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特開2023-139500評価配光パターン生成システム、評価配光パターン生成方法、プログラム、仮想光源生成システム、及び情報処理装置
発明の名称 評価配光パターン生成システム、評価配光パターン生成方法、プログラム、仮想光源生成システム、及び情報処理装置
出願人 スタンレー電気株式会社 （識別番号 2303）
特許公開件数ランキング 209 位（156件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 264 位（115件）（共同出願を含む）
出願人 国立大学法人 千葉大学 （識別番号 304021831）
特許公開件数ランキング 774 位（40件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 910 位（43件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2023-139500
公報発行日 2023年10月4
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2023-139500
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