特開2023-172338Ｘ線検出器、Ｘ線診断装置及びＸ線検出器の展開状態を通知する方法
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2023172338
(43)【公開日】2023-12-06
(54)【発明の名称】Ｘ線検出器、Ｘ線診断装置及びＸ線検出器の展開状態を通知する方法
(51)【国際特許分類】
A61B 6/00 20060101AFI20231129BHJP
A61B 6/10 20060101ALI20231129BHJP
G01T 7/00 20060101ALI20231129BHJP
【ＦＩ】
A61B6/00 300S
A61B6/00 320M
A61B6/10 353
G01T7/00 A
【審査請求】未請求
【請求項の数】18
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022084049
(22)【出願日】2022-05-23
(71)【出願人】
【識別番号】594164542
【氏名又は名称】キヤノンメディカルシステムズ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100107582
【弁理士】
【氏名又は名称】関根 毅
(74)【代理人】
【識別番号】100196047
【弁理士】
【氏名又は名称】柳本 陽征
(74)【代理人】
【識別番号】100202429
【弁理士】
【氏名又は名称】石原 信人
(72)【発明者】
【氏名】征矢 正治
(72)【発明者】
【氏名】岩井 春樹
(72)【発明者】
【氏名】殿塚 浩規
(72)【発明者】
【氏名】秋元 正人
(72)【発明者】
【氏名】佐藤 弘明
(72)【発明者】
【氏名】西塚 誠一
【テーマコード（参考）】
2G188
4C093
【Ｆターム（参考）】
2G188AA03
2G188BB02
2G188CC22
2G188CC28
2G188DD05
2G188DD10
2G188DD25
2G188DD45
2G188DD47
4C093AA01
4C093CA16
4C093EA12
4C093EB12
4C093EB13
4C093EB17
4C093EB20
4C093EC16
4C093EC51
4C093FA16
4C093FA27
4C093FA53
(57)【要約】
【課題】サイズ可変なＸ線検出器を適切に利用できるようにすることである。
【解決手段】実施形態に係るＸ線検出器は、複数のサイズに展開可能に設けられ、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出するＸ線検出部と、当該Ｘ線検出部の展開状態を検出する展開状態検出部と、検出された前記展開状態に基づく情報を出力する情報出力部と、を備える。
【選択図】図１
【解決手段】実施形態に係るＸ線検出器は、複数のサイズに展開可能に設けられ、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出するＸ線検出部と、当該Ｘ線検出部の展開状態を検出する展開状態検出部と、検出された前記展開状態に基づく情報を出力する情報出力部と、を備える。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数のサイズに展開可能に設けられ、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出するＸ線検出部と、
当該Ｘ線検出部の展開状態を検出する展開状態検出部と、
検出された前記展開状態に基づく情報を出力する情報出力部と、
を備える、Ｘ線検出器。
当該Ｘ線検出部の展開状態を検出する展開状態検出部と、
検出された前記展開状態に基づく情報を出力する情報出力部と、
を備える、Ｘ線検出器。
【請求項2】
前記Ｘ線検出部は、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックを備えており、前記検出ブロックが独立して折り畳み可能に構成され、
前記複数の検出ブロックのうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、前記Ｘ線検出部は複数のサイズに展開可能となる、請求項１に記載のＸ線検出器。
前記複数の検出ブロックのうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、前記Ｘ線検出部は複数のサイズに展開可能となる、請求項１に記載のＸ線検出器。
【請求項3】
前記展開状態検出部は、前記Ｘ線検出部に設けられ、前記複数の検出ブロックの間の歪みを検出することにより、前記Ｘ線検出部の前記展開状態を検出する、請求項２に記載のＸ線検出器。
【請求項4】
前記展開状態検出部は、前記複数の検出ブロックの間の歪みを検出する歪みゲージである、請求項３に記載のＸ線検出器。
【請求項5】
前記歪みゲージは、折り畳み可能に構成された前記複数の検出ブロックの間の近傍に配置される、請求項４に記載のＸ線検出器。
【請求項6】
前記歪みゲージは、折り畳み可能に構成された前記複数の検出ブロックの間上に配置される、請求項４に記載のＸ線検出器。
【請求項7】
前記展開状態検出部は、前記Ｘ線検出部に設けられ、前記複数の検出ブロックの折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わる、スイッチ又はセンサである、請求項２に記載のＸ線検出器。
【請求項8】
前記Ｘ線検出部は、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックを備えており、前記複数の検出ブロックのうち少なくとも１つが収納可能に構成され、
前記複数の検出ブロックのうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に収納されることにより、前記Ｘ線検出部は複数のサイズに展開可能となる、請求項１に記載のＸ線検出器。
前記複数の検出ブロックのうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に収納されることにより、前記Ｘ線検出部は複数のサイズに展開可能となる、請求項１に記載のＸ線検出器。
【請求項9】
前記展開状態検出部は、前記Ｘ線検出部に設けられ、前記複数の検出ブロックの収納状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わる、スイッチ又はセンサである、請求項８に記載のＸ線検出器。
【請求項10】
前記展開状態検出部は、前記Ｘ線検出部と別体に設けられ、前記複数の検出ブロックの展開状態を撮影する撮影装置である、請求項２に記載のＸ線検出器。
【請求項11】
請求項３乃至請求項６のいずれかに記載のＸ線検出器と、
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報として、前記展開状態検出部により検出された前記Ｘ線検出部の歪みに関する情報に基づいて、Ｘ線画像を補正する画像補正部と、
を備える、Ｘ線診断装置。
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報として、前記展開状態検出部により検出された前記Ｘ線検出部の歪みに関する情報に基づいて、Ｘ線画像を補正する画像補正部と、
を備える、Ｘ線診断装置。
【請求項12】
前記画像補正部は、前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、前記Ｘ線画像から前記展開状態検出部を除去するように、前記Ｘ線画像を補正する、請求項１１に記載のＸ線診断装置。
【請求項13】
請求項１乃至請求項１０のいずれかに記載のＸ線検出器と、
前記Ｘ線管から照射されるＸ線の照射範囲を制限するＸ線絞りと、
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、前記展開状態に応じたＸ線の照射範囲となるように、前記Ｘ線絞りを制御して、Ｘ線照射を制御する照射制御部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
前記Ｘ線管から照射されるＸ線の照射範囲を制限するＸ線絞りと、
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、前記展開状態に応じたＸ線の照射範囲となるように、前記Ｘ線絞りを制御して、Ｘ線照射を制御する照射制御部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
【請求項14】
前記照射制御部は、前記Ｘ線の照射範囲に基づいて、前記Ｘ線の照射範囲が、前記Ｘ線検出部の検出範囲に含まれるように、前記Ｘ線絞り、前記Ｘ線管、及び、前記Ｘ線検出器の少なくとも１つを制御して、前記Ｘ線検出器に対するＸ線の照射位置を制御する、請求項１３に記載のＸ線診断装置。
【請求項15】
請求項１乃至請求項１０のいずれかに記載のＸ線検出器と、
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線撮影に関するＸ線条件を変更するＸ線条件変更部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線撮影に関するＸ線条件を変更するＸ線条件変更部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
【請求項16】
請求項１乃至請求項１０のいずれかに記載のＸ線検出器と、
前記Ｘ線管及び前記Ｘ線検出器のうち少なくとも一方を保持するアームと、
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、被検体を載置する寝台と、ユーザ、前記被検体及び前記アームの少なくともいずれかとが、干渉しないように、前記寝台を制御する寝台制御部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
前記Ｘ線管及び前記Ｘ線検出器のうち少なくとも一方を保持するアームと、
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、被検体を載置する寝台と、ユーザ、前記被検体及び前記アームの少なくともいずれかとが、干渉しないように、前記寝台を制御する寝台制御部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
【請求項17】
請求項１乃至請求項１０のいずれかに記載のＸ線検出器と、
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、前記Ｘ線検出部のサイズが所定のサイズであるか否かを判定し、前記Ｘ線検出部のサイズが所定のサイズでない場合、Ｘ線撮影を制限するインターロックを作動させるインターロック部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
前記情報出力部により出力された前記展開状態に基づく情報に基づいて、前記Ｘ線検出部のサイズが所定のサイズであるか否かを判定し、前記Ｘ線検出部のサイズが所定のサイズでない場合、Ｘ線撮影を制限するインターロックを作動させるインターロック部と、をさらに備える、Ｘ線診断装置。
【請求項18】
複数のサイズに展開可能に設けられ、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出するＸ線検出部と、
当該Ｘ線検出部に設けられ、当該Ｘ線検出部の展開状態を検出する展開状態検出部と、
を備えるＸ線検出器の展開状態を通知する方法であって、
前記展開状態検出部により当該Ｘ線検出部の展開状態を検出するステップと、
前記展開状態検出部により検出された展開状態に基づく情報を出力するステップと、
を備えるＸ線検出器の展開状態を通知する方法。
当該Ｘ線検出部に設けられ、当該Ｘ線検出部の展開状態を検出する展開状態検出部と、
を備えるＸ線検出器の展開状態を通知する方法であって、
前記展開状態検出部により当該Ｘ線検出部の展開状態を検出するステップと、
前記展開状態検出部により検出された展開状態に基づく情報を出力するステップと、
を備えるＸ線検出器の展開状態を通知する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本明細書及び図面に開示の実施形態は、Ｘ線検出器、Ｘ線診断装置及びＸ線検出器の展開状態を通知する方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来より、Ｘ線診断装置は、被検体にＸ線を照射し、Ｘ線検出器により、被検体を透過したＸ線を検出することで、Ｘ線画像を生成する。このＸ線診断装置を用いて、Ｘ線撮影を行う場合、ユーザは、検査内容に応じて、複数のサイズのＸ線検出器を使い分ける必要がある。例えば、Ｃアームを備えたＸ線診断装置により、心臓、循環器及び脳の血管などに関する検査を行う場合、検査によっては、被検体に対してＣアームの角度を傾けて、被検体にＸ線を照射するため、ＣアームやＣアームに取り付けられたＸ線管又はＸ線検出器と、寝台などの他の装置とが干渉しないように、又は、ＣアームやＣアームに取り付けられたＸ線管又はＸ線検出器と、人とが干渉しないように、小さいサイズのＸ線検出器を使用することが望まれる。一方、腹部や泌尿器などに関する検査を行う場合、撮影対象領域が大きいため、大きいサイズのＸ線検出器を使用することが望まれる。
【0003】
近年、検査内容に応じて、１のＸ線検出器を、複数のサイズのＸ線検出器に可変できるようにするため、ユーザがＸ線検出器を折り畳むことにより、検査内容に適したサイズに可変できる、折り畳み式のＸ線検出器が存在する。この折り畳み式のＸ線検出器を利用して、Ｘ線撮影を行う場合、Ｘ線診断装置は、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を制御するため、現在のＸ線検出器のサイズを把握する必要がある。
【0004】
しかし、複数のサイズに可変なＸ線検出器を用いる場合、Ｘ線診断装置の制御が複雑になることから、現在のＸ線検出器のサイズを把握できないことがある。このように、現在のＸ線検出器のサイズを把握できない場合、Ｘ線の照射範囲が把握できず、Ｘ線の照射範囲を適切に制御できないという問題が生じる。また、現在のＸ線検出器のサイズを把握できない場合、寝台の可動領域が把握できず、Ｘ線検出器のサイズが一番大きい場合を想定して寝台を制御することとなり、寝台の可動範囲が狭くなる。すなわち、寝台の可動領域を適切に制御できないという問題も生じる。また、これらの問題は、折り畳み式のＸ線検出器のみならず、サイズ可変な他のＸ線検出器においても同様に生じている。このため、サイズ可変なＸ線検出器を使用して、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を適切に制御すること、すなわち、サイズ可変なＸ線検出器を適切に利用できるようにすることが望まれている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開２００３－３３９６８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、サイズ可変なＸ線検出器を適切に利用できるようにすることである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記の課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。
【課題を解決するための手段】
【0007】
実施形態に係るＸ線検出器は、複数のサイズに展開可能に設けられ、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出するＸ線検出部と、当該Ｘ線検出部の展開状態を検出する展開状態検出部と、検出された前記展開状態に基づく情報を出力する情報出力部と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】第１実施形態に係るＸ線診断装置の構成例を示すブロック図。
【図2】第１実施形態に係るＸ線検出部の構成例を示す図。
【図3】第１実施形態に係る展開状態検出部の構成例を示す図。
【図4】第１実施形態に係るＸ線検出部のサイズが１６×１６ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図。
【図5】第１実施形態に係るＸ線検出部のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図。
【図6】第１実施形態に係るＸ線検出部のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合におけるＸ線検出部を折り畳んだ状態を示す図。
【図7】第１実施形態に係るＸ線検出部のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図。
【図8】第１実施形態に係るＸ線検出部のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている場合におけるＸ線検出部を折り畳んだ状態を示す図。
【図9】第１実施形態に係るＸ線検出部のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図。
【図10】第１実施形態に係るＸ線検出部のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合におけるＸ線検出部を折り畳んだ状態を示す図。
【図11】第１実施形態に係るＸ線検出部の各サイズにおける、Ｘ線検出部の中心位置を示す図。
【図12】第１実施形態に係るＸ線診断装置で実行されるＸ線照射制御処理の内容を説明するフローチャート図。
【図13】第１実施形態に係るＸ線診断装置で実行されるインターロック制御処理の内容を説明するフローチャート図。
【図14】変形例１に係るＸ線検出器における展開状態検出部の構成例を示す図。
【図15】変形例２に係るＸ線検出器における展開状態検出部の構成例を示す図。
【図16】変形例２に係るＸ線検出部の折り畳み状態における展開状態検出部の状態を示す図。
【図17】変形例２に係るＸ線検出部の展開状態における展開状態検出部の状態を示す図。
【図18】変形例３に係るＸ線検出器における展開状態検出部の構成例を示す図。
【図19】変形例３に係るＸ線検出部の折り畳み状態における展開状態検出部の状態を示す図。
【図20】変形例３に係るＸ線検出部の展開状態における展開状態検出部の状態を示す図。
【図21】変形例４に係るＸ線検出器における、Ｘ線検出部の構成例を示す図。
【図22】第２実施形態に係るＸ線診断装置の構成例を示すブロック図。
【図23】第２実施形態に係るＸ線検出部の構成例を示す図。
【図24】第２実施形態に係るＸ線検出器において、Ｘ線検出部が収納状態から展開状態へ移行する流れを説明する図。
【図25】第２実施形態に係るＸ線検出器における展開状態検出部の構成例を示す図。
【図26】第２実施形態に係るＸ線検出部の収納状態における展開状態検出部の状態を示す図。
【図27】第２実施形態に係るＸ線検出部の展開状態における展開状態検出部の状態を示す図。
【図28】変形例５に係るＸ線診断装置の構成例を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、図面を参照しながら、Ｘ線検出器、Ｘ線診断装置及びＸ線検出器の展開状態を通知する方法の実施形態について説明する。なお、以下の説明において、実質的に同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行うこととする。
【0010】
〔第１実施形態〕
図１は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の構成例を示すブロック図である。図１に示すＸ線診断装置１は、例えば、Ｃアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置である。なお、本実施形態に係るＸ線診断装置１は、Ｃアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置に限られず、例えば、Ｃアーム以外のアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置やＸ線アンギオ装置、一般Ｘ線撮影装置など、任意の型のＸ線診断装置として実現可能である。以下の説明では、Ｘ線診断装置１がＣアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置である例について説明する。
図１は、第１実施形態に係るＸ線診断装置の構成例を示すブロック図である。図１に示すＸ線診断装置１は、例えば、Ｃアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置である。なお、本実施形態に係るＸ線診断装置１は、Ｃアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置に限られず、例えば、Ｃアーム以外のアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置やＸ線アンギオ装置、一般Ｘ線撮影装置など、任意の型のＸ線診断装置として実現可能である。以下の説明では、Ｘ線診断装置１がＣアームを備えたＸ線ＴＶ寝台装置である例について説明する。
【0011】
図１に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線高電圧装置１１と、Ｘ線管１３と、Ｘ線絞り器１５と、寝台１７と、Ｃアーム１９と、Ｘ線検出器２１と、メモリ２３と、ディスプレイ２５と、入力インターフェース２７と、処理回路２９とを備える。
【0012】
Ｘ線高電圧装置１１は、処理回路２９の制御の下、Ｘ線管１３に高電圧を供給する。例えば、Ｘ線高電圧装置１１は、変圧器（トランス）及び整流器等の電気回路を有し、Ｘ線管１３に印加する高電圧を発生する高電圧発生装置と、Ｘ線管１３が照射するＸ線に応じた出力電圧の制御を行うＸ線制御装置とを有する。なお、高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であってもよい。
【0013】
Ｘ線管１３は、熱電子を発生する陰極（フィラメント）と、熱電子の衝突を受けてＸ線を発生する陽極（ターゲット）とを有する真空管である。Ｘ線管１３は、Ｘ線高電圧装置１１から供給される高電圧を用いて、陰極から陽極に向けて熱電子を照射することにより、Ｘ線を発生する。例えば、Ｘ線管１３には、回転する陽極に熱電子を照射することで、Ｘ線を発生する回転陽極型のＸ線管がある。
【0014】
Ｘ線絞り器１５は、鉛板等の金属板で構成される。Ｘ線絞り器１５は、処理回路２９の制御の下、Ｘ線管１３が発生したＸ線の絞りを行い、被検体Ｐに照射するＸ線の範囲を制御する。すなわち、Ｘ線絞り器１５の絞りを絞ることにより、Ｘ線の照射範囲を狭くすることができ、逆に、Ｘ線絞り器１５の絞りを開くことにより、Ｘ線の照射範囲を広くすることができる。なお、Ｘ線絞り器１５は、コリメータと呼ばれる場合もある。
【0015】
寝台１７は、被検体Ｐを載せるベッドであり、図示しない寝台駆動装置の上に配置される。なお、被検体Ｐは、Ｘ線診断装置１に含まれない。例えば、寝台駆動装置は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路２９による制御の下、駆動機構を動作させることにより、寝台１７の移動・傾斜を制御する。例えば、寝台駆動装置は、処理回路２９から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、寝台１７を移動させたり、傾斜させたりする。
【0016】
Ｃアーム１９は、Ｘ線管１３及びＸ線絞り器１５と、Ｘ線検出器２１とを、被検体Ｐを挟んで対向するように保持する。例えば、Ｃアーム１９は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、処理回路２９による制御の下、駆動機構を動作させることにより、回転したり移動したりする。例えば、Ｃアーム１９は、処理回路２９から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、Ｘ線管１３及びＸ線絞り器１５と、Ｘ線検出器２１とを被検体Ｐに対して回転及び／又は移動させ、Ｘ線の照射位置や照射角度を制御する。Ｃアーム１９は、本実施形態に係るアームに相当する。
【0017】
Ｘ線検出器２１は、例えば、マトリクス状に配列されたＸ線検出素子を有するＸ線平面検出器（Flat Panel Detector：ＦＰＤ）である。Ｘ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出して、検出したＸ線量に対応した検出信号を処理回路２９へと出力する。なお、Ｘ線検出器２１は、グリッド、シンチレータアレイ及び光センサアレイを有する間接変換型の検出器であってもよいし、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であってもよい。図１に示すように、本実施形態に係るＸ線検出器２１は、Ｘ線検出部２１１と、展開状態検出部２１３と、情報出力部２１５とを備える。
【0018】
Ｘ線検出部２１１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出する。本実施形態に係るＸ線検出部２１１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックを備えており、これらの検出ブロックが独立して折り畳み可能に構成されている。この複数の検出ブロックのそれぞれは、１又は複数のＸ線検出素子を有している。
【0019】
図２は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１の構成例を示す図である。この図２において、一点鎖線は、Ｘ線検出部２１１の折り目Ｌ１~Ｌ４を表し、太い破線は、Ｘ線検出部２１１の切れ目を表している。また、図２において、細い破線は、Ｘ線検出部２１１を縦横に分割する仮想線である。図２において、説明の便宜上、折り目Ｌ１~Ｌ４を表す一点鎖線、及び、切れ目を表す太い破線は、仮想線を表す細い破線からずれているが、実際は、折り目を表す一点鎖線、及び、切れ目を表す太い破線は、仮想線を表す細い破線の上に位置する。
【0020】
図２に示すように、本実施形態に係るＸ線検出部２１１は、正方形状であり、１６個の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備えている。本実施形態において、１個の検出ブロックは、例えば、４×４ｉｎｃｈの正方形状の検出ブロックである。すなわち、図２において、Ｘ線検出部２１１のサイズは、１６×１６ｉｎｃｈである。
【0021】
また、Ｘ線検出部２１１は、使用されない検出ブロックをＸ線が照射されない位置に折り畳むための折り畳み機構を有する。本実施形態においては、Ｘ線検出部２１１は、折り畳み機構として、蝶番を有し、この蝶番により、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間は、折り畳み可能に接続されている。そして、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックが、蝶番により、折り目Ｌ１~Ｌ４を軸として、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部２１１は複数のサイズに展開可能となる。このＸ線が照射されない位置とは、例えば、使用される検出ブロックの背面側や、検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置などである。なお、Ｘ線検出部２１１は、折り畳み機構として、蝶番を有することとしたが、折り畳み機構は蝶番に限られない。すなわち、折り畳み機構の構成は任意である。
【0022】
また、図２に示す例では、Ｘ線検出部２１１が１６個の検出ブロックを備えているが、Ｘ線検出部２１１が備える検出ブロックの数は任意である。すなわち、Ｘ線検出部２１１は、２個以上かつ１５個以下の検出ブロックを備えていてもよく、１６個以上の検出ブロックを備えていてもよい。また、図２に示す例では、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６は正方形状であるが、検出ブロックの形状は任意である。例えば、検出ブロックは長方形状等であってもよい。
【0023】
展開状態検出部２１３は、Ｘ線検出部２１１に設けられ、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出する。展開状態検出部２１３は、例えば、歪みゲージやマイクロスイッチなどのセンサにより構成される。
【0024】
図３は、本実施形態に係る展開状態検出部２１３の構成例を示す図である。この図３は、図２におけるＸ線検出部２１１の背面側から見た図である。すなわち、図３に示す展開状態検出部２１３は、例えば、Ｘ線検出部２１１の背面側に配置されている。図３に示すように、本実施形態に係る展開状態検出部２１３は、８個の歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８により構成されている。また、図３において、歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８は、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間上に配置されている。この複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間上とは、図３に示すように、例えば、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の一点鎖線で示される折り目Ｌ１~Ｌ４上である。本実施形態に係る展開状態検出部２１３は、Ｘ線検出部２１１に設けられた歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８が、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間上に配置され、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の歪みを検出することにより、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出する。
【0025】
なお、図３に示す例では、展開状態検出部２１３は、８個の歪みゲージを備えているが、展開状態検出部２１３が備える歪みゲージの個数は任意である。すなわち、Ｘ線検出部２１１の構成に応じて、７個以下の歪みゲージを備えてもよく、９個以上の歪みゲージを備えていてもよい。
【0026】
情報出力部２１５は、展開状態検出部２１３により検出されたＸ線検出部２１１の展開状態に基づく情報を処理回路２９に出力する。展開状態に基づく情報とは、展開状態検出部２１３により検出された検出結果であり、本実施形態においては、例えば、展開状態検出部２１３である歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８により検出された歪み量などである。
【0027】
メモリ２３は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。例えば、メモリ２３は、処理回路２９によって収集された各種のデータなどを受け付けて記憶する。また、メモリ２３は、Ｘ線診断装置１に含まれる回路によって実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。なお、メモリ２３は、Ｘ線診断装置１とネットワークを介して接続されたサーバ群（クラウド）により実現されることとしてもよい。
【0028】
ディスプレイ２５は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ２５は、処理回路２９による制御の下、予めユーザにより設定されるユーザ設定情報を設定するための画面や、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩ（Graphical User Interface）、各種の画像を表示する。例えば、ディスプレイ２５は、液晶ディスプレイやＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイである。なお、ディスプレイ２５はデスクトップ型でもよいし、処理回路２９と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。ここで、ユーザ設定情報とは、予めユーザにより設定されるＸ線検出器２１の視野サイズなどの情報である。また、視野サイズとは、Ｘ線撮影においてＸ線検出器２１からデータを収集する範囲であり、通常、複数の視野サイズが設定されているため、ユーザは、検査内容に応じて、所望の視野サイズを選択することになる。
【0029】
入力インターフェース２７は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路２９に出力する。例えば、入力インターフェース２７は、マウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、音声入力回路等により実現される。なお、入力インターフェース２７は、処理回路２９と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、入力インターフェース２７は、マウスやキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、Ｘ線診断装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路２９へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース２７の例に含まれる。
【0030】
処理回路２９は、Ｘ線診断装置１の全体的な制御を行う制御回路であり、また、各種演算を行う演算回路でもある。例えば、本実施形態に係る処理回路２９は、照射制御機能２９１と、Ｘ線条件変更機能２９２と、画像生成機能２９３と、画像補正機能２９４と、インターロック機能２９５と、寝台制御機能２９６とを有する。照射制御機能２９１は、本実施形態に係る照射制御部に相当しており、Ｘ線条件変更機能２９２は、本実施形態に係るＸ線条件変更部に相当しており、画像生成機能２９３は、本実施形態に係る画像生成部に相当しており、画像補正機能２９４は、本実施形態に係る画像補正部に相当しており、インターロック機能２９５は、本実施形態に係るインターロック部に相当しており、寝台制御機能２９６は、本実施形態に係る寝台制御部に相当している。
【0031】
図１における実施形態では、照射制御機能２９１と、Ｘ線条件変更機能２９２と、画像生成機能２９３と、画像補正機能２９４と、インターロック機能２９５と、寝台制御機能２９６とにて行われる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態でメモリ２３に格納されている。処理回路２９はプログラムをメモリ２３から読み出し、実行することで、各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。なお、図１においては、単一の処理回路２９にて、照射制御機能２９１と、Ｘ線条件変更機能２９２と、画像生成機能２９３と、画像補正機能２９４と、インターロック機能２９５と、寝台制御機能２９６とが実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路２９を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより、これらの機能を実現するものとしても構わない。
【0032】
【0033】
図４は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが１６×１６ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図である。なお、図４において、ドット状のハッチングは、Ｘ線検出部２１１のサイズが１６×１６ｉｎｃｈに展開されている場合に使用される検出ブロックを示す。また、図４に示す黒丸印は、Ｘ線検出部２１１の展開状態が１６×１６ｉｎｃｈである場合における、Ｘ線検出部２１１の中心位置ＣＰ１を示す。
【0034】
図４に示すように、Ｘ線検出部２１１のサイズが１６×１６ｉｎｃｈに展開されている場合、Ｘ線検出部２１１の全ての検出ブロックがＸ線撮影に使用される。また、Ｘ線検出部２１１のサイズが１６×１６ｉｎｃｈに展開されている場合、検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれていないことから、本実施形態に係る展開状態検出部２１３である歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８は、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の歪みを検出しない。そのため、情報出力部２１５は、展開状態に基づく情報として、歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８の歪み量が０であることを処理回路２９に出力する。
【0035】
図５は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図であり、図５（ａ）は、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合に使用される検出ブロックを示す図であり、図５（ｂ）は、図５（ａ）におけるＡ－Ａ断面図である。図６は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合におけるＸ線検出部２１１を折り畳んだ状態を示す図である。図５（ａ）及び図６において、ドット状のハッチングは、使用される検出ブロックを示す。また、図５（ａ）に示す黒丸印は、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈである場合における、Ｘ線検出部２１１の中心位置ＣＰ２を示す。さらに、図５（ａ）に示すように、歪みゲージＳＧ２、ＳＧ３、ＳＧ５、ＳＧ７、ＳＧ８は、Ｘ線検出部２１１の背面側に配置されているため、破線で表されている。また、図５（ｂ）に示す矢印は、Ｘ線の照射方向を示している。
【0036】
図５（ａ）に示すように、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合、検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３以外の検出ブロックがＸ線撮影に使用される。すなわち、図５（ｂ）に示すように、使用されない検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３は、蝶番２１７により、折り目Ｌ１を軸として、Ｘ線が照射されない位置である、検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置に折り畳まれる。
【0037】
また、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合、検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることから、本実施形態に係る展開状態検出部２１３である歪みゲージＳＧ１、ＳＧ４、ＳＧ６は、複数の検出ブロックの間の歪みを検出し、歪みゲージＳＧ２、ＳＧ３、ＳＧ５、ＳＧ７、ＳＧ８は、複数の検出ブロックの間の歪みを検出しない。そのため、図５において、情報出力部２１５は、展開状態に基づく情報として、歪みゲージＳＧ１、ＳＧ４、ＳＧ６の歪み量が所定の歪み量であり、歪みゲージＳＧ２、ＳＧ３、ＳＧ５、ＳＧ７、ＳＧ８の歪み量が０であることを処理回路２９に出力する。そして、図６に示すように、検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれ、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈの展開されている状態において、Ｘ線検出器２１は、Ｃアーム１９に取り付けられる。
【0038】
なお、図５（ａ）に示す例においては、検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されていたが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれる検出ブロックは、検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３に限られない。すなわち、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されるために、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれる検出ブロックは任意である。例えば、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されるために、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ４が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれてもよく、検出ブロックＤＢ４、ＤＢ８、ＤＢ１２、ＤＢ１６が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれてもよく、検出ブロックＤＢ１３～ＤＢ１６が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれてもよい。
【0039】
図７は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図であり、図７（ａ）は、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている場合に使用される検出ブロックを示す図であり、図７（ｂ）は、図７（ａ）におけるＢ－Ｂ断面図であり、図７（ｃ）は、図７（ａ）におけるＣ－Ｃ断面図である。また、図８は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている場合におけるＸ線検出部２１１を折り畳んだ状態を示す図である。図７（ａ）及び図８において、ドット状のハッチングは、使用される検出ブロックを示す。また、図７（ａ）に示す黒丸印は、Ｘ線検出部２１１の展開状態が１２×１２ｉｎｃｈである場合における、Ｘ線検出部２１１の中心位置ＣＰ３を示す。さらに、図７（ａ）に示すように、歪みゲージＳＧ５、ＳＧ７、ＳＧ８は、Ｘ線検出部２１１の背面側に配置されているため、破線で表されている。また、図７（ｂ）及び図７（ｃ）に示す矢印は、Ｘ線の照射方向を示している。
【0040】
図７（ａ）に示すように、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている場合、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３以外の検出ブロックがＸ線撮影に使用される。すなわち、図７（ｂ）に示すように、使用されない検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３は、蝶番２１７により、折り目Ｌ１を軸として、Ｘ線が照射されない位置である、検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置に折り畳まれる。また、図７（ｃ）に示すように、使用されない検出ブロックＤＢ２、ＤＢ３、ＤＢ４も、蝶番２１７により、折り目Ｌ２を軸として、Ｘ線が照射されない位置である、検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置に折り畳まれる。
【0041】
また、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈである場合、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることから、本実施形態に係る展開状態検出部２１３である歪みゲージＳＧ１、ＳＧ２、ＳＧ３、ＳＧ４、ＳＧ６は、複数の検出ブロックの間の歪みを検出し、歪みゲージＳＧ５、ＳＧ７、ＳＧ８は、複数の検出ブロックの間の歪みを検出しない。そのため、図７において、情報出力部２１５は、展開状態に基づく情報として、歪みゲージＳＧ１、ＳＧ２、ＳＧ３、ＳＧ４、ＳＧ６の歪み量が所定の歪み量であり、歪みゲージＳＧ５、ＳＧ７、ＳＧ８の歪み量が０であることを、処理回路２９に出力する。そして、図８に示すように、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれ、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている状態において、Ｘ線検出器２１は、Ｃアーム１９に取り付けられる。
【0042】
なお、図７（ａ）に示す例においては、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されていたが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれる検出ブロックは、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３に限られない。すなわち、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されるために、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれる検出ブロックは任意である。例えば、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されるために、検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３～ＤＢ１６が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれてもよく、検出ブロックＤＢ１～ＤＢ４、ＤＢ８、ＤＢ１２、ＤＢ１６が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれてもよく、検出ブロックＤＢ４、ＤＢ８、ＤＢ１２～ＤＢ１６が、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれてもよい。
【0043】
図９は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合を示す図であり、図９（ａ）は、Ｘ線検出部２１１のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合に使用される検出ブロックを示す図であり、図９（ｂ）は、図９（ａ）におけるＤ－Ｄ断面図であり、図９（ｃ）は、図９（ａ）におけるＥ－Ｅ断面図である。また、図１０は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合におけるＸ線検出部２１１を折り畳んだ状態を示す図である。図９（ａ）及び図１０において、ドット状のハッチングは、使用される検出ブロックを示す。また、図９（ａ）に示す黒丸印は、Ｘ線検出部２１１のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合における、Ｘ線検出部２１１の中心位置ＣＰ４を示す。また、図９（ｂ）及び図９（ｃ）に示す矢印は、Ｘ線の照射方向を示している。
【0044】
図９（ａ）に示すように、本実施形態に係るＸ線検出部２１１のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合、検出ブロックＤＢ６、ＤＢ７、ＤＢ１０、ＤＢ１１がＸ線撮影に使用されることを示している。すなわち、図９（ｂ）に示すように、使用されない検出ブロックＤＢ１、ＤＢ５、ＤＢ９、ＤＢ１３は、蝶番２１７により、折り目Ｌ１を軸として、Ｘ線が照射されない位置である、検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置に折り畳まれ、使用されない検出ブロックＤＢ４、ＤＢ８、ＤＢ１２、ＤＢ１６は、蝶番２１７により、折り目Ｌ３を軸として、Ｘ線が照射されない位置である検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置に折り畳まれる。また、図９（ｃ）に示すように、使用されない検出ブロックＤＢ２、ＤＢ３も、蝶番２１７により、折り目Ｌ２を軸として、Ｘ線が照射されない位置である、検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置に折り畳まれ、使用されない検出ブロックＤＢ１４、ＤＢ１５も、蝶番２１７により、折り目Ｌ４を軸として、Ｘ線が照射されない位置である、検出ブロックのＸ線の検出面が、Ｘ線の照射方向に対して平行となる位置に折り畳まれる。
【0045】
また、Ｘ線検出部２１１のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合、検出ブロックＤＢ６、ＤＢ７、ＤＢ１０、ＤＢ１１以外の検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることから、本実施形態に係る展開状態検出部２１３である歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８の全てが、複数の検出ブロックの間の歪みを検出する。そのため、図９において、情報出力部２１５は、展開状態に基づく情報として、全ての歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８の歪み量が所定の歪み量であることを、処理回路２９に出力する。そして、図８に示すように、検出ブロックＤＢ６、ＤＢ７、ＤＢ１０、ＤＢ１１以外の検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれ、Ｘ線検出部２１１が８×８ｉｎｃｈの展開状態において、Ｘ線検出器２１は、Ｃアーム１９に取り付けられる。
【0046】
なお、本実施形態に係るＸ線検出部２１１は、複数のサイズとして、１６×１６ｉｎｃｈ、１２×１６ｉｎｃｈ、１２×１２ｉｎｃｈ、８×８ｉｎｃｈに展開されたが、Ｘ線検出部２１１のサイズはこれに限られない。すなわち、Ｘ線検出部２１１の展開可能なサイズは任意であり、例えば、Ｘ線検出部２１１は、８×１２ｉｎｃｈや８×１６ｉｎｃｈなどに展開されるようにしてもよい。
【0047】
また、検出ブロックが、Ｘ線撮影に使用される場合、すなわち、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれていない場合に、歪みゲージが検出する歪み量は０でなくてもよい。すなわち、検出ブロックが折り畳まれていない場合であっても、歪みゲージが、検出ブロックが折り畳まれていると判断される所定の歪み量未満の歪み量を検出してもよい。
【0048】
図１１は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１の各サイズにおける、Ｘ線検出部２１１の中心位置を示す図である。図１１に示すように、Ｘ線検出部２１１のサイズが１６×１６ｉｎｃｈに展開されている場合の中心位置ＣＰ１と、Ｘ線検出部２１１のサイズが８×８ｉｎｃｈに展開されている場合の中心位置ＣＰ４とは同一であるが、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１６ｉｎｃｈに展開されている場合の中心位置ＣＰ２と、Ｘ線検出部２１１のサイズが１２×１２ｉｎｃｈに展開されている場合の中心位置ＣＰ３とは、それぞれ中心位置が異なる。このＸ線検出部２１１の各サイズにおける中心位置ＣＰ１～ＣＰ４のそれぞれには、例えば、磁石が設けられる。また、このＸ線検出器２１が取り付けられるＣアーム１９には、Ｘ線検出器２１を取り付けた際に、Ｘ線検出部２１１の中心位置が、Ｘ線管１３の焦点位置の正面となる位置に、Ｘ線検出器２１を保持する保持部が設けられている。ユーザは、所定のサイズに展開されたＸ線検出部２１１をＣアームに取り付ける際に、所定のサイズに展開されたＸ線検出部２１１の中心位置に設けられた磁石が、Ｃアーム１９に設けられた保持部に取り付けられるように、Ｃアーム１９にＸ線検出器２１を取り付ける。これにより、所定のサイズに展開されたＸ線検出器２１をＣアーム１９に取り付けた場合であっても、アライメントを維持することができる。
【0049】
なお、Ｃアーム１９にＸ線検出器２１を取り付けるためにＸ線検出部２１１の各サイズにおける中心位置ＣＰ１～ＣＰ４のそれぞれに設けられるものは、磁石に限られない。すなわち、Ｃアーム１９にＸ線検出器２１を取り付けるためにＸ線検出部２１１の各サイズにおける中心位置ＣＰ１～ＣＰ４のそれぞれに設けられるものは任意であり、例えば、接続端子などを設けるようにしてもよい。
【0050】
図１２は、本実施形態に係るＸ線診断装置１で実行されるＸ線照射制御処理の内容を説明するフローチャート図である。このＸ線照射制御処理では、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出器２１をユーザに取り付けさせ、取り付けられたＸ線検出部２１１の展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線条件を変更したり、Ｘ線の照射範囲やＸ線の照射位置を制御したり、Ｘ線画像を補正したりする。例えば、このＸ線照射制御処理は、ユーザが、入力インターフェース２７を介して、撮影プロトコルを入力した場合に実行される処理である。この撮影プロトコルとは、例えば、撮影の目的、検査の種類、及び、撮影方法などの撮影に関わる一連のプログラムセットである。
【0051】
図１２に示すように、まず、Ｘ線診断装置１は、ユーザにＸ線検出器２１が取り付けられるまで待機する（ステップＳ１１）。具体的には、ユーザは、撮影プロトコルに基づいて、展開可能な複数のサイズのうち、１のサイズに展開したＸ線検出器２１をＸ線診断装置１に取り付ける。
【0052】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出させる（ステップＳ１３）。この展開状態を検出させる処理は、処理回路２９における照射制御機能２９１により実現させる。具体的には、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３である歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８により、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出させる。
【0053】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出部２１１の展開状態に基づく情報を出力させる（ステップＳ１５）。この展開状態を出力させる処理は、処理回路２９における照射制御機能２９１により実現させる。具体的には、Ｘ線診断装置１は、ステップＳ１３で検出したＸ線検出部２１１の展開状態に基づく情報を、Ｘ線検出器２１の情報出力部２１５を介して、処理回路２９に出力させる。
【0054】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線条件を変更する（ステップＳ１９）。このＸ線条件を変更する処理は、処理回路２９におけるＸ線条件変更機能２９２により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、情報出力部２１５により出力された展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線条件を変更する。ここで、Ｘ線条件とは、管電流や管電圧、Ｘ線の照射時間、管電流と照射時間との積などのＸ線撮影に関する撮影条件である。
【0055】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、寝台１７を制御する（ステップＳ２１）。この寝台１７を制御する処理は、処理回路２９における寝台制御機能２９６により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、情報出力部２１５により出力された展開状態に基づく情報に基づいて、寝台１７と、ユーザ、被検体Ｐ及びＣアーム１９の少なくともいずれかとが、干渉しないように、寝台１７を制御して、被検体Ｐを所定の位置に移動させる。
【0056】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線の照射範囲を制御する（ステップＳ２３）。このＸ線の照射範囲を制御する処理は、処理回路２９における照射制御機能２９１により実現させる。具体的には、Ｘ線診断装置１は、情報出力部２１５により出力された展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線の照射範囲を制御する。より具体的には、Ｘ線診断装置１は、展開状態に基づく情報のうちＸ線検出部２１１の展開状態に基づいて、Ｘ線管１３から照射されるＸ線の照射範囲がＸ線検出部２１１の展開状態に応じたＸ線の照射範囲となるように、Ｘ線絞り器１５を制御して、Ｘ線照射を制御する。
【0057】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線の照射位置を制御する（ステップＳ２５）。このＸ線の照射位置を制御する処理は、処理回路２９における照射制御機能２９１により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、ステップＳ２３で制御されたＸ線の照射範囲に基づいて、Ｘ線の照射位置を制御する。より具体的には、Ｘ線診断装置１は、ステップＳ２３で制御されたＸ線の照射範囲に基づいて、Ｘ線の照射範囲が、Ｘ線検出部２１１の検出範囲に含まれるように、Ｘ線絞り器１５、Ｘ線管１３、及び、Ｘ線検出器２１の少なくとも１つを制御して、Ｘ線検出器２１に対するＸ線の照射位置を制御する。
【0058】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線撮影を行う（ステップＳ２７）。このＸ線撮影を行う処理は、処理回路２９における照射制御機能２９１により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、被検体Ｐに対して、Ｘ線管１３により、Ｘ線を照射することにより、Ｘ線撮影を行う。
【0059】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線画像を生成する（ステップＳ２９）。このＸ線画像を生成する処理は、処理回路２９における画像生成機能２９３により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出器２１のＸ線検出部２１１を介して、検出したＸ線量に対応した検出信号に基づいて、Ｘ線画像を生成する。
【0060】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線画像を補正する（ステップＳ３１）。このＸ線画像を補正する処理は、処理回路２９における画像補正機能２９４により実現させる。具体的には、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出器２１により出力されたＸ線検出器２１の展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線画像を補正する。より具体的には、Ｘ線診断装置１は、検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれていないにもかかわらず、展開状態検出部２１３である歪みゲージがＸ線検出部２１１の歪みを検出した場合、歪みゲージにより検出されたＸ線検出部２１１の歪みに関する情報である歪みゲージにより検出された歪み量に基づいて、Ｘ線画像の歪みを補正する。
【0061】
なお、ステップＳ２９において、Ｘ線画像の補正は、歪みゲージにより検出されたＸ線検出部２１１の歪みに関する情報に基づいて、Ｘ線画像の歪みを補正する場合に限られない。例えば、Ｘ線検出部２１１の展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線検出部２１１が折り畳まれていない領域にある歪みゲージがＸ線画像に映り込んでいる場合、映り込んでいる歪みゲージをＸ線画像から除去するようにしてもよい。また、ステップＳ３１において、Ｘ線画像の補正は、Ｘ線検出部２１１の折り目や切れ目などにより、Ｘ線画像が欠けている場合、Ｘ線画像が欠けている部分について補間処理を行うようにしてもよい。さらに、ステップＳ３１において、Ｘ線画像を補正しない場合にあっては、ステップＳ３１を省略するようにしてもよい。
【0062】
次に、図１２に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線画像を出力する（ステップＳ３３）。このＸ線画像を出力する処理は。処理回路２９における画像生成機能２９３により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、ディスプレイ２５に、補正されたＸ線画像を出力して表示する。
【0063】
このステップＳ３３を実行することにより、本実施形態に係るＸ線照射制御処理を終了する。
【0064】
次に、本実施形態におけるＸ線診断装置１で実行されるインターロック制御処理について説明する。図１３は、本実施形態に係るＸ線診断装置１で実行されるインターロック制御処理の内容を説明するフローチャート図である。このインターロック制御処理では、Ｘ線検出器２１をユーザに取り付けさせ、取り付けられたＸ線検出部２１１の展開状態に基づく情報に基づいて、Ｘ線検出部２１１が所定のサイズであるか否かを判定し、所定のサイズでない場合、Ｘ線撮影を制限するインターロックを作動させる。例えば、このインターロック制御処理は、ユーザが、Ｘ線診断装置１に、Ｘ線検出器２１を取り付けた場合に実行される処理である。
【0065】
図１３に示すように、まず、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出部２１１の展開状態に基づく情報を出力させる（ステップＳ４１）。この展開状態を出力させる処理は、処理回路２９におけるインターロック機能２９５により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３である歪みゲージにより、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出させて、検出したＸ線検出部２１１の展開状態に基づく情報を、Ｘ線検出器２１の情報出力部２１５を介して、処理回路２９に出力させる。
【0066】
次に、図１３に示すように、Ｘ線診断装置１は、ユーザ設定情報を取得する（ステップＳ４３）。このユーザ設定情報を取得する処理は、処理回路２９におけるインターロック機能２９５により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、ユーザ設定情報として、予めユーザにより設定されたＸ線検出器２１の視野サイズを取得する。
【0067】
次に、図１３に示すように、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出部２１１が所定のサイズであるか否かを判定する（ステップＳ４５）。このＸ線検出部２１１が所定のサイズであるか否かを判定する処理は、処理回路２９におけるインターロック機能２９５により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、ステップＳ４１において出力されたＸ線検出部２１１の展開状態に基づく情報と、ステップＳ４３で取得したユーザ設定情報とに基づいて、Ｘ線検出部２１１のサイズが、所定のサイズであるか否かを判定する。
【0068】
そして、Ｘ線検出部２１１のサイズが所定のサイズでない場合（ステップＳ４５：Ｎｏ）、Ｘ線診断装置１は、インターロックを作動させる（ステップＳ４７）。このインターロックを作動させる処理は、処理回路２９におけるインターロック機能２９５により実現される。具体的には、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線検出部２１１が所定のサイズとなるまで、Ｘ線撮影を制限するように、インターロックを作動させる。
【0069】
一方、Ｘ線検出部２１１が所定のサイズである場合（ステップＳ４５：Ｙｅｓ）、又は、ステップＳ４７の処理の後、本実施形態に係るインターロック制御処理を終了する。
【0070】
以上のように、本実施形態に係るＸ線診断装置１によれば、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２１を備えており、このＸ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備え、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、複数のサイズに展開可能に構成され、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の歪みを検出する歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８により検出された展開状態に基づく情報を、処理回路２９に出力することとしたので、サイズ可変なＸ線検出器２１を適切に利用することができる。すなわち、本実施形態においては、Ｘ線検出器２１が、展開状態に基づく情報として、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の折り目Ｌ１～Ｌ４上の歪みを検出する歪みゲージＳＧ１～ＳＧ８により検出された歪み量を、処理回路２９に出力するので、Ｘ線診断装置１は、現在のＸ線検出器２１のサイズを把握することができ、サイズ可変なＸ線検出器２１を使用して、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を適切に制御することができる。
【0071】
〔変形例１〕
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３である歪みゲージは、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍に配置されることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例１として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例１に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例１に係る、Ｘ線検出器２１の構成及びＸ線検出部２１１の構成は、図２及び図３と同等であるので説明を省略する。
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３である歪みゲージは、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍に配置されることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例１として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例１に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例１に係る、Ｘ線検出器２１の構成及びＸ線検出部２１１の構成は、図２及び図３と同等であるので説明を省略する。
【0072】
図１４は、変形例１に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部の構成例を示す図であり、上述した第１実施形態に係る図３に対応する図である。この図１４は、図２におけるＸ線検出部２１１の背面側から見た図である。すなわち、図１４に示す展開状態検出部２１３ａは、例えば、Ｘ線検出部２１１の背面側に配置されている。図１４に示すように、本変形例に係る展開状態検出部２１３ａは、３２個の歪みゲージにより構成される。また、本変形例に係る展開状態検出部２１３ａである歪みゲージは、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍に配置されている。この複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍とは、図１４に示すように、例えば、Ｘ線検出部２１１の折り目Ｌ１～Ｌ４の近傍や切れ目の近傍である。本変形例に係る展開状態検出部２１３ａは、Ｘ線検出部２１１に設けられた歪みゲージが、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍に配置され、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の歪みを検出することにより、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出する。
【0073】
なお、図１４に示す例では、展開状態検出部２１３ａは、３２個の歪みゲージを備えているが、展開状態検出部２１３ａが備える歪みゲージの個数は任意である。すなわち、展開状態検出部２１３ａは、Ｘ線検出部２１１の構成に応じて、３１個以下の歪みゲージを備えてもよく、３３個以上の歪みゲージを備えていてもよい。
【0074】
以上のように、本変形例に係るＸ線診断装置１によれば、上述した第１実施形態と同様に、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２１を備えており、このＸ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備え、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、複数のサイズに展開可能に構成され、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の歪みを検出する歪みゲージにより検出された展開状態に基づく情報を処理回路２９に出力することとしたので、サイズ可変なＸ線検出器２１を適切に利用することができる。すなわち、本変形例においては、Ｘ線検出器２１が、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の折り目Ｌ１～Ｌ４又は切れ目の近傍の歪みを検出する歪みゲージにより検出された歪み量を、処理回路２９に出力するので、Ｘ線診断装置１は、現在のＸ線検出器２１のサイズを把握することができ、サイズ可変なＸ線検出器２１を使用して、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を適切に制御することができる。
【0075】
〔変形例２〕
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、歪みゲージにより構成されていたが、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、複数の検出ブロックの折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わるマイクロスイッチなどのスイッチにより構成されることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例２として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例２に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例２に係る、Ｘ線検出器２１の構成及びＸ線検出部２１１の構成は、図２と同等であるので説明を省略する。
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、歪みゲージにより構成されていたが、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、複数の検出ブロックの折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わるマイクロスイッチなどのスイッチにより構成されることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例２として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例２に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例２に係る、Ｘ線検出器２１の構成及びＸ線検出部２１１の構成は、図２と同等であるので説明を省略する。
【0076】
図１５乃至図１７を参照して、変形例２に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部２１３の構成例を説明する。図１５は、本変形例に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部２１３の構成例を示す図であり、図１５（ａ）は、本変形例に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部２１３の構成例を示す正面図であり、図１５（ｂ）は、本変形例に係る展開状態検出部２１３の構成例を示す底面図である。図１６は、本変形例に係るＸ線検出部２１１の折り畳み状態における展開状態検出部の状態を示す図である。図１７は、本変形例に係るＸ線検出部２１１の展開状態における展開状態検出部の状態を示す図である。
【0077】
図１５（ａ）に示すように，本変形例に係る展開状態検出部２１３ｂは、マイクロスイッチなどのスイッチにより構成される。また、展開状態検出部２１３ｂであるスイッチは、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍に配置されている。複数の検出ブロックの間の近傍とは、例えば、Ｘ線検出部２１１の折り目の近傍や切れ目の近傍である。図１５（ａ）及び図１５（ｂ）に示すように、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｂであるスイッチは、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍に、Ｘ線検出部２１１の側面に埋設され、展開状態検出部２１３ｂであるスイッチの一部がＸ線検出部２１１の側面から突出するように配置されている。
【0078】
そして、このように配置された本変形例に係る展開状態検出部２１３ｂであるスイッチは、図１６に示すように、折り畳み状態において、Ｘ線検出部２１１の側面から突出したスイッチの一部が開放されているため、ＯＦＦ状態である。一方、展開状態検出部２１３ｂであるスイッチは、図１７に示すように、展開状態において、Ｘ線検出部２１１の側面から突出したスイッチの一部が、展開された検出ブロックの端部に押されるため、ＯＮ状態になる。すなわち、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｂであるスイッチは、複数の検出ブロックの折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わることにより、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出することができる。なお、図１５乃至図１７においては、１つのスイッチを代表して図示しているが、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｂは、複数のスイッチにより構成されてもよい。
【0079】
以上のように、本変形例に係るＸ線診断装置１によれば、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２１を備えており、このＸ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備え、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、複数のサイズに展開可能に構成され、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わるスイッチにより検出された展開状態に基づく情報を、処理回路２９に出力することとしたので、サイズ可変なＸ線検出器２１を適切に利用することができる。すなわち、本変形例においては、Ｘ線検出器２１が、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の展開状態及び折り畳み状態に応じたスイッチのＯＮ状態及びＯＦＦ状態を、処理回路２９に出力するので、Ｘ線診断装置１は、現在のＸ線検出器２１のサイズを把握することができ、サイズ可変なＸ線検出器２１を使用して、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を適切に制御することができる。
【0080】
〔変形例３〕
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、歪みゲージにより構成されていたが、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、前記複数の検出ブロックの折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わるセンサにより構成されることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例３として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例３に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例３に係る、Ｘ線検出器２１の構成及びＸ線検出部２１１の構成は、図２と同等であるので説明を省略する。
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、歪みゲージにより構成されていたが、Ｘ線検出器２１の展開状態検出部２１３は、前記複数の検出ブロックの折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わるセンサにより構成されることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例３として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例３に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例３に係る、Ｘ線検出器２１の構成及びＸ線検出部２１１の構成は、図２と同等であるので説明を省略する。
【0081】
図１８乃至図２０を参照して、変形例３に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部の構成例を説明する。図１８は、本変形例に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部の構成例を示す図である。図１９は、本変形例に係るＸ線検出部２１１の折り畳み状態における展開状態検出部の状態を示す図である。図２０は、本変形例に係るＸ線検出部２１１の展開状態における展開状態検出部の状態を示す図である。
【0082】
図１８に示すように、本変形例に係る展開状態検出部は、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わる展開状態検出部２１３ｃであるセンサにより構成される。このセンサは、例えば、図１８に示すように、光源からなる発光部２１３ｃ＿１と、発光部から照射された光の反射光を受光する受光部２１３ｃ＿２とを備える反射型の光センサである。図１８に示すように、展開状態検出部２１３ｃであるセンサは、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍に配置されている。複数の検出ブロックの間の近傍とは、例えば、Ｘ線検出部２１１の折り目の近傍や切れ目の近傍である。図１９に示すように、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｃであるセンサは、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の間の近傍である、Ｘ線検出部２１１の側面に埋設され、配置されている。
【0083】
そして、図１９に示すように、折り畳み状態において、発光部２１３ｃ＿１から照射された光は遮られていないため、発光部２１３ｃ＿１から照射された光は受光部２１３ｃ＿２において受光されず、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｃであるセンサは、ＯＦＦ状態である。一方、図２０に示すように、展開状態において、発光部２１３ｃ＿１から照射された光は、展開された検出ブロックの端部により遮られ、発光部２１３ｃ＿１から照射された光は受光部２１３ｃ＿２において受光されるため、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｃであるセンサは、ＯＮ状態になる。すなわち、本変形例係る展開状態検出部２１３ｃであるセンサは、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わることにより、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出することができる。なお、図１８乃至図２０においては、１つのセンサを代表して図示しているが、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｂは、複数のセンサにより構成されてもよい。
【0084】
以上のように、本変形例に係るＸ線診断装置１によれば、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２１を備えており、このＸ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備え、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、複数のサイズに展開可能に構成され、複数の検出ブロックの折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わるセンサにより検出された展開状態に基づく情報を、処理回路２９に出力することとしたので、サイズ可変なＸ線検出器２１を適切に利用することができる。すなわち、本変形例においては、Ｘ線検出器２１が、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の展開状態及び折り畳み状態に応じたセンサのＯＮ状態及びＯＦＦ状態を、処理回路２９に出力するので、Ｘ線診断装置１は、現在のＸ線検出器２１のサイズを把握することができ、サイズ可変なＸ線検出器２１を使用して、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を適切に制御することができる。
【0085】
〔変形例４〕
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１のＸ線検出部２１１は、長方形状であることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例４として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例４に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例４に係るＸ線検出器２１の構成は、図２と同等であるので説明を省略する。
上述した第１実施形態に係るＸ線診断装置１において、Ｘ線検出器２１のＸ線検出部２１１は、長方形状であることも可能である。以下、この変形例を上述した第１実施形態に適用した場合を変形例４として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。なお、変形例４に係るＸ線診断装置１の構成は、図１と同等であるので説明を省略する。また、変形例４に係るＸ線検出器２１の構成は、図２と同等であるので説明を省略する。
【0086】
図２１は、変形例４に係るＸ線検出器２１における、Ｘ線検出部の構成例を示す図であり、上述した第１実施形態に係る図２に対応する図である。図２１において、一点鎖線は、Ｘ線検出部２１１の折り目Ｌ５、Ｌ６を表わす。図２１に示すように、本変形例に係るＸ線検出部２１１ａは、長方形状であり、３個の長方形状の検出ブロックＤＢ２１～ＤＢ２３を備えている。また、本変形例において、１個の検出ブロックは、例えば、４×１６の長方形状の検出ブロックである。すなわち、図２１において、Ｘ線検出部２１１ａのサイズは、１２×１６ｉｎｃｈである。
【0087】
また、Ｘ線検出部２１１ａは、使用されない検出ブロックをＸ線が照射されない位置に折り畳むための折り畳み機構を有する。本変形例においては、Ｘ線検出部２１１ａは、折り畳み機構として、蝶番を有し、この蝶番により、複数の検出ブロックＤＢ２１～ＤＢ２３の間は、折り畳み可能に接続されている。そして、複数の検出ブロックＤＢ２１～ＤＢ２３のうち、使用されないブロックが、蝶番により、折り目Ｌ５及び／又は折り目Ｌ６を軸として、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部２１１ａは複数のサイズに展開可能である。なお、Ｘ線検出部２１１ａは、折り畳み機構として、蝶番を有することとしたが、折り畳み機構は蝶番に限られない。すなわち、折り畳み機構の構成は任意である。
【0088】
なお、図２１に示す例では、本変形例に係るＸ線検出部２１１ａは、３個の検出ブロックを備えているが、Ｘ線検出部２１１ａが備える検出ブロックの数は任意である。すなわち、Ｘ線検出部２１１は、２個の検出ブロックにより構成されてもよく、４個以上の検出ブロックを備えていてもよい。また、図２１に示す例では、検出ブロックＤＢ２１～ＤＢ２３は、長方形状であるが、検出ブロックの形状は任意である。すなわち、検出ブロックは正方形状等であってもよい。さらに、図２１に示す例では、１個の検出ブロックのサイズは、４×１２ｉｎｃｈとしたが、１個の検出ブロックのサイズは任意である。
【0089】
以上のように、本変形例に係るＸ線診断装置１によれば、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２１を備えており、このＸ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する３個の長方形状の検出ブロックＤＢ２１～２３を備え、３個の長方形状の検出ブロックＤＢ２１～２３のうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、複数のサイズに展開可能に構成されるようにしてもよい。
【0090】
〔第２実施形態〕
上述した第１実施形態においては、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部は、複数のサイズに展開可能になることとしたが、必ずしも、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部が、複数のサイズに展開可能になる必要はない。そこで、第２実施形態においては、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に収納されることにより、Ｘ線検出部が、複数のサイズに展開可能になるようにすることも可能である。以下、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。
上述した第１実施形態においては、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部は、複数のサイズに展開可能になることとしたが、必ずしも、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、Ｘ線検出部が、複数のサイズに展開可能になる必要はない。そこで、第２実施形態においては、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に収納されることにより、Ｘ線検出部が、複数のサイズに展開可能になるようにすることも可能である。以下、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。
【0091】
図２２は、第２実施形態に係るＸ線診断装置１の構成例を示すブロック図であり、上述した第１実施形態における図１に対応する図である。この図２２に示すように、Ｘ線検出部及び展開状態検出部の構成が、第１実施形態と異なるため、本実施形態においては，Ｘ線検出部２１１ｂ、展開状態検出部２１３ｅと表記する。なお、Ｘ線検出部２１１ｂ、及び、展開状態検出部２１３ｅ以外の構成及び機能は、上述した第１実施形態における図１と同等であるので、説明を省略する。
【0092】
図２３は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１ｂの構成例を示す図であり、上述した第１実施形態に係る図２に対応する図である。なお、図２３において、太い破線は、Ｘ線検出部２１１ｂの切れ目を表している。また、図２において、細い破線は、Ｘ線検出部２１１を縦横に分割する仮想線である。また、図２においては説明のために、切れ目を表す太い破線は、仮想線を表す細い破線からずれているが、実際は、切れ目を表す太い破線は、仮想線を表す細い破線の上に位置する。
【0093】
この図２３において、上述した第１実施形態と同様に、本実施形態に係るＸ線検出部２１１ｂは、正方形状であり、１６個の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備えている。本実施形態において、１個の検出ブロックは、例えば、４×４ｉｎｃｈの正方形状の検出ブロックである。すなわち、図２において、Ｘ線検出部２１１のサイズは、１６×１６ｉｎｃｈである。
【0094】
また、Ｘ線検出部２１１ｂは、検出ブロックが展開状態から収納状態へ移行するための収納機構を有する。本実施形態において、Ｘ線検出部２１１ｂは、収納機構として、スライド機構を有する。Ｘ線検出部２１１ｂは、複数の検出ブロックのうち、使用されない検出ブロックが、スライド機構を介して、Ｘ線が照射されない位置に収納されることにより、Ｘ線検出部２１１は複数のサイズに展開可能となる。ここで、Ｘ線が照射されない位置とは、例えば、Ｘ線検出部２１１ｂの背面側などである。なお、Ｘ線検出部２１１ｂは、収納機構として、スライド機構を有することとしたが、収納機構は、スライド機構に限られない。すなわち、収納機構の構成は任意である。
【0095】
図２４は、第２実施形態に係るＸ線検出器２１において、Ｘ線検出部２１１が収納状態から展開状態へ移行する流れを説明する図である。まず、図２４（ａ）に示すように、収納状態において、Ｘ線検出部２１１ｂの複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックは、Ｘ線検出部２１１ｂの背面側の収納スペースに収納される。次に、図２４（ｂ）及び図２４（ｃ）に示すように、収納スペースに収納された検出ブロックを展開する場合、収納スペースに収納された検出ブロックを矢印で示す方向にスライドさせ、収納スペースに収納された検出ブロックを収納スペースから引き出す。そして、図２４（ｄ）及び図２４（ｅ）に示すように、引き出された検出ブロックを上方へスライドさせ、引き出された検出ブロックが展開状態になる。
【0096】
次に、図２５乃至図２７を参照して、第２実施形態に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部２１３ｅの構成例を説明する。図２５は、第２実施形態に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部２１３ｅの構成例を示す図であり、図２５（ａ）は、本実施形態に係るＸ線検出器２１における展開状態検出部２１３ｅの構成例を示す正面図であり、図２５（ｂ）は、本実施形態に係る展開状態検出部２１３ｅの構成例を示す底面図である。図２６は、本実施形態に係るＸ線検出部２１１ｂの収納状態における展開状態検出部２１３ｅの状態を示す図である。図２７は、第２実施形態に係るＸ線検出部２１１ｂの展開状態における展開状態検出部２１３ｅの状態を示す図である。
【0097】
図２５（ａ）に示すように，本実施形態に係る展開状態検出部２１３ｅは、マイクロスイッチなどのスイッチにより構成される。また、展開状態検出部２１３ｅであるスイッチは、折り畳み可能に構成された複数の検出ブロックの間の近傍に配置されている。複数の検出ブロックの間の近傍とは、例えば、Ｘ線検出部２１１ｂの折り目の近傍や切れ目の近傍である。図２５（ａ）及び図２５（ｂ）に示すように、本実施形態に係る展開状態検出部２１３ｅであるスイッチは、複数の検出ブロックの間の近傍に、Ｘ線検出部２１１ｂの側面に埋設され、展開状態検出部２１３ｅであるスイッチの一部がＸ線検出部２１１ｂの側面から突出するように配置されている。
【0098】
そして、このように配置された本実施形態に係る展開状態検出部２１３ｅであるスイッチは、図２６に示すように、収納状態において、Ｘ線検出部２１１ｂの側面から突出したスイッチの一部が開放されているため、ＯＦＦ状態である。一方、展開状態検出部２１３ｅであるスイッチは、図２７に示すように、展開状態において、Ｘ線検出部２１１ｂの側面から突出したスイッチの一部が、展開された検出ブロックの端部に押されるため、ＯＮ状態になる。すなわち、本実施形態に係る展開状態検出部２１３ｅであるスイッチは、複数の検出ブロックの収納状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わることにより、Ｘ線検出部２１１ｂの展開状態を検出することができる。
【0099】
なお、図２５乃至図２７においては、１つのスイッチを代表して図示しているが、本実施形態に係る展開状態検出部２１３ｅは、複数のスイッチにより構成されてもよい。また、展開状態検出部２１３ｅはスイッチに代えて、反射型の光センサなどのセンサにより構成されてもよい。
【0100】
以上のように、第２実施形態に係るＸ線診断装置１によれば、上述した第１実施形態と同様に、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２１を備えており、このＸ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備え、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に収納されることにより、複数のサイズに展開可能に構成され、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の折り畳み状態に応じて、ＯＮ状態とＯＦＦ状態とが切り替わるスイッチにより検出された展開状態に基づく情報を処理回路２９に出力することとしたので、サイズ可変なＸ線検出器２１を適切に利用することができる。すなわち、本実施形態においては、Ｘ線検出器２１が、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６の展開状態及び収納状態に応じたスイッチのＯＮ状態及びＯＦＦ状態を、処理回路２９に出力するので、Ｘ線診断装置１は、現在のＸ線検出器２１のサイズを把握することができ、サイズ可変なＸ線検出器２１を使用して、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を適切に制御することができる。
【0101】
また、本実施形態に係るＸ線診断装置１によれば、使用されない検出ブロックを収納スペースに収納することができるので、使用されない検出ブロックを傷つける可能性を少なくすることができる。
【0102】
〔変形例５〕
上述した第１及び第２実施形態に係るＸ線診断装置１においては、展開状態検出部２１３は、Ｘ線検出部２１１に設けられることとしたが、展開状態検出部は、展開状態検出部２１３は、Ｘ線検出部２１１とは別体に設けられるように変形することも可能である。以下、この変形例を第１実施形態に適用した場合を変形例５として、上述した第１実施形態とは異なる部分を説明する。
上述した第１及び第２実施形態に係るＸ線診断装置１においては、展開状態検出部２１３は、Ｘ線検出部２１１に設けられることとしたが、展開状態検出部は、展開状態検出部２１３は、Ｘ線検出部２１１とは別体に設けられるように変形することも可能である。以下、この変形例を第１実施形態に適用した場合を変形例５として、上述した第１実施形態とは異なる部分を説明する。
【0103】
図２８は、変形例５に係るＸ線診断装置１の構成例を示すブロック図であり、上述した第１実施形態における図１に対応する図である。この図２８に示すように、展開状態検出部２１３及び情報出力部２１５の構成が、第１実施形態と異なるため、本変形例においては展開状態検出部２１３ｆ、情報出力部２１５ａと表記する。なお、展開状態検出部２１３ｆ、及び、情報出力部２１５ａ以外の構成及び機能は、上述した第１実施形態における図１と同等であるので、説明を省略する。
【0104】
展開状態検出部２１３ｆは、Ｘ線検出部２１１とは別体に設けられ、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出する。本変形例において、展開状態検出部２１３ｆは、例えば、カメラなどの撮影装置である。すなわち、本変形例に係る展開状態検出部２１３ｆは、撮影装置により、Ｘ線検出部２１１の展開状態を撮影することにより、Ｘ線検出部２１１の展開状態を検出する。
【0105】
情報出力部２１５ａは、展開状態検出部２１３ｆである撮影装置により検出されたＸ線検出部２１１の展開状態に基づく情報を処理回路２９に出力する。本変形例において、展開状態に基づく情報とは、例えば、展開状態検出部２１３ｆである撮影装置により撮影された画像情報などである。
【0106】
以上のように、本変形例に係るＸ線診断装置１によれば、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１３から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２１を備えており、このＸ線検出器２１は、Ｘ線管１３から照射されたＸ線を検出する複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６を備え、複数の検出ブロックＤＢ１～ＤＢ１６のうち、使用されない検出ブロックが、Ｘ線が照射されない位置に折り畳まれることにより、複数のサイズに展開可能に構成され、Ｘ線検出部２１１とは別体に設けられた撮影装置により、Ｘ線検出器２１の展開状態を検出し、検出された展開状態に基づく情報を、処理回路２９に出力することとしたので、サイズ可変なＸ線検出器２１を適切に利用することができる。すなわち、本変形例においては、Ｘ線検出器２１が、展開状態に基づく情報として、撮影装置により撮影されたＸ線検出器２１の展開状態に関する撮影画像を、処理回路２９に出力するので、Ｘ線診断装置１は、現在のＸ線検出器２１のサイズを把握することができ、サイズ可変なＸ線検出器２１を使用して、Ｘ線の照射範囲や寝台の可動領域を適切に制御することができる。
【0107】
また、上述した変形例５の説明は、第１実施形態に適用した場合の説明であるが、本変形例は第２実施形態に対しても適用可能なことは明らかである。
【0108】
なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及び、フィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは、記憶回路に保存されたプログラムを読み出して実行することにより機能を実現する。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成して構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、プロセッサは、プロセッサ単一の回路として構成されている場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて、１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合して、その機能を実現するようにしてもよい。
【0109】
以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な装置および方法は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した装置および方法の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲およびこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。
【符号の説明】
【0110】
１…Ｘ線診断装置、１１…Ｘ線高電圧装置、１３…Ｘ線管、１５…Ｘ線絞り器、１７…寝台、１９…Ｃアーム、２１…Ｘ線検出器、２１１…Ｘ線検出部、２１３…展開状態検出部、２１５…情報出力部、２３…メモリ、２５…ディスプレイ、２７…入力インターフェース、２９…処理回路、２９１…照射制御機能、２９２…Ｘ線条件変更機能、２９３…画像生成機能、２９４…画像補正機能、２９５…インターロック機能、２９６…寝台制御機能
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
