特開2023-163175検査システム、検査方法、学習方法、及びプログラム

発明の名称　検査システム、検査方法、学習方法、及びプログラム

出願人　旭化成株式会社　（識別番号 33）

　　　　特許公開件数ランキング 66 位（378件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 71 位（315件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2023-163175

公報発行日　2023年11月9

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2023-163175

知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、特開-2023-163175「検査システム、検査方法、学習方法、及びプログラム」の公報全文を閲覧することができます。

ログインはこちら　ログイン・ユーザー登録