特開 2023-168796 投影装置及び投影方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023168796

(43)【公開日】2023-11-29

(54)【発明の名称】投影装置及び投影方法

(51)【国際特許分類】

   F21S 2/00 20160101AFI20231121BHJP

   G01C 15/00 20060101ALI20231121BHJP

   G03B 21/00 20060101ALI20231121BHJP

   G03B 21/14 20060101ALI20231121BHJP

【ＦＩ】

F21S2/00 350

G01C15/00 103D

G03B21/00 D

G03B21/14 A

F21S2/00 310

【審査請求】未請求

【請求項の数】11

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022080117

(22)【出願日】2022-05-16

(71)【出願人】

【識別番号】000220343

【氏名又は名称】株式会社トプコン

(74)【代理人】

【識別番号】100187322

【弁理士】

【氏名又は名称】前川 直輝

(74)【代理人】

【識別番号】100213702

【弁理士】

【氏名又は名称】渡邉 芳則

(72)【発明者】

【氏名】河野 陽

【テーマコード（参考）】

2K203

【Ｆターム（参考）】

2K203FA23

2K203FA25

2K203GA04

2K203HA04

(57)【要約】

【課題】 作業効率を向上させた誘導機能を有する投影装置及び投影方法を提供すること。
【解決手段】測定装置は、光源と、光源から出射された光を前記光源の光軸回りに反射させる反射素子と、光軸回りに配置されて、反射素子により反射された光を被照射体側に反射によって偏向させる偏向部と、被照射体に投影される光に指向性を持たせる指向性付与部と、を備える。
【選択図】図１３

【特許請求の範囲】

【請求項1】

光源と、
前記光源から出射された光を前記光源の光軸回りに反射させる反射素子と、
前記光軸回りに配置されて、前記反射素子により反射された光を被照射体側に反射によって偏向させる偏向部と、
被照射体に投影される光に指向性を持たせる指向性付与部と、
を備える投影装置。

【請求項2】

前記指向性付与部は、出射する光の光線横断面形状に指向性を付与した前記光源である、請求項１に記載の投影装置。

【請求項3】

前記光線横断面形状は、直交する二軸方向を視別可能な２回対称である請求項２に記載の投影装置。

【請求項4】

前記指向性付与部は、複数回の投影により指向性を有する投影像を投影する制御部である請求項１に記載の投影装置。

【請求項5】

前記光源と、前記偏向部である自由曲面を有する反射ミラーと、前記指向性付与部とが設けられる本体部と、
前記反射素子を前記光源から出射される光の光軸上に支持し、前記本体部に接続される透光性カバー部材と、
を備える請求項１に記載の投影装置。

【請求項6】

前記偏向部は、前記光源と前記反射素子との間に配置される請求項１に記載の投影装置。

【請求項7】

前記偏向部である自由曲面は、光軸に対して軸対称に形成される請求項１に記載の投影装置。

【請求項8】

前記光源と、前記偏向部である自由曲面を有する反射ミラーとが設けられる本体部と、
前記反射素子を前記光源から出射される光の光軸上に支持し、前記本体部に接続される透光性カバー部材と、
を備え、
前記自由曲面は、前記光源と前記反射素子との間に配置されて、前記光軸に対して軸対称に形成される、
請求項１に記載の投影装置。

【請求項9】

前記指向性付与部は、出射する光の光線横断面形状を直交する二軸方向を視別可能な２回対称に形成した前記光源である、
請求項８に記載の投影装置。

【請求項10】

前記指向性付与部は、複数回の投影により指向性を有する投影像を投影する制御部である請求項８に記載の投影装置。

【請求項11】

光源と、反射素子と、前記光源から出射される光の光軸回りに配置された偏向部と、指向性付与部とを備える投影装置における投影方法であって、
前記反射素子が、前記光源から出射された光を前記光源の光軸回りに反射し、
前記偏向部が、前記反射素子により反射された光を被照射体側に反射し、
前記指向性付与部が、被照射体に投影される光に指向性を持たせる、
投影方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、投影装置及び投影方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来から、作業現場において作業者を誘導する技術が提案されている。例えば、特許文献１にはＢＩＭ（Ｂｕｉｌｄｉｎｇ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｍｏｄｅｌｉｎｇ）情報の投影装置が開示されている。この投影装置は、レイアウト情報等のイメージをレーザビームにより投影を行い、建設現場における作業者を補助するものとしている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】米国特許第９１２１６９２号明細書

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかし特許文献１の投影装置は、シザーリフトに設置された状態で一軸周りに回転ビームを出射しており、投影可能な範囲が広くない。そのため、作業効率の向上が難しい場合がある。

【0005】

本開示は、作業効率を向上させた誘導機能を有する投影装置及び投影方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記した目的を達成するために、本開示に係る投影装置は、光源と、前記光源から出射された光を前記光源の光軸回りに反射させる反射素子と、前記光軸回りに配置されて、前記反射素子により反射された光を被照射体側に反射によって偏向させる偏向部と、被照射体に投影される光に指向性を持たせる指向性付与部と、を備える。

【0007】

上記した目的を達成するために、本開示に係る投影方法は、光源と、反射素子と、前記光源から出射される光の光軸回りに配置された偏向部と、指向性付与部とを備える投影装置における投影方法であって、前記反射素子が、前記光源から出射された光を前記光源の光軸回りに反射し、前記偏向部が、前記反射素子により反射された光を被照射体側に反射し、前記指向性付与部が、被照射体に投影される光に指向性を持たせる。

【発明の効果】

【0008】

上記手段を用いる本開示に係る投影装置及び投影方法は、作業効率を向上させた誘導を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】実施形態１に係る測定システムの全体構成図である。

【図2】実施形態１の測量装置及び測定装置の制御ブロック図である。

【図3】実施形態１の測定装置の構成図である。

【図4】実施形態１の自由曲面の縦収差図である。

【図5】実施形態１の測定装置による走査範囲の例を示す図である。

【図6】実施形態２の測定装置の構成図である。

【図7】実施形態２の自由曲面の縦収差図である。

【図8】実施形態２の測定装置による走査範囲の例を示す図である。

【図9】実施形態３の測定装置の構成図である。

【図10】実施形態３の自由曲面の縦収差図である。

【図11】実施形態３の測定装置による走査範囲の例を示す図である。

【図12】実施形態４の測定装置の構成図である。

【図13】実施形態５の測定システムを用いた投影システムの構成図である。

【図14】実施形態５の指向性付与部が光源である場合の投影像の例を示す図である。

【図15】実施形態５の指向性付与部が光源である場合の投影像の例を示す図である。

【図16】実施形態５の指向性付与部が光源である場合に投影像を壁面に投影した例を示す図である。

【図17】実施形態５の指向性付与部が測定制御部である場合の投影像の例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

（実施形態１）
以下、本開示の実施形態１を図面に基づき説明する。図１は、実施形態１に係るシステム１の全体構成図である。システム１は、測定装置１００Ａ（１００）と、測量装置２００と、基準座標として設定される既知点であるターゲット３００とを含む測定システムである。なお、以下の説明において、各装置や配置関係は、説明の便宜上模式的に示しており、実際の縮尺と異なってもよい。

【0011】

システム１は、屋外又は屋内において使用可能である。図１では、建設中の建物である構造物４の測定を屋外で行う例を示している。システム１は、測量装置２００によりターゲット３００の座標を測定する。測定装置１００Ａは、構造物４及びその周辺の土地等を点群測定し、ターゲット３００の座標を基準座標とした各点の座標を絶対座標に変換する等として求める。図１の構造物４は、建物の床４１と柱４２を含む。測定装置１００Ａは、移動及び設置が容易であるため、建物の屋内に設置される場合であっても、構造物４の内装（壁、柱、床、窓若しくは天井等の構造物４の内部構造、又は、構造物４内の電気設備若しくは空調機器等の設置物）の点群測定を行って内装の各点についても基準座標を基にした絶対座標で求めることができる。

【0012】

測量装置２００は、例えば、トータルステーションであり、三脚等の脚部に支持され、ターゲット３００までの角度と距離とを測定して測量を行う機能を有する。測量装置２００は、詳細は図示しないが、上記脚部に着脱可能であって整準を行う整準部と、整準部によって整準されて鉛直軸周りに回動可能に設けられた本体部と、本体部に水平軸周りに回動可能に設けられた望遠鏡部とを備える。従って、望遠鏡部は整準部に対して水平軸及び鉛直軸周りに対して回動可能に設けられる。整準は整準部を調整して作業者（又は操作者）による手作業で行ってもよいし、自動整準であってもよい。また、測量装置２００は、測量装置２を制御するためのコンピュータ（不図示）を備える。

【0013】

図２は、測定装置１００Ａ及び測量装置２００の制御ブロック図である。測量装置２００は、測量部２０１、測量記憶部２０２、測量通信部２０３、測量制御部２０４、及び表示部２０５を備える。

【0014】

測量装置２００は、測量装置２００の器械点から測定対象物（本実施形態では、ターゲット３００）までの距離及び基準方向に対する角度を測定して、測定対象物の空間座標を求める。測量部２０１は、測距部２０１ａと測角部２０１ｂとを有する。測距部２０１ａは、測距光を出射する送光部と、送光部からの測距光が照射されてターゲット３００により反射された反射光を受光する受光部とを含む。測距部２０１ａは、例えば、パルスレーザ光である測距光を出射すると共にターゲット３００により反射された反射光を受光することで測量装置２００からターゲット３００までの距離（斜距離）を測定する。なお、測距方式はこのようなパルス方式に限られず、例えばレーザ光の波の数に基づき測距するいわゆる位相差方式等の周知の方式を適用することも可能である。

【0015】

測角部２０１ｂは、測量装置２００の本体部の水平方向の回動角（即ち鉛直軸周りの回転角）を検出する水平角検出部（水平エンコーダ）と、望遠鏡部の鉛直方向の回動角（即ち水平軸周りの回転角）を検出する鉛直角検出部（鉛直エンコーダ）とを有する。望遠鏡部は、ターゲット３００を視準可能な光学系を含む望遠鏡を内部に有する。また、ターゲット３００により反射された光は、望遠鏡の視準軸に沿って導光され、測距部２０１ａにより受光される。

【0016】

測量記憶部２０２は、測量プログラム等の各種プログラム、設計情報２０２ａ、測量情報２０２ｂ（測点及び座標を対応させた測量結果等）、ＧＰＳ時刻、測量装置２００の大きさ（高さ、幅、奥行き等）等の各種データを記憶可能に構成される。

【0017】

測量通信部２０３は、測定装置１００Ａ等の外部機器と通信可能に構成され、例えばＢｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）等の無線通信手段である。なお、測量通信部２０３は、接続端子を介して有線通信手段として機能してもよい。

【0018】

測量制御部２０４は、測量装置２００の本体部を鉛直軸周りの水平方向に回動可能に制御する機能、及び、測量装置２００の望遠鏡部を水平軸周りの鉛直方向に回動可能に制御する機能を有する。測量制御部２０４は、図示しない水平角検出部及び鉛直角検出部により検出された角度（水平角及び鉛直角）、測距部２０１ａにより測定された距離（斜距離）等の各種情報の取得、記憶、演算等を行い、例えば表示部２０５にその取得結果、演算結果を表示する。また、測量制御部２０４は、操作部に対する操作に応じて、又は演算結果に応じて、各部の駆動制御等を行う。

【0019】

表示部２０５は、例えば測量装置２００の本体部の後方部に設けられる。また、測量装置２００は、図示しない操作部を有する。操作部は、各種の動作指示や設定を入力可能な操作手段である。動作指示は、例えば、電源のオン、オフの切替、測量を開始するトリガ、測量モードの切替、測量周期の設定等を含むことができる。また操作部は、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを含んでもよい。表示部２０５がタッチパネルである場合は、表示部２０５と操作部とは一体に形成されていてもよい。

【0020】

図１に示すターゲット３００は、例えば構造物４の柱４２に着脱可能に設けられたコーナーキューブプリズムである。ターゲット３００は、再帰反射特性を有し、測量装置２００から照射される光を入射方向とは反対方向の測量装置２００の方向に反射する。同様に、ターゲット３００は、測定装置１００Ａから照射される光を入射方向とは反対方向の測定装置１００Ａの方向に反射する。

【0021】

なお、ターゲット３００は、その他の再帰反射部材を用いてもよく、例えば、測量装置２００又は測定装置１００Ａから照射された光を反射して測量装置２００又は測定装置１００Ａに反射光を検出させることが可能な程度の強度で反射可能なその他の反射部材（例えば、反射シート又はターゲット板等）であってもよい。また、ターゲット３００は、プリズム等の部材ではなく、構造物４の一部（例えば、床４１又は柱４２等）であってもよい。

【0022】

測定装置１００Ａについて説明する。図３は、測定装置１００Ａの構成図である。なお、図３の測定装置１００Ａは、上下の中心軸に沿って切断した縦断面を模式的に示しており、一部は端面により図示している。

【0023】

測定装置１００Ａは、短円柱状の本体部１２と、本体部１２に接続されたカバー部材１３とを備える。カバー部材１３は、透光性を有し半球面状に形成される。本体部１２には、検出部１４と、偏向部である自由曲面１５１Ａ（１５１）を有する反射ミラー１５Ａ（１５）と、測定制御部１０４（制御部）とが設けられる。検出部１４は、内部に、光源１４１（送光部）と受光部１４２とを含む。検出部１４は、光源１４１から光を外部に出射し、被照射体から反射された光を受光する機能を有する。

【0024】

カバー部材１３は、検出部１４から出射される光の光軸Ａ上に、基台１６１を介して支持された反射素子１６を有する。反射素子１６は、検出部１４の光軸Ａ上に配置される。反射素子１６は、測定制御部１０４によって反射面が制御される。反射素子１６の反射面は、光軸Ａに対する傾斜角度を二軸方向に変更（又は傾動）可能に制御される。換言すると、反射素子１６は、反射面を、光軸Ａに直交する第一の軸周りに傾動制御されるとともに、光軸Ａ及び第一の軸に対して直交するする第二の軸周りに傾動制御される。また、反射素子１６は、例えば、ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｓｙｓｔｅｍｓ）を用いて、又は、モータとＭＥＭＳ若しくはガルバノスキャナと用いて、上記二軸方向の傾動を可能に構成される。モータを用いる構成について例示すると、反射素子１６は、モータにより光軸Ａ周りに回動して光軸Ａと直交する平面（例えば水平面）と平行な第一の面上を走査させ、光軸Ａと直交する軸の周りにＭＥＭＳ又はガルバノスキャナにより回動して光軸Ａを含み第一の面と直交する第二の面上を走査させるように構成される。反射素子１６は、光源１４１から出射されて開口部１５２を介して導光された光を検出部１４の光軸Ａ回りに反射させることができる。

【0025】

自由曲面１５１Ａは、光軸Ａに対して軸対称に、図３の断面視凸湾曲状に形成される。自由曲面１５１Ａは、例えば、球面状、楕円球状又はその他の凸湾曲状に形成される。また、自由曲面１５１Ａは、光軸Ａ上に上下に貫通した開口部１５２を有し、光軸Ａ回りに環状に配置される。図３に示すように、自由曲面１５１Ａは検出部１４と反射素子１６との間に配置される。

【0026】

また、反射ミラー１５Ａの自由曲面１５１Ａは、反射素子１６により反射された光を被照射体（例えば、図１に示す構造物４又は構造物４の周辺の物体等）側に反射する。本実施形態では、自由曲面１５１Ａが、反射素子１６側に凸湾曲状に形成されているため、光源１４１から出射された光は、反射素子１６、自由曲面１５１Ａ及びカバー部材１３を介して測定装置１００Ａの下方側の略半球放射状の領域に外部に出射される。

【0027】

図２を参照して、測定装置１００Ａの制御ブロックについて説明する。測定装置１００Ａは、測定部１０１、測定記憶部１０２、測定通信部１０３、測定制御部１０４、検出部１４、及び反射素子１６を備える。

【0028】

測定装置１００Ａは、測定装置１００Ａの器械点から被照射体（例えば、ターゲット３００又は構造物４、等）までの距離及び基準方向に対する角度を測定して、被照射体の空間座標を求める。測定部１０１は、測距部１０１ａと測角部１０１ｂとを有する。測距部１０１ａは、例えば、光源１４１によって出射されたパルスレーザ光である測距光が被照射体により反射されて、その反射光を受光部１４２により受光することで測定装置１００から被照射体までの距離（斜距離）を測定する。なお、測距方式はこのようなパルス方式に限られず、例えばレーザ光の波の数に基づき測距するいわゆる位相差方式等の周知の方式を適用することも可能である。

【0029】

測角部１０１ｂは、反射素子１６の傾斜角度から、測定装置１００Ａから外部に出射された光の出射角度（例えば、光軸Ａに対する後述の鉛直角θ）を検出する。被照射体により反射された反射光は、出射光の光路に沿って出射時とは反対方向に導光されて受光部１４２に入射する。測角部１０１ｂは、受光部１４２が受光したときに反射素子１６の傾斜角度に対応する測定装置１００Ａから出射される光の出射角度を求める。

【0030】

測定記憶部１０２は、測定プログラム等の各種プログラム、測定情報１０２ａ（測点及び座標を対応させた測定結果等）、ＧＰＳ時刻、測定装置１００Ａの大きさ（高さ、幅、奥行き等）等の各種データを記憶可能に構成される。

【0031】

測定通信部１０３は、測量装置２００等の外部機器と通信可能に構成され、例えばＢｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）等の無線通信手段である。なお、測定通信部１０３は、接続端子を介して有線通信手段として機能してもよい。

【0032】

測定制御部１０４は、測定装置１００Ａの反射素子１６を光軸Ａに対して二軸方向に傾動させる機能、及び、被照射体の空間座標を求める機能を有する。測定制御部１０４は、測角部１０１ｂにより検出された角度（水平角及び鉛直角）、測距部１０１ａにより測定された距離（斜距離）等の各種情報の取得、記憶、演算等を行い、例えば測定記憶部１０２にその取得結果、演算結果を表示する。また、測定制御部１０４は、図示しない端末から測定通信部１０３を介して操作指示を受信することにより当該操作指示に応じて、又は演算結果に応じて、測定装置１００Ａの各部の駆動制御等を行う。

【0033】

図４は、自由曲面１５１Ａの縦収差図である。縦軸は瞳半径方向である瞳径を示している。縦軸の原点は図３の自由曲面１５１Ａの光軸Ａ上に対応し、縦軸の正方向及び負方向は自由曲面１５１Ａの光軸Ａから外周方向である図３の右方向及び左方向にそれぞれ対応する。また、横軸は像面軸（主光線軸である光軸）を示している。横軸の原点は光軸Ａと直交する基準面（例えば、自由曲面１５１Ａと光軸Ａとの交点を含む面、又は、自由曲面１５１Ａと反射素子１６との間の位置における面）に対応し、横軸の正方向は光軸Ａの反射素子１６から光源１４１側へ向かう方向（図３の上方）に対応する。

【0034】

自由曲面１５１Ａの光軸Ａ側から出射される光は収差が大きいため光軸Ａ側の位置の被照射体に照射され、自由曲面１５１Ａの光軸Ａから径方向外側に離れた位置から出射される光は収差が小さくなり光軸Ａから径方向外側に離れた位置の被照射体に照射される。

【0035】

なお、本実施形態では、縦収差図を用いて光線結像関係を模式的に表現して示したが、自由曲面１５１Ａの形状を適宜設定して、測定装置１００Ａとは異なる他の測定装置を構成してもよい。例えば、自由曲面１５１Ａは、瞳全面（反射面の全体）に亘り均一な角度変換率を有する形状であったり、投影面（例えば、図１に示した床４１の表面）にて均等なピッチ（間隔）となるように角度変換効率を変化させる等、用途や目的に応じて自由に設定可能である。従って、反射素子１６（例えば、ＭＥＭＳ）に対する傾動制御は一律に行われた場合であっても、測定装置１００Ａから出射される光線の角度変換率（又は角度変換方向）は任意に設定することができる。

【0036】

次に、光源１４１及び受光部１４２を含む検出部１４と、反射素子１６と、検出部１４の光軸Ａ回りに環状に配置される自由曲面１５１Ａと、測定制御部１０４とを備えるシステム１における測定方法の例（動作例）について説明する。

【0037】

測定制御部１０４は、図１に示す測定装置１００Ａの光源１４１から光（スキャン光）を出射させる。光源１４１から出射された光は、光軸Ａに沿って検出部１４から開口部１５２を通過して反射素子１６に向けて導光される。反射素子１６は光源１４１から出射された光を光軸Ａ回りに反射すると、自由曲面１５１Ａは反射素子１６により反射された光をカバー部材１３を介して被照射体側に反射する。

【0038】

測定制御部１０４は、被照射体から反射された光（戻り光）を自由曲面１５１Ａ及び反射素子１６を介して受光部１４２により受光させて、光の往復時間と出射方向から被照射体の空間位置を検出する。また、測定制御部１０４は、被照射体として設けられた既知点であるターゲット３００を測定する等してターゲット３００の基準座標を検出し、測定記憶部１０２に測定情報１０２ａとして記憶する。測定制御部１０４は、基準座標と他の被照射体との相対位置を算出して他の被照射体の空間座標を求める機能を有する。例えば、測定制御部１０４は、基準座標から他の被照射体の測点までの相対座標（又は位置ベクトル）を求め、基準座標に相対座標を加算することで任意の測点の絶対座標を求めることができる。

【0039】

図５は、測定装置１００Ａによる走査範囲の例を示す図である。図５では、測定装置１００Ａから出射された光を構造物４の床４１に照射している。測定装置１００Ａから出射される光は、測定装置１００Ａの真下に相当する光軸Ａを中心とする所定の立体角φ（光軸Ａに対する出射光の傾斜角度の倍角に相当する）の走査不可領域４１１内には照射されないが、立体角φ以上、且つ、光軸Ａからの鉛直角θ＝９０度程度以下の走査可能領域４１２に照射可能である。図５では、所定の鉛直角θ前後において走査用の光が照射された照射領域４１２ａと光が照射されていない未照射領域４１２ｂとが示されている。

【0040】

また、測定装置１００Ａにおいて、測定制御部１０４は、出射される光を、光軸Ａ周り（図５では床４１の平面視時計回り）に照射領域４１２ａを走査しながら、光軸Ａに対して遠近方向に走査させている。例えば、測定装置１００Ａが出射する光の出射方向は、鉛直角θの最小値から最大値の方向に走査させ、鉛直角θが最大値となったら最小値に戻って繰り返されるように制御される。

【0041】

以上、実施形態１のシステム１では、自由曲面１５１Ａを凸湾曲状に形成したため、反射素子１６の傾動角度が小さい場合であっても測定装置１００Ａから出射される光を広角に出射し被照射体を走査することができる。測定装置１００Ａは、自由曲面１５１Ａは凸反射面を有する為、光軸Ａ上はカバーできない（即ち、図５に示したように光軸Ａ上に走査不可領域４１１が含まれる走査可能領域４１２がドーナツ状に形成される）が、走査可能な角度範囲（Ｓｃａｎ範囲）が拡大する。そのため、測定装置１００Ａは、簡便に構成することができ計測性能を重視しない場合等にも有用である。したがって、測定装置１００Ａは、広範囲に位置する物体の空間位置を簡易な構成で検出することができる。

【0042】

（実施形態２）
次に実施形態２について説明する。本実施形態では、実施形態１の測定装置１００Ａの代わりに測定装置１００Ｂ（１００）を用いる例について説明する。図６は、測定装置１００Ｂの構成図である。図６の測定装置１００Ｂは、上下の中心軸に沿って切断した縦断面を模式的に示しており、一部は端面を示している。測定装置１００Ｂも、図１に示したシステム１に適用することができる。なお、測定装置１００Ｂの説明において、測定装置１００Ａと同様の構成については、同一の符号を付す等して、その説明を省略又は簡略化する。

【0043】

測定装置１００Ｂは、前述の自由曲面１５１Ａを有する反射ミラー１５Ａの代わりに、偏向部である自由曲面１５１Ｂ（１５１）を有する反射ミラー１５Ｂ（１５）を備える。

【0044】

自由曲面１５１Ｂは、光軸Ａに対して軸対称に、図６の断面視凹湾曲状に形成される。自由曲面１５１Ｂは、楕円球面状に形成される。また、自由曲面１５１Ｂは、光軸Ａ上に上下に貫通した開口部１５２を有し、光軸Ａ回りに環状に配置される。自由曲面１５１Ｂは、図６に示すように、検出部１４と反射素子１６との間に配置される。

【0045】

また、反射ミラー１５Ｂの自由曲面１５１Ｂは、反射素子１６により反射された光を被照射体（例えば、図１に示す構造物４又は構造物４の周辺の物体等）側に反射する。本実施形態では、自由曲面１５１Ｂが、反射素子１６側に凹湾曲状に形成されているため、光源１４１から出射された光は、反射素子１６、自由曲面１５１Ｂ及びカバー部材１３を介して測定装置１００Ｂの下方側へ向けて外部に出射される。

【0046】

図７は、自由曲面１５１Ｂの縦収差図である。縦軸は瞳半径方向である瞳径を示している。縦軸の原点は図６の自由曲面１５１Ｂの光軸Ａ上に対応し、縦軸の正方向及び負方向は自由曲面１５１Ｂの光軸Ａから外周方向である図７の右方向及び左方向にそれぞれ対応する。また、横軸は像面軸（主光線軸である光軸）を示している。横軸の原点は光軸Ａと直交する基準面（例えば、自由曲面１５１Ｂと光軸Ａとの交点を含む面、又は、自由曲面１５１Ｂと反射素子１６との間の位置における面）に対応し、横軸の正方向は光軸Ａの反射素子１６から光源１４１側へ向かう方向（図７の上方）に対応する。

【0047】

測定装置１００Ｂの自由曲面１５１Ｂは楕円球面の凹湾曲面状に形成されている。本実施形態では、反射素子１６が自由曲面１５１Ｂの一方の焦点ｆ１に位置しているため、反射素子１６から導光されて自由曲面１５１Ｂの任意の位置で反射された光は、楕円球の他の一方の焦点ｆ２（図８参照）に集光する。そのため、測定装置１００Ｂの収差特性は、図７に示すように、瞳軸の位置に関わらず、焦点ｆ２に対応する位置－Ｆ２で集光する。

【0048】

なお、測定装置１００Ｂから出射された光は、焦点ｆ２で集光した後に拡幅するため（図８参照）、測定装置１００Ｂは自由曲面１５１Ｂを凹湾曲状に形成した場合であっても、所定の立体角φ範囲に位置する被照射体に光を照射することができる。

【0049】

以上、実施形態２の測定装置１００Ｂを使用したシステム１では、自由曲面１５１Ｂを凹湾曲状に形成した。したがって、測定装置１００Ｂは、光軸Ａ上を含む光軸Ａ周辺の領域に対して光を出射することができ、広範囲に位置する物体の空間位置を簡易な構成で検出することができる。

【0050】

（実施形態３）
次に実施形態３について説明する。本実施形態では、実施形態１の測定装置１００Ａの代わりに測定装置１００Ｃ（１００）を用いる例について説明する。図９は、測定装置１００Ｃの構成図である。図９の測定装置１００Ｃは、上下の中心軸に沿って切断した縦断面を模式的に示しており、一部は端面を示している。測定装置１００Ｃも、図１に示したシステム１に適用することができる。なお、測定装置１００Ｃの説明において、測定装置１００Ａと同様の構成については、同一の符号を付す等して、その説明を省略又は簡略化する。

【0051】

測定装置１００Ｃは、前述の自由曲面１５１Ａを有する反射ミラー１５Ａの代わりに、偏向部である自由曲面１５１Ｃ（１５１）を有する反射ミラー１５Ｃ（１５）を備える。

【0052】

自由曲面１５１Ｃは、光軸Ａに対して軸対称に、図９の断面視凹湾曲状に形成される。また、自由曲面１５１Ｃは、光軸Ａ上に上下に貫通した開口部１５２を有し、光軸Ａ回りに円環状に配置される。自由曲面１５１Ｃは、光軸Ａ側に位置して法線を光軸Ａの径方向外側に向けた第一反射領域１５１－１と、光軸Ａの径方向外側に位置して（第一反射領域１５１－１よりも外側に位置して）法線を光軸の径方向内側に向けた第二反射領域１５１－２とを有する。自由曲面１５１Ｃは、図９に示すように、検出部１４と反射素子１６との間に配置される。

【0053】

また、反射ミラー１５Ｃの自由曲面１５１Ｃは、反射素子１６により反射された光を被照射体（例えば、図１に示す構造物４又は構造物４の周辺の物体等）側に反射する。本実施形態では、自由曲面１５１Ｃが、反射素子１６側に凹湾曲状の環状に窪んだドーナツ状に形成されているため、光源１４１から出射された光は、反射素子１６、自由曲面１５１Ｃ及びカバー部材１３を介して測定装置１００Ｃの下方側へ向けて外部に出射される。

【0054】

図１０は、自由曲面１５１Ｃの縦収差図である。縦軸は瞳半径方向である瞳径を示している。縦軸の原点は図９の自由曲面１５１Ｃの光軸Ａ上に対応し、縦軸の正方向及び負方向は自由曲面１５１Ｃの光軸Ａから外周方向である図９の右方向及び左方向にそれぞれ対応する。また、横軸は像面軸（主光線軸である光軸）を示している。横軸の原点は光軸Ａと直交する基準面（例えば、自由曲面１５１Ｃと光軸Ａとの交点を含む面、又は、自由曲面１５１Ｃと反射素子１６との間の位置における面）に対応し、横軸の正方向は光軸Ａの反射素子１６から光源１４１側へ向かう方向（図９の上方）に対応する。

【0055】

測定装置１００Ｃの自由曲面１５１Ｃは環状に凹湾曲面状に形成されている。本実施形態の自由曲面１５１Ｃは、第一反射領域１５１－１が反射素子１６からの光を光軸Ａから径方向外側に拡散方向に反射し、第二反射領域１５１－２が反射素子１６からの光を光軸Ａから径方向内側の集光方向に反射する。

【0056】

図１１は、測定装置１００Ｃによる走査範囲の例を示す図である。測定装置１００Ｃから出射される光は、光軸Ａを中心とする所定の立体角φ１以上、且つ立体角φ２未満の走査可能領域４１２ｃ内、並びに、立体角φ１未満の走査可能領域４１２ｄ及び立体角φ２以上且つ光軸Ａからの鉛直角θが所定の角度以下（例えば、９０度程度以下）の走査可能領域４１２ｄ及び走査可能領域４１２ｅに照射可能である。すなわち、図１１において、測定装置１００Ｃは、光軸Ａ周辺を含む走査可能領域４１２ｄ、４１２ｃ及び４１２ｅの広範囲に連続的に走査することができる。

【0057】

測定装置１００Ｃにおいて、反射素子１６が光源１４１から入射された光Ｌ１（図９参照）を光軸Ａ側の第一反射領域１５１－１から光軸Ａから離間する第二反射領域１５１－２に移動させると、図１１に示すように光軸Ａに対して径方向外側から内側へ向かう第一径方向Ｄ１へ照射位置が移動する。光Ｌ１は、第一径方向Ｄ１に沿って、光軸Ａに対して離間した位置から光軸Ａ上を通過した後に、再び光軸Ａから離間するように移動する。光Ｌ２も同様に、第二径方向Ｄ２に沿って、光軸Ａに対して離間した位置から光軸Ａ上を通過した後に、再び光軸Ａから離間するように移動する。従って、測定装置１００Ｃから出射された光の照射位置は、第一反射領域１５１－１から第二反射領域１５１－２に自由曲面１５１Ｃ上を移動すると、図９の光Ｌ２と軸対称に出射された光Ｌ２の照射位置と光軸Ａ上で点状に重なった後に再び光軸Ａから離間する第二径方向Ｄ２へ移動する。

【0058】

測定装置１００Ｃにおいて、測定制御部１０４は、出射される光を、光軸Ａ周り（図５では床４１の平面視時計回り）に照射領域４１２ａを走査しながら、光軸Ａに対して遠近方向に走査させている。

【0059】

以上、実施形態３の測定装置１００Ｃを使用したシステム１では、自由曲面１５１Ｃを凹湾曲状の環状に窪んだドーナツ状に形成した。そのため、測定装置１００Ｃは、光軸Ａ上及び光軸Ａ周辺の走査を可能としつつ、より広角な範囲も走査することができる。したがって、測定装置１００Ｃは、広範囲に位置する物体の空間位置を簡易な構成で検出することができる。また、測定装置１００Ｃは、被測定対象により散乱されて戻される光束（信号光）に対しては集光作用を有するため、信号品位（又は信号品質）を維持しつつ広範囲な領域を測定することができる。

【0060】

（実施形態４）
次に実施形態４について説明する。本実施形態では、実施形態１の測定装置１００Ａの代わりに測定装置１００Ｄ（１００）を用いる例について説明する。図１２は、測定装置１００Ｄの構成図である。図１２の測定装置１００Ｄは、上下の中心軸に沿って切断した縦断面を模式的に示しており、一部は端面を示している。測定装置１００Ｄも、図１に示したシステム１に適用することができる。なお、測定装置１００Ｄの説明において、測定装置１００Ａと同様の構成については、同一の符号を付す等して、その説明を省略又は簡略化する。

【0061】

測定装置１００Ｄは、前述の自由曲面１５１Ａを有する反射ミラー１５Ａの代わりに、複数の光ファイバー１７１を有する光ファイバー導光部１７、及びマイクロレンズアレイ１８を備える。光ファイバー導光部１７は光の進行方向を任意の方向に偏向させる偏向部として機能する。なお、図１２では、光ファイバー１７１を模式的に示している。

【0062】

光ファイバー導光部１７は、複数の光ファイバー１７１を束ねるように配置されている。本実施形態の光ファイバー１７１は、反射素子１６から出射された光を一方の端部１７１ａから入射させて他の一方の端部１７１ｂから出射させることでマイクロレンズアレイ１８側へ導光するとともに、マイクロレンズアレイ１８側から出射された光を一方の端部１７１ｂから入射させて他の一方の端部１７１ａから出射させることで反射素子１６側へ導光する。光ファイバー１７１の反射素子１６側の一方の端部１７１ａ（入出力端）は一次元方向（例えば、図１２の左右方向、又は、光軸Ａ周りの円周状（ドーナツ状又は円環状））に配列されている。また、光ファイバー１７１のマイクロレンズアレイ１８側の他の一方の端部１７１ｂ（入出力端）は二次元方向に球面状に配列している。

【0063】

マイクロレンズアレイ１８は、光ファイバー導光部１７から出射された光を測定装置１００Ｄの外部へ導光する、又は、外部から入射する光を光ファイバー導光部１７へ導光する、正のレンズパワーを有する複数のマイクロレンズ１８１を含む。各マイクロレンズ１８１は、測定装置１００Ｄのカバー部材１３を外部から見たＰ部拡大図に示すように、光軸方向に見て円形状に形成されている。なお、各マイクロレンズ１８１は、光軸方向に見た円形状に限らず他の形状としてもよく、例えば、ハニカム状に形成される。光ファイバー１７１のマイクロレンズアレイ１８側の端部１７１ｂ及びマイクロレンズアレイ１８は、球面状に配置されている。

【0064】

ここで、測定装置１００Ｄの光路について説明する。測定制御部１０４は、図１２に示す測定装置１００Ｄの光源１４１から光（スキャン光）を出射する。光源１４１から出射された光は、光軸Ａに沿って検出部１４から上方の反射素子１６に向けて導光される。反射素子１６は光源１４１から出射された光を光軸Ａ回りに反射する。反射素子１６は、一次元方向に一列に配列された光ファイバー１７１の端部１７１ａに、光が順次入射されるように、検出部１４から導光された光を反射する。例えば、光ファイバー１７１の端部１７１ａは円周状に配向（配列）しており、反射素子１６は光軸Ａ周りに光を出射させることでこれら端部１７１ａに順次入射させることができる。なお、光ファイバー１７１の端部１７１ａは、二次元方向に（例えば球面状に）配列されていてもよい。

【0065】

端部１７１ａから入射した光は反対側の端部１７１ｂからマイクロレンズアレイ１８に向けて出射する。マイクロレンズアレイ１８の各マイクロレンズ１８１に入射した光は、測定装置１００Ｄの外部に出射される。マイクロレンズアレイ１８から外部に出射された光は、図示しない被照射体側に照射される。

【0066】

また、測定制御部１０４は、出射時の光路とは逆方向に沿って、被照射体から反射された光（戻り光）をマイクロレンズアレイ１８、光ファイバー１７１及び反射素子１６を介して受光部１４２により受光させて、光の往復時間と出射方向から被照射体の空間位置を検出する。被照射体により反射された戻り光は、マイクロレンズアレイ１８の各マイクロレンズ１８１によって集光されて光ファイバーの端部１７１ｂに入射する。したがって、戻り光を効率よく集光（結合）させて受光部１４２まで導光させることが出来る。また、測定制御部１０４は、被照射体として設けられた既知点であるターゲット３００の基準座標を検出する。測定装置１００Ａは、点群データを取得するためのその他の動作については、実施形態１で説明した測定装置１００Ａと同様に行うことができる。

【0067】

以上実施形態４の測定装置１００Ｄは、光ファイバー導光部１７により、光源１４１側から出射された光を反射素子１６による出射角度よりも広角となるように導光することができる。したがって、測定装置１００Ｄは、広範囲に位置する物体の空間位置を簡易な構成で検出することができる。

【0068】

なお、実施形態１～４では、測定装置１００Ａ～１００Ｄ（１００）が光の往復時間と出射方向から被照射体の空間位置を検出する制御部を備える構成について説明したが、システム１の何れかの装置又は機器（例えば、測量装置２００又は測定装置１００若しくは測量装置２００と通信可能に接続された図示しない装置又は機器）が制御部を備えてもよい。

【0069】

以上、実施形態１～４では、光源１４１及び受光部１４２を含む検出部１４と、光源１４１から出射された光を検出部１４の光軸Ａ回りに反射させる反射素子１６と、光軸Ａ回りに配置されて、反射素子１６により反射された光を被照射体側に反射によって偏向させる偏向部（１５１，１７）と、被照射体から反射された光を偏向部（１５１，１７）及び反射素子１６を介して受光部１４２により受光させて、光の往復時間と出射方向から被照射体の空間位置を検出する制御部（１０４）と、を備えるシステム１及び測定装置１００について説明した。

【0070】

また、光源１４１及び受光部１４２を含む検出部１４と、反射素子１６と、検出部１４の光軸Ａ回りに環状に配置される偏向部（１５１，１７）と、制御部（１０４）とを備えるシステム１における測定方法であって、反射素子１６が光源１４１から出射された光を光軸Ａ回りに反射し、偏向部（１５１，１７）が反射素子１６により反射された光を被照射体側に反射によって偏向させ、制御部（１０４）が被照射体から反射された光を偏向部（１５１，１７）及び反射素子１６を介して受光部１４２により受光させて、光の往復時間と出射方向から被照射体の空間位置を検出する、測定方法について説明した。

【0071】

測定装置１００Ａ～１００Ｄは、反射素子１６による光の反射角度とは異なる角度で光を出射して周辺空間の点群測定を行うことができる。したがって、測定装置１００Ａ～１００Ｄ（１００）、システム１（測定システム）及び測定方法によれば、偏向部の構成を適宜設定することで任意の方向の広範囲に位置する物体の空間位置を簡易な構成で検出することができる

【0072】

また、実施形態１～４では、一つの光源１４１から出射された光を周囲に一筆書き状に出射して、略半球状に走査範囲に被測定対象を測定することができる。そのため、測定装置１００の簡易且つコンパクトに構成することができる。

【0073】

（実施形態５）
次に実施形態５について説明する。本実施形態では、実施形態１で説明した測定装置１００Ａ（１００）が作業者等の誘導機能を有する投影装置として機能する構成について説明する。なお、本実施形態の説明において、他の実施形態と同様の構成については、同一の符号を付す等して、その説明を省略又は簡略化する。また、上記の誘導機能を有する構成は、その他の測定装置１００Ｂ～１００Ｄ（１００）のいずれかが備えてもよい。

【0074】

図１３は、システム１を用いた投影システムの構成図である。測定装置１００Ａは、被照射体に投影される光Ｌ３に指向性を付与する指向性付与部を有する。指向性付与部は、光源１４１から出射される光の光線の横断面形状（横断面形状には、輪郭形状の他、光線の模様又は色彩を含んでもよい）に指向性を付与する構成、若しくは、測定制御部１０４が複数回の投影により指向性を有する投影像（「投影パターン」ともいう。）を投影する構成、又はこれらの組み合わせとすることができる。

【0075】

まず、指向性付与部を光源１４１により構成する場合について説明する。指向性付与部として構成される光源１４１は、出射する光の光線横断面形状を非対称に形成する。ここでいう非対称とは、光Ｌ３が被投影対象に投影された場合の投影像４１３が指向性を有している態様をいい、軸対称及び点対称（作業者が視別可能なｎ回対称（ｎは１より大きな整数））の一部の形状が含まれていてもよい。光源１４１から出射される光Ｌ３の横断面形状は、光源１４１内部又は検出部１４の光路に設けたシャッター、スリット、フィルタ、メッシュ、液晶シャッター、ＤＭＤ（デジタルマイクロミラーレンズ）等の光学部材である光調整部により光の一部を遮光して形成することができる。この光調整部は、光路に任意に配置可能に構成されていてもよく、実施形態１～実施形態４で説明した点群測定を行う場合は配置しない構成としてもよい。なお、指向性付与部が、光源１４１から出射される光の光線の横断面形状に指向性を付与する構成では、投光／受光系である検出部１４がモータ駆動等により回転する系では投影像の方位が常に放射状方向を向くこととなり方位又は方角の判別に使用できないため、検出部１４は測定装置１００Ａが設置される空間に対して固定的に配置される。

【0076】

光の横断面形状は、例えば、直交する二軸方向を視別可能な２回対称である。図１３に示される測定装置１００Ａが出射する光Ｌ３は、楕円の横断面形状を有し、被投影対象（前述の被測定対象と同様の対象であってもよい。）である床４１に楕円の投影像４１３ａ（４１３）（「フットプリント」ともいう。）を投影する（図１４の投影像４１３ａも参照）。なお、図１３には、光軸Ａ周りに円形の走査経路４１４上を投影像４１３ａが移動する例を示しており、測定装置１００Ａが光Ｌ３を間欠的に出射することで投影像４１３ａを間欠的に表示することができる。

【0077】

投影像４１３ａは、長軸及び短軸を有するため、作業者等が二方向を視別することができる。そのため、投影像４１３ａの一方向（例えば、長軸方向）を土地の南北方向を向くように設定し、投影像４１３ａの他の一方向（例えば、短軸方向）を土地の東西方向を向くように設定することで、作業者等が容易に方角を把握することができる。

【0078】

なお投影像４１３ａは、間欠的な投影に限らず、走査経路４１４に沿って繋がるように環状に投影されてもよい（不図示）。この場合であっても、投影像４１３ａが被投影対象である床４１に全体として略楕円の外径及び内径を有する指向性を持った形状で投影されるため作業者等が容易に方位（又は方角）を把握することができる。

【0079】

また、図１４に示す投影像４１３ｂ（４１３）は、円形状と正三角形状とを隣接させた複数の図形を組み合わせて投影像４１３ｂ全体として指向性を付与した例を示している。また、図１５に示す投影像４１３ｃ（４１３）は、大きさの異なる円形状（若しくは楕円形状）を隣接させた複数の図形を組み合わせて投影像４１３ｃ全体として指向性を付与した例を示している。投影像４１３ｂ及び投影像４１３ｃは、いずれも非点対称に形成される。投影像４１３ｂ及び投影像４１３ｃは、非点対称に形成されるため、指向される方向（例えば、投影像４１３ｂの場合は正三角形状の頂部が位置する図１４の上方向、又は、投影像４１３ｃの場合は大きい円形状から小さい円形状が配置される図１４の右方やや下方向）を基準方向として、作業者等に容易に方位（又は方角）を把握させることができる。

【0080】

また、図１５に示す投影像４１３ｄ（４１３）は、正四角形の図形の枠内に文字（本実施形態では平仮名文字）を配置して全体として指向性を付与した例を示している。投影像４１３ｄは、非点対称に形成される。そのため、図形の指向する方向（例えば、文字の上方）を基準方向として、作業者等に容易に方位（又は方角）を把握させることができる。なお、投影像４１３ｄに表示させる文字種類は、平仮名以外のその他の種類としてもよいし、複数の種類又は同一の種類の文字を組み合わせてもよい。また、投影像４１３ｄに表示させる文字は複数であってもよい。

【0081】

図１６は、指向性付与部が光源１４１である場合に投影像４１３ｄを壁面４１５に投影した例を示す図である。図１６では、測定装置１００Ａが建物の屋内等の壁に囲われた空間に位置する場合に、投影像４１３ｄが壁面４１５にどのような向きで投影されるかを示している。また、壁面４１５は円筒状に形成されている例を示している。投影像４１３ｄは、光軸Ａを中心とした第一方向Ｄ３と、第一方向Ｄ３に直交する第二方向Ｄ４の対向位置では、互いに上下左右が反転して（換言すれば１８０度回転して）投影される。図１６の例では、基準方向である第一方向Ｄ３の奥方と、文字の上部位置の向きとを一致させている。したがって、壁面４１５の空間内にいる作業者等は、壁面４１５に投影されたいずれかの投影像４１３ｄの向きを確認することで容易に方位（又は方角）を把握させることができる。

【0082】

なお、図１３～１６の投影像４１３ａ～４１１ｄは、説明の便宜のため拡大して図示しているが、実際の大きさ又は形状の比率はこれらとは異なっていてもよい。

【0083】

次に、指向性付与部が測定制御部１０４により構成する場合について説明する。指向性付与部として構成される測定制御部１０４は、測定装置１００Ａから図１３の床４１の平面視における光軸Ａ周りに光Ｌ３が照射されるように制御しながら、光軸Ａを中心とする径方向にも走査しながら、複数回の投影により指向性を有する投影像４１３ｅを投影させる。本実施形態の投影像４１３ｅは、例えば、図１７に示すように直線状の矢印により形成されて指向性を有する。

【0084】

光Ｌ３を複数回走査して投影像を形成することで、投影像４１３ｅを光Ｌ３の断面幅や形状に寄らず、任意の大きさ又は形状で投影することができる。

【0085】

実施形態５では、測定装置１００が投影装置として機能する例について説明したが、測定装置１００は実施形態１～４の点群測定機能を備えない投影装置として構成されていてもよい。

【0086】

また、投影像４１３ａ～４１１ｄの形状は本実施形態で説明した態様に限らない。例えば、投影像４１３は、色彩又は模様に指向性を持たせてもよい。投影像４１３は、上下方向及び左右方向の二軸に対して非対称である形状が望ましいが、上下方向及び左右方向の一方向の軸に対して非対称に構成されていてもよい。

【0087】

以上、実施形態５では、光源１４１と、光源１４１から出射された光を光源１４１の光軸Ａ回りに反射させる反射素子１６と、光軸Ａ回りに配置されて、反射素子１６により反射された光を被照射体側に反射によって偏向させる偏向部（１５１，１７）と、被照射体に投影される光に指向性を持たせる指向性付与部（１４１，１０４）と、を備える投影装置（測定装置１００）について説明した。

【0088】

また、実施形態５では、光源１４１と、反射素子１６と、光源１４１から出射される光の光軸Ａ回りに環状に配置された偏向部（１５１，１７）と、指向性付与部（１４１，１０４）とを備える投影装置（測定装置１００）における投影方法であって、反射素子１６が、光源１４１から出射された光を光源１４１の光軸Ａ回りに反射し、偏向部（１５１，１７）が、反射素子１６により反射された光を被照射体側に反射し、指向性付与部（１４１，１０４）が、被照射体に投影される光に指向性を持たせる投影方法について説明した。

【0089】

これにより、投影装置（１００）及び投影方法は、作業者を特定の座標へ誘導することができる。作業者は、おおよその方位を容易に視認することができるため、現在位置の把握又は特定の作業場所までの方位を把握し、作業効率を向上させることができる。また、施工対象の空間に図面情報を単独で又は投影像４１３と共に転写して、杭打ちの位置又は座標を表示してもよい。

【0090】

以上で本開示の実施形態の説明を終えるが、本開示の態様はこの実施形態に限定されるものではない。

【符号の説明】

【0091】

１ システム
２ 測量装置
４ 構造物
１２ 本体部
１３ カバー部材
１４ 検出部
１５（１５Ａ～１５Ｃ） 反射ミラー
１６ 反射素子
１７ 光ファイバー導光部
１８ マイクロレンズアレイ
４１ 床
４２ 柱
１００（１００Ａ～１００Ｄ） 測定装置
１０１ 測定部
１０１ａ 測距部
１０１ｂ 測角部
１０２ 測定記憶部
１０２ａ 測定情報
１０３ 測定通信部
１０４ 測定制御部
１４１ 光源
１４２ 受光部
１５１（１５１Ａ～１５１Ｃ） 自由曲面
１５１－１ 第一反射領域
１５１－２ 第二反射領域
１５２ 開口部
１６１ 基台
１７１ 光ファイバー
１７１ａ 端部
１７１ｂ 端部
１８１ マイクロレンズ
２００ 測量装置
２０１ 測量部
２０１ａ 測距部
２０１ｂ 測角部
２０２ 測量記憶部
２０２ａ 設計情報
２０２ｂ 測量情報
２０３ 測量通信部
２０４ 測量制御部
２０５ 表示部
３００ ターゲット
４１１ 走査不可領域
４１２ 走査可能領域
４１２ａ 照射領域
４１２ｂ 未照射領域
４１２ｃ～４１２ｅ 走査可能領域
４１３（４１３ａ～４１３ｅ） 投影像
４１４ 走査経路
４１５ 壁面
Ａ 光軸
Ｄ１ 第一径方向
Ｄ２ 第二径方向
Ｄ３ 第一方向
Ｄ４ 第二方向
Ｌ１～Ｌ３ 光
ｆ１ 焦点
ｆ２ 焦点
θ 鉛直角
φ，φ１，φ２ 立体角

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】