特開2023-140449劣化検査装置、劣化検査方法、情報処理システムおよびコンピュータプログラム

発明の名称　劣化検査装置、劣化検査方法、情報処理システムおよびコンピュータプログラム

出願人　ＮＥＣプラットフォームズ株式会社　（識別番号 227205）

　　　　特許公開件数ランキング 146 位（226件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 147 位（207件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2023-140449

公報発行日　2023年10月5

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2023-140449

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