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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023014461
(43)【公開日】2023-01-31
(54)【発明の名称】減肉離隔検出システムと方法
(51)【国際特許分類】
G01N 27/90 20210101AFI20230124BHJP
【ＦＩ】
G01N27/90
【審査請求】未請求
【請求項の数】6
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2021118400
(22)【出願日】2021-07-19
(71)【出願人】
【識別番号】000198318
【氏名又は名称】株式会社ＩＨＩ検査計測
(71)【出願人】
【識別番号】504147254
【氏名又は名称】国立大学法人愛媛大学
(74)【代理人】
【識別番号】100097515
【弁理士】
【氏名又は名称】堀田 実
(74)【代理人】
【識別番号】100136700
【弁理士】
【氏名又は名称】野村 俊博
(72)【発明者】
【氏名】大森 征一
(72)【発明者】
【氏名】吉田 かさね
(72)【発明者】
【氏名】前角 貴弘
(72)【発明者】
【氏名】藤原 貢
(72)【発明者】
【氏名】水上 孝一
【テーマコード（参考）】
2G053
【Ｆターム（参考）】
2G053AA12
2G053AB21
2G053BA03
2G053BA21
2G053BC05
2G053BC14
2G053CA03
2G053CC07
2G053DA01
2G053DA09
2G053DA10
(57)【要約】 （修正有）
【課題】減肉部の位置が不明であっても減肉位置と減肉状態を判定することができ、かつアルミニウムへの適用が可能である減肉離隔検出手段を提供する。
【解決手段】減肉離隔検出システムが、励磁コイルと検出コイルを有するプローブと、パルス電流発生器と、データ解析装置とを備える。励磁コイルは、試験体の表面に平行な単一方向Ｘの平行磁束を発生させ、検出コイルは、試験体の表面に直交する直交磁束を検出する。ステップＳ１では、異なる減肉量ΔＴを有する複数の基準試験体における第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌとの関係を示す複数の検量線ＭＬを作成する。ステップＳ２では、実試験体に対し複数のプローブ位置ＸＬｉで第２ピーク電圧差ΔＶ２を算出する。ステップＳ３では、プローブ相対距離ΔＸＬと複数の第２ピーク電圧差ΔＶ２から検量線ＭＬを用いて、実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する。
【選択図】図４
【解決手段】減肉離隔検出システムが、励磁コイルと検出コイルを有するプローブと、パルス電流発生器と、データ解析装置とを備える。励磁コイルは、試験体の表面に平行な単一方向Ｘの平行磁束を発生させ、検出コイルは、試験体の表面に直交する直交磁束を検出する。ステップＳ１では、異なる減肉量ΔＴを有する複数の基準試験体における第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌとの関係を示す複数の検量線ＭＬを作成する。ステップＳ２では、実試験体に対し複数のプローブ位置ＸＬｉで第２ピーク電圧差ΔＶ２を算出する。ステップＳ３では、プローブ相対距離ΔＸＬと複数の第２ピーク電圧差ΔＶ２から検量線ＭＬを用いて、実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する。
【選択図】図４
【特許請求の範囲】
【請求項1】
試験体の表面に平行な単一方向の平行磁束を発生させる励磁コイルと、前記表面に直交する直交磁束を検出する検出コイルと、を有するプローブと、
前記励磁コイルに矩形のパルス電流を印加するパルス電流発生器と、
前記検出コイルに生じる検出電圧をデータ解析するデータ解析装置と、を備え、
前記検出電圧は、前記パルス電流の印加後に順に、最も高い第１ピーク電圧と、最も低い第１ボトム電圧と、前記第１ピーク電圧の次に高い第２ピーク電圧と、前記第１ボトム電圧と前記第２ピーク電圧の中間の一定の収束電圧と、を有しており、
前記データ解析装置は、
（Ａ）異なる減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の検量線を記憶し、
（Ｂ）実試験体に対する複数のプローブ位置における複数の前記第２ピーク電圧差に基づき、プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する、減肉離隔検出システム。
前記励磁コイルに矩形のパルス電流を印加するパルス電流発生器と、
前記検出コイルに生じる検出電圧をデータ解析するデータ解析装置と、を備え、
前記検出電圧は、前記パルス電流の印加後に順に、最も高い第１ピーク電圧と、最も低い第１ボトム電圧と、前記第１ピーク電圧の次に高い第２ピーク電圧と、前記第１ボトム電圧と前記第２ピーク電圧の中間の一定の収束電圧と、を有しており、
前記データ解析装置は、
（Ａ）異なる減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の検量線を記憶し、
（Ｂ）実試験体に対する複数のプローブ位置における複数の前記第２ピーク電圧差に基づき、プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する、減肉離隔検出システム。
【請求項2】
前記励磁コイルは、第１矩形内面を有する矩形コイルであり、
前記第１矩形内面の第１短辺は前記基準試験体の板厚以上に設定され、前記第１矩形内面の第１長辺は前記基準試験体の幅以下に設定されており、
前記プローブの使用時において、前記第１長辺は前記単一方向に直交しかつ前記試験体の幅方向に位置し、前記第１短辺は前記試験体の前記表面に直交する上下方向に位置する、請求項１に記載の減肉離隔検出システム。
前記第１矩形内面の第１短辺は前記基準試験体の板厚以上に設定され、前記第１矩形内面の第１長辺は前記基準試験体の幅以下に設定されており、
前記プローブの使用時において、前記第１長辺は前記単一方向に直交しかつ前記試験体の幅方向に位置し、前記第１短辺は前記試験体の前記表面に直交する上下方向に位置する、請求項１に記載の減肉離隔検出システム。
【請求項3】
前記検出コイルは、前記第１矩形内面より小さい第２矩形内面を有する矩形コイルであり、
前記第２矩形内面の第２短辺は前記励磁コイルの軸方向長さ以下に設定され、前記第２矩形内面の第２長辺は前記第１矩形内面の第１長辺以下に設定されており、
前記検出コイルは、前記プローブの使用時において、前記励磁コイルと前記試験体の間に位置し、前記第２短辺は前記単一方向に位置し、前記第２長辺は前記幅方向に位置する、請求項２に記載の減肉離隔検出システム。
前記第２矩形内面の第２短辺は前記励磁コイルの軸方向長さ以下に設定され、前記第２矩形内面の第２長辺は前記第１矩形内面の第１長辺以下に設定されており、
前記検出コイルは、前記プローブの使用時において、前記励磁コイルと前記試験体の間に位置し、前記第２短辺は前記単一方向に位置し、前記第２長辺は前記幅方向に位置する、請求項２に記載の減肉離隔検出システム。
【請求項4】
前記パルス電流発生器は、矩形の前記パルス電流を一定の周期で発生するファンクションジェネレータと、発生した前記パルス電流を増幅し前記励磁コイルに流すパワーアンプとを有し、
前記データ解析装置は、前記検出コイルで検出した複数周期分の前記検出電圧をＡＤ変換するオシロスコープと、ＡＤ変換後の複数周期分の前記検出電圧を平均化処理する信号処理器とを有する、請求項１に記載の減肉離隔検出システム。
前記データ解析装置は、前記検出コイルで検出した複数周期分の前記検出電圧をＡＤ変換するオシロスコープと、ＡＤ変換後の複数周期分の前記検出電圧を平均化処理する信号処理器とを有する、請求項１に記載の減肉離隔検出システム。
【請求項5】
前記データ解析装置は、２００～３００Ｈｚを超える信号を除去するローパスフィルタを有する、請求項４に記載の減肉離隔検出システム。
【請求項6】
請求項１に記載の減肉離隔検出システムを用い、
（Ａ）異なる前記減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である前記第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の前記検量線を作成し記憶するステップと、
（Ｂ）前記実試験体に対し複数の前記プローブ位置で前記検出電圧を検出してそれぞれの前記第２ピーク電圧差を算出するステップと、
（Ｃ）プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定するステップと、を有する減肉離隔検出方法。
（Ａ）異なる前記減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である前記第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の前記検量線を作成し記憶するステップと、
（Ｂ）前記実試験体に対し複数の前記プローブ位置で前記検出電圧を検出してそれぞれの前記第２ピーク電圧差を算出するステップと、
（Ｃ）プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定するステップと、を有する減肉離隔検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、照明柱など地中等に埋設された部材の減肉を掘削することなく検出するための減肉離隔検出手段に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、照明柱の老朽化が進んでいる。照明柱埋設部の検査は、従来は掘削後の目視点検が主流であるが、費用も時間もかかる点が問題である。
そこで、パルス電流を用いて、埋設部材の減肉を掘削することなく検出する手段が提案されている（例えば、特許文献１）。
そこで、パルス電流を用いて、埋設部材の減肉を掘削することなく検出する手段が提案されている（例えば、特許文献１）。
【0003】
特許文献１の「一部埋設構造物の際部分の減肉検査方法」は、測定プローブをその励磁コイルの中心軸が傾斜する姿勢で地盤等の基礎部分の表面上にセットしてその中心軸を際部分に指向させる。この状態で励磁コイルにパルス電流を流して際部分の表面に渦電流を形成し、渦電流の強さを経時的に検出してその持続時間を特定する。特定された持続時間と予め健全部について同じ傾斜角度で採取された渦電流の持続時間に関する参照データとの対比により際部分における減肉状態を判定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２０１６－３９９５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
特許文献１の方法では、励磁コイルに直流のパルス電流が流れると、これにより形成された磁束の変化によって被検査物の表面に渦電流が生じ、この渦電流が減衰しながら被検査物の裏面まで浸透する。また、被検査物の裏面まで到達した時点で渦電流の減衰が加速する。
検出コイルの中心軸は、励磁コイルの中心軸と同軸であり、検出コイルにより渦電流が形成されてからその減衰の加速が始まるまでの時間を計測することにより、減肉状態を判定している。
検出コイルの中心軸は、励磁コイルの中心軸と同軸であり、検出コイルにより渦電流が形成されてからその減衰の加速が始まるまでの時間を計測することにより、減肉状態を判定している。
【0006】
しかし、特許文献１の方法には、以下の問題点があった。
（１）励磁コイルの中心軸を被検査物の減肉部に向けて位置決めする必要がある。
励磁コイルにより形成される渦電流は、励磁コイルの中心軸に沿って浸透するので、中心軸の延長線上に減肉部がないと減肉状態を判定できない。
そのため、減肉部の位置が不明であり、例えば減肉部が埋設構造物の際部分以外にある場合、多数の治具を用いて探索する必要が生じる。
（２）被検査物が鋼材である場合、腐食による減肉が大きく検出可能であるが、減肉が小さいアルミニウムへの適用は困難である。
（１）励磁コイルの中心軸を被検査物の減肉部に向けて位置決めする必要がある。
励磁コイルにより形成される渦電流は、励磁コイルの中心軸に沿って浸透するので、中心軸の延長線上に減肉部がないと減肉状態を判定できない。
そのため、減肉部の位置が不明であり、例えば減肉部が埋設構造物の際部分以外にある場合、多数の治具を用いて探索する必要が生じる。
（２）被検査物が鋼材である場合、腐食による減肉が大きく検出可能であるが、減肉が小さいアルミニウムへの適用は困難である。
【0007】
本発明は、上述した問題点を解決するために創案されたものである。すなわち、本発明の目的は、減肉部の位置が不明であっても減肉位置と減肉状態を判定することができ、かつアルミニウムへの適用が可能である減肉離隔検出手段を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明によれば、試験体の表面に平行な単一方向の平行磁束を発生させる励磁コイルと、前記表面に直交する直交磁束を検出する検出コイルと、を有するプローブと、
前記励磁コイルに矩形のパルス電流を印加するパルス電流発生器と、
前記検出コイルに生じる検出電圧をデータ解析するデータ解析装置と、を備え、
前記検出電圧は、前記パルス電流の印加後に順に、最も高い第１ピーク電圧と、最も低い第１ボトム電圧と、前記第１ピーク電圧の次に高い第２ピーク電圧と、前記第１ボトム電圧と前記第２ピーク電圧の中間の一定の収束電圧と、を有しており、
前記データ解析装置は、
（Ａ）異なる減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の検量線を記憶し、
（Ｂ）実試験体に対する複数のプローブ位置における複数の前記第２ピーク電圧差に基づき、プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する、減肉離隔検出システムが提供される。
前記励磁コイルに矩形のパルス電流を印加するパルス電流発生器と、
前記検出コイルに生じる検出電圧をデータ解析するデータ解析装置と、を備え、
前記検出電圧は、前記パルス電流の印加後に順に、最も高い第１ピーク電圧と、最も低い第１ボトム電圧と、前記第１ピーク電圧の次に高い第２ピーク電圧と、前記第１ボトム電圧と前記第２ピーク電圧の中間の一定の収束電圧と、を有しており、
前記データ解析装置は、
（Ａ）異なる減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の検量線を記憶し、
（Ｂ）実試験体に対する複数のプローブ位置における複数の前記第２ピーク電圧差に基づき、プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する、減肉離隔検出システムが提供される。
【0009】
また本発明によれば、上記の減肉離隔検出システムを用い、
（Ａ）異なる前記減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である前記第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の前記検量線を作成し記憶するステップと、
（Ｂ）前記実試験体に対し複数の前記プローブ位置で前記検出電圧を検出してそれぞれの前記第２ピーク電圧差を算出するステップと、
（Ｃ）プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定するステップと、を有する減肉離隔検出方法が提供される。
（Ａ）異なる前記減肉量を有する複数の基準試験体における、前記第２ピーク電圧と前記収束電圧の差である前記第２ピーク電圧差と、前記プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係を示す複数の前記検量線を作成し記憶するステップと、
（Ｂ）前記実試験体に対し複数の前記プローブ位置で前記検出電圧を検出してそれぞれの前記第２ピーク電圧差を算出するステップと、
（Ｃ）プローブ相対距離と複数の前記第２ピーク電圧差から前記検量線を用いて、前記実試験体の減肉位置と減肉状態を判定するステップと、を有する減肉離隔検出方法が提供される。
【発明の効果】
【0010】
本願発明者は、矩形のパルス電流を印加して試験体の表面に平行な単一方向の平行磁束を発生させ、表面に直交する直交磁束を検出することで、以下の新規の知見を得た。
（１）検出した検出電圧は、パルス電流の印加後に順に、最も高い第１ピーク電圧と、最も低い第１ボトム電圧と、第１ピーク電圧の次に高い第２ピーク電圧と、第１ボトム電圧と第２ピーク電圧の中間の一定の収束電圧と、を有する再現性の高い変化を示す。
（２）異なる減肉量を有する複数の試験体において、第２ピーク電圧と収束電圧の差である第２ピーク電圧差と、プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係は、異なる減肉量毎に単一の２次曲線で表せる相関を示す。
（３）試験体の減肉部の形状（例えば、段差、スロープ、貫通孔）の影響は少ない。
（４）試験体の減肉部の体積変化の大小が第２ピーク電圧差の大小に影響している。
（１）検出した検出電圧は、パルス電流の印加後に順に、最も高い第１ピーク電圧と、最も低い第１ボトム電圧と、第１ピーク電圧の次に高い第２ピーク電圧と、第１ボトム電圧と第２ピーク電圧の中間の一定の収束電圧と、を有する再現性の高い変化を示す。
（２）異なる減肉量を有する複数の試験体において、第２ピーク電圧と収束電圧の差である第２ピーク電圧差と、プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係は、異なる減肉量毎に単一の２次曲線で表せる相関を示す。
（３）試験体の減肉部の形状（例えば、段差、スロープ、貫通孔）の影響は少ない。
（４）試験体の減肉部の体積変化の大小が第２ピーク電圧差の大小に影響している。
【0011】
本発明は、上述した新規の知見に基づくものである。
上記本発明によれば、異なる減肉量を有する複数の基準試験体における、第２ピーク電圧差と検出距離との関係を示す複数の検量線を予め求めて記憶する。
次いで、実試験体に対し複数のプローブ位置で検出コイルに生じる検出電圧を検出してそれぞれの第２ピーク電圧差を算出する。
上記本発明によれば、異なる減肉量を有する複数の基準試験体における、第２ピーク電圧差と検出距離との関係を示す複数の検量線を予め求めて記憶する。
次いで、実試験体に対し複数のプローブ位置で検出コイルに生じる検出電圧を検出してそれぞれの第２ピーク電圧差を算出する。
【0012】
プローブ相対距離は、それぞれの検量線における検出距離の差に相当するので、それぞれの第２ピーク電圧差を有しかつ検出距離の差がプローブ相対距離と一致する検量線を選択することで、実試験体の減肉位置と減肉状態を判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1】本発明による減肉離隔検出システムの説明図である。
【図2】減肉離隔検出システムを用いた試験方法と試験結果の説明図である。
【図3】第２ピーク電圧差と検出距離との関係を示す図である。
【図4】本発明による減肉離隔検出方法の全体フロー図である。
【図5】実施例１の試験結果を示す図である。
【図7】スロープ付き試験体を用いた試験状態を示す模式図である。
【図8】円管試験体を用いた試験状態を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、本発明の好ましい実施形態を、図面を参照して説明する。なお各図において、共通する部分には同一の符号を付し、重複した説明は省略する。
【0015】
図１は、本発明による減肉離隔検出システム１００の説明図である。この図において、（Ａ）は全体構成図、（Ｂ）はプローブ１０の側面図、（Ｃ）はプローブ１０の斜視図である。
【0016】
図１（Ａ）において、減肉離隔検出システム１００は、プローブ１０、パルス電流発生器２０、及び、データ解析装置３０を備える。
【0017】
プローブ１０は、励磁コイル１２と検出コイル１４を有する。励磁コイル１２は、試験体１の表面に平行な単一方向Ｘ（以下、「Ｘ方向」）の一様な平行磁束を発生させるコイルである。また、検出コイル１４は、試験体１の表面に直交する直交磁束を検出するコイルである。
【0018】
減肉が存在しないときに、検出コイル１４を貫く磁束の総和が０に近づくよう、励磁コイル１２と検出コイル１４は細長い検出コイルとした。
図１（Ｂ）と図１（Ｃ）において、励磁コイル１２は、矩形内面（以下、「第１矩形内面」）を有する矩形コイルである。第１矩形内面の短辺（以下、「第１短辺」）は基準試験体２（後述する）の板厚以上に設定され、第１矩形内面の長辺（以下、「第１長辺」）は基準試験体２の幅以下に設定されている。
試験体１と基準試験体２は、同一材料、同一厚さを有する。
図１（Ｂ）と図１（Ｃ）において、励磁コイル１２は、矩形内面（以下、「第１矩形内面」）を有する矩形コイルである。第１矩形内面の短辺（以下、「第１短辺」）は基準試験体２（後述する）の板厚以上に設定され、第１矩形内面の長辺（以下、「第１長辺」）は基準試験体２の幅以下に設定されている。
試験体１と基準試験体２は、同一材料、同一厚さを有する。
【0019】
後述する実施例において、試験体１と基準試験体２は、アルミニウム板であり、板厚は６ｍｍ、幅は２００ｍｍである。また、励磁コイル１２の第１短辺は４０ｍｍ、第１長辺は８０ｍｍ、軸方向長さは１０ｍｍである。
【0020】
また、プローブ１０の使用時において、励磁コイル１２の第１長辺はＸ方向（単一方向Ｘ）に直交しかつ試験体１の幅方向Ｙ（以下、「Ｙ方向」）に位置し、第１短辺は試験体１の表面に直交する上下方向Ｚ（以下、「Ｚ方向」）に位置する。
【0021】
検出コイル１４は、励磁コイル１２の第１矩形内面より小さい矩形内面（以下、「第２矩形内面」）を有する矩形コイルである。第２矩形内面の短辺（以下、「第２短辺」）は励磁コイル１２の軸方向長さ以下に設定され、第２矩形内面の長辺（以下、「第２長辺」）は第１矩形内面の第１長辺以下に設定されている。
【0022】
また、プローブ１０の使用時において、検出コイル１４は、励磁コイル１２と試験体１の間に位置し、第２短辺はＸ方向（単一方向Ｘ）に位置し、第２長辺は幅方向Ｙ（Ｙ方向）に位置する。
【0023】
後述する実施例において、検出コイル１４の第２短辺は４ｍｍ、第２長辺は４０ｍｍ、軸方向長さは３ｍｍである。また、検出コイル１４と励磁コイル１２の上下方向Ｚ（Ｚ方向）の隙間は６ｍｍである。
【0024】
図１（Ａ）において、パルス電流発生器２０は、励磁コイル１２に矩形のパルス電流を印加する。
後述する実施例において、パルス電流発生器２０は、ファンクションジェネレータ２２とパワーアンプ２４を有する。ファンクションジェネレータ２２は、矩形のパルス電流を一定の周期で発生する。パワーアンプ２４は、発生したパルス電流を増幅し励磁コイル１２に流す。
矩形のパルス電流の周波数は、好ましくは５～２０Ｈｚ、さらに好ましくは１０Ｈｚである。
実施例では、ファンクションジェネレータ２２から矩形のパルス（１０Ｈｚ，デューティ比５０％、Ｖｐ－ｐ±０．８Ｖ）で印加した電流を、パワーアンプ２４で２０倍に増幅し、励磁コイル１２に流した。
後述する実施例において、パルス電流発生器２０は、ファンクションジェネレータ２２とパワーアンプ２４を有する。ファンクションジェネレータ２２は、矩形のパルス電流を一定の周期で発生する。パワーアンプ２４は、発生したパルス電流を増幅し励磁コイル１２に流す。
矩形のパルス電流の周波数は、好ましくは５～２０Ｈｚ、さらに好ましくは１０Ｈｚである。
実施例では、ファンクションジェネレータ２２から矩形のパルス（１０Ｈｚ，デューティ比５０％、Ｖｐ－ｐ±０．８Ｖ）で印加した電流を、パワーアンプ２４で２０倍に増幅し、励磁コイル１２に流した。
【0025】
データ解析装置３０は、検出コイル１４に生じる検出電圧をデータ解析する。
後述する実施例において、データ解析装置３０は、オシロスコープ３２と信号処理器３４を有する。オシロスコープ３２は、検出コイル１４で検出した複数周期分の検出電圧をＡＤ変換する。信号処理器３４は、ＡＤ変換後の複数周期分の検出電圧を平均化処理（加算平均１０回、移動平均２０点）する。
後述する実施例において、データ解析装置３０は、オシロスコープ３２と信号処理器３４を有する。オシロスコープ３２は、検出コイル１４で検出した複数周期分の検出電圧をＡＤ変換する。信号処理器３４は、ＡＤ変換後の複数周期分の検出電圧を平均化処理（加算平均１０回、移動平均２０点）する。
【0026】
また、データ解析装置３０は、後述する実施例において、２００～３００Ｈｚを超える信号を除去するローパスフィルタ（図示せず）を有する。
検証試験で取得した検出信号に対して、ＦＦＴを行い、２００～３００Ｈｚ（好ましくは２５０Ｈｚ）を超える信号がノイズであり、それ以下の低周波数が離れた減肉検出に効果的であることを明らかにした。この結果に基づき、検出信号に対して２５０Ｈｚのローパスフィルタを通した信号で評価することとした。
検証試験で取得した検出信号に対して、ＦＦＴを行い、２００～３００Ｈｚ（好ましくは２５０Ｈｚ）を超える信号がノイズであり、それ以下の低周波数が離れた減肉検出に効果的であることを明らかにした。この結果に基づき、検出信号に対して２５０Ｈｚのローパスフィルタを通した信号で評価することとした。
【0027】
上述した減肉離隔検出システム１００を用い、減肉部を有する試験体１において検出コイル１４に生じる検出電圧Ｖを検出する試験を実施した。
図２は、減肉離隔検出システム１００を用いた試験方法と試験結果の説明図である。この図において、（Ａ）は、試験状態を示す模式図、（Ｂ）は得られた検出電圧Ｖの変化を示す図である。
図２は、減肉離隔検出システム１００を用いた試験方法と試験結果の説明図である。この図において、（Ａ）は、試験状態を示す模式図、（Ｂ）は得られた検出電圧Ｖの変化を示す図である。
【0028】
図２（Ａ）において、試験体１はアルミニウム板であり、試験体１の板厚（以下、「健全部厚Ｔ」）は６ｍｍ、減肉部の板厚（以下、「減肉部厚ｔ」）は１ｍｍであった。以下、健全部厚Ｔと減肉部厚ｔとの差を減肉量ΔＴと呼ぶ。この例で減肉量ΔＴは５ｍｍである。また、減肉開始点Ｅと励磁コイル１２の減肉側端面までのＸ方向距離を以下、検出距離Ｌと呼ぶ。
また、図２（Ａ）に示す試験体１を以下、「段差付き試験体１Ａ」と呼ぶ。
また、図２（Ａ）に示す試験体１を以下、「段差付き試験体１Ａ」と呼ぶ。
【0029】
事前試験より試験体１の幅方向Ｙには端部から５０ｍｍ以上、長さ方向Ｘには１００ｍｍ以上離せば、端部の影響は受けないことを明らかにし、それより大きい寸法の試験体を製作した。
すべての試験体１と基準試験体２は、アルミニウム板であり、板厚は６ｍｍ、幅は２００ｍｍ、全長は６００ｍｍ、健全部の全長は４００ｍｍである。
すべての試験体１と基準試験体２は、アルミニウム板であり、板厚は６ｍｍ、幅は２００ｍｍ、全長は６００ｍｍ、健全部の全長は４００ｍｍである。
【0030】
図２（Ｂ）において、横軸は矩形のパルス電流をＯＦＦした時点からの経過時間、縦軸は検出コイル１４に生じた検出電圧Ｖである。また、図中の破線は試験体１に減肉部のない場合、実線は減肉量ΔＴが５ｍｍの場合である。
なお、矩形のパルス電流の周波数は１０Ｈｚであり、電流ＯＦＦの継続時間は周期１００ｍｓの半分（５０ｍｓ）である。
なお、矩形のパルス電流の周波数は１０Ｈｚであり、電流ＯＦＦの継続時間は周期１００ｍｓの半分（５０ｍｓ）である。
【0031】
この図から、実線の検出電圧Ｖは、破線と相違し、以下の特徴を有することがわかる。
（１）パルス電流の印加後に順に、第１ピーク電圧Ｖｐ１、第１ボトム電圧Ｖｂ１、第２ピーク電圧Ｖｐ２、及び収束電圧Ｖｅを有する。
（２）第１ピーク電圧Ｖｐ１は、パルス電流の印加後に最初に現れ、最も高い検出電圧Ｖを有する。
（３）第１ボトム電圧Ｖｂ１は、第１ピーク電圧Ｖｐ１の次に現れ、最も低い検出電圧Ｖを有する。
（４）第２ピーク電圧Ｖｐ２は、第１ボトム電圧Ｖｂ１の次に現れ、第１ピーク電圧Ｖｐ１の次に高い検出電圧Ｖを有する。
（５）収束電圧Ｖｅは、第２ピーク電圧Ｖｐ２の後で第１ボトム電圧Ｖｂ１と第２ピーク電圧Ｖｐ２の中間の実質的に一定の検出電圧を有する。
（１）パルス電流の印加後に順に、第１ピーク電圧Ｖｐ１、第１ボトム電圧Ｖｂ１、第２ピーク電圧Ｖｐ２、及び収束電圧Ｖｅを有する。
（２）第１ピーク電圧Ｖｐ１は、パルス電流の印加後に最初に現れ、最も高い検出電圧Ｖを有する。
（３）第１ボトム電圧Ｖｂ１は、第１ピーク電圧Ｖｐ１の次に現れ、最も低い検出電圧Ｖを有する。
（４）第２ピーク電圧Ｖｐ２は、第１ボトム電圧Ｖｂ１の次に現れ、第１ピーク電圧Ｖｐ１の次に高い検出電圧Ｖを有する。
（５）収束電圧Ｖｅは、第２ピーク電圧Ｖｐ２の後で第１ボトム電圧Ｖｂ１と第２ピーク電圧Ｖｐ２の中間の実質的に一定の検出電圧を有する。
【0032】
上述した（１）～（５）の特徴は、後述する実施例において、段差付き試験体１Ａの板厚（健全部厚Ｔ）が６ｍｍ、減肉量ΔＴが２，３，４，５ｍｍの場合に、再現性が高く、測定誤差が少ないことがわかった。
【0033】
図３は、第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌとの関係を示す図である。この図は、段差付き試験体１Ａの健全部厚Ｔが６ｍｍ、減肉量ΔＴが２，３，４，５ｍｍの場合を示している。
この図において、横軸は第２ピーク電圧差ΔＶ２（すなわち、第２ピーク電圧Ｖｐ２と収束電圧Ｖｅの差）、縦軸は検出距離Ｌ（すなわち、励磁コイル１２の段差側端面から減肉開始点ＥまでのＸ方向距離）である。
この図から、第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌは、異なる減肉量毎に単一の２次曲線で表せる高い相関を示すことがわかる。
この図において、横軸は第２ピーク電圧差ΔＶ２（すなわち、第２ピーク電圧Ｖｐ２と収束電圧Ｖｅの差）、縦軸は検出距離Ｌ（すなわち、励磁コイル１２の段差側端面から減肉開始点ＥまでのＸ方向距離）である。
この図から、第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌは、異なる減肉量毎に単一の２次曲線で表せる高い相関を示すことがわかる。
【0034】
図１のデータ解析装置３０は、例えばコンピュータ（ＰＣ）であり、図３と同様の複数の検量線ＭＬを記憶装置に記憶する。
検量線ＭＬは、異なる減肉量ΔＴを有する複数の基準試験体２における、第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌとの関係を示す。
検量線ＭＬは、異なる減肉量ΔＴを有する複数の基準試験体２における、第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌとの関係を示す。
【0035】
また、データ解析装置３０は、実際の試験体１（「実試験体」）に対する複数のプローブ位置ＸＬｉにおける複数の第２ピーク電圧差ΔＶ２に基づき、プローブ相対距離ΔＸＬと複数の第２ピーク電圧差ΔＶ２から検量線ＭＬを用いて、実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する。
【0036】
「複数のプローブ位置」とは、実試験体のＸ方向の基準位置Ｘ０から励磁コイル１２の段差側端面までのＸ方向距離である。基準位置Ｘ０は、例えば実試験体が地中等の埋設物である場合、地表面近傍に設定することが好ましい。
以下、プローブ位置をＸＬｉとする。ｉは整数（１，２，３、・・・）である。
この場合、実試験体の減肉位置と減肉状態は不明であるため、プローブ位置ＸＬｉは、検出距離Ｌと原則として相違する。
以下、プローブ位置をＸＬｉとする。ｉは整数（１，２，３、・・・）である。
この場合、実試験体の減肉位置と減肉状態は不明であるため、プローブ位置ＸＬｉは、検出距離Ｌと原則として相違する。
【0037】
図４は、本発明による減肉離隔検出方法の全体フロー図である。
この図において、減肉離隔検出方法は、Ｓ１～Ｓ３の各ステップ（工程）を有する。
この図において、減肉離隔検出方法は、Ｓ１～Ｓ３の各ステップ（工程）を有する。
【0038】
ステップＳ１では、異なる減肉量ΔＴを有する複数の基準試験体２における、第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌとの関係を示す複数の検量線ＭＬを作成し記憶する。
【0039】
ステップＳ１は、ステップＳ１１～Ｓ１３を有する。
ステップＳ１１では、複数の基準試験体２を準備する。
複数（例えば４つ）の基準試験体２は、例えば図３に示した段差付き試験体１Ａを想定し、段差付き試験体１Ａと同一の材料（アルミニウム）、同一の健全部厚Ｔ（例えば６ｍｍ）、同一の減肉量ΔＴ（例えば２，３，４，５ｍｍ）のものを準備する。
ステップＳ１２では、各基準試験体２を用い、複数の検出距離Ｌで検出電圧Ｖを検出する。複数（例えば４）の検出距離Ｌは、例えば図３と同様に２０，３０，４０，５０ｍｍとする。この結果、図２（Ｂ）と同様の検出電圧Ｖの変化が複数（例えば４つ）の減肉量ΔＴと複数（例えば４）の検出距離Ｌの組合せとして多数（例えば４×４＝１６）得られる。
ステップＳ１３では、得られた検出電圧Ｖの変化から、複数の検出距離Ｌごとの複数の検量線ＭＬを作成し記憶する。複数の検量線ＭＬは、例えば図３と同様なものとなる。
ステップＳ１１では、複数の基準試験体２を準備する。
複数（例えば４つ）の基準試験体２は、例えば図３に示した段差付き試験体１Ａを想定し、段差付き試験体１Ａと同一の材料（アルミニウム）、同一の健全部厚Ｔ（例えば６ｍｍ）、同一の減肉量ΔＴ（例えば２，３，４，５ｍｍ）のものを準備する。
ステップＳ１２では、各基準試験体２を用い、複数の検出距離Ｌで検出電圧Ｖを検出する。複数（例えば４）の検出距離Ｌは、例えば図３と同様に２０，３０，４０，５０ｍｍとする。この結果、図２（Ｂ）と同様の検出電圧Ｖの変化が複数（例えば４つ）の減肉量ΔＴと複数（例えば４）の検出距離Ｌの組合せとして多数（例えば４×４＝１６）得られる。
ステップＳ１３では、得られた検出電圧Ｖの変化から、複数の検出距離Ｌごとの複数の検量線ＭＬを作成し記憶する。複数の検量線ＭＬは、例えば図３と同様なものとなる。
【0040】
ステップＳ２では、実試験体（実際の試験体１）に対し複数のプローブ位置ＸＬｉで検出電圧Ｖを検出してそれぞれの第２ピーク電圧差ΔＶ２を算出する。
【0041】
ステップＳ２は、ステップＳ２１～Ｓ２２を有する。
ステップＳ２１では、実試験体（実際の試験体１）に対し複数のプローブ位置ＸＬｉを設定する。プローブ位置ＸＬｉは減肉位置が予測される位置近傍に、Ｘ方向に間隔を隔てて２以上設定する。このＸ方向の間隔がプローブ相対距離ΔＸＬに相当する。
ステップＳ２２では、設定した複数のプローブ位置ＸＬｉにおいて、検出電圧Ｖを検出してそれぞれの第２ピーク電圧差ΔＶ２を算出する。
ステップＳ２１では、実試験体（実際の試験体１）に対し複数のプローブ位置ＸＬｉを設定する。プローブ位置ＸＬｉは減肉位置が予測される位置近傍に、Ｘ方向に間隔を隔てて２以上設定する。このＸ方向の間隔がプローブ相対距離ΔＸＬに相当する。
ステップＳ２２では、設定した複数のプローブ位置ＸＬｉにおいて、検出電圧Ｖを検出してそれぞれの第２ピーク電圧差ΔＶ２を算出する。
【0042】
ステップＳ３では、プローブ相対距離ΔＸＬと複数の第２ピーク電圧差ΔＶ２から検量線ＭＬを用いて、実試験体の減肉位置と減肉状態を判定する。
プローブ位置ＸＬｉが２箇所の場合、ステップＳ２で算出された２つの第２ピーク電圧差ΔＶ２は、いずれかの検量線ＭＬ（例えば図３）の上に位置する２点とみなすことができる。
プローブ位置ＸＬｉが２箇所の場合、ステップＳ２で算出された２つの第２ピーク電圧差ΔＶ２は、いずれかの検量線ＭＬ（例えば図３）の上に位置する２点とみなすことができる。
【0043】
例えば図３において、２つの第２ピーク電圧差ΔＶ２に相当する平行線と複数の検量線ＭＬとの交点を求め、同一の検量線ＭＬの２点間の検出距離差ΔＬを求める。いずれかの検量線上の検出距離差ΔＬがプローブ相対距離ΔＸＬと一致又は近似する場合、その検量線ＭＬに相当する減肉状態があると判定することができる。また、その検量線上の２点の検出距離Ｌから、実試験体の減肉位置を判定することができる。
【0044】
（実施例１）
（段差付き試験体１Ａにおける減肉検出試験）
図２に示した段差付き試験体１Ａとして、板厚（健全部厚Ｔ）６ｍｍのアルミニウム板から減肉量ΔＴが２ｍｍ（ｔ４）、３ｍｍ（ｔ３）、４ｍｍ（ｔ２）、５ｍｍ（ｔ１）の減肉部を有する５つ段差付き試験体１Ａを準備した。
また、上述した検出距離Ｌが２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍとなる位置を測定点とし、５つ段差付き試験体１Ａに対し検出電圧Ｖを測定した。
（段差付き試験体１Ａにおける減肉検出試験）
図２に示した段差付き試験体１Ａとして、板厚（健全部厚Ｔ）６ｍｍのアルミニウム板から減肉量ΔＴが２ｍｍ（ｔ４）、３ｍｍ（ｔ３）、４ｍｍ（ｔ２）、５ｍｍ（ｔ１）の減肉部を有する５つ段差付き試験体１Ａを準備した。
また、上述した検出距離Ｌが２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍとなる位置を測定点とし、５つ段差付き試験体１Ａに対し検出電圧Ｖを測定した。
【0045】
【0046】
図５、図６において、縦軸は検出コイル１４の検出電圧Ｖ、横軸は時間を示す。減肉の有無による違いは主に３箇所に見られた。減肉がある場合、第１ピーク電圧Ｖｐ１および第１ボトム電圧Ｖｂ１は低下、第２ピーク電圧Ｖｐ２は増加する傾向が見られた。これらの指標を用いることで、５０％以上の減肉量ΔＴについては検出距離Ｌが５０ｍｍでも十分検出可能であるといえる。
【0047】
第２ピーク電圧Ｖｐ２の値は小さいが、複数回の試験を通じて、再現性の高い変化が得られ、測定誤差が少ない傾向が見られた。
いずれの減肉量ΔＴにおいても、検出距離Ｌが大きくなるほど第２ピーク電圧差ΔＶ２は低下した。また、同じ検出距離Ｌで比較した場合、減肉量ΔＴが大きいほど第２ピーク電圧差ΔＶ２は高い値を示した。
いずれの減肉量ΔＴにおいても、検出距離Ｌが大きくなるほど第２ピーク電圧差ΔＶ２は低下した。また、同じ検出距離Ｌで比較した場合、減肉量ΔＴが大きいほど第２ピーク電圧差ΔＶ２は高い値を示した。
【0048】
これらの結果から、収束した際の電圧を収束電圧Ｖｅとし、第２ピーク電圧差ΔＶ２（第２ピーク電圧Ｖｐ２－収束電圧Ｖｅ）を比較した結果、上述した図３に示すような高い相関が見られた。
【0049】
（実施例２）
（スロープ付き試験体１Ｂにおける減肉検出試験）
図７は、スロープ付き試験体１Ｂを用いた試験状態を示す模式図である。
この図に示すようにスロープ付き試験体１Ｂとして、減肉開始点Ｅと減肉部との間にスロープ（傾斜部）を設け、その影響を試験した。
健全部厚Ｔが６ｍｍ、減肉部厚ｔが３ｍｍ、スロープ長Ｌｓが２０ｍｍの場合をスロープのない段差付き試験体１Ａと比較した。
図５、図６と同様の検出電圧Ｖの時間変化を検出した結果、スロープ形状においても、段差付き試験体１Ａと似た信号が得られ、減肉部形状の影響は少ないことが分かった。
（スロープ付き試験体１Ｂにおける減肉検出試験）
図７は、スロープ付き試験体１Ｂを用いた試験状態を示す模式図である。
この図に示すようにスロープ付き試験体１Ｂとして、減肉開始点Ｅと減肉部との間にスロープ（傾斜部）を設け、その影響を試験した。
健全部厚Ｔが６ｍｍ、減肉部厚ｔが３ｍｍ、スロープ長Ｌｓが２０ｍｍの場合をスロープのない段差付き試験体１Ａと比較した。
図５、図６と同様の検出電圧Ｖの時間変化を検出した結果、スロープ形状においても、段差付き試験体１Ａと似た信号が得られ、減肉部形状の影響は少ないことが分かった。
【0050】
（実施例３）
（貫通孔付き試験体における減肉検出試験）
スロープ付き試験体１Ｂの減肉部のスロープ下端近傍に、Ｘ方向１０ｍｍ、Ｙ方向５０ｍｍの楕円形貫通孔を設け、実施例２と同様の試験を実施した。
この結果、貫通孔を有する場合の方が無い場合よりも第２ピーク電圧Ｖｐ２がわずかに大きい値を示した。
また、以上の結果から、試験体１の減肉部の体積変化の程度が第２ピーク電圧差ΔＶ２の高低に影響していると考えられた。
（貫通孔付き試験体における減肉検出試験）
スロープ付き試験体１Ｂの減肉部のスロープ下端近傍に、Ｘ方向１０ｍｍ、Ｙ方向５０ｍｍの楕円形貫通孔を設け、実施例２と同様の試験を実施した。
この結果、貫通孔を有する場合の方が無い場合よりも第２ピーク電圧Ｖｐ２がわずかに大きい値を示した。
また、以上の結果から、試験体１の減肉部の体積変化の程度が第２ピーク電圧差ΔＶ２の高低に影響していると考えられた。
【0051】
（実施例４）
（円管試験体１Ｃにおける減肉検出試験）
図８は、円管試験体１Ｃを用いた試験状態を示す模式図である。
断面が段差付き試験体１Ａと同じ円管試験体１Ｃを準備し、試験体表面が曲面の場合の試験を実施した。
なお曲面におけるプローブ１０の安定性を確保するため、図のような治具３を使用しデータを取得した。
（円管試験体１Ｃにおける減肉検出試験）
図８は、円管試験体１Ｃを用いた試験状態を示す模式図である。
断面が段差付き試験体１Ａと同じ円管試験体１Ｃを準備し、試験体表面が曲面の場合の試験を実施した。
なお曲面におけるプローブ１０の安定性を確保するため、図のような治具３を使用しデータを取得した。
【0052】
円柱では平板に比べて減肉時の変化量が少なくなるものの、平板での試験結果と同様に第２ピーク電圧Ｖｐ２に厚さに応じた変化が見られた。一方で、長時間側のノイズが大きく収束電圧Ｖｅが安定しないために、円柱の検出距離４０ｍｍ，５０ｍｍにおける第２ピーク電圧差ΔＶ２は平板とは異なる値を示した。
円柱の検出距離４０ｍｍ，５０ｍｍの第２ピーク電圧差ΔＶ２は、第２ピーク電圧Ｖｐ２が小さいために収束電圧Ｖｅのばらつきの影響を強く受けたと考えられる。
円柱の検出距離４０ｍｍ，５０ｍｍの第２ピーク電圧差ΔＶ２は、第２ピーク電圧Ｖｐ２が小さいために収束電圧Ｖｅのばらつきの影響を強く受けたと考えられる。
【0053】
上述したように本願発明者は、矩形のパルス電流を印加して試験体１の表面に平行な単一方向の平行磁束を発生させ、表面に直交する直交磁束を検出することで、新規の知見を得た。
本発明は、かかる新規の知見に基づくものである。
本発明は、かかる新規の知見に基づくものである。
【0054】
本発明によれば、異なる減肉量ΔＴを有する複数の基準試験体２における、第２ピーク電圧差ΔＶ２と検出距離Ｌとの関係を示す複数の検量線ＭＬを予め求めて記憶する。
次いで、実試験体に対し複数のプローブ位置ＸＬｉで検出コイル１４に生じる検出電圧Ｖを検出してそれぞれの第２ピーク電圧差ΔＶ２を算出する。
次いで、実試験体に対し複数のプローブ位置ＸＬｉで検出コイル１４に生じる検出電圧Ｖを検出してそれぞれの第２ピーク電圧差ΔＶ２を算出する。
【0055】
プローブ相対距離ΔＸＬは、それぞれの検量線ＭＬにおける検出距離Ｌの差に相当する。従って、それぞれの第２ピーク電圧差ΔＶ２を有しかつ検出距離Ｌの差がプローブ相対距離ΔＸＬと一致する検量線ＭＬを選択することで、実試験体の減肉位置と減肉状態を判定することができる。
【0056】
また、上述したように、５０％以上の減肉量ΔＴについては、試験体１がアルミニウム材であっても、５０ｍｍ離れた箇所からでも健全部と比べて検出信号に大きな違いが見られた。
さらに、上述した減肉離隔検出方法をソフトウェア上に実装することで、減肉離隔検出システム１００により実試験体の減肉位置と減肉状態の判定精度を高めることができる。
さらに、上述した減肉離隔検出方法をソフトウェア上に実装することで、減肉離隔検出システム１００により実試験体の減肉位置と減肉状態の判定精度を高めることができる。
【0057】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々に変更することができることは勿論である。
【符号の説明】
【0058】
Ｅ 減肉開始点、Ｌ 検出距離、Ｌｓ スロープ長、ΔＬ 検出距離差、
ＭＬ 検量線、Ｔ 健全部厚、ｔ 減肉部厚、ΔＴ 減肉量、
Ｖ 検出電圧、Ｖｐ１ 第１ピーク電圧、Ｖｂ１ 第１ボトム電圧、
Ｖｐ２ 第２ピーク電圧、ΔＶ２ 第２ピーク電圧差、Ｖｅ 収束電圧、
Ｘ 単一方向、Ｘ０ 基準位置、ＸＬｉ プローブ位置、
ΔＸＬ プローブ相対距離、Ｙ 幅方向、Ｚ 上下方向、１ 試験体、
１Ａ 段差付き試験体、１Ｂ スロープ付き試験体、１Ｃ 円管試験体、
２ 基準試験体、３ 治具、１０ プローブ、１２ 励磁コイル、
１４ 検出コイル、２０ パルス電流発生器、
２２ ファンクションジェネレータ、２４ パワーアンプ、
３０ データ解析装置、３２ オシロスコープ、３４ 信号処理器、
１００ 減肉離隔検出システム
ＭＬ 検量線、Ｔ 健全部厚、ｔ 減肉部厚、ΔＴ 減肉量、
Ｖ 検出電圧、Ｖｐ１ 第１ピーク電圧、Ｖｂ１ 第１ボトム電圧、
Ｖｐ２ 第２ピーク電圧、ΔＶ２ 第２ピーク電圧差、Ｖｅ 収束電圧、
Ｘ 単一方向、Ｘ０ 基準位置、ＸＬｉ プローブ位置、
ΔＸＬ プローブ相対距離、Ｙ 幅方向、Ｚ 上下方向、１ 試験体、
１Ａ 段差付き試験体、１Ｂ スロープ付き試験体、１Ｃ 円管試験体、
２ 基準試験体、３ 治具、１０ プローブ、１２ 励磁コイル、
１４ 検出コイル、２０ パルス電流発生器、
２２ ファンクションジェネレータ、２４ パワーアンプ、
３０ データ解析装置、３２ オシロスコープ、３４ 信号処理器、
１００ 減肉離隔検出システム
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】