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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023154124
(43)【公開日】2023-10-19
(54)【発明の名称】圧粉磁心、及びインダクタ
(51)【国際特許分類】
   H01F 27/255 20060101AFI20231012BHJP
   H01F 1/26 20060101ALI20231012BHJP
   H01F 1/153 20060101ALI20231012BHJP
   H01F 17/04 20060101ALI20231012BHJP
【FI】
H01F27/255
H01F1/26
H01F1/153 133
H01F17/04 F
H01F1/153 108
【審査請求】未請求
【請求項の数】10
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2022063199
(22)【出願日】2022-04-06
(71)【出願人】
【識別番号】000134257
【氏名又は名称】株式会社トーキン
(74)【代理人】
【識別番号】100103894
【弁理士】
【氏名又は名称】家入 健
(72)【発明者】
【氏名】御子柴 駿
(72)【発明者】
【氏名】嶋 博司
(72)【発明者】
【氏名】小林 謙一郎
(72)【発明者】
【氏名】千葉 美帆
(72)【発明者】
【氏名】浦田 顕理
(72)【発明者】
【氏名】八巻 真
(72)【発明者】
【氏名】大西 直人
【テーマコード(参考)】
5E041
5E070
【Fターム(参考)】
5E041AA11
5E041BB01
5E041BB03
5E041BD03
5E041CA02
5E041NN06
5E041NN14
5E041NN15
5E070AA01
5E070AB03
5E070BA17
5E070BB03
5E070CA07
(57)【要約】
【課題】直流重畳特性が良好な圧粉磁心、及びインダクタを提供することである。
【解決手段】本開示の一態様にかかる圧粉磁心は、磁性粉末がバインダ層を介して結着された圧粉磁心であって、直流電流によって生ずる磁束密度が0Tのときの透磁率をμB=0Tとし、直流電流によって生ずる磁束密度が0.5Tのときの透磁率をμB=0.5Tとした場合、μB=0.5T/μB=0Tの値が0.65以上である。
【選択図】図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
磁性粉末がバインダ層を介して結着された圧粉磁心であって、
直流電流によって生ずる磁束密度が0Tのときの透磁率をμB=0Tとし、直流電流によって生ずる磁束密度が0.5Tのときの透磁率をμB=0.5Tとした場合、μB=0.5T/μB=0Tの値が0.65以上である、
圧粉磁心。
【請求項2】
前記μB=0.5T/μB=0Tの値が0.8以上である、請求項1に記載の圧粉磁心。
【請求項3】
前記圧粉磁心は90体積%以上の磁性粉末を含有している、請求項1または2に記載の圧粉磁心。
【請求項4】
前記圧粉磁心の1MHz、50mTにおける鉄損が4500kW/m以下である、請求項1または2に記載の圧粉磁心。
【請求項5】
前記圧粉磁心の1MHz、50mTにおける鉄損が1500kW/m以下である、請求項1または2に記載の圧粉磁心。
【請求項6】
前記磁性粉末は金属ガラス粉末またはナノ結晶粉末である、請求項1または2に記載の圧粉磁心。
【請求項7】
前記バインダ層は低融点ガラスと樹脂材料とを含む、請求項1または2に記載の圧粉磁心。
【請求項8】
前記低融点ガラスはリン酸塩系またはスズリン酸塩系ガラスである、請求項7に記載の圧粉磁心。
【請求項9】
前記樹脂材料は、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、及びアクリル樹脂からなる群から選択される少なくとも一種である、請求項7に記載の圧粉磁心。
【請求項10】
請求項1または2に記載の圧粉磁心とコイルとを備えるインダクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、圧粉磁心、及びインダクタに関する。
【背景技術】
【0002】
近年、インダクタは様々な電子機器に用いられている。特にパソコン等の電子機器では消費電力の増加に伴い、供給電力が大電流化している。このため、パソコン等の電子機器に用いられるインダクタは、大電流を流した場合でも高いインダクタンス特性を示すことが求められる。特許文献1には、高周波領域における透磁率の低下が少ない非晶質軟磁性合金の圧粉成形体の製造方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開平10-212503号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上述のように、パソコン等の電子機器に用いられるインダクタは、大電流を流した場合でも高いインダクタンス特性を示すことが求められる。つまり、大電流を流した場合でも透磁率の低下の少ないインダクタ、換言すると直流重畳特性が良好なインダクタが求められている。
【0005】
上記課題に鑑み本開示の目的は、直流重畳特性が良好な圧粉磁心、及びインダクタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の一態様にかかる圧粉磁心は、磁性粉末がバインダ層を介して結着された圧粉磁心であって、直流電流によって生ずる磁束密度が0Tのときの透磁率をμB=0Tとし、直流電流によって生ずる磁束密度が0.5Tのときの透磁率をμB=0.5Tとした場合、μB=0.5T/μB=0Tの値が0.65以上である。
【0007】
本開示の一態様にかかるインダクタは、上述の圧粉磁心とコイルとを備える。
【発明の効果】
【0008】
本開示により、直流重畳特性が良好な圧粉磁心、及びインダクタを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
図1】実施の形態にかかるインダクタの一例を示す透視斜視図である。
図2】実施の形態にかかる圧粉磁心の製造方法を説明するためのフローチャートである。
図3】実施の形態にかかる圧粉磁心の製造方法を説明するための模式図である。
図4】実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのフローチャートである。
図5】実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのグラフである(ステップS11に対応)。
図6】実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのグラフである(ステップS12に対応)。
図7】実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのグラフである(ステップS13に対応)。
図8】実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのグラフである(ステップS14に対応)。
図9】実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのグラフである(ステップS15に対応)。
図10】実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのグラフである(ステップS16に対応)。
図11】実施例にかかる圧粉磁心の直流重畳特性を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0010】
<インダクタ>
図1は、実施の形態にかかるインダクタの一例を示す透視斜視図である。図1に示すように、本実施の形態にかかるインダクタ1は、圧粉磁心10_1、10_2およびコイル13を備える。圧粉磁心10_1は、中央部を垂直方向に貫通している空洞を有し、コイル13の外側を囲むように配置される。圧粉磁心10_2は、コイル13の内側に設けられており、断面コ字状のコイル13の凹部に配置される。
【0011】
例えば、図1に示すインダクタ1は、コイル13の凹部に圧粉磁心10_2を配置した後、上部から圧粉磁心10_1を圧入することで形成できる。これにより、コイル13が圧粉磁心10_1、10_2に囲まれたインダクタ1を形成できる。なお、本明細書では圧粉磁心10_1、10_2を総称して圧粉磁心10とも記載する。また、図1に示したインダクタ1の構成は一例であり、本実施の形態にかかる圧粉磁心10は、図1以外の構成を備えるインダクタに用いてもよい。以下、本実施の形態にかかる圧粉磁心について詳細に説明する。
【0012】
<圧粉磁心>
本実施の形態にかかる圧粉磁心は、磁性粉末がバインダ層を介して結着された圧粉磁心である。本実施の形態において圧粉磁心は、直流電流によって生ずる磁束密度が0Tのときの透磁率をμB=0Tとし、直流電流によって生ずる磁束密度が0.5Tのときの透磁率をμB=0.5Tとした場合、μB=0.5T/μB=0Tの値が0.65以上である。ここで、μB=0.5T/μB=0Tの値は、直流重畳特性を示す値である。なお、直流重畳特性の値、つまりμB=0.5T/μB=0Tの値の求め方については後述する。
【0013】
本実施の形態にかかる圧粉磁心に用いられる磁性粉末は鉄元素を含有する軟磁性粉末である。例えば、磁性粉末の粒径は2μm以上25μm以下、好ましくは5μm以上15μm以下である。なお、本実施の形態において粒径はメジアン径D50であり、レーザー回折・散乱法を用いて測定した値である。
【0014】
本実施の形態では、磁性粉末として金属ガラス粉末を用いることができる。例えば、金属ガラス粉末として、アトマイズ法で作製した非晶質金属ガラス粉末を用いることができる。例えば、Fe-P-B合金、Fe-B-P-Nb-Cr合金、Fe-Si-B合金、Fe-Si-B-P合金、Fe-Si-B-P-Cr合金、Fe-Si-B-P-C合金を用いることができ、アトマイズ法により粉末化することで、ガラス転移点を有する金属ガラス粉末を形成できる。特に本実施の形態では、Fe-B-P-Nb-Cr系の材料を用いることが好ましい。なお、アトマイズ法によって得られる金属ガラス粉末はこれらに限定されず、ガラス転移点を有さない非晶質粉末を用いることもできる。
【0015】
また、本実施の形態では、例えば、磁性粉末としてナノ結晶粉末を用いてもよい。例えば、ナノ結晶粉末として、アトマイズ法で作製したナノ結晶粉末を用いてもよい。例えば、Fe-Si-B-P-C-Cu系、Fe-Si-B-Cu-Cr系、Fe-Si-B-P-Cu-Cr系、Fe-B-P-C-Cu系、Fe-Si-B-P-Cu系、Fe-B-P-Cu系、Fe-Si-B-Nb-Cu系の材料をアトマイズ法により粉末化することで、磁性粉末の熱処理工程において結晶化を示す発熱ピークを少なくとも2つ有するナノ結晶粉末を形成できる。使用するナノ結晶粉末は特に限定されることはないが、例えばFe-Si-B-P-Cu-Cr系の材料を用いることが好ましい。
【0016】
本実施の形態では、磁性粉末として結晶質粉末を用いてもよい。例えば、結晶質粉末として、カルボニル法やアトマイズ法などで作製した結晶質粉末を用いることができる。例えば、カルボニル鉄、Fe-Si合金、Fe-Si-Cr合金、Fe-Si-Ai合金を用いることができ、カルボニル法やアトマイズ法などにより粉末化することで、結晶質粉末を形成できる。特に本実施の形態では、カルボニル鉄、Fe-Si系の材料を用いることが好ましい。
【0017】
本実施の形態において磁性粉末の粒子形状は球状に近いほど好ましい。粒子の球状度が低いと、粒子表面に突起が生じ、成形圧力を印加した際に該突起に周囲の粒子からの応力が集中して被覆が破壊され、絶縁性が十分に保たれず、その結果、得られる圧粉磁芯の磁気特性(特に損失)が悪化する場合がある。なお、粒子の球状度は、磁性粉末の製造条件、例えば水アトマイズ法であればアトマイズに用いる高圧水ジェットの水量や水圧、溶融原料の温度及び供給速度などの調整によって、好適な範囲に制御可能である。具体的な製造条件は、製造する磁性粉末の組成や、所望の生産性によって変化する。
【0018】
本実施の形態にかかる圧粉磁心においてバインダ層は、磁性粉末同士を結着する機能を備える。バインダ層は低融点ガラスと樹脂材料とを含む。本実施の形態において、低融点ガラスおよび樹脂材料の総量は圧粉磁心の磁性粉末に対して10体積%未満である。低融点ガラスには、リン酸塩系、スズリン酸塩系、ホウ酸塩系、ケイ酸塩系、ホウケイ酸塩系、バリウムケイ酸塩系、酸化ビスマス系、ゲルマネート系、バナデート系、アルミノリン酸塩系、砒酸塩系及びテルライド系等を用いることができる。特に本実施の形態では、リン酸塩系またはスズリン酸塩系の低融点ガラスを用いることが好ましい。また、磁性粉末に対する低融点ガラスの体積割合は0.5体積%以上6体積%以下、好ましくは1.25体積%以上3体積%以下である。
【0019】
また、バインダ層に含まれる樹脂材料として、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、及びアクリル樹脂からなる群から選択される少なくとも一種を用いることができる。また、磁性粉末に対する樹脂材料の体積割合は0.5体積%以上9体積%以下、好ましくは1体積%以上5体積%以下である。
【0020】
本実施の形態において圧粉磁心は、直流電流によって生ずる磁束密度が0Tのときの透磁率をμB=0Tとし、直流電流によって生ずる磁束密度が0.5Tのときの透磁率をμB=0.5Tとした場合、μB=0.5T/μB=0Tの値が0.65以上、好ましくは0.8以上である。
【0021】
また、本実施の形態にかかる圧粉磁心において、磁性粉末の体積充填率(つまり、磁性粉末の体積含有量)は88体積%以上、好ましくは90体積%以上である。本実施の形態にかかる圧粉磁心では、このように磁性粉末の体積充填率が高いので、良好な直流重畳特性を示す。
【0022】
更に本実施の形態では、圧粉磁心の1MHz、50mTにおける鉄損が4500kW/m以下、好ましくは1500kW/m以下である。したがって、良好な直流重畳特性を示しつつ、低鉄損の圧粉磁心を実現できる。
【0023】
<圧粉磁心の製造方法>
次に、本実施の形態にかかる圧粉磁心の製造方法について説明する。図2は、本実施の形態にかかる圧粉磁心の製造方法を説明するためのフローチャートである。図3は、本実施の形態にかかる圧粉磁心の製造方法を説明するための模式図である。
【0024】
図2に示すように、圧粉磁心を製造する際は、まず、磁性粉末を準備する(ステップS1)。磁性粉末には上述した磁性粉末を用いることができる。磁性粉末には、400℃以上で軟化する磁性材料(熱間成形時に容易に変形する材料)を用いることが好ましい。例えば、磁性粉末の原料を真空溶解した後、水アトマイズ法を用いて粉末化と急冷とを同時に行うことで、非晶質の磁性粉末を得ることができる。このようにして得られた磁性粉末は、必要に応じて分級を行い、異常に粗大化した粉末を除去してもよい。
【0025】
次に、磁性粉末に低融点ガラスをコーティングする(ステップS2)。低融点ガラスには、400℃以上で軟化する材料、つまり、熱間成形時に軟化するとともに、熱間成形後に絶縁材、結着材として働く材料を用いることが好ましい。例えば、低融点ガラスとしてリン酸塩系ガラスを用いることができる。磁性粉末に低融点ガラスをコーティングする際は、メカノフュージョン法、ゾル-ゲル法等の湿式薄膜作製法、またはスパッタリング等の乾式薄膜作製法等を用いることができる。例えば、メカノフュージョン法は、強い機械的エネルギーを加えながら磁性粉末と低融点ガラス粉末とを混合することで、磁性粉末の表面に低融点ガラスの層を形成することができる。
【0026】
一例を挙げると、磁性粉末1000gと低融点ガラス粉末10gを混合し、メカノフュージョン法を用いて磁性粉末に低融点ガラスをコーティングする。これにより、コーティングされた低融点ガラスの磁性粉末に対する体積割合を0.5体積%以上6体積%以下とすることができる。
【0027】
次に、低融点ガラスがコーティングされた磁性粉末に樹脂材料をコーティングして造粒する(ステップS3)。樹脂材料には上述した樹脂材料を用いることができる。樹脂材料には、100℃程度で軟化するとともに、熱間成形後に絶縁材、結着材として働く材料を用いることが好ましい。また、樹脂材料として、熱間成形時(高温時)に分解しにくい材料を用いることが好ましい。樹脂材料をコーティング(造粒)する際は、転動造粒法やスプレードライ法などを用いることができる。具体的には、有機溶剤で溶解した樹脂材料と、低融点ガラスがコーティングされた磁性粉末とを混合して乾燥させることで、磁性粉末の低融点ガラス上に樹脂層を形成できる。
【0028】
図3の左図に造粒後の磁性粉末20を示す。図3に示すように、造粒後の磁性粉末20は、磁性粉末21の上に低融点ガラス31がコーティングされており、更に低融点ガラス31の上に樹脂材料32がコーティングされている。一例を挙げると、磁性粉末21の直径は11μm、低融点ガラス31の厚さは20nm、樹脂材料の厚さは20nmである。
【0029】
次に、造粒後の磁性粉末を予備成形する(ステップS4)。例えば予備成形は、造粒後の磁性粉末を金型に投入して加圧し(例えば、室温で500kgf/cm)、その後、加圧なしで圧粉体を所定の温度(例えば、100℃~150℃)で加熱し硬化することで実施できる。使用する樹脂材料が熱硬化性樹脂の場合は、加熱時の樹脂の硬化を用いて、中間成形体を成形する。使用する樹脂材料が熱可塑性樹脂の場合は、加熱時の樹脂の軟化と冷却時の固化により中間成形体を成形する。
【0030】
つまり、図3の中央図に示すように、予備成形した場合は、最表面の樹脂材料32を介して、磁性粉末21(低融点ガラス31がコーティングされている)が結着して中間成形体25が形成される。なお、低融点ガラスは予備成形の温度(例えば150℃)では軟化しないので、結着性、流動性は示さない。なお、予備成形工程(ステップS4)は、省略してもよい。
【0031】
次に、予備成形後の中間成形体(ステップS4を省略する場合は、造粒後の磁性粉末)を熱間成形する(ステップS5)。熱間成形は、金型に予備成形後の中間成形体(または、造粒後の磁性粉末)を入れた状態で加圧しながら加熱することで実施する。このときの加熱温度は例えば以下のように設定する。
【0032】
使用した磁性粉末が金属ガラス粉末の場合、熱間成形する際の温度は、低融点ガラスの軟化温度および磁性粉末のガラス転移温度のうち高い方の温度以上、磁性粉末の結晶化温度以下に設定する。熱間成形温度を磁性粉末のガラス転移温度以上とすることにより、磁性粉末の塑性変形がより生じやすくなるため、磁性粉末の高い充填率が得られる。また、熱間成形温度を低融点ガラスの軟化温度以上とすることにより、磁性粉末にコーティングされた低融点ガラスが磁性粉末の変形に追従し、磁性粉末の表面を良好に被覆することが出来るため、鉄損を低減できる。一例を挙げると、450℃以上500℃以下である。
【0033】
使用した磁性粉末がナノ結晶粉末の場合、熱間成形する際の温度は、低融点ガラスの軟化温度および磁性粉末の第1結晶化温度のうち高い方の温度以上、磁性粉末の第2結晶化温度以下に設定する。熱間成形温度を第1結晶化温度前後とすることにより、α-Fe相が晶出すると同時に、磁性粉末の塑性変形がより生じやすくなるため、磁性粉末の高い充填率が得られる。また、熱間成形温度を低融点ガラスの軟化温度以上とすることにより、磁性粉末にコーティングされた低融点ガラスが磁性粉末の変形に追従し、磁性粉末の表面を良好に被覆することが出来るため、鉄損を低減できる。一例を挙げると、400℃以上500℃以下である。また、本実施の形態においては、低融点ガラスの軟化温度および磁性粉末の第1結晶化温度+40℃のうち高い方の温度以上であることが好ましい。ここで、第1結晶化温度および第2結晶化温度とは以下の通りである。すなわち、非晶質構造の磁性材料を熱処理すると結晶化が2回以上起こる。最初に結晶化を開始する温度が第1結晶化温度であり、その後、結晶化を開始する温度が第2結晶化温度である。より詳しくは、磁性粉末は、示差走査熱量測定(DSC)により得られるDSC曲線の加熱過程に、結晶化を示す発熱ピークを少なくとも2つ有している。前記発熱ピークのうち、最も低温側の発熱ピークがα-Fe相が晶出する第1結晶化温度であり、その次の発熱ピークがホウ化物などが晶出する第2結晶化温度である。
【0034】
使用した磁性粉末が結晶質粉末の場合、熱間成形する際の温度は、低融点ガラスの軟化温度以上に設定する。熱間成形温度を低融点ガラスの軟化温度以上とすることにより、磁性粉末の動的回復によって、磁性粉末の塑性変形がより生じやすくなるため、磁性粉末の高い充填率が得られる。また、熱間成形温度を低融点ガラスの軟化温度以上とすることにより、磁性粉末にコーティングされた低融点ガラスが磁性粉末の変形に追従し、磁性粉末の表面を良好に被覆することが出来るため、鉄損を低減できる。一例を挙げると、400℃以上600℃以下である。
【0035】
本実施の形態では、加熱温度を上述の温度範囲に設定するとともに、圧粉磁心の鉄損の値が低くなる温度条件とすることが好ましい。
【0036】
また、熱間成形する際の圧力は、例えば5~10ton・f/cmとする。圧力が低すぎると成形体(圧粉磁心)の充填率が低くなり、圧粉磁心の鉄損が大きくなる。逆に圧力が高すぎると、金型の摩耗が激しくなり、コスト的に好ましくない。したがって、上述の範囲に圧力を設定することが好ましい。
【0037】
また、熱間成形の時間は、5~60秒の範囲で行うことが好ましく、30秒以下で行うことがより好ましい。成形時間が短すぎると、成形体の内部まで十分に熱が伝わらず、磁性粉末の軟化による変形が十分に得られないため、成形体の充填率が低くなり、圧粉磁心の鉄損が大きくなる。逆に成形時間が長すぎると、バインダ層に用いた樹脂材料の熱分解が進むため、低融点ガラスの流動性を抑制する効果が低くなり、圧粉磁心の鉄損が大きくなる。したがって、熱間成形の時間は、成形体の内部まで十分に熱が伝わり、磁性粉体の軟化による変形が完了し、かつバインダ層に用いた樹脂材料の熱分解を抑えてコスト的に好ましい範囲で設定すればよく、上述の範囲に成形時間を設定することが好ましい。
【0038】
一例を挙げると、熱間成形の条件は、熱間成形温度:480℃、熱間成形圧力:8ton・f/cm、熱間成形時間:10秒とすることができる。
【0039】
図3の右図に示すように、熱間成形後の成形体(圧粉磁心)10は、磁性粉末21同士が、低融点ガラスと樹脂材料とを含むバインダ層22を介して結着している。本実施の形態では、圧粉磁心10が含有する磁性粉末の体積割合を88体積%以上、好ましくは90体積%以上とする。
【0040】
以上で説明した製造方法を用いることで、本実施の形態にかかる圧粉磁心を製造することができる。
【0041】
<直流重畳特性の求め方>
次に、本実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方について説明する。図4は、本実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのフローチャートである。図5図10は、本実施の形態にかかる圧粉磁心の直流重畳特性の求め方を説明するためのグラフである。なお、図5図10に示すグラフは、実施例1の直流重畳特性を求めた際のグラフに対応している。
【0042】
図4に示すように、圧粉磁心の直流重畳特性を求める際は、まず、巻き線を施したトロイダルコアを用いて、L-I曲線を測定する(ステップS11)。L-I曲線の測定には、例えば直流重畳試験機を用いることができる。例えば、1MHz、振幅10mAの正弦波に直流電流を重畳させて測定する。図5に、L-I曲線の測定結果の一例を示す。
【0043】
次に、ステップS11で測定したL-I曲線をμ-H曲線に変換する(ステップS12)。変換には、下記の式を用いる。図6に、L-I曲線をμ-H曲線に変換した後のグラフを示す。なお、トロイダルコアは実質的に閉磁路な環状ソレノイドとみなす。
【0044】
【数1】
【0045】
ここで、μは比透磁率、μは真空の透磁率(N/A)、Lは測定したインダクタンス(H)、lは実効磁路長(m)、sは実効断面積(m)、nはコイルの巻き数である。
【0046】
次に、ステップS12で求めたμ-H曲線を近似式で近似する(ステップS13)。具体的には、μをHの関数として下記に示す多項式で近似する。図7に、5次の多項式で近似した例を示す。なお、図7に示すa~fの値は、後述する実施例1で求めた値に対応している。また、本実施の形態において近似式は5次の多項式以外の近似式を用いてもよい。
【0047】
【数2】
【0048】
次に、下記の式に示すように、μ(H)の関数を不定積分し、Hに対するBの関係(B-H曲線)を求める(ステップS14)。図8に、求めたB-H曲線のグラフを示す。なお、本実施の形態では、残留磁化があまり大きくない軟磁性材料を用いているので、H=0のときB=0(積分定数C=0)として計算できる。
【0049】
【数3】
【0050】
次に、ステップS13とステップS14の結果を用いて、μとBの関係を求める(ステップS15)。図9は、μとBとの関係を示すグラフである。
【0051】
そして、ステップS15の比透磁率μをB=0Tに対する相対値に変換し、Bdc=0.5Tのときの相対透磁率を求める(ステップS16)。具体的には、図10に示すように、ステップS15で求めたB=0Tにおける比透磁率μを100%として比透磁率μを相対値に変換する。そして、直流磁束密度Bdc=0.5Tのときの相対透磁率の値を求める。
【0052】
本実施の形態では、このようにして求めたBdc=0.5Tのときの相対透磁率の値を、直流重畳特性を示す値として用いている。なお、Bdc=0.5Tのときの相対透磁率の値は、上述の「直流電流によって生ずる磁束密度が0Tのときの透磁率をμB=0Tとし、直流電流によって生ずる磁束密度が0.5Tのときの透磁率をμB=0.5Tとした場合のμB=0.5T/μB=0Tの値」に対応している。
【0053】
本実施の形態において圧粉磁心は、直流電流によって生ずる磁束密度が0Tのときの透磁率をμB=0Tとし、直流電流によって生ずる磁束密度が0.5Tのときの透磁率をμB=0.5Tとした場合、μB=0.5T/μB=0Tの値が0.65以上、好ましくは0.8以上である。よって、直流重畳特性が良好な圧粉磁心、及びインダクタを提供することができる。
【実施例0054】
次に、実施例について説明する。
【0055】
<実施例1>
上述の圧粉磁心の製造方法(図2参照)を用いて、実施例1にかかるサンプルを作製した。実施例1にかかる圧粉磁心の形状は、外径13mm、内径8mm、高さ3mmのトロイダル形状とした。具体的には、まず、磁性粉末を準備した。磁性粉末には、粒径が11μm(メジアン径D50)のナノ結晶粉末であるFe-Si-B-P-Cu-Cr系の粉末を用いた。次に、磁性粉末と低融点ガラス粉末とを混合し、メカノフュージョン法を用いて磁性粉末に低融点ガラスをコーティングした。低融点ガラスにはリン酸塩系ガラスを用いた。このとき、磁性粉末に対して2.5体積%の低融点ガラスを混合した。
【0056】
その後、低融点ガラスがコーティングされた磁性粉末に樹脂材料をコーティングして造粒した。樹脂材料にはフェノール樹脂を用い、磁性粉末に対して2.5体積%の樹脂材料を混合した。
【0057】
次に、造粒後の磁性粉末を金型に投入して500kgf/cmの条件で加圧したあと、加圧なしで圧粉体を温度150℃で加熱し硬化することで予備成形した。その後、予備成形後の中間成形体を金型に入れた状態で熱間成形した。熱間成形の条件は、成形温度470℃、加圧圧力8tonf/cm、加圧時間30秒とした。
【0058】
<実施例2>
実施例2にかかるサンプルとして、磁性粉末として粒径が14μm(メジアン径D50)のナノ結晶粉末であるFe-B-P-Cu系の粉末を用いたサンプルを作製した。また、実施例2では、熱間成形の条件は、成形温度455℃とした。これ以外は、実施例1と同様である。
【0059】
<実施例3>
実施例3にかかるサンプルとして、磁性粉末に金属ガラス粉末を用いたサンプルを作製した。金属ガラス粉末には、粒径が9μm(メジアン径D50)のFe-B-P-Nb-Cr系の粉末を用いた。また、実施例3では、熱間成形の条件は、成形温度490℃とした。これ以外は、実施例1と同様である。
【0060】
<実施例4>
実施例4にかかるサンプルとして、磁性粉末に純鉄を用いたサンプルを作製した。純鉄の原料には、粒径が8μm(メジアン径D50)のカルボニル鉄粉を用いた。これ以外は、実施例1と同様である。
【0061】
<実施例5>
実施例5にかかるサンプルとして、磁性粉末にFe-Si系合金を用いたサンプルを作製した。Fe-Si系合金には、粒径が10μm(メジアン径D50)のFe-3.5Si粉末を用いた。これ以外は、実施例1と同様である。
【0062】
<比較例1>
比較例1にかかるサンプルとして、磁性粉末にナノ結晶粉末を用いたサンプルを作製した。ナノ結晶粉末には、粒径が11μm(メジアン径D50)のナノ結晶粉末であるFe-Si-B-P-Cu-Cr系の粉末を用いた。また、比較例1では、磁性粉末に対して20体積%の樹脂材料を混合することで、低融点ガラスがコーティングされた磁性粉末に樹脂材料をコーティングして造粒した。また、成形の条件は、冷間成形(成形温度:25℃)とした。これ以外は、実施例1と同様である。
【0063】
<比較例2>
比較例2にかかるサンプルとして、磁性粉末にFe-Si系合金を用いたサンプルを作製した。Fe-Si系合金には、粒径が10μm(メジアン径D50)のFe-5.5Si粉末を用いた。また、比較例2では、磁性粉末に対して20体積%の樹脂材料を混合することで、低融点ガラスがコーティングされた磁性粉末に樹脂材料をコーティングして造粒した。また、成形の条件は、冷間成形(成形温度:25℃)とした。これ以外は、実施例1と同様である。
【0064】
<サンプルの測定>
上述のようにして作製した実施例1~5、比較例1~2にかかるサンプルに対して、磁性粉末の充填率(体積%)、圧粉磁心の飽和磁束密度Bs(T)、初透磁率、直流重畳特性(μB=0.5T/μB=0T)、鉄損を測定した。
【0065】
磁性粉末の充填率は、磁心に含まれる磁性粉末の体積と、アルキメディス法で測定した磁心全体の体積を比較することで求めた。磁心に含まれる磁性粉末の体積は、磁心全体の重量から、バインダとして加えた低融点ガラスと、残留している樹脂材料の重さを除くことで、磁心に含まれる磁性粉末の重量を求め、磁性粉末の重量を磁性粉末の真密度で割ることで求められる。
【0066】
透磁率は、周波数1MHzでインピーダンスアナライザを用いて求め、鉄損は、トロイダル形状の圧粉磁心をB-Hアナライザ(岩崎通信機株式会社製)を用いて2コイル法で測定することで求めた。測定条件としては、1MHz、50mTの正弦波励磁条件とした。直流重畳特性(μB=0.5T/μB=0T)は、上述の方法(図4参照)を用いて求めた。以下、一例として実施例1にかかるサンプルの直流重畳特性(μB=0.5T/μB=0T)の測定について具体的に説明する。
【0067】
<直流重畳特性の測定>
上述のようにして作製した実施例1にかかるトロイダルコア(外径13mm、内径8mm、高さ3mm)に巻き線を施した。巻き線の巻き数は32ターンとした。その後、直流重畳試験機(アクシス・ネット株式会社製)を用いて、測定周波数1MHz、振幅10mAの正弦波に直流電流を重畳させて、トロイダルコアのL-I曲線を測定した(図4のステップS11)。図5に、実施例1にかかるサンプルのL-I曲線の測定結果を示す。
【0068】
その後、測定したL-I曲線をμ-H曲線に変換した(図4のステップS12)。変換には、下記の式を用いた。
【0069】
【数4】
【0070】
なお、μは比透磁率、μは真空の透磁率(N/A)、Lは測定したインダクタンス(H)、lは実効磁路長(m)、sは実効断面積(m)、nはコイルの巻き数である。今回の測定では、各パラメータを下記のように設定した。また、図6に、L-I曲線をμ-H曲線に変換した後のグラフを示す。
μ=1.26×10-6(N/A
l=3.30×10-2(m)
s=7.47×10-6(m
n=32
【0071】
次に、変換後のμ-H曲線を近似式で近似した(図4のステップS13)。具体的には、μをHの関数として下記に示す多項式で近似した。
【0072】
【数5】
【0073】
図7に、5次の多項式で近似した結果を示す。なお、多項式の各定数の値は次のようになった。
a=-1.50×10-18
b=4.41×10-14
c=-3.52×10-10
d=-4.96×10-8
e=1.39×10-3
f=1.18×10
【0074】
次に、下記の式に示すように、μ(H)の関数を不定積分し、Hに対するBの関係(B-H曲線)を求めた(図4のステップS14)。図8に、求めたB-H曲線のグラフを示す。
【0075】
【数6】
【0076】
上記多項式の各定数の値は次のようになった。なお、本実施例では、残留磁化があまり大きくない軟磁性材料を用いているので、H=0のときB=0(積分定数C=0)として計算した。
a/6=-2.49×10-19
b/5=8.82×10-15
c/4=-8.81×10-11
d/3=-1.65×10-8
e/2=6.95×10-4
f=1.18×10
【0077】
次に、ステップS13とステップS14の結果を用いて、Hに対するμとBの関係を求め、更にμとBの関係を求めた(図4のステップS15)。図9は、μとBとの関係を示すグラフである。
【0078】
そして、ステップS15の比透磁率μをB=0Tに対する相対値に変換し、Bdc=0.5Tのときの相対透磁率を求めた(図4のステップS16)。具体的には、図10に示すように、ステップS15で求めたB=0Tにおける比透磁率μを1として比透磁率μを相対値に変換した。そして、直流磁束密度Bdc=0.5Tのときの相対透磁率の値を求めた。
【0079】
本実施例では、このようにして求めたBdc=0.5Tのときの相対透磁率の値(μB=0.5T/μB=0Tの値に対応)を、直流重畳特性を示す値として用いた。他の実施例および比較例についても同様の方法を用いて直流重畳特性を求めた。
【0080】
<測定結果>
実施例1~5、及び比較例1~2の測定結果を表1に示す。また、実施例1~5、及び比較例1~2の直流重畳特性の測定結果、つまり直流磁束密度Bdc(T)に対する相対透磁率(μ)の関係を図11に示す。
【0081】
【表1】
【0082】
表1、図11に示すように、実施例1~実施例5では、直流重畳特性(μB=0.5T/μB=0T)の値が0.65以上となった。一方、比較例1~2では、直流重畳特性(μB=0.5T/μB=0T)の値がそれぞれ0.59、0.63であった。よって、実施例1~実施例5では、直流重畳特性(μB=0.5T/μB=0T)の値が良好な値となった。特に実施例1、2では直流重畳特性(μB=0.5T/μB=0T)の値がそれぞれ、0.87、0.97となり、非常に良好な値となった。
【0083】
また、鉄損(1MHz、50mTで測定した鉄損)に着目すると、実施例1~実施例4では、鉄損の値が4500以下となり、直流重畳特性と鉄損の両方において良好な値を示した。特に、実施例1~実施例3では、鉄損の値が1500以下となり、良好な値を示した。また、充填率に着目すると、熱間成形の場合は冷間成形の場合と比べて充填率が高くなった。
【0084】
<各測定条件における鉄損>
実施例1~5、及び比較例1~2にかかるサンプルに対して、各測定条件における鉄損を測定した。具体的には、周波数の条件を500kHz、800kHz、1MHz、2MHzとした場合の各Bmにおける鉄損を測定した。
【0085】
周波数500kHz、800kHz、1MHz、2MHzで測定した鉄損の測定結果をそれぞれ、表2~表5に示す。
【0086】
【表2】
【0087】
【表3】
【0088】
【表4】
【0089】
【表5】
【0090】
表2~表5に示すように、各Bmにおける鉄損の値は、周波数が高くなるにつれて大きくなった。また、鉄損の値はBmの値が高くなるにつれて大きくなった。
【0091】
以上、本発明を上記実施の形態に即して説明したが、本発明は上記実施の形態の構成にのみ限定されるものではなく、本願特許請求の範囲の請求項の発明の範囲内で当業者であればなし得る各種変形、修正、組み合わせを含むことは勿論である。
【符号の説明】
【0092】
1 インダクタ
10、10_1、10_2 圧粉磁心
13 コイル
20 造粒後の磁性粉末
21 磁性粉末
22 バインダ層
25 中間成形体
31 低融点ガラス
32 樹脂材料
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11