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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023137124
(43)【公開日】2023-09-29
(54)【発明の名称】ワイヤロープ検査システム
(51)【国際特許分類】
G01N 27/82 20060101AFI20230922BHJP
B66B 5/02 20060101ALI20230922BHJP
B66B 5/00 20060101ALI20230922BHJP
【ＦＩ】
G01N27/82
B66B5/02 C
B66B5/00 D
【審査請求】未請求
【請求項の数】10
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022043161
(22)【出願日】2022-03-17
(71)【出願人】
【識別番号】000001993
【氏名又は名称】株式会社島津製作所
(74)【代理人】
【識別番号】100104433
【弁理士】
【氏名又は名称】宮園 博一
(74)【代理人】
【識別番号】100202728
【弁理士】
【氏名又は名称】三森 智裕
(72)【発明者】
【氏名】森 隆弘
(72)【発明者】
【氏名】伊藤 康展
【テーマコード（参考）】
2G053
3F304
【Ｆターム（参考）】
2G053AA11
2G053AB01
2G053BA03
2G053BA14
2G053BB03
2G053BB11
2G053BC02
2G053BC14
2G053CA03
2G053CB24
2G053DA02
2G053DA09
2G053DA10
2G053DB20
3F304BA09
3F304ED13
(57)【要約】
【課題】各々がコイルループを形成する分割可能な一対の検知コイルによってワイヤロープの磁束の変化量を検出する場合に、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を低減することが可能なワイヤロープ検査システムを提供する。
【解決手段】このワイヤロープ検査システム１００は、第１差動コイル３１からの検出信号と第２差動コイル３２からの検出信号との差分を取得する制御部５０を備える。また、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々における一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂ（３２ａおよび３２ｂ）は、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによってワイヤロープＷを囲むように巻回する。
【選択図】図２
【解決手段】このワイヤロープ検査システム１００は、第１差動コイル３１からの検出信号と第２差動コイル３２からの検出信号との差分を取得する制御部５０を備える。また、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々における一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂ（３２ａおよび３２ｂ）は、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによってワイヤロープＷを囲むように巻回する。
【選択図】図２
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、
前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイルと、前記第１差動コイルとは別個に設けられ、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイルとを含み、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルからの検出信号を出力する検出部と、
前記検出部の前記第１差動コイルからの前記検出信号と前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を取得する制御部と、を備え、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々は、前記ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に沿って分割可能な一対の検知コイルを有し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々における前記一対の検知コイルは、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによって前記ワイヤロープを囲むように巻回する、ワイヤロープ検査システム。
前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイルと、前記第１差動コイルとは別個に設けられ、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイルとを含み、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルからの検出信号を出力する検出部と、
前記検出部の前記第１差動コイルからの前記検出信号と前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を取得する制御部と、を備え、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々は、前記ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に沿って分割可能な一対の検知コイルを有し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々における前記一対の検知コイルは、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによって前記ワイヤロープを囲むように巻回する、ワイヤロープ検査システム。
【請求項2】
前記第１差動コイルにおける前記一対の検知コイルの巻き数は、前記第２差動コイルにおける前記一対の検知コイルの巻き数に略等しい、請求項１に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項3】
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々における前記一対の検知コイルは、一対の鞍型コイルを含む、請求項１または２に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項4】
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、一体的に前記ワイヤロープに対して相対移動しながら、前記検出信号を出力するように構成されており、
前記制御部は、前記ワイヤロープに対して相対移動している前記第１差動コイルからの前記検出信号と、前記第１差動コイルと一体的に相対移動している前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの前記ワイヤロープに対する相対移動に応じてリアルタイムに算出するように構成されている、請求項１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
前記制御部は、前記ワイヤロープに対して相対移動している前記第１差動コイルからの前記検出信号と、前記第１差動コイルと一体的に相対移動している前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの前記ワイヤロープに対する相対移動に応じてリアルタイムに算出するように構成されている、請求項１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項5】
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープの延びる方向に沿って並べて配置されている、請求項１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項6】
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープからの各々の離間距離が略等しくなるように配置されているとともに、前記ワイヤロープからの各々の離間距離と略等しい大きさの距離互いに離間して配置されている、請求項５に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項7】
前記第２差動コイルは、らせん状に撚り合わされた前記ワイヤロープの撚りの周期に対する前記第１差動コイルと前記第２差動コイルとの離間距離の割合に応じて、前記第１差動コイルが分割される方向から前記ワイヤロープの撚りの回転方向に所定の角度分回転させた方向に沿って分割されるように構成されている、請求項５に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項8】
前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルよりも外側において前記第１差動コイルを覆うように巻回される、請求項１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項9】
前記第２差動コイルは、前記第１差動コイルの前記ワイヤロープからの離間距離の略２倍の距離前記ワイヤロープから離間した状態で、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルを覆うように巻回される、請求項８に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項10】
前記励磁部は、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルよりも外側において、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの両方を覆うように巻回される励磁コイルを含み、
前記励磁コイルは、交流電流が流されることにより前記ワイヤロープの延びる方向に沿って振動する磁界を印加し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの少なくとも一方は、前記ワイヤロープの延びる方向において、前記励磁コイルの中心位置の近傍に配置されている、請求項１～９のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
前記励磁コイルは、交流電流が流されることにより前記ワイヤロープの延びる方向に沿って振動する磁界を印加し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの少なくとも一方は、前記ワイヤロープの延びる方向において、前記励磁コイルの中心位置の近傍に配置されている、請求項１～９のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、ワイヤロープ検査システムに関する。
【背景技術】
【0002】
従来、ワイヤロープの磁束の変化を検知するワイヤロープ検査装置が知られている（たとえば、特許文献１および特許文献２参照）。
【0003】
上記特許文献１に記載されているワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルを備える。この検知コイルは、検知装置本体部に設けられている。そして、検知コイルを含む検知装置本体部は、ワイヤロープに対して短手方向から取付可能なように分割可能に構成されている。また、上記特許文献１では、検知コイルが分割された検知装置本体部の各々に配置されるように一対の鞍型コイルによって構成される例が開示されている。ここで、ワイヤロープは、撚りの均一度や鋼材の量の均一度などの違いに依存する固有の磁気特性を有している。このワイヤロープの固有の磁気特性は、検知コイルによる測定において、損傷個所を測定した場合の出力に対して雑音データ（ノイズ）として出力される。
【0004】
そこで、上記特許文献２に記載のワイヤロープ検査装置は、予めワイヤロープに損傷が生じる前に、第１測定において検知コイルにより第１検知信号を取得する。そして、このワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープに生じた損傷を検出するために、第１測定の後の第２測定において検知コイルにより第２検知信号を取得する。そして、上記特許文献２に記載のワイヤロープ検査装置は、第１検知信号と第２検知信号との略同じ位置における差分を取得することにより、ワイヤロープの雑音データをキャンセルした状態で第１測定後に生じたワイヤロープの損傷を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特許第６８０５９８６号
【特許文献2】国際公開第２０１９／１５０５３９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかしながら、ワイヤロープの固有の磁気特性は、時間の経過に伴って変化する場合がある。その場合には、上記特許文献２に記載のワイヤロープ検査装置のように、予めワイヤロープに損傷が生じる前に測定された第１検知信号と、損傷の検出のために後から測定された第２検知信号との差分を取得したとしても、ワイヤロープの固有の磁気特性による雑音データを正確にキャンセル（低減）できなくなることが考えられる。また、上記特許文献１に記載の一対の鞍型コイルによって構成された検知コイルのように、一対の検知コイル（差動コイル）を分割可能に構成するとともに、分割された一対の検知コイルの各々においてコイルループを形成するように構成した場合には、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープ固有の磁気特性が雑音データとして検出される。このようなワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープ固有の磁気特性が時間の経過に伴って変化した場合には、上記特許文献２に記載のような差分を取得する方法ではワイヤロープの固有の磁気特性による雑音データを正確にキャンセルすることができない。そのため、各々がコイルループを形成する分割可能な一対の検知コイルによってワイヤロープの磁束の変化量を検出する場合に、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を低減することが望まれている。
【0007】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、各々がコイルループを形成する分割可能な一対の検知コイルによってワイヤロープの磁束の変化量を検出する場合に、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を低減することが可能なワイヤロープ検査システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記目的を達成するために、この発明の一の局面におけるワイヤロープ検査システムは、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイルと、第１差動コイルとは別個に設けられ、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイルとを含み、第１差動コイルおよび第２差動コイルからの検出信号を出力する検出部と、検出部の第１差動コイルからの検出信号と第２差動コイルからの検出信号との差分を取得する制御部と、を備え、第１差動コイルおよび第２差動コイルの各々は、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に沿って分割可能な一対の検知コイルを有し、第１差動コイルおよび第２差動コイルの各々における一対の検知コイルは、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによってワイヤロープを囲むように巻回する。なお、ここで言う「ワイヤロープの延びる方向に直交する方向」とは、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向からずれたワイヤロープの延びる方向に公差する方向をも含む広い概念として記載している。
【発明の効果】
【0009】
本発明の一の局面におけるワイヤロープ検査システムは、上記のように、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイルと、第１差動コイルとは別個に設けられ、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイルとを含み、第１差動コイルおよび第２差動コイルからの検出信号を出力する検出部を備える。そして、本発明の一の局面におけるワイヤロープ検査システムは、検出部の第１差動コイルからの検出信号と第２差動コイルからの検出信号との差分を取得する制御部を備える。また、第１差動コイルおよび第２差動コイルの各々における一対の検知コイルは、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによってワイヤロープを囲むように巻回する。ここで、ワイヤロープの磁束を測定する位置を変更した場合に、素線断線、キンク、錆、異物の付着など、ワイヤロープの断面積または組成の変化が発生した部分である異常部分を示す磁束は、比較的急峻に変化する。一方で、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープの固有の磁気特性による磁束は、測定する位置を変更した場合に比較的緩やかに変化する。そのため、ワイヤロープの固有の磁気特性による磁束の変化量は、異常部分に起因する磁束の変化量に比べて、ワイヤロープに対する測定位置の変更に伴う変動が小さい。これを考慮して、本発明では、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイルと、第１差動コイルとは別個に設けられ、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイルとを含む。これにより、互いに別個に設けられた第１差動コイルおよび第２差動コイルの異なる２つの測定位置の各々において、各々がコイルループを形成する一対の検知コイルによって磁束の変化量を検出した場合に、第１差動コイルからの検出信号と、第２差動コイルからの検出信号との差分を取得することによって、各々の検出信号に含まれる異常部分を示す成分のキャンセルを抑制しながら、ノイズ成分であるワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープに固有の磁気特性を示す成分をキャンセル（低減）することができる。その結果、各々がコイルループを形成する分割可能な一対の検知コイルによってワイヤロープの磁束の変化量を検出する場合に、ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】第１実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示した模式図である。
【図2】第１実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。
【図3】第１実施形態のワイヤロープ検査装置による整磁部、励磁部、および、検出部の配置を示した図である。
【図4】検出部の第１差動コイルおよび第２差動コイルの構成を説明するための模式図である。
【図5】第１差動コイルと第２差動コイルとの離間距離を説明するためのＸＺ平面における断面図である。
【図6】検出信号の差分に基づく磁束波形の生成を説明するための図である。
【図7】第１実施形態のワイヤロープ検査システムによる制御処理を説明するためのフローチャート図である。
【図8】第２実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。
【図9】第２実施形態の第１差動コイルおよび第２差動コイルの配置を説明するための図である。
【図10】第２実施形態の第１差動コイルおよび第２差動コイルのＹＺ平面における断面図であって、（Ａ）は、第１差動コイルを示した断面図であり、（Ｂ）は、第２差動コイルを示した断面図である。
【図11】第３実施形態によるワイヤロープ検査システムの全体構成を示したブロック図である。
【図12】第３実施形態による第１差動コイルおよび第２差動コイルの配置を説明するための図である。
【図13】第３実施形態の第１差動コイルおよび第２差動コイルのＹＺ平面における断面図を示した図である。
【図14】本発明の第１変形例による第１差動コイルおよび第２差動コイルのＹＺ平面における断面図であって、（Ａ）は、第１差動コイルを示した断面図であり、（Ｂ）は、第２差動コイルを示した断面図である。
【図15】本発明の第２変形例による第１差動コイルおよび第２差動コイルを説明するための模式図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
【0012】
［第１実施形態］
まず、図１～図６を参照して、本発明の第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００の構成について説明する。なお、以下の説明において、「直交」とは、９０度および９０度近傍の角度をなして交差することを意味する。また、「平行」とは、平行および略平行を含む。
まず、図１～図６を参照して、本発明の第１実施形態によるワイヤロープ検査システム１００の構成について説明する。なお、以下の説明において、「直交」とは、９０度および９０度近傍の角度をなして交差することを意味する。また、「平行」とは、平行および略平行を含む。
【0013】
（ワイヤロープ検査システムの構成）
図１に示すように、ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープ検査装置１０１と、処理装置１０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、検査対象であるワイヤロープＷの磁束の変化を検出する。そして、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって測定された測定結果（検出信号）を処理装置１０２に送信するように構成されている。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。異常部分は、素線断線、キンク、錆、異物の付着など、ワイヤロープＷの断面積または組成の変化が発生した部分である。また、処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果および異常部分の判定結果の表示などを行う。
図１に示すように、ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープ検査装置１０１と、処理装置１０２とを備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、検査対象であるワイヤロープＷの磁束の変化を検出する。そして、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって測定された測定結果（検出信号）を処理装置１０２に送信するように構成されている。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。異常部分は、素線断線、キンク、錆、異物の付着など、ワイヤロープＷの断面積または組成の変化が発生した部分である。また、処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果および異常部分の判定結果の表示などを行う。
【0014】
ワイヤロープ検査システム１００は、エレベータ１０３に設けられたワイヤロープＷの検査を行う。具体的には、ワイヤロープ検査システム１００は、検査対象であるエレベータ１０３のワイヤロープＷの異常部分を検査するためのシステムである。また、ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープＷの内部の磁束を測定する全磁束法により、目視により確認しにくいワイヤロープＷの異常を確認可能なシステムである。ワイヤロープＷに異常部分が含まれる場合には、異常部分における磁束が正常部分とは異なる。全磁束法は、ワイヤロープＷの表面の異常部分などからの漏洩磁束のみを測定する方法と異なり、ワイヤロープＷの内部の異常部分をも測定可能な方法である。
【0015】
（エレベータの構成）
図１に示すように、エレベータ１０３は、かご室１０３ａ、シーブ１０３ｂ、シーブ１０３ｃ、制御装置１０３ｄ、および、ワイヤロープＷを備える。エレベータ１０３は、巻上機に設けられたシーブ１０３ｂ（滑車）が回転してワイヤロープＷを巻き上げることによって、人および積み荷などを積載するかご室１０３ａを鉛直方向に移動させるように構成されている。また、エレベータ１０３は、たとえば、２つのシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃを備えるダブルラップ方式（フルラップ方式）のロープ式エレベータである。ダブルラップ方式とは、巻上機のシーブ１０３ｂから、そらせ車であるシーブ１０３ｃへと導かれたワイヤロープＷを再度巻き上げ機のシーブ１０３ｂに戻すことによって、シーブ１０３ｂに２回ワイヤロープＷを掛ける構造である。制御装置１０３ｄは、エレベータ１０３の各部の動作を制御する制御盤を含む。また、制御装置１０３ｄは、無線通信モジュールなどを含み、処理装置１０２と通信可能に構成されている。
図１に示すように、エレベータ１０３は、かご室１０３ａ、シーブ１０３ｂ、シーブ１０３ｃ、制御装置１０３ｄ、および、ワイヤロープＷを備える。エレベータ１０３は、巻上機に設けられたシーブ１０３ｂ（滑車）が回転してワイヤロープＷを巻き上げることによって、人および積み荷などを積載するかご室１０３ａを鉛直方向に移動させるように構成されている。また、エレベータ１０３は、たとえば、２つのシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃを備えるダブルラップ方式（フルラップ方式）のロープ式エレベータである。ダブルラップ方式とは、巻上機のシーブ１０３ｂから、そらせ車であるシーブ１０３ｃへと導かれたワイヤロープＷを再度巻き上げ機のシーブ１０３ｂに戻すことによって、シーブ１０３ｂに２回ワイヤロープＷを掛ける構造である。制御装置１０３ｄは、エレベータ１０３の各部の動作を制御する制御盤を含む。また、制御装置１０３ｄは、無線通信モジュールなどを含み、処理装置１０２と通信可能に構成されている。
【0016】
ワイヤロープＷは、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されており、長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープＷは、劣化による切断が生じることを未然に防ぐために、ワイヤロープ検査装置１０１により状態（異常部分の有無）を検査される。ワイヤロープＷの磁束の計測の結果、劣化の程度が決められた基準を超えたと判断されるワイヤロープＷは、検査作業者により交換される。
【0017】
ワイヤロープＷは、ワイヤロープ検査装置１０１の位置において、Ｘ方向（図３参照）に延びるように配置されている。ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷの表面に沿って、ワイヤロープＷに対して相対的にワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に移動しながら、ワイヤロープＷの磁束を計測する。エレベータ１０３に使用されるワイヤロープＷのように、ワイヤロープＷ自体が移動する場合には、ワイヤロープＷをＸ２方向に移動させながら、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの磁束の計測が行われる。これにより、ワイヤロープ検査装置１０１は、ワイヤロープＷのＸ方向の各位置における磁束を計測することによって、ワイヤロープＷのＸ方向の各位置における傷みを検査する。
【0018】
（ワイヤロープ検査装置の構成）
図２および図３に示すように、ワイヤロープ検査装置１０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部３０、および、制御基板４０を備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、エレベータ１０３のシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃの間において、ワイヤロープＷの検査を行うように配置されている。
図２および図３に示すように、ワイヤロープ検査装置１０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部３０、および、制御基板４０を備える。ワイヤロープ検査装置１０１は、エレベータ１０３のシーブ１０３ｂおよびシーブ１０３ｃの間において、ワイヤロープＷの検査を行うように配置されている。
【0019】
整磁部１０は、ワイヤロープＷに対して、予め磁界を印加することによって、ワイヤロープＷの磁化の方向を整える。整磁部１０は、検出部３０よりもワイヤロープＷの移動方向の上流側（Ｘ１方向側）に配置されている。たとえば、整磁部１０は、永久磁石である。また、整磁部１０は、１対の整磁部１０ａおよび整磁部１０ｂを含む。１対の整磁部１０ａおよび１０ｂは、ワイヤロープＷを挟み込むようにワイヤロープＷの短手方向（ワイヤロープＷの延びる方向と直交する方向、Ｚ方向）の両側に配置される。具体的には、整磁部１０ａは、ワイヤロープＷのＺ１方向側に配置される。そして、整磁部１０ｂは、ワイヤロープＷのＺ２方向側に配置される。そして、整磁部１０は、整磁部１０ａのＺ２方向に向けられたＮ極（斜線あり）と整磁部１０ｂのＺ１方向に向けられたＮ極（斜線あり）とがワイヤロープＷを挟んで対向するように設けられている。整磁部１０ａおよび１０ｂは、ワイヤロープＷの磁化の方向を略均一に整えるために、比較的強い磁界を印加することが可能に構成されている。
【0020】
励磁部２０は、ワイヤロープＷの磁化の状態を励振する（振動させる）ように、ワイヤロープＷに対して磁界（磁束）を印加するように構成されている。具体的には、励磁部２０は、励磁コイル２１を含む。励磁コイル２１は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って、ワイヤロープＷを巻回するように設けられる。具体的には、第１実施形態では、励磁コイル２１は、ワイヤロープＷに対して、後述する検出部３０の第１差動コイル３１および第２差動コイル３２よりも外側において、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の両方を覆うように、ワイヤロープＷの周りに巻回されるように設けられている。
【0021】
励磁コイル２１は、交流電流が流されることにより、ワイヤロープＷが延びる方向（Ｘ方向）に沿った磁束（磁界）をコイル内部（コイルの輪の内側）に発生させる。具体的には、後述する制御基板４０の処理部４１による制御によって励磁部２０の励磁コイル２１に対して、所定の周波数を有する交流電流（励振電流）が流されることにより、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に振動する磁界が印加される。すなわち、ワイヤロープＷにおいて、整磁部１０によって予め整えられた磁界（磁束）が、励磁部２０によってＸ１方向への磁界とＸ２方向への磁界が周期的に現れるように振動される。
【0022】
〈検出部の構成〉
第１実施形態では、検出部３０は、第１差動コイル３１と、第２差動コイル３２とを含む。第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、それぞれ、フレキシブル基板に設けられた導体パターンによって構成されている。なお、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、共通の基板において別個に設けられていてもよいし、互いに異なる２つの基板においてそれぞれ設けられていてもよい。
第１実施形態では、検出部３０は、第１差動コイル３１と、第２差動コイル３２とを含む。第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、それぞれ、フレキシブル基板に設けられた導体パターンによって構成されている。なお、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、共通の基板において別個に設けられていてもよいし、互いに異なる２つの基板においてそれぞれ設けられていてもよい。
【0023】
第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、一体的にワイヤロープＷに対して相対移動しながら、整磁部１０により予め磁界が印加された後（整磁された後）に、励磁部２０によって振動するように磁界が印加された（磁界が励振された）ワイヤロープＷの磁束の変化量を検出する。第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々は、Ｘ２方向に向かって移動するワイヤロープＷの磁束の変化を検出することによって、ワイヤロープＷに対して相対移動しながらワイヤロープＷの磁束の変化を検出する。
【0024】
図４に示すように、第１差動コイル３１は、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って、ワイヤロープＷを囲むように巻回されている。
【0025】
具体的には、第１差動コイル３１は、一対の検知コイル３１ａと検知コイル３１ｂとを含む。そして、一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂは、ワイヤロープＷの延びる方向に直交する方向（Ｚ方向）に沿って分割可能に構成されている。そして、第１差動コイル３１の検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂは、各々がコイルループを形成する独立した一対の鞍型コイル（サドル型コイル）である。詳細には、第１差動コイル３１の検知コイル３１ａは、ワイヤロープＷのＺ１方向側に配置されており、検知コイル３１ｂは、Ｚ２方向側に配置されている。検知コイル３１ａと検知コイル３１ｂとの各々は、ワイヤロープＷの半周（１８０度分）ずつを覆うように配置されている。そして、第１差動コイル３１は、検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂを互いに組み合わせることによって、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って２つの鞍型コイルによってワイヤロープＷの全周を巻回するように設けられている。なお、本明細書では、「巻回する」とは、１周以上に亘って巻き回す（巻き付ける）ことのみならず、１周分以下（たとえば、半周）の回数（角度）分だけ巻き回すことも含む概念として記載している。
【0026】
また、第１差動コイル３１から出力される検出信号は、検知コイル３１ａの出力と検知コイル３１ｂの出力とを加算した値を示す信号である。具体的には、一対の鞍型コイルである検知コイル３１ａと検知コイル３１ｂとを組み合わせることにより、第１差動コイル３１は、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する差動コイルとなる。すなわち、検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂを組み合わせることにより形成されるＸ１方向側のコイルループと、Ｘ２方向側のコイルループとによって、ワイヤロープＷを囲むように巻回する互いに差動接続されている２つのコイルループが形成される。したがって、第１差動コイル３１から出力される検出信号は、検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂにより形成されるＸ１方向側のコイルループにより検出される磁束と、Ｘ２方向側のコイルループにより検出される磁束との差分に相当する信号となる。そのため、第１差動コイル３１は、第１差動コイル３１のＸ方向における横幅の大きさ分の所定の区間におけるワイヤロープＷの磁束の変化量を検出する。このように、第１差動コイル３１は、一対の鞍型コイルである検知コイル３１ａおよび３１ｂの出力を加算することによって、ワイヤロープＷの短手方向（ワイヤロープＷに延びる方向に直交する方向：ＹＺ平面に沿う方向）における揺れによる影響（ワイヤロープＷの振動に起因するノイズ成分）を低減するように構成されている。
【0027】
そして、第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って、第１差動コイル３１とは別個に設けられ、ワイヤロープＷを囲むように巻回されている。また、第２差動コイル３２は、第１差動コイル３１と同様の構成である。すなわち、第２差動コイル３２は、各々がコイルループを形成する一対の検知コイル３２ａおよび検知コイル３２ｂを有する。そして、第１差動コイル３１と同様に、第２差動コイル３２の一対の検知コイル３２ａおよび３２ｂは、ワイヤロープＷの延びる方向に直交する方向（Ｚ方向）に沿って分割可能に構成されている。また、第１実施形態では、第１差動コイル３１における一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂの巻き数は、第２差動コイル３２における一対の検知コイル３２ａおよび３２ｂの巻き数に略等しい。なお、図４では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２では、鞍型コイルのコイルループにおける巻き数が１つの場合の例を図示しているが、巻き数は、複数であってもよい。
【0028】
また、第２差動コイル３２は、第１差動コイル３１と同様に、ワイヤロープＷのＺ１方向側に配置される鞍型コイルである検知コイル３２ａとＺ２方向側に配置される鞍型コイルである検知コイル３２ｂとを併せることによって、一対の鞍型コイルによってワイヤロープＷの全周を巻回するように設けられている。また、第２差動コイル３２は、第１差動コイル３１と同様に、検知コイル３２ａと検知コイル３２ｂとを組み合わせることにより、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する差動コイルとなる。すなわち、第２差動コイル３２は、第２差動コイル３２のＸ方向における横幅の大きさ分の所定の区間におけるワイヤロープＷの磁束の変化量を検出する。
【0029】
また、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って並べて配置されている。具体的には、第１差動コイル３１は、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）において、励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置されている。そして、第２差動コイル３２は、第１差動コイル３１の下流側（Ｘ２方向側）側に並べて配置されている。なお、ここでいう中心位置の「近傍」とは、中心位置自体をも含む広い概念として記載している。
【0030】
また、図５に示すように、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷからの各々の離間距離（ｄ１０１およびｄ１０２）が略等しくなるように配置されている。すなわち、第１差動コイル３１の内表面とワイヤロープＷの外表面との離間距離ｄ１０１は、第２差動コイル３２の内表面とワイヤロープＷの外表面との離間距離ｄ１０２と略等しい大きさである。
【0031】
また、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷからの各々の離間距離ｄ１０１およびｄ１０２と略等しい大きさの距離互いに離間して配置されている。すなわち、第１差動コイル３１のＸ方向における中心位置と、第２差動コイル３２のＸ方向における中心位置との離間距離ｄ１０３が、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々のワイヤロープＷからの離間距離ｄ１０１およびｄ１０２と略等しい大きさとなるように構成されている。
【0032】
たとえば、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷの外表面から約３［ｍｍ］離間した位置に配置されている。そして、第１差動コイル３１と第２差動コイル３２との中心間の離間距離ｄ１０３は、同様に約３［ｍｍ］である。
【0033】
上記のように、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々は、別個にワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って巻回するように設けられていることにより、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って、各々のワイヤロープＷを巻回するコイルループの内側を貫く向きの磁束の変化を検出（測定）する。そして、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々は、各々の位置（測定位置）において、励磁部２０（励磁コイル２１）によって周期的に時間変化させられる磁束（磁界）の変化の変化量を検出することによって検出信号を出力するように構成されている。具体的には、検出部３０は、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号を後述する制御基板４０の信号取得部４２（図４参照）に対して出力する。
【0034】
図２に示すように、制御基板４０は、処理部４１、信号取得部４２、および、通信部４３を含む。制御基板４０は、処理部４１による制御処理によって、ワイヤロープ検査装置１０１の各部の制御を行う。処理部４１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などのプロセッサ、メモリ、および、ＡＤ変換器などを含む。制御基板４０は、処理部４１からの制御信号に基づいて、励磁部２０（励磁コイル２１）の動作を制御する。また、信号取得部４２は、検出部３０（第１差動コイル３１および第２差動コイル３２）からの検出信号を取得（受信）する。信号取得部４２は、増幅器を含む。そして、信号取得部４２は、取得した検出信号を増幅して処理部４１に出力（送信）する。そして、通信部４３は、処理装置１０２と通信可能に構成されている。通信部４３は、無線ＬＡＮ、および、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）などによる無線通信が可能な無線通信モジュールを含む。処理部４１は、取得された検出信号を、通信部４３を介して処理装置１０２に出力（送信）する。詳細には、処理部４１は、第１差動コイル３１の一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂの出力の和を第１差動コイル３１の検出信号として出力するとともに、第２差動コイル３２の一対の検知コイル３２ａおよび３２ｂの出力の和を第２差動コイル３２の検出信号として出力する。なお、通信部４３を介したワイヤロープ検査装置１０１と処理装置１０２との接続は、有線接続であってもよい。
【0035】
（処理装置の構成）
図２に示すように、処理装置１０２は、制御部５０、記憶部６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１とは別個に設けられている。そして、処理装置１０２は、たとえば、ワイヤロープＷの検査を行う検査作業者が用いるタブレットＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）などのタブレット端末である。
図２に示すように、処理装置１０２は、制御部５０、記憶部６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置１０２は、ワイヤロープ検査装置１０１とは別個に設けられている。そして、処理装置１０２は、たとえば、ワイヤロープＷの検査を行う検査作業者が用いるタブレットＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）などのタブレット端末である。
【0036】
制御部５０は、処理装置１０２の各部を制御する。制御部５０は、ＣＰＵなどのプロセッサ、メモリなどを含んでいる。制御部５０は、通信部８０を介して受信されたワイヤロープＷの測定結果（検出信号）に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。なお、制御部５０による異常部分の判定処理の詳細は後述する。
【0037】
記憶部６０は、たとえば、フラッシュメモリを含む記憶装置である。記憶部６０は、取得されたワイヤロープＷの測定結果、および、制御部５０によるワイヤロープＷの異常部分の判定結果などの情報を記憶（保存）する。また、記憶部６０は、ワイヤロープＷの異常部分を判定するためのプログラムおよび処理用パラメータなどを記憶している。
【0038】
タッチパネル７０は、ワイヤロープＷの測定結果、制御部５０によるワイヤロープＷの測定結果の解析結果（異常部分の判定結果）などの情報を表示する。また、タッチパネル７０は、検査作業者による入力操作を受け付ける。
【0039】
通信部８０は、ワイヤロープ検査装置１０１、および、エレベータ１０３の制御装置１０３ｄと通信可能に構成されている。通信部８０は、通信用のインターフェースである。具体的には、通信部８０は、無線ＬＡＮ、および、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）などによる無線通信が可能な無線通信モジュールを含む。処理装置１０２は、通信部８０を介して、ワイヤロープ検査装置１０１によるワイヤロープＷの測定結果（検出信号）を受信する。また、処理装置１０２は、検査作業者による入力操作に基づいて、ワイヤロープＷの検査を開始する場合に、ワイヤロープ検査装置１０１およびエレベータ１０３（エレベータ１０３の制御装置１０３ｄ）に対して、通信部８０を介して検査を開始することを示す信号を送信する。
【0040】
なお、処理装置１０２は、取得された検出信号（測定結果）と共に、ワイヤロープＷの位置を示す信号を取得するように構成されている。そして、処理装置１０２は、検出信号と、検出信号に対応するワイヤロープＷの位置を示す位置情報とを関連付けて記憶するように構成されている。ワイヤロープＷの位置情報は、たとえば、エレベータ１０３の制御装置１０３ｄから取得する。また、ワイヤロープＷの位置情報は、エンコーダなどの位置センサによって取得してもよいし、エレベータ１０３の動作速度と、検査を行う検査時間の経過とに基づいて算出するようにしてもよい。
【0041】
（処理装置による異常部分の判定処理）
次に、図６を参照して、処理装置１０２による異常部分の判定の処理について説明する。
次に、図６を参照して、処理装置１０２による異常部分の判定の処理について説明する。
【0042】
図６に示すように、第１実施形態では、処理装置１０２の制御部５０は、第１差動コイル３１からの検出信号と、第２差動コイル３２からの検出信号とを取得する。具体的には、制御部５０は、移動しているワイヤロープＷを測定することによって検出された第１差動コイル３１からの検出信号と、第２差動コイル３２からの検出信号とを、ワイヤロープＷの移動（位置変更）に応じて順次取得する。そして、制御部５０は、取得された第１差動コイル３１からの検出信号と第２差動コイル３２からの検出信号との差分を取得する。具体的には、制御部５０は、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分を、ワイヤロープＷの移動に応じてリアルタイムに算出するように構成されている。なお、制御部５０は、略同じタイミングにおいて検出された第１差動コイル３１からの検出信号と、第２差動コイル３２からの検出信号との差分を取得するように構成されている。
【0043】
なお、制御部５０は、電気的なノイズを低減するために、取得された第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号に対して、所定の区間（たとえば、２０［ｍｓ］）ごとに移動平均処理を行う。検出信号のサンプリング周波数は、たとえば、１ｋＨｚである。すなわち、制御部５０は、１［ｍｓ］ごとに取得された検出信号に対して、前後１０［ｍｓ］分を含めた区間の平均値を１［ｍｓ］ごとにサンプリングするように構成されている。そして、制御部５０は、移動平均処理が実行された第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分を算出する処理を実行するように構成されている。制御部５０は、ワイヤロープＷの移動に応じて、所定のサンプリング周期によって差分を算出するとともに、算出された差分に基づいて異常部分の判定を行うための磁束波形をリアルタイムに生成するように構成されている。磁束波形は、所定のサンプリング周期ごとに、算出された第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分の値をプロットしたものである。
【0044】
また、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々のワイヤロープＷからの離間距離ｄ１０１およびｄ１０２と、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の離間距離ｄ１０３とが略等しいため、Ｘ方向において、ワイヤロープＷの異常部分の位置が第１差動コイル３１の中心位置と同じ場合に、異常部分から第２差動コイル３２までの距離は、異常部分から第１差動コイル３１までの距離の√２倍の距離となる。そして、異常部分を示す磁束の変化は、振幅が弱く、距離の２乗に反比例して減衰する。したがって、第１差動コイル３１からの検出信号における異常部分を示す成分の大きさに比べて、第２差動コイル３２からの検出信号における異常部分を示す成分の大きさは、およそ半分となる。そのため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分を取得した場合にも、異常部分を示す成分が除去されずに検出される。
【0045】
一方で、ワイヤロープＷの固有の磁気特性は、整磁部１０による整磁磁界、および、励磁コイル２１（励磁部２０）による励振磁界が、ワイヤロープＷから漏れていく磁束を反映している。そして、ワイヤロープＷの固有の磁気特性の変化の周期は、少なくとも励磁コイル２１のＸ方向（ワイヤロープＷの延びる方向）における長さよりも大きいと考えられる。また、励磁コイル２１のＸ方向における長さは、ワイヤロープＷの周期Ｔ（１ピッチ、図９参照）よりも大きい。すなわち、第１差動コイル３１と第２差動コイル３２との離間距離ｄ１０３に比べて、ワイヤロープＷに固有の磁気特性の変化の周期は、十分に大きいため、第１差動コイル３１からの検出信号におけるワイヤロープＷに固有の磁気特性の成分と、第２差動コイル３２からの検出信号におけるワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分との差異は、小さくなる。そのため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分を算出した場合には、ワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分が低減（キャンセル）される。
【0046】
そして、制御部５０は、生成された磁束波形に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を検出する。たとえば、制御部５０は、磁束波形の値が、予め設定された所定の判定しきい値よりも大きい部分を、ワイヤロープＷの異常部分と判定する。判定しきい値は、検査作業者による入力操作に基づいて、複数の候補のうちから選択されることによって設定されてもよい。制御部５０は、ワイヤロープＷのうちの異常部分と判定された位置を示す位置情報を取得する。
【0047】
そして、制御部５０は、生成された異常部分の判定結果（解析結果）をタッチパネル７０に表示する。たとえば、制御部５０は、異常部分と判定されたワイヤロープＷの位置を示す表示を数値としてタッチパネル７０に表示させる。制御部５０は、たとえば、ワイヤロープＷのうちの検査を開始した位置を０とした距離によって、ワイヤロープＷのうちの異常部分の位置を示す位置情報をタッチパネル７０に表示させる。また、制御部５０は、ワイヤロープＷの位置に加えて異常部分と判定された場合の磁束波形の値を併せて表示するようにしてもよい。また、制御部５０は、第１差動コイル３１からの検出信号と第２差動コイル３２からの検出信号との差分に基づく磁束波形を視認可能なようにタッチパネル７０に表示させるようにしてもよい。
【0048】
（第１実施形態によるワイヤロープ検査システムの制御処理方法）
次に、図８を参照して、第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００による制御処理について説明する。この制御処理は、ワイヤロープ検査システム１００のワイヤロープ検査装置１０１および処理装置１０２によって実行される。すなわち、ステップ６０２およびステップ６０３は、ワイヤロープ検査装置１０１の処理部４１による制御処理を示す。そして、ステップ６０１、および、ステップ６０４～ステップ６０６は、処理装置１０２の制御部５０による制御処理を示す。
次に、図８を参照して、第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００による制御処理について説明する。この制御処理は、ワイヤロープ検査システム１００のワイヤロープ検査装置１０１および処理装置１０２によって実行される。すなわち、ステップ６０２およびステップ６０３は、ワイヤロープ検査装置１０１の処理部４１による制御処理を示す。そして、ステップ６０１、および、ステップ６０４～ステップ６０６は、処理装置１０２の制御部５０による制御処理を示す。
【0049】
まず、ステップ６０１において、ワイヤロープＷの検査開始の入力操作が受け付けられる。具体的には、タッチパネル７０に対する入力操作に基づいて、ワイヤロープＷの検査が開始される。そして、エレベータ１０３の制御装置１０３ｄおよびワイヤロープ検査装置１０１の処理部４１に対して、検査の開始を示す信号が送信される。
【0050】
次に、ステップ６０２において、ワイヤロープＷに対して磁界が印加される。そして、ステップ６０３において、ワイヤロープＷに対して相対的に移動しながら、磁界が印加されたワイヤロープＷの磁束の変化量を検出することによって検出信号が取得される。具体的には、検出部３０の第１差動コイル３１および第２差動コイル３２に対してワイヤロープＷを移動させながら、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号が取得される。
【0051】
次に、ステップ６０４において、取得された第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分が算出される。そして、算出された差分に基づいて、磁束波形が生成される。そして、ステップ６０５において、算出された差分に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分の判定が行われる。次に、ステップ６０６において、異常部分と判定されたワイヤロープＷの位置を示す情報を確認可能なように、異常部分の判定結果がタッチパネル７０に表示される。
【0052】
（第１実施形態の効果）
第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００では、以下のような効果を得ることができる。
第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００では、以下のような効果を得ることができる。
【0053】
第１実施形態のワイヤロープ検査システム１００は、上記のように、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイル３１と、第１差動コイル３１とは別個に設けられ、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイル３２とを含み、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２からの検出信号を出力する検出部３０を備える。そして、第１実施形態におけるワイヤロープ検査システム１００は、検出部３０の第１差動コイル３１からの検出信号と第２差動コイル３２からの検出信号との差分を取得する制御部５０を備える。また、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々における一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂと検知コイル３２ａおよび３２ｂとは、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによってワイヤロープを囲むように巻回する。ここで、ワイヤロープＷの磁束を測定する位置を変更した場合に、素線断線、キンク、錆、異物の付着など、ワイヤロープＷの断面積または組成の変化が発生した部分である異常部分を示す磁束は、比較的急峻に変化する。一方で、ワイヤロープＷの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープＷの固有の磁気特性による磁束は、測定する位置を変更した場合に比較的緩やかに変化する。そのため、ワイヤロープＷの固有の磁気特性による磁束の変化量は、異常部分に起因する磁束の変化量に比べて、ワイヤロープＷに対する測定位置の変更に伴う変動が小さい。これを考慮して、第１実施形態では、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイル３１と、第１差動コイル３１とは別個に設けられ、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイル３２とを含む。これにより、互いに別個に設けられた第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の異なる２つの測定位置の各々において、各々がコイルループを形成する一対の検知コイルによって磁束の変化量を検出した場合に、第１差動コイル３１からの検出信号と、第２差動コイル３２からの検出信号との差分を取得することによって、各々の検出信号に含まれる異常部分を示す成分のキャンセルを抑制しながら、ノイズ成分であるワイヤロープＷの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープＷに固有の磁気特性を示す成分をキャンセル（低減）することができる。その結果、各々がコイルループを形成する分割可能な一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂ（検知コイル３２ａおよび３２ｂ）によってワイヤロープＷの磁束の変化量を検出する場合に、ワイヤロープＷの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を低減することができる。
【0054】
また、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２のそれぞれが分割可能な一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂと検知コイル３２ａおよび３２ｂとを有するため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々を、ワイヤロープＷの端部から差し込むように取り付けることなく、ワイヤロープＷの途中の部分に対して容易に取り付けることができる。そのため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々を、すでに設置されているワイヤロープＷに対して容易に取り付けることができる。
【0055】
また、第１実施形態では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。
【0056】
すなわち、第１実施形態では、第１差動コイル３１における一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂの巻き数は、第２差動コイル３２における一対の検知コイル３２ａおよび３２ｂの巻き数に略等しい。このように構成すれば、第１差動コイル３１からの検出信号に含まれるワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分と、第２差動コイル３２からの検出信号に含まれるワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分との差異を小さくすることができる。その結果、第１差動コイル３１からの検出信号と第２差動コイル３２からの検出信号との差分を取得した場合に、ワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を精度よく低減することができる。
【0057】
また、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々における一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂと検知コイル３２ａおよび３２ｂとは、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に直交する方向（Ｚ方向）に沿って分割可能である一対の鞍型コイルを含む。このように構成すれば、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々が一対の鞍型コイル（検知コイル３１ａおよび検知コイル３１ｂ、検知コイル３２ａおよび検知コイル３２ｂ）を含むため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々において、一対の鞍型コイルを組み合わせることによって、ワイヤロープＷに巻回された差動コイルを形成することができる。ここで、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々を、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って巻線がらせん状に巻回されているソレノイドコイルにより構成する場合には、分割可能に構成するためにコイルを形成する巻線の全体を分割する必要がある。その場合には、分割された巻線を接続するために複数の端子が必要となるため装置構成が複雑化すると考えられる。これに対して、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々が一対の鞍型コイルを含むため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々をソレノイドコイルにより構成する場合に比べて、分割可能に構成するために装置構成が複雑化することを抑制することができる。また、一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂと検知コイル３２ａおよび３２ｂとの各々を鞍型コイルとすることによって、ワイヤロープＷの形状に沿うようにコイルを配置することができる。そのため、一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂと検知コイル３２ａおよび３２ｂとの各々を平板コイルとする場合に比べて、一対の鞍型コイルによってワイヤロープＷの延びる方向に直交する方向に磁界の向きを有するワイヤロープＷの固有の磁気特性を精度よく検出することができる。その結果、一対の検知コイル３１ａおよび３１ｂと検知コイル３２ａおよび３２ｂとの各々を鞍型コイルとすることによって、ワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を精度よく低減することができる。
【0058】
また、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、一体的にワイヤロープＷに対して相対移動しながら、検出信号を出力するように構成されており、制御部５０は、ワイヤロープＷに対して相対移動している第１差動コイル３１からの検出信号と、第１差動コイル３１と一体的に相対移動している第２差動コイル３２からの検出信号との差分を、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２のワイヤロープＷに対する相対移動に応じてリアルタイムに算出するように構成されている。このように構成すれば、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２が一体的にワイヤロープＷに対して相対移動しながら検出信号を出力するため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２がワイヤロープＷに対して別個に相対移動しながら検出信号を出力する場合と異なり、第１差動コイル３１と第２差動コイル３２との位置関係のずれに起因して、算出される差分にばらつきが生じることを抑制することができる。そのため、ワイヤロープＷの異常部分の検出を精度よく行うことができる。また、第１差動コイル３１からの検出信号と第２差動コイル３２からの検出信号との差分がリアルタイムに算出されるため、検査を行う検査作業者は、ワイヤロープＷの測定を行いながら、固有の磁気特性に起因するノイズ成分が低減された状態のワイヤロープＷにおける磁束の変化量を確認することができる。そのため、検査作業者は、ワイヤロープＷの検査を行いながら異常部分か否かの判断ができるため、ワイヤロープＷにおいて異常部分と判断された部分を、容易に確認することができる。
【0059】
また、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って並べて配置されている。このように構成すれば、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々のワイヤロープＷからの離間距離（ｄ１０１およびｄ１０２）の差異を小さくすることができる。そのため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号におけるワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分の差異を小さくすることができるので、ワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を精度よく低減することができる。
【0060】
また、第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷからの各々の離間距離（ｄ１０１およびｄ１０２）が略等しくなるように配置されているとともに、ワイヤロープＷからの各々の離間距離（ｄ１０１およびｄ１０２）と略等しい大きさの距離互いに離間して配置されている。このように構成すれば、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２がワイヤロープＷからの各々の離間距離（ｄ１０１およびｄ１０２）が略等しくなるように配置されているため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号におけるワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分の差異をより小さくすることができる。また、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２が、ワイヤロープＷからの各々の離間距離（ｄ１０１およびｄ１０２）と略等しい大きさの距離互いに離間して配置されているため、Ｘ方向において、ワイヤロープＷの異常部分の位置が第１差動コイル３１の中心位置と同じ場合に、異常部分から第２差動コイル３２までの距離は、異常部分から第１差動コイル３１までの距離の√２倍の距離となる。そのため、検出信号における異常部分を示す信号の成分は距離の２乗に比例して減衰するため、第１差動コイル３１において検出された異常部分を示す信号の成分に比べて、第２差動コイル３２において検出される異常部分を示す信号の成分を略半分の大きさとなる。その結果、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分を取得した場合に、異常部分を示す信号の成分が小さくなりすぎることを抑制しながらワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を精度よく低減することができる。
【0061】
また、第１実施形態では、励磁部２０は、ワイヤロープＷに対して、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２よりも外側において、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の両方を覆うように巻回される励磁コイル２１を含み、励磁コイル２１は、交流電流が流されることによりワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿って振動する磁界を印加し、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の一方は、ワイヤロープＷの延びる方向において、励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置されている。ここで、ワイヤロープＷに巻回されている励磁コイル２１によって印加される磁界は湾曲した楕円形の磁力線を有するため、ワイヤロープＷの延びる方向における励磁コイル２１の中心位置の近傍において、励磁コイル２１によって印加される磁界の向きは、最もワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）に沿う方向となる。そのため、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の一方を、ワイヤロープＷの延びる方向において励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置することによって、励磁コイル２１によって印加される磁界の向きを、ワイヤロープＷを囲むように巻回されている第１差動コイル３１および第２差動コイル３２のコイルループを垂直に貫く方向とすることができる。その結果、取得される検出信号の検出感度（検出精度）を向上させることができる。
【0062】
［第２実施形態］
図８～図１０を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００の構成について説明する。この第２実施形態は、検出部３０の第１差動コイル３１と第２差動コイル３２とをワイヤロープＷからの離間距離ｄ１０１およびｄ１０２と略等しい距離互いに離間して配置した第１実施形態と異なり、第１差動コイル２３１と、第２差動コイル２３２とを、互いに、ワイヤロープＷの撚り（ストランド）の周期Ｔ（１ピッチ）の４分の１の距離離間した状態で配置している。なお、図中において、上記第１実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
図８～図１０を参照して、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００の構成について説明する。この第２実施形態は、検出部３０の第１差動コイル３１と第２差動コイル３２とをワイヤロープＷからの離間距離ｄ１０１およびｄ１０２と略等しい距離互いに離間して配置した第１実施形態と異なり、第１差動コイル２３１と、第２差動コイル２３２とを、互いに、ワイヤロープＷの撚り（ストランド）の周期Ｔ（１ピッチ）の４分の１の距離離間した状態で配置している。なお、図中において、上記第１実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
【0063】
（第２実施形態によるワイヤロープ検査システムの構成）
図８に示すように、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００は、ワイヤロープ検査装置２０１と処理装置２０２とを備える。ワイヤロープ検査装置２０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部２３０、制御基板４０を備える。整磁部１０、励磁部２０、制御基板４０の構成は第１実施形態と同様である。
図８に示すように、第２実施形態によるワイヤロープ検査システム２００は、ワイヤロープ検査装置２０１と処理装置２０２とを備える。ワイヤロープ検査装置２０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部２３０、制御基板４０を備える。整磁部１０、励磁部２０、制御基板４０の構成は第１実施形態と同様である。
【0064】
検出部２３０は、第１差動コイル２３１、および、第２差動コイル２３２を含む。第１実施形態と同様に、第１差動コイル２３１は、分割可能に構成されている検知コイル２３１ａおよび検知コイル２３１ｂを含む。そして、第２差動コイル２３２は、同様に、分割可能に構成されている検知コイル２３２ａおよび検知コイル２３２ｂを含む。
【0065】
第１差動コイル２３１は、第１実施形態と同様に、Ｘ方向において、励磁コイル２１の中心に配置されている。また、検知コイル２３１ａおよび検知コイル２３１ｂは、鞍型コイルを含む。そして、鞍型コイルである検知コイル２３１ａおよび検知コイル２３１ｂが組み合わされることにより、第１差動コイル２３１は、ワイヤロープＷに巻回され、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する差動コイルとなる。同様に、第２差動コイル２３２の検知コイル２３２ａおよび検知コイル２３２ｂの各々は、鞍型コイルを含む。そして、第２差動コイル２３２は、検知コイル２３２ａおよび検知コイル２３２ｂが組み合わされることにより、ワイヤロープＷに巻回され、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する差動コイルとなる。
【0066】
また、図９に示すように、第２差動コイル２３２は、第１差動コイル２３１に対して、Ｘ２方向側に所定の離間距離ｄ２０１離間した位置に配置されている。なお、第１実施形態と同様に、第１差動コイル２３１のワイヤロープＷからの離間距離と、第２差動コイル２３２のワイヤロープＷからの離間距離とは、略等しい大きさである。ここで、ワイヤロープＷは、複数の素線を撚り合わせたストランドを、さらに撚り合わせた構造を有している。たとえば、ワイヤロープＷは、６本のストランドを撚り合わせた６ストランドロープである。そして、ワイヤロープＷは、周期Ｔごとに（１ピッチごとに）１つのストランドがワイヤロープＷの円周方向に１回転するように構成されている。また、ワイヤロープＷは、Ｘ方向に沿って時計回りにストランドが撚られている。そして、第１差動コイル２３１と第２差動コイル２３２との離間距離ｄ２０１は、ワイヤロープＷの撚りの周期Ｔに対して４分の１の割合となる距離である。
【0067】
そして、図１０に示すように、第１差動コイル２３１は、第１実施形態の第１差動コイル３１と同様に、検知コイル２３１ａと検知コイル２３１ｂとが、Ｚ方向に沿って分割可能に構成されている。また、第２実施形態では、第２差動コイル２３２は、らせん状に撚り合わされたワイヤロープＷの撚りの周期Ｔに対する第１差動コイル２３１と第２差動コイル２３２との離間距離ｄ２０１の割合に応じて、第１差動コイル２３１が分割される方向（Ｚ方向）からワイヤロープＷの撚りの回転方向（時計回り）に所定の角度分回転させた方向に沿って分割されるように構成されている。
【0068】
具体的には、第２差動コイル２３２と第１差動コイル２３１との離間距離ｄ２０１は、周期Ｔの４分の１である。したがって、第２差動コイル２３２は、第１差動コイル２３１が分割される方向（Ｚ方向）からワイヤロープＷの撚りの回転方向に９０度分（一回転の４分の１）回転させた方向（Ｙ方向）に沿って分割される。すなわち、第２実施形態では、第２差動コイル２３２は、検知コイル２３２ａと検知コイル２３２ｂとがＹ方向に沿って分割可能に構成されている。なお、第１差動コイル２３１と第２差動コイル２３２とを一体的に構成する場合には、第２差動コイル２３２に対して回転機構を設けることにより、第２差動コイル２３２を、ワイヤロープＷを軸に９０度回転させた後に、第１差動コイル２３１および第２差動コイル２３２を一体的にＺ方向に沿って分割させるように構成してもよい。これにより、検出部２３０は、一体的にワイヤロープＷから着脱可能に構成される。
【0069】
処理装置２０２は、制御部２５０、記憶部６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置２０２は、第１実施形態による処理装置１０２と同様に、ワイヤロープ検査装置２０１によるワイヤロープＷの測定結果に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分を判定する処理を実行する。
【0070】
処理装置２０２の制御部２５０は、第１実施形態の制御部５０と同様に、第１差動コイル２３１からの検出信号と、第２差動コイル２３２からの検出信号とを取得する。そして、制御部２５０は、取得された第１差動コイル２３１からの検出信号と第２差動コイル２３２からの検出信号との差分を取得する。
【0071】
ここで、第２実施形態では、制御部２５０は第１差動コイル２３１からの検出信号と、第２差動コイル２３２からの検出信号とのいずれか一方の時間軸を変更させた状態で第１差動コイル２３１および第２差動コイル２３２の各々の検出信号の差分を算出する。具体的には、制御部２５０は、ワイヤロープＷに対する検出部２３０の相対速度と、第１差動コイル２３１および第２差動コイル２３２の離間距離ｄ２０１とに基づいて、第１差動コイル２３１からの検出信号のタイミングに比べて、第２差動コイル２３２からの検出信号のタイミングをずらした状態で差分を取得する。詳細には、制御部２５０は、離間距離ｄ２０１が周期Ｔの４分の１なので、ワイヤロープＷの移動速度において、ワイヤロープＷの周期Ｔ（１ピッチ）分の距離を移動するのに必要な時間の４分の１の時間、第２差動コイル２３２からの検出信号のタイミングを後ろにずらした状態で、第１差動コイル２３１からの検出信号との差分を算出するように構成されている。
【0072】
なお、制御部２５０は、第１実施形態と同様に、取得された検出信号に対して、移動平均処理を実行した状態で、差分を算出する処理を実行する。また、制御部２５０は、検出信号の差分を取得した後に、第１実施形態と同様の処理によって、異常部分の判定の処理を行うとともに、生成された異常部分の判定結果（解析結果）をタッチパネル７０に表示する。また、第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。
【0073】
（第２実施形態の効果）
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第２実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【0074】
第２実施形態では、第２差動コイル２３２は、らせん状に撚り合わされたワイヤロープＷの撚りの周期Ｔに対する第１差動コイル２３１と第２差動コイル２３２との離間距離ｄ２０１の割合に応じて、第１差動コイル２３１が分割される方向からワイヤロープＷの撚りの回転方向に所定の角度分回転させた方向に沿って分割されるように構成されている。このように構成すれば、ワイヤロープＷの特有の磁気特性はワイヤロープＷのらせん状に撚られたストランドの撚りの回転に応じて変化するため、第１差動コイル２３１と第２差動コイル２３２との離間距離を大きくした場合にも、第１差動コイル２３１からの検出信号に含まれるワイヤロープＷの特有の磁気特性の成分と、第２差動コイル２３２からの検出信号に含まれるワイヤロープＷの特有の磁気特性の成分との差異を小さくすることができる。そのため、第１差動コイル２３１および第２差動コイル２３２の各々からの検出信号の差分を取得することによって、ワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分をより低減することができる。その結果、ワイヤロープＷの異常部分を精度よく判定することができる。
【0075】
なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。
【0076】
［第３実施形態］
図１１～図１３を参照して、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００の構成について説明する。この第３実施形態は、第１差動コイル３１（２３１）と第２差動コイル３２（２３２）とがワイヤロープＷの延びる方向に沿って並んで配置されていた第１および第２実施形態と異なり、第１差動コイル３３１を覆うように第２差動コイル３３２を配置する。なお、図中において、上記第１および第２実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
図１１～図１３を参照して、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００の構成について説明する。この第３実施形態は、第１差動コイル３１（２３１）と第２差動コイル３２（２３２）とがワイヤロープＷの延びる方向に沿って並んで配置されていた第１および第２実施形態と異なり、第１差動コイル３３１を覆うように第２差動コイル３３２を配置する。なお、図中において、上記第１および第２実施形態と同様の構成の部分には、同一の符号を付して図示するとともに説明を省略する。
【0077】
（第３実施形態によるワイヤロープ検査システムの構成）
図１１に示すように、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００は、ワイヤロープ検査装置３０１と処理装置１０２とを備える。ワイヤロープ検査装置３０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部３３０、および、制御基板４０を備える。整磁部１０、励磁部２０、制御基板４０の構成は第１実施形態と同様である。検出部３３０は、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２を含む。
図１１に示すように、第３実施形態によるワイヤロープ検査システム３００は、ワイヤロープ検査装置３０１と処理装置１０２とを備える。ワイヤロープ検査装置３０１は、整磁部１０、励磁部２０、検出部３３０、および、制御基板４０を備える。整磁部１０、励磁部２０、制御基板４０の構成は第１実施形態と同様である。検出部３３０は、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２を含む。
【0078】
図１２に示すように、第１差動コイル３３１は、第１および第２実施形態と同様に、Ｘ方向において、励磁コイル２１の中心に配置されており、一対の検知コイル３３１ａと検知コイル３３１ｂとを含む。一対の検知コイル３３１ａおよび３３１ｂは、Ｚ方向に沿って分割可能に構成されている。また、検知コイル３３１ａおよび検知コイル３３１ｂは、鞍型コイルを含む。そして、鞍型コイルである検知コイル３３１ａおよび検知コイル３３１ｂが組み合わされることにより、第１差動コイル３３１は、ワイヤロープＷに巻回され、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する差動コイルとなる。
【0079】
また、第２差動コイル３３２は、第１差動コイル３３１と同様に、鞍型コイルである一対の検知コイル３３２ａと検知コイル３３２ｂとを含む。一対の検知コイル３３２ａおよび３３２ｂは、分割可能に構成されている。そして、第１差動コイル３３１と同様に、鞍型コイルである検知コイル３３２ａおよび検知コイル３３２ｂが組み合わされることにより、第２差動コイル３３２は、ワイヤロープＷに巻回され、励磁部２０により磁界が印加されたワイヤロープＷにおける磁束の変化量を検出する差動コイルとなる。
【0080】
そして、第３実施形態では、第２差動コイル３３２は、ワイヤロープＷに対して、第１差動コイル３３１よりも外側において第１差動コイル３３１を覆うように巻回される。具体的には、第２差動コイル３３２は、第１差動コイル３３１と同様に、Ｘ方向において、励磁コイル２１の中心に配置されている。すなわち、第１差動コイル３３１と第２差動コイル３３２とのワイヤロープＷのＸ方向における位置は等しい。また、第２差動コイル３３２の巻き数は、第１差動コイル３３１の巻き数と等しい。そして、第２差動コイル３３２は、第１差動コイル３３１と共通のＺ方向に沿って分割可能に構成されている。
【0081】
また、図１３に示すように、第２差動コイル３３２は、ワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０２が、第１差動コイル３３１のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０１よりも大きい。具体的には、第２差動コイル３３２は、第１差動コイル３３１のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０１の略２倍の距離（離間距離ｄ３０２）ワイヤロープＷから離間した状態で、ワイヤロープＷに対して、第１差動コイル３３１を覆うように巻回される。詳細には、第２差動コイル３３２の内表面とワイヤロープＷの外表面との離間距離ｄ３０２は、第１差動コイル３３１の内表面とワイヤロープＷの外表面との離間距離ｄ３０１の略２倍の大きさである。たとえば、第１差動コイル３３１とワイヤロープＷとの離間距離ｄ３０１が４［ｍｍ］である場合には、第２差動コイル３３２とワイヤロープＷとの離間距離ｄ３０２は、８［ｍｍ］となる。
【0082】
そして、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２は、第１実施形態の第１差動コイル３１および第２差動コイル３２と同様に、検出信号を出力するように構成されている。
【0083】
処理装置１０２は、制御部５０、記憶部６０、タッチパネル７０、および、通信部８０を備える。処理装置１０２の構成は、第１実施形態と同様である。すなわち、処理装置１０２は、第１実施形態と同様に、検出部３３０の第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２からの検出信号の差分を算出する。そして、処理装置１０２は、算出された差分に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分の判定の処理を行うとともに、生成された異常部分の判定結果（解析結果）をタッチパネル７０に表示する。
【0084】
なお、ワイヤロープＷからの距離の差が略２倍であるため、第１差動コイル３３１からの検出信号における異常部分を示す成分の検出信号に比べて、第２差動コイル３３２からの検出信号における異常部分を示す成分の検出信号は、略４分の１の大きさとなる。そのため、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２の各々からの検出信号の差分を取得した場合にも、異常部分を示す成分が除去されずに検出される。
【0085】
一方で、ワイヤロープＷの固有の磁気特性の変化の周期は、第１実施形態と同様に、少なくとも励磁コイル２１のＸ方向（ワイヤロープＷの延びる方向）における長さよりも大きいと考えられる。したがって、第１差動コイル３３１のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０１と、第２差動コイル３３２のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０２との差に比べて、ワイヤロープＷに固有の磁気特性の変化の周期が十分に大きいため、第１差動コイル３３１からの検出信号におけるワイヤロープＷに固有の磁気特性の成分と、第２差動コイル３３２からの検出信号におけるワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分との差異は、小さくなる。そのため、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２の各々からの検出信号の差分を取得した場合には、ワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分が低減される。
【0086】
また、第３実施形態のその他の構成は、上記第１および第２実施形態と同様である。
【0087】
（第３実施形態の効果）
第３実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第３実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
【0088】
第３実施形態では、第２差動コイル３３２は、ワイヤロープＷに対して、第１差動コイル３３１よりも外側において第１差動コイル３３１を覆うように巻回される。このように構成すれば、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）における第１差動コイル３３１のワイヤロープＷに対する位置と、第２差動コイル３３２のワイヤロープＷに対する位置を等しくすることができる。そのため、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２の各々からの検出信号に含まれるワイヤロープＷの固有の磁気特性の成分の差異をより小さくすることができる。その結果、検出信号の差分を取得することによってワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分をより低減することができるので、ワイヤロープＷの異常部分をより精度よく判定することができる。
【0089】
また、第３実施形態では、第２差動コイル３３２は、第１差動コイル３３１のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０１の略２倍の距離（離間距離ｄ３０２）ワイヤロープＷから離間した状態で、ワイヤロープＷに対して、第１差動コイル３３１を覆うように巻回される。このように構成すれば、検出信号における異常部分を示す成分は、距離の２乗に比例して減衰するため、第２差動コイル３３２からの検出信号に含まれる異常部分を示す成分を、第１差動コイル３３１からの検出信号に含まれる異常部分を示す成分のおよそ４分の１の大きさとすることができる。そのため、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２の各々からの検出信号の差分において、異常部分を示す成分が小さくなりすぎることを抑制しながらワイヤロープＷの固有の磁気特性に起因するノイズ成分を低減することができる。
【0090】
なお、第３実施形態のその他の効果は、上記第１および第２実施形態と同様である。
【0091】
［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。
【0092】
（第１変形例）
たとえば、上記第２実施形態では、第１差動コイル２３１は、各々がワイヤロープＷの外周の約半周分（１８０度分）を覆う検知コイル２３１ａおよび検知コイル２３１ｂを含み、第２差動コイル２３２は、各々がワイヤロープＷの外周の約半周分（１８０度分）を覆う検知コイル２３２ａおよび検知コイル２３２ｂを含む例を示したが本発明は、これに限られない。本発明では、図１４に示す第１変形例による第１差動コイル４３１および第２差動コイル４３２のように、第１差動コイル４３１の検知コイル４３１ａおよび検知コイル４３１ｂと、第２差動コイル４３２の検知コイル４３２ａおよび検知コイル４３２ｂとの各々を、ワイヤロープＷの外周の約半周分（１８０度分）よりも小さい角度分を覆うように構成してもよい。なお、検知コイル４３１ａおよび４３１ｂと検知コイル４３２ａおよび４３２ｂは、一対の鞍型コイルである。
たとえば、上記第２実施形態では、第１差動コイル２３１は、各々がワイヤロープＷの外周の約半周分（１８０度分）を覆う検知コイル２３１ａおよび検知コイル２３１ｂを含み、第２差動コイル２３２は、各々がワイヤロープＷの外周の約半周分（１８０度分）を覆う検知コイル２３２ａおよび検知コイル２３２ｂを含む例を示したが本発明は、これに限られない。本発明では、図１４に示す第１変形例による第１差動コイル４３１および第２差動コイル４３２のように、第１差動コイル４３１の検知コイル４３１ａおよび検知コイル４３１ｂと、第２差動コイル４３２の検知コイル４３２ａおよび検知コイル４３２ｂとの各々を、ワイヤロープＷの外周の約半周分（１８０度分）よりも小さい角度分を覆うように構成してもよい。なお、検知コイル４３１ａおよび４３１ｂと検知コイル４３２ａおよび４３２ｂは、一対の鞍型コイルである。
【0093】
具体的には、図１４に示すように、第１差動コイル４３１の分割される方向（Ｚ方向）に対して、第２差動コイル４３２が、ワイヤロープＷの撚りの回転方向に９０度分回転させた方向（Ｙ方向）に沿って分割されるように構成されている場合には、検知コイル４３１ａおよび検知コイル４３１ｂと、検知コイル４３２ａおよび検知コイル４３２ｂとの各々を、ワイヤロープＷの外周の９０度分ずつを覆うように構成してもよい。この場合には、第１差動コイル４３１と第２差動コイル４３２とが互いに９０度ずれた状態で配置されているので、第１差動コイル４３１および第２差動コイル４３２の検出信号を組み合わせることによって、ワイヤロープＷの全周分の測定を行うことができる。なお、検知コイル４３１ａおよび検知コイル４３１ｂと、検知コイル４３２ａおよび検知コイル４３２ｂとの各々は、ワイヤロープＷの外周の９０度よりも大きい所定の角度分ずつを覆うように構成してもよい。
【0094】
（第２変形例）
また、上記第１～第３実施形態では、第１差動コイル３１（２３１、３３１）における一対の検知コイル３１ａ（２３１ａ、３３１ａ）および検知コイル３１ｂ（２３１ｂおよび３３１ｂ）と、第２差動コイル３２（２３２、３３２）における一対の検知コイル３２ａ（２３２ａ、３３２ａ）および検知コイル３２ｂ（２３２ｂおよび３３２ｂ）が、一対の鞍型コイルである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、図１５に示す第２変形例による第１差動コイル５３１および第２差動コイル５３２のように、第１差動コイル５３１における一対の検知コイル５３１ａおよび５３１ｂと、第２差動コイル５３２における一対の検知コイル５３２ａおよび５３２ｂとを、各々がコイルループを形成する一対の平板コイルによって構成してもよい。その場合にも、各々がコイルループを形成する検知コイル５３１ａおよび５３１ｂ同士、および、検知コイル５３２ａおよび５３２ｂ同士が互いに組み合わされることによってワイヤロープＷを取り囲むようなコイルループが形成されことにより、ワイヤロープＷの内部の磁束を測定する全磁束法によってワイヤロープＷの内部の異常部分が検知される。
また、上記第１～第３実施形態では、第１差動コイル３１（２３１、３３１）における一対の検知コイル３１ａ（２３１ａ、３３１ａ）および検知コイル３１ｂ（２３１ｂおよび３３１ｂ）と、第２差動コイル３２（２３２、３３２）における一対の検知コイル３２ａ（２３２ａ、３３２ａ）および検知コイル３２ｂ（２３２ｂおよび３３２ｂ）が、一対の鞍型コイルである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、図１５に示す第２変形例による第１差動コイル５３１および第２差動コイル５３２のように、第１差動コイル５３１における一対の検知コイル５３１ａおよび５３１ｂと、第２差動コイル５３２における一対の検知コイル５３２ａおよび５３２ｂとを、各々がコイルループを形成する一対の平板コイルによって構成してもよい。その場合にも、各々がコイルループを形成する検知コイル５３１ａおよび５３１ｂ同士、および、検知コイル５３２ａおよび５３２ｂ同士が互いに組み合わされることによってワイヤロープＷを取り囲むようなコイルループが形成されことにより、ワイヤロープＷの内部の磁束を測定する全磁束法によってワイヤロープＷの内部の異常部分が検知される。
【0095】
たとえば、第１差動コイル５３１の一対の検知コイル５３１ａおよび５３１ｂは、分割可能に構成されているとともに、図示しないコネクタ部によって互いに差動接続となるように接続されている。そして、一対の検知コイル５３１ａおよび５３１ｂが組み合わされる（接続される）ことによってワイヤロープＷを囲むように巻回するコイルループが形成される。具体的には、一対の検知コイル５３１ａおよび５３１ｂの各々におけるワイヤロープＷの延びる方向に直交する方向（Ｙ方向）に沿う部分によって、ワイヤロープＷを囲むように巻回するコイルループが形成される。この時、一対の検知コイル５３１ａおよび５３１ｂにおいて、ワイヤロープＷの延びる方向と直交する方向の磁気特性がノイズ成分として検出されるため、第１差動コイル５３１と同様の構成の第２差動コイル５３２を別個に設けるとともに、第１差動コイル５３１からの検出信号と第２差動コイル５３２からの検出信号との差分を取得することによって、ノイズ成分を効果的に精度よく低減することができる。
【0096】
（その他の変形例）
また、上記第２実施形態では、第２差動コイル２３２を、第１差動コイル２３１の分割される方向（Ｚ方向）に対して、ワイヤロープＷの撚りの回転方向に９０度分回転させた方向（Ｙ方向）に沿って分割されるように構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１差動コイル２３１と第２差動コイル２３２との離間距離ｄ２０１がワイヤロープＷの撚りの周期Ｔに対して２分の１の大きさである場合には、第２差動コイル２３２を、第１差動コイル２３１の分割される方向（Ｚ方向）に対して１８０度回転させた方向に沿って分割されるようにしてもよい。
また、上記第２実施形態では、第２差動コイル２３２を、第１差動コイル２３１の分割される方向（Ｚ方向）に対して、ワイヤロープＷの撚りの回転方向に９０度分回転させた方向（Ｙ方向）に沿って分割されるように構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１差動コイル２３１と第２差動コイル２３２との離間距離ｄ２０１がワイヤロープＷの撚りの周期Ｔに対して２分の１の大きさである場合には、第２差動コイル２３２を、第１差動コイル２３１の分割される方向（Ｚ方向）に対して１８０度回転させた方向に沿って分割されるようにしてもよい。
【0097】
また、上記第２実施形態では、第１差動コイル２３１からの検出信号のタイミングに比べて、第２差動コイル２３２からの検出信号のタイミングをずらした状態で差分を取得する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第２差動コイル２３２を、第１差動コイル２３１が分割される方向から回転させた方向に沿って分割するように配置する場合にも、略同じタイミングにおいて検出された第１差動コイル２３１からの検出信号と、第２差動コイル２３２からの検出信号との差分を取得するようにしてもよい。
【0098】
また、上記第１～第３実施形態では、ワイヤロープＷの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置１０１（２０１、３０１）と異常部分を判定する処理を実行する処理装置１０２（２０２）とが別個に構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ワイヤロープＷの磁束の変化の検出と、異常部分を判定する処理とを１つの（共通の）ワイヤロープ検査装置によって実行するように構成してもよい。具体的には、ワイヤロープ検査装置を、第１実施形態のワイヤロープ検査装置１０１と同様に整磁部１０、励磁部２０、および、検出部３０を備えるとともに、第１実施形態による処理装置１０２の制御部５０と同様に、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２の各々からの検出信号の差分を取得する処理を実行する制御部をさらに備えるように構成してもよい。
【0099】
また、上記第１～第３実施形態では、処理装置１０２（２０２）が、検査作業者が用いるタブレットＰＣである例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、異常部分の判定処理を実行する制御部５０（２５０）を備える処理装置１０２（２０２）は、サーバ装置などの遠隔地に設置された装置であってもよい。すなわち、ワイヤロープ検査装置１０１（２０１、３０１）による測定結果を遠隔地に設置された処理装置（制御部）によって取得するとともに、エレベータ１０３（ワイヤロープＷ）から離間した位置において、第１差動コイル３１（２３１、３３１）および第２差動コイル３２（２３２、３３２）の各々からの検出信号の差分を取得して異常部分の判定を実行するように構成してもよい。
【0100】
また、上記第１～第３実施形態では、第１差動コイル３１（２３１、３３１）と第２差動コイル３２（２３２、３３２）とが、互いに等しい巻き数を有する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１差動コイル３１（２３１、３３１）の巻き数と第２差動コイル３２（２３２、３３２）の巻き数とを、互いに異なるようにしてもよい。その場合には、第１差動コイル３１（２３１、３３１）からの検出信号と第２差動コイル３２（２３２、３３２）からの検出信号とに対して、各々の巻き数に応じた補正処理を実行するようにしてもよい。
【0101】
また、上記第１～第３実施形態では、処理装置１０２（２０２、３０２）の制御部５０、２５０は、第１差動コイル３１（２３１、３３１）からの検出信号と第２差動コイル３２（２３２、３３２）からの検出信号との差分を、ワイヤロープＷの移動に応じてリアルタイムに算出する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、取得された第１差動コイル３１（２３１、３３１）からの検出信号と、第２差動コイル３２（２３２、３３２）からの検出信号との各々を、記憶部６０に記憶させるとともに、ワイヤロープＷの全体の測定が終了した後に、差分を算出するように構成してもよい。
【0102】
また、上記第１および第２実施形態では、第１差動コイル３１、２３１および第２差動コイル３２、２３２は、ワイヤロープＷからの各々の離間距離ｄ１０１およびｄ１０２が略等しくなるように並べて配置されている例を示し、たが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１差動コイル３１、２３１のワイヤロープＷからの離間距離と、第２差動コイル３２、２３２のワイヤロープＷからの離間距離とを、互いに異ならせるようにしてもよい。
【0103】
また、上記第１実施形態では、第１差動コイル３１および第２差動コイル３２は、ワイヤロープＷからの各々の離間距離ｄ１０１およびｄ１０２と略等しい大きさの距離（離間距離ｄ１０３）互いに離間して配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１差動コイル３１と第２差動コイル３２との離間距離ｄ１０１およびｄ１０２は、ワイヤロープＷからの離間距離ｄ１０３よりも小さくてもよい。また、第１差動コイル３１と第２差動コイル３２との離間距離ｄ１０３は、ワイヤロープＷからの離間距離ｄ１０１およびｄ１０２よりも大きくてもよい。たとえば、第１差動コイル３１と第２差動コイル３２との離間距離ｄ１０３は、ワイヤロープＷからの離間距離ｄ１０１およびｄ１０２の１倍～３倍の大きさであってもよい。
【0104】
また、上記第３実施形態では、第２差動コイル３３２が、第１差動コイル３３１のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０１の略２倍の距離（離間距離ｄ３０２）ワイヤロープＷから離間するように配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第２差動コイル３３２を、第１差動コイル３３１のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０１の略２倍よりも小さい距離ワイヤロープＷから離間するように配置してもよい。また、第２差動コイル３３２を、第１差動コイル３３１のワイヤロープＷからの離間距離ｄ３０１の略２倍よりも大きい距離ワイヤロープＷから離間するように配置してもよい。
【0105】
なお、第１差動コイル３１（２３１、３３１）と第２差動コイル３２（２３２、３３２）との離間距離が大きすぎる場合には、第１差動コイル３１（２３１、３３１）からの検出信号に含まれるワイヤロープＷの特有の磁気特性を示す成分と、第１差動コイル３１（２３１、３３１）からの検出信号に含まれるワイヤロープＷの特有の磁気特性を示す成分との差異が大きくなる。したがって、検出信号の差分におけるワイヤロープＷの特有の磁気特性を示す成分を低減することができなくなるため、第１差動コイル３１（２３１、３３１）と第２差動コイル３２（２３２、３３２）との離間距離は大きすぎないほうがよい。また、第１差動コイル３１（２３１、３３１）と第２差動コイル３２（２３２、３３２）との離間距離が小さすぎる場合には、第１差動コイル３１（２３１、３３１）からの検出信号に含まれる異常部分を示す成分と、第１差動コイル３１（２３１、３３１）からの検出信号に含まれる異常部分を示す成分との差異が小さくなる。したがって、検出信号の差分における異常部分を示す成分が小さくなるため、第１差動コイル３１（２３１、３３１）と第２差動コイル３２（２３２、３３２）との離間距離は、小さすぎないほうがよい。第１差動コイル３１（２３１、３３１）と第２差動コイル３２（２３２、３３２）との離間距離は、第１差動コイル３１（２３１、３３１）とワイヤロープＷとの離間距離の１倍～１０倍程度が好ましい。
【0106】
また、上記第１～第３実施形態では、励磁コイル２１がワイヤロープＷに対して第１差動コイル３１（２３１、３３１）および第２差動コイル３２（２３２、３３２）の外側を巻回するように設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、励磁部２０と検出部３０（２３０、３３０）とを、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って並べて配置してもよい。その場合、励磁部２０の励磁コイル２１を、第１差動コイル３１（２３１、３３１）と第２差動コイル３２（２３２、３３２）との間に配置するようにしてもよい。
【0107】
また、上記第１および第２実施形態では、第１差動コイル３１（２３１）が、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）において励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置されている例を示し、第３実施形態では、第１差動コイル３３１および第２差動コイル３３２の両方が、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）において励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第１差動コイル３１（２３１）ではなく、第２差動コイル３２（２３２）を、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）において励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置するようにしてもよい。また、第１差動コイル３１（２３１、３３１）および第２差動コイル３２（２３２、３３２）の両方ともが、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）において励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置されないようにしてもよい。また、第１差動コイル３１（２３１）および第２差動コイル３２（２３２）の中間点が、ワイヤロープＷの延びる方向（Ｘ方向）において励磁コイル２１の中心位置の近傍に配置されるようにしてもよい。
【0108】
また、上記第１～第３実施形態では、取得された検出信号に基づく信号波形である磁束波形を、サンプリングごとに前後１０個ずつ（２０［ｍｓ］）の範囲で移動平均処理を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。移動平均処理の範囲は、２０［ｍｓ］以外の範囲であってもよい。また、磁束波形を生成する際に移動平均処理を実行しなくともよい。また、ローパスフィルタ処理など、移動平均処理以外のノイズ除去処理を実行して、磁束波形を生成してもよい。
【0109】
また、上記第１～第３実施形態では、エレベータ１０３のワイヤロープＷを検査する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、クレーンおよびロープウェイなどのエレベータ以外のワイヤロープを検査するように構成してもよい。
【0110】
また、上記第１～第３実施形態では、エレベータ１０３のワイヤロープＷを移動させることによって、検出部３０、２３０、３３０（第１差動コイル３１、２３１、３３１および第２差動コイル３２、２３２、３３２）を、ワイヤロープＷに対して相対移動させる例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、固定されているワイヤロープＷに対して、検出部３０、２３０、３３０（第１差動コイル３１、２３１、３３１および第２差動コイル３２、２３２、３３２）を移動させることによって、ワイヤロープＷに対して相対移動させるように構成してもよい。その場合には、第１差動コイル３１、２３１、３３１および第２差動コイル３２、２３２、３３２は、ワイヤロープＷに対して、一体的に移動しながら検出信号を制御部５０（２５０）に対して出力するように構成されるようにしてもよい。そして、制御部５０（２５０）は、第１差動コイル３１、２３１、３３１および第２差動コイル３２、２３２、３３２のワイヤロープＷに対する異常に応じて、検出信号の差分をリアルタイムに算出する。
【0111】
また、上記第１～第３実施形態では、処理装置１０２（２０２）が、第１差動コイル３１（２３１、３３１）および第２差動コイル３２（２３２、３３２）の各々の検出信号の差分に基づいて、ワイヤロープＷの異常部分の判定を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、処理装置１０２（２０２）を、異常部分の判定を行わず、算出された検出信号の差分を表示させる処理を行うように構成してもよい。
【0112】
また、上記第１～第３実施形態では、ワイヤロープＷを挟んで互いに対向するように設けられた整磁部１０ａおよび整磁部１０ｂが、それぞれＮ極をワイヤロープＷ側に向けるように配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、２つの整磁部１０ａおよび１０ｂが、Ｎ極とＳ極とをそれぞれワイヤロープＷに向けるように配置されていてもよい。また、２つの整磁部１０ａおよび１０ｂは、互いに対向する方向ではなく、ワイヤロープＷの延びる方向に沿ってＮ極とＳ極とを配置するようにしてもよい。その場合、２つの整磁部１０ａおよび１０ｂは同じ向きでもよいし異なる向きでもよい。また、２つの整磁部１０ａおよび１０ｂは、ワイヤロープＷの延びる方向に沿って平行な向きから、斜めにずれた向きに磁界を印加するように配置されていてもよい。また、１つの整磁部１０を、ワイヤロープＷの延びる方向と交差する方向の片側に配置してよい。また、整磁部１０を設けずに、磁界を整えずに検出部３０（２３０、３３０）により磁束を検出するようにしてもよい。
【0113】
また、上記第１～第３実施形態では、整磁部１０を永久磁石によって構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、整磁部を、電磁石によって構成してもよい。
【0114】
また、上記第１～第３実施形態では、ワイヤロープ検査システム１００（２００、３００）を、１本のワイヤロープＷの磁束の変化量を検出するように構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、ワイヤロープ検査システム１００（２００、３００）を、複数のワイヤロープＷの磁束の変化量を検出するように構成してもよい。その場合には、第１差動コイル３１（２３１、３３１）および第２差動コイル３２（２３２、３３２）を、複数のワイヤロープＷの各々に設けるように構成するようにしてもよい。なお、整磁部１０および励磁部２０は、複数のワイヤロープＷに対して共通して１つ設けるようにしてもよいし、複数のワイヤロープＷに対応するように複数設けるようにしてもよい。
【0115】
［態様］
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
【0116】
（項目１）
ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、
前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイルと、前記第１差動コイルとは別個に設けられ、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイルとを含み、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルからの検出信号を出力する検出部と、
前記検出部の前記第１差動コイルからの前記検出信号と前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を取得する制御部と、を備え、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々は、前記ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に沿って分割可能な一対の検知コイルを有し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々における一対の検知コイルは、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによって前記ワイヤロープを囲むように巻回する、ワイヤロープ検査システム。
ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、
前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第１差動コイルと、前記第１差動コイルとは別個に設けられ、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープにおける磁束の変化量を検出する第２差動コイルとを含み、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルからの検出信号を出力する検出部と、
前記検出部の前記第１差動コイルからの前記検出信号と前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を取得する制御部と、を備え、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々は、前記ワイヤロープの延びる方向に直交する方向に沿って分割可能な一対の検知コイルを有し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々における一対の検知コイルは、各々がコイルループを形成するとともに、互いに組み合わされることによって前記ワイヤロープを囲むように巻回する、ワイヤロープ検査システム。
【0117】
（項目２）
前記第１差動コイルにおける前記一対の検知コイルの巻き数は、前記第２差動コイルにおける前記一対の検知コイルの巻き数に略等しい、項目１に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第１差動コイルにおける前記一対の検知コイルの巻き数は、前記第２差動コイルにおける前記一対の検知コイルの巻き数に略等しい、項目１に記載のワイヤロープ検査システム。
【0118】
（項目３）
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々における前記一対の検知コイルは、一対の鞍型コイルを含む、項目１または２に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの各々における前記一対の検知コイルは、一対の鞍型コイルを含む、項目１または２に記載のワイヤロープ検査システム。
【0119】
（項目４）
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、一体的に前記ワイヤロープに対して相対移動しながら、前記検出信号を出力するように構成されており、
前記制御部は、前記ワイヤロープに対して相対移動している前記第１差動コイルからの前記検出信号と、前記第１差動コイルと一体的に相対移動している前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの前記ワイヤロープに対する相対移動に応じてリアルタイムに算出するように構成されている、項目１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、一体的に前記ワイヤロープに対して相対移動しながら、前記検出信号を出力するように構成されており、
前記制御部は、前記ワイヤロープに対して相対移動している前記第１差動コイルからの前記検出信号と、前記第１差動コイルと一体的に相対移動している前記第２差動コイルからの前記検出信号との差分を、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの前記ワイヤロープに対する相対移動に応じてリアルタイムに算出するように構成されている、項目１～３のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【0120】
（項目５）
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープの延びる方向に沿って並べて配置されている、項目１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープの延びる方向に沿って並べて配置されている、項目１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【0121】
（項目６）
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープからの各々の離間距離およびが略等しくなるように配置されているとともに、前記ワイヤロープからの各々の離間距離およびと略等しい大きさの距離互いに離間して配置されている、項目５に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープからの各々の離間距離およびが略等しくなるように配置されているとともに、前記ワイヤロープからの各々の離間距離およびと略等しい大きさの距離互いに離間して配置されている、項目５に記載のワイヤロープ検査システム。
【0122】
（項目７）
前記第２差動コイルは、らせん状に撚り合わされた前記ワイヤロープの撚りの周期に対する前記第１差動コイルと前記第２差動コイルとの離間距離の割合に応じて、前記第１差動コイルが分割される方向から前記ワイヤロープの撚りの回転方向に所定の角度分回転させた方向に沿って分割されるように構成されている、項目５に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第２差動コイルは、らせん状に撚り合わされた前記ワイヤロープの撚りの周期に対する前記第１差動コイルと前記第２差動コイルとの離間距離の割合に応じて、前記第１差動コイルが分割される方向から前記ワイヤロープの撚りの回転方向に所定の角度分回転させた方向に沿って分割されるように構成されている、項目５に記載のワイヤロープ検査システム。
【0123】
（項目８）
前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルよりも外側において前記第１差動コイルを覆うように巻回される、項目１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第２差動コイルは、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルよりも外側において前記第１差動コイルを覆うように巻回される、項目１～４のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【0124】
（項目９）
前記第２差動コイルは、前記第１差動コイルの前記ワイヤロープからの離間距離の略２倍の距離前記ワイヤロープから離間した状態で、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルを覆うように巻回される、項目８に記載のワイヤロープ検査システム。
前記第２差動コイルは、前記第１差動コイルの前記ワイヤロープからの離間距離の略２倍の距離前記ワイヤロープから離間した状態で、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルを覆うように巻回される、項目８に記載のワイヤロープ検査システム。
【0125】
（項目１０）
前記励磁部は、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルよりも外側において、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの両方を覆うように巻回される励磁コイルを含み、
前記励磁コイルは、交流電流が流されることにより前記ワイヤロープの延びる方向に沿って振動する磁界を印加し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの少なくとも一方は、前記ワイヤロープの延びる方向において、前記励磁コイルの中心位置の近傍に配置されている、項目１～９のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
前記励磁部は、前記ワイヤロープに対して、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルよりも外側において、前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの両方を覆うように巻回される励磁コイルを含み、
前記励磁コイルは、交流電流が流されることにより前記ワイヤロープの延びる方向に沿って振動する磁界を印加し、
前記第１差動コイルおよび前記第２差動コイルの少なくとも一方は、前記ワイヤロープの延びる方向において、前記励磁コイルの中心位置の近傍に配置されている、項目１～９のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。
【符号の説明】
【0126】
２０ 励磁部
２１ 励磁コイル
３０、２３０、３３０ 検出部
３１、２３１、３３１、４３１、５３１ 第１差動コイル
３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、２３１ａ、２３１ｂ、２３２ａ、２３２ｂ、３３１ａ、３３１ｂ、３３２ａ、３３２ｂ、４３１ａ、４３１ｂ、４３２ａ、４３２ｂ、５３１ａ、５３１ｂ、５３２ａ、５３２ｂ 検知コイル
３２、２３２、３３２、４３２、５３２ 第２差動コイル
５０、２５０ 制御部
１００、２００、３００ ワイヤロープ検査システム
２１ 励磁コイル
３０、２３０、３３０ 検出部
３１、２３１、３３１、４３１、５３１ 第１差動コイル
３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、２３１ａ、２３１ｂ、２３２ａ、２３２ｂ、３３１ａ、３３１ｂ、３３２ａ、３３２ｂ、４３１ａ、４３１ｂ、４３２ａ、４３２ｂ、５３１ａ、５３１ｂ、５３２ａ、５３２ｂ 検知コイル
３２、２３２、３３２、４３２、５３２ 第２差動コイル
５０、２５０ 制御部
１００、２００、３００ ワイヤロープ検査システム
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】