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公報発行日 2023年11月22
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2023-166658 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】 高い可視透過特性を有する配向性アルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体、その製造方法、光学窓材、それを用いた赤外線センサ、および、フィルタを提供すること。
【解決手段】 本発明の配向性アルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体は、多結晶スピネルセラミックスと、その上に位置し、それと接合したアルミナセラミックスとを備え、多結晶スピネルセラミックスの気孔率および粒径は、0.3%未満および215nm以上380nm以下の範囲であり、アルミナセラミックスの気孔率および粒径は、0.07%以下および320nm以上680nm以下の範囲であり、EBSD法によりアルミナセラミックスの表面を測定した場合、0°以上90°以下の範囲にピークを有し、ピークの位置の±20°の範囲内に結晶粒の50%以上が存在する。
【選択図】 図1
本発明の配向性アルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体は、所定の気孔率および粒径を有する多結晶スピネルセラミックスと、その上に位置し、それと接合した、所定の気孔率および粒径を有するアルミナセラミックスとを備える。多結晶スピネルを備えるため、可視から中赤外までの広帯域の透過性に優れる。また、アルミナセラミックスと接合することにより、本発明のアルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体は、機械特性に優れ、機械的強度も同時に向上し得る。
特に、本発明の配向性アルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体は、電子線後方散乱回折(EBSD)法でアルミナセラミックスの方位関係を測定した場合、アルミナセラミックスの結晶粒の方位分布は、アルミナセラミックスの結晶粒の特定の結晶方位がスピネルセラミックスとの接合面に対し0°以上90°以下の範囲に配向することによるピークを有し、ピークの位置の±20°の範囲内に特定の結晶方位に配向したアルミナセラミックスの結晶粒が50%以上が存在するように制御されている。このように、アルミナセラミックスが所定の配向性を有しているので、高い機械的強度を維持しつつ、可視透過性を向上させることができる。このような配向性アルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体は、赤外線センサなどの光学窓材、赤外レーザー通信や探知用途などのフィルタに利用され得る。
本発明の配向性アルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体の製造方法は、圧粉成形した多結晶スピネル成形体と、磁場中で成形したアルミナ成形体との積層体とを、1175℃より高く1500℃以下の温度範囲で焼結することを包含する。製造時の磁場の方向を単に制御するだけで上述の配向性アルミナ積層型多結晶スピネルセラミックス焼結体が得られる。
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