発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本願発明者は、矩形のパルス電流を印加して試験体の表面に平行な単一方向の平行磁束を発生させ、表面に直交する直交磁束を検出することで、以下の新規の知見を得た。
（１）検出した検出電圧は、パルス電流の印加後に順に、最も高い第１ピーク電圧と、最も低い第１ボトム電圧と、第１ピーク電圧の次に高い第２ピーク電圧と、第１ボトム電圧と第２ピーク電圧の中間の一定の収束電圧と、を有する再現性の高い変化を示す。
（２）異なる減肉量を有する複数の試験体において、第２ピーク電圧と収束電圧の差である第２ピーク電圧差と、プローブから減肉開始点までの距離である検出距離との関係は、異なる減肉量毎に単一の２次曲線で表せる相関を示す。
（３）試験体の減肉部の形状（例えば、段差、スロープ、貫通孔）の影響は少ない。
（４）試験体の減肉部の体積変化の大小が第２ピーク電圧差の大小に影響している。

本発明は、上述した新規の知見に基づくものである。
本発明によれば、異なる減肉量を有する複数の基準試験体における、第２ピーク電圧差と検出距離との関係を示す複数の検量線を予め求めて記憶する。
次いで、実試験体に対し複数のプローブ位置で検出コイルに生じる検出電圧を検出してそれぞれの第２ピーク電圧差を算出する。

プローブ相対距離は、それぞれの検量線における検出距離の差に相当するので、それぞれの第２ピーク電圧差を有しかつ検出距離の差がプローブ相対距離と一致する検量線を選択することで、実試験体の減肉位置と減肉状態を判定することができる。