特開 2023-162550 接触抵抗測定装置およびインピーダンス測定装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023162550

(43)【公開日】2023-11-09

(54)【発明の名称】接触抵抗測定装置およびインピーダンス測定装置

(51)【国際特許分類】

   G01R 27/02 20060101AFI20231101BHJP

【ＦＩ】

G01R27/02 A

【審査請求】未請求

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022072944

(22)【出願日】2022-04-27

(71)【出願人】

【識別番号】000227180

【氏名又は名称】日置電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100104787

【弁理士】

【氏名又は名称】酒井 伸司

(72)【発明者】

【氏名】飯島 淳司

(72)【発明者】

【氏名】西島 克俊

【テーマコード（参考）】

2G028

【Ｆターム（参考）】

2G028AA01

2G028BE04

2G028CG04

2G028CG08

2G028DH04

2G028GL03

2G028GL07

2G028HN09

2G028HN11

2G028HN13

2G028LR02

2G028LR03

2G028MS02

(57)【要約】

【課題】正確なコンタクトチェックを行い得る接触抵抗測定装置を提供することを主目的とする。
【解決手段】異なる周波数ｆ１～ｆ３に規定された複数の判定用電流Ｉｊを判定対象接触箇所を含む電流経路に供給する交流電流源ＳＳ１と、交流電流源ＳＳ１から判定用電流Ｉｊが供給されたときに判定用電流Ｉｊの周波数に対応すると共に判定対象接触箇所に生じた検出電圧Ｖｄ１を検出電圧Ｖｄ１の周波数と同じ周波数ｆ１～ｆ３の同期信号Ｓｆ１～Ｓｆ３で同期検波することにより、異なる周波数ｆ１～ｆ３に対応する各検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する電圧Ｖ１～Ｖ３を出力する同期検波部ＳＤＵ１と、異なる周波数ｆ１～ｆ３毎に判定対象接触箇所についての良否判定用処理を実行する処理部ＣＯＮＴとを備えて構成した。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

判定対象接触箇所を含む電流経路に接触判定用交流電流を供給する第１交流電流源と、
前記第１交流電流源から前記接触判定用交流電流が供給されたときに当該接触判定用交流電流の周波数に対応すると共に前記判定対象接触箇所に生じた交流電圧を当該交流電圧の周波数と同じ周波数の同期信号で同期検波することにより、当該交流電圧の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧を出力する同期検波部と、
前記同期検波部から出力された前記直流電圧に基づいて前記判定対象接触箇所についての良否判定用処理を実行する処理部とを備えている接触抵抗測定装置であって、
前記第１交流電流源は、異なる周波数に規定された複数の前記接触判定用交流電流を前記電流経路に供給可能に構成され、
前記同期検波部は、前記複数の接触判定用交流電流が前記電流経路に供給されたときに前記判定対象接触箇所に生じた各前記交流電圧を当該各交流電圧の前記異なる周波数とそれぞれ同じ周波数の前記同期信号でそれぞれ同期検波することにより、当該異なる周波数に対応する当該各交流電圧の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する前記直流電圧を出力し、
前記処理部は、前記異なる周波数毎に前記良否判定用処理を実行する接触抵抗測定装置。

【請求項2】

前記第１交流電流源は、前記周波数が異なる複数の接触判定用交流電流を合成して前記電流経路に供給可能に構成され、
前記同期検波部は、前記異なる周波数に一対一で対応して設けられた複数の同期検波回路を備えて構成され、
前記複数の同期検波回路の各々は、前記異なる周波数に一対一で対応する周波数の前記交流電圧を当該交流電圧の周波数と同じ周波数の前記同期信号で同期検波することにより、当該周波数に対応する当該交流電圧の電圧値に応じて電圧値が変化する前記直流電圧をそれぞれ出力し、
前記処理部は、前記異なる周波数毎に前記良否判定用処理を実行する請求項１記載の接触抵抗測定装置。

【請求項3】

前記同期検波部は、前記各交流電圧を当該各交流電圧の前記異なる周波数とそれぞれ同じ周波数の同期信号で順次同期検波することにより、当該異なる周波数に対応する当該各交流電圧の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する直流電圧を順次出力し、
前記処理部は、前記異なる周波数毎に前記良否判定用処理を実行する請求項１記載の接触抵抗測定装置。

【請求項4】

前記処理部は、前記良否判定用処理として、前記判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値よりも小さいときに当該判定対象接触箇所の接触抵抗が良好とする判定処理を前記異なる周波数毎に実行し、当該実行した判定処理の半数を超える回数において良好と判定したときに、当該判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定する請求項１記載の接触抵抗測定装置。

【請求項5】

前記処理部は、前記良否判定用処理として、前記判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値よりも小さいときに当該判定対象接触箇所の接触抵抗が良好とする判定処理を前記異なる周波数毎に実行し、当該実行した判定処理のすべてにおいて不良と判定したときに、当該判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に不良と判定する請求項１記載の接触抵抗測定装置。

【請求項6】

Ｈｉ側およびＬｏ側の各ソース端子に一端および他端がそれぞれ接続される測定対象に測定用交流電流を供給する第２交流電流源と、前記測定用交流電流が供給されたときに前記測定対象の前記一端および前記他端の間に生じる交流電圧を、当該一端および当該他端にそれぞれ接続されたＨｉ側およびＬｏ側の信号検出用の各センス端子を介して測定すると共に、当該測定した交流電圧の電圧値と前記測定用交流電流の電流値とに基づいて前記測定対象のインピーダンスを測定する測定部とを備えているインピーダンス測定装置であって、
請求項１から５のいずれかに記載の前記接触抵抗測定装置を備え、
前記第１交流電流源は、前記各ソース端子と前記測定対象の前記一端および他端との各接触箇所を含む前記電流経路、並びに前記各センス端子と前記測定対象の前記一端および他端との各接触箇所を含む前記電流経路の少なくとも一方の当該電流経路に前記接触判定用交流電流を供給し、
前記処理部は、前記少なくとも一方の電流経路における前記各接触箇所を前記判定対象接触箇所とする前記良否判定用処理を前記異なる周波数毎に実行するインピーダンス測定装置。

【請求項7】

前記第２交流電流源は、前記第１交流電流源としても機能し、前記測定用交流電流を前記周波数が異なる複数の接触判定用交流電流のうちの１つとして、前記各ソース端子と前記測定対象の前記一端および他端との各接触箇所を含む前記電流経路に供給する請求項６記載のインピーダンス測定装置。

【請求項8】

前記接触抵抗測定装置として請求項４記載の接触抵抗測定装置を備え、
前記処理部は、前記判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定したときに、前記測定部によって測定された前記測定対象のインピーダンスを出力する請求項６記載のインピーダンス測定装置。

【請求項9】

前記接触抵抗測定装置として請求項５記載の接触抵抗測定装置を備え、
前記処理部は、前記判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定したときに、前記測定部によって測定された前記測定対象のインピーダンスを出力する請求項６記載のインピーダンス測定装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、判定対象接触箇所を含む電流経路に接触判定用交流電流を供給して判定対象接触箇所に生じた交流電圧をその交流電圧の周波数と同じ周波数の同期信号で同期検波して得られた直流電圧に基づいて判定対象接触箇所についての良否判定用処理を実行する接触抵抗測定装置、およびその接触抵抗測定装置を備えて測定対象のインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置に関するものである。

【背景技術】

【0002】

例えば、この種の接触抵抗測定装置を備えたインピーダンス測定装置として下記の特許文献１に開示されたインピーダンス測定装置が知られている。このインピーダンス測定装置は、Ｈｉ側とＬｏ側の信号供給用の各ソース端子を介して測定対象（被測定試料）に交流の測定信号を供給する測定用信号源と、この測定信号の供給によって測定対象に生じる電圧をＨｉ側とＬｏ側の信号検出用の各センス端子を介して測定する測定部とを備えている。また、このインピーダンス測定装置では、測定部は、各センス端子の接触抵抗を検出するために、Ｈｉ側のセンス端子とＬｏ側のセンス端子との間に交流定電流を供給する断線検出用交流定電流源と、第１および第２の２つのロックインアンプとを備えている。

【0003】

このインピーダンス測定装置では、測定用信号源から供給される交流定電流の周波数ｆ１１と、断線検出用交流定電流源から供給される交流定電流の周波数ｆ１２とを異なる周波数として、第１ロックインアンプは周波数ｆ１１で同期検波を行い、第２ロックインアンプは周波数ｆ１２で同期検波を行う。これにより、第１ロックインアンプからは、測定用の交流定電流が流れることによって測定対象に生じる電圧Ｖａが出力され、第２ロックインアンプからは、断線検出用の交流定電流が流れることによって、Ｈｉ側およびＬｏ側のセンス端子間の抵抗によって生じる電圧Ｖｂが出力される。

【0004】

この場合、Ｈｉ側のソース端子の接触抵抗をＲＣ１とし、Ｌｏ側のソース端子の接触抵抗をＲＣ２とし、Ｈｉ側のセンス端子の接触抵抗をＲＣ３とし、Ｌｏ側のソース端子の接触抵抗をＲＣ４とし、測定対象のインピーダンスをＲｘとすると、Ｈｉ側およびＬｏ側のセンス端子間の抵抗は、抵抗（ＲＣ３＋Ｒｘ＋ＲＣ４）と交流定電流源の出力抵抗Ｒ０１との合成抵抗となる。したがって、出力抵抗Ｒ０１≫抵抗（ＲＣ３＋Ｒｘ＋ＲＣ４）で、かつ接触抵抗（ＲＣ３＋ＲＣ４）≫インピーダンスＲｘのときには、上記電圧ＶｂからＨｉ側およびＬｏ側のセンス端子間の接触抵抗（ＲＣ３＋ＲＣ４）を検出することができ、これにより、Ｈｉ側およびＬｏ側のセンス端子のコンタクトチェックが可能となっている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特許第４６９５９２０号公報（第７頁、第４図）

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

ところが、上記のインピーダンス測定装置には、以下の改善すべき課題が存在している。具体的には、上記のインピーダンス測定装置では、第２ロックインアンプを用いてＨｉ側およびＬｏ側のセンス端子間の接触抵抗を検出している。この場合、第２ロックインアンプは、断線検出用交流定電流源の交流定電流の周波数ｆ１２で同期検波を行っている。したがって、断線検出用交流定電流源の交流定電流の周波数ｆ１２と同じかまたは近傍の周波数のノイズが周囲の環境において発生しているときには、抵抗（ＲＣ３＋Ｒｘ＋ＲＣ４）の検出に誤差が含まれることになり、Ｈｉ側およびＬｏ側のセンス端子間の接触抵抗を誤って検出することになる。その結果、上記のインピーダンス測定装置には、コンタクトチェックエラーとなって、測定不能な状態になる。一方、コンタクトチェックの設定を解除することによって強制的に測定可能な状態とすることは可能である。しかしながら、このような場合には、インピーダンス測定装置によるインピーダンス測定の信頼性が低下することになる。このため、上記のインピーダンス測定装置には、コンタクトチェックの正確性を向上するべきとの改善すべき課題が存在する。

【0007】

本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、正確なコンタクトチェックを行い得る接触抵抗測定装置、およびインピーダンス測定の信頼性を高め得るインピーダンス測定装置を提供することを主目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

上記目的を達成すべく本発明に係る接触抵抗測定装置は、判定対象接触箇所を含む電流経路に接触判定用交流電流を供給する第１交流電流源と、前記第１交流電流源から前記接触判定用交流電流が供給されたときに当該接触判定用交流電流の周波数に対応すると共に前記判定対象接触箇所に生じた交流電圧を当該交流電圧の周波数と同じ周波数の同期信号で同期検波することにより、当該交流電圧の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧を出力する同期検波部と、前記同期検波部から出力された前記直流電圧に基づいて前記判定対象接触箇所についての良否判定用処理を実行する処理部とを備えている接触抵抗測定装置であって、前記第１交流電流源は、異なる周波数に規定された複数の前記接触判定用交流電流を前記電流経路に供給可能に構成され、前記同期検波部は、前記複数の接触判定用交流電流が前記電流経路に供給されたときに前記判定対象接触箇所に生じた各前記交流電圧を当該各交流電圧の前記異なる周波数とそれぞれ同じ周波数の前記同期信号でそれぞれ同期検波することにより、当該異なる周波数に対応する当該各交流電圧の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する前記直流電圧を出力し、前記処理部は、前記異なる周波数毎に前記良否判定用処理を実行する。

【0009】

したがって、本発明に係る接触抵抗測定装置によれば、接触抵抗測定装置の周囲の環境において異なる周波数のうちの１つの周波数と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数によるコンタクトチェックに影響が出ないため、接触抵抗測定装置は、コンタクトチェックを正確に行うことができる。

【0010】

また、本発明に係る接触抵抗測定装置は、前記第１交流電流源は、前記周波数が異なる複数の接触判定用交流電流を合成して前記電流経路に供給可能に構成され、前記同期検波部は、前記異なる周波数に一対一で対応して設けられた複数の同期検波回路を備えて構成され、前記複数の同期検波回路の各々は、前記異なる周波数に一対一で対応する周波数の前記交流電圧を当該交流電圧の周波数と同じ周波数の前記同期信号で同期検波することにより、当該周波数に対応する当該交流電圧の電圧値に応じて電圧値が変化する前記直流電圧をそれぞれ出力し、前記処理部は、前記異なる周波数毎に前記良否判定用処理を実行する。したがって、この接触抵抗測定装置によれば、各同期検波回路から直流電圧が同時に出力される結果、異なる周波数毎に良否判定用処理を同時に実行できるため、判定対象接触箇所についてのコンタクトチェックを瞬時に（短時間で）行うことができる。

【0011】

また、本発明に係る接触抵抗測定装置は、前記同期検波部は、前記各交流電圧を当該各交流電圧の前記異なる周波数とそれぞれ同じ周波数の同期信号で順次同期検波することにより、当該異なる周波数に対応する当該各交流電圧の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する直流電圧を順次出力し、前記処理部は、前記異なる周波数毎に前記良否判定用処理を実行する。したがって、この接触抵抗測定装置によれば、異なる周波数に一対一で対応して設けられた複数の同期検波回路を備えて同期検波部を構成するのと比較して、同期検波部を簡易に構成できると共に安価に構成することができる。

【0012】

また、本発明に係る接触抵抗測定装置は、前記処理部は、前記良否判定用処理として、前記判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値よりも小さいときに当該判定対象接触箇所の接触抵抗が良好とする判定処理を前記異なる周波数毎に実行し、当該実行した判定処理の半数を超える回数において良好と判定したときに、当該判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定する。したがって、この接触抵抗測定装置によれば、接触抵抗測定装置の周囲の環境において異なる周波数のうちの１つの周波数と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数によるコンタクトチェックに影響が出ないため、接触抵抗測定装置は、コンタクトチェックを正確に行うことができる。

【0013】

また、本発明に係る接触抵抗測定装置は、前記処理部は、前記良否判定用処理として、前記判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値よりも小さいときに当該判定対象接触箇所の接触抵抗が良好とする判定処理を前記異なる周波数毎に実行し、当該実行した判定処理のすべてにおいて不良と判定したときに、当該判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に不良と判定する。したがって、この接触抵抗測定装置によれば、接触抵抗測定装置の周囲の環境において異なる周波数のすべてと同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生していない限り、接触抵抗を最終的に良好と判定することになるため、接触抵抗測定装置は、判定対象接触箇所の接触抵抗を不良と判定するコンタクトチェックエラーの発生を低減することができる。

【0014】

また、本発明に係るインピーダンス測定装置は、Ｈｉ側およびＬｏ側の各ソース端子に一端および他端がそれぞれ接続される測定対象に測定用交流電流を供給する第２交流電流源と、前記測定用交流電流が供給されたときに前記測定対象の前記一端および前記他端の間に生じる交流電圧を、当該一端および当該他端にそれぞれ接続されたＨｉ側およびＬｏ側の信号検出用の各センス端子を介して測定すると共に、当該測定した交流電圧の電圧値と前記測定用交流電流の電流値とに基づいて前記測定対象のインピーダンスを測定する測定部とを備えているインピーダンス測定装置であって、上記いずれかの接触抵抗測定装置を備え、前記第１交流電流源は、前記各ソース端子と前記測定対象の前記一端および他端との各接触箇所を含む前記電流経路、並びに前記各センス端子と前記測定対象の前記一端および他端との各接触箇所を含む前記電流経路の少なくとも一方の当該電流経路に前記接触判定用交流電流を供給し、前記処理部は、前記少なくとも一方の電流経路における前記各接触箇所を前記判定対象接触箇所とする前記良否判定用処理を前記異なる周波数毎に実行する。したがって、このインピーダンス測定装置によれば、インピーダンス測定装置の周囲の環境において異なる周波数のうちの１つと同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数によるコンタクトチェックに影響が出ないため、コンタクトチェックを正確に行うことができる結果、インピーダンス測定の信頼性を十分に高めることができる。

【0015】

また、本発明に係るインピーダンス測定装置は、前記第２交流電流源は、前記第１交流電流源としても機能し、前記測定用交流電流を前記周波数が異なる複数の接触判定用交流電流のうちの１つとして、前記各ソース端子と前記測定対象の前記一端および他端との各接触箇所を含む前記電流経路に供給する。したがって、このインピーダンス測定装置によれば、第２交流電流源が接触判定用交流電流を供給する第１交流電流源としての機能を兼用するため、第１交流電流源を２つ設ける必要がなくなる結果、インピーダンス測定装置を簡易に構成できると共に安価に構成することができる。

【0016】

また、本発明に係るインピーダンス測定装置は、前記処理部は、前記判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定したときに、前記測定部によって測定された前記測定対象のインピーダンスを出力する。したがって、このインピーダンス測定装置によれば、インピーダンス測定の信頼性を十分に高めることができる。

【発明の効果】

【0017】

本発明に係る接触抵抗測定装置によれば、接触抵抗測定装置の周囲の環境において異なる周波数のうちの１つの周波数と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数によるコンタクトチェックに影響が出ないため、接触抵抗測定装置は、コンタクトチェックを正確に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0018】

【図1】接触抵抗測定装置１の構成を示す構成図である。

【図2】インピーダンス測定装置１００の構成を示す構成図である。

【図3】インピーダンス測定装置１００Ａの構成を示す構成図である。

【発明を実施するための形態】

【0019】

以下、接触抵抗測定装置およびインピーダンス測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

【0020】

最初に、接触抵抗測定装置１について、図１を参照して説明する。

【0021】

接触抵抗測定装置１は、判定対象接触箇所における接触抵抗の良否を判定可能に構成されており、一対の端子（Ｈｉ（ハイ）側のセンス端子Ｈｐ（信号検出用のセンス端子）およびＬｏ（ロー）側のセンス端子Ｌｐ（信号検出用のセンス端子）ともいう））、交流電流源ＳＳ１、コンデンサＣ１，Ｃ２、演算増幅演算回路Ａ１、フィルターＦＩＬ１、同期検波部ＳＤＵ１、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３、処理部ＣＯＮＴおよび出力部ＯＵＴを備えている。この場合、本例では、例えば、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐを二次電池である電池ＢＡＴの一端である正極端子Ｔ１および他端である負極端子Ｔ２にそれぞれ接続する際におけるセンス端子Ｈｐと正極端子Ｔ１との間の接触箇所、並びにセンス端子Ｌｐと負極端子Ｔ２との間の接触箇所を判定対象接触箇所として、その各判定対象接触箇所におけるそれぞれの接触抵抗ＲＨＰ，ＲＬＰの良否（予め規定された抵抗値よりも小さいか否か）を判定する。

【0022】

交流電流源ＳＳ１は、第１交流電流源として機能して、処理部ＣＯＮＴから開始信号が出力されたときに、接触判定用交流電圧Ｖｊを出力して、判定対象接触箇所を含む電流経路に接触判定用の交流定電流である判定用電流Ｉｊの供給を開始し、処理部ＣＯＮＴから停止信号が出力されたときに、接触判定用交流電圧Ｖｊの出力を停止して、判定用電流Ｉｊの供給を停止する。この場合、交流電流源ＳＳ１は、異なる周波数に規定された複数の交流電流（接触判定用交流電流：一例として、一定の振幅（既知）で、かつ一定の周波数で互いに異なる３つの周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の交流電流）を合成して判定用電流Ｉｊとして供給可能に構成されている。ただし、判定用電流Ｉｊとしては、周波数が異なる２つの交流電流であっても良いし、周波数が異なる４つ以上の交流電流であっても良い。また、本例では、交流電流源ＳＳ１から供給された判定用電流Ｉｊは、カップリング用のコンデンサＣ１、センス端子Ｈｐ、センス端子Ｈｐと正極端子Ｔ１との接触箇所（判定対象接触箇所：接触抵抗ＲＨＰ）、電池ＢＡＴ、負極端子Ｔ２とセンス端子Ｌｐとの接触箇所（判定対象接触箇所：接触抵抗ＲＬＰ）およびセンス端子Ｌｐを介して交流電流源ＳＳ１に戻る電流経路に供給される。また、交流電流源ＳＳ１は、後述する同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３に対して、同期検波用の同期信号として、判定用電流Ｉｊの周波数と同じ周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の同期信号Ｓｆ１～Ｓｆ３を出力する。

【0023】

第１増幅器Ａ１は、交流電圧検出部として機能し、非反転入力端子が入力抵抗Ｒ１を介してグランドＧ１に接続されると共にカップリング用のコンデンサＣ２を介してセンス端子Ｈｐに接続され、反転入力端子が入力抵抗Ｒ２を介してグランドＧ１に接続され、かつ出力端子と反転入力端子との間に帰還抵抗Ｒ３が接続されて、非反転増幅器として機能する演算増幅器ＯＰ１を備えて構成されている。この構成により、第１増幅器Ａ１は、交流電流源ＳＳ１から判定用電流Ｉｊが供給されたときに、判定用電流Ｉｊの周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３に対応すると共に判定対象接触箇所（センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間）に生じた交流電圧をコンデンサＣ２を介して入力すると共に検出電圧Ｖｄ１（交流電圧）として検出して、検出電圧Ｖｄ１を規定の増幅率で増幅して出力する。

【0024】

フィルターＦＩＬ１は、第１増幅器Ａ１から出力された検出電圧Ｖｄ１に含まれている周波数ｆ１の周波数成分である交流電圧、周波数ｆ２の周波数成分である交流電圧および周波数ｆ３の周波数成分である交流電圧を主として通過させる狭帯域通過型フィルタとして構成されている。この構成により、フィルターＦＩＬ１は、第１増幅器Ａ１から出力される検出電圧Ｖｄ１を入力すると共に、この検出電圧Ｖｄ１に含まれている通過帯域外の周波数成分（ノイズ成分）を除去して検出電圧Ｖｄ１を出力する。

【0025】

同期検波部ＳＤＵ１は、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３に一対一で対応して設けられた複数（本例では３つ）の同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３と、各同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３の後段にそれぞれ配置されたローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３とを備えて構成されている。ここで、同期検波回路ＳＤ１およびローパスフィルターＬＰＦ１は、周波数ｆ１に一対一で対応して設けられた同期検波回路として機能して、第１増幅器Ａ１によって検出された検出電圧Ｖｄ１をその検出電圧Ｖｄ１の周波数と同じ周波数の同期信号Ｓｆ１で同期検波することにより、検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧の電圧Ｖ１を出力する。具体的には、同期検波回路ＳＤ１は、一例として乗算器を用いて構成されて、フィルターＦＩＬ１から出力された検出電圧Ｖｄ１と交流電流源ＳＳ１から出力された同期信号Ｓｆ１とを互いに乗算することにより（言い換えれば、フィルターＦＩＬ１から出力された検出電圧Ｖｄ１を同期信号Ｓｆ１で同期検波することにより）、検出電圧Ｖｄ１を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ１の判定用電流Ｉｊに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する直流電圧を含む電圧Ｖ１を出力する。また、ローパスフィルターＬＰＦ１は、低域通過型フィルタとして構成されて、同期検波回路ＳＤ１から出力される電圧Ｖ１を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、周波数ｆ１の検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧としての電圧Ｖ１を出力する。つまり、この同期検波回路（同期検波回路ＳＤ１およびローパスフィルターＬＰＦ１）は、判定用電流Ｉｊの周波数ｆ１に対応する検出電圧Ｖｄ１の大きさを検出する。

【0026】

同期検波回路ＳＤ２およびローパスフィルターＬＰＦ２は、周波数ｆ２に一対一で対応して設けられた同期検波回路として機能して、第１増幅器Ａ１によって検出された検出電圧Ｖｄ１をその検出電圧Ｖｄ１の周波数と同じ周波数の同期信号Ｓｆ２で同期検波することにより、検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧の電圧Ｖ２を出力する。具体的には、同期検波回路ＳＤ２は、一例として乗算器を用いて構成されて、フィルターＦＩＬ１から出力された検出電圧Ｖｄ１と交流電流源ＳＳ１から出力された同期信号Ｓｆ２とを互いに乗算することにより（言い換えれば、フィルターＦＩＬ１から出力された検出電圧Ｖｄ１を同期信号Ｓｆ２で同期検波することにより）、検出電圧Ｖｄ１を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ２の判定用電流Ｉｊに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する直流電圧を含む電圧Ｖ２を出力する。また、ローパスフィルターＬＰＦ２は、低域通過型フィルタとして構成されて、同期検波回路ＳＤ２から出力される電圧Ｖ２を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、周波数ｆ２の検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧としての電圧Ｖ２を出力する。つまり、この同期検波回路（同期検波回路ＳＤ２およびローパスフィルターＬＰＦ２）は、判定用電流Ｉｊの周波数ｆ２に対応する検出電圧Ｖｄ１の大きさを検出する。

【0027】

同期検波回路ＳＤ３およびローパスフィルターＬＰＦ３は、周波数ｆ３に一対一で対応して設けられた同期検波回路として機能して、第１増幅器Ａ１によって検出された検出電圧Ｖｄ１をその検出電圧Ｖｄ１の周波数と同じ周波数の同期信号Ｓｆ３で同期検波することにより、検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧の電圧Ｖ３を出力する。具体的には、同期検波回路ＳＤ３は、一例として乗算器を用いて構成されて、フィルターＦＩＬ１から出力された検出電圧Ｖｄ１と交流電流源ＳＳ１から出力された同期信号Ｓｆ３とを互いに乗算することにより（言い換えれば、フィルターＦＩＬ１から出力された検出電圧Ｖｄ１を同期信号Ｓｆ３で同期検波することにより）、検出電圧Ｖｄ１を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ３の判定用電流Ｉｊに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する直流電圧を含む電圧Ｖ３を出力する。また、ローパスフィルターＬＰＦ３は、低域通過型フィルタとして構成されて、同期検波回路ＳＤ３から出力される電圧Ｖ３を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、周波数ｆ３の検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧としての電圧Ｖ３を出力する。つまり、この同期検波回路（同期検波回路ＳＤ３およびローパスフィルターＬＰＦ３）は、判定用電流Ｉｊの周波数ｆ３に対応する検出電圧Ｖｄ１の大きさを検出する。

【0028】

コンパレータＣＯＭ１は、他のコンパレータＣＯＭ２，３および処理部ＣＯＮＴと共に「処理部」を構成する。この場合、コンパレータＣＯＭ１は、一例として、演算増幅器で構成されて、予め規定された電圧の閾値電圧Ｖｔｈ１が処理部ＣＯＮＴによって反転入力端子に設定されており、ローパスフィルターＬＰＦ１から出力されて非反転入力端子に入力された電圧Ｖ１が閾値電圧Ｖｔｈ１の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ１を出力する。この場合、電圧Ｖ１は、検出電圧Ｖｄ１に含まれる電圧のうちの、周波数ｆ１の判定用電流Ｉｊに基づいてセンス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間に生じる電圧（つまり、判定用電流Ｉｊの周波数ｆ１に対応する交流電圧の大きさ）を検出したものであることから、その電圧値は、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘ（抵抗値をＲｘとする）と、接触抵抗ＲＨＰ（抵抗値をＲＨＰとする）および接触抵抗ＲＬＰ（抵抗値をＲＬＰとする）との直列合成抵抗（ＲＨＰ＋Ｒｘ＋ＲＬＰ）に比例する値（∝ＲＨＰ＋Ｒｘ＋ＲＬＰ）となっている。また、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）≫内部抵抗（Ｒｘ）のときには、電圧Ｖ１は、その電圧値が接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の大きさを示す電圧となる。したがって、閾値電圧Ｖｔｈ１を接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）に許容される最大抵抗値に対応する電圧値に規定しておくことにより、コンパレータＣＯＭ１は、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値を超える大きい抵抗値であるとき（つまり、接触が不良のとき）には、ハイの判定信号Ｓ１を出力する。逆に、コンパレータＣＯＭ１は、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値以下の小さい抵抗値であるとき（つまり、接触が良好のとき）には、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ１を出力する。

【0029】

コンパレータＣＯＭ２は、一例として、演算増幅器で構成されて、予め規定された電圧の閾値電圧Ｖｔｈ２が処理部ＣＯＮＴによって反転入力端子に設定されており、ローパスフィルターＬＰＦ２から出力されて非反転入力端子に入力された電圧Ｖ２が閾値電圧Ｖｔｈ２の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ２を出力する。この場合、電圧Ｖ２は、検出電圧Ｖｄ１に含まれる電圧のうちの、周波数ｆ２の判定用電流Ｉｊに基づいてセンス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間に生じる電圧（つまり、判定用電流Ｉｊの周波数ｆ２に対応する交流電圧の大きさ）を検出したものであることから、その電圧値は、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘと、接触抵抗ＲＨＰおよび接触抵抗ＲＬＰとの直列合成抵抗（ＲＨＰ＋Ｒｘ＋ＲＬＰ）に比例する値（∝ＲＨＰ＋Ｒｘ＋ＲＬＰ）となっている。また、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）≫内部抵抗（Ｒｘ）のときには、電圧Ｖ２は、その電圧値が接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の大きさを示す電圧となる。したがって、閾値電圧Ｖｔｈ２を接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）に許容される最大抵抗値に対応する電圧値に規定しておくことにより、コンパレータＣＯＭ２は、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値を超える大きい抵抗値であるとき（つまり、接触が不良のとき）には、ハイの判定信号Ｓ２を出力する。逆に、コンパレータＣＯＭ２は、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値以下の小さい抵抗値であるとき（つまり、接触が良好のとき）には、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ２を出力する。

【0030】

コンパレータＣＯＭ３は、一例として、演算増幅器で構成されて、予め規定された電圧の閾値電圧Ｖｔｈ３が処理部ＣＯＮＴによって反転入力端子に設定されており、ローパスフィルターＬＰＦ３から出力されて非反転入力端子に入力された電圧Ｖ３が閾値電圧Ｖｔｈ３の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ３を出力する。この場合、電圧Ｖ３は、検出電圧Ｖｄ１に含まれる電圧のうちの、周波数ｆ３の判定用電流Ｉｊに基づいてセンス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間に生じる電圧（つまり、判定用電流Ｉｊの周波数ｆ３に対応する交流電圧の大きさ）を検出したものであることから、その電圧値は、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘと、接触抵抗ＲＨＰおよび接触抵抗ＲＬＰとの直列合成抵抗（ＲＨＰ＋Ｒｘ＋ＲＬＰ）に比例する値（∝ＲＨＰ＋Ｒｘ＋ＲＬＰ）となっている。また、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）≫内部抵抗（Ｒｘ）のときには、電圧Ｖ３は、その電圧値が接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の大きさを示す電圧となる。したがって、閾値電圧Ｖｔｈ３を接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）に許容される最大抵抗値に対応する電圧値に規定しておくことにより、コンパレータＣＯＭ３は、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値を超える大きい抵抗値であるとき（つまり、接触が不良のとき）には、ハイの判定信号Ｓ３を出力する。逆に、コンパレータＣＯＭ３は、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値以下の小さい抵抗値であるとき（つまり、接触が良好のとき）には、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ３を出力する。なお、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３による電圧Ｖ１～Ｖ３と閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３との上記の比較処理が、「同期検波部から出力された直流電圧（本例では、電圧Ｖ１～Ｖ３）に基づいて判定対象接触箇所について異なる周波数毎に実行される良否判定用処理の一部」に相当する。

【0031】

処理部ＣＯＮＴは、例えば、ＣＰＵで構成されて、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３と共に「処理部」として機能し、第１増幅器Ａ１によって検出された交流電圧の検出電圧Ｖｄ１（本例では、周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の検出電圧Ｖｄ１）の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧の電圧Ｖ１～Ｖ３に基づいて判定対象接触箇所（本例では、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐ間の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ））についての良否判定用処理を、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に実行する。具体的には、処理部ＣＯＮＴは、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３から出力される判定信号Ｓ１～Ｓ３に基づいて、判定対象接触箇所の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値以下の小さい抵抗値であるか否か（つまり、判定対象接触箇所の接触の良否）を判定する。また、処理部ＣＯＮＴは、良否判定用処理の処理結果を表す表示用データＳｄを出力部ＯＵＴに出力する。また、処理部ＣＯＮＴは、上記した閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３を対応するコンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３に出力する。

【0032】

なお、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３に関しては、処理部ＣＯＮＴの内部回路を用いて構成しても良く、その構成を採用する場合には、ローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３の後段のコンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３の配設を省くと共にローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３から出力される電圧Ｖ１～Ｖ３を処理部ＣＯＮＴに直接入力する構成とする。また、本例では、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３を用いて判定信号Ｓ１～Ｓ３を生成しているが、ローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３から出力される電圧Ｖ１～Ｖ３を処理部ＣＯＮＴに直接入力して、処理部ＣＯＮＴ内部のＡ／Ｄコンバータを含む演算回路が電圧Ｖ１～Ｖ３の電圧値を演算して、判定対象接触箇所の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値以下の小さい抵抗値であるか否か（つまり、判定対象接触箇所の接触の良否）を判定する構成を採用することもできる。この場合、処理部ＣＯＮＴは、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）≫内部抵抗（Ｒｘ）のときには、電圧Ｖ１～Ｖ３の電圧値を判定用電流Ｉｊの既知の電流値で除算することにより、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）を演算する。また、処理部ＣＯＮＴは、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）を演算（測定）したときには、表示用データＳｄに接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）を表示するためのデータを含めて出力部ＯＵＴに出力することによって接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）を表示させることもできる。なお、処理部ＣＯＮＴは、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の演算および出力部ＯＵＴに対する表示用データＳｄの出力だけを行い、判定対象接触箇所の接触の良否を判定しない構成、つまり、出力部ＯＵＴに表示させた接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）に基づき、判定対象接触箇所の接触の良否の判定を測定者に委ねる構成を採用することもできる。この場合、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の演算および出力部ＯＵＴへの表示用データＳｄの出力が、良否判定用処理に相当する。

【0033】

出力部ＯＵＴは、一例として、表示装置で構成されて、処理部ＣＯＮＴから出力される表示用データＳｄを入力して、判定対象接触箇所の接触の良否を表示する。また、出力部ＯＵＴは、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）を表示するためのデータを含む表示用データＳｄを入力したときには、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の抵抗値を表示する。なお、出力部ＯＵＴは、表示装置に代えて種々のインターフェース回路で構成することもでき、外部インターフェース回路で構成したときには、外部インターフェース回路を介して伝送路で接続された外部装置に判定対象接触箇所の接触の良否や接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の抵抗値を出力し、また媒体用インターフェース回路で構成されたときには、この媒体用インターフェース回路に接続された記憶媒体に判定対象接触箇所の接触の良否や接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）の抵抗値を記憶させる。

【0034】

次に、接触抵抗測定装置１の動作について、図１を参照して説明する。なお、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐは、不図示の２本の測定ケーブルを介して電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１および負極端子Ｔ２にそれぞれ接続されているものとする。また、センス端子ＨｐおよびＢ電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１の間の接触抵抗と測定ケーブルの配線抵抗とを接触抵抗ＲＨＰとし、センス端子Ｌｐおよび電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２の間の接触抵抗と測定ケーブルの配線抵抗とを接触抵抗ＲＬＰとする。また、測定ケーブルの配線抵抗については、小さな抵抗のため、本例の説明においては無視するものとする。

【0035】

判定対象接触箇所についての良否判定用処理を実行する際には、処理部ＣＯＮＴが、開始信号を交流電流源ＳＳ１に出力すると共にコンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３に対応する閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３を出力する。この際には、交流電流源ＳＳ１は、接触判定用交流電圧Ｖｊを出力することにより、コンデンサＣ１を介して、判定対象接触箇所を含む上記の電流経路に周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の交流電流を合成した判定用電流Ｉｊの供給を開始すると共に同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３に同期信号Ｓｆ１～Ｓｆ３を出力する。この結果、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間に判定用電流Ｉｊが供給されることにより、センス端子Ｈｐと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１との間、および電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２とセンス端子Ｌｐとの間の判定対象接触箇所に周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の判定用電流Ｉｊが流れることに起因する交流電圧が発生する。この場合、発生した交流電圧は、検出電圧Ｖｄ１として、コンデンサＣ２を介して演算増幅器ＯＰ１の非反転入力端子に入力する。次いで、第１増幅器Ａ１が、入力した検出電圧Ｖｄ１を規定の増幅率で増幅してフィルターＦＩＬ１に出力する。

【0036】

次いで、フィルターＦＩＬ１は、第１増幅器Ａ１から出力される検出電圧Ｖｄ１を入力すると共に、この検出電圧Ｖｄ１に含まれている通過帯域外の周波数成分（ノイズ成分）を除去しつつ、検出電圧Ｖｄ１に含まれている周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の周波数成分である交流電圧を検出電圧Ｖｄ１として通過させる。この後、フィルターＦＩＬ１を通過した周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の周波数成分である検出電圧Ｖｄ１は、同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３に入力される。

【0037】

次いで、同期検波回路ＳＤ１は、入力した検出電圧Ｖｄ１を交流電流源ＳＳ１から出力された同期信号Ｓｆ１で同期検波して、検出電圧Ｖｄ１を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ１の判定用電流Ｉｊに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧Ｖ１を出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦ１は、同期検波回路ＳＤ１から出力される電圧Ｖ１を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧Ｖ１をコンパレータＣＯＭ１の非反転端子に出力する。また、同期検波回路ＳＤ２は、入力した検出電圧Ｖｄ１を交流電流源ＳＳ１から出力された同期信号Ｓｆ２で同期検波して、検出電圧Ｖｄ１を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ２の判定用電流Ｉｊに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧Ｖ２を出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦ２は、同期検波回路ＳＤ２から出力される電圧Ｖ２を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧Ｖ２をコンパレータＣＯＭ２の非反転端子に出力する。また、同期検波回路ＳＤ３は、入力した検出電圧Ｖｄ１を交流電流源ＳＳ１から出力された同期信号Ｓｆ３で同期検波して、検出電圧Ｖｄ１を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ３の判定用電流Ｉｊに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧Ｖ３を出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦ３は、同期検波回路ＳＤ３から出力される電圧Ｖ３を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧Ｖ３をコンパレータＣＯＭ３の非反転端子に出力する。

【0038】

次いで、コンパレータＣＯＭ１は、良否判定処理の一部として、非反転端子に入力した電圧Ｖ１と、反転端子に入力されている閾値電圧Ｖｔｈ１とを比較することにより、電圧Ｖ１が閾値電圧Ｖｔｈ１の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ１を出力し、電圧Ｖ１が閾値電圧Ｖｔｈ１の電圧値以下のときに、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ１を処理部ＣＯＮＴに出力する。この場合、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において周波数ｆ１と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときには、電圧Ｖ１の電圧値が上がるため、電圧Ｖ１が閾値電圧Ｖｔｈ１の電圧値を超える結果、コンパレータＣＯＭ１は、接触抵抗が不良を意味するハイ（高電圧）の判定信号Ｓ１を出力する。
同様にして、コンパレータＣＯＭ２は、良否判定処理の一部として、非反転端子に入力した電圧Ｖ２と、反転端子に入力されている閾値電圧Ｖｔｈ２とを比較することにより、電圧Ｖ２が閾値電圧Ｖｔｈ２の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ２を出力し、電圧Ｖ２が閾値電圧Ｖｔｈ２の電圧値以下のときに、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ２を処理部ＣＯＮＴに出力する。この場合、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において周波数ｆ２と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときには、電圧Ｖ２の電圧値が上がるため、電圧Ｖ２が閾値電圧Ｖｔｈ２の電圧値を超える結果、コンパレータＣＯＭ２は、接触抵抗が不良を意味するハイ（高電圧）の判定信号Ｓ２を出力する。同様にして、コンパレータＣＯＭ３は、良否判定処理の一部として、非反転端子に入力した電圧Ｖ３と、反転端子に入力されている閾値電圧Ｖｔｈ３とを比較することにより、電圧Ｖ３が閾値電圧Ｖｔｈ３の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ３を出力し、電圧Ｖ１が閾値電圧Ｖｔｈ１の電圧値以下のときに、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ３を処理部ＣＯＮＴに出力する。この場合、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において周波数ｆ３と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときには、電圧Ｖ３の電圧値が上がるため、電圧Ｖ３が閾値電圧Ｖｔｈ３の電圧値を超える結果、コンパレータＣＯＭ３は、接触抵抗が不良を意味するハイ（高電圧）の判定信号Ｓ３を出力する。

【0039】

次に、処理部ＣＯＮＴは、入力した判定信号Ｓ１～Ｓ３に基づいて、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に良否判定用処理を実行する。具体的には、処理部ＣＯＮＴは、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３によって行われる電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３と閾値電圧Ｖｔｈ１，Ｖｔｈ２，Ｖｔｈ３との比較（良否判定処理における一部の処理である判定処理）の結果に基づき、良否判定用処理として、判定対象接触箇所の接触抵抗の良否を最終的に判定する。より具体的には、処理部ＣＯＮＴは、良否判定用処理として、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎にコンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３によって実行された複数回（この例では３回）の判定処理の半数を超える回数（この例では２回以上）において判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値（閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３に対応する抵抗値）以下の小さい抵抗値のときに、つまり、良好と判定してローの判定信号Ｓ１～Ｓ３のうちの２つ以上が出力されたときに、判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定する。一方、処理部ＣＯＮＴは、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３による複数回（この例では３回）の判定処理の半数未満（この例では２回未満）において判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値（閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３に対応する抵抗値）以下の小さい抵抗値のときに、つまり、良好と判定してローの判定信号Ｓ１～Ｓ３のうちの２つ未満が出力されたときに、判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に不良と判定する。このように良否判定用処理を実行することにより、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において１つの周波数（例えば、周波数ｆ１）と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数（この例では、周波数ｆ２，ｆ３）によるコンタクトチェックに影響が出ないため、接触抵抗測定装置１（処理部ＣＯＮＴ）は、コンタクトチェックを正確に行うことができる。

【0040】

なお、処理部ＣＯＮＴの良否判定用処理として、以下の処理を実行することもできる。具体的には、処理部ＣＯＮＴが、良否判定用処理として、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に実行したコンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３による複数回（この例では３回）の判定処理のすべて（この例では３回）において判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値（閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３）を超える大きな抵抗値のときに（つまり、不良と判定したときに）、判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に不良と判定し、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３による複数回（この例では３回）の判定処理の少なくとも１回において判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値（閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３）以下の小さい抵抗値のときに、判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定する。このように良否判定用処理を実行することにより、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において３つの周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３のすべてと同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生していない限り、接触抵抗を最終的に良好と判定することになるため、接触抵抗測定装置１（処理部ＣＯＮＴ）は、判定対象接触箇所の接触抵抗を不良と判定するコンタクトチェックエラーの発生を低減することができる。

【0041】

この後、処理部ＣＯＮＴは、良否判定用処理の最終的な判定結果を表示用データＳｄとして出力部ＯＵＴに出力する。次いで、出力部ＯＵＴは、表示用データＳｄに基づき、判定対象接触箇所の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値よりも小さい抵抗値であるか否か、つまり判定対象接触箇所の接触抵抗の良否を表示する。この場合、判定対象接触箇所の接触抵抗が不良と表示するときには、警告表示を併せて表示させることもできる。また、出力部ＯＵＴに音声出力部を設けて警告音を出力させる構成を採用しても良い。

【0042】

なお、処理部ＣＯＮＴが、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３による複数回（この例では３回）の判定処理の判定結果のみを表示用データＳｄに含めて出力部ＯＵＴに出力する構成を採用することもできる。この構成を採用した場合には、測定者が、判定処理の判定結果に基づいて判定することになる。

【0043】

このように、この接触抵抗測定装置１によれば、交流電流源ＳＳ１が、異なる周波数に規定された複数の判定用電流Ｉｊを電流経路に供給し、同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３およびローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３が、複数の判定用電流Ｉｊが上記の電流経路に供給されたときに判定対象接触箇所に生じた異なる周波数ｆ１，ｆ２，３にそれぞれ対応する各検出電圧Ｖｄ１（検出電圧Ｖｄ１のうちの周波数ｆ１，ｆ２，３にそれぞれ対応する交流電圧）を、周波数ｆ１，ｆ２，３とそれぞれ同じ周波数の同期信号Ｓｆ１～Ｓｆ３でそれぞれ同期検波することにより、周波数ｆ１，ｆ２，３に対応する検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する電圧Ｖ１～Ｖ３を出力し、処理部ＣＯＮＴが、周波数ｆ１，ｆ２，３毎に良否判定用処理を実行する。これにより、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において異なる周波数のうちの１つの周波数（例えば、周波数ｆ１）と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数（この例では、周波数ｆ２，ｆ３）によるコンタクトチェックに影響が出ないため、接触抵抗測定装置１（処理部ＣＯＮＴ）は、コンタクトチェックを正確に行うことができる。

【0044】

また、この接触抵抗測定装置１によれば、交流電流源ＳＳ１が、周波数が異なる複数の接触判定用交流電流（周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３の判定用電流Ｉｊ）を合成して電流経路に供給し、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３に一対一で対応して設けられた複数の同期検波回路（同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３およびローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３）の各々が、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３に一対一で対応する周波数（周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３のいずれか）の検出電圧Ｖｄ１をその検出電圧Ｖｄ１の周波数と同じ周波数（周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３のいずれか）の同期信号（同期信号Ｓｆ１～Ｓｆ３のうちの対応するいずれか）で同期検波することにより、その周波数（周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３のいずれか）に対応する検出電圧Ｖｄ１の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧（電圧Ｖ１～Ｖ３のいずれか）をそれぞれ出力し、処理部ＣＯＮＴが、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に良否判定用処理を実行する。したがって、この接触抵抗測定装置１によれば、各同期検波回路（ＳＤ１～ＳＤ３およびローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３）から直流電圧である電圧Ｖ１～Ｖ３が同時に出力される結果、異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に良否判定用処理を同時に実行できるため、判定対象接触箇所についてのコンタクトチェックを瞬時に（短時間で）行うことができる。

【0045】

また、この接触抵抗測定装置１によれば、処理部（コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３および処理部ＣＯＮＴ）が、良否判定用処理として、判定対象接触箇所（センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間）の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が予め規定された抵抗値よりも小さいときに判定対象接触箇所の接触抵抗が良好とする判定処理を異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に実行し、実行した判定処理の半数を超える回数において良好と判定したときに、判定対象接触箇所の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）を最終的に良好と判定する。したがって、この接触抵抗測定装置１によれば、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において１つの周波数（例えば、周波数ｆ１）と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数（この例では、周波数ｆ２，ｆ３）によるコンタクトチェックに影響が出ないため、接触抵抗測定装置１（処理部ＣＯＮＴ）は、コンタクトチェックを正確に行うことができる。

【0046】

また、この接触抵抗測定装置１によれば、処理部（コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３および処理部ＣＯＮＴ）が、良否判定用処理として、判定対象接触箇所（センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間）の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が予め規定された抵抗値よりも小さいときに判定対象接触箇所の接触抵抗が良好とする判定処理を異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に実行し、実行した判定処理のすべてにおいて不良と判定したときに、判定対象接触箇所の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）を最終的に不良と判定する。したがって、この接触抵抗測定装置１によれば、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において異なる周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３のすべてと同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生していない限り、接触抵抗を最終的に良好と判定することになるため、接触抵抗測定装置１は、判定対象接触箇所の接触抵抗を不良と判定するコンタクトチェックエラーの発生を低減することができる。

【0047】

次に、上記の接触抵抗測定装置１を備えて、測定対象のインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置について、図２を参照して説明する。なお、上記した接触抵抗測定装置１と同じ機能を有する構成要素には同一の符号を付して重複した説明を省略する。

【0048】

インピーダンス測定装置１００は、Ｈｉ側のソース端子Ｈｃ（測定用交流信号供給用のソース端子）、Ｌｏ側のソース端子Ｌｃ（測定用交流信号供給用のソース端子）、測定用交流電流源ＰＭ、コンデンサＣ３、同期検波部ＳＤＵ２、コンパレータＣＯＭ４，ＣＯＭ５および測定部ＭＵを備えて、測定対象の一例としての電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１（一方の電極）にＨｉ側のソース端子ＨｃおよびＨｉ側のセンス端子Ｈｐが接続され（例えば、不図示の測定ケーブルを介して接続され）、電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２（他方の電極）にＬｏ側のソース端子ＬｃおよびＬｏ側のセンス端子Ｌｐが接続された（例えば、不図示の測定ケーブルを介して接続された）状態において、インピーダンスの一例としての電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘを測定可能に構成されている。

【0049】

測定用交流電流源ＰＭは、第１交流電流源および第２交流電流源として機能して、Ｈｉ側とＬｏ側の各ソース端子Ｈｃ，Ｌｃ間に接続される電池ＢＡＴに出力交流電流Ｉｏを供給する。一例として、測定用交流電流源ＰＭは、交流電流源ＳＳ２、演算増幅器ＯＰ２、帰還抵抗４、接地抵抗５およびカップリング用のコンデンサＣ４を備えている。また、測定用交流電流源ＰＭは、測定用交流電流源ＰＭ用の不図示の電源系から供給される直流電圧（グランドＧ１とは電位が異なるグランドＧ２の電位を基準とする直流電圧（直流正電圧および直流負電圧））に基づいて動作する。

【0050】

交流電流源ＳＳ２は、処理部ＣＯＮＴから測定開始信号が出力されたときに、交流電圧Ｖｏを出力して、電池ＢＡＴを含む電流経路に測定用および接触判定用の交流定電流である出力交流電流Ｉｏの供給を開始し、処理部ＣＯＮＴから測定停止信号が出力されたときに、交流電圧Ｖｏの出力を停止して、出力交流電流Ｉｏの供給を停止する。この場合、交流電流源ＳＳ１は、周波数が異なる複数の交流電流（一例として、一定の振幅（既知）で、かつ一定の周波数で互いに異なる２つの周波数ｆ４，ｆ５の交流電流）を合成して出力交流電流Ｉｏとして供給可能に構成されている。なお、周波数ｆ４の交流電流は測定用交流電流および接触判定用交流電流として用いられ、周波数ｆ５の交流電流は接触判定用交流電流として用いられる。また、周波数ｆ４，ｆ５は、上記の周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３とは異なる周波数に規定されている。また、交流電流源ＳＳ２は、後述する同期検波回路ＳＤ４，ＳＤ５に対して、同期検波用の同期信号として、出力交流電流Ｉｏの周波数と同じ周波数ｆ４，ｆ５の同期信号Ｓｆ４，Ｓｆ５を出力すると共に後述する同期検波回路ＳＤＲに対して、同期検波用の同期信号として、周波数ｆ４の同期信号Ｓｆ４を出力する。なお、交流電流源ＳＳ２は、周波数ｆ４，ｆ５の２つの出力交流電流Ｉｏに限らず、周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３とは異なり、かつ周波数が互いに異なる３つ以上の交流電流を合成して出力交流電流Ｉｏとして供給可能に構成しても良い。

【0051】

演算増幅器ＯＰ２は、出力端子と反転入力端子との間に帰還抵抗Ｒ４が接続されると共に、反転入力端子が接地抵抗Ｒ５を介してグランドＧ２に接続されて、非反転入力端子に入力された交流電圧Ｖｏを増幅して出力する。また、演算増幅器ＯＰ２は、出力端子がコンデンサＣ４を介してソース端子Ｈｃに接続され、かつ反転入力端子がソース端子Ｌｃに接続されている。この構成により、演算増幅器ＯＰ２は、交流電圧Ｖｏの電圧値を接地抵抗５の抵抗値で除算して得られる既知の電流値の交流定電流を出力交流電流Ｉｏとして、ソース端子Ｈｃ，Ｌｃ間に接続される電池ＢＡＴに供給可能となっている。また、測定用交流電流源ＰＭ用の上記の直流電圧（作動用の直流正電圧および直流負電圧）の基準となるグランドＧ２は、測定部ＭＵ用の直流電圧（作動用の直流正電圧および直流負電圧）の基準となるグランドＧ１とは電気的に分離されていることから、出力交流電流Ｉｏは、図２に示すように、演算増幅器ＯＰ２の出力端子から、コンデンサＣ４、ソース端子Ｈｃ、電池ＢＡＴ、ソース端子Ｌｃおよび接地抵抗５を介してグランドＧ２に至る経路にのみ流れる。なお、本例の電池ＢＡＴは、直流起電力を発生させるバッテリであることから、この直流起電力が演算増幅器ＯＰ２の出力端子に印加される事態を回避するために、コンデンサＣ４が設けられている。したがって、測定対象が直流起電力を発生させないものであるときには、コンデンサＣ４を設けることなく、演算増幅器ＯＰ２の出力端子をソース端子Ｈｃに直接接続する構成を採用することもできる。

【0052】

同期検波部ＳＤＵ２は、異なる周波数ｆ４，ｆ５に一対一で対応して設けられた複数（本例では２つ）の同期検波回路ＳＤ４，ＳＤ５と、各同期検波回路ＳＤ４，ＳＤ５の後段にそれぞれ配置されたローパスフィルターＬＰＦ４，ＬＰＦ５とを備えて構成されている。ここで、同期検波回路ＳＤ４およびローパスフィルターＬＰＦ４は、周波数ｆ４に一対一で対応して設けられた同期検波回路として機能して、測定用交流電流源ＰＭから出力交流電流Ｉｏが供給されたときにソース端子Ｈｃに発生する交流電圧Ｖｄ３をその検出電圧Ｖｄ３の周波数と同じ周波数の同期信号Ｓｆ４で同期検波することにより、検出電圧Ｖｄ３の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧の電圧Ｖ４を出力する。具体的には、同期検波回路ＳＤ４は、一例として乗算器を用いて構成されて、検出電圧Ｖｄ３と交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ４とを互いに乗算することにより（言い換えれば、検出電圧Ｖｄ３を同期信号Ｓｆ４で同期検波することにより）、検出電圧Ｖｄ３を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する直流電圧を含む電圧Ｖ４を出力する。また、ローパスフィルターＬＰＦ４は、低域通過型フィルタとして構成されて、同期検波回路ＳＤ４から出力される電圧Ｖ４を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、周波数ｆ４の検出電圧Ｖｄ３の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧としての電圧Ｖ４を出力する。つまり、この同期検波回路（同期検波回路ＳＤ４およびローパスフィルターＬＰＦ４）は、出力交流電流Ｉｏの周波数ｆ４に対応する検出電圧Ｖｄ３の大きさを検出する。

【0053】

同期検波回路ＳＤ５およびローパスフィルターＬＰＦ５は、周波数ｆ５に一対一で対応して設けられた同期検波回路として機能して、測定用交流電流源ＰＭから出力交流電流Ｉｏが供給されたときにソース端子Ｈｃに発生する交流電圧Ｖｄ３をその検出電圧Ｖｄ３の周波数と同じ周波数の同期信号Ｓｆ５で同期検波することにより、検出電圧Ｖｄ３の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧の電圧Ｖ５を出力する。具体的には、同期検波回路ＳＤ５は、一例として乗算器を用いて構成されて、検出電圧Ｖｄ３と交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ５とを互いに乗算することにより（言い換えれば、検出電圧Ｖｄ３を同期信号Ｓｆ５で同期検波することにより）、検出電圧Ｖｄ３を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ５の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する直流電圧を含む電圧Ｖ５を出力する。また、ローパスフィルターＬＰＦ５は、低域通過型フィルタとして構成されて、同期検波回路ＳＤ５から出力される電圧Ｖ５を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、周波数ｆ５の検出電圧Ｖｄ３の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧としての電圧Ｖ５を出力する。つまり、この同期検波回路（同期検波回路ＳＤ５およびローパスフィルターＬＰＦ５）は、出力交流電流Ｉｏの周波数ｆ５に対応する検出電圧Ｖｄ３の大きさを検出する。

【0054】

コンパレータＣＯＭ４は、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３，ＣＯＭ５および処理部ＣＯＮＴと共に「処理部」を構成する。この場合、コンパレータＣＯＭ４は、一例として、演算増幅器で構成されて、予め規定された電圧の閾値電圧Ｖｔｈ４が処理部ＣＯＮＴによって反転入力端子に設定されており、ローパスフィルターＬＰＦ４から出力されて非反転入力端子に入力された電圧Ｖ４が閾値電圧Ｖｔｈ４の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ４を出力する。この場合、電圧Ｖ４は、検出電圧Ｖｄ３に含まれる電圧のうちの、周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏに基づいてソース端子ＨｃおよびグランドＧ２の間に生じる電圧（つまり、出力交流電流Ｉｏの周波数ｆ４に対応する交流電圧の大きさ）を検出したものであることから、その電圧値は、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘ（抵抗値をＲｘとする）と、接触抵抗ＲＨＣ（抵抗値をＲＨＣとする）および接触抵抗ＲＬＣ（抵抗値をＲＬＣとする）との直列合成抵抗（ＲＨＣ＋Ｒｘ＋ＲＬＣ）に比例する値（∝ＲＨＣ＋Ｒｘ＋ＲＬＣ）となっている。また、接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）≫内部抵抗（Ｒｘ）のときには、電圧Ｖ４は、その電圧値が接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）の大きさを示す電圧となる。したがって、閾値電圧Ｖｔｈ４を接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）に許容される最大抵抗値に対応する電圧値に規定しておくことにより、コンパレータＣＯＭ４は、ソース端子ＨｃおよびグランドＧ２の間の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値を超えるような大きい抵抗値であるとき（つまり、接触が不良のとき）には、ハイの判定信号Ｓ４を出力する。逆に、コンパレータＣＯＭ４は、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値以下の小さい抵抗値であるとき（つまり、接触が良好のとき）には、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ４を出力する。

【0055】

コンパレータＣＯＭ５は、一例として、演算増幅器で構成されて、予め規定された電圧の閾値電圧Ｖｔｈ５が処理部ＣＯＮＴによって反転入力端子に設定されており、ローパスフィルターＬＰＦ５から出力されて非反転入力端子に入力された電圧Ｖ５が閾値電圧Ｖｔｈ５の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ５を出力する。この場合、電圧Ｖ５は、検出電圧Ｖｄ３に含まれる電圧のうちの、周波数ｆ５の出力交流電流Ｉｏに基づいてソース端子ＨｃおよびグランドＧ２の間に生じる電圧（つまり、出力交流電流Ｉｏの周波数ｆ５に対応する交流電圧の大きさ）を検出したものであることから、その電圧値は、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘと、接触抵抗ＲＨＣおよび接触抵抗ＲＬＣとの直列合成抵抗（ＲＨＣ＋Ｒｘ＋ＲＬＣ）に比例する値（∝ＲＨＣ＋Ｒｘ＋ＲＬＣ）となっている。また、接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）≫内部抵抗（Ｒｘ）のときには、電圧Ｖ５は、その電圧値が接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）の大きさを示す電圧となる。したがって、閾値電圧Ｖｔｈ５を接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）に許容される最大抵抗値に対応する電圧値に規定しておくことにより、コンパレータＣＯＭ５は、ソース端子ＨｃおよびグランドＧ２の間の接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値を超えるような大きい抵抗値であるとき（つまり、接触が不良のとき）には、ハイの判定信号Ｓ５を出力する。逆に、コンパレータＣＯＭ５は、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値以下の小さい抵抗値であるとき（つまり、接触が良好のとき）には、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ５を出力する。なお、通常は、帰還抵抗Ｒ４の抵抗値Ｒ４≫接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）のため、抵抗値Ｒ４の存在に関しては無視した。また、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値を超えるような大きい抵抗値であるときには、接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）≫接地抵抗Ｒ５の抵抗値Ｒ５のため、抵抗値Ｒ５の存在に関しては無視した。

【0056】

測定部ＭＵは、上記した接触抵抗測定装置１の構成に加えて、同期検波回路ＳＤＲ、ローパスフィルターＬＰＦＲおよびＡ／ＤコンバータＡＤ１を備えて構成されている。また、処理部ＣＯＮＴは、接触抵抗測定装置１における上記した機能に加えて、同期検波回路ＳＤ４に閾値電圧Ｖｔｈ４を出力すると共に同期検波回路ＳＤ５に閾値電圧Ｖｔｈ５を出力し、かつ、コンパレータＣＯＭ４，ＣＯＭ５から判定信号Ｓ４，Ｓ５を入力すると共にＡ／ＤコンバータＡＤ１から後述する電圧信号ＳＲを入力する。また、処理部ＣＯＮＴは、判定信号Ｓ１～Ｓ５に基づいて、判定対象接触箇所（本例では、ソース端子Ｈｃとソース端子Ｌｃとの間、およびセンス端子Ｈｐとセンス端子Ｌｐとの間）に対する良否判定処理を実行すると共に、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘを測定（演算）する測定部としても機能し、電圧信号ＳＲに基づいて、測定対象としての電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘ（インピーダンスの一例）を測定する。

【0057】

同期検波回路ＳＤＲは、一例として乗算器を用いて構成されて、第１増幅器Ａ１によって検出されてフィルターＦＩＬ１を介して出力された交流電圧の検出電圧Ｖｄ２と交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ４とを互いに乗算することにより（言い換えれば、フィルターＦＩＬ１から出力された検出電圧Ｖｄ２を同期信号Ｓｆ４で同期検波することにより）、検出電圧Ｖｄ２を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する直流電圧を含む電圧ＶＲを出力する。また、ローパスフィルターＬＰＦＲは、低域通過型フィルタとして構成されて、同期検波回路ＳＤＲから出力される電圧ＶＲを入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、周波数ｆ４の検出電圧Ｖｄ２の電圧値に応じて電圧値が変化する直流電圧としての電圧ＶＲを出力する。つまり、この同期検波回路（同期検波回路ＳＤＲおよびローパスフィルターＬＰＦＲ）は、出力交流電流Ｉｏの周波数ｆ４に対応する検出電圧Ｖｄ２の大きさを検出する。

【0058】

Ａ／ＤコンバータＡＤ１は、ローパスフィルターＬＰＦＲから出力された電圧ＶＲをＡ／Ｄ変換して、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘの大きさに比例する電圧値を示す電圧信号ＳＲを処理部ＣＯＮＴに出力する。

【0059】

出力部ＯＵＴは、上記した機能に加えて、ソース端子Ｈｃとソース端子Ｌｃとの間を判定対象接触箇所として、接触の良否を表示する。また、接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ）や電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘを表示するためのデータを含む表示用データＳｄを入力したときには、接触抵抗（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）や内部抵抗Ｒｘの抵抗値を表示する。また、出力部ＯＵＴは、外部インターフェース回路で構成したときには、外部インターフェース回路を介して伝送路で接続された外部装置に判定対象接触箇所の接触の良否や、接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ），（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）および内部抵抗Ｒｘの抵抗値を出力し、また媒体用インターフェース回路で構成されたときには、この媒体用インターフェース回路に接続された記憶媒体に判定対象接触箇所の接触の良否や接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ），（ＲＨＰ＋ＲＬＰ）および内部抵抗Ｒｘの抵抗値を記憶させる。

【0060】

次に、インピーダンス測定装置１００の動作について説明する。なお、上記した接触抵抗測定装置１と同じ動作については、重複した説明を省略する。また、ソース端子Ｈｃおよびソース端子Ｌｃは、不図示の２本の測定ケーブルを介して電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１および負極端子Ｔ２にそれぞれ接続されており、センス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐは、不図示の２本の測定ケーブルを介して電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１および負極端子Ｔ２にそれぞれ接続されているものとする。また、ソース端子Ｈｃおよび電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１の間の接触抵抗と測定ケーブルの配線抵抗とを接触抵抗ＲＨＣとし、ソース端子Ｌｃおよび電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２の間の接触抵抗と測定ケーブルの配線抵抗とを接触抵抗ＲＬＣとする。また、測定ケーブルの配線抵抗については、小さな抵抗のため、本例の説明においては無視するものとする。

【0061】

インピーダンス測定の際には、処理部ＣＯＮＴが、開始信号を測定用交流電流源ＰＭおよび交流電流源ＳＳ１に出力する、また、処理部ＣＯＮＴは、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ５に対応する閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ５を出力する。この際には、測定用交流電流源ＰＭは、出力交流電流Ｉｏを出力することにより、ソース端子Ｈｃと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１との間、およびソース端子Ｌｃと電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２との間の判定対象接触箇所を含む電流経路に周波数ｆ４，ｆ５の交流電流を合成した出力交流電流Ｉｏの供給を開始する。この際には、出力交流電流Ｉｏは、演算増幅器ＯＰ２の出力端子、コンデンサＣ４、ソース端子Ｈｃ、電池ＢＡＴ、ソース端子Ｌｃ、接地抵抗Ｒ５およびグランドＧ２からなる電流経路を流れる。また、交流電流源ＳＳ２は、同期検波回路ＳＤ４，ＳＤＲに同期信号Ｓｆ４を出力すると共に同期検波回路ＳＤ５に同期信号Ｓｆ５を出力する。この結果、ソース端子Ｈｃおよびソース端子Ｌｃの間に出力交流電流Ｉｏが供給されることにより、ソース端子Ｈｃと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１との間、および電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２とソース端子Ｌｃとの間の判定対象接触箇所に周波数ｆ４，ｆ５の出力交流電流Ｉｏが流れることに起因する交流電圧が発生する。この場合、発生した交流電圧は、検出電圧Ｖｄ３として、コンデンサＣ３を介して同期検波回路ＳＤ４，ＳＤ５に入力する。

【0062】

次いで、同期検波回路ＳＤ４は、入力した検出電圧Ｖｄ３を交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ４で同期検波して、検出電圧Ｖｄ３を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧Ｖ４を出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦ４は、同期検波回路ＳＤ４から出力される電圧Ｖ４を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧Ｖ４をコンパレータＣＯＭ４の非反転端子に出力する。また、同期検波回路ＳＤ５は、入力した検出電圧Ｖｄ３を交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ５で同期検波して、検出電圧Ｖｄ３を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ５の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧Ｖ５を出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦ５は、同期検波回路ＳＤ４から出力される電圧Ｖ５を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧Ｖ２をコンパレータＣＯＭ５の非反転端子に出力する。

【0063】

次いで、コンパレータＣＯＭ４は、良否判定処理の一部として、非反転端子に入力した電圧Ｖ４と、反転端子に入力されている閾値電圧Ｖｔｈ４とを比較することにより、電圧Ｖ４が閾値電圧Ｖｔｈ４の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ４を出力し、電圧Ｖ４が閾値電圧Ｖｔｈ４の電圧値以下のときに、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ４を処理部ＣＯＮＴに出力する。同様にして、コンパレータＣＯＭ５は、良否判定処理の一部として、非反転端子に入力した電圧Ｖ５と、反転端子に入力されている閾値電圧Ｖｔｈ５とを比較することにより、電圧Ｖ５が閾値電圧Ｖｔｈ５の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ５を出力し、電圧Ｖ５が閾値電圧Ｖｔｈ５の電圧値以下のときに、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ５を処理部ＣＯＮＴに出力する。

【0064】

次に、処理部ＣＯＮＴは、入力した判定信号Ｓ１～Ｓ３に基づく上記した良否判定用処理を実行する。具体的には、処理部ＣＯＮＴは、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３による電圧Ｖ１～Ｖ３と閾値電圧Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ３との比較（良否判定処理における一部の処理である判定処理）の結果に基づき、良否判定用処理として、センス端子Ｈｐと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１との間、およびソース端子Ｈｃと電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２との間の判定対象接触箇所の接触抵抗の良否を最終的に判定する。

【0065】

また、処理部ＣＯＮＴは、入力した判定信号Ｓ４，Ｓ５に基づいて、異なる周波数ｆ４，ｆ５毎に良否判定用処理を実行する。具体的には、コンパレータＣＯＭ４，ＣＯＭ５による電圧Ｖ４，Ｖ５と閾値電圧Ｖｔｈ４，Ｖｔｈ５との比較（良否判定処理における一部の処理である判定処理）の結果に基づき、良否判定用処理として、ソース端子Ｈｃと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１との間、およびソース端子Ｌｃと電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２との間の判定対象接触箇所の接触抵抗の良否を最終的に判定する。より具体的には、処理部ＣＯＮＴは、良否判定用処理として、異なる周波数ｆ４，ｆ５毎に実行したコンパレータＣＯＭ４，ＣＯＭ５によって実行された複数回（この例では２回）の判定処理の半数を超える回数（この例では、すべての回数でもある２回）において判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値（閾値電圧Ｖｔｈ４，Ｖｔｈ５に対応する抵抗値）以下の小さい抵抗値（つまり、良好と判定したとき）のときに、判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定し、コンパレータＣＯＭ４，ＣＯＭ５による複数回（この例では２回）の判定処理の半数以下（この例では１回以下）において判定対象接触箇所の接触抵抗が予め規定された抵抗値（閾値電圧Ｖｔｈ４，Ｖｔｈ５に対応する抵抗値）以下の小さい抵抗値のときに、判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に不良と判定する。このように良否判定用処理を実行することにより、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において複数の周波数（例えば、周波数ｆ５）と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数（この例では、周波数ｆ４）によるコンタクトチェックに影響が出ないため、インピーダンス測定装置１００（処理部ＣＯＮＴ）は、コンタクトチェックを正確に行うことができる。

【0066】

この後、処理部ＣＯＮＴは、良否判定用処理の最終的な判定結果を表示用データＳｄとして出力部ＯＵＴに出力する。次いで、出力部ＯＵＴは、表示用データＳｄに基づき、判定対象接触箇所の接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ，ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値よりも小さい抵抗値であるか否か、つまり判定対象接触箇所の接触抵抗の良否を表示する。

【0067】

なお、処理部ＣＯＮＴが、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ３による複数回（この例では３回）、およびコンパレータＣＯＭ４，ＣＯＭ５による複数回（この例では２回）の判定処理の判定結果のみを表示用データＳｄに含めて出力部ＯＵＴに出力する構成を採用することもできる。この構成を採用した場合には、測定者が、判定処理の判定結果に基づいて判定することになる。

【0068】

次に、判定対象接触箇所の接触抵抗の抵抗値が良好であったときには、処理部ＣＯＮＴは、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘのインピーダンス測定処理を自動的に実行する。この場合、出力交流電流Ｉｏが電池ＢＡＴの内部を流れることに起因する交流電圧が発生する。この際に、発生した交流電圧は、検出電圧Ｖｄ２として、コンデンサＣ２を介して演算増幅器ＯＰ１の非反転入力端子に入力する。次いで、第１増幅器Ａ１が、入力した検出電圧Ｖｄ２を規定の増幅率で増幅してフィルターＦＩＬ１に出力する。次いで、フィルターＦＩＬ１は、第１増幅器Ａ１から出力される検出電圧Ｖｄ２を入力すると共に、この検出電圧Ｖｄ２に含まれている通過帯域外の周波数成分（ノイズ成分）を除去しつつ、検出電圧Ｖｄ２に含まれている周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３，ｆ４の周波数成分である交流電圧を検出電圧Ｖｄ２として通過させる。この後、フィルターＦＩＬ１を通過した周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３，ｆ４の周波数成分である検出電圧Ｖｄ２は、同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３，ＳＤＲに入力される。

【0069】

この際に、同期検波回路ＳＤＲは、入力した検出電圧Ｖｄ２を交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ４で同期検波して、検出電圧Ｖｄ２を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧ＶＲを出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦＲは、同期検波回路ＳＤＲから出力される電圧ＶＲを入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧ＶＲをＡ／ＤコンバータＡＤ１に出力する。次いで、Ａ／ＤコンバータＡＤ１は、ローパスフィルターＬＰＦＲから出力された電圧ＶＲをＡ／Ｄ変換して電圧信号ＳＲを処理部ＣＯＮＴに出力する。この場合、電圧ＶＲは、検出電圧Ｖｄ２に含まれる電圧のうちの、周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏに基づいてセンス端子Ｈｐおよびセンス端子Ｌｐの間に生じる電圧（つまり、出力交流電流Ｉｏの周波数ｆ４に対応する交流電圧の大きさ）を検出したものであることから、その電圧値は、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘに比例する値（∝Ｒｘ）となっている。したがって、電圧信号ＳＲは、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘに比例する値を示す測定値となっている。

【0070】

次いで、処理部ＣＯＮＴは、電圧信号ＳＲで示される測定値を出力交流電流Ｉｏの既知の電流値で除算して電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘを算出する。この後、処理部ＣＯＮＴは、表示用データＳｄを出力することにより、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘを出力部ＯＵＴに表示させる。

【0071】

このように、このインピーダンス測定装置１００によれば、接触抵抗測定装置１と同様にして、処理部ＣＯＮＴが、周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３毎に良否判定用処理を実行すると共に周波数ｆ４，ｆ５毎に良否判定用処理を実行する。これにより、インピーダンス測定装置１００の周囲の環境において１つまたは複数の周波数（例えば、周波数ｆ１，ｆ５）と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数（この例では、周波数ｆ２，ｆ３，ｆ４）によるコンタクトチェックに影響が出ないため、インピーダンス測定装置１００（処理部ＣＯＮＴ）は、コンタクトチェックを正確に行うことができる結果、インピーダンス測定の信頼性を十分に高めることができる。

【0072】

また、このインピーダンス測定装置１００によれば、異なる周波数と同数の同期検波回路（同期検波回路ＳＤ１～ＳＤ３およびローパスフィルターＬＰＦ１～ＬＰＦ３）を用いているため、接触抵抗測定装置１と同様にして、処理部ＣＯＮＴによる異なる周波数毎の良否判定用処理を極めて迅速に実行することができ、その結果として、インピーダンスの測定時間を十分に短縮することができる。

【0073】

また、このインピーダンス測定装置１００によれば、交流電流源ＳＳ２は、第１交流電流源としても機能し、測定用交流電流としての出力交流電流Ｉｏを周波数ｆ４，ｆ５が異なる複数の接触判定用交流電流としての出力交流電流Ｉｏのうちの１つとして、ソース端子Ｈｃと測定対象としての電池ＢＡＴの一端である正極端子Ｔ１および他端である負極端子Ｔ２との各接触箇所を含む電流経路に供給する。したがって、このインピーダンス測定装置１００によれば、第２交流電流源が接触判定用交流電流を供給する第１交流電流源としての機能を兼用するため、第１交流電流源を２つ設ける必要がなくなる結果、インピーダンス測定装置１００を簡易に構成できると共に安価に構成することができる。

【0074】

また、このインピーダンス測定装置１００によれば、処理部ＣＯＮＴが、判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定したときに、測定部（測定部ＭＵおよび処理部ＣＯＮＴ）によって測定された電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘを出力部ＯＵＴに出力する。したがって、このインピーダンス測定装置によれば、インピーダンス測定の信頼性を十分に高めることができる。

【0075】

続いて、他のインピーダンス測定装置としてのインピーダンス測定装置１００Ａについて、図３を参照して説明する。なお、インピーダンス測定装置１００と同一の構成については同一の符号を付して重複する説明を省略する。

【0076】

インピーダンス測定装置１００Ａは、インピーダンス測定装置１００における同期検波部ＳＤＵ２に代えて、同期検波部ＳＤＵ３を備えて構成されると共に、コンパレータＣＯＭ５の配設を省略している。この場合、同期検波部ＳＤＵ３は、スイッチＳＷ１、同期検波回路ＳＤ４およびローパスフィルターＬＰＦ４を備えて構成されている。また、このインピーダンス測定装置１００Ａでは、処理部ＣＯＮＴが、スイッチＳＷ１の切替制御と、スイッチＳＷ１の切替制御と連動してコンパレータＣＯＭ４に対する閾値電圧Ｖｔｈ４，Ｖｔｈ５の出力切替制御とを順次実行する。

【0077】

スイッチＳＷ１は、ＣＯＭ（コモン）接点、ａ接点およびｂ接点を備えて構成され、処理部ＣＯＮＴの切替制御に従い、ＣＯＭ接点とａ接点との接続、およびＣＯＭ接点とｂ接点との接続をいずれか一方に切り替える。この場合、交流電流源ＳＳ２からの同期信号Ｓｆ４がａ接点に入力されると共に交流電流源ＳＳ２からの同期信号Ｓｆ５がｂ接点に入力される。また、スイッチＳＷ１のＣＯＭ接点は、同期検波回路ＳＤ４の同期信号の入力部に接続されている。したがって、スイッチＳＷ１は、処理部ＣＯＮＴの切替制御に従い、同期検波回路ＳＤ４に対して同期信号Ｓｆ４および同期信号Ｓｆ５のいずれか一方を出力する。

【0078】

また、コンパレータＣＯＭ４は、検出電圧Ｖｄ３を検出電圧Ｖｄ３の異なる周波数ｆ４，ｆ５とそれぞれ同じ周波数ｆ４，ｆ５の同期信号Ｓｆ４，Ｓｆ５で順次同期検波することにより、異なる周波数ｆ４，ｆ５に対応する検出電圧Ｖｄ３の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する直流電圧の電圧Ｖ４，Ｖ５を順次出力する。具体的には、コンパレータＣＯＭ４は、処理部ＣＯＮＴから閾値電圧Ｖｔｈ４が反転端子に出力された際には、ローパスフィルターＬＰＦ４から出力されて非反転入力端子に入力された電圧Ｖ４が閾値電圧Ｖｔｈ４の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ４を出力する。一方、処理部ＣＯＮＴから閾値電圧Ｖｔｈ５が反転端子に出力された際には、ローパスフィルターＬＰＦ４から出力されて非反転入力端子に入力された電圧Ｖ５が閾値電圧Ｖｔｈ５の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ４を出力する。

【0079】

次に、インピーダンス測定装置１００Ａの動作について説明する。なお、上記した接触抵抗測定装置１およびインピーダンス測定装置１００と同じ動作については、重複した説明を省略する。

【0080】

このインピーダンス測定装置１００Ａでは、判定対象接触箇所についての良否判定用処理を実行する際に、処理部ＣＯＮＴは、スイッチＳＷ１に対して切替制御を実行すると共に、この切替制御と連動してコンパレータＣＯＭ４に対する閾値電圧Ｖｔｈ４，Ｖｔｈ５の出力切替制御を実行する。具体的には、処理部ＣＯＮＴは、スイッチＳＷ１に対してＣＯＭ接点とａ接点とを接続する接続制御（以下、「接続制御Ａ」ともいう」）を実行するときには、コンパレータＣＯＭ４に対して閾値電圧Ｖｔｈ４を出力する。この場合、交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ４が、スイッチＳＷ１のａ接点およびＣＯＭ接点を介して、同期検波回路ＳＤ４に出力される。この際には、同期検波回路ＳＤ４は、入力した検出電圧Ｖｄ３を同期信号Ｓｆ４で同期検波して、検出電圧Ｖｄ３を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧Ｖ４を出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦ４は、同期検波回路ＳＤ４から出力される電圧Ｖ４を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧Ｖ４をコンパレータＣＯＭ４の非反転端子に出力する。次いで、コンパレータＣＯＭ４は、良否判定処理の一部として、非反転端子に入力した電圧Ｖ４と、反転端子に入力されている閾値電圧Ｖｔｈ４とを比較することにより、電圧Ｖ４が閾値電圧Ｖｔｈ４の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ４を出力し、電圧Ｖ４が閾値電圧Ｖｔｈ４の電圧値以下のときに、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ４を処理部ＣＯＮＴに出力する。

【0081】

一方、処理部ＣＯＮＴは、スイッチＳＷ１に対してＣＯＭ接点とｂ接点とを接続する接続制御（以下、「接続制御Ｂ」ともいう」）を接続制御Ａの実行後に順次実行するときには、コンパレータＣＯＭ４に対して閾値電圧Ｖｔｈ５を出力する。この場合、交流電流源ＳＳ２から出力された同期信号Ｓｆ５は、スイッチＳＷ１のｂ接点およびＣＯＭ接点を介して、同期検波回路ＳＤ４に出力される。この際には、同期検波回路ＳＤ４は、入力した検出電圧Ｖｄ３を同期信号Ｓｆ５で同期検波して、検出電圧Ｖｄ３を構成する交流電圧のうちの周波数ｆ５の出力交流電流Ｉｏに基づく交流電圧の電圧値（例えば、振幅）に応じて電圧値が変化する電圧Ｖ５を出力する。この後、ローパスフィルターＬＰＦ４は、同期検波回路ＳＤ４から出力される電圧Ｖ５を入力して、交流成分を除去して平滑化することにより、直流電圧の電圧Ｖ５をコンパレータＣＯＭ４の非反転端子に出力する。次いで、コンパレータＣＯＭ４は、良否判定処理の一部として、非反転端子に入力した電圧Ｖ４と、反転端子に入力されている閾値電圧Ｖｔｈ５とを比較することにより、電圧Ｖ５が閾値電圧Ｖｔｈ５の電圧値を超えたときに、ハイ（高電圧）の判定信号Ｓ５を出力し、電圧Ｖ５が閾値電圧Ｖｔｈ５の電圧値以下のときに、ロー（低電圧）の判定信号Ｓ４を処理部ＣＯＮＴに出力する。

【0082】

次いで、処理部ＣＯＮＴは、入力した判定信号Ｓ４，Ｓ５に基づいて、異なる周波数ｆ４，ｆ５毎に良否判定用処理を実行する。具体的には、処理部ＣＯＮＴは、接続制御Ａを実行したときのコンパレータＣＯＭ４による電圧Ｖ４と閾値電圧Ｖｔｈ４との比較（良否判定処理における一部の処理である判定処理）の結果と、接続制御Ｂを実行したときのコンパレータＣＯＭ４による電圧Ｖ５と閾値電圧Ｖｔｈ５との比較（良否判定処理における一部の処理である判定処理）の結果とに基づき、上記したインピーダンス測定装置１００による良否判定用処理と同様にして、良否判定用処理として、ソース端子Ｈｃと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１との間、およびソース端子Ｌｃと電池ＢＡＴの負極端子Ｔ２との間の判定対象接触箇所の接触抵抗の良否を最終的に判定する。

【0083】

この後、処理部ＣＯＮＴは、良否判定用処理の最終的な判定結果を表示用データＳｄとして出力部ＯＵＴに出力する。次いで、出力部ＯＵＴは、表示用データＳｄに基づき、判定対象接触箇所の接触抵抗（ＲＨＣ＋ＲＬＣ，ＲＨＰ＋ＲＬＰ）が許容される最大抵抗値よりも小さい抵抗値であるか否か、つまり判定対象接触箇所の接触抵抗の良否を表示する。

【0084】

次に、判定対象接触箇所の接触抵抗の抵抗値が良好であったときには、処理部ＣＯＮＴは、インピーダンス測定装置１００と同様にして、電池ＢＡＴの内部抵抗Ｒｘのインピーダンス測定処理、および表示用データＳｄを出力部ＯＵＴに出力する出力制御を実行する。

【0085】

このように、このインピーダンス測定装置１００Ａによれば、インピーダンス測定装置１００と同様にして、処理部ＣＯＮＴが、周波数ｆ１，ｆ２，３毎に良否判定用処理を実行すると共に周波数ｆ４，ｆ５毎に良否判定用処理を実行する。これにより、インピーダンス測定装置１００Ａの周囲の環境において１つまたは複数の周波数（例えば、周波数ｆ１，ｆ５）と同じかまたは近傍の周波数のノイズが発生しているときであっても、他の周波数（この例では、周波数ｆ２，ｆ３，ｆ４）によるコンタクトチェックに影響が出ないため、インピーダンス測定装置１００Ａ（処理部ＣＯＮＴ）は、コンタクトチェックを正確に行うことができる結果、インピーダンス測定の信頼性を十分に高めることができる。

【0086】

また、このインピーダンス測定装置１００Ａ（接触抵抗測定装置１）では、１つのスイッチＳＷ１と、同期検波回路ＳＤ４およびＬＰＦで構成される１つの同期検波回路とを用いて同期検波部ＳＤ３を構成して、同期検波部ＳＤ３が、検出電圧Ｖｄ３を検出電圧Ｖｄ３の異なる周波数ｆ４，ｆ５とそれぞれ同じ周波数の同期信号Ｓｆ４，Ｓｆ５で順次同期検波することにより、異なる周波数ｆ４，ｆ５に対応する検出電圧Ｖｄ３の電圧値に応じて電圧値がそれぞれ変化する電圧Ｖ４，Ｖ５を順次出力し、処理部ＣＯＮＴが、異なる周波数ｆ４，ｆ５毎に良否判定用処理を実行する。したがって、このインピーダンス測定装置１００Ａによれば、異なる周波数ｆ４，ｆ５に一対一で対応して設けられた複数の同期検波回路を備えて同期検波部を構成するのと比較して、同期検波部ＳＤＵ３を簡易に構成できると共に安価に構成することができる。

【0087】

なお、インピーダンス測定装置１００，１００Ａにおいて、交流電流源ＳＳ２は異なる周波数ｆ４，ｆ５の出力交流電流Ｉｏを合成して出力しているが、この構成に限らず、処理部ＣＯＮＴの切替制御に従い、スイッチＳＷ１の切替制御に同期して、周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏおよび周波数ｆ５の出力交流電流Ｉｏを合成することなく順次出力する構成を採用することができる。また、インピーダンス測定装置１００，１００Ａにおいて、測定用交流電流および接触判定用交流電流を兼用する周波数ｆ４の出力交流電流Ｉｏを出力する交流電流源ＳＳ２を例に挙げて説明したが、接触判定用交流電流の周波数と、測定用交流電流の周波数とを互いに異なる周波数とすることもできる。ただし、測定用交流電流および接触判定用交流電流を兼用させた構成によれば、交流電流源ＳＳ２（第１交流信号電源および第２交流信号電源）をより簡易かつ安価に構成することができる。

【0088】

また、インピーダンス測定装置１００，１００Ａでは、ソース端子Ｈｃ，Ｌｃと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１および負極端子Ｔ２との各接触箇所を含む電流経路、並びにセンス端子Ｈｐ，Ｌｐと電池ＢＡＴの正極端子Ｔ１および負極端子Ｔ２との各接触箇所を含む電流経路の双方を判定対象接触箇所としているが、これに限定されない。インピーダンス測定装置として、コンタクトチェックの精度は低下するものの、どちらか一方の電流経路における各接触箇所を判定対象接触箇所として良否判定用処理を実行する構成を採用することもできる。

【0089】

また、良否判定用処理として、処理部ＣＯＮＴが、３回の判定処理の半数を超える回数において良好と判定したときに、その判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定する例や、判定処理のすべてにおいて不良と判定したときに、その判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に不良と判定する例について説明したが、これに限らない。コンタクトチェックの精度は低下するものの、例えば、偶数回の良否判定用処理を実行するときには、偶数回の判定処理の半数以上の回数において良好と判定したときに、処理部ＣＯＮＴが、その判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定しても良い。また、複数回の判定処理のうちの予め規定した１回以上の回数において良好と判定したときに、処理部ＣＯＮＴが、その判定対象接触箇所の接触抵抗を最終的に良好と判定しても良い。このように判定することにより、接触抵抗測定装置１の周囲の環境において広い周波数領域においてノイズが発生しているときであっても、コンタクトチェックが可能となる。

【0090】

また、接触抵抗測定装置については、インピーダンス測定装置への適用に限られない。例えば、端子やプローブなどで接触対象を接触させる際の判定対象接触箇所についての良否判定処理を必要とする電流計、電圧計、電力計および抵抗計などの計測装置や、電流の供給や電圧の印加を行う電力装置などに広く接触抵抗測定装置を適用することができる。また、インピーダンス測定装置についても、測定対象は電池ＢＡＴに限らず、内部抵抗Ｒｘを有するすべてを測定対象とすることができる。

【0091】

また、フィルターＦＩＬ１、同期検波部ＳＤＵ１，ＳＵＤ２，ＳＵＤ３、コンパレータＣＯＭ１～ＣＯＭ５、ローパスフィルターＬＰＦＲおよびＡ／ＤコンバータＡＤ１を処理部ＣＯＮＴとは別体に構成した例について説明したが、処理部ＣＯＮＴが、これらの構成要素の一部または全部の機能をディジタル処理で実行することもできる。

【産業上の利用可能性】

【0092】

本願発明によれば、判定対象接触箇所についての良否判定用処理を実行する処理部を備えている接触抵抗測定装置において、周波数が異なる複数の接触判定用交流電流を判定対象接触箇所を含む電流経路に供給して、処理部が異なる周波数毎に良否判定用処理を実行することにより、コンタクトチェックを正確に行うことができる。また、そのような接触抵抗測定装置を備えたインピーダンス測定装置は、インピーダンス測定の信頼性を十分に高めることができる。これにより、本願発明は、このような接触抵抗測定装置や、インピーダンス測定を行うインピーダンス測定装置などに広く適用することができる。

【符号の説明】

【0093】

１ 接触抵抗測定装置
１００，１００Ａ インピーダンス測定装置
Ａ１ 第１増幅器
Ａ２ 第２増幅器
ＡＤ１ Ａ／Ｄ変換回路
ＢＡＴ 電池
ＣＯＭ１～ＣＯＭ５ コンパレータ
ＣＯＮＴ 処理部
ＦＩＬ１ フィルター
Ｈｃ，Ｌｃ ソース端子
Ｈｐ，Ｌｐ センス端子
Ｉｊ 判定用電流
Ｉｏ 出力交流電流
ＬＰＦ１～ＬＰＦ５，ＬＰＦＲ ローパスフィルター
ＯＵＴ 出力部
ＲＨＣ，ＲＬＣ，ＲＨＰ，ＲＬＰ 接触抵抗
Ｒｘ 内部抵抗
Ｓ１～Ｓ５ 判定信号
ＳＤ１～ＳＤ５ 同期検波回路
Ｓｆ１～Ｓｆ５ 同期信号
ＳＳ１，ＳＳ２ 交流電流源
Ｖ１～Ｖ５ 電圧
Ｖｄ１～Ｖｄ３ 検出電圧
Ｖｔｈ１～Ｖｔｈ５ 閾値電圧
Ｔ１ 正極端子
Ｔ２ 負極端子

【図1】

【図2】

【図3】