り替える操作を受け付ける操作部を備え、当該操作部から受け付けた操作に応じて、第１アンテナ１１１の接続先を第１給電装置１１４と第２電力損失抑制部１１５とのいずれかに切り替える構成であってもよい。この場合、当該操作部は、例えば、ボタン、レバー等であるが、これらに限られるわけではない。
【0035】
第１制御装置１１７は、切替部１１６に接続を切り替えさせる装置である。より具体的には、第１制御装置１１７は、第１切替部ＳＷ１を制御し、第１アンテナ１１１の接続先を、ダミーロード１１２と第１電力損失抑制部１１３とのいずれかに切り替えさせる。また、第１制御装置１１７は、第２切替部ＳＷ２を制御し、第１アンテナ１１１の接続先を、第１給電装置１１４と第２電力損失抑制部１１５とのいずれかに切り替えさせる。図１に示した例では、第１制御装置１１７は、情報処理装置１４からの要求に応じて、このような接続の切り替えを切替部１１６に行わせる。なお、第１制御装置１１７は、切替部１１６に接続の切り替えを行わせる操作を受け付ける操作部を備え、当該操作部から受け付けた操作に応じて、切替部１１６に接続の切り替えを行わせる構成であってもよい。
【0036】
また、第１制御装置１１７は、電磁攪拌器１３も制御する。図１に示した例では、第１制御装置１１１７は、電磁攪拌器１３を制御し、電磁攪拌器１３を回転させる。これにより、第１制御装置１１７は、電磁攪拌器１３に反射箱１０内の電磁波を攪拌させることができる。図１に示した例では、第１制御装置１１７は、情報処理装置１４からの要求に応じて、電磁攪拌器１３の制御を行う。なお、第１制御装置１１７は、電磁攪拌器１３の制御を行う操作を受け付ける操作部を備え、当該操作部から受け付けた操作に応じて、電磁攪拌器１３の制御を行う構成であってもよい。なお、第１制御装置１１７は、情報処理装置１４と一体に構成されてもよい。
【0037】
第２試験装置１２は、反射箱法による放射イミュニティ試験を供試体ＴＭに対して行う装置である。
【0038】
第２試験装置１２は、第２アンテナ１２１と、第２給電装置１２２と、第２制御装置１２３を備える。
【0039】
第２アンテナ１２１は、反射箱１０の第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させるアンテナである。第２アンテナ１２１は、当該電磁波を放射可能なアンテナであれば、如何なる構成のアンテナであってもよい。第２アンテナ１２１は、第２給電装置１２２からＲＦ信号を取得し、取得したＲＦ信号に応じた電磁波を放射する。第２アンテナ１２１は、反射箱１０内に設置される。反射箱１０内において第２アンテナ１２１が設置される位置は、反射箱１０内の領域のうち前述の作業領域の外の領域の位置であれば、如何なる位置であってもよい。第２アンテナ１２１は、第２給電装置１２２からＲＦ信号を取得し、取得したＲＦ信号に応じた電磁波を放射する。
【0040】
第２給電装置１２２は、第２アンテナ１２１に給電する給電装置である。より具体的には、第２給電装置１２２は、反射箱１０の第１共振周波数以上の周波数のＲＦ信号を第２アンテナ１２１に出力する。図１に示した例では、第２給電装置１２２は、情報処理装置１４により制御される。この場合、第２給電装置１２２は、情報処理装置１４からの要求に応じた当該周波数のＲＦ信号を第２アンテナ１２１に出力可能な構成であれば、如何なる構成であってもよい。なお、第２給電装置１２２は、情報処理装置１４により制御される構成に代えて、ユーザからの操作を受け付ける操作部を備え、当該操作部から受け付けた操作に応じた当該周波数のＲＦ信号を第２アンテナ１２１に出力可能な構成であってもよい。第２給電装置１２２は、グラウンド電位を有する第３グラウンド部材と第２アンテナ１２１との間に接続される。なお、第３グラウンド部材は、第１グラウンド部材と同じ部材であってもよく、第１グラウンド部材と異なる部材であってもよい。また、第３グラウンド部材は、第２グラウンド部材と同じ部材であってもよく、第２グラウンド部材と異なる部材であってもよい。
【0041】
第２制御装置１２３は、電磁攪拌器１３を制御する制御装置である。図１に示した例では、第２制御装置１２３は、電磁攪拌器１３を制御し、電磁攪拌器１３を回転させる。これにより、第２制御装置１２３は、電磁攪拌器１３に反射箱１０内の電磁波を攪拌させることができる。図１に示した例では、第２制御装置１２３は、情報処理装置１４からの要求に応じて、電磁攪拌器１３の制御を行う。なお、第２制御装置１２３は、電磁攪拌器１３の制御を行う操作を受け付ける操作部を備え、当該操作部から受け付けた操作に応じて、電磁攪拌器１３の制御を行う構成であってもよい。また、第２制御装置１２３は、第１制御装置１１７と情報処理装置１４とのうちのいずれか一方又は両方と一体に構成されてもよい。
【0042】
電磁攪拌器１３は、反射箱１０内に設置され、反射箱１０内の電磁波を攪拌する。これにより、反射箱１０は、前述の作業領域内の電界強度のばらつきを小さくすることができる。電磁攪拌器１３は、反射箱１０内の電磁波を攪拌可能な構成であれば、如何なる構成であってもよい。図１に示した例では、電磁攪拌器１３は、軸体と、軸体に沿って並ぶように軸体に設けられた平板矩形状の４枚の攪拌翼と、軸体を回転させる駆動部とを備えている。この場合、電磁攪拌器１３は、第１制御装置１１７と第２制御装置１２３とのそれぞれにより制御され、軸体とともに回転する当該４枚の攪拌翼によって反射箱１０内の電磁波を攪拌する。従って、第１制御装置１１７と第２制御装置１２３とのそれぞれは、当該駆動部を制御し、当該軸体を回転させる。なお、電磁攪拌器１３は、第１試験装置１１に備えられる構成であってもよく、第２試験装置１２に備えられる構成であってもよい。
【0043】
情報処理装置１４は、ユーザから受け付けた操作に応じて、第１給電装置１１４と、第１制御装置１１７と、第２給電装置１２２と、第２制御装置１２３とのそれぞれを制御する。情報処理装置１４は、例えば、ノートＰＣ（Personal Computer）、デスクトップＰＣ、ワークステーション、タブレットＰＣ、多機能携帯電話端末、携帯電話端末、ＰＤＡ（Personal Digital Assistant）等の情報処理装置であるが、これらに限られるわけではない。
【0044】
情報処理装置１４は、有線又は無線により、第１給電装置１１４と、第１制御装置１１７と、第２給電装置１２２と、第２制御装置１２３とのそれぞれと通信可能に接続される。ただし、放射イミュニティ試験の性質上、情報処理装置１４は、有線により、第１給電装置１１４と、第１制御装置１１７と、第２給電装置１２２と、第２制御装置１２３とのそれぞれと通信可能に接続される方が望ましい。
【0045】
＜反射箱法において第１アンテナにより発生する電力損失＞
以下、反射箱法において第１アンテナ１１１により発生する電力損失について説明する。
以下、反射箱法において第１アンテナ１１１により発生する電力損失について説明する。
【0046】
反射箱法では、電磁波試験装置１は、第１共振周波数以上の電磁波を第２アンテナ１２１から放射させる。これにより、電磁波試験装置１は、反射箱１０内における電磁波の共振現象により、供試体ＴＭに印加される電界を発生させる。この際、第１アンテナ１１１は、反射箱１０内の電磁波を受信してしまう。
【0047】
反射箱１０内の電磁波が第１アンテナ１１１に受信された場合、且つ、第１アンテナ１１１が第１給電装置１１４とダミーロード１１２との少なくとも一方の部材に接続されている場合、第１アンテナ１１１は、当該部材を介して、グラウンド電位を有する部材へと電流を流してしまう。このため、電磁波試験装置１において、反射箱法による放射イミュニティ試験が行われる場合における第１アンテナ１１１による電力損失は、受信電力比によって表すことができる。受信電力比は、第２アンテナ１２１へＲＦ信号として入力された電力と、第１アンテナ１１１が受信した電力（すなわち、第１アンテナ１１１が消費した電力）との比のことである。
【0048】
ここで、図２は、第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数の変化に対する受信電力比の変化の一例を示す図である。ただし、図２は、第１アンテナ１１１にダミーロード１１２のみを接続し、且つ、第２アンテナ１２１から電磁波を放射させた場合の受信電力比を、当該周波数を変化させながら測定した結果の一例である。図２に示したグラフの縦軸は、受信電力比を示す。また、当該グラフの横軸は、第２アンテナ１２１に入力されたＲＦ信号の周波数を示す。図２に示した例では、受信電力比の周波数平均は、０．１６である。すなわち、図２は、第１アンテナ１１１にダミーロード１１２のみが接続されている場合の電磁波試験装置１では、第２アンテナ１２１へＲＦ信号として入力された電力のうちの１６％の電力が損失されてしまうことを示している。なお、図示しないが、第１アンテナ１１１に第１給電装置１１４のみが接続されている場合の電磁波試験装置１でも、受信電力比の周波数平均は、０．１６程度となることが測定されている。そして、第１アンテナ１１１にダミーロード１１２と第１給電装置１１４との両方が接続されている場合の電磁波試験装置１では、受信電力比の周波数平均は、０．３２程度となることが測定されている。これは、直感的には、第１アンテナ１１１から電流が流れる経路が２倍になったことに起因する結果であると考えられる。従って、電磁波試験装置１では、当該場合、第２アンテナ１２１へＲＦ信号として入力された電力のうちの約３２％の電力が損失されてしまうことが分かっている。
【0049】
一方、反射箱１０内の電磁波が第１アンテナ１１１に受信された場合、第１アンテナ１１１は、反射箱１０内の電界強度を低下させてしまう。このため、電磁波試験装置１において、反射箱法による放射イミュニティ試験が行われる場合における第１アンテナ１１１による電力損失は、電界強度比によっても表すことができる。電界強度比は、第１アンテナ未設置状態の反射箱１０内において第２アンテナ１２１から電磁波を放射させた場合の当該反射箱１０内の電界強度に対する、第１アンテナ設置状態の反射箱１０内において第２アンテナ１２１から電磁波を放射させた場合の当該反射箱１０内の電界強度の比のことである。なお、第１アンテナ未設置状態は、反射箱１０の状態のうち第１アンテナ１１１が設置されていない状態のことである。また、第１アンテナ設置状態は、反射箱１０の状態のうち第１アンテナ１１１が設置されており、且つ、第１アンテナ１１１にダミーロード１１２及び第１給電装置１１４が設置されている状態のことである。
【0050】
ここで、図３は、第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数の変化に対する電界強度比の変化の一例を示す図である。ただし、図３では、電界強度比を、偏差によって表している。図３に示したグラフの縦軸は、偏差によって表された電界強度比を示す。また、当該グラフの横軸は、第２アンテナ１２１に入力されたＲＦ信号の周波数を示す。図３に示した例では、電界強度比の周波数平均は、－２．１［ｄＢ］である。これは、第１アンテナ未設置状態の反射箱１０内において第２アンテナ１２１から電磁波を放射させた場合の当該反射箱１０内の電界強度に対して、第１アンテナ設置状態の反射箱１０内において第２アンテナ１２１から電磁波を放射させた場合の当該反射箱１０内の電界強度が２０［％］程度低いことを示している。すなわち、これは、第１アンテナ１１１にダミーロード１１２と第１給電装置１１４との両方が接続されている場合の電磁波試験装置１では、第２アンテナ１２１からの電磁波の放射によって反射箱１０内に発生した電界のうちの２０［％］が、第１アンテナ１１１によって電力として損失されてしまうことを意味している。
【0051】
以上のように、反射箱法による放射イミュニティ試験を行う場合における第１アンテナ１１１による電力損失は、受信電力比、電界強度比のそれぞれによって表すことができる。そして、このような電力損失の原因は、第１アンテナ１１１が、ダミーロード１１２と第１給電装置１１４とのそれぞれを介してグラウンド電位を有する部材へ電流を流してしまうことである。そこで、電磁波試験装置１は、当該場合、切替部１１６を制御し、第１アンテナ１１１の接続先を、ダミーロード１１２及び第１給電装置１１４のそれぞれから、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれへと切り替える。これにより、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験のうちの反射箱法による放射イミュニティ試験において、第１アンテナ１１１による電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。すなわち、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、第１アンテナ１１１による電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。これは、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが、第１アンテナ１１１による電力損失の増大を抑制するからである。そこで、以下では、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが、第１アンテナ１１１による電力損失の増大を抑制する理由について説明する。
【0052】
＜第１アンテナによる電力損失が抑制される理由＞
以下、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが、第１アンテナ１１１による電力損失の増大を抑制する理由について説明する。以下では、この理由の説明のため、ダミーロード１１２、第１給電装置１１４、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが第１アンテナ１１１に接続されておらず、且つ、変数Ｚによって表されるインピーダンスを有する抵抗素子Ｘが第１アンテナ１１１とグラウンド電位を有する部材との間に接続されている場合について説明する。この場合、前述の受信電力比及び電界強度比は、Ｚの値に応じて変化する。また、以下では、一例として、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスＺ０が、５０［Ω］である場合について説明する。
以下、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが、第１アンテナ１１１による電力損失の増大を抑制する理由について説明する。以下では、この理由の説明のため、ダミーロード１１２、第１給電装置１１４、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが第１アンテナ１１１に接続されておらず、且つ、変数Ｚによって表されるインピーダンスを有する抵抗素子Ｘが第１アンテナ１１１とグラウンド電位を有する部材との間に接続されている場合について説明する。この場合、前述の受信電力比及び電界強度比は、Ｚの値に応じて変化する。また、以下では、一例として、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスＺ０が、５０［Ω］である場合について説明する。
【0053】
図４は、Ｚを変化させた場合の受信電力比の変化の一例を示す図である。ただし、図４では、受信電力比が、１００分率によって表されている。図４に示したグラフの縦軸は、１００分率によって表された受信電力比を示す。また、当該グラフの横軸は、Ｚの値を示す。また、当該グラフ上にプロットされた曲線は、理論計算により算出された受信電力比についての曲線である。図４に示した例では、受信電力比は、Ｚが５０［Ω］の場合に最大となっている。これは、この一例において、Ｚが５０［Ω］の場合、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスと、抵抗素子Ｘのインピーダンスとが整合するからである。この場合、受信電力比は、Ｚが５０［Ω］よりも小さくなるほど小さくなり、且つ、Ｚが５０［Ω］よりも大きくなるほど小さくなる。ここで、電磁波試験装置１の製造者は、当該グラフを事前の実験等によって得ることにより、受信電力比が予め決められた第１許容値以下となるように、Ｚの値を決定することができる。例えば、当該グラフが事前の実験等によって得られたグラフと見做した上で、第１許容値を１０［％］とすると、当該製造者は、当該グラフに基づいて、Ｚの値を、Ｘ１以下の値、又は、Ｘ２以上の値として決定することができる。Ｘ１は、当該グラフにおいて、受信電力比が１０［％］となる２つのＺの値のうちの小さい方の値であり、４［Ω］である。また、Ｘ２は、当該グラフにおいて、受信電力比が１０［％］となる２つのＺの値のうちの大きい方の値であり、６１５［Ω］である。
【0054】
従って、抵抗素子Ｘに代えて、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれを第１アンテナ１１１に接続した場合、且つ、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスと第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスとの合成インピーダンスがＸ１以下の第１インピーダンスＩ１１である場合、反射箱法による放射イミュニティ試験を行うと、電磁波試験装置１は、受信電力比を、第１許容値以下に抑えることができる。また、抵抗素子Ｘに代えて、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれを第１アンテナ１１１に接続した場合、且つ、当該合成インピーダンスがＸ２以上の第２インピーダンスＩ１２である場合も、反射箱法による放射イミュニティ試験を行うと、電磁波試験装置１は、受信電力比を、第１許容値以下に抑えることができる。すなわち、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0055】
なお、抵抗素子Ｘに代えて、第１電力損失抑制部１１３を第１アンテナ１１１に接続した場合（すなわち、第１電力損失抑制部１１３を第１アンテナ１１１に接続し、且つ、第２電力損失抑制部１１５を第１アンテナ１１１に接続しない場合）、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスを第１インピーダンスＩ１１又は第２インピーダンスＩ１２とすることにより、電磁波試験装置１は、反射箱法による放射イミュニティ試験おける受信電力比を、第１許容値以下に抑えることができる。また、抵抗素子Ｘに代えて、第２電力損失抑制部１１５を第１アンテナ１１１に接続した場合（すなわち、第２電力損失抑制部１１５を第１アンテナ１１１に接続し、且つ、第１電力損失抑制部１１３を第１アンテナ１１１に接続しない場合）、第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスを第１インピーダンスＩ１１又は第２インピーダンスＩ１２とすることにより、電磁波試験装置１は、反射箱法による放射イミュニティ試験おける受信電力比を、第１許容値以下に抑えることができる。従って、電磁波試験装置１は、第１電力損失抑制部１１３と第２電力損失抑制部１１５とのいずれか一方を抵抗素子Ｘに代えて第１アンテナ１１１に接続した場合であっても、第１アンテナ１１１による電力損失として受信電力比が表す電力損失を、第１許容値以下に抑えることができる。
【0056】
一方、図５は、Ｚを変化させた場合の電界強度比の変化の一例を示す図である。ただし、図５では、電界強度比が、１００分率によって表されている。図５に示したグラフの縦軸は、１００分率によって表された電界強度比を示す。また、当該グラフの横軸は、Ｚの値を示す。また、当該グラフ上にプロットされた曲線は、理論計算により算出された電界強度比についての曲線である。図５に示した例では、電界強度比は、Ｚが５０［Ω］の場合に最小となっている。これは、前述した通り、この一例において、Ｚが５０［Ω］の場合、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスと、抵抗素子Ｘのインピーダンスとが整合するからである。この場合、電界強度比は、Ｚが５０［Ω］よりも小さくなるほど大きくなり、且つ、Ｚが５０［Ω］よりも大きくなるほど大きくなる。ここで、電磁波試験装置１の製造者は、当該グラフを事前の実験等によって得ることにより、電界強度比が予め決められた第２許容値以上となるように、Ｚの値を決定することができる。例えば、当該グラフが事前の実験等によって得られたグラフと見做した上で、第２許容値を９０［％］とすると、当該製造者は、Ｚの値を、Ｘ３以下の値、又は、Ｘ４以上の値として決定することができる。Ｘ３は、図５に示した例において、電界強度比が９０［％］となる２つのＺの値のうちの小さい方の値であり、９［Ω］である。また、Ｘ４は、図５に示した例において、電界強度比が９０［％］となる２つのＺの値のうちの大きい方の値であり、２５５［Ω］である。
【0057】
従って、抵抗素子Ｘに代えて、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれを第１アンテナ１１１に接続した場合、且つ、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスと第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスとの合成インピーダンスがＸ３以下の第１インピーダンスＩ２１である場合、反射箱法による放射イミュニティ試験を行うと、電磁波試験装置１は、第１アンテナ１１１による電力損失として電界強度比が表す電力損失を、第２許容値以上に抑えることができる。また、抵抗素子Ｘに代えて、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれを第１アンテナ１１１に接続した場合、且つ、当該合成インピーダンスがＸ４以上の第２インピーダンスＩ２２である場合も、反射箱法による放射イミュニティ試験を行うと、電磁波試験装置１は、第１アンテナ１１１による電力損失として電界強度比が表す電力損失を、第２許容値以上に抑えることができる。すなわち、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0058】
なお、抵抗素子Ｘに代えて、第１電力損失抑制部１１３を第１アンテナ１１１に接続した場合（すなわち、第１電力損失抑制部１１３を第１アンテナ１１１に接続し、且つ、第２電力損失抑制部１１５を第１アンテナ１１１に接続しない場合）、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスを第１インピーダンスＩ２１又は第２インピーダンスＩ２２とすることにより、電磁波試験装置１は、反射箱法による放射イミュニティ試験おける電界強度比を、第２許容値以上に抑えることができる。また、抵抗素子Ｘに代えて、第２電力損失抑制部１１５を第１アンテナ１１１に接続した場合（すなわち、第２電力損失抑制部１１５を第１アンテナ１１１に接続し、且つ、第１電力損失抑制部１１３を第１アンテナ１１１に接続しない場合）、第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスを第１インピーダンスＩ２１又は第２インピーダンスＩ２２とすることにより、電磁波試験装置１は、反射箱法による放射イミュニティ試験おける電界強度比を、第２許容値以上に抑えることができる。従って、電磁波試験装置１は、第１電力損失抑制部１１３と第２電力損失抑制部１１５とのいずれか一方を第１アンテナ１１１に接続した場合であっても、第１アンテナ１１１による電力損失として電界強度比が表す電力損失を、第２許容値以上に抑えることができる。
【0059】
ここで、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスと第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスとの合成インピーダンスを第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１とする場合、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれは、当該合成インピーダンスが第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１となるようなインピーダンスを有する抵抗素子であってもよく、当該合成インピーダンスが第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１となるようなインピーダンスを有する他の回路素子であってもよく、グラウンド電位を有する第４グラウンド部材であってもよい。第４グラウンド部材は、第１グラウンド部材～第３グラウンド部材のうちの一部又は全部と同じ部材であってもよく、第１グラウンド部材～第３グラウンド部材の全部と異なる部材であってもよい。また、当該合成インピーダンスを第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２とする場合、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれは、当該合成インピーダンスが第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２となるようなインピーダンスを有する抵抗素子であってもよく、当該合成インピーダンスが第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２となるようなインピーダンスを有する他の回路素子であってもよく、開放端であってもよい。このように構成することにより、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５は、第１アンテナ１１１による電力損失の増大を抑制することができる。
【0060】
また、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスを第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１とする場合、第１電力損失抑制部１１３は、第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１を有する抵抗素子であってもよく、当該合成インピーダンスが第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１となるようなインピーダンスを有する他の回路素子であってもよく、グラウンド電位を有する第４グラウンド部材であってもよい。第４グラウンド部材は、第１グラウンド部材～第３グラウンド部材のうちの一部又は全部と同じ部材であってもよく、第１グラウンド部材～第３グラウンド部材の全部と異なる部材であってもよい。また、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスを第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２とする場合、第１電力損失抑制部１１３は、第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２を有する抵抗素子であってもよく、当該合成インピーダンスが第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２となるようなインピーダンスを有する他の回路素子であってもよく、開放端であってもよい。このように構成することにより、第１電力損失抑制部１１３は、第１アンテナ１１１による電力損失の増大を抑制することができる。
【0061】
また、第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスを第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１とする場合、第２電力損失抑制部１１５は、第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１を有する抵抗素子であってもよく、当該合成インピーダンスが第１インピーダンスＩ１１又は第１インピーダンスＩ２１となるようなインピーダンスを有する他の回路素子であってもよく、グラウンド電位を有する第５グラウンド部材であってもよい。第５グラウンド部材は、第１グラウンド部材～第４グラウンド部材のうちの一部又は全部と同じ部材であってもよく、第１グラウンド部材～第４グラウンド部材の全部と異なる部材であってもよい。また、第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスを第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２とする場合、第２電力損失抑制部１１５は、第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２を有する抵抗素子であってもよく、当該合成インピーダンスが第２インピーダンスＩ１２又は第２インピーダンスＩ２２となるようなインピーダンスを有する他の回路素子であってもよく、開放端であってもよい。このように構成することにより、第２電力損失抑制部１１５は、第１アンテナ１１１による電力損失の増大を抑制することができる。
【0062】
以上のように、抵抗素子Ｘに代えて第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５を備え、且つ、切替部１１６を備えることにより、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。なお、前述の第１インピーダンスＩ１１，第２インピーダンスＩ１２、第１インピーダンスＩ２１、第２インピーダンスＩ２２の決定方法は、事前の実験等によって図４、図５のそれぞれに示したグラフを得る必要がある方法であり、設計段階において使える方法ではない。そこで、上記のＸ１～Ｘ４のうちＸ３及びＸ４を決定する方法として、理論式を用いた方法を採用することもできる。このような方法は、設計段階からＸ３をＺについての第１閾値（すなわち、第１インピーダンスＩ２１についての第１閾値）、Ｘ４をＺについての第２閾値（すなわち、第２インピーダンスＩ２２についての第２閾値）として特定することができるため、現物合わせによる方法よりも汎用性が高く有用である。なお、この理論式により第１閾値及び第２閾値を決定する方法では、第１アンテナ１１１による電力損失として電界強度比が表す電力損失を第２許容値以上に抑えるためのインピーダンスとして、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスと第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスとの合成インピーダンスが満たすべき条件が得られる。以下では、説明の便宜上、第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスと第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスとの合成インピーダンスを、単に合成インピーダンスと称して説明する。
【0063】
＜第１閾値及び第２閾値を理論式から決定する方法＞
以下、第１閾値及び第２閾値を理論式から決定する方法について説明する。ここでも、この方法の説明のため、ダミーロード１１２、第１給電装置１１４、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが第１アンテナ１１１に接続されておらず、且つ、変数Ｚによって表されるインピーダンスを有する抵抗素子Ｘのみが第１アンテナ１１１に接続されている場合について説明する。そして、抵抗素子Ｘは、更に、グラウンド電位を有する部材に接続されている場合について説明する。また、以下でも、一例として、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスＺ０が、５０［Ω］である場合について説明する。また、以下では、説明の便宜上、ＺをＺ０によって正規化した正規化インピーダンスを、Ｚ’によって示す。
以下、第１閾値及び第２閾値を理論式から決定する方法について説明する。ここでも、この方法の説明のため、ダミーロード１１２、第１給電装置１１４、第１電力損失抑制部１１３、第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが第１アンテナ１１１に接続されておらず、且つ、変数Ｚによって表されるインピーダンスを有する抵抗素子Ｘのみが第１アンテナ１１１に接続されている場合について説明する。そして、抵抗素子Ｘは、更に、グラウンド電位を有する部材に接続されている場合について説明する。また、以下でも、一例として、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスＺ０が、５０［Ω］である場合について説明する。また、以下では、説明の便宜上、ＺをＺ０によって正規化した正規化インピーダンスを、Ｚ’によって示す。
【0064】
まず、電磁気学によると、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスと抵抗素子Ｘのインピーダンスとの不整合による反射係数Γは、Ｚ’を用いて以下の式（１）のように表される。
【0065】
【数1】
【0066】
このため、第１アンテナ１１１から抵抗素子Ｘへ透過する電力についての透過電力係数Ｓは、反射係数Γを用いて、以下の式（２）のように表される。
【0067】
【数2】
【0068】
そして、消費電力比ｒｌｏｓｓは、Γ＝０である場合（すなわち、第１アンテナ１１１による電力損失が最大となる場合）における受信電力比ｒｐと、透過電力係数Ｓとを用いて以下の式（３）のように表される。
【0069】
【数3】
【0070】
しかし、第１アンテナ１１１から電流が流れる経路が２つある場合（すなわち、第１アンテナ１１１が第１アンテナ１１１と第１給電装置１１４とのそれぞれと接続されている場合）、前述した通り、受信電力比ｒｐが２倍になる。このため、当該場合、第１アンテナ１１１の消費電力比ｒｌｏｓｓも、２倍になる。従って、実効電力比ｒＰｎｅｔは、以下の式（４）のように表される。
【0071】
【数4】
【0072】
ここで、反射箱法では、反射箱１０は、共振現象により、反射箱１０内において均一な強度の電界を発生させる。そこで、反射箱１０の壁面と、第１アンテナ１１１とのそれぞれに一様な強度の電界が印加されると仮定すると、アンテナの実効面積の考え方に基づいて、反射箱１０の壁面により受信される電力が当該壁面の表面積に比例し、第１アンテナ１１１により受信される電力が第１アンテナ１１１の表面積に比例すると考えることができる。その結果、上記の式（４）は、第１面積比ｒＳ＿ｒｅｆと第２面積比ｒＳとに基づいて、以下の式（５）のようにスケーリング可能なように書き換えることができる。ここで、第１面積比ｒＳ＿ｒｅｆは、基準となる受信電力比を有する反射箱の表面積に対する第１アンテナ１１１の表面積の比である。第２面積比は、第１閾値及び第２閾値を決定する対象となる反射箱の表面積に対する第１アンテナ１１１の表面積の比である。これにより、第１閾値及び第２閾値を決定する対象となる反射箱を利用した場合の実効電力比ｒＰｎｅｔを、第１面積比ｒＳ＿ｒｅｆと第２面積比ｒＳとに基づくスケーリングによって得ることができる。なお、本実施形態では、ある反射箱の表面積は、当該反射箱の内側の表面積のことである。また、本実施形態では、第１アンテナ１１１の表面積は、第１アンテナ１１１の放射素子を覆う最大の平面の面積のことである。
【0073】
【数5】
【0074】
上記の式（５）が表す実効電力比ｒＰｎｅｔの平方根は、以下の式（６）のように、電界強度比ｒＥを表す。
【0075】
【数6】
【0076】
このように導出される上記の式（１）～（６）により、反射箱１０内の電界強度比ｒＥを、Ｚと関係付けることができる。具体的には、上記の式（５）を式（６）に代入することにより、以下の式（７）が得られる。
【0077】
【数7】
【0078】
また、上記の式（７）を式（３）に代入することにより、以下の式（８）が得られる。
【0079】
【数8】
【0080】
また、上記の式（８）を式（２）に代入してからΓについて解くことにより、以下の式（９）が得られる。
【0081】
【数9】
【0082】
そして、上記の式（９）を式（１）に代入してからＺ’について解くことにより、以下の式（１０）が得られる。
【0083】
【数10】
【0084】
ここで、上記の式（１０）は、式（１０）の両辺にＺ０を乗算することにより、以下の式（１１）、式（１２）のようにＺについての式に変形することができる。このようにして、反射箱１０内の電界強度比ｒＥを、Ｚと関係付けることができる。なお、式（１１）では、式（１１）のＺを前述の第１閾値として扱うため、「＝」を「≧」に書き換えている。また、式（１２）でも、式（１２）のＺを前述の第２閾値として扱うため、「＝」を「≦」に書き換えている。
【0085】
【数11】
【0086】
【数12】
【0087】
上記の式（１１）及び式（１２）は、前述の第２許容値としたい所望の電界強度比ｒＥを得たい場合において、Ｚが満たすべき条件を示す式である。以下では、説明の便宜上、式（１１）が示す条件を、第１条件と称して説明する。そして、第１条件を満たすＺの最大値が、前述の第１閾値である。すなわち、第１条件を満たすＺが、前述の第１インピーダンスＩ２１である。なお、第１条件は、より具体的には、第２許容値と、反射箱１０の表面積に対する第１アンテナ１１１の表面積の比ｒＳと、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスＺ０とに基づく条件である。また、以下では、説明の便宜上、式（１２）が示す条件を、第２条件と称して説明する。そして、第２条件を満たすＺの最小値が、前述の第２閾値である。すなわち、第２条件を満たすＺが、前述の第２インピーダンスＩ２２である。なお、第２条件も、より具体的には、第２許容値と、反射箱１０の表面積に対する第１アンテナ１１１の表面積の比ｒＳと、第１アンテナ１１１の特性インピーダンスＺ０とに基づく条件である。
【0088】
第１閾値及び第２閾値を理論式から決定する方法では、このようにして導出される式（１１）を用いて第１閾値を決定し、式（１２）を用いて第２閾値を決定する。これら２つの閾値は、上記の式（４）の導出において、第１アンテナ１１１から電流が流れる経路が２つであることが既に考慮されているため、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５それぞれのインピーダンスに対する閾値として利用することができる。
【0089】
ここで、例えば、図２に示した受信電力比の周波数平均０．１６が、ｒＳ＿ｒｅｆ＝０．０３９の反射箱において得られた値であった場合、式（１１）及び式（１２）は、以下の式（１３）及び式（１４）のようになる。
【0090】
【数13】
【0091】
【数14】
【0092】
そして、第２許容値としたい所望の電界強度比ｒＥが９０［％］である場合、式（１３）及び式（１４）は、以下の式（１５）及び式（１６）のようになる。
【0093】
【数15】
【0094】
【数16】
【0095】
なお、反射箱１０内の電界強度の低下は、第２給電装置１２２の電力容量に影響を与える。このため、反射箱１０内の電界強度の低下量は、第２給電装置１２２の出力誤差を考慮し、１０［％］以下であることが望ましい。反射箱１０内の電界強度の低下量が１０［％］以下であることは、第２許容値が９０［％］以上であることを意味する。すなわち、上記の例において、第２許容値としたい所望の電界強度比ｒＥを９０［％］とすることは、実際の設計思想的に妥当である。ただし、第２許容値としたい所望の電界強度比ｒＥは、９０［％］より小さい値であってもよく、９０［％］より大きい値であってもよい。
【0096】
また、式（１１）～式（１６）のいずれにおいても値を代入していない第２面積比ｒＳは、前述した通り、第１閾値及び第２閾値を決定する対象となる反射箱の表面積に対する第１アンテナ１１１の表面積の比である。このため、第２面積比ｒＳには、例えば、反射箱１０の表面積に対する第１アンテナ１１１の表面積が代入される。また、基準となる受信電力比を有する反射箱は、受信電力比を測定済みの反射箱であれば、如何なる反射箱であってもよい。このため、第１面積比ｒＳ＿ｒｅｆは、反射箱１０の表面積に対する第１アンテナ１１１の表面積であってもよい。
【0097】
以上のようにして、電磁波試験装置１の製造者は、設計段階において、式（１１）及び式（１２）の組み合わせ、式（１３）及び式（１４）の組み合わせ、式（１５）及び式（１６）の組み合わせのうちのいずれかの組み合わせに基づいて、第１閾値及び第２閾値を決定することができる。その結果、当該製造者は、第１閾値以下の第１インピーダンスＩ２１と第２閾値以上の第２インピーダンスＩ２２とのうちのいずれかが合成インピーダンスとなるように第１電力損失抑制部１１３のインピーダンスと第２電力損失抑制部１１５のインピーダンスとを決定することができる。そして、このようにして決定されたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５を備える電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0098】
ここで、第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれが第１アンテナ１１１と接続させてから、第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数を変化させながら、第２アンテナ１２１から電磁波を放射させると、電界強度比は、図６に示すように変化する。図６は、第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数の変化に対する電界強度比の変化の他の例を示す図である。ただし、図６では、電界強度比を、偏差によって表している。図６に示したグラフの縦軸は、偏差によって表された電界強度比を示す。また、当該グラフの横軸は、第２アンテナ１２１に入力されたＲＦ信号の周波数を示す。図６に示した例では、電界強度比の周波数平均は、－０．３［ｄＢ］である。すなわち、図６に示したグラフは、切替部１１６によって第１電力損失抑制部１１３及び第２電力損失抑制部１１５のそれぞれを第１アンテナ１１１と接続させると、偏差によって表された電界強度比が、ダミーロード１１２及び第１給電装置１１４のそれぞれと第１アンテナ１１１とが接続されている場合と比較して、低下することを明確に示している。従って、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0099】
＜電磁波試験装置を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う方法＞
以下、図７を参照し、電磁波試験装置１を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う方法について説明する。図７は、電磁波試験装置１を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う方法の流れの一例を示す図である。以下では、説明の便宜上、電磁波試験装置１を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う人を、測定者と称して説明する。
以下、図７を参照し、電磁波試験装置１を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う方法について説明する。図７は、電磁波試験装置１を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う方法の流れの一例を示す図である。以下では、説明の便宜上、電磁波試験装置１を用いてハイブリッド法による放射イミュニティ試験を行う人を、測定者と称して説明する。
【0100】
測定者は、情報処理装置１４を操作し、情報処理装置１４へ各種の情報を入力する（ステップＳ１１０）。図７では、ステップＳ１１０の手順を「情報入力」によって示している。ここで、当該各種の情報には、例えば、第１アンテナ１１１に入力するＲＦ信号の周波数帯、第２アンテナ１２１に入力するＲＦ信号の周波数帯、電磁攪拌器１３の回転速度等の測定条件を示す情報が含まれている。なお、当該各種の情報には、他の情報が含まれてもよい。
【0101】
次に、測定者は、情報処理装置１４を操作し、第１放射イミュニティ試験を開始させる（ステップＳ１２０）。ここで、第１放射イミュニティ試験は、伝送線路システム法による放射イミュニティ試験のことである。また、ステップＳ１２０において、測定者は、第１アンテナ１１１に電磁波を放射させるより前のタイミングにおいて、ステップＳ１１０において情報処理装置１４に入力した回転速度と電磁攪拌器１３の回転速度とが一致してから、第１アンテナ１１１が、ダミーロード１１２と第１給電装置１１４とのそれぞれと接続されるように、第１アンテナ１１１の接続先を切替部１１６に切り替させる。その後、測定者は、情報処理装置１４を操作し、ステップＳ１１０において情報処理装置１４に入力した周波数帯のＲＦ信号の第１アンテナ１１１への入力を開始させる。
【0102】
次に、測定者は、供試体ＴＭに生じる不具合の監視を開始する（ステップＳ１３０）。供試体ＴＭに生じる不具合は、例えば、ディスプレイを有する供試体ＴＭの場合におけるディスプレイ上の画像の乱れ、供試体ＴＭへの電源からの電力供給の停止等であるが、これらに限られるわけではない。
【0103】
次に、測定者は、供試体ＴＭに不具合が生じたか否かを判定する（ステップＳ１４０）。
【0104】
測定者は、供試体ＴＭに不具合が生じていないと判定した場合（ステップＳ１４０－ＮＯ）、ステップＳ１５０に遷移する。
【0105】
一方、測定者は、供試体ＴＭに不具合が生じたと判定した場合（ステップＳ１４０－ＹＥＳ）、供試体ＴＭに生じた不具合を示す情報を記録する（ステップＳ２２０）。なお、ステップＳ２２０において当該情報を記録する方法は、当該情報を記録可能な如何なる方法であってもよい。ステップＳ２２０の処理が行われた後、測定者は、ステップＳ１５０に遷移する。
【0106】
ステップＳ１５０において、測定者は、ステップＳ１２０において開始した第１放射イミュニティ試験を終了させるか否かを判定する（ステップＳ１５０）。図７では、ステップＳ１７０の手順を「試験終了？」によって示している。ここで、測定者は、例えば、ステップＳ１２０において開始した第１放射イミュニティ試験が完了している場合、ステップＳ１２０において開始した第１放射イミュニティ試験を終了させると判定する。一方、測定者は、例えば、ステップＳ１２０において開始した第１放射イミュニティ試験が完了していない場合、ステップＳ１２０において開始した第１放射イミュニティ試験を終了させないと判定する。なお、ステップＳ１５０の判定は、他の方法により行われてもよい。
【0107】
測定者は、ステップＳ１２０において開始した第１放射イミュニティ試験を終了させないと判定した場合（ステップＳ１５０－ＮＯ）、ステップＳ１４０に遷移し、供試体ＴＭに不具合が生じたか否かを再び判定する。
【0108】
一方、測定者は、ステップＳ１２０において開始した第１放射イミュニティ試験を終了させると判定した場合（ステップＳ１５０－ＹＥＳ）、第１放射イミュニティ試験を終了させる（ステップＳ１６０）。ここで、ステップＳ１６０において、測定者は、例えば、情報処理装置１４を操作し、ＲＦ信号の第１アンテナ１１１への入力を終了させる。
【0109】
次に、測定者は、第２放射イミュニティ試験を開始する（ステップＳ１７０）。ここで、第２放射イミュニティ試験は、反射箱法による放射イミュニティ試験のことである。また、ステップＳ１７０において、測定者は、第２アンテナ１２１に電磁波を放射させるより前のタイミングにおいて、第１アンテナ１１１が、第１電力損失抑制部１１３と第２電力損失抑制部１１５とのそれぞれと接続されるように、第１アンテナ１１１の接続先を切替部１１６に切り替させる。その後、測定者は、情報処理装置１４を操作し、ステップＳ１１０において情報処理装置１４に入力した周波数帯のＲＦ信号の第２アンテナ１２１への入力を開始させる。
【0110】
次に、測定者は、供試体ＴＭに生じる不具合の監視を開始する（ステップＳ１８０）。
【0111】
次に、測定者は、供試体ＴＭに不具合が生じたか否かを判定する（ステップＳ１９０）。
【0112】
測定者は、供試体ＴＭに不具合が生じていないと判定した場合（ステップＳ１９０－ＮＯ）、ステップＳ２００に遷移する。
【0113】
一方、測定者は、供試体ＴＭに不具合が生じたと判定した場合（ステップＳ１９０－ＹＥＳ）、供試体ＴＭに生じた不具合を示す情報を記録する（ステップＳ２３０）。なお、ステップＳ２３０において当該情報を記録する方法は、当該情報を記録可能な如何なる方法であってもよい。ステップＳ２３０の処理が行われた後、測定者は、ステップＳ２００に遷移する。
【0114】
ステップＳ２００において、測定者は、ステップＳ１７０において開始した第２放射イミュニティ試験を終了させるか否かを判定する（ステップＳ２００）。図７では、ステップＳ２００の手順を「試験終了？」によって示している。ここで、測定者は、例えば、ステップＳ１７０において開始した第２放射イミュニティ試験が完了している場合、ステップＳ１７０において開始した第２放射イミュニティ試験を終了させると判定する。一方、測定者は、例えば、ステップＳ１７０において開始した第２放射イミュニティ試験が完了していない場合、ステップＳ１７０において開始した第２放射イミュニティ試験を終了させないと判定する。なお、ステップＳ２００の判定は、他の方法により行われてもよい。
【0115】
測定者は、ステップＳ１７０において開始した第２放射イミュニティ試験を終了させないと判定した場合（ステップＳ２００－ＮＯ）、ステップＳ１９０に遷移し、供試体ＴＭに不具合が生じたか否かを再び判定する。
【0116】
一方、測定者は、ステップＳ１７０において開始した第２放射イミュニティ試験を終了させると判定した場合（ステップＳ２００－ＹＥＳ）、第２放射イミュニティ試験を終了させる（ステップＳ２１０）。ここで、ステップＳ２１０において、測定者は、例えば、情報処理装置１４を操作し、ＲＦ信号の第２アンテナ１２１への入力を終了させる。そして、測定者は、図７に示したフローチャートの手順を終了させる。
【0117】
以上のように、測定者は、反射箱１０と、反射箱１０内に設置され、反射箱１０の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナ１１１と、反射箱１０内に設置され、当該第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナ１２１と、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナ１１１との間に接続され、第１アンテナ１１１に給電する第１給電装置１１４と、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナ１１１との間に接続されるダミーロード１１２と、第２アンテナ１２１から電磁波が放射されている場合における第１アンテナ１１１による電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部１１３と、第１アンテナ１１１の接続先をダミーロード１１２と第１電力損失抑制部１１３とのいずれかに切り替える第１切替部ＳＷ１を含む切替部１１６とを備える電磁波試験装置１を用いたハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、第１アンテナ１１１から電磁波を放射する場合、第１アンテナ１１１の接続先をダミーロード１１２に切り替え、第２アンテナ１２１から電磁波を放射する場合、第１アンテナ１１１の接続先を第１電力損失抑制部１１３に切り替える。また、測定者は、当該放射イミュニティ試験において、第１アンテナ１１１から電磁波を放射する場合、第１アンテナ１１１の接続先を第１給電装置１１４に切り替え、第２アンテナ１２１から電磁波を放射する場合、第１アンテナ１１１の接続先を第２電力損失抑制部１１５に切り替える。これにより、当該放射イミュニティ試験は、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0118】
なお、図７に示したフローチャートの手順は、ある１つの周波数の電界を供試体ＴＭへ印加する放射イミュニティ試験に適用されてもよく、ある複数の周波数それぞれの電界を供試体ＴＭへ印加する放射イミュニティ試験に適用されてもよい。
【0119】
また、上記において説明した電磁波試験装置１は、第１電力損失抑制部１１３と第２電力損失抑制部１１５とが一体に構成されている場合、図８に示したように、ＲＦ電力分配器１１８を備える構成であってもよい。図８は、第１アンテナ１１１と第１電力損失抑制部１１３との接続態様の変形例を示す図である。図８に示した例では、第１切替部ＳＷ１と第２切替部ＳＷ２のそれぞれと、第１電力損失抑制部１１３との間には、ＲＦ電力分配器１１８が接続される。このような構成であっても、電磁波試験装置１は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0120】
また、上記において説明した第１アンテナ１１１は、前述した通り、ＴＥＭプレートアンテナに代えて、図９に示したストリップラインであってもよい。図９は、ストリップラインに接続された第１アンテナ１１１の様子の一例を示す図である。ストリップラインは、平行平板の内部を使用して電界を供試体ＴＭに印加するアンテナである。第１アンテナ１１１がストリップラインである場合、上記において説明したグラウンド電位を有する部材として、例えば、ケーブル、金属製の接地治具等を用いて反射箱１０の床面を用いることが多い。
【0121】
また、上記において説明した第１アンテナ１１１は、前述した通り、ＴＥＭプレートアンテナに代えて、図１０に示したセプテムであってもよい。図１０は、セプテムに接続された第１アンテナ１１１の様子の一例を示す図である。第１アンテナ１１１がセプテムである場合、上記において説明したグラウンド電位を有する部材として、例えば、反射箱１０の側面を用いることが多い。
【0122】
ここで、第１アンテナ１１１は、図１１に示したように、平板状のアンテナに代えて、複数の導線、複数の平板等によって構成されるアンテナであってもよい。図１１は、複数の導線、複数の平板等によって構成される第１アンテナ１１１の一例を示す図である。
【0123】
以上のように、実施形態に係る電磁波試験装置（上記において説明した例では、電磁波試験装置１）は、反射箱（上記において説明した例では、反射箱１０）と、反射箱内に設置され、反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナ（上記において説明した例では、第１アンテナ１１１）と、反射箱内に設置され、第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナ（上記において説明した例では、第２アンテナ１２１）と、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続され、第１アンテナに給電する給電装置（上記において説明した例では、第１給電装置１１４）と、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続されるダミーロード（上記において説明した例では、ダミーロード１１２）と、第２アンテナから電磁波が放射されている場合における第１アンテナによる電力損失についての許容値（上記において説明した例では、第１許容値、第２許容値のそれぞれ）に応じたインピーダンス（上記において説明した例では、第１インピーダンスＩ１１、第２インピーダンスＩ１２、第１インピーダンスＩ２１、第２インピーダンスＩ２２のそれぞれ）を有する第１電力損失抑制部（第１電力損失抑制部１１３）と、第１アンテナの接続先をダミーロードと第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部（上記において説明した例では、第１切替部ＳＷ１）を含む切替部（上記において説明した例では、切替部１１６）と、を備える。これにより、電磁波試験装置は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0124】
また、電磁波試験装置では、第１電力損失抑制部は、開放端である、構成が用いられてもよい。
【0125】
また、電磁波試験装置では、第１電力損失抑制部は、終端抵抗である、構成が用いられてもよい。
【0126】
また、電磁波試験装置では、第１電力損失抑制部は、グラウンド電位を有する部材である、構成が用いられてもよい。
【0127】
また、電磁波試験装置では、切替部は、第１アンテナの接続先を給電装置と第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第３切替部（上記において説明した例では、第１切替部ＳＷ１）を更に含む、構成が用いられてもよい。
【0128】
また、電磁波試験装置は、反射箱と、反射箱内に設置され、反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、反射箱内に設置され、第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続され、第１アンテナに給電する給電装置と、第２アンテナから電磁波が放射されている場合における第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスを有し、開放端と異なる第２電力損失抑制部と、第１アンテナの接続先を給電装置と第２電力損失抑制部（上記において説明した例では、第２電力損失抑制部１１５）とのいずれかに切り替える第２切替部（上記において説明した例では、第２切替部ＳＷ２）を含む切替部と、を備える。これにより、電磁波試験装置は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0129】
また、電磁波試験装置では、第２電力損失抑制部は、終端抵抗である、構成が用いられてもよい。
【0130】
また、電磁波試験装置では、第２電力損失抑制部は、グラウンド電位を有する部材である、構成が用いられてもよい。
【0131】
また、電磁波試験装置では、インピーダンスは、許容値に応じて予め決められた第１閾値未満の第１インピーダンス、又は、許容値に応じて予め決められた第２閾値以上の第２インピーダンスであり、第２閾値は、第１閾値よりも高い値である、構成が用いられてもよい。
【0132】
また、電磁波試験装置では、第１インピーダンスは、許容値と、反射箱の表面積に対する第１アンテナの表面積の比と、第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第１条件を満たすインピーダンスであり、第２インピーダンスは、許容値と、反射箱の表面積に対する第１アンテナの表面積の比と、第１アンテナの特性インピーダンスとに基づく第２条件を満たすインピーダンスである、構成が用いられてもよい。
【0133】
また、電磁波試験装置では、第１条件は、上記の式（１３）により表され、第２条件は、上記の式（１４）により表され、ｒＥは、許容値を示し、ｒＳは、反射箱の表面積に対する第１アンテナの表面積の比を示し、Ｚ０は、第１アンテナの特性インピーダンスを示す、構成が用いられてもよい。
【0134】
また、電磁波試験装置では、第１条件は、上記の式（１５）により表され、第２条件は、上記の式（１６）により表され、ｒＥは、許容値を示し、ｒＳは、反射箱の表面積に対する第１アンテナの表面積の比を示し、Ｚ０は、第１アンテナの特性インピーダンスを示す、構成が用いられてもよい。
【0135】
また、電磁波試験装置は、反射箱と、反射箱内に設置され、反射箱の第１共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させる第１アンテナと、反射箱内に設置され、第１共振周波数以上の周波数の電磁波を放射させる第２アンテナと、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続され、第１アンテナに給電する給電装置と、グラウンド電位を有する部材と第１アンテナとの間に接続されるダミーロードと、予め決められたインピーダンスを有する第１電力損失抑制部と、予め決められたインピーダンスを有する第２電力損失抑制部と、第１アンテナの接続先をダミーロードと第１電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第１切替部と、第１アンテナの接続先を給電装置と第２電力損失抑制部とのいずれかに切り替える第２切替部とを含む切替部と、を備え、第１電力損失抑制部のインピーダンスと第２電力損失抑制部のインピーダンスとの合成インピーダンスは、第２アンテナから電磁波が放射されている場合における第１アンテナによる電力損失についての許容値に応じたインピーダンスである。これにより、電磁波試験装置は、ハイブリッド法による放射イミュニティ試験において、電力損失が増大してしまうことを抑制することができる。
【0136】
また、電磁波試験装置では、第１電力損失抑制部及び第２電力損失抑制部は、開放端である、構成が用いられてもよい。
【0137】
また、電磁波試験装置では、第１電力損失抑制部及び第２電力損失抑制部は、終端抵抗である、構成が用いられてもよい。
【0138】
また、電磁波試験装置では、第１電力損失抑制部及び第２電力損失抑制部は、グラウンド電位を有する部材である、構成が用いられてもよい。
【0139】
また、電磁波試験装置は、切替部に接続を切り替えさせる操作を受け付ける操作部、構成が用いられてもよい。
【0140】
また、電磁波試験装置は、切替部に接続を切り替えさせる制御装置（上記において説明した例では、第１制御装置１１７）、構成が用いられてもよい。
【0141】
以上、この発明の実施形態を、図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない限り、変更、置換、削除等されてもよい。
【符号の説明】
【0142】
１…電磁波試験装置、１０…反射箱、１１…第１試験装置、１２…第２試験装置、１３…電磁攪拌器、１４…情報処理装置、１１１…第１アンテナ、１１２…ダミーロード、１１３…第１電力損失抑制部、１１４…第１給電装置、１１５…第２電力損失抑制部、１１６…切替部、１１７…第１制御装置、１１８…ＲＦ電力分配器、１２１…第２アンテナ、１２２…第２給電装置、１２３…第２制御装置、ＳＷ１…第１切替部、ＳＷ２…第２切替部、ＴＭ…供試体、Ｘ…抵抗素子
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】